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Testmodules Embedded: 22
Testmodules Passed: 22
Testmodules Failed: 0
-------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Subestación/Bahía:
Subestación: SE CACHIMAYO Dirección de subestación: CACHIMAYO
Bahía: T4 Dirección de bahía: SE CACHIMAYO
Dispositivo:
Nombre/descripción: RET 521 Fabricante: ABB
Tipo de dispositivo: RELE DIFERENCIAL Dirección del dispositivo: TRAFO T4
No de serie: T0339002
Info adicional 1: SE CACHIMAYO
Info adicional 2: PROT DIFERENCIAL
Hardware Configuration
Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC356 GD233M
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Configuration Versión: 3.10
Comienzo: 16-oct.-2016 09:22:57 Fin: 16-oct.-2016 09:24:12
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Initial test:
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Trip Time Versión: 3.10
Characteristic
Comienzo: 16-oct.-2016 09:31:41 Fin: 16-oct.-2016 09:31:44
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Idiff [In]
Estado:
1 de 1 puntos probados.
1 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
A-B-C Suministro
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration A-N, fault HV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
A-N Suministro
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration B-N, fault HV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
B-N Suministro
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration C-N, fault HV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
C-N Suministro
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration A-B-C, fault LV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
Suministro A-B-C
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration A-N, fault LV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
Suministro A-N
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration B-N, fault LV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
Suministro B-N
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Configuration C-N, fault LV:
Gráfico:
Diagrama Unifilar del equipo protegido (YD11)
Suministro C-N
Y D11
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Pickup Test HV 3-Phase:Ajustes de la prueba
General
Nº de estados de 1
rampa:
Pasos totales por 24
prueba:
Tiempo total por 2.400
prueba:
Nº de ejecuciones de 1
prueba:
Magnitudes en rampa
I Prim A; Prim B; Prim C / Magnitud
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
I Prim A 113.8 mA
0.00 °
60.000 Hz
I Prim B 113.8 mA
-120.00 °
60.000 Hz
I Prim C 113.8 mA
120.00 °
60.000 Hz
I Sec A 0.000 A
0.00 °
60.000 Hz
I Sec B 0.000 A
-120.00 °
60.000 Hz
I Sec C 0.000 A
120.00 °
60.000 Hz
Forzar fases abs. Sí
Señ. 1 Desde 113.8 mA
Señ. 1 Hasta 336.3 mA
Señ. 1 Delta 10.00 mA
Señ. 1 d/dt 100.0 mA/s
dt por paso 100.0 ms
Pasos de rampa 24
Tiempo de rampa 2.400s
Trigger Ninguno
Lógica del trigger
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Paso atrás No
Tiempo de retardo 0.000 s
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Ramping Versión: 3.10
Comienzo: 16-oct.-2016 10:09:04 Fin: 16-oct.-2016 10:09:09
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
Resultados de la prueba
Resultados de la evaluación
Nombre /
Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
ejec.
Pick-up Rampa 1 Trip 86 0->1 I Prim 225.0 mA 253.8 mA 100.0 mA 100.0 mA 28.70 mA + 16.20 ms
A; Prim
B; Prim
C
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Rampa 1
Señ. 1/mA
300
275
250
225
200
175
150
t/s
0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25
125
I Prim A; Prim B; Prim C
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Pickup Test LV 3-Phase:Ajustes de la prueba
General
Nº de estados de 1
rampa:
Pasos totales por 21
prueba:
Tiempo total por 2.100
prueba:
Nº de ejecuciones de 1
prueba:
Magnitudes en rampa
I Sec A; Sec B; Sec C / Magnitud
Estados de rampa
Rampa Rampa 1
I Prim A 0.000 A
0.00 °
60.000 Hz
I Prim B 0.000 A
-120.00 °
60.000 Hz
I Prim C 0.000 A
120.00 °
60.000 Hz
I Sec A 2.400 A
0.00 °
60.000 Hz
I Sec B 2.400 A
-120.00 °
60.000 Hz
I Sec C 2.400 A
120.00 °
60.000 Hz
Forzar fases abs. Sí
Señ. 1 Desde 2.400 A
Señ. 1 Hasta 2.600 A
Señ. 1 Delta 10.00 mA
Señ. 1 d/dt 100.0 mA/s
dt por paso 100.0 ms
Pasos de rampa 21
Tiempo de rampa 2.100s
Trigger Ninguno
Lógica del trigger
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Paso atrás No
Tiempo de retardo 0.000 s
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Ramping Versión: 3.10
Comienzo: 16-oct.-2016 10:17:12 Fin: 16-oct.-2016 10:17:16
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
Resultados de la prueba
Resultados de la evaluación
Nombre /
Rampa Condición Señ. Nom. Real Tol.- Tol.+ Desv. Eval. treal
ejec.
Pick-up Rampa 1 Trip 86 0->1 I Sec A; 2.477 A 2.470 A 100.0 mA 100.0 mA -7.000 mA + 15.50 ms
Sec B;
Sec C
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Rampa 1
Señ. 1/A
2.575
2.550
2.525
2.500
2.475
2.450
2.425 t/s
0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75
2.400
I Sec A; Sec B; Sec C
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Estado de la prueba:
Prueba correcta
Diff Operating Characteristic A-N:
Resultados de la prueba de tipo de falta A-B-C en el lado de referencia Primary
t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Estado Resultado
nominal real
0.20 In 1.00 In N/D N/D Probado Correcta
0.40 In 2.50 In N/D N/D Probado Correcta
0.70 In 3.40 In N/D N/D Probado Correcta
0.90 In 4.30 In N/D N/D Probado Correcta
0.70 In 1.40 In 0.0325 s 0.0263 s Probado Correcta
1.20 In 2.90 In 0.0325 s 0.0256 s Probado Correcta
Diagrama de la característica de operación
Idiff [In]
11
10
0
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5 20.0 22.5 25.0
Ipol [In]
Estado de la prueba:
Prueba correcta
6 de 6 puntos probados.
6 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
10
0
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5 20.0 22.5 25.0
Ipol [In]
Estado de la prueba:
Prueba correcta
5 de 5 puntos probados.
5 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Diff Operating Characteristic A-B-C:
Resultados de la prueba de tipo de falta A-N en el lado de referencia Primary
t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Estado Resultado
nominal real
0.10 In 1.00 In N/D N/D Probado Correcta
0.20 In 2.20 In N/D N/D Probado Correcta
0.40 In 3.90 In N/D N/D Probado Correcta
0.50 In 0.30 In 0.0325 s 0.0265 s Probado Correcta
0.90 In 1.30 In 0.0325 s 0.0265 s Probado Correcta
Diagrama de la característica de operación
Idiff [In]
11
10
0
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5 20.0 22.5 25.0
Ipol [In]
Estado de la prueba:
Prueba correcta
5 de 5 puntos probados.
5 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Diff Trip Time Characteristic A-N:
Resultados de la prueba de tipo de falta A-N en el lado de referencia Primary
t de t de
Idiff Ipol disparo disparo Desv (rel) Desv (abs) Estado Resultado
nominal real
1.00 In 1.00 In 0.0250 s 0.0241 s 3.60 % -0.0009 s Probado Correcta
2.00 In 2.00 In 0.0250 s 0.0234 s 6.40 % -0.0016 s Probado Correcta
3.00 In 3.00 In 0.0250 s 0.0260 s 4.00 % 0.0010 s Probado Correcta
Plano de pruebas del tiempo de disparo
t [s]
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Idiff [In]
Estado:
3 de 3 puntos probados.
3 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Idiff [In]
Estado:
3 de 3 puntos probados.
3 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
0.09
0.08
0.07
0.06
0.05
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Idiff [In]
Estado:
3 de 3 puntos probados.
3 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Harmonic Versión: 3.10
Restraint
Comienzo: 16-oct.-2016 11:58:35 Fin: 16-oct.-2016 11:58:44
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
11
10
0
2.5 5.0 7.5 10.0 12.5 15.0 17.5 20.0 22.5 25.0
I2f/Idiff [%]
Estado:
4 de 4 puntos probados.
4 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
Módulo de prueba
Nombre: OMICRON Diff Harmonic Versión: 3.10
Restraint
Comienzo: 16-oct.-2016 12:02:05 Fin: 16-oct.-2016 12:02:14
Nombre de usuario: MIKE MIRANDA Administrador: MICHEL MIRANDA
Compañía: OBRATEC EIRL
Resultados de la prueba para fase de prueba A-N en el lado de referencia Primary para
5. Armónico
Ángulo
Idiff Ixf/Idiff Disparo Estado Resultado
(Ixf,Idiff)
1.00 I/In 5.00 % -120.0 ° Sí Probado Correcta
1.00 I/In 10.00 % -120.0 ° Sí Probado Correcta
1.00 I/In 17.50 % -120.0 ° Sí Probado Correcta
1.00 I/In 32.50 % -120.0 ° No Disparo Correcta
post-falta
11
10
0
5 10 15 20 25 30
I5f/Idiff [%]
Estado:
4 de 4 puntos probados.
4 puntos correctos.
0 puntos incorrectos.
CB test A-B-C:
Ajustes de la prueba
Estado Postfault Postfault
Prefault 1 Fault AT Prefault 2 Fault BT
1 2
I Prim A 0.000 A 10.00 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Prim B 0.000 A 10.00 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Prim C 0.000 A 10.00 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Sec A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 10.00 A 0.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Sec B 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 10.00 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Sec C 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A 10.00 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Resultados de la prueba
Evaluación de tiempo
Ignor.
Nombre Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
HV side Fault AT Fault AT Trip 86 35.00 ms 20.00 ms 20.00 ms 20.90 ms -14.10 ms +
CB trip 0>1
time
LV side Fault BT Fault BT Trip 86 35.00 ms 20.00 ms 20.00 ms 24.40 ms -10.60 ms +
CB trip 0>1
time
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
CMC356 I A/A
12.5
10.0
7.5
5.0
2.5
0.0
-2.5 1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
t/s
-5.0
-7.5
-10.0
-12.5
-15.0
I Prim A I Prim B I Prim C
Prefault 1 Postfault 1 Fault BT
Fault AT Prefault 2 Postfault 2
CMC356 I B/A
12.5
10.0
7.5
5.0
2.5
0.0
-2.5 1.0 2.0 3.0 4.0 5.0
t/s
-5.0
-7.5
-10.0
-12.5
-15.0
I Sec A I Sec B I Sec C
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Estado de la prueba:
Prueba correcta
CB test A-B-C:
Ajustes de la prueba
Estado Postfault
Prefault 1 Fault AT
1
I Prim A 0.000 A 10.00 A 0.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Prim B 0.000 A 10.00 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I Prim C 0.000 A 10.00 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
Resultados de la prueba
Evaluación de tiempo
Ignor.
Nombre Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
LV side Fault AT Fault AT Trip 86 35.00 ms 20.00 ms 20.00 ms 18.90 ms -16.10 ms +
CB trip 0>1
time
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
Prefault 1 Postfault 1
Fault AT
CMC356 I A/A
12.5
10.0
7.5
5.0
2.5
0.0
-2.5 0.25 0.50 0.75 1.00 1.25 1.50 1.75 2.00 2.25
t/s
-5.0
-7.5
-10.0
-12.5
-15.0
I Prim A I Prim B I Prim C
Trip Diff A
Trip Diff B
Trip Dif C
Trip 86
Estado de la prueba:
Prueba correcta