A.

FIABILITATEA SISTEMELOR

1. Introducere

Problema fiabilităţii sistemelor are ca obiectiv:

 studiul defecţiunilor (cauzelor, proceselor de apariţie şi metodelor
de combatere a lor );
 analiza fizică a defecţiunilor ;
 aprecierea calitativă şi cantitativă a comportării sistemelor în timp,
funcţie de factorii de solicitare interni şi externi ;
 determinarea modelelor şi metodelor de calcul şi prognoză a
fiabilităţii pe baza studierii structurilor, a încercărilor şi a urmăririi
în exploatare a sistemelor ;
 stabilirea metodelor constructive, tehnologice şi de exploatare
pentru asigurarea, menţinerea şi creşterea fiabilităţii.
Definiţie: Fiabilitate (d.p.d.v. calitativ)= aptitudinea unui sistem de a
îndeplinii corect funcţiunile prevăzute, pe durata unei perioade de timp, în
condiţii de exploatare specificate.
Definiţie: Fiabilitate (d.p.d.v. cantitativ) = probabilitatea ca sistemul să-
şi îndeplinească corect funcţiile prevăzute (la nivel de performanţele
stabilite), pe durata unei perioade de timp date, în condiţii de exploatare
specificate.
Obs.: Dezvoltarea teoriei fiabilitaţii a influenţat pozitiv următoarele
domenii:
 electronică
 telecomunicaţii
 sisteme de navigaţie (aeriană, navală)
 sistemul energetic
 sistemele urmărite şi dirijate pe calculator
 tehnica militară

Fiabilitatea este un aspect al calităţii. Prin calitate se înţeleg

performanţele produselor, realizate în procesul de concepţie şi execuţie
fizică a acestora, performanţe garantate la ieşirea produsului din
întreprinderea producătoare. Fiabilitatea exprimă conservarea acestor
performanţe în timp, a.î. calitatea definită ca mai sus, ar fi fiabilitatea la
momentul de exploatare t=0.
Dacă performanţele produselor la t=0 pot fi caracterizate drept
“calitate statică”, iar performanţele în exploatare drept “calitate
dinamică”(sau fiabilitate), ansamblul acestor concepte ar reprezenta
conceptul de mentenabilitate, care ar reprezenta aptitudinea sistemului,
exprimată calitativ şi cantitativ, de a fi reparate şi repuse în funcţie, în caz
de defectare, prin acţiune de mentenanţă.
Ansamblul conceptelor de fiabilitate şi mentenabilitate reprezintă
conceptul de disponibilitate.
2 Fiabilitate şi Diagnoză

2.Definiţii

Fiabilitatea (d.p.d.v.calitativ) este caracterizată de următoarele elemente

constitutive:
• îndeplinirea funcţiei specificate, în sensul conservării performanţelor
specificate în momentul fabricaţiei
• precizarea unei anumite durate, numite timp de misiune, de-a lungul
căreia se păstrează performanţele menţionate, rezultă că fiabilitatea
poate fi considerată drept calitate păstrată în timp
• îndeplinirea funcţiei specifice este realizată în condiţii date, adică
exploatarea produsului se face în regim de funcţionare prescris,
cunoscut în prealabil d.p.d.v. al solicitării factorilor interni şi externi
(factori de climat tehnic); evident că în alte condiţii, concluziile se
schimbă.

Definiţie: Cantitativ fiabilitatea se defineşte ca fiind probabilitatea ca un

sistem să-şi îndeplinească funcţia specifică, în condiţii date şi de-a lungul
unei durate date, adică

p (t ) = Pr ob(t > T ) = R(t ) (1.1)

unde: p(t)- probabilitatea de bună funcţionare

R(t) – fiabilitatea (reliability)
T - o limită specificată a duratei de folosire
Ca orice probabilitate, 0<p(t)<1 (1.2)
Expresia (1.1) se numeşte funcţia de fiabilitate (Figura A-.1).
Încetarea aptitudinii unui sistem de a-şi îndeplini funcţia
specificată se numeşte defectare (cădere).
Cauzele defectării pot fi legate de:
 proiectare
 fabricaţie
 utilizare
Defectare: - bruscă (totală, catalectică ) - imprevizibilă
- treptată (progresivă, degradare) - prin urmărirea parametrilor
se poate prezice momentul defectării (Figura A-2.3). Prin
supradimensionare se poate asigura o durată mai lungă de viaţă.

Figura A-1.1 Variaţii posibile ale lui R(t)

 Fiabilitate 3

Conceptul de fiabilitate nu este numai de probabilitate; în acelaşi

timp el are şi un caracter statistic, ceea ce înseamnă că determinarea
caracteristicii de fiabilitate se face pe baza datelor privitoare la căderi
(defecţiuni), constatate pe o anumită populaţie statistică.

Figura A-1.2. R=const.

Figura A-1.3. R în scădere

Definiţie: Populaţia statistică - un lot de produse identice, fabricate în

condiţii identice şi exploatate sau încercate în aceleaşi condiţii.

OBS. 1. Cu cât populaţia statistică şi volumul de observări este mai mare,

cu atât veridicitatea informaţiilor obţinute este mai mare.
2. Produsele supuse determinării statistice trebuie să fi fost
fabricate cu aceeaşi tehnologie şi tehnologia să fie stabilă.
3. Datele de fiabilitate obţinute pe baza aplicării metodelor
statistice, atunci când se referă la o singură bucată (ex. prototip) sau la 2-3
bucăţi, ori la produse a căror tehnologia nu a fost stabilizată, au numai
valoare informativă pentru producător.
4 Fiabilitate şi Diagnoză

3. Indicatori de fiabilitate

Definiţie: Indicatorii de fiabilitate - mărimi care exprimă, sub o formă sau

alta, calitativ şi cantitativ, fiabilitatea unui sistem. Aceştia sunt:
1). - probabilitatea de bună funcţionare - R(t);
2). - probabilitatea de defectare - F(t);
3). - funcţia de frecvenţă sau intensitatea distribuţiei f(t);
4). - rata (intensitatea) căderilor - z(t), (λ(t)).
În plus se mai folosesc:
5). - timpul mediu de bună funcţionare - MTBF (mean time
between failures - timpul mediu între două defecţiuni); MTTF (Mean Time
To Failure)
6). - dispersia distribuţiei.

1). Probabilitatea de bună funcţionare R(t): (1.1)

Fie o populaţie statistică alcătuită din N0 produse identice, urmărite

de-a lungul duratei ti, când s-au defectat n produse, rămânând deci N
produse în stare de funcţionare. (N=N0-n) În acest caz,
N0 − n N
R (ti ) = = (1.3.)
N0 N0
caracteristica este determinată experimental
2. Probabilitatea de defectare F(t)= Prob(t<T) (1.4)
- este complementară R(t)
⇒ R(t)+F(t)=1 (1.5)

Figura A-1.3. Relaţia dintre R(t) şi F(t)

n
Experimental: Fˆ (ti ) = 1 − Rˆ (ti ) = (1.6)
N0

3. Funcţia de frecvenţă sau intensitatea distribuţiei

f(t)= frecvenţa relativă a căderilor ∆ni în intervalul ∆ti, adică
 Fiabilitate 5

∆ni
∆ni=N(t)-N(t+∆t), deci fˆ (ti ) = (1.7)
∆ti • N 0
Dacă ∆ni este expresia frecvenţei absolute fi, produsul ∆ti*N0=T
este numărul total de ore de încercare în intervalul de timp considerat a.î.:
f
f (t ) = . (Figura A-1.4)
T

Figura A-.1.4. Variaţii posibile ale f(x)

Între indicatorii R(t), F(t), f(t) există următoarea relaţie:

t

F (t ) = ∫ f (t )dt (1.8)
0
t ∞
R(t ) = 1 − ∫ f (t )dt = ∫ f (t )dt (1.9)
0 t

4. Rata (intensitatea) căderilor

f (t )
z(t) = (1.10)
R(t )
Experimental, z(ti) pt. ∆ti în funcţie de frecvenţa absolută ∆ni a
căderilor, este:
∆ni
z (ti ) = (1.11)
∆ti ⋅ N
 1 −1 
 dim ensional ⇒ ora = h 
În foarte multe cazuri în practică, forma grafică a funcţiei z(t) este
ca în figura A-1.5 (cadă de baie).
6 Fiabilitate şi Diagnoză

z(t)
Rodaj Îmbătrânire

I II III

Viaţa utilă

z(t) = const. = λ

t
Figura A-1.5. Forma grafică a lui z(t)

unde: - zona I - căderile precoce = perioada de rodaj

- zona II - căderi normale = funcţionare normală (z(t)=const).
- zona III - se manifestă uzura sau îmbătrânirea
OBS. t∈[0,t2] - durata de viaţă utilă a produsului
t

∫
− z ( t ) dt
Se poate exprima legătura R(t), z(t) prin relaţia R (t ) = e 0
(1.12) dedusă din relaţiile (1.9, 1.10) ca o soluţie a unei ecuaţii diferenţiale.
OBS. Dacă se cunoaşte unul din cei 4 indicatori, ceilalţi 3 se pot deduce.

5. MTBF=m - media duratelor de bună funcţionare.

Presupunem N0 produse. Fiecare produs are durata de funcţionare tF
(Figura A-1.6).

Figura A-1.6. Durata de funcţionare

Media aritmetică a acestora este :

N0

∑t
i =1
fi

MTBF = (1.13)
N0
Dacă se împarte axa timpului în intervale de timp egale cu ∆t, iar
în intervalul ∆t=(ti-1,ti) cad ki produse, i = 1, c , atunci:
 Fiabilitate 7

c n

∑t ki =1
i i ∑t k
i =1
i i
T
m = MTBF = c = = (1.14)
N0 N0
∑k
i =1
i

c
unde: T = ∑ t i k i (1.15)
i =1
D.p.v. dimensional MTBF se exprimă în ore. În general, admiţând
∞ ∞

că f(t) este continuă, m = MTBF = ∫ tf (t )dt = ∫ R (t )dt (1.16)

0 0

6. Dispersia distribuţiei
Definiţie: Dispersia σ2 sau D - indicatorul care exprimă (în ore2) abaterea
valorilor timpilor de bună funcţionare faţă de media aritmetică a acestora:
∞

σ = ∫ (t − m) 2 f (t )dt = D
2
(1.17)
0

Definiţie: Abaterea medie pătratică σ[ore]= gradul de împrăştiere a

timpilor de bună funcţionare, calculându-se prin încercări statistice:
1 N0
σ= ∑ (t − m) = D
N 0 − 1 i =1 i
(1.18)

OBS. În practică, fiabilitatea unui produs se exprimă prin indicatorii z(t i )

sau m = MTBF , mai rar prin R (t i ).
Am văzut că expresia generală pentru timpul mediu de bună
funcţionare MTBF (pentru sisteme reparabile), respectiv MTTF (Mean
∞
Time To Failure) - pentru sisteme nereparabile este: m = ∫ tf (t )dt (1.21).
0

dF (t ) dR(t )
Dar din (1.8) (1.9)⇒ f (t ) = =− (1.22)
dt dt
∞
dR (t )
⇒ m = −∫ t dt (1.21’) şi prin integrare prin părţi:
0
dt
∞

m = − [tR (t )] ∞ + ∫ R (t )dt
0
(1.21’’).
0
Pentru t=0 avem R(t)=1 şi tR(t)=0. Când t creşte, R(t) scade; se
poate găsi atunci o valoare k care să satisfacă inegalitatea R (t ) < e − kt
(1.23).
Deoarece lim te − t = 0 (1.24)
t →∞

urmează că : lim tR (t ) = 0 (1.24’).

t →∞
∞

Se obţine o expresie pentru m: m = ∫ R (t )dt (1.25)

0
8 Fiabilitate şi Diagnoză

∞
1
Dacă z(t) este constantă atunci : m = ∫ e − zt dt = (1.25’).
0
z
OBS. Expresiile (1.12), (1.25) sunt valabile în general pentru orice variaţie
în timp a lui z(t).
Dacă z(t)=const. (în electronică de exemplu),
R (t ) = e − zt (1.12’)
şi f(t)=te-zt (1.19).
Se poate dovedi că pentru intervalul (t, t+∆t), fiabilitatea este:
t + ∆t
−z ∫ dt
R (∆t ) = e t = e − z⋅∆t (1.20)
OBS. Momentul de funcţionare (vârsta ) t din expresia 1.25’ nu este
important, ci doar intervalul de timp ∆t, măsurat de la momentul de
referinţă în care dispozitivul funcţiona încă. Dacă ∆t reprezintă durata unui
experiment, atunci pentru acel experiment componentele au aceeaşi
fiabilitate la diferite vârste.
Presupunerea că z(t)=const. este o valabilă doar pentru un interval
de timp limitat, în afara acestui interval, z(t) depinde de timp, mai ales de
timpul de bună funcţionare. De aceea, dacă MTBF este mai mare decât
timpul de funcţionare pentru care z(t) a fost presupus constant, atunci
MTBF poate fi considerat o mărime de calcul, şi anume inversul ratei de
defectare, z(t).
Din contră, dacă timpul de funcţionare este mai mare decât MTBF,
din testul de fiabilitate a unui lot de componente se poate afla dacă o
componentă supravieţuieşte valorii MTBF, exprimată în ore. Această
probabilitate de supravieţuire a lotului peste valoarea MTBF este de
aproximativ 37%. (Fig.A-1.7).

Fig. A-1.7 Probabilitatea de suparavieţuire peste MTBF

MTBF
−
unde: R ( MTBF ) = e MTBF = e −1 ≈ 0,37 (1.26)
Aceasta înseamnă că, după expirarea unui timp de probă
t=MTBF(ore) mai rămân în stare de funcţionare 37% din unităţile cu care
s-a început testul. Acest fenomen care limitează viaţa unei componente
este de fapt uzura (zona III din figura 1.5).
 Fiabilitate 9

4. Modele matematice
Timpii la care se manifestă defecţiunile unui lot de produse identice se
repartizează potrivit unei legi de distribuţie statistice. Legea se pune în
evidenţă prin intermediul funcţiei f(t).

4.1. Legea de distribuţie normală (Gauss)

( t − m) 2
1 −
f (t ) = e 2σ 2
(2.1)
T 2π

Fig.A-1.8. f(t) pt. distribuţia normală

Fig.A-1.9. z(t) pentru distribuţia normală

OBS. Se manifestă în special la sfârşitul duratei de viaţă (zona III fig.

A.1.5).
m− t
Avem: R (t ) = φ ( ), (2.2)
σ
unde φ (u) - funcţia lui Laplace.

4.2. Legea de distribuţie exponenţială

f(t)=te-zt z=const. (2.3’)

⇒ z(t)=z=const (2.4)
R(t)=e-zt (2.5)
1
MTBF=1/z şi σ 2 = (2.6)
z2
10 Fiabilitate şi Diagnoză

- este utilă pentru zona II (fig. 1.5), deci în zona de funcţionare normală,
prin urmare este utilă şi pentru prognoză (fiabilitate previzională)
- descrie scăderea numărului supravieţuitorilor din defectări aleatoare
- este cea mai utilizată (datorită simplicităţii)

Z(t)=cst
R(z)
f(z)
t
Fig.A-1.10 Legea exponenţială

4.3. Legea de distribuţie Weibull

- cea mai generală
- se aplică când nu se pot aplica legea normală şi legea exponenţială
β
( t −γ )
β β −1 −
f (t ) = (t − γ ) ⋅ e α (2.7a)
α
t −γ
β t − γ β −1 − ( η ) β
sau f (t ) = ( ) ⋅e (2.7b)
η η
unde - β , α , η - parametrii distribuţiei
- β - parametru de formă (reflectă nivelul procesului de degradare
a produsului în timp)
- α - parametru de scară
- η - viaţa caracteristică a produsului
- γ - parametru de loc (exprimă durata minimă, până la care nu se
manifestă nici un defect)
Legea este utilă pentru:
- fenomene chimice
- anduranţa organelor mecanice, electromecanice
- oboseala metalelor
- încercări pe standuri
 Fiabilitate 11

Fig.A.1.11. Caracteristicile pentru legea Weibull

t −γ
−( )
η
R (t ) = e
Avem: β t − γ β −1 (2.7c)
z (t ) = ( )
η γ
1
MTBF = γ + nΓ ( + 1)
β
 1 1 
D = η 2 Γ ( + 1) − Γ 2 ( + 1)
 β β 
∞

unde: Γ(t ) = ∫ t t −1 e − t dt funcţie de gamma.

0

4.4. Alte legi de distributie

Nume f (t ) Media (m) Dispersia (D)

β (β t ) α −1 − β t
e α α
Gamma
Γ (α ) β β2
1  ln t − µ 
2

Lognormalǎ
1
2π σ t
e
− 
2 σ 


e
µ+
σ2
2
2
(
e 2 µ +σ eσ − 1
2
)
12 Fiabilitate şi Diagnoză

t −µ
 
t −µ −µ

/ η e − e 
η η
A valorii η −e
e e
extreme  
(Gumbel)  

−
t2
3   3 
Rayleigh 2
te ω2 ω Γ  ω 2 1 −Γ 2  
ω 2
2   
2
  3 
 3  Γ2  k +  
2θ k +1
Γ k + 
k + 1 − 2
2 1
Rayleigh
t 2 k +1e−θ t 
2

 2 1
generalizat Γ( k + 1)  Γ (k + 1) θ
Γ(k + 1) θ  
 
1 β
β
2

β

−  −α  1  β2 8 
Alfa e 2 t  1 + 2  4 
1+ 2 
t 2 2π α α  α  α 
−δ δ −1 δb δ b2
Putere δb t t ∈ ( 0, b)
δ +1 (δ + 2)(δ + 1) 2
1
.
2 2πα t
 t β  α2   5α 2 
Birnbaum-
 + . β 1 +  (αβ ) 2 1 + 
Saunders
 β t   2   4 
1 t β 
−  + − 2
2α 2  β t 
e

Exemple:
Ex.1. Un anumit număr de casetofoane au funcţionat 20000 ore. În acest
timp s-au efectuat 8 reparaţii. Dacă z(t)=const., atunci
MTBF=20000/8=2500 ore, iar rata de defectare z=8/20000=0,0004
defectări/oră de funcţionare.
Ex.2. În cazul unui eşantion testat, rata de defectare va prezenta o valoare
probabilă evaluată din datele asupra eşantioanelor; z(t) este calculată prin
raportul:
nr _ de_ defecte
z=
timpul _ total _ de_ functionare
Se ia un eşantion de 10 unităţi şi se presupune că după 250 ore de
funcţionare au căzut 2, iar celelalte au supravieţuit fără defectări, unui test
de 2000 de ore. Rezultă:
2 2
z= = = 0,0001212 defectare/oră=12,12%
2 ⋅ 250 + 8 ⋅ 2000 16500
defectări/1000 ore

Ex.3. Se ia un eşantion de 15 tranzistoare pentru testare cu 3 parametri:

ICBO (curent rezidual colector-bază (cu IE=0 şi UCB menţinut constant));
hOB (admitanţa de ieşire pentru semnal mic, intrare scurtcircuitată, bază
comună); hfB (amplificatoare de semnal mic, ieşire scurtcircuitată, bază
comună).
Valorile limită a celor 3 parametri testaţi sunt:
 Fiabilitate 13

Limita maximă pentru testul de fiabilitate

Înainte După
1 ICBO[µA] 1,2 5,0
2 hOB[µΩ-1] 1,0 2,0
3 1+hfB 0,05 0,065

Nr. Componentă Parametru Înainte de test După test

1 1 1,15 5,0
2 0,8 2,2
3 0,04 0,06
3 1 0,9 5,2
2 0,5 1,2
3 0,04 0,07
12 1 1,1 4,8
2 1,2 1,8
3 0,035 0,068
2,4-11,13-15 1,2,3 OK OK

Reguli:
1. Dacă la sfârşitul testului de fiabilitate o unitate a depăşit valoarea limită
maximă prescrisă, unitatea trebuie considerată ca defectă;
2. Unităţile care ies din limitele prescrise înainte de testul de fiabilitate, nu
vor fi luare în calcul;
3. Dacă pentru o unitate au fost afectaţi mai mulţi parametri, se consideră
că s-a produs un singur defect;
4. Dacă la controalele intermediare anumite unităţi sunt identificate ca
defecte, vor fi şi ele luate în calcul la sfârşit, chiar dacă mai târziu ele
nu mai depăşesc valorile limită prescrise;
5. La calculul orelor de funcţionare se consideră că respectivul element s-
a defectat imediat după ultima măsurare.
În cele ce urmează vom presupune că unităţile 1 şi 3 s-au defectat
după 200 de ore.
După un test de 1000 de ore vom avea:
2 2
z= = = 16,12 ⋅ 10 − 5 defecte /oră=16,12%/1000
2 ⋅ 200 + 12 ⋅ 1000 12400
ore
OBS. Unitatea 12 se elimină.

Ex.4. Un test de fiabilitate cu 100 elemente dă după 5000 ore următorul

rezultat: după 2000 ore are o defectare, după 4000 ore 2 defectări. Avem:
3
z= = 6,06 ⋅ 10 − 6 defectãri / ora
1 ⋅ 2000 + 2 ⋅ 4000 + 97 ⋅ 5000
MTFB=1/z=0,165*106ore=19 ani

Ex.5. Un lot de 15 unităţi este testat până la defectare; intervalele de timp

până la cădere sunt: 410, 500, 280, 550, 600, 1000, 700, 530, 615, 690,
580, 290, 350, 450, 720 ore.
8265
Timpul total de testare=∑15 𝑖𝑖=1 𝑡𝑡𝑡𝑡 = 8265 𝑜𝑜𝑟𝑟𝑟𝑟 → 𝑀𝑀𝑇𝑇𝑇𝑇𝑇𝑇 = 15 =
551 𝑜𝑜𝑟𝑟𝑟𝑟.
14 Fiabilitate şi Diagnoză

Ex.6. Z pentru o componentă electronică este 0,1 pentru 1000 ore. Ce

probabilitate de supravieţuire R(t) se poate calcula pentru t=150 ore,
respectiv t=900 ore?

Z=0,1/1000=0,0001
Din relaţia 1.12’ (R(t)=e-zt) avem R(150)=e-0,0001*150=0,985119
R(900)=e-0,0001*900=0,9139312
Se observă că R(900)<R(150).