Sesión #4 Herramientas para La Mejora de Procesos PDF

Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
Universidad Nacional de Ingeniería
CURSO DE ESPECIALIZACION GESTIÓN POR

PROCESOS Y MEJORA CONTINUA
SESIÓN IV: ANÁLISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS
MBA. CARLOS L. GRAJEDA R.

Agenda
• Definición de capacidad de procesos

• Tipos de índices de capacidad
• Índices de capacidad de corto plazo
• Índices de capacidad de largo plazo
• Índices de capacidad para atributos
Capacidad del Proceso Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
Consiste en conocer la amplitud de la variación natural del

proceso para una característica de calidad dada, ya que esto
permite saber en que medida tal característica de calidad es
satisfactoria (cumple especificaciones).
Índices de capacidad de proceso Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
Índices para procesos con Cp, Cr, Cpk, K y

doble especificación Cpm
Índices para procesos con

una especificación Cpi y Cps
Índices de largo plazo Pp y Ppk
Métricas Seis Sigma Z, Zl, Zc PPM y

DPMO
Índice Cp
Indicador de la capacidad potencial del proceso que resulta de

dividir el ancho de las especificaciones (variación tolerada)
entre la amplitud de la variación natural del procesos.
Variación tolerada ES  EI
Cp  Cp 
Variación real 6
Nota: debido a la propiedad de distribución normal, en donde se afirma que entre μ ± 3σ se

encuentra el 99.37 % de los valores de una variable.
Valores del Cp y su interpretación
Valores del Clase o Categoría del Decisión (si el procesos está centrado)
Índice Cp Proceso
Cp ≥ 2 Clase Mundial Se tiene calidad Seis Sigma
Cp > 1.33 1 Adecuado
1 < Cp < 1.33 2 Parcialmente adecuado, requiere de un
control estricto.
No adecuado para el trabajo. Es necesario un
0.67 < Cp < 1 3 análisis del proceso. Requiere de
modificaciones serias para alcanzar una
calidad satisfactoria.
Cp < 0.67 4 No adecuado para el trabajo. Requiere de
modificaciones muy serias.
Nota: Cp no es igual al porcentaje de piezas que cumplen con las especificación.

Ejemplo
Una característica de calidad importante en la fabricación de

una llanta es la longitud de capa, que para cierto tipo de llanta
debe de ser de 780 mm con una tolerancia de ± 10 mm.
Siendo la EI = 770 y la ES = 790, con un valor nominal de N =
780.
Resultado de la medición de muestras se tiene µ = 783 y δ = 3

Caculo del Cp Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
ES  EI
Cp 
6
Cp = (790 – 770)/ 6(3) = 1.11
El proceso tiene una capacidad potencialmente parcialmente

adecuada y requiere de un control estadístico.
Índice Cr Universidad Nacional de Ingeniería
La capacidad potencial del procesos que divide la amplitud de la variación

natural entre la variación tolerada. Representa la proporción de banda de
especificaciones que esta cubierta por el proceso.
6
Cr 
ES  EI
También conocido como la razón de capacidad potencial

Calculo del Cr Universidad Nacional de Ingeniería
6
Cr 
ES  EI
Cr = 6(3) / (790 – 770) = 0.90
Es un valor parcialmente adecuado, pues indica que la variación

del proceso potencialmente cubre el 90% de la banda de
especificaciones.
Pero este indicador no el hecho de lo centrado del proceso.

Índice Cpi Universidad Nacional de Ingeniería
La capacidad de un proceso para cumplir con la especificación

inferior de una característica de calidad.
  EI
C pi 
3
Calculo del Cpi Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
  EI
C pi 
3
Cpi = (783 – 770) / 3(3) = 1.44
Para considerar al proceso adecuado, el valor de Cpi o Cps debe

de ser mayor que 1.25 (teoría)
Para este caso el proceso cumple de manera adecuada la

especificación.
Índice Cps Universidad Nacional de Ingeniería
La capacidad de un proceso para cumplir con la especificación

superior de una característica de calidad.
ES  
C ps 
3
Calculo del Cps Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
ES  
C ps 
3
Cpi = (790 – 783) / 3(3) = 0.78
Para considerar al proceso adecuado, el valor de Cpi o Cps debe

de ser mayor que 1.25 (teoría)
Para este caso el proceso no cumple de manera adecuada la

especificación.
Índice Cpk Universidad Nacional de Ingeniería
Indicador de la capacidad real de un procesos que se puede ver como un

ajuste del índice Cp para tomar en cuenta el centrado del proceso.
El índice Cpk es igual al valor mas pequeño de entre los índices Cpi y Cps
   EI ES   
Cpk  Minimo  ,
 3 3 
Calculo del índice Cpk Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
   EI ES   
Cpk  Minimo  ,
 3 3 
Cpk =mínimo (783 - 770) / 3(3) ; (790 – 783) / 3(3)

1.444 ; 0.777
El índice Cpk es igual al valor mas pequeño de entre Cpi y Cps, es

decir, es igual al índice unilateral mas pequeño.
Si Cpk es mayor a 1.25 (teoría), el proceso es capaz.
Capacidad no satisfactoria.
Cp= 1, Cpk = 0
Índice Cpk
El índice Cpk nos indica que tan centrado se encuentra el proceso en relación al nivel
objetivo.
• Cp no cambia cuando cambia el centro del proceso
• Cp = Cpk cuando el proceso esta centrado.
• Cpk siempre es menor o igual a Cp
• Cpk = 1 es un estándar que indica cumplimientos de especificaciones
• Cpk < 1 indica no cumplimiento de especificaciones
• Cp < 1 indica que nos encontramos ante un proceso no capaz

Índice Cpk
• Cpk=0 indica que el promedio es igual a uno de los límites de

especificación
• Cpk<0 indica que el promedio está fuera de las especificaciones.
• Cuando el índice Cpk es mayor a 1.25 es un proceso ya existente, se

considera que se tiene un proceso con capacidad satisfactoria.
• Para procesos nuevos se pide Cpk mayores a 1.45.

Índice K Universidad Nacional de Ingeniería
Que tan cerrada esta la distribución de un proceso con respecto a

las especificaciones de una característica de calidad dada.
N
K *100
1
( ES  EI )
2
Interpretación del índice K
• Si K tiene signo positivo, significa que la media del proceso

es mayor al valor nominal y será negativo cuando µ < N.
• Valores de K menores a 20% en términos absolutos se

considera aceptables, pero a medida que el valor absoluto
es mas grande, indica procesos descentrados.
• El valor nominal, N, es la calidad objetivo y optima;

cualquier desviación con respecto a este valor lleva un
detrimento en la calidad.
Calculo del índice K Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
N
K *100
1
( ES  EI )
2
K = ((783 – 780) / 0.5 (790 – 770)) * 100
K = 30%
La media del proceso esta desviada en 30% a la derecha del valor

nominal, por lo que lo centrado del proceso es inadecuado, lo
que contribuye a la baja capacidad.
Índice Cpm (Índice de Taguchi) Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
(Índice de Taguchi) similar al Cpk, que en forma simultanea,

toma en cuenta el centrado y la varianza del proceso.
El objetivo es reducir la variabilidad alrededor del valor nominal

(calidad optima).
El valor N por lo general es igual al punto medio de las
especificaciones.
Si el proceso esta centrado, es decir, µ = N, entonces Cp, Cpk y
Cpm son iguales
ES  EI
C pm  t    (  N )
2 2
6t
Índice Cpm Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
ES  EI
C pm  t    (  N )
2 2
6t
Cpm = (790 – 770) / 25.46 = 0.79
Entonces Cpm = 0.79, Cp = 1.11 y Cpk = 0.78

Interpretación Cpm
Cuando el Cpm es menor a uno significa que el proceso no cumple con

especificaciones, ya sea por problemas de centrado o por exceso de
variabilidad.
Interpretación Cpm
Cuando el Cpm es mayor que uno, eso quiere decir que el proceso cumple
con especificaciones, y en particular que la media del proceso esta dentro de
la tercera parte central de la banda de especificaciones.
1 tercio 2 tercio 3 tercio
EI µ ES
Interpretación Cpm
Si el Cpm es mayor que 1.33, entonces el proceso cumple especificaciones,

pero además la media del proceso esta dentro de la quinta parte central del
rango de especificaciones.
1 quinto 2 quinto 3 quinto 4 quinto 5 quinto
EI µ ES
Capacidad y Control
Si un proceso no es capaz ni esta bajo control, primero se debe de crear un

estado de control eliminando las causas especiales de la variación y luego
actuar sobre las causas comunes para mejorar su capacidad.
Los cálculos de capacidad de procesos tienen poco sentido si éste no se

encuentra bajo control estadístico, por que los datos se confunden con las
causas especiales que no representan la capacidad del proceso.
Capacidad vs. Control Universidad Nacional de Ingeniería
Control
Capaz En Control Fuera de Control
Capaz
No Capaz
Proceso controlado vs. capaz Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
Fuente: Itoshi Kume

Proceso inestable e incapaz
Proceso que no cumple con especificaciones y en el que las causas

especiales de variación aparecen con frecuencia. Produce mala calidad
y, además, su desempeño es difícil de pronosticar.
Un proceso muy inestable se caracteriza por estar pobremente
estandarizado, en donde es posible que haya cambios continuos o
mucha variación atribuible a materiales, métodos, mediciones,
diferencias en las condiciones de operación de la maquinaria y
desajustes, distintos criterios y capacitación de operarios, etcétera.
Proceso estable pero incapaz
Proceso catalogado como estable, pero con baja capacidad de cumplir

especificaciones. Proceso establemente malo.
Se está ante un proceso establemente malo que genera piezas fuera de
especificaciones o piezas que no cumplen con ciertos atributos de calidad.
La estrategia de mejora está orientada a mejorar la capacidad del proceso:
• Revisar y mejorar la aplicación de las cartas de control
• Investigar las causas de la baja capacidad mediante un proyecto de
mejora
• Volver a evaluar el estado del proceso
Proceso capaz pero inestable
Proceso que funciona en presencia de causas especiales de

variación, pero éstas son tales que el proceso es capaz de
cumplir con especificaciones.
Es necesario aplicar las mismas actividades sugeridas para el
proceso inestable e incapaz.
Proceso estable y capaz
Proceso que cumple con especificaciones y predecible en el futuro

inmediato.
Las actividades deben estar enfocadas en mantener el estado del proceso
y explorar alternativas para mejorar.
• Revisar y mejorar, la aplicación de las cartas de control. evaluar la
conveniencia de cartas de control más económicos (reducir la frecuencia
o el tamaño de muestreo, etcétera.)
• Explorar alternativas para mejorar la confiabilidad e incrementar la
productividad y/u operatividad del proceso. AMEF
Corto plazo y largo plazo
12.0 15.7 16.8 10.9

Las capacidades de corto plazo se 23.4 21.8 20.7 21.2
19.5 17.1 20.9 18.7
calculan a partir de muchos datos 16.9 13.6 12.9 17.6
16.3 18.0 21.4 15.9
tomados durante un periodo 18.5 21.2 19.0 22.2
23.6 28.5 26.9 24.5
suficientemente corto para que no 22.0 18.9 19.4 17.6
24.3 21.8 22.9 27.6
haya influencias externas sobre el 22.3 25.9 18.7 16.9
23.5 22.6 30.7 25.5
proceso. Por ejemplo, que no haya 16.8 11.8 14.7 17.0
16.6 19.6 23.6 17.8
importantes cambios de temperatura, 22.0 15.5 12.0 20.0
22.9 21.8 19.5 22.9
turnos, operadores, lotes de materia 19.6 15.5 17.3 18.7
17.1 18.6 18.5 15.7
prima etc. 23.8 28.2 22.4 24.6
24.7 27.2 20.2 23.6
18.5 24.4 19.5 23.9
Corto plazo y largo plazo
Las capacidades de largo plazo se 12.0 15.7 16.8 10.9

23.4 21.8 20.7 21.2
calculan con muchos datos tomados 19.5 17.1 20.9 18.7
16.9 13.6 12.9 17.6
de un periodo de tiempo 16.3 18.0 21.4 15.9
18.5 21.2 19.0 22.2
suficientemente largo como para que 23.6 28.5 26.9 24.5
22.0 18.9 19.4 17.6
los factores externos influyan en el 24.3 21.8 22.9 27.6
22.3 25.9 18.7 16.9
23.5 22.6 30.7 25.5
desempeño del proceso.
16.8 11.8 14.7 17.0
16.6 19.6 23.6 17.8
22.0 15.5 12.0 20.0
22.9 21.8 19.5 22.9
19.6 15.5 17.3 18.7
17.1 18.6 18.5 15.7
23.8 28.2 22.4 24.6
24.7 27.2 20.2 23.6
18.5 24.4 19.5 23.9
Indice Pp Universidad Nacional de Ingeniería
Desempeño potencial del procesos, que calcula en forma similar al Cp

pero usando la desviación estándar de largo plazo.
Las capacidades de largo plazo se calculan tomando muchos datos de
un periodo de tiempo suficientemente largo como para que los
factores externos influyan en el proceso.
ES  EI
Pp 
6 L
Indice Ppk Universidad Nacional de Ingeniería
Desempeño potencial del procesos, que calcula en forma similar al

Cpk pero usando la desviación estándar de largo plazo.
   EI ES   
Ppk  min  , 
 3 L 3 L 
Ejemplo
• δL = 4.16 , EI = 10 , ES = 40, N = 25 y µ = 20.16
Pp = 1.2
Ppk = 0.81
K = - 0.32 = 32 %
Índice Z Universidad Nacional de Ingeniería
Es la métrica de capacidad de procesos de mayor uso en Seis Sigma. Se

obtiene calculando la distancia entre la media y las especificaciones, y esta
distancia se divide entre la desviación estándar.
ES     EI
Zs  Zi 
 
Z  mínimo Zs , Zi 
Calidad de Corto plazo y Largo Plazo en términos de Cp, Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
Zc, ZL y PPM
Calidad del Procesos en Corto Plazo Calidad del Proceso en Largo Plazo
Cp Zc % dentro de PPM ZL % dentro de PPM
especificaciones especificaciones
0.33 1 68.27 317,300 - 0.5 30.23 697,700
0.67 2 95.45 45,500 0.5 69.13 308,700
1.00 3 99.73 2,700 1.5 93.32 66807
1.33 4 99.9937 63 2.5 99.379 6210
1.67 5 99.999943 0.57 3.5 99.9767 233
2.00 6 99.999998 0.002 4.5 99.99966 3.4
Ejemplo
En un proceso de embazado de cemento, se tiene las

especificaciones del contenido de los costales 50 Kg., con una
tolerancia de 0.6 Kg. De esta forma las especificaciones son EI =
49.4 Kg., y ES = 50.6 Kg. Siendo µ = 50.01 y la deviation estándar
de 0.2 Kg
Calidad Tres Sigma
Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto

plazo es igual a Zc = 3 y el índice es Cpk = 1.
Calidad Tres Sigma
• Significa que el 99.73% cumple especificaciones, y que solo

el 0.27% esta fuera. Ósea 2,700 PPM.
• Una empresa de teléfonos que produce 10 millones al año,

significaría que 27,000 clientes con problemas.
• Un millón de vuelos por semana, significa 2,700 errores.

Calidad Seis Sigma

Proceso cuya capacidad para cumplir especificaciones a corto plazo es
igual a Zc = 6 o cuando es largo plazo ZL = 4.5, lo cual , a corto
plazo significa Cpk =2 y a largo plazo un Ppk = 1.5
Seis Sigma para atributos
Cuando las características de calidad son de tipo continuo/atributos

se emplea la métrica Defectos por millón de oportunidades de error
(DPMO).
Donde:
• Unidad: parte o producto que se elabora mediante un proceso.
• Oportunidad de error: cualquier parte de la unidad que puede

medirse o probarse si es adecuada.
Conceptos clave: Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
• Índice DPU (Defectos por unidad): métrica de calidad que es igual al número
de defectos encontrados entre el número de unidades inspeccionadas. No
toma en cuenta las oportunidades de error.
• Índice DPO (Defectos por oportunidad): métrica de calidad que es igual al

número de defectos encontrados entre el total de oportunidades de error al
producir una cantidad especifica de unidades.
• DPMO (defectos por millón de oportunidades): métrica seis sigma para

procesos de atributos que cuantifica los defectos esperados en un millón de
oportunidades de error.
Ejemplo Universidad Nacional de Ingeniería
En una fabrica de muebles, durante la etapa de ensamble el

producto se desea evaluar el desempeño del proceso.
Específicamente la calidad del ensamble.
El producto tiene 24 punto de ensamble; por lo tanto, en la

inspección se evalúa cada uno de los puntos de ensamble.
Se inspeccionaron 2,000 sillas, se encontraron 120 puntos de

ensamble insatisfactorio.
Resolviendo el problema:
DPU = d/U = 120/2000 = 0.06
Lo que significa que por cada silla se tiene 0.06 ensambles

defectuosos o por cada 100 sillas, seis tendrán ensambles
defectuoso.
Un desventaja del DPU es que no toma en cuenta el número de oportunidades de error

en la unidad.
Resolviendo el problema: Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones
DPO = d/ (U * O) = 120 / ( 2000 * 24) = 120/4800

= 0.0025
Lo que significa que 4,800 ensambles (oportunidades de error)

se fabricaron 120 con algún defecto.
DPMO = DPO * 1 000 000

DPMO = 0.0025 * 1 000 000 = 2500
Entonces, de un millón de ensambles realizados (24 sillas) se

espera tener 2,500 con algún defecto. Lo que indica que no es un
proceso SS, ya que la meta es tener 3.4 DPMO como máximo.
Segundo ejemplo DPMO
Se fabrican tarjetas electrónicas en lotes de 2,000 unidades.

De las cuales se encontraron 1, 000 defectos.
Cada tarjeta tiene 50 componentes.
Calcule los índices DPU y DPMO e interprete.

Conclusiones

Sesión #4 Herramientas para La Mejora de Procesos PDF

Încărcat de

Informații document

Titlu original

Drepturi de autor

Formate disponibile

Partajați acest document

Partajați sau inserați document

Opțiuni de partajare

Vi se pare util acest document?

Este necorespunzător acest conținut?

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Sesión #4 Herramientas para La Mejora de Procesos PDF

Încărcat de

Drepturi de autor:

Formate disponibile

Centro de Tecnologías de Información y Comunicaciones

Universidad Nacional de Ingeniería

CURSO DE ESPECIALIZACION GESTIÓN POR

SESIÓN IV: ANÁLISIS DE CAPACIDAD DE PROCESOS

MBA. CARLOS L. GRAJEDA R.

• Definición de capacidad de procesos

Consiste en conocer la amplitud de la variación natural del

Índices para procesos con Cp, Cr, Cpk, K y

Índices para procesos con

Índices de largo plazo Pp y Ppk

Métricas Seis Sigma Z, Zl, Zc PPM y

Indicador de la capacidad potencial del proceso que resulta de

Nota: debido a la propiedad de distribución normal, en donde se afirma que entre μ ± 3σ se

Valores del Cp y su interpretación

Nota: Cp no es igual al porcentaje de piezas que cumplen con las especificación.

Una característica de calidad importante en la fabricación de

Resultado de la medición de muestras se tiene µ = 783 y δ = 3

El proceso tiene una capacidad potencialmente parcialmente

La capacidad potencial del procesos que divide la amplitud de la variación

También conocido como la razón de capacidad potencial

Cr = 6(3) / (790 – 770) = 0.90

Es un valor parcialmente adecuado, pues indica que la variación

Pero este indicador no el hecho de lo centrado del proceso.

La capacidad de un proceso para cumplir con la especificación

Para considerar al proceso adecuado, el valor de Cpi o Cps debe

Para este caso el proceso cumple de manera adecuada la

La capacidad de un proceso para cumplir con la especificación

Cpi = (790 – 783) / 3(3) = 0.78

Para considerar al proceso adecuado, el valor de Cpi o Cps debe

Para este caso el proceso no cumple de manera adecuada la

Indicador de la capacidad real de un procesos que se puede ver como un

Cpk =mínimo (783 - 770) / 3(3) ; (790 – 783) / 3(3)

El índice Cpk es igual al valor mas pequeño de entre Cpi y Cps, es

Si Cpk es mayor a 1.25 (teoría), el proceso es capaz.

• Cp no cambia cuando cambia el centro del proceso

• Cp = Cpk cuando el proceso esta centrado.

• Cpk siempre es menor o igual a Cp

• Cpk = 1 es un estándar que indica cumplimientos de especificaciones

• Cpk < 1 indica no cumplimiento de especificaciones

• Cp < 1 indica que nos encontramos ante un proceso no capaz

• Cpk=0 indica que el promedio es igual a uno de los límites de

• Cpk<0 indica que el promedio está fuera de las especificaciones.

• Cuando el índice Cpk es mayor a 1.25 es un proceso ya existente, se

• Para procesos nuevos se pide Cpk mayores a 1.45.

Que tan cerrada esta la distribución de un proceso con respecto a

Interpretación del índice K

• Si K tiene signo positivo, significa que la media del proceso

• Valores de K menores a 20% en términos absolutos se

• El valor nominal, N, es la calidad objetivo y optima;

La media del proceso esta desviada en 30% a la derecha del valor

(Índice de Taguchi) similar al Cpk, que en forma simultanea,

El objetivo es reducir la variabilidad alrededor del valor nominal

Cpm = (790 – 770) / 25.46 = 0.79

Entonces Cpm = 0.79, Cp = 1.11 y Cpk = 0.78

Cuando el Cpm es menor a uno significa que el proceso no cumple con

1 tercio 2 tercio 3 tercio

Si el Cpm es mayor que 1.33, entonces el proceso cumple especificaciones,

1 quinto 2 quinto 3 quinto 4 quinto 5 quinto

Si un proceso no es capaz ni esta bajo control, primero se debe de crear un

Los cálculos de capacidad de procesos tienen poco sentido si éste no se

Fuente: Itoshi Kume

Proceso inestable e incapaz

Proceso que no cumple con especificaciones y en el que las causas