REPÚBLICA BOLIVARIANA DE VENEZUELA

UNIVERSIDAD DEL ZULIA

FACULTAD DE INGENIERÍA
DIVISIÓN DE POSTGRADO
PROGRAMA DE CIENCIAS APLICADAS ÁREA: FÍSICA

MÉTODO MATEMÁTICO BASADO EN LA ECUACIÓN VON-HIPPEL PARA

LA CARACTERIZACIÓN ELECTROMAGNÉTICA DE MATERIALES
DIELÉCTRICOS NO MAGNÉTICOS

Trabajo de Grado presentado ante la

Ilustre La Universidad del Zulia
para optar al Grado Académico de

MAGÍSTER SCIENTIARUM EN CIENCIAS APLICADAS ÁREA: FÍSICA

Autor: Ing. Daniel J Flores García.

Tutor: Prof. Manuel José Briceño Piña

Maracaibo, Junio de 2012

 MÉTODO MATEMÁTICO BASADO EN LA ECUACIÓN VON-HIPPEL PARA LA
CARACTERIZACIÓN ELECTROMAGNÉTICA DE MATERIALES DIELÉCTRICOS
NO MAGNÉTICOS

Ing. Daniel Jesús Flores García

C.I. 14.698.679

Departamento de Circuitos y Comunicaciones

Escuela de Ingeniería Eléctrica
Facultad de Ingeniería de la Universidad del Zulia
Apartado 4011A-526. Maracaibo-Venezuela
+58-261-4127042
dflores@fing.luz.edu.ve

Prof. Manuel José Briceño Piña

Tutor

Escuela de Ingeniería Eléctrica

Facultad de Ingeniería de la Universidad del Zulia
mbriceno@fing.luz.edu.ve
 APROBACIÓN

Este jurado aprueba el Trabajo de Grado titulado MÉTODO MATEMÁTICO

BASADO EN LA ECUACIÓN VON-HIPPEL PARA LA CARACTERIZACIÓN
ELECTROMAGNÉTICA DE MATERIALES DIELÉCTRICOS NO MAGNÉTICOSque
Daniel Jesús Flores García, C.I.: 14.698.679presenta ante el Consejo Técnico de la
División de Postgrado de la Facultad de Ingeniería en cumplimiento del Artículo 51,
Parágrafo 51.6 de la Sección Segunda del Reglamento de Estudios para Graduados
de la Universidad del Zulia, como requisito para optar al Grado Académico de

MAGÍSTER SCIENTIARUM EN CIENCIAS APLICADAS ÁREA: FÍSICA

Coordinador del Jurado

Manuel José Briceño Piña
C.I. 9.742.247

Jorgenson Zambrano Marianela Nava

C.I. 9.729.730 C.I. 9.747.723

Gisela Páez
Directora de la División de Postgrado

Maracaibo, junio de 2012

Flores García, Daniel. Método matemático basado en la ecuación Von-Hippel
para la caracterización electromagnética de materiales dieléctricos no
magnéticos, 2012. Trabajo de grado. Universidad del Zulia, Facultad de Ingeniería.
Maracaibo, Venezuela, 80 p. Tutor: Msc Manuel J. Briceño P.

RESUMEN

El presente trabajo tuvo como objetivo evaluar un método matemático basado en la

ecuación de Von- Hippel para la caracterización electromagnética de materiales
dieléctricos no magnéticos. La investigación fue de tipo descriptiva, en la cual los
datos se recolectaron por medio de simulaciones por computador y fuentes
documentales. Se realizó una caracterización de materiales a través del método de
Von Hippel de forma deductiva de tal manera que se definió su aplicabilidad en el
laboratorio de comunicaciones y se formuló matemáticamente el método de forma
de enmarcar el problema a solucionar en condiciones estrictas del método y las
condiciones de uso en La Universidad del Zulia. Finalmente, se desarrolló un
algoritmo solución del método con aplicación de dos formas, una con el uso del
computador y otra con el uso de una cartilla solución donde se utiliza un método
gráfico con el uso de regla, compás y lápiz únicamente, se obtuvo un error
porcentual máximo de 3,7% en la permitividad real. Se concluyó que el método
desarrollado es aplicable en el laboratorio de comunicaciones y que garantiza
mejores prestaciones en la solución de la ecuación de Von-Hippel.

Palabras clave: Caracterización de materiales, Método de Von Hippel, Laboratorio de

Comunicaciones.

Correo electrónico: dflores@fing.luz.edu.ve

Flores García, Daniel. Mathematical method based on Von-Hippel equation for
the electromagnetic characterization of non-magnetic dielectric materials,
2012. Trabajo de grado. Universidad del Zulia, Facultad de Ingeniería. Maracaibo,
Venezuela, 80 p. Tutor: Msc Manuel J. Briceño P.

ABSTRACT

This study aimed to evaluate a mathematical method based on the Von-Hippel

equation for the electromagnetic characterization of dielectric non-magnetic
materials. The research was descriptive, in which data were collected through
computer simulations and documentary sources. A characterization of the method of
Von Hippel in a deductive manner so that its applicability is defined in the
communications laboratory and formulated mathematically as the method of
framing the problem to be solved under strict conditions of the method and
conditions of use the University of Zulia. Finally, we developed a solution algorithm
method with application of two ways, one using the computer and another using a
primer solution which uses a graphical method using ruler, compass and pencil only,
was obtained maximum percentage error of 3,7% on the real permittivity. It was
concluded that the developed method is applicable in the communications
laboratory and ensures better performance in solving the equation of Von-Hippel.

Key words: Characterization of materials, Von Hippel’s method, Communications

Laboratory.

E-Mail: dflores@fing.luz.edu.ve
 DEDICATORIA

A mi familia paterna.
A mi familia por venir encarnada en Yuliana Méndez y
los hijos que tendremos.
A Willmar para celebrar tu vida.
 TABLA DE CONTENIDO
Página

RESUMEN ................................................................................................... 4

ABSTRACT.................................................................................................. 5

DEDICATORIA............................................................................................. 6

TABLA DE CONTENIDO ................................................................................ 7

LISTA DE FIGURAS ...................................................................................... 9

LISTA DE TABLAS...................................................................................... 10

INTRODUCCIÓN ........................................................................................ 11

CAPITULO I

EL PROBLEMA ........................................................................................... 12

1.1. Planteamiento y formulación del problema ...................................................... 12

1.2. Objetivos de la investigación............................................................................ 14
1.2.1. Objetivo general .......................................................................................... 14
1.2.2. Objetivos específicos .................................................................................. 14

1.3. Justificación ..................................................................................................... 14

1.4. Delimitación ..................................................................................................... 16
1.4.1. Delimitación espacial................................................................................... 16
1.4.2. Delimitación temporal .................................................................................. 16
1.4.3. Delimitación conceptual o de contenido ...................................................... 16

CAPITULO II

MARCO TEÓRICO ...................................................................................... 18

2.1. Antecedentes ..................................................................................................... 18

2.2. Bases Teóricas .................................................................................................. 21
2.2.1.- Dieléctricos .................................................................................................... 24
 2.3.- Normalización de Guías de Onda ..................................................................... 29
2.4.- Caracterización Experimental de Materiales ..................................................... 32
2.4.1.- Técnica de Medida: Fundamento y Clasificación. .......................................... 32
2.4.2.-Consideraciones sobre la elección de la técnica: ............................................ 34

2.5.-Caracterización experimental de dieléctricos. .................................................... 35

2.5.1.-Técnica en la Guía Cortocircuitada ................................................................. 35

CAPÍTULO III

CRITERIOS METODOLÓGICOS .................................................................... 43

3.1. Nivel de Investigación ........................................................................................ 43

3.2. Diseño de la Investigación ................................................................................. 44
3.3. Metodología Aplicada......................................................................................... 45

CAPITULO IV

PRESENTACIÓN Y ANÁLISIS DE RESULTADOS .............................................. 47

4.1. Premisas para el diseño de un algoritmo que de solución a la ecuación de Von

Hippel .............................................................................................................. 48
4.2. Algoritmo previo utilizado en publicaciones previas para medición de permitividad
en petróleo utilizando Laboratorio de Comunicaciones en LUZ ....................... 49
4.2.1 Solución de la dependencia de la técnica SCL a mediciones anteriores con otro
método............................................................................................................. 53
4.2.2 Solución de la imprecisión de la respuesta del método con respecto al conjunto
de llegada tan(βd) ............................................................................................ 55
4.3. Desarrollo de cartillas de gráficos para ejecución de algoritmo sin el uso del
computador...................................................................................................... 65

CONCLUSIONES ........................................................................................ 74

RECOMENDACIONES ................................................................................. 75

REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS ................................................................. 76

APÉNDICE 1. PROGRAMA ........................................................................... 77

APÉNDICE 2. CARTILLA .............................................................................. 79

 LISTA DE FIGURAS
Figura Página

1. Respuesta en frecuencia de la permitividad dieléctrica (dispersión dieléctrica). .

.............................................................................................. 27
2.Normalización de guías de onda. .............................................................. 30
3. Esquematización de la SCL ..................................................................... 37
4. Dibujo esquemático de la disposición de los diferentes elementos en el montaje
experimental. ..........................................................................................
.............................................................................................. 39
5. 1.Modulo de Medición y control 2. Medidor de potencia RF. 3. Unidad de
adquisicion de datos. 4. Arreglo de guia de onda ranurada. ....................... 40
6. 1. Diodo Gun. 2. Modulador 3.Polarizador. 4. guia de onda ranurada. 5 Célula
Portamuestra ...................................................................................... 41
7. Célula portamuestra .............................................................................. 41
9. Algoritmo base desarrollado en software .................................................. 52
8. Gráfica del comportamiento de Relación de Onda Estacionaria vs Constante
Dieléctrica........................................................................................... 54
10. Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de
tan(z) con z todo el plano complejo........................................................ 57
11 Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de
tan(z) con z todo el plano complejo en el mismo rango y escala. ............... 58
12. Gráfica de determinación de tan(βd) verdadero perteneciente a tan(z). ...... 59
13. Algoritmo resultante con eliminación de error de redondeo e independencia
de mediciones previas. ......................................................................... 65
14. Gráfico que relaciona S con la permitividad para independizar el método a
mediciones anteriores. ......................................................................... 66
15. Esquemático de posiciones de subgráficos en la cartilla solución a la ecuación
de Roberts-Von Hippel. ......................................................................... 71
 LISTA DE TABLAS
Tabla Página

1 . Tabla de valores de las funciones (60) y (61) ........................................... 68

2 . Resultados........................................................................................... 72
3 . Resultados en error absoluto ................................................................. 73
4 . Resultados en error porcentual............................................................... 73
 INTRODUCCIÓN

El presente trabajo titulado “Método Matemático basado en la Ecuación Von-

Hippel para la Caracterización Electromagnética de Materiales Dieléctricos No
Magnéticos” tiene como objetivo determinar un método para la solución de la
ecuación de Von-Hippel aplicada a la técnica de la guía de onda cortocircuitada para
la medición de permitividad dieléctrica compleja en la caracterización de materiales.
Dicha solución permitirá el procesamiento de datos obtenidos de las mediciones
usando la mencionada técnica y la ulterior determinación de la permitividad
dieléctrica compleja. Se basará en el desarrollo de funciones complejas derivadas de
la de Von-Hippel para encontrar un método matemático que permita la solución a
dicha ecuación. La elaboración de este trabajo dará respuesta a las dificultades
asociadas al manejo matemático de las mediciones en la técnica de la guía
cortocircuitada de forma que facilitará su uso, así permitirá que la caracterización
electromagnética de materiales se desarrolle como una práctica ampliamente
conocida en el país. Se espera que el resultado de la investigación sea favorable y
en definitiva ofrezca un método matemático para la solución de la ecuación de Von-
Hippel en la Caracterización de Materiales para materiales dieléctricos no
magnéticos.
 CAPITULO I

EL PROBLEMA

Este capítulo comprende los aspectos que permiten la focalización del evento de
estudio y la delimitación de la investigación. Como apertura, concierne a este
capítulo dar la respuesta a porqué y para qué se realizóla investigación.

1.1. Planteamiento y formulación del problema

En el ejercicio de la ingeniería, con frecuencia, los profesionales del área se

enfrentan al manejo de sustancias que son sometidas a procesos industriales para
su procesamiento y/o transformación para satisfacer necesidades sociales de forma
ecológica y económica.

En este sentido, para el manejo de sustancias se requiere conocer su

comportamiento ante el sometimiento de condiciones gravitacionales,
electromagnéticas y nucleares que proporciona el ambiente de forma natural y/o las
que ofrece un sistema físico construido por el hombre.

Desde el punto de vista electromagnético, cualquier sustancia responde a la

presencia de ondas y/o campos en función de parámetros bien definidos por el
material que constituye la sustancia. Los parámetros mencionados son la
Permeabilidad Magnética (µ) que es la capacidad del medio de responder al flujo de
líneas de campo magnético a través de sí; la Conductividad Eléctrica (σ) que es la
capacidad del medio de permitir el flujo de carga a través de si, y la Permitividad
Dieléctrica (ε) que es la capacidad del medio de responder a la incidencia de campo
eléctrico externo mediante el fenómeno de acoplamiento capacitivo.
 13

La determinación de estos parámetros se conoce como Caracterización

Electromagnética de Materiales, se puede definir como el arte y ciencia de medir los
parámetros eléctricos y magnéticos de cualquier medio material.

A principios del siglo XX, un físico alemán llamado Arthur Von-Hippel desarrolló
un método para la determinación de Permitividad Dieléctrica Compleja para
materiales no magnéticos utilizando ondas electromagnéticas en la banda
microondas confinadas en una guía de onda cortocircuitada [1]. Por tanto la
investigación está circunscrita a materiales dieléctricos no magnéticos y a la
medición del parámetro permitividad dieléctrica compleja.

La técnica desarrollada por Von-Hippel permite realizar mediciones a materiales

de forma sencilla y rápida contando con equipos para la propagación controlada de
ondas electromagnéticas y la medición del fenómeno de reflexión en un
cortocircuito.

Sin embargo, el manejo matemático de los datos que arrojan las mediciones una
vez realizado los experimentos asociados a la técnica desarrollada por Von-Hippel
pierde sensiblemente la sencillez de las mediciones. Las ecuaciones involucradas en
el método conllevan a la solución de una ecuación conocida como Ecuación de Von-
Hippel que es trascendental con infinitas soluciones [2].

La solución de dicha ecuación ha sido causa y efecto de numerosas

investigaciones, su solución convierte el método de Von-Hippel el una técnica simple
y apropiada para la medición de Permitividad Dieléctrica Compleja. [2] [3] [4].

Realizada la exposición de la situación actual y el uso requerido de la técnica por

parte del sector académico y de investigación, se formula la siguiente interrogante
como eje central del tema de investigación:

¿Hasta qué punto el método matemático generado para dar solución a la

ecuación de Von-Hippel en la técnica de la guía cortocircuitada permitirá la
caracterización electromagnética de materiales dieléctricos no magnéticos?
 14

1.2. Objetivos de la investigación

Los objetivos permiten conocer los principales logros que a los que se quiere
llegar con la presente investigación. A continuación, se presentan los objetivos
clasificados de acuerdo a su amplitud y ordenados de menor a mayor complejidad.

1.2.1. Objetivo general

Evaluar un método matemático basado en la ecuación de Von- Hippel para la

caracterización electromagnética de materiales dieléctricos no magnéticos.

1.2.2. Objetivos específicos

 Describir el método de la guía de onda cortocircuitada para caracterización de

materiales.

 Formular un modelo matemático que permita dar solución a la ecuación de Von-

Hippel.

 Diseñar un algoritmo que permita la evaluación del método matemático con

respecto a valores conocidos de permitividad dieléctrica compleja.

 Determinar la efectividad del método matemático para la caracterización

electromagnética de materiales dieléctricos no magnéticos utilizando casos de
estudio seleccionados.

1.3. Justificación

El avance de la tecnología representa un camino para el desarrollo de la

economía en cualquier sociedad, mediante la tecnología se satisfacen las
 15

necesidades básicas de los individuos involucrados en un espacio y tiempo

definidos.

Entre las necesidades básicas más resaltantes dentro de la sociedad actual se

pueden nombrar la producción de alimentos de mejor calidad y en mayor cantidad,
la producción de medicamentos elevando cantidad y calidad; en el caso especifico
de Venezuela están otros elementos de suma importancia como la producción
petrolera y gasífera, la petroquímica, entre otros que se pueden decir que no son
primordiales pero si estratégicos.

De forma que el conocimiento científico sobre las características de los alimentos,

medicamentos, petróleo, gas y en general cualquier sustancia es imperiosa ante
cualquier desarrollo de procesos de transformación de dichas materias primas o
secundarías en otras de mayor valor agregado.

La caracterización de materiales permite analizar el comportamiento de las

sustancias ante la presencia de cualquier condición ambiental natural o provocada
por el hombre. De forma que caracterizar materiales nos ofrece un conocimiento
necesario para la transformación y/o manipulación de sustancias lo cual define su
importancia desde el punto de vista industrial y académico.

El método de la guía de onda cortocircuitada permite caracterizar

electromagnéticamente los materiales que no sean magnéticos, dentro de los cuales
se encuentran el petróleo, el gas, medicamentos, alimentos, entre otros. [1]

En el país hay muy poca experiencia registrada con respecto a este campo del
conocimiento, por tanto muy poco desarrollo en este tipo de técnica. El resolver las
dificultades que representa para el método, la resolución de la ecuación de Von-
Hippel y con el agregado de poder comprobar su eficacia con mediciones reales
entregará al Electromagnetismo Aplicado en la Maestría en Física Aplicada una
herramienta que lo llevará a nuevos estadios en cuanto a su relación con la
industria y colaborará al desarrollo nacional en función a las líneas estratégicas
antes expuestas.
 16

Por otro lado, esta investigación permitirá la experticia para desarrollar nuevos
trabajos desde el punto de vista académico de forma que permitan a los estudiantes
de la Escuela de Ingeniería Eléctrica de la Universidad del Zulia y los de la Maestría
en Física Aplicada experiencias de laboratorio de Microondas y aplicado a la
caracterización de materiales de forma que se gana la experticia para resolver
problemas comunes en la industria de alimentos, petroquímica, petrolera, entre
otras.

1.4. Delimitación

Mediante la delimitación se especifica el marco físico, temporal y conceptual

dentro del cual se encuentra la presente investigación. A continuación, se desglosan
esos tres aspectos limitantes.

1.4.1. Delimitación espacial

La investigación se desarrolló en las instalaciones del Laboratorio de

Comunicaciones, Escuela de Ingeniería Eléctrica, Facultad de Ingeniería, Universidad
del Zulia, bajo la supervisión delProf. Manuel Briceño.

1.4.2. Delimitación temporal

La ejecución de este trabajo se llevó a cabo desde el mes de noviembrede

2009hasta el mes de junio de 2012, comprendiendo dos años en su realización.

1.4.3. Delimitación conceptual o de contenido

El trabajo de investigación se realizará en el campo de estudio de materiales,

específicamente de sus características electromagnéticas. Se delimita en especifico
en materiales dieléctricos no magnéticos.
 17

Se utilizará las prestaciones del laboratorio de comunicaciones de LUZ para la

caracterización de electromagnética de dieléctricos no magnéticos, para ello se
medirá permitividad dieléctrica compleja a frecuencia microondas utilizando la
técnica de Von Hippel denominada Técnica de la línea cortocircuitada (SCL).

La pretensión es mejorar el análisis de datos incorporando un algoritmo que

permita bajar la incertidumbre en el método debido a la complejidad de los métodos
matemáticos involucrados.
 18

CAPITULO II

MARCO TEÓRICO

Éste capítulo contiene el desarrollo teórico que da soporte a la investigación. Se

dan a conocer los trabajos que sirven de antecedentes a la presente en el área de
optimización y sistemas de potencia, así como las teorías establecidas en las que se
basa la investigación.

2.1. Antecedentes

A continuación se describen algunos trabajos que se relacionan con la presente

investigación y los cuales sirven de bases para la realización de la
misma.Adicionalmente, se especifican los aportes de cada trabajo en particular.

En este sentido, Pérez R. Willmar A., Briceño P. Manuel J., Marín S. Emily G.,
Zambrano A. Jorgenson J. y Flores G. Daniel J., titulan el trabajo “Medición de la
Permitividad Eléctrica del Petróleo a 9.51GHz” [1],2009, los autores realizan la
medición de permitividad dieléctrica compleja utilizando el método de la guía en
cortocircuito a la frecuencia en Banda X de 9,51 GHz. En el desarrollo del trabajo el
equipo elaborador se enfrentó al problema de la ecuación de Von Hippel en el
análisis de los datos obtenidos para fijar un valor de permitividad el cual se resolvió
con el uso de un algoritmo desarrollado en una Universidad española para el libro
“Ingeniería de Microondas” que aunque aproximado fue suficientemente preciso
para la medición en cuestión. Éste trabajo permite la descripción del método
utilizando los equipos de Laboratorio de Comunicaciones de LUZ, específicamente el
montaje de los mismos y el uso de un primer software aunque primitivo y de baja
precisión, muy útil para comenzar el desarrollo de uno más avanzado que resuelva
el problema de la baja precisión de su antecesor.
 19

De igual forma, Martínez C. Miriam C. y Velásquez G. Vanessa A., presentaron el

trabajo de grado para optar al título de ingenieras electricistas en la Universidad de
Carabobo “Caracterización Electromagnética de los Crudos Tía Juana Medio y de uso
general provenientes del Campo Tía Juana Estado Zulia” [2],2008, en el cual las
autoras utilizan un equipo de medición de impedancias para determinar los
parámetros electromagnéticos de una sustancia uniforme, en este caso petróleo
pesado del yacimiento Tía Juana, Tierra Este pesado. Éste trabajo presenta
resultados de mediciones con un nivel de confianza elevado hasta 95%, lo cual hace
fiable sus premisas; la premisa más importante que sirve de aporte es que el
petróleo pesado de la formación de Tía Juana se toma como un material no
magnético lo cual es necesario para el desarrollo de las ecuaciones que llevan hasta
la de Von Hippel.

Asimismo, Nebot del Busto Eduardo presenta el trabajo para la Universidad de

Zaragoza: “Caracterización de dieléctricos a frecuencia de microondas” [3], realiza
mediciones de permitividad dieléctrica de algunas sustancias a frecuencias de banda
X (9,23GHz específicamente) utilizando la técnica de la guía cortocircuitada
revelando a la presente investigación material bibliográfico teórico y detalles de
montaje y constructivos en la técnica de medición que hacen ganar fiabilidad a las
muestras y análisis a realizar.

Por otro lado, Von Hippel Arthur R., presento el libro: “Dielectric and Waves” [4],
(1964) p73-77, donde se presenta un conjunto de técnicas desarrolladas por el
autor para la caracterización de dieléctricos a frecuencias de microondas. Von Hippel
fue uno de los primeros estudiosos de los fenómenos presentes en materiales ante
la presencia de campos y ondas electromagnéticas. Además de ser un teórico de la
materia que explica el comportamiento de materiales ante campos
Electromagnéticos es un desarrollador de técnicas para la medición de permitividad
y permeabilidad de los mismos de forma de llevar a nivel macroscópico y aplicable a
la ingeniería el conocimiento microscópico que se tuviera de los materiales.

La técnica que se utilizará es la de guía cortocircuitada que para las condiciones

de frecuencia y tipo de muestra es adecuada. Von Hippel también expone un
método gráfico de solución en el libro pero que no es aplicable debido a que lo es
 20

para un restringido rango de valores de permitividad, sin embargo su desarrollo

presenta detalles importantes en la forma de atacar el problema de hallar una
solución única para la ecuación de Von Hippel.

También, T.P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. “A Contribution to the

Measurement of Permittivity with the Short-circuited Line Method” [5]. En el cual los
autores presentan un método de solución de la ecuación de Von Hippel utilizando un
barrido de frecuencia con pasos pequeños de variación del dominio planteando la
ecuación de Von Hippel como un desarrollo algebraico concluyendo finalmente en un
método gráfico para la determinación de permitividad. El aporte de éste trabajo en
la presente investigación es la manipulación de la ecuación de Von Hippel como la
coincidencia de dos ecuaciones una tangencial y otra lineal como un primera
aproximación del desarrollo final a plantear en el presente trabajo.

Por otra parte, T.P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. “An Algorithm for Solving
Roberts-von Hippel Equation: Separation of Close Solutions” [6]. En ésta
investigación los autores manipulan la ecuación de Von Hippel y los gráficos de
Roberts-Von Hippel para dar solución a la misma. En él los autores parametrizan la
ecuación como la razón de una función tangencial y otra lineal y se definen unas
variables acotadas que toman ciertos valores según las mediciones de permitividad
en los extremos ópticos y cuasi estáticos de frecuencia presentado así un método
útil y práctico para dar solución a la ecuación de Von Hippel, sin embargo, es
necesario conocer otros valores para poder utilizar el algoritmo planteado. El aporte
de éste trabajo a la presente investigación es la manipulación de la ecuación de Von
Hippel como una razón de una función y otra relacionado con la variación de dichas
funciones en función a un parámetro en común lo cual suministra detalles
matemático-físicos para el desarrollo de un nuevo algoritmo para dar solución a la
mencionada ecuación.

Finalmente, Lipuma Daniel, Gastaldi Raúl., Medina Sergio y Busnardo Marcela,

presentaron el trabajo “Simplificacion del método del corto circuito para la medición
de la permitividad dieléctrica” [7], en el cual los autores diseñan un algoritmo
haciendo unas aproximaciones de forma que se rompa la ambigüedad de las
soluciones, para ello aproximan la relación de onda estacionaria a infinito con lo cual
 21

se simplifica la ecuación compleja de Von Hippel a una ecuación real de soluciones

reales pero de igual infinitas soluciones; esto lo hace igualando la tangente de todos
los números reales sobre todos los números reales a un parámetro estático,
constante y conocido producto de las mediciones, al hacer coincidir ambas gráficas
se obtienen las soluciones matemáticamente posibles para un posterior análisis
físico. Este trabajo aporta el detalle del uso de un método gráfico para hallar la
solución única de la ecuación de Von Hippel.

2.2. Bases Teóricas

En las bases teóricas se presentan las principales teorías que sirven para
desarrollar la investigación o basamento al trabajo. Se tratan los conceptos
establecidos que permitieron la comprensión de los distintos aspectos de la
investigación.

En ésta parte se establece el conocimiento previo necesario para comprender el

fenómeno físico a analizar, además de las técnicas desarrolladas por el humano
para interactuar con dicho fenómeno.

El estudio del comportamiento de la materia a campos variables con el tiempo es

un problema complicado y muy variado, sobre todo cuando se está interesado en
los procesos macroscópicos que ocurren. Se está más interesado en el
comportamiento y caracterización macroscópica; en tal caso, se entiende que las
magnitudes vectoriales ⃗Ey ⃗H
⃗ , son las magnitudes que caracterizan la excitación y ⃗D, J

yB
⃗ la respuesta.

⃗𝐃 = 𝑓 (𝐄
⃗ (𝑡)) (1)

⃗ (𝑡))
𝐉 = 𝑔 (𝐄 (2)

⃗ = ℎ (𝐇
𝐁 ⃗⃗ (𝑡)) (3)
 22

Así se escribe de forma general, que no son más que las expresiones generales
de las ecuaciones constitutivas la funciones f, g y h dependen del medio
considerado y pueden ser muy variadas, desde la más simple relación de
proporcionalidad para medios lineales, isótropos, homogéneos y en reposo hasta
funciones integrales dependientes del tiempo para poder incluir toda la historia del
medio anterior al instante considerado. Para campos con dependencia temporal
armónica, estas ecuaciones se suelen escribir de la forma:

⃗D = εE
⃗ (4)

⃗
J = σE (5)

⃗B = μH
⃗⃗ (6)

Donde ε, σ y μ son magnitudes características de cada medio, pero que pueden

depender de la frecuencia (medios dispersivos), del campo aplicado (medios no
lineales), de la dirección de este (medios anisótropos, las magnitudes tendrán
carácter tensorial) y del punto considerado (medios no homogéneos).

Un estudio general que sirva globalmente para todos los medios es una tarea
imposible, de hecho, ni las ecuaciones (4), (5) y (6) son totalmente generales. Los
materiales dieléctricos que normalmente se encuentran en éste estudio son lineales,
isótropos y homogéneos y se limitará, por tanto, a dieléctricos con estas
características para garantizarlo la muestra debe ser un diferencial de volumen. Por
otro lado, causa (E ⃗⃗ ) y respuesta (D
⃗ ,H ⃗ ) no siempre están en fase respecto a su
⃗ , J, B

variación temporal, por tanto, dentro de la notación compleja usual, se debe admitir
la posibilidad de que ε, σ y μ sean magnitudes complejas y se escribe, en general.

ε = ε´ − jε´´ (7)

σ = σ´ + jσ´´ (8)

μ = ´μ − j´μ´ (9)
 23

Un aspecto que conviene resaltar es que las Ecuaciones (7) y (8) representan la
respuesta del medio al campo eléctrico, mientras que la (9) representa la respuesta
al campo magnético. Ambas coexisten formando parte de la respuesta global del
medio al campo electromagnético. Pero dentro de la respuesta eléctrica se puede
discriminar entre un conductor y un dieléctrico se toma la Ley Ampere-Maxwell,
teniendo en cuenta las anteriores expresiones para ε y σ

∇ × ⃗H
⃗ = − jωD
⃗ + J = jω(ε´ − jε´´)E
⃗ + (σ´ + jσ´´)E ⃗ (10)
⃗ = j(ωε´ + σ´´) + (σ´ + ωε´´)E

Por lo tanto, se puede unificar ambas respuestas en una, escribiendo

⃗⃗ = Jt = JD + JC = σeff E
∇×H ⃗ (11)
Donde

σeff = (σ´ + ωε´´) + j(σ´ + ωε´´) (12)

Igualmente valido es escribir

∇ × ⃗H
⃗ = jωD
⃗ t = jωεeff ⃗E (13)

Donde

σ´´ σ´
εeff = (ε´ + ω
) − j (ε´´ + ω ) (14)

En conclusión, para caracterizar macroscópicamente un medio se necesita una

magnitud compleja para la parte eléctrica y otra para la magnética. El hecho de que
aparezcan dos magnitudes complejas relacionadas con la caracterización eléctrica es
debido a que representan mecanismos microscópicos distintos. La constante σ esta
relacionada con la presencia de cargas móviles en el material, σ´ con las perdidas de
energias por choques con los atomos del material y σ´´ con la energía almacenada
en el movimiento traslacional de las cargas móviles; ε esta relacionada con la
aparición de dipolos en el material (pequeños desplazamientos de cargas ligadas),
 24

ε´con la energía de formación de los dipolos y ε´´ con las pérdidas de energía debido
a la interacción dipolar con el entorno. Macroscópicamente el efecto, de ε´ y σ´´ por
una parte, y el de σ´ y ε´´ por otra son indistinguibles y solo se utiliza una magnitud
compleja, cuyas partes real e imaginaria engloban los pares de mecanismos
equivalentes; entonces se utiliza la conductividad efectiva o la permitividad efectiva
según el mecanismo dominante.[7]

En la práctica, los materiales que se encuentran presentan preferentemente una

de las respuestas indicadas. Así, se encuentran materiales cuya conductividad es
muy pequeña y su respuesta magnética muy débil; se denominan dieléctricos y se
caracterizan por la permitividad compleja . En otros, la conductividad es muy
grande, los campos en su interior son muy pequeños, la respuesta dieléctrica es,
por tanto, inapreciable y la magnética muy débil; se denominan conductores y se
caracterizan por su conductividad. Finalmente se encuentran materiales cuya
respuesta magnética es importante y condicionará preferentemente su
comportamiento electromagnético; se denominan, en general, materiales
magnéticos. [7]

2.2.1.- Dieléctricos

Un dieléctrico, es un material cuya conductividad es nula o muy pequeña y cuya

respuesta magnética es muy débil, por lo que se puede tomar μ ≈ μ0 . Su estructura
interna se caracteriza por la fuerte interacción entre las partículas atómicas y
moleculares de forma que la aplicación de un campo eléctrico externo no modifica
prácticamente la distribución de cargas, produciendo, tan solo, una pequeña
reordenación que se caracteriza por la aparición de dipolos eléctricos cuyo efecto se
detecta macroscópicamente. A este fenómeno se le conoce con el nombre de
polarización del dieléctrico y puede incluir varios mecanismos. [7]

A continuación se describe brevemente los mecanismos básicos, suponiendo que

los dieléctricos son lineales, isótropos y homogéneos:
 25

- Polarización por distorsión: En ausencia de campo externo, el centro de las

masas de cargas atómicas positivas y negativas coincide. Al aplicar un campo
eléctrico externo, la posición del centro de masas de las cargas negativas se
desplaza ligeramente respecto del de las positivas, apareciendo un dipolo
atómico inducido (polarización por distorsión electrónica). Este tipo de
mecanismo aparece siempre. En algunas moléculas existen grupos iónicos
con carga de distinto signo, unidos entre sí por enlaces de tipo iónico; la
aplicación de un campo eléctrico externo produce un desplazamiento de unos
frente a otros generándose un dipolo eléctrico inducido (polarización por
distorsión iónica o atómica).

- Polarización por orientación: Existen materiales en cuyas moléculas el centro

de masas de las cargas positivas no coincide con el de las negativas
presentando un momento dipolar permanente (moléculas polares), exista o
no campo eléctrico externo. El ejemplo más típico es el agua. Ahora bien en
ausencia de campo externo, los dipolos moleculares están orientados al azar
y no producen ningún efecto macroscópico. La aplicación de un campo
externo produce una orientación de los dipolos que puede detectarse
macroscópicamente. En todos los casos el fenómeno se caracteriza por el
vector polarización P
⃗ que se define como el momento dipolar total por unidad

de volumen (incluye la contribución de todos los mecanismos existentes), que

depende del campo eléctrico aplicado según la expresión.[7]

⃗ = ε0 𝑋𝑒 𝐄
𝐏 ⃗ (15)

Donde 𝑋𝑒 es la susceptibilidad eléctrica, magnitud adimensional que está

relacionada con la permitividad por la propia definición del vector desplazamiento,

⃗𝐃 = 𝛆𝟎 𝐄
⃗ +𝐏
⃗ = 𝛆𝟎 (𝟏 + 𝑿𝒆 )𝐄
⃗ = 𝜺𝐄
⃗ (16)

Para un dieléctrico lineal, isótropo y homogéneo, 𝑋𝑒 y 𝜀 son magnitudes escalares

características de cada material. En caso contrario, se siguen utilizando
formalmente las ecuaciones (1) y (2), pero la susceptibilidad y la permitividad
 26

pueden ser funciones complicadas del campo (dieléctricos no lineales), de la

posición (no homogéneos) o tener carácter tensorial (no isótropos), pero no es
usual encontrar este tipo de materiales en aplicaciones de microondas.

Cuando el campo aplicado es variable con el tiempo, los dipolos intentan seguir
las variaciones del campo, pero su respuesta no es instantánea y depende de la
inercia propia de los dipolos y de la interacción con las partículas vecinas.
Consecuentemente el tiempo de respuesta es distinto para los dipolos asociados a
cada uno de los mecanismos descritos. Ordenándolos de mayor a menor tiempo de
respuesta se tiene: orientación, iónicos y electrónicos, que corresponde a grupos de
mayor a menor masa. Para campos armónicos los dipolos siguen las variaciones del
campo eléctrico mientras el tiempo de respuesta es menor que el periodo del campo
(frecuencias bajas). Cuando son comparables, los dipolos siguen al campo eléctrico
con un cierto retraso que se traduce en un desfase temporal entre 𝐏
⃗ o ⃗𝐃 y 𝐄
⃗ , lo que
viene caracterizado, por la permitividad compleja [7]. Cuando el periodo es mucho
menor que el tiempo de respuesta, los dipolos no pueden seguir al campo y dejan
de contribuir a la polarización, bien porque desaparecen (dipolos por distorsión),
bien porque quedan orientados al azar (dipolos por orientación). Como el tiempo de
respuesta es distinto para cada tipo de dipolo, este proceso ocurre a periodos
distintos o lo que es lo mismo a frecuencias distintas dando lugar a una variación de
la permitividad con la frecuencia que se conoce como dispersión dieléctrica. Para los
dipolos generados por orientación ocurre en la banda de radiofrecuencias y
microondas, para los iónicos a microondas e infrarrojo y para los electrónicos en el
ultravioleta. [7]

En la figura 1 se muestra una representación de la dispersión dieléctrica y se

puede observar, en primer lugar, que la real de la permitividad, 𝜀´, presenta
escalones en determinadas bandas, cada uno de los cuales representa un tipo de
contribución dipolar que desaparece al aumentar la frecuencia y, por tanto, una
disminución de 𝜀´, pero la forma concreta de la curva difiere en la zona de
orientación, de la iónica y electrónica. La razón es que los procesos no son
exactamente iguales, en el primer caso es un proceso que se conoce como
relajación dieléctrica, mientras que n los otros dos corresponde a absorción
resonante. En segundo lugar, la parte imaginaria, 𝜀´´, presenta máximos en las
 27

mismas bandas de frecuencia que corresponde a un aumento de la energía

electromagnética transferida al material (energía perdida) a través de las
interacciones de los dipolos con el entorno, el cual se opone a las variaciones de su
dirección y sentido. Cuando estos dipolos desaparecen y ya no contribuyen a la
polarización (lo que ocurre al aumentar la frecuencia) tampoco contribuyen a las
perdidas.

Desde un punto de vista macroscópico, 𝜀´ caracteriza la capacidad de

polarización y de almacenar energía del dieléctrico, pues se demuestra que la
energía almacenada en un campo eléctrico en un volumen 𝑉 de dieléctrico viene
dada por:

1
𝑊 = ∫𝑉 𝜀́ 𝐸 2 𝑑𝑣 (17)
2

donde 𝐸 es el modulo del campo eléctrico

𝜀´ Orientación

IónicaElectrónica

𝜀´´

103 106 109 1012 1015

MicroondasIRVisibleUV

Frecuencia (Hz)

Figura 1. Respuesta en frecuencia de la permitividad dieléctrica (dispersión dieléctrica).

Fuente: Miranda J.M., Sebastián [7].

La parte imaginaria,𝜀´ representa la pérdida de energía debida a los mecanismos

de interacción de los dipolos con el entorno que generan el desfase de la respuesta.
 28

El cálculo se puede hacer por similitud del efecto de 𝜀´´ con la conductividad puesto
de manifiesto en la ecuación (14) y resulta

𝑃𝑑 = ∫𝑉 𝜔𝜀´´𝐸 2 𝑑𝑣 (18)

En un dieléctrico real pueden existir, además, cierto movimiento de cargas debido

a las impurezas o imperfecciones del material. Para una caracterización completa se
debe incluir los efectos de la conductividad, aunque sean pequeños, y se debe
utilizar una permitividad efectiva como la definida en (36); pero, por un lado, el
efecto de 𝜎´ es pequeño y experimentalmente indistinguible de las pérdidas debidas
a 𝜀´´ y, por otro, el de 𝜎´´, si existe, es indistinguible del almacenamiento de
energía debido a 𝜀´.

Como consecuencia se utiliza la permitividad compleja como característica del

dieléctrico asumiendo que incluye todos los efectos presentes, es decir

𝜀𝑒𝑓𝑓 ⟶ 𝜀´ − 𝑗𝜀´´ (16)

Entonces, la parte real representa el mecanismo de polarización mas el posible

almacenamiento de energía en el movimiento traslacional de las cargas móviles que
puedan existir y la parte imaginaria incluye todos los procesos de pérdida de
energía existentes.

Es usual encontrar otros parámetros para la caracterización de dieléctricos como

los que se definen a continuación:

𝜀 𝜀′ 𝜀´´
𝑃𝑒𝑟𝑚𝑖𝑡𝑖𝑣𝑖𝑑𝑎𝑑𝑟𝑒𝑙𝑎𝑡𝑖𝑣𝑎: 𝜀𝑟 ≜ 𝜀 = 𝜀 − 𝜀0
= 𝜀´𝑟 − 𝜀´´𝑟 (19)
0 0

𝜀´´
𝑇𝑎𝑛𝑔𝑒𝑛𝑡𝑒𝑑𝑒𝑝𝑒𝑟𝑑𝑖𝑑𝑎𝑠: 𝑡𝑎𝑛 𝛿 ≜ 𝜀´
(20)

𝐶𝑜𝑛𝑑𝑢𝑐𝑡𝑖𝑣𝑖𝑑𝑎𝑑𝑑𝑖𝑒𝑙𝑒𝑐𝑡𝑟𝑖𝑐𝑎: 𝜎𝑑 ≜ 𝜔𝜀´´ (21)

𝐼𝑛𝑑𝑖𝑐𝑒𝑑𝑒𝑟𝑒𝑓𝑟𝑎𝑐𝑐𝑖𝑜𝑛: 𝑛 ≜ √𝜀𝑟 (22)

 29

Como se puede deducir fácilmente la tangente, de pérdidas y la conductividad

dieléctrica son parámetros alternativos a la parte imaginaria. La utilización de uno o
de otros depende de lo que se quiera resaltar, pero en todos los casos las
magnitudes incluyen todos los mecanismos relacionados posibles: así por ejemplo,
no hay que confundir la conductividad dieléctrica con la conductividad que puede
tener un dieléctrico debida a una pequeña cantidad de cargas móviles de la que se
hablo anteriormente; la conductividad dieléctrica, igual que 𝜀´´ incluye todos los
mecanismos de perdidas.

2.3.- Normalización de Guías de Onda

Es necesario establecer unas ecuaciones básicas de propagación de ondas

electromagnéticas en guías de onda con la finalidad de conocer las constante de
corte dentro de la guía y categorizar las presentes en el laboratorio de
comunicaciones de LUZ.

Las ondas electromagnéticas pueden propagarse en el espacio libre o de forma

guíada a través de espacios confinados llamados líneas de transmisión y guías de
onda.

En las líneas de transmisión existe una frecuencia máxima a la cual se propagan

las ondas electromagnéticas en ese medio y siempre lo hacen en el modo
transversal electromagnético.

A diferencia de las líneas de transmisión, que tienen una frecuencia máxima de

operación, las guías de onda tienen una frecuencia mínima de operación que se
llama frecuencia de corte. Es una frecuencia limitadora única; las frecuencias
inferiores a la de corte no se propagan por las guías de onda.

Si se supone guías de onda rectangulares para banda X (8-12 GHz) (ver figura 2)
denominadas WR-90 las cuales son utilizadas en el laboratorio de comunicaciones
de LUZ, se tiene que sus dimensiones son 1,016cm x 2,286cm (Y x X). La
 30

frecuencia de corte responderá a la ecuación:

𝑐 3.108
𝑓𝑐 = = = 6,556𝐺𝐻𝑧 (23)
2𝑎 2.(0,02286)

En la que:
fc:Frecuencia de corte en Hz.
a: Longitud trasversal en metros.

Figura 2.Normalización de guías de onda.

Fuente: Miranda J.M., Sebastián [7].

En las guías de onda rectangulares se tiene que el modo dominante es el

correspondiente a la frecuencia de corte menor, éste es modo TE10 quiere decir que
el campo eléctrico es perpendicular a la dirección de propagación de la señal.

La constante característica del medio dentro de la guía de onda para el modo TE10
para condición de corte es:

𝜋 𝜋 𝜋
𝐾𝑐 = 𝑎.𝑏 = (0,0286).(0,01016) = 0,0232 = 135,2633 𝑟𝑎𝑑/𝑚 (24)
 31

Donde:
a: Longitud trasversal de la cota X de la guía de onda WR-90.
b: Longitud trasversal de la cota Y de la guía de onda WR-90.

En este caso K0 se define como la constante de propagación de la onda en vacío y

depende sólo de la frecuencia de aplicación de la onda electromagnética.
Es necesario definir la constante de corte en vacío de la guía de onda.
2𝜋𝑓𝑐
𝐾0 = 𝐶0
(25)

Con:
fc = 6,557GHz
fc: Frecuencia de corte de la guía de onda WR-90
C0= 3.108m/s
C0: velocidad de la luz en el vacío.

Ahora es necesario el cálculo de la constante de fase en el vacío en la guía de

onda WR-90.

𝛽0 = √(𝐾0 )2 − (𝐾𝑐 )2 (26)

Con:
Kc = 135,2633 rad/m
Kc: Constante característica de la guía de onda WR-90
K0 = 137,4246 rad/m
K0: Constante de corte de la guía de onda WR-90
β0 = 24,2766 rad/m
β0: Constante de propagación en la guía de onda WR-90.

De tal manera que el parámetro β0 es conocido, es decir, es constante en las

pruebas en el laboratorio de comunicaciones de LUZ.
 32

2.4.- Caracterización Experimental de Materiales

Caracterización experimental significa medida de las magnitudes que caracterizan

el comportamiento electromagnético de un material, que han sido definidas en los
apartados anteriores: la permitividad compleja,𝜀 , para dieléctricos y la
conductividad, 𝜎 , para los conductores.

2.4.1.- Técnica de Medida: Fundamento y Clasificación.

Todas las técnicas de medidas para la caracterización presentan aspectos

comunes. En primer lugar hay que destacar que todas están basadas en medidas
indirectas, es decir, el material es introducido en un dispositivo y se mide el
comportamiento de éste que se ve afectado lógicamente por la presencia del
material. Se denomina célula de la medida al dispositivo y muestra el trozo de
material inducido.

En la mayoría de los casos, la medida se realiza por comparación: se mide el

comportamiento del dispositivo sin y con la muestra y de la comparación de los
resultados se obtiene los parámetros deseados del material. Esto lleva a otro
aspecto fundamental de cualquier técnica de medida: la teoría básica que permite
obtener la relación entre los parámetros del material y las magnitudes medidas. En
general, se elige la célula de medida y la forma del material de tal forma que
admitan un tratamiento analítico, facilitando la obtención de esta relación. Sin
embargo, hay situaciones en que esto no es posible, bien porque el material no
admita tratamiento mecánico, bien porque no se disponga de cantidad suficiente;
en estos casos debemos recurrir a tratamientos numéricos o teoría de
perturbaciones (aproximados).[7]

Hay diferentes clasificaciones de las técnicas existentes según el aspecto que se

considere. Así se puede clasificar en función de la célula utilizada (en medio libre,
guía o línea y resonador) o de los parámetros medios (reflexión, transmisión,
puente) entre otros. A grandes rasgos existen los grupos de técnicas:
 33

Técnicas dependientes de reflexión y transmisión en guías o líneas: Se basan

en el estudio de la influencia de la introducción de la muestra sobre la reflexión y/o
transmisión de la onda electromagnética a través de una guía o línea. Presentan
una buena sensibilidad con poca cantidad de material pero necesitan de un buen
mecanizado de la muestra para adaptarse a las dimensiones de las células medidas.

Técnicas dependientes de reflexión y transmisión en medios libres: El

fundamento es análogo a las anteriores, pero la interacción onda-muestra se realiza
en el medio libre utilizando generalmente una muestra en forma de lámina.
Presenta la ventaja de no necesitar un mecanizado especial, pero el inconveniente
de necesitar muestras grandes para evitar errores por efectos de bordes. Presentan
una sensibilidad a pérdidas. Se incluye dentro de este grupo las denominadas
técnicas de línea o guía con terminación abierta. Este tipo de técnicas presentan la
ventaja de medidas no destructivas y el inconveniente de teorías complicadas y
aproximadas.

Técnicas de puente: Este tipo de técnicas se parecen a los anteriores en

cuanto a la célula utilizada, puesto que pueden realizarse en medio libres o guías.
La diferencia está en la forma de medir. Se realiza por comparación de dos ondas
coherentes que recorren caminos distintos, en uno de los cuales está el material son
fundamentalmente comparadores de impedancia como los puentes de baja
frecuencia. La medida se lleva a cabo produciendo interferencia destructiva entre las
dos ondas y detectando un mínimo (detección en cero). Para ello se necesitan
patrones de impedancia variables (atenuadores y defasadores), pero presenta la
ventaja de eliminar cualquier problema de defectos en la respuesta de los
detectores.

Técnicas en resonadores: La muestra es introducida en un resonador y se

mide su influencia en la frecuencia de resonancia y factor de calidad. Son los
métodos más sensibles y preferidos para medidas en materiales de bajas pérdidas.
Además, pueden realizarse con pequeñas cantidad de material. Por el contrario, es
preciso mecanizar bien la muestra y sólo permiten medidas a frecuencias fijas. La
determinada por el resonador.
 34

2.4.2.-Consideraciones sobre la elección de la técnica:

Para seleccionar una técnica para caracterizar un material es conveniente unas

consideraciones previas para la elección más adecuada. La elección estará
condicionada por varios factores: objetivo de la medida, material a medir,
disponibilidad en laboratorio y frecuencia a realizar la medida. En función de ellos
resultará más adecuada una u otra técnica.

Las técnicas en guía o libre serán útiles cuando se desea medir con buena
precisión a frecuencias bajas y medias dentro del rango de microondas. Son
aplicables a los materiales con bajas o altas pérdidas pero inapropiadas cuando no
permiten un fácil mecanizado. También resultan adecuadas cuando el objetivo es el
estudio de la variación de los parámetros del material en función de la
temperatura.

Las técnicas en medio libre resulta más adecuada para caracterizar materiales
con pérdidas importantes, aunque no admitan un fácil mecanizado. Su aplicación es
más fácil cuanto mayor es la frecuencia, pero no resultan útiles cuando se desea
control de temperatura. Precisan de gran cantidad de material. Son las precisas
para medidas en control en procesos industriales.

Las técnicas de puente son técnicas muy precisas al estar basadas en detección
por cero, pero de aplicación limitada ya que necesitan buenos patrones de
impedancia, lo que resulta difícil de conseguir.

Las técnicas en resonadores son las más sensibles, por lo que son las más útiles
para medidas precisas en materiales de bajas pérdidas. Por lo contrario, resulta
imposible utilizarlas para materiales con altas pérdidas y solo permiten medidas a
frecuencia fija. Con una elección adecuada del resonador pueden ser utilizadas a
cualquier frecuencia: resonador en coaxial para bajas frecuencias, en guías para
medias y resonador tipo Fabry-Perot para altas. Pueden ser utilizadas para control
de temperatura y solo precisan de pequeñas cantidades de material a medir pero
fácilmente mecanizable. Pueden ser aplicables para materiales en formas irregulares
si se utiliza teoría de perturbaciones para su análisis.
 35

En el caso de estudio, se tiene que en el laboratorio de comunicaciones se cuenta

con guías de onda con adecuado mecanizado, adicionalmente la muestra de
material al que se le aplica la técnica experimentalmente es petróleo que es
semilíquido por lo cual es necesario confinarlo, adicionalmente no es posible con los
equipos presentes hacer barridos de frecuencia por lo cual la técnica seleccionada
que es objeto de ésta investigación es la Guía de Onda Cortocircuitada o también
conodida como Línea Cortocircuitada SCL por sus siglas en inglés, se denominará
también Método de Von Hippel que responderá la ecuación de Roberts - Von Hippel.

2.5.-Caracterización experimental de dieléctricos.

Se ha establecido las magnitudes que caracterizan el comportamiento

electromagnético de los dieléctricos. En la práctica, las magnitudes más utilizadas
son la permitividad relativa compleja o la permitividad relativa (parte real) y la
tangente de pérdidas. En adelante se tomara preferentemente el último par de
magnitudes, por lo tanto será necesario analizar el efecto de la muestra sobre dos
magnitudes experimentales reales (o una compleja).

2.5.1.-Técnica en la Guía Cortocircuitada

Base teórica de la técnica: La técnica fue inventada por el científico Arthur Von
Hippel y perfeccionada por el profesor de la Universidad de Oxford Steven Roberts
quien agrega un método gráfico para el desarrollo de la ecuación que describe el
método.

Consiste en introducir la muestra a una guía terminada en cortocircuito y adosada

a éste, como se muestra en la figura (3). La muestra debe tener la misma forma de
la guía, su superficie lateral debe ajustar perfectamente con la misma.

Como la guía de onda utilizada es la correspondiente al Laboratorio de

Comunicaciones de la Universidad del Zulia, se supone la guía de onda rectangular
 36

en banda X, en este caso 9,51 GHz, y modo de propagación TE10.

Se denomina:

𝛾0 = 𝑗𝛽0 (27)
𝛾 = 𝑗𝛽 (28)

Como las constantes de propagación en la guía vacía y en la guía llena de

dieléctrico respectivamente. Se desprecia las pérdidas en las paredes, por lo que β0
será real y β será complejo debido a las pérdidas en el dieléctrico bajo prueba.[7]

Tomando como origen las coordenadas de interface dieléctrico-aire, se puede

escribir los campos de la forma:

Zona vacía:
𝐸1 = ̅̅̅̅
̅̅̅ 𝐸1+ (𝑒 −𝑗𝛽0 𝑧 + 𝛤1 𝑒 𝑗𝛽0 𝑧 ) (29)
−
̅̅̅̅
̅𝐻̅̅1̅ = 𝐸1 (𝑒 −𝑗𝛽0 𝑧 − 𝛤1 𝑒 𝑗𝛽0 𝑧 ) (30)
𝑍 1

Zona llena de dieléctrico:

𝐸2 = ̅̅̅̅
̅̅̅ 𝐸2+ (𝑒 −𝑗𝛽𝑧 + 𝛤2 𝑒 𝑗𝛽𝑧 ) (31)
𝐸2−
̅̅̅̅
̅𝐻̅̅2̅ =
𝑍2
(𝑒 −𝑗𝛽𝑧 − 𝛤2 𝑒 𝑗𝛽𝑧 ) (32)
 37

Figura 3. Esquematización de la SCL

Fuente: Miranda J.M., Sebastián [7].

Donde Γ1 y Γ2 son los coeficientes de reflexión en el plano de carga de la interfase

visto desde la zona vacía y desde la zona llena respectivamente y Z ison las
impedancias en modo TE10 para cada una de las regiones:

𝜔𝜇0
𝑍1 = (33)
𝛽0
𝜔𝜇0
𝑍2 = (34)
𝛽

Se puede obtener una relación entre ambos coeficientes imponiendo las

condiciones de contorno. En efecto, en el cortocircuito el campo eléctrico debe
anularse, ya que es transversal en el modo propagante y, por tanto, si “d” es la
longitud de la muestra.[7]

𝐸̅2 (𝑑) = 0 = 𝑒 −𝑗𝛽𝑑 + 𝛤2 𝑒 𝑗𝛽𝑑 (35)

De donde

𝛤2 = −𝑒 −2𝑗𝛽𝑑 (36)
 38

En la interface, z=0, debe cumplirse:

𝐸1 (0) = 𝐸2 (0) (37)
𝐻1 (0) = 𝐻2 (0) (38)

Y aplicando estas condiciones en (29),(30),(31) y (32), resulta:

1+𝛤 1+𝛤
𝑍1 1−𝛤1 = 𝑍2 1−𝛤2 (39)
1 2

Y teniendo en cuenta (35) y (36) y la definición de tangente, resulta:

𝑡𝑎𝑛(𝛽𝑑) 𝑗(1+𝛤1 )
=− =𝐾 (40)
𝛽𝑑 𝛽0 𝑑(1−𝛤1 )

La magnitud K puede calcularse a partir de magnitudes medibles

experimentalmente por lo que la ecuación (40) puede ser utilizada para el cálculo
de β y de ella se puede calcular la permitividad comparando la relación de
dispersión de la guía vacía y llena de dieléctrico, resultando: [7]

𝛽 2 +𝐾2
𝜀𝑟 = 𝛽2 +𝐾𝑐2 (41)
0 𝑐

La forma en la cual se aplica la técnica en el laboratorio de comunicaciones es

utilizando una guía ranurada con un medidor de onda estacionaria que permite
medir la longitud de onda, las distancias desde el cortocircuito al mínimo de onda
estacionaria con muestra l y sin muestra l0 y la razón de onda estacionaria S. La
ecuación (40)puede modificarse teniendo en cuenta que:

1−𝑆 2𝑗𝛽 𝑙
𝛤1 = 𝑒 0 𝑚𝑖𝑛 (42)
1+𝑆

Donde lmin = l-d es la distancia desde la interface al mínimo de onda estacionaria

y resulta.
1 1−𝑗𝑆𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑙−𝑑)]
𝐾 = −𝑗 𝛽 𝑑 . 𝑆−𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑙−𝑑)]
(43)
0

Y teniendo en cuenta que

 39

tan(𝛽0 𝑙0 ) = 0 (44)

Se obtiene
1 1−𝑗𝑆𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙)]
𝐾 = −𝑗 . (45)
𝛽0 𝑑 𝑆−𝑡𝑎𝑛[𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙)]

La ecuación (45) es trascendente y presenta infinitas soluciones para β [7]. Para

determinar la solución correcta sin ambigüedad es preciso conocer una solución
aproximada con anterioridad.

Montajeexperimental: (Ver figura 4 para un esquemático general del montaje con

equipos de laboratorio de comunicaciones) El dispositivo utilizado para la
determinación de constantes dieléctricas mediante el método de la guía
cortocircuitada consta esencialmente de los siguientes elementos:

Figura 4. Dibujo esquemático de la disposición de los diferentes elementos en el montaje

experimental.
Fuente: Leybold Didactics.T.4.4.3 Microwave Propagation in Waveguides.[8]
 40

Un diodo gunn con su correspondiente alimentación y modulación que genera una

señal 9,51 GHz.

Una guía rectangular ranurada de dimensiones interiores. a = 10,030 mm b =

22,298 mm Correspondiente a una guia de onda de tipo WR-90 Un medidor de
ondas estacionarias que proporciona valores de tensión relativos en dB.

Una sonda (antena diodo actuando como receptora) acoplada a un sistema que
permite su desplazamiento a lo largo de la guía. El movimiento se realiza a partir de
un tornillo micrométrico que nos proporciona la posición de la sonda respecto a una
cierta posición de referencia

Una serie de células de las mismas dimensiones transversales que la guía y

diferentes espesores cuya misión va a ser la de servir de alojamiento para la
muestra. Debido a que en muchas ocasiones va a interesar medir muestras líquidas,
la parte de la guía rectangular a la que se va a conectar la muestra está terminada
en una ventana de cuarzo de manera que el líquido quede confinado en la zona de
interés.

Figura 5. 1.Modulo de Medición y control 2. Medidor de potencia RF. 3. Unidad de adquisicion

de datos. 4. Arreglo de guia de onda ranurada.
Fuente: Pérez y otros.[1]
 41

Figura 6: : 1. Diodo Gun. 2. Modulador 3.Polarizador. 4. guia de onda ranurada. 5 Célula

Portamuestra
Fuente: Pérez y otros [1]

Figura 7. Célula portamuestra

Fuente: Pérez y otros [1]

Las figura 5 y figura 6, muestran los diferentes componentes que conforman la

estación experimental. La figura 7 muestra la célula portamuestra utilizada.

La obtención de los parámetros se realiza tomando muestras repetidas sobre el

mismo medio, de forma de garantizar la tendencia a un valor medio. Las mediciones
fueron hechas con diez repeticiones, tomando el promedio de cada una como valor
de entrada para el análisis matemático del método de Roberts-Von Hippel.

Según experimentos realizados anteriormente y reseñados en [1], imposibles de

replicar debido a que las muestras cambian sus propiedades con el tiempo, se
 42

espera que se corroboren los resultados:

𝜀𝑟 = 𝜀𝑟′ − 𝑗𝜀𝑟′′ = 2,12 − 𝑗0,039

Tal valor de permitividad es el insumo que se tomará como valor teórico, de
referencia o comparación para los valores obtenidos de la nueva aplicación de
algoritmo desarrollado en la investigación.

Con

𝑆 = 2,2
𝑑 + 𝑙0 − 𝑙 = 0,06𝑚
𝑓 = 9,51 𝐺𝐻𝑧

Tales valores son insumo para cualquier desarrollo matemático que resuelva la
ecuación de Von Hippel para la técnica SCL, sólo es aplicable en el Laboratorio de
Comunicaciones de LUZ o ambientes similares. Hay que tener en cuenta que la
frecuencia debe ser fijada con anterioridad, debido a que si se especifica un rango,
en este caso Banda X (8 a 12 GHz) el resultado pudiera ser drásticamente diferente,
esto es por el carácter dispersivo de la muestra.
 43

CAPÍTULO III

CRITERIOS METODOLÓGICOS

Los criterios metodológicos expresan los aspectos del cómo de la investigación,

se describe la tipología de la investigación, el diseño y las unidades de estudio. De
la misma manera las técnicas e instrumentos empleados durante la investigación.

3.1. Nivel de Investigación

Para Arias [9] el nivel de investigación se refiere al grado de profundidad con que
se aborda un objeto o fenómeno.

De esta manera, Sabino [10] señala que el nivel de la investigación puede

subdividirse según su propósito en Básica y Aplicada y según la profundidad con que
se aborda el tema: en exploratoria, documental, descriptiva, correlacional y
explicativa.

Según lo anteriormente expuesto esta investigación es del tipo Aplicada, debido a

que el trabajo tiene por finalidad utilizar conocimientos previos para afectar una
realidad y convertirla en otra de según los criterios del investigador o grupo social
generando conocimiento nuevo en el proceso. En este sentido esta investigación
busca una nueva forma de resolver una ecuación que hasta ahora no tiene solución
de forma que sea única y físicamente razonable.

Asimismo, esta investigación es del tipo evaluativa según la profundidad con la

que se ha abordado el tema, Arias [9], define la investigación explicativa como la
caracterización de un hecho, fenómeno o grupo con el fin de establecer su
estructura o comportamiento.
 44

De esta forma, la presente investigación pretende definir una propuesta de

algoritmo, que es un proceso de pensamiento, para la solución del problema
planteado años atrás en el grupo social determinado por los usuarios de
electromagnetismo aplicado a la caracterización de materiales.

3.2. Diseño de la Investigación

Según Arias, el diseño de investigación es la estrategia que adopta el

investigador para responder al problema planteado.

En esta investigación se definirá y se justificara el tipo de investigación, según el

diseño o estrategia por emplear.

En atención al diseño, la investigación se clasifica en investigación documental y

experimental. Una investigación documental es aquella que se basa en la obtención
y análisis de datos provenientes de materiales impresos u otros tipos de
documentos, Arias [9].

La investigación Experimental es aquella que consiste en someter a un objeto o

grupo de individuos a determinadas condiciones o estímulos (variable
independiente), para observar los efectos que se producen (variable dependiente),
Arias [9].

Según lo anterior, este tipo de investigación es documental, debido a que en la

misma se obtiene la información preliminar para la formulación de las ecuaciones de
materiales impreso, así mismo para el diseño e implementación del algoritmo y por
último al momento de validar el software se compararán los resultados con otros
obtenidos en investigaciones ya publicadas.

Adicionalmente, es de tipo experimental, debido a que en el desarrollo del

algoritmo, teniendo en cuenta que se conoce los resultados de la variable
dependiente se hace variar a través de diferentes algoritmos la variable
 45

independiente de forma que se obtenga la opción óptima entre los algoritmos a

utilizar controlando así las variables en juego.

3.3. Metodología Aplicada

Para el desarrollo de esta investigación se plantearon 3 fases a seguir, las cuales

tienen el propósito de satisfacer los objetivos de la investigación basados en una
metodología planteada por Clint Smith [28], donde se fundamentan los pasos
necesarios para el desarrollo de un trabajo de investigación como el propuesto.

En consecuencia, para un mejor entendimiento de la investigación se hace

necesario explicar de manera breve cada uno de los pasos a seguir durante el
desarrollo, con el fin de conocer el objetivo final que se persigue con esta
investigación.

Fase I: Revisión bibliográfica que permitirá establecer el estado de arte. Para

esta fase se emplearan técnicas metodológicas propias de la investigación
documental que nos permitirán describir, escoger el método que permita resolver la
ecuación de Von-Hippel, así como también la descripción de la ecuación y método,
además de identificar las facilidades de desarrollo de algoritmos para el cálculo de
las variables independientes de la ecuación de Von-Hippel.

Esta etapa está marcada por varios hitos como lo son:

Descripción de la Técnica de Guía Cortocircuitada.

Descripción de la Técnica de la Guía Cortocircuitada en el laboratorio de
Comunicaciones.
Descripción de la Ecuación de Von –Hippel como un problema matemático.
Descripción de las limitaciones de solución de la ecuación.

Fase II: Formulación del modelo matemático que permita la solución a la

ecuación de Von-Hippel. De forma que se obtenga un método de análisis de datos
una vez realizadas las mediciones.
 46

En esta fase se llevará a cabo todo lo referente al nuevo software, donde se

formularon las ecuaciones necesarias para la solución del problema de SCL:

Para realizar esta fase es necesario cumplir con las siguientes actividades:
Planteamiento de premisas para el algoritmo de solución.
Planteamiento de herramientas matemáticas para ser ejecutadas en un
algoritmo.
Implementación del software en Matlab para simular el análisis de datos
obtenidos de la aplicación de la técnica SCL en el Laboratorio de Comunicaciones.

Fase III: Validación del software.

Una vez llevada a cabo la parte del software se procede a recopilar los datos
obtenidos para ser analizados. Para ello se procederá a observar y comparar con
casos de estudio previamente seleccionados el comportamiento de los datos de
manera visual en cada una de las simulaciones ejecutadas.

Para llevar a cabo esta fase de la investigación es necesario realizar las siguientes
tareas:

1. Validación del software mediante la comparación de los distintos tipos de

sustancias para el estudio de la solución de SCL.
2. Validación del software mediante la comparación de los resultados obtenidos
con casos de estudio previamente seleccionados.
 CAPITULO IV

PRESENTACIÓN Y ANÁLISIS DE RESULTADOS

Este capítulo comprende los resultados obtenidos al cumplir las etapas de la

investigación. Además, el análisis de los mismos de acuerdo a los objetivos que se
propusieron para la investigación.

Este capítulo presenta el desarrollo del algoritmo solución de la ecuación de Von

Hippel utilizando la técnica de la Guía de Onda Cortocircuitada en el Laboratorio de
Comunicaciones de LUZ.

La solución de la ecuación de Von Hippel no pasa por ser de carácter analítico.

Adicionalmente presenta infinitas soluciones que en términos de la interpretación
física no ofrece la información de forma unívoca, de tal modo que la solución de la
ecuación para el método de Guía Cortocircuitada es necesariamente un método
numérico.

Un método numérico es un procedimiento mediante el cual se obtiene, casi

siempre de manera aproximada, la solución de ciertos problemas realizando cálculos
puramente aritméticos y lógicos (operaciones aritméticas elementales, cálculo de
funciones, consulta de una tabla de valores, cálculo preposicional, entre otros.)
prescindiendo del análisis general de las ecuaciones para dar una solución
(respuesta analítica). Un tal procedimiento consiste de una lista finita de
instrucciones precisas que especifican una secuencia de operaciones algebraicas y
lógicas (algoritmo) de manera que se particularicen las ecuaciones que definen el
fenómeno de forma analítica al caso particular de estudio que producen una
aproximación de la solución del problema (solución numérica).

Es necesario definir un algoritmo. Un conjunto de procedimientos sistemáticos

que convierten unos datos de entrada en datos de salida se llama algoritmo. La
secuencia de pasos que lo definen debe ser ejecutada en orden lógico,
 48

generalmente dicha secuencia se lleva a un computador para desarrollar un

software que realice las tareas propias del mismo. Sin embargo, no necesariamente
debe ser un software el destino de un algoritmo, pueden existir otras formas de
ejecución del mismo.

Como resultado de la investigación se desarrollaron algoritmos que vieron su

ejecución en software y otra forma, a través del ensayista del método de Von Hippel
con la ayuda de métodos gráficos que describen cada aspecto del fenómeno físico
de transmisión y reflexión de ondas guiadas particularmente las existentes en el
laboratorio de comunicaciones de LUZ.

Para la descripción de los pasos que dan solución a la ecuación de Von Hippel se
deben definir unas premisas mediante las cuales se considera en primer lugar que
condiciones aseguran que está resuelto el problema, un punto de partida y al menos
un método de ejecución.

4.1. Premisas para el diseño de un algoritmo que de solución a la

ecuación de Von Hippel

La ecuación de Von Hippel para el método de la guía cortocircuitada es la

presentada a continuación:
tan(βd)
=K (46)
βd

K ≡ constante ∈ C
βd ≡ incógnita ∈ C

Fácilmente se puede ver que es posible definir dos funciones de variable compleja
que deben coincidir para que se cumpla la condición de la ecuación (46):

tan(βd) = Kβd (47)

Finalmente el resultado complejo de la técnica es consecuencia de la ecuación:

 49
𝛽 2 +𝐾2
𝜀𝑟 = 𝛽2 +𝐾𝑐2 (48)
0 𝑐

Se pueden redactar las premisas de solución:

El método debe ser independiente de mediciones anteriores.
La solución de pertenecer al conjunto de números complejos tan(βd) y a 𝐾βd ∈ ∁.
La solución debe estar circunscrita al caso de propagación de campos en una guía
de onda WR-90 existente en el laboratorio de comunicaciones de LUZ y utilizada en
la aplicación de la técnica de la guía cortocircuitada.

4.2. Algoritmo previo utilizado en publicaciones previas para

medición de permitividad en petróleo utilizando Laboratorio de
Comunicaciones en LUZ

En el desarrollo de la investigación que llevó a la publicación “Medición de

Permitividad Dieléctrica Compleja a 9.51 GHz” [1] llevada a cabo en el laboratorio
de comunicaciones de la Universidad del Zulia los autores utilizaron para el análisis
de los datos un software basado en el error de dos funciones definidas a partir de la
ecuación de Von Hippel, se hace una aproximación temprana al valor univalente de
la permitividad, sin embargo se requirieron datos previos de su valor complejo para
que el software funcione efectivamente.

El algoritmo se basa en encontrar cual es el valor de constante de propagación

“β” para lo cual se cumple que:

|tan(βd) − 𝐾βd| → 0 (49)

Esto se logra a través del valor absoluto del error entre ambos lados de la
ecuación (46) luego aplicando la ecuación (48) descrita en el capítulo 2 para tener
una función R2 a R2 donde el dominio son todos los números complejos y la salida es
el valor complejo de permitividad utilizando como medio o función de relación las
ecuaciones (47) y (48).
 50

La sintaxis del programa en Matlab® se muestra en Anexo A.1 y un ejemplo de

ejecución del mismo mostrando gráficas y valores resultantes están en Anexo A.2.

Este procedimiento tiene dos debilidades que deben ser modificadas y

convertidas en fortalezas.

La primera es que es necesaria una primera aproximación a los valores de

permitividad real e imaginaria con una exactitud que exige mediciones previas con
otro método para obtenerlas y poder utilizarlas.

La segunda es que aunque da un valor bastante aproximado el mismo está

garantizado que se encuentra dentro del conjunto de llegada de f(x,y)=Kβd pero no
garantiza que esté dentro del conjunto solución de f(x,y)=tan(βd) por tanto aunque
aproximado no cumple totalmente con la premisa expuesta en la ecuación (46).

La figura 9 muestra el algoritmo base publicado en el libro “Ingeniería de

Microondas”[7].
51
 52

Figura 9. Algoritmo base desarrollado en software

 53

4.2.1 Solución de la dependencia de la técnica SCL a mediciones anteriores

con otro método.

Para independizar el análisis de los resultados de alguna medición previa es

necesario obtener información sobre una primera aproximación del valor de
permitividad compleja a partir de la propia técnica SCL aplicada.

De la ecuación (49) se tiene que la técnica ofrece, además del valor en

centímetros de la ubicación del primer mínimo de campo eléctrico dentro de la guía
de onda, el valor de Relación de Onda Estacionaria “S” que está relacionado
directamente con la magnitud del coeficiente de reflexión.
.
ROE

1 1+𝑗𝑆 tan(𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙))

𝐾 = −𝑗 𝛽 (45)
0 𝑑 𝑆 tan(𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙))

Donde:
K: Constante conocida producto de la medición
β0: Constante de fase en el vacío.
d: Profundidad del porta muestras, conocido.
l: Distancia del cortocircuito al primer mínimo con muestra.
l0: Distancia del cortocircuito al primer mínimo sin muestra.
S: Relación de Onda Estacionaria con muestra, parámetro conocido producto de
la medición.

La figura 8 obtenida de la publicación “Basics of MeasuringtheDielectricProperties

of Materials” [10] de Agilent® mostrada a continuación, indica una relación empírica
entre la permitividad dieléctrica del medio y la magnitud del coeficiente de reflexión
cuando el segundo medio está bajo muestra.

De manera que a partir de la medición de S y tal cantidad se relaciona con el

coeficiente de reflexión, con la técnica SCL se puede obtener, utilizando el gráfico de
la figura 8, una primera aproximación de permitividad relativa en su parte real.
 54

La parte imaginaria de la permitividad compleja se supone muy baja, su valor

está entre el valor cero (0) y el valor de 10% del valor de permitividad relativa real
según “MicrowaveHandbook” N. Marcuvitz MIT PRESS 1951 [11], de forma que fijar
cero (0) como primera aproximación ofrece suficiente exactitud de éste parámetro.

Figura 8. Gráfica del comportamiento de Relación de Onda Estacionaria vs Constante

Dieléctrica
Fuente: “Basics of Measuring the Dielectric Properties of Materials” [10] de Agilent®

Con la forma expuesta se independiza el método de alguna medición previa, con

obtener Relación de Onda Estacionaria se puede determinar Constante Dieléctrica
Compleja inicial de manera de tener una primera aproximación de entrada al
algoritmo final.
 55

4.2.2 Solución de la imprecisión de la respuesta del método con respecto al

conjunto de llegada tan(βd)

Para eliminar la imprecisión que existe entre la solución que da el método y el

conjunto de llegada tan(βd) es necesario comprender la base matemática del
mismo.

En la publicación “Simplificacion del método del corto circuito para la medición de

la permitividad dieléctrica” [12] se muestra una idea de procesamiento, en la misma
se hace con consideraciones que no están incluidas en la presente investigación
pero se usa el mismo proceso de pensamiento.

En dicho publicación se llega a la ecuación:

tan 𝑥
𝑥
=𝐾 (51)

Adicionalmente el proceso expuesto en el libro publicado en el año 2000 por Mc

Graw-Hill “Métodos Numéricos Aplicados en Ingeniería”[12] expone en pag 119 la
solución de la ecuación:

tan 𝑥 = 𝑥 (52)

Se analiza que el conjunto solución cumple con:

𝑆→∞ (53)

En la presente investigación, no se llegará al resultado por el mismo camino. Para

comenzar el valor de la Relación de Onda Estacionaria es conocido y viene de la
misma medición aplicando la técnica de forma que ofrece mejor tratamiento de los
datos que la consideración tomada en la referencia “Simplificacion del método del
corto circuito para la medición de la permitividad dieléctrica” [12]. Sin embargo
garantizar que los resultados pertenezcan a la función que se está aproximando es
un punto de partida para mejorar el análisis de las mediciones.
 56

Desde el algoritmo base se tiene una aproximación cercana del valor de β que
ofrece un resultado que para la investigación que generó el artículo referenciado en
[1] se considera aceptable. Sin embargo el valor obtenido es uno que es complejo
que está cercano al valor inicial dado como primera aproximación (aproximación
temprana)

εinicial=ε’inicial –jε’’inicial (54)

Además es cercano a los valores que cumplen con la condición de la ecuación

(49):

|tan(βd) − 𝐾βd| → 0 (49)

Sin embargo tal condición implica que:

tan(𝛽𝑑) = 𝐾𝛽𝑑 (55)

Eso quiere decir que si se definen dos funciones de dominio y rango complejo:

𝑓(𝑧) = tan(𝛽𝑑) (56)

𝑔(𝑧) = 𝐾𝛽𝑑 (57)

Con

𝑧 = 𝑥 + 𝑗𝑦

El valor de constante de propagación β debe ser tal que pertenezca a f(z) y a la

vez pertenezca al conjunto g(z).

Si se tiene en cuenta el lugar geométrico de g(z) según la ecuación (57) es todo

el plano complejo, cualquier valor de β cumple con la condición impuesta por dicha
ecuación.
 57

Si se inspecciona la ecuación (56) es fácil notar que el lugar geométrico de f(z)

no son todos los números complejos por tanto es necesario garantizar la
intersección de los conjuntos numéricos f(z) y g(z) de tal forma que se cumpla la
condición impuesta por (49) de forma exacta mejorando así la precisión del método
y rompiendo con la posible ambigüedad de resultado producto del redondeo de los
métodos numéricos.

Claramente se puede decir que la intersección entre las funciones (56) y (57) es
la correspondiente a f(z).

Para ilustrar mejor nótese el ejemplo de la figura 10.

200 -10.5

150

-11
100

50
-11.5

-12
-50

-100

-12.5

-150

-200 -13
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1

Figura 10. Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de tan(z)
con z todo el plano complejo.
Fuente: Flores, Daniel.

Para una mejor y ilustración en la figura 11 se pueden observar ambos gráficos

con la misma escala y en el mismo rango. Nótese en la figura de la derecha el punto
solución de alguna corrida del método SCL y en la figura de la izquierda una gráfica
de la tangente de variable compleja.
 58

-10.5 -10.5

-11 -11

-11.5 -11.5

-12 -12

-12.5 -12.5

-13 -13
-3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1 -3.5 -3 -2.5 -2 -1.5 -1

Figura 11 Gráfica de tan(βd) con β obtenido del algoritmo base (derecha) y gráfico de tan(z)
con z todo el plano complejo en el mismo rango y escala.
Fuente: Flores, Daniel.

Si se superpone ambas gráficas y utilizando herramientas de dibujo elementales

se puede notar que el valor encontrado anteriormente no pertenece a tan(z) y por
tanto a f(z) y por el otro que es posible determinar un nuevo valor de tan(βd) que si
estaría dentro de f(z) y a la vez dentro de g(z) pues el segundo es todo el plano
complejo, ver figura 12.
 59

Figura 12. Gráfica de determinación de tan(βd) verdadero perteneciente a tan(z).

Fuente: Flores, Daniel.

Para poder determinar el valor del nuevo tan(βd)=tan(z) se procede de la forma:

Establecer la función error |tan(βd) − tan(𝑧)| → 0 (56)

Ubicar el índice del menor error en la matriz de esa función.

El nuevo punto elimina por completo el error de redondeo planteado en el

algoritmo base original, sin embargo se ha obtenido un valor de la función
tan(z)=tan(βd) más no se ha obtenido un valor de β directamente y con él un

nuevo valor para εmás preciso.

Seguidamente es necesario los pasos:

 Ubicar el mismo índice en la matriz del mismo orden de los números
complejos que constituyen la variable independiente de z.
 Dividir por “d”. Ya se ha obtenido el nuevo valor de β.
 Determinar épsilon en función de beta utilizando la ecuación (47).

Existe otra forma de determinar el nuevo valor. Se toma que el nuevo valor
determinado responde también a g(z) de tal forma que es solución de Kβd, ecuación
 60

de donde es muy sencillo obtener el valorar monovalente de la constante de

propagación β

Se puede puntualizar en los pasos:

 Establecer igualmente la función error |tan(βd) − tan(𝑧)| → 0 (56)

 Ubicar el índice del menor error en la matriz de esa función.
 Ubicar el mismo índice en la matriz de g(z)=Kβd.
 Dividir por “d” y dividir por “K”. Ya se ha obtenido el nuevo valor de β.
 Determinar épsilon en función de beta utilizando la ecuación (47).

Se ha obtenido la constante de propagación β y a partir de ella el valor univalente

y preciso de la constante dieléctrica compleja y con ella la permitividad dieléctrica
compleja resolviendo de esta forma precisa y sistemática la ecuación (46)
denominada ecuación Roberts- Von Hippel para la técnica de la guía cortocircuitada
aplicada en el laboratorio de comunicaciones de LUZ.

La primera forma de obtener β y luego ε es la utilizada para la ejecución del

algoritmo resultante por medio de software en matlab®. La segunda forma es la que
se utilizará para el desarrollo del algoritmo por medio de gráficos analizados por el
ensayista de la técnica con ausencia de uso de computador.

De acuerdo con estos pasos a cumplir en el algoritmo final se elimina la

ambigüedad de soluciones para el método de SCL. El algoritmo final se puede ver
en la figura 13.
61
62
63
64
 65

Figura 13. Algoritmo resultante con eliminación de error de redondeo e independencia de

mediciones previas.
Fuente: Flores, Daniel

El programa implementado en matlab® está en el Anexo A.2.

4.3. Desarrollo de cartillas de gráficos para ejecución de algoritmo

sin el uso del computador

Para comenzar se debe tener claro las premisas expuestas en el inciso 4 de éste
capítulo.

El gráfico de la figura 8 responde a la independencia del método a mediciones

anteriores. Se comienza con el gráfico que relaciona de forma temprana el
 66

Coeficiente de Reflexión con la Constante Dieléctrica real. El mismo coincide con la

figura 9.

Se obtiene una gráfica que relacione la Relación de Onda Estacionaria medida a

través de la técnica de SCL con el coeficiente de reflexión a partir de la ecuación
conocida (58).

𝑆−1
|Γ| = | | (58)
𝑆+1

Es decir, se puede obtener un gráfico de la función (58) donde se toma como eje
de las abscisas la relación de onda estacionaria “S” y para el eje de las ordenadas la
magnitud del coeficiente de reflexión de tensión.

El gráfico mencionado será de una forma no ortodoxa, debido a que el origen de

la recta real de las abscisas no coincide con el origen del origen de la recta real de
las ordenadas. El eje “y” estará desplazado en “S=10” de tal forma que el gráfico
tendrá dicho eje a la derecha, no como tradicionalmente se hace.

Este artificio se hace para “acoplar” el gráfico de la función (58) que es S vs. ΙΓΙ
con el gráfico en la figura 8 que es ε’rvs. ΙΓΙ. Ambos gráficos comparten el eje de las
ordenadas. De ésta forma se han acoplado los gráficos. En la Figura 14 se puede
mostrar el resultado que se constituye en la primera parte de la cartilla.

Figura 14. Gráfico que relaciona S con la permitividad para independizar el método a
mediciones anteriores.
Fuente: Flores, Daniel
 67

La intención de éste gráfico es dar información al ensayista de la aproximación de

entrada del valor de permitividad relativa a través de la medición misma del método
de SCL, allí se obtiene entre otros elementos la Relación de Onda Estacionaria. De
ésta forma gráficamente se puede eliminar la dependencia del método a mediciones
anteriores.

El modo de uso es que una vez medido el valor de “S”, el usuario se introduce en
el gráfico de la izquierda que desde ahora en adelante se llamará “g2.3” para de esa
forma encontrar el valor de ΙΓΙ y con ese valor ir al gráfico adjunto a la derecha que
relaciona las variables ε’r y ΙΓΙ que desde ahora en adelante se llamará “g1.3” y así
encontrar el valor de ε’r.

Se asume εr.= ε’r.-j ε’’r.= ε’r.-j0, así que queda totalmente determinado el valor
de permitividad para iniciar el método numérico que determine el verdadero valor
de permitividad dieléctrica compleja.

Ahora es necesario encontrar una relación entre la permitividad y la constante de

fase “β” , esta relación está descrita en la ecuación (48). De allí se puede despejar
β2.

𝛽 2 = 𝜀𝑟 . (𝛽02 + 𝐾𝑐2 ) − 𝐾𝑐2 (59)

Como se puede detallar en la ecuación (59), β2 depende linealmente de la

constante dieléctrica del medio, el resto de elementos que intervienen en la
ecuación (59) son constantes conocidas debido a que dependen de la guía de onda
y la frecuencia del ensayo, las cuales están definidas para el caso del laboratorio de
comunicaciones de LUZ y para cualquier lugar de ensayos, pues es una información
necesaria antes de realizar las pruebas.

Teniendo en cuenta los valores característicos de las guías de onda del

laboratorio de comunicaciones de LUZ desarrollados en el capítulo 2 se puede
plantear ecuaciones equivalentes :

Kc = 137,4246 rad/m
 68

Kc: Constante característica de la guía de onda WR-90

K0 = 135,2633 rad/m
K0: Constante de corte de la guía de onda WR-90
β0 = 24,2766 rad/m
β0: Constante de propagación en la guía de onda WR-90.

Si se puede incluir los parámetros conocidos en la ecuación (59) se puede ver

que β2 es un parámetro complejo que es igual a εrdesplazado y escalado en valores
reales conocidos. Se tiene que:

𝑅𝑒(𝛽 2 ) = 𝑅𝑒(𝜀𝑟 ). (𝛽02 + 𝐾𝑐2 ) − 𝐾𝑐2 (60)

𝐼𝑚(𝛽 2 ) = 𝐼𝑚(𝜀𝑟 ). (𝛽02 + 𝐾𝑐2 )(61)

A partir de las ecuaciones (60) y (61) se pueden construir ejes coordenados para
β2 sobre los ejes coordenados de la permitividad dieléctrica compleja tan solo con
las modificaciones de la variable independiente desplazamiento y/o escalamiento.

El efecto de desplazamiento y escalamiento genera unos valores relacionados en

funciones descritas en las ecuaciones (60) y (61) de forma que se pueden
representar en tablas de pares ordenados pero no serán graficados de esa forma
sino que cada eje de la variable independiente tendrá un eje relacionado paralelo
con valores propios de la variable dependiente relacionada.

Los pares ordenados se pueden expresar con las tablas de la figura 15.
Tabla 1 . Tabla de valores de las funciones (60) y (61)
ε’r Re(β2) ε'’r Im(β2)
1 589,353308 1 19474,874
2 20064,2273 2 38949,748
3 39539,1013 3 58424,622
4 59013,9753 4 77899,496
5 78488,8493 5 97374,37
6 97963,7233 6 116849,244
7 117438,597 7 136324,118
 69

8 136913,471 8 155798,992
9 156388,345 9 175273,866
10 175863,219 10 194748,74
20 370611,959 20 389497,48
30 565360,699 30 584246,22
40 760109,439 40 778994,96
50 954858,179 50 973743,7
60 1149606,92 60 1168492,44
70 1344355,66 70 1363241,18
100 1928601,88 100 1947487,4
Fuente: Flores, Daniel

Luego, el modo de uso de los valores hallados a través de los ejes coordenados
determina un número complejo en el plano complejo que es el gráfico “g1.3” que
gráficamente tiene magnitud y ángulo, fácilmente se puede determinar la raíz
cuadrada del dato hallado.

Con el valor de β determinado, hay que encontrar y presentar en plano el valor

de Kβd, para ello se tiene que “d” es conocido, es la profundidad de la muestra
d=3,2.10-2m. Solo hay que multiplicar el valor hallado de β con d. debido a que se
consideró desde un principio que la constante dieléctrica en aproximación inicial era
sólo real el valor de βd también será real.

Ahora es necesario encontrar el valor de K que es una constante que depende de

los parámetros medidos en la aplicación de la técnica. Está descrito por la ecuación
(45).

1 1+𝑗𝑆 tan(𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙))

𝐾 = −𝑗 𝛽 (45)
0 𝑑 𝑆 tan(𝛽0 (𝑑+𝑙0 −𝑙))

Donde:

K: Constante conocida producto de la medición

β0: Constante de fase en el vacío.
 70

d: Profundidad del porta muestras, conocido.

l: Distancia del cortocircuito al primer mínimo con muestra.
l0: Distancia del cortocircuito al primer mínimo sin muestra.
S: Relación de Onda Estacionaria con muestra, parámetro conocido producto d
ela medición.

Como β0 , d, l0 son conocidos y fijos, realmente se miden los parámetros S y l , la

idea es relacionar K con S y l.

Como ya la cartilla contiene un eje coordenado que representa S se generan dos

nuevos ejes que representan la parte real e imaginaria de K, estarán en paralelo
entre si y perpendiculares al eje de S en el plano cartesiano generado en la misma
área de g2.3 se dibujará la familia de curvas que dependerá de la variación de l por
cada de ésta variable se obtendrá una curva diferente.

El modo de uso de éste gráfico es ubicar S en las abscisas y buscar en la familia

de curvas el valor de l más cercano para así encontrar el valor de Re(K) y luego de
la misma forma Im(K) sobre el área correspondiente.

Luego se define una nueva área de la cartilla de gráficos llamado g3.3 que tendrá
en el eje vertical la parte real de K y el eje horizontal en orden inverso tendrá
asociada la variable Imaginario de K. Con el valor de K complejo ya determinado y
graficado en g3.3 es fácil determinar Kβd, debido a que el primer cálculo de βd será
siempre real de forma que será igual que K escalado.

Puntualizando, la cartilla tiene tres áreas o divisiones llamadas g1.3, g2.3 y g3.3
cada área representa un plano cartesiano que puede ser real o complejo según sea
el caso.

Cada área de la cartilla adicionalmente puede relacionar más de un par de

variables a través del uso de ejes paralelos.

La ubicación de las áreas puede ser observada en la figura 15

 71

g2.3.3 g1.3.3
g3. g1.3.1
g2.3.1
3
g2.3.2 g1.3.2

Figura 15. Esquemático de posiciones de subgráficos en la cartilla solución a la ecuación de

Roberts-Von Hippel.
Fuente: Flores, Daniel

El área g1.3 contiene las gráficas:

ΙΓΙ vs ε’r . Plano real X vs Y (g.1.3.1)
εrc = ε’r – jε’’r. Plano complejo Z= X – jY (g.1.3.1)
β2 = Re[β2] + jIm[β2]. Plano complejo Z= X + jY (g.1.3.2 y g.1.3.3)

El área g2.3 contiene las gráficas:

Re [K] vs S . Plano real X vs Y (g2.3.3)
Im [K] vs S. Plano real X vs Y (g2.3.2)
ΙΓΙ vs S. Plano real X vs Y (g2.3.1)

El área g3.3 contiene las gráficas:

tan[z]. Plano complejo Z= X – jY (g3.3)

Puntualizando, para el uso de la cartilla solución se deben seguir los pasos

siguientes:
 Aplicar la técnica SCL y obtener K, con ello S y lmin.
 Con S entrar en el gráfico g.2.3.1 y enlazar con el gráfico g.1.3.1 a través
de ΙΓΙ y hallar εrc
 Con εrcentrar en el gráfico g1.3.2 o g1.3.3 según la escala que corresponda
y hallar βd.
 Con S y lminentrar en g.2.3.2 y g.2.3.3 y hallar parte imaginaria y real de K
respectivamente.
 Con K entrar en g3.3 y ubicar ese número complejo, luego multiplicarlo por
βd para hallar Kβd.
 72

 Con Kβd encontrar el punto contenido en tan[z] más cercano a Kβd , tal
punto será el nuevo valor que asumirá Kβd.
 Luego dividir ese valor nuevo por el antiguo K.
 El resultado ubicarlo en g.1.3.2 o g.1.3.3 según aplique y encontrar (βd)2
que será ahora un número complejo.
 Con ese valor entrar en g.1.3.1 y hallar el nuevo y definitivo valor de εrc.

La versión final y un ejemplo de su aplicación están en el Anexo B. En él se puede

notar que con sólo el uso de lápiz, compás y regla se puede realizar el mismo
cálculo que con el uso del software descrito en el inciso anterior y expuesto en el
Anexo A, con lo cual se ve cumplido el objetivo de hallar un algoritmo y llevarlo a
aplicación a través de dos destinos del mismo, uno con la ayuda de un ordenador y
el otro con un método gráfico.

Los resultados encontrados son:

Tabla 2 . Resultados
Fuente Permitividad Relativa Compleja
Referencia [1] 2,12-j0,039
Software 2,16-j0,044
Cartilla 2,2-j0,05
Fuente: Flores, Daniel

Se obtuvieron los errores porcentuales de partes real e imaginaria de cada

medición siguientes:

Nótese la paridad de los resultados sin embargo el método desarrollado garantiza

que las soluciones que de él se obtengan son más cercanas al valor real que el
software anterior. Los errores de la parte imaginaria son superiores a los de la parte
real, sin embargo en términos absolutos puede notarse que la diferencia entre las
mediciones tiende a cero, solo que su valor estándar también tiende a cero y por
tanto el error tiende a crecer. La parte de real es en valor absoluto 100 veces la
parte imaginaria de cada medición por tanto el error en términos absolutos son
mayores en términos porcentuales menores. Ver tabla 3 y tabla 4.
 73
Tabla 3 . Resultados en error absoluto
Fuente Error
Referencia [1] Referencia
Software 0,04-j0,005%
Cartilla 0,08-j0,011
Fuente: Flores, Daniel

Tabla 4 . Resultados en error porcentual

Fuente Error %
Referencia [1] Referencia
Software 1,8%-j12,8%
Cartilla 3,7%-j28,1%
Fuente: Flores, Daniel
 74

CONCLUSIONES

En función a los objetivos planteados se puede decir que se realizó una

descripción detallada del método de Von Hippel desde el punto de vista deductivo, a
partir de los general a lo particular, concluyendo que es un método aplicable en el
laboratorio de comunicaciones de La Universidad del Zulia según las condiciones que
en él se presentan y las recomendadas para la ejecución de la técnica.

En la descripción del método y su aplicación en el laboratorio de comunicaciones

se pudo formular las ecuaciones que van a regir el problema matemático a
solucionar en la investigación a partir de las ecuaciones que describen los
fenómenos físicos presentes en la técnica concluyendo que la denominada Ecuación
de Roberts -.Von Hippel que es trascedente y de infinitas soluciones define el
problema del trabajo efectuado.

La ecuación objeto de estudio no tiene solución analítica conocida por tanto se

definió el uso de métodos numéricos, por lo cual se partió de un algoritmo aplicado
en otras latitudes y en el propio laboratorio para el diseño de uno nuevo que genere
menor error e independencia de la técnica a otras aplicables dando como resultado
un algoritmo propio que salva los problemas de los anteriores, es decir, es
independiente de métodos anteriores y carece de error de aproximación de
resultados más no de otro tipos de errores propios de la aproximación de un método
numérico.

Se aplicó el algoritmo a través de un software en un ordenador y a través de un

método gráfico utilizando valores de mediciones anteriores comprobadas como
ciertas y expuestas en publicaciones hechas en el mismo laboratorio dando
satisfactorios resultados por lo cual se validó el funcionamiento del algoritmo
diseñado y sus herramientas de aplicación.
 RECOMENDACIONES

En función a los problemas presentados en el desarrollo de la investigación y las

nuevas perspectivas en el área de estudio producto de los objetivos alcanzados se
puede recomendar la aplicación del método a diversos materiales con el uso de la
cartilla solución de forma que el gráfico g.3.3 deba cambiar de escala para el
desarrollo de nuevos gráficos más detallados.

La aplicación del software con interfaz gráfica para facilitar su aplicación al

ensayista de la técnica.

El uso de calculadoras científicas o su equivalente como apoyo al uso de la

cartilla.

Contrastar en la medida de lo posible varios métodos de caracterización para

garantizar la unicidad de los resultados.

Aplicar teoría de mediciones y errores a la técnica para determinar la

incertidumbre del método y posibles caminos de mejora.
 REFERENCIAS BIBLIOGRÁFICAS

Perez, W y otros. “Medición de permitividad dieléctrica compleja con Microondas a

9.51 GHz”, IEEE, 2009.

A.R. Von-Hippel. “Dielectric Materials and Applications”, 4th ed. Cambridge, MA:
MIT Press, 1966.

T. P. Iglesias, A. Seoane, and J. Rivas. “A Contribution to the Measurement of

Permittivity with the Short-Circuited Line Method”, IEEE Transactions on
Instrumentation and Measurement. Vol. 43, No. 1, February 1994, pp 13-17.

J. Margineda, M. Rojo, A. Hernández. “Eliminating the ambiguity in nonperturbation

microwave measurement of permittivity”. IEEE Transactions on Instrumentation and
Measurement. Vol. 38, 1989, pp 1010-1012.

S. O. Nelson, LaV. Stetson, C. W. Schlaphoff. “A General Computer Program for

Precise Calculation of Dielectric Properties From Short-Circuited Waveguide
Measurements”, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. Vol. 43,
No. 1, February 1994, pp 455-460.

E. Nebot del Busto. “Caracterización de dieléctricos a frecuencia microondas”,

Universidad de Zaragoza. Zaragoza, 5 de Julio de 2004.

R. M. Redheffer. “The Measurement of Dielectric Constants”, IEEE Trans on

Vehicular Technology Vol. 43 No.4 pp1058-1066 Noviembre 1994.

F. Arias. “El proyecto de investigación-introducción a la investigación científica”.

Caracas: Editorial Episteme. (2006).

R. Bravo. “Técnicas de Investigación Social”. España: Paraninfos. (1996).

D. A. Schön. “The Reflexive Practitioner. How Professionals Think In Action”.

Londres, Temple Smith. (1983).
 APÉNDICE 1. PROGRAMA
% Obtencion de la permitividad mediante el metodo de von Hippel
N=1000;
erp1=1.2; ers1=0.2; % Valor inicial de las partes real e imaginaria
de la permitividad.
erpmin=2; ersmin=0.0;
erpmax=5; ersmax=5;

err_ini=Hippel_err([erp1 ers1])
epsilon=fminsearchbnd('Hippel_err',[erp1 ers1],[erpminersmin],[])
err_fin=Hippel_err([real(epsilon) imag(epsilon)])

x=linspace(erpmin,erpmax,N); y=linspace(ersmin,ersmax,N); z=zeros(N,N);

for m=1:N
for n=1:N
z(m,n)=Hippel_err([x(n) y(m)]);
end
end
pcolor(x,y,z);
shading interp;
caxis([0 5]);
title('Err=|tg(z)-Kz|');
xlabel('Real(epsilon)');
ylabel('Imag(epsilon)');
colorbar
figure

lo=14.6e-2;%distancia cc 1er min sin muestra%

l=11.8e-2;%distancia cc 1er min con muestra%
co=299792458;%velocidad de la luz%
muo=4*pi*1e-7;
eo=1/(muo*co^2);
a=2.322576e-2;%area de la guia de onda WR-90%
fc=6.557e9; %frecuencia de corte para guias de onda WR-90%
kc=pi/a;%valor caracteristico de k en el vacio y en la guia de onda tipo WR-
90%
d=3.2e-2; %longitud de la muestra%
lmin=d+lo-l;%parametro de Beta ara hallar "K"%
S=2.0503;%Razon de Onda Estacionaria%
ko=2*pi*fc/co; %numero de onda de corte%
betao=(ko^2-kc^2)^0.5;%beta en el vacio tomando en cuenta las dimensiones de a
guia%
NumK=-i*(1-i*S*tan(betao*lmin));
DenK=betao*d*(S-i*tan(betao*lmin));
K=NumK/DenK;%Valor de "K"%

ktrue=2*pi*fc*(muo*eo*(epsilon(1)-i*epsilon(2)))^0.5;%esta contiene la
variable que no
%se%
betatrue=(ktrue^2-kc^2)^0.5;%depende de k%
ftrue=abs(tan(betatrue*d)-K*(betatrue*d));%se le aplica el metodo desde dond
se llama
epsilontrue=(betatrue^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)
xx=linspace(-5,5,N); yy=linspace(-5,5,N);

for m=1:N
for n=1:N
zs(m,n)=xx(m)+i*yy(n);
end
end
subplot(1,2,1)
plot(tan(zs(1:N,1:N))),grid on;
subplot(1,2,2)
plot(tan(betatrue*d),'+r'),grid on
def=betatrue*d;
der=zs(1:N,1:N);
realder=real(der);
imagder=imag(der);
realdef=real(def);
imagdef=imag(def);
dert=abs(der-def);
[plm,pln]=min(min((dert)));
qwe=dert(:,pln);
qwer=qwe';
[we,ws]=min(qwer);
rty=(1/d)*zs(ws,pln);
ratye=(1/d)*atan(rty);
betatrue2=abs(real(rty))+i*(imag(rty));
epsilontrue2=(betatrue2^2+kc^2)/(betao^2+kc^2)

Apoyo: Hippel_err

function f=Hippel_err(er)
lo=14.6e-2;%distancia cc 1er min sin muestra%
l=11.8e-2;%distancia cc 1er min con muestra%
co=299792458;%velocidad de la luz%
muo=4*pi*1e-7;
eo=1/(muo*co^2);
a=2.322576e-2;%area de la guia de onda WR-90%
fc=6.557e9; %frecuencia de corte para guias de onda WR-90%
kc=pi/a;%valor caracteristico de k en el vacio y en la guia de onda tipo WR-
90%
d=3.2e-2; %longitud de la muestra%
lmin=d+lo-l;%parametro de Beta ara hallar "K"%
S=2.0503;%Razon de Onda Estacionaria%
ko=2*pi*fc/co; %numero de onda de corte%
betao=(ko^2-kc^2)^0.5;%beta en el vacio tomando en cuenta las dimensiones de a
guia%
NumK=-i*(1-i*S*tan(betao*lmin));
DenK=betao*d*(S-i*tan(betao*lmin));
K=NumK/DenK;%Valor de "K"%

k=2*pi*fc*(muo*eo*(er(1)-i*er(2)))^0.5;%esta contiene la variable que no

%se conoce%
beta=(k^2-kc^2)^0.5;%depende de k%
f=abs(tan(beta*d)-K*(beta*d));%se le aplica el metodo desde dond se llama
APÉNDICE 2. CARTILLA