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¿Qué es XRD?
La difracción de rayos X (XRD) es un método analítico no destructivo y versátil para analizar las
propiedades del material como la composición de fase, la estructura, la textura y muchas más
muestras de polvo, muestras sólidas o incluso muestras líquidas. La identificación de las fases se
logra comparando el patrón de difracción de rayos X obtenido de una muestra desconocida con los
patrones de una base de datos de referencia.
Este proceso es muy similar a la identificación de huellas digitales en las investigaciones de la escena
del crimen. La base de datos más completa es mantenida por el ICDD (Centro Internacional de Datos
de Difracción). Alternativamente, es posible construir una base de datos de referencia a partir de
patrones de difracción experimentales de fases puras y / o patrones publicados en la literatura
científica o derivados de mediciones propias. Modernos sistemas de difractómetro controlados por
computadora como el PANalytical X’Pert
Powder o Empyrean en combinación con el software de análisis de fase (por ejemplo, HighScore)
utilizan rutinas automáticas para medir e interpretar los difractogramas únicos producidos por los
constituyentes individuales incluso en mezclas altamente complejas.
Muchas de estas técnicas también se pueden utilizar para materiales en capas policristalinos tales
como recubrimientos
Estas técnicas se explican aquí brevemente. Se puede encontrar información más detallada en la
literatura dedicada. La difracción de rayos X en polvo se utiliza en una amplia variedad de entornos
de investigación y control de procesos. Por ejemplo:
Figura 1. Patrón de polvo típico que muestra la presencia de una fase cristalina y una fase amorfa.
Si los rayos X con una longitud de onda λ y una intensidad I0 penetran en un material, se atenúan
(μ), se absorben (τ), se dispersan (σ) y se someten al llamado "parbuilding" (π). Estos parámetros
actúan de forma aditiva. La absorción es el efecto de primer orden para los rayos X en la materia,
por lo que la literatura a menudo no distingue entre la atenuación y el coeficiente de absorción. La
división por la densidad (ρ) produce el coeficiente de atenuación de masa (μ / ρ), también
denominado en la literatura como MAC.
𝐼 = 𝐼0 𝑒 −𝜇𝑑
El coeficiente de atenuación (μ) del material depende de
El difractograma en polvo.
Introducción
luz visible en las rejillas con un espaciado a escala nm cerca de la longitud de onda de la luz (Figura
13). Un cristal puede verse como una rejilla tridimensional con una separación de unos pocos
Ångströms, y se pueden observar efectos de difracción cuando la longitud de onda del fotón de
rayos X entrante es de tamaño similar.
θ: ángulo de Bragg θB
λ: longitud de onda