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Electrones secundarios
Rayos-X
Electrones retrodispersados
Cátodoluminiscencia
Electrones Auger
Electrones transmitidos
Microanálisis
MEB MET
Microanálisis
Microanálisis
Microanálisis
Señal característica
Microanálisis
Microanálisis
Señal característica
Microanálisis
Microanálisis
Microanálisis
Señal característica
Microscopía Electrónica Analítica
H1 13,6
Ne10 870 49 22 22
Ca20 4039 438 350 346 44 25 25
Zn30 9659 1196 1045 1022 140 91 89 10 10
Zr40 17998 2532 2307 2223 430 344 330 181 179
Sn50 29200 4465 4156 3929 885 757 715 493 485
Nd60 43569 7126 6722 6208 1575 1403 1297 1003 980
Yb70 61332 10486 9978 8944 2398 2173 1950 1576 1528
Procesos despúes de
la ionización
Rayos X
Caso 1
Caso 2
Electrón Auger
Electrón con
pérdida de energía
(EELS)
Pantalla de Observación
Apertura
QX QY
SX SY
Arreglo de
fotodiodos
YAG
Ventana de
Lentes Cuadrupolares Fibra óptica
• Espectrómetro
EELS acoplado a
un Microscopio
Electrónico de
Transmisión
Probabilidad de ionización de un nivel interno de energía
Ec como función del sobrevoltaje U = Eo/Ec
1 0 1
Espectro EELS de una capa de Fe3O4
O
Estructura fina del borde K de O
Excitación - desexcitación
ω+a=1
Transiciones que originan Rayos-X tipos K, L y M
Señales de Rayos-X comúnmente usadas
en Microanálisis
1s 2s 2p1/2 2p3/2 3s 3p1/2 3p3/2 3d3/2 3d5/2
K L1 L2 L3 M1 M2 M3 M4 M5
H1 13,6
Ne10 870 49 22 22
Ca20 4039 438 350 346 44 25 25
Zn30 9659 1196 1045 1022 140 91 89 10 10
Zr40 17998 2532 2307 2223 430 344 330 181 179
Sn50 29200 4465 4156 3929 885 757 715 493 485
Nd60 43569 7126 6722 6208 1575 1403 1297 1003 980
Yb70 61332 10486 9978 8944 2398 2173 1950 1576 1528
E0 = 10 keV
Rayos-X
1. Partículas de energía
E (fotones)
c
• Haz de Rayos-X
• E = hν = hc / λ 2. Ondas de longitud de
onda λ
Microanálisis por Dispersión de Energías
(EDX o EDS)
• Si dopado con Li y enfriado con nitrógeno líquido
(-196 ºC). Detector Si(Li).
Creación de
pares e - h
Efotón A = 7200 eV
Efotón B = 3600 eV
EDS
Espectro EDX o EDS
Superposición de señales en EDX; Ej. Mo y S
Microanálisis por Dispersión de Longitudes de
Onda (WDX o WDS)
Espectrómetro WDX
Microscopio de luz
Cámara
Detector de
Secundarios
Detector de
Retrodispersados
Columna
Espectrómetro EDX
Espectrómetro WDX o WDS
λ = (d/R)L
Microsonda Electrónica
(EPMA)
Espectro WDX de MoS2
Mo
Imagen de electrones retrodispersados
Mapa de distribución de elementos
Corrección debido a la diferencia en número
atómico Z. Ej. 30 keV. FeS2, Fe y S.
Efecto fotoeléctrico
I = I0exp(-x/L)
I0 I = I0exp(-μx) = I0exp(-μ/ρ)(ρx)
x
L: coeficiente de atenuación lineal
(-μ/ρ): coeficiente másico de atenuación
Fluorescencia
de Rayos-X
Distribución en profundidad - φ(ρz)
Análisis cuantitativo con Rayos-X
• Muestra Ii Patrón I i*
Vacío
Clasificación de las señales Auger más intensas,
normalmente usadas en el análisis de superficies
Analizador de Hemisferios Concéntricos
Unidad de control
Hemisferio Hemisferio
de voltaje + de voltaje -
w1 w2
Detector de 8
“channeltrons” en
paralelo
Lentes
Cañón de
electrones
muestra
Camino libre medio inelástico de electrones en un sólido
Microsonda Auger de Barrido (SAM)
Distribución de electrones N(E). Muestra gruesa
Espectros Auger
120000
100000
80000
N(E)
60000
40000
20000
0
0 100 200 300 400 500 600
Energía (eV)
dN(E)/dE
Haz de electrones
e- Auger
Material
arrancado
Haz de iones
Perfil Auger de composición en profundidad de
una película de Permalloy