Ing.

Romero Orellana Luis Alberto

DIFRACCIÓN EN POLVO DE RADIOGRAFÍA

La difracción de rayos X en polvo se utiliza para determinar la estructura atómica de

los materiales cristalinos sin la necesidad de grandes ( ~ 100 μm) monocristales. ''
Polvo '' puede ser un nombre inapropiado; la técnica es aplicable a fases
policristalinas tales como sólidos moldeados o películas cultivadas en un sustrato.
La difracción de rayos X en polvo puede ser útil en una amplia variedad de
situaciones

Si un rayo x golpea un átomo, se dispersará débilmente en todas las direcciones. Si

encuentra una matriz periódica de átomos, las ondas dispersas por cada átomo se
reforzarán en ciertas direcciones y se cancelarán en otras. Geométricamente, uno
puede imaginar que un cristal está formado por familias de planos de celosía y que
la dispersión de una familia dada de planos solo será fuerte si los rayos X reflejados
por cada plano llegan al detector en fase.

DETERMINACIÓN DE ESTRUCTURA DE RAYOS X DE CRISTAL SIMPLE

Las técnicas de rayos X proporcionan uno de los métodos más poderosos, sino el
más poderoso, para deducir el cristal y la estructura molecular de un sólido
cristalino. En general, es una técnica que proporciona un gran número de
observaciones para cada parámetro que se determinará y los resultados obtenidos
de ese modo generalmente se pueden considerar muy confiables.

PRINCIPIOS DE LA CRISTALOGRAFÍA DE RAYOS X

Cuando un material se coloca en un haz de rayos X, periódicamente el campo

eléctrico variable de los rayos X acelera los electrones en movimiento periódico;
cada uno a su vez emite una onda electromagnética con una frecuencia
esencialmente idéntica a la de la onda incidente y con una relación de fase definida
a la fuente que tomaremos como idéntica a esa b de la onda incidente.

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ESPECTROSCOPIA XAFS

Los rayos X, al igual que otras formas de radiación electromagnética, se absorben

y se tiñen de rojo cuando se topan con la materia. La dispersión y difracción de
rayos X son métodos estructurales ampliamente utilizados en miles de laboratorios
de todo el mundo. Las técnicas de difracción de rayos X son innegablemente una
de las herramientas de análisis más importantes en casi todas las ciencias físicas y
biológicas.

MEDIDAS DE DISPERSIÓN DIFUSA DE X-RAY Y NEUTRON

La dispersión difusa de las soluciones sólidas cristalinas se usa para medir el orden
de composición local entre los átomos, los desplazamientos dinámicos
(fonogramas) y las especies medias dependientes desplazamiento estático etc. En
las aleaciones localmente ordenadas, las fluctuaciones de la composición y las
distancias interatómicas rompen la simetría de largo alcance del cristal dentro de
las regiones locales y contribuyen a la energía total de la aleación.

En esta sección, formulamos la teoría de la difracción de la dispersión difusa de una

manera que minimiza los supuestos y maximiza la información obtenida a partir de
un patrón de difracción sin recurrir a los modelos. Este enfoque puede ampliarse
con varias teorías y modelos para la interpretación de la información recuperada.

TÉCNICAS DE DISPERSIÓN RESONANTES

Esta unidad describirá los principios y métodos de la difracción resonante (anómala)

de los rayos X, ya que se utiliza para obtener información sobre los roles de la
simetría y la unión en la estructura electrónica de los átomos seleccionados en un
cristal.

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Estos efectos se manifiestan como orientación cristalina dependiente cambios en la

señal difractada cuando la radiografía la energía se sintoniza a través de los bordes
de absorción de esos átomos. Las aplicaciones del método han demostrado que es
útil en:

 Proporcionar información de estructura electrónica específica de e en un

entorno sólido que contiene el mismo átomo en varios entornos diferentes;
 Determinar las posiciones de átomos específicos en una estructura de cristal;
 Distinguir las contribuciones electrónicas de las magnéticas con la difracción;
 Aislar y caracterizar las contribuciones multipolares a la dispersión de rayos
X que son sensibles al entorno local de los átomos en el sólido; y
 Estudiando el orden de orbitales de electrones 3d en los óxidos de metales
de transición.

La difracción de rayos X resonante se utiliza para refinar la información sobre la

ubicación de los átomos y la influencia de la simetría y la unión de átomos
específicos en una estructura cristalina conocida.

Las mediciones se realizan en un rango estrecho de energía alrededor de los bordes

de absorción para los átomos de interés. Los parámetros de estructura de energía
y cristal determinan el rango de reflejos (regiones en sp de reciprocidad) accesibles
para la medición.

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DISPERSIÓN MAGNÉTICA DE RAYOS X

Para un incidente de rayos X en un sólido, el proceso de dispersión dominante es

la dispersión Thomson, que detecta la densidad de carga de ese sólido. Es esta
interacción la que proporciona la base para la gran mayoría de los experimentos de
dispersión de rayos X, que proporcionan una gran cantidad de información sobre
las estructuras cristalinas y la naturaleza del orden en los sistemas de estado sólido
(véase, por ejemplo, XAFS SPECTROSCOPY, X- DISPERSIÓN DE DIFUSIÓN DE
RAYOS Y NEUTRONES Y TÉCNICAS DE DISPERSIÓN RESONANTES). Sin
embargo, Además de tales dispersiones, hay otros términos en la sección
transversal que son sensibles a la densidad de magnetización.

La dispersión asociada a estos términos da lugar a nuevas características en el

patrón de difracción de los sistemas magnéticos. Este es un examen de rayos x
magnético. Para los antiferromagnetos, para los cuales la periodicidad del
magnetismo es diferente de la del hielo cristalino, tal dispersión da lugar a picos de
superred magnética, bien separados de los picos de carga de Bragg. Para
ferromagnetos, la dispersión de magneto es coincidente con la dispersión de carga
de la red subyacente, y se deben realizar experimentos de diferencia para resolver
la contribución magnética.

Como se mencionó la dispersión de rayos X magnéticos surge de los términos en

la sección transversal de dispersión que dependen del momento magnético. Para
no residentes dispersión, estos términos pueden ser entendidos simplemente
usando una imagen clásica de dispersión de electrones libres

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MICROPRUEBA DE RAYOS X PARA FLUORESCENCIA Y ANÁLISIS DE

DIFRACCIÓN

Difracción de rayos X y radiografía - fluorescencia excitada un análisis son técnicas

poderosas para la medición cada no destructivo de la estructura cristalina y
composición química. El análisis de fluorescencia de rayos X es intrínsecamente no
destructivo, con órdenes de magnitud de menor potencia depositada para el mismo
límite detectable que con la fluorescencia excitada por sondas de partículas
cargadas. La evaluación de la difracción de rayos X es sensible a la estructura
cristalina con una mayor sensibilidad de orden de magnitud a la tensión
cristalográfica que las sondas de electrones.

DICROISMO CIRCULAR MAGNÉTICO DE LA RADIOGRAFÍA

El dicroísmo circular magnético de rayos X (XMCD) es una medida de la diferencia

en el coeficiente de absorción a (μ c = μ + -μ -), con la helicidad del incidente
circularmente polarizado paralelo a la luz ( μ + ) y antiparalelo ( μ - ) a la dirección
de magnetización local del material absorbente . Estas mediciones se realizan
típicamente a energías de rayos X que abarcan un borde de absorción. Donde un
electrón del núcleo atómico profundo se fotoexcita en la banda de valencia.

XMCD mide la diferencia en el coeficiente de absorción sobre un borde de absorción

al invertir la magnetización de la muestra o la helicidad del incidente polarizado
circularmente fotones. Esto proporciona información magnética que es específica
de un elemento y orbital particular en la muestra.

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ESPECTROSCOPÍA DE FOTOELECTRONES DE RAYOS X

La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) utiliza rayos x de una energía

característica (longitud de onda) para excitar electrones de los orbitales en los
átomos. Los fotoelectrones emitidos por el material se recogen en función de su
energía cinética, y el número de fotoelectrones recogidos en un intervalo de tiempo
definido se traza frente a la energía cinética. Esto da como resultado un espectro
de recuentos de electrones (número por segundo) versus energía cinética de
electrones (eV). Los picos aparecen en el espectro a las energías de los difusores
debido a la emisión de electrones de las estadísticas de energías de enlace
específicas (orbitales) en el material. Las posiciones de los picos identifican los
elementos químicos en el material.

El espectrómetro de fotoelectrones de rayos X se basa en el principio de la foto

emisión. El proceso se ilustra en la Figura 1 para electrones en orbitales atómicos.
Los principios son casi los mismos para los orbitales moleculares y las bandas
electrónicas o de valencia libres. Un fotón (rayos x) de la frecuencia v = c / λ, donde
λ es su onda, tiene una energía cinética de hv.

DIFRACCIÓN DE RAYOS X DE SUPERFICIE

La difracción de rayos X de superficie permite la determinación de estructuras

atómicas de superficies de cristal ordenadas de forma análoga. Forma de rayos x
cristalográficos para la determinación de estructuras cristalinas tridimensionales. Al
hacer esto, también se accede a los parámetros cristalográficos tales como las
constantes de red y los factores de Debye-Waller (amplitudes de vibración térmica),
por lo que la difracción de rayos X debe considerarse un método válido para medir
también estas cantidades.

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La superficie es una palabra genérica que a menudo se usa como antónimo a

granel. Las desviaciones de las propiedades físicas de la materia a granel a menudo
se atribuyen a (los "efectos superficiales"). El estudio de las superficies es, por lo
tanto, una forma productiva de entender estas desviaciones. El estudio de las
superficies siempre comienza con su estructura, y eso es lo que se prueba con la
difracción de rayos X de la superficie.

TÉCNICAS DE FRAGACIÓN DE RAYOS X PARA SUPERFICIES LÍQUIDAS Y

CAPAS MONOMOLÉCULAS

Las técnicas de dispersión de rayos X y neutrones son probablemente las

herramientas más efectivas empleadas para determinar la estructura de las
interfaces líquidas en las escalas de longitud molecular. En principio, no son
diferentes de las técnicas convencionales de difracción de rayos X que se suelen
aplicar a cristales tridimensionales, líquidos, superficies sólidas, etc.

Una propiedad básica de una interfaz de líquido -gas es la escala de longitud sobre
la cual la densidad molecular desciende desde el valor total hasta el del medio
gaseoso homogéneo. El tamaño molecular y las ondas capilares, que dependen de
la tensión superficial y la gravedad, se encuentran entre los factores más
importantes que dan forma al perfil de densidad a través de la interfaz y las
correlaciones planas.

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