Sunteți pe pagina 1din 4

LUCRAREA 1

ANALIZA SEMIFABRICATULUI SUPUS PRELUCRĂRII

1) Scopul lucrării constă în stabilirea drumului de urmat pentru a realiza analiza semifabricatului supus prelucrării. Acest drum constă în:

analiza desenului piesei; analiza procesului tehnologic de fabricare a piesei; analiza în detaliu a operaţiei pentru care se va proiecta dispozitivul de orientare şi fixare a semifabricatului; înţelegerea formelor semifabricatului la operaţia de prelucrare; recunoaşterea volumelor elementare din care este format semifabricatul, prin realizarea piesei în 3d; cunoaşterea regulilor de întocmire a schiţei operaţiei şi realizarea acesteia prin trecerea de la 3d la 2d;

cunoaşterea

noţiunilor

despre

elemente

reale

şi

fictive

ale

semifabricatului; cunoaşterea noţiunilor despre suprafeţe de generare, cotare, orientare, etc.; cunoaşterea regulilor de determinare a elementelor semifabricatului necesare proiectării dispozitivului.

2) Bazele teoretice ale lucrării

Încă de la început trebuie răspuns la o întrebare . De ce este necesar a se analiza “semifabricatul supus prelucrării” ? Răspunsul este următorul : pentru că astfel se determină elementele necesare (pentru două situaţii distincte):

1-

procesului de obţinere a unei scheme de orientare şi fixare

optime (SOFO) nouă; 2- procesului de analiză a unei scheme de orientare şi fixare existentă.

- 1 -

Piesele sunt formate din o mulţime de corpuri geometrice elementare {CGE}, poziţionate şi intersectate între ele după reguli stabilite de proiectantul piesei. În urma acestei acţiuni rezultă o anumită formă finală a piesei. O analiză a unei piese, din punct de vedere al necesităţilor unui proces de orientare, arată că aceasta este delimitată (de mediul înconjurător) prin elemente reale de tipul: suprafeţe, muchii, vârfuri. Poziţia relativă între aceste elemente reale trebuie să fie complet determinată de cotele existente între elemente geometrice caracteristice ale acestor suprafeţe. Aceste elemente geometrice caracteristice ale acestor suprafeţe sunt numite baze (fiind elemente fictive ale PSf, care pot fi numai de tipul Γ, Δ, Ρ - plane, drepte sau puncte). Mulţimea elementelor reale şi fictive le vom denumi în mod unitar “mulţimea elementelor arhitecturale”-{EA}. Cele descrise sunt prezentate în figura 1.

PSf

este

formată

{CGE}

caracterizate

prin

fig.1

{EA}

Reale

Fictive

Baze

(S,M,V)

(Γ,Δ,Ρ)

Analiza pentru determinarea elementelor arhitecturale ale PSf are la bază notaţiile din tabelul 1, în care semnificaţia acestora este :

{EA} - elemente arhitecturale; {EAG} - EA de generare (care se vor executa în operaţia analizată şi de la care pleacă cotele ce stabilesc poziţia relativă a acestora faţă de EAC); {EAC} - EA de cotare (la care ajung cotele care vin de la EAG); {EAO} - EA de orientare (care vor asigura orientarea PSf în dispozitiv); {EAF} - EA de fixare (pe care se va realiza fixarea PSf în dispozitiv); {EAL} - EA de legătură (restul de elemente arhitecturale care au mai rămas pe PSf şi care completează arhitectura acesteia).

L1/TCM/2017-2018

Notaţiile folosite arată că elemente arhitecturale sunt de mai multe categorii în funcţie de rolul lor în procesul de orientare, fixare şi prelucrare. Analiza începe totdeauna cu {EAG} deoarece sunt singurele cunoscute din procesul tehnologic. Pornind de la acestea se determină toate celelalte.

{EA}

{EAG}

{EAC}

{EAO}

{EAF}

{EAL}

Reale

Baze

Reale

Baze

Reale

Baze

Reale

Baze

Reale

Baze

{S G }

{

Γ G }

{S C }

{

Γ C }

{S O }

{

Γ O }

{M G }

{

Δ G }

{M C }

{

Δ C }

{M O }

{

Δ O }

{V G }

{P G }

{V C }

{P C }

{V O }

{P O }

Tabel 1

Legătura care există între real şi baze (fictiv) este prezentată în

- 2 -

Tip

EA – Reale

Caracteristici

P(plan)

P1 // P2(două plane paralele)

S

(suprafaţă)

P1 I

P2

(două plane

intersectate)

C

(CEL,CIL – cilindrică

lungă)

KEL,KIL (conică

Sf (sferică)

D (dreaptă sau PRU

M

(muchie)

V

(vârf)

C (cilindrică)

PRB (suprafaţă Plană

Baze proprii

Γ

P

Γ1 // Γ2

Γ1

P1

Γ2 P2

Γ1 I Γ2

Γ1

Γ2

P1

P2

P

P

Δ

Δ

(axa)

(axa)

(vârful)

(centrul

sferei)

Δ (dreapta)

P

(centrul

cercului)

P

(punct)

Baze

Tabel 2

Baze de grup

Γ12

(plan median)

Γ12 (plan

bisector)

Δ12

(intersecţia

celor două

plane)

Analiza fie pentru situaţia 1, fie pentru 2 se realizează conform

L1/TCM/2017-2018

tabelul 2.

exterioară sau interioară

exterioară sau interioară lungă)

figurii 2.

suprafaţă Plană Redusă Unidimensional)

Redusă Bidimensional)

fig.2

3) Aplicaţie (pentru situaţia 2 – când schema de orientare şi

- 3 -

1-

2-

realizarea schemei de orientare – vezi ANEXA 1.1şi 1.2; realizarea analizei conform figurii 3, urmărind paşii :

p1- urmează calea către mulţimea {EAG}; p2- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a mulţimii {EAG}; p3- înregistrarea, pe rând, a elementelor componente, reale, care aparţin {EAG}, adică a suprafeţelor (reale) de generat, cu adresele lor din schema de orientare (S-Gi):

S-G11, S-G12;

ΔG-11, ΔG-12;

p6- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a cotelor care

90 0 , 100, 20;

Γ-C-XOZ, Γ-C-YOZ, Γ-C1;

p8- trecerea de la bazele de cotare (fictive) la suprafeţele de cotare

p9-

înregistrarea, pe rând, a suprafeţelor de cotare (reale)

corespunzătoare fiecărei baze de cotare:

S-C4 + S-C6, S-C3 + S-C5, S-C1

p10- urmează calea către mulţimea {EAO};

S-O4, S-O3, S-O2;

L1/TCM/2017-2018

p4- trecerea de la (S-Gi), la bazele (fictive), pentru fiecare (S-Gi), conform tabelului 2.2; p5- înregistrarea, pe rând, a bazelor de generare ( fictive) corespunzătoare fiecărei (S-Gi):

determină poziţia fiecărei baze de generare faţă de alte baze, numite baze de cotare. Înregistrarea acestor cote:

p7- înregistrarea, pe rând, a bazelor de cotare ( fictive) corespunzătoare fiecărei baze de generare:

(reale), pentru fiecare bază de cotare în parte, conform tabelului 2.2;

fixare este determinată)

p11- căutarea şi regăsirea pe schema de orientare a mulţimii {EAO}; p12- înregistrarea, pe rând, a elementelor componente, reale, care aparţin {EAO}, adică a suprafeţelor (reale) de orientare, cu adresele lor din schema de orientare (S-Oi):

p13- trecerea de la (S-Oi), la bazele (fictive), pentru fiecare (S-Oi), conform tabelului 2.2;

p14- înregistrarea, pe rând, a bazelor de orientare( fictive) corespunzătoare fiecărei suprafeţe de orientare :

P-O4, Γ-O3, Γ-O2;

4) Testare conform anexelor 1.1 – 1.10

Nume

STUDENT

Grupa

Nr.ANEXEI

şi

Adresele

SIMBOLURILOR

Semnătura

- 4 -

** Observaţii şi comentarii asupra lucrării

L1/TCM/2017-2018

Se realizează schema de orientare şi analiza schemei de orientare indicate de cadrul didactic, conform modelului din anexele 1.1 şi 1.2, considerând că operaţia este ultima în cadrul procesului tehnologic.

CADRU DIDACTIC