Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
CUPRINS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1 INTRODUCERE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.1.3 Disponibilitatea . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.1.4 Dependabilitatea . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.1.5 Mentenabilitate . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
5
2.2 Metode de autocontrol, implementate hardware . . . . . . . . . . 20
2.2.5.2 Reconfigurarea . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
6
3.1.1 Caracteristicile metodelor de proiectare structurat_ la nivel
de bistabil . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
BIBLIOGRAFIE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
7
8
1 INTRODUCERE
Fiabilitatea unui sistem a fost o preocupare major_ înc_ din momentul apari½iei
calculatoarelor electronice numerice. Exist_ preocup_ri legate de analiza de
fiabilitate, constând în evaluarea de indicatori numerici, atât previzional cât
úi experimental, pentru dezideratul siguran½ei în func½ionare. Pe lâng_ aceast_
arie de preocup_ri, fiabilitatea implic_ sinteza unor sisteme de calcul care, prin
proiectare, s_ îndeplineasc_ anumi½i indicatori de fiabilitate impuúi. În acest
sens se apeleaz_ la metode de creútere a fiabilit_½ii care, în accep½iunea cea
mai larg_, sunt divizate în dou_ clase: evitarea defectelor (fault avoidance)
sinonim cu netolerarea defectelor (fault intolerance) úi tolerarea defectelor
(fault tolerance). Obiectivul esen½ial al unui sistem fiabil este reprezentat de
c_tre defect, fie în sensul evit_rii acestuia, fie în sensul toler_rii lui, context
în care se impun unele preciz_ri legate de terminologie. Asupra acestora se
insist_ in extenso în capitolul al doilea al lucr_rii, dar, anticipând, vom în½elege
prin defect orice deviere de la func½ionarea normal_ a unui sistem, aceasta
putând fi cauzat_ fie prin erori de proiectare, fie prin anomalii ale echipa-
mentelor, fie prin erori ale operatorilor sau ale personalului de între½inere,
acestea din urm_ fiind denumite în lucrare erori de interac½iune. Prima clas_
de metode foloseúte componente de înalt_ fiabilitate, tehnici conservative de
proiectare úi recenzii vaste în faza de proiectare, pentru eliminarea defectelor
de proiectare. Obiectivul acestor metode este reducerea posibilit_½ilor de
defectare. Totuúi, apar eúecuri chiar úi în cazul celei mai atente evit_ri a
defectelor úi de aici termenul de netolerare a defectelor (fault intolerance).
În mod firesc, se justific_ existen½a celei de-a doua clase de metode care, în
scopul de a tolera defectele, foloseúte componente adi½ionale, numite
redundante. Pentru claritate, amintim c_ indicele aproape unanim recunoscut
ca obiectiv de proiectare este raportul performan½_/cost. În vederea optimiz_rii
acestuia, majoritatea tehnicilor de proiectare apeleaz_ la eliminarea redundan½ei.
În mod contrar, fa½_ de tehnicile anterioare, noile metode introduc redundan½a
pentru a conferi sistemelor acest deziderat aparte al proiect_rii: fiabilitatea prin
9
tolerare la defecte. Redundan½a poate fi introdus_ prin solu½iile eminamente
hardware, eminamente software sau prin solu½ii hibride (hardware/software),
dar în toate cazurile se urm_reúte evitarea efectelor defectelor. Ambele tehnici
sunt uzual folosite în sistemele de înalt_ fiabilitate.
10
2 METODE DE CREùTERE A FIABILI-
T^¼II ùI DISPONIBILIT^¼II
11
s_ determine o defec½iune logic_ úi ca aceasta s_ determine, la rândul ei, o
eroare.
12
Adjectivul „intermitent“ (intermittent) descrie o defec½iune sau o
eroare care se repet_ ocazional;
13
Dup_ îndep_rtarea defec½iunilor timpurii, componentele se men½in pe o perioad_
lung_ la o rat_ de defectare aproximativ constant_. În timpul acestei perioade,
rata de defectare este, de obicei, sc_zut_ úi este pu½in probabil ca defec½iunile
s_ provin_ de la o singur_ cauz_. Rata constant_ de defectare, reprezentat_ în
por½iunea de via½_ util_, scoate în eviden½_ faptul c_ probabilitatea de defectare
este independent_ de vârst_. Pentru orice rat_ constant_ de defectare, valoarea
fiabilit_½ii depinde numai de timp. Func½ia fiabilit_½ii R (t) (reliability), care
este caracterizat_ de o rat_ constant_ de defectare este o distribu½ie negativ_
exponen½ial_ úi are forma:
R (t)
e t
Timpul mediu dintre defect_ri (Mean Time Between Failures; MTBF) este
timpul mediu, exprimat, de obicei, în ore, în care un articol ar putea s_
func½ioneze corect înainte de a se deteriora úi reprezint_ m_sura cantitativ_
a fiabilit_½ii. În general, MTBF-ul unui sistem ar putea fi tratat ca integrala
func½iei de fiabilitate a întregului sistem:
R (t) d t
20
MTBF
MTTF MTTR
Rata de repara½ie µ (repair rate) sau inversul timpului mediu de repara½ie, adic_
1
µ
MTTR
14
este un alt factor care afecteaz_ substan½ial fiabilitatea úi mentenabilitatea unui
sistem. Când o unitate dintr-un sistem duplicat este defect_, sistemul este
dependent de a doua unitate pentru a-úi continua opera½ia. Dac_ unitatea defect_
este reparat_ repede, riscul deterior_rii întregului sistemului este mic deoarece
unitatea a doua va opera astfel încât s_ p_streze integritatea func½ion_rii
sistemului. Întrucât sistemul este vulnerabil numai pân_ la repara½ia unit_½ii
defecte, un timp scurt de repara½ie poate creúte foarte mult fiabilitatea
sistemului.
2.1.3 Disponibilitatea
MTTF
A(t)
MTTF MTTR
2.1.4 Dependabilitatea
15
fa½ete distincte ale specifica½iilor sistemului. Pe baza caracteristicilor unui
sistem, dependabilitatea lui se descrie fie prin fiabilitate, fie prin disponibilitate.
De exemplu, putem caracteriza mai bine un sistem nereparabil prin fiabilitatea
lui, iar un sistem reparabil prin disponibilitatea lui.
2.1.5 Mentenabilitate
16
(revizii, reglaje, verific_ri úi repara½ii planificate, executate în vederea evit_rii
unor viitoare defec½iuni).
M (tr )
Prob (t rTr )
tr
(µ t r )
M (tr )
1 e
1 e MTTR
17
a) timpul total în care sistemul r_mâne neoperativ s_ nu dep_úeasc_ trei
minute pe an, cu un timp mediu de repara½ie (MTTR) de patru
ore;
18
controlul critic al avioanelor, triplarea cu rezerv_ este necesar_ pentru a achita
un grad mare de fiabilitate.
Erorile software sunt rezultatul unor traduceri (translat_ri) greúite sau ale unor
implement_ri improprii ale algoritmilor originali úi, de asemenea, deviaz_
execu½ia instruc½iunilor de la secven½a corect_. În multe situa½ii, din p_cate,
defec½iunile hardware nu pot fi distinse de cele software. Din acest motiv,
sistemele trebuie s_ fie tolerante la defec½iuni, indiferent de sursa acestora.
19
mai poate con½ine programe de detec½ie a erorilor, de diagnoz_ úi de
autocontrol, prin care s_ testeze periodic toate circuitele logice ale calcula-
torului.
Redundan½a temporal_ este ob½inut_ prin repetarea unei opera½ii eronate, imediat
dup_ repetarea unei erori. Redundan½a temporal_ se implementeaz_ adesea prin
hardware. De exemplu, logica hardware poate ini½ia recitirea automat_ a unei
loca½ii de memorie în care s-a detectat o eroare de paritate.
20
comerciale. Redundan½a dinamic_, la care subsistemele adi½ionale servesc ca
rezerve în interiorul sistemului, s-a folosit în aplica½iile comerciale.
21
d) controale de excep½ii (exception checks).
Controlul prin copii este una dintre cele mai complete metode de detectare
a erorilor dintr-un sistem de calcul. Din cauza echipamentului hardware
necesar, aceast_ metod_ este, de asemenea, úi cea mai costisitoare tehnic_ de
redundan½_. Num_rul copiilor dintr-un sistem nu trebuie s_ fie limitat la doi.
Atunci când trei sau mai multe copii ale unui sistem sunt implicate, controlul
compar_rii este referit ca votare. Votarea asigur_ suprimarea unei ieúiri eronate
prin mascarea în favoarea majorit_½ii ieúirilor. Un exemplu de controlare prin
copii într-un sistem de redundan½_ tripl_, modular_ este FTMP (Fault Tolerant
Multiple Processor) dezvoltat pentru calculatoarele avioanelor.
Controalele prin copii bazate pe copii identice ale unui sistem nu detecteaz_
consecin½ele greúelilor de proiectare, deoarece sunt afectate toate copiile
22
unit_½ii. Din acest motiv, este necesar_ apelarea la tehnici formale de verificare
a proiect_rii astfel încât s_ se asigure c_ nu exist_ greúeli de proiectare în
structur_ care ar putea ocoli protec½ia realizat_ de copiere.
23
Un temporizator hardware, numit úi watch-dog timer, este folosit în sisteme
de comutare telefonic_ pentru ap_rarea împotriva erorilor de programare din
cauza c_rora sistemul nu-úi mai poate reveni. Conceptul este relativ simplu.
Un ceas hardware merge continuu în procesor úi este resetat periodic de c_tre
programul principal dac_ nu se întâmpl_ nimic neobiúnuit care s_ devieze
programul din secven½a lui normal_ de execu½ie.
Dac_ dintr-un anumit motiv (eroare software sau defec½iune hardware) secven½a
execu½iei nu se mai întoarce la programul principal, ceasul nu se reseteaz_.
În aceast_ situa½ie, ceasul pune în circula½ie o cerere de întrerupere de înalt_
prioritate úi întreprinde ac½iunile necesare reini½ializ_rii sistemului. În cazul
în care exist_ în sistem înc_ un procesor stand-by, întreruperea ceasului poate
produce comutarea automat_ a controlului pe maúin_ stand-by, într-o tentativ_
de revenire din eroarea de time-out.
24
Constrângerile pot fi atribuite structurii hardware sau celei software. Exemple
de constrângeri hardware sunt: alinierea improprie de adrese, loca½ii de
memorii neechipate, opcod neutilizat, dep_úirea stivei etc. Structura software
pune, de asemenea, câteva constrângeri sistemului pentru a-i îmbun_t_½i
rezisten½a úi pentru a furniza un mediu protejat programelor de aplica½ii.
Detectarea unei erori ini½iaz_ o excep½ie care este urmat_ de invocarea automat_
a subrutinei de mânuire a excep½iei respective. În multe cazuri, excep½ia este
atribuit_ unei greúeli de proiectare a programului.
Restabilirea este cea mai complex_ úi mai dificil_ func½ie pentru toate sistemele
din cauza multitudinii st_rilor posibile ale sistemului care pot s_ apar_ sub
condi½ii problematice. Neajunsurile proiect_rii hardware sau software de a
detecta erorile atunci când apar au un efect direct asupra abilit_½ii sistemului
de a se restabili. Când erorile continu_ s_ fie nedetectate, sistemul r_mâne
defect pân_ când problema este recunoscut_. Un alt tip de restabilire apare
atunci când sistemul nu este capabil s_ izoleze corespunz_tor un subsistem
defect úi s_ reconfigureze, în jurul lui, un sistem opera½ional. Detectarea cât
mai rapid_ a unei erori uúureaz_ determinarea componentei defecte úi
restabilirea sistemului. Deci, detectarea rapid_ a erorii úi izolarea ei sunt
condi½iile fundamentale ale restabilirii.
25
2.2.5.1 Clasificarea procedurilor de restabilire
Într-o facilitate de timp real, sistemul care furnizeaz_ servicii în mod continuu
trebuie s_ r_mân_ opera½ional chiar úi într-un mediu defect. Aceasta înseamn_
c_ simptomele trebuie s_ fie recunoscute repede úi unit_½ile defecte trebuie
s_ fie reparate cu pu½in_ sau chiar f_r_ interven½ie din partea utilizatorului.
O procedur_ de restabilire total_ are nevoie, în mod obiúnuit, de toate cele cinci
aspecte ale calcul_rii tolerante la defecte: detectarea erorii, izolarea erorii,
restabilirea sistemului, diagnosticarea erorii úi repararea ei. Perioada de
întrerupere a servirii, în timpul procesului de restabilire, este minimizat_ úi,
de obicei, nu este observat_ de c_tre utilizator.
26
2.2.5.1.2 Restabilirea degradat_
27
Categoria procedurii de închidere pentru salvare este similar_ unui sistem f_r_
redundan½_. Ac½iunea de izolare a defec½iunii trebuie s_ fie ini½iat_ pentru a
se determina identitatea ei úi locul în care se afl_. Func½ionarea normal_ a
sistemului, care a fost întrerupt_ la momentul derect_rii defec½iunii, trebuie
s_ fie, acum, suspendat_ datorit_ diagnozei úi repar_rii. Sistemul trebuie s_
fie restabilit, atât din punct de vedere hardware, cât úi software, astfel încât
s_-úi poat_ relua procesarea normal_.
2.2.5.2 Reconfigurarea
28
2.3 Metode de autocontrol implementate software
Motivarea ieúirilor pentru un set dat de intr_ri este controlat_ la nivelul blocului
func½ional. Anumite m_suri de performan½_ pot fi folosite pentru a se indica
func½ionarea corespunz_toare. Atunci când înc_rcarea aplicat_ este normal_,
29
dar m_sur_torile care caracterizeaz_ performan½a sistemului (timpul de r_spuns,
debitul úi timpul necesar pentru a se realiza o func½ie standard) sunt în afara
valorilor limit_, sistemul are, probabil, una sau mai multe erori.
30
Exist_ trei strategii de restabilire:
c) reini½ializarea (reset-ul).
Cele mai dificile sarcini ale proiect_rii între½inerii sunt: restabilirea sistemului
úi diagnosticarea. Eficacitatea lor poate fi determinat_ prin simularea modului
de comportare a sistemului în prezen½a unei anumite defec½iuni. Prin
intermediul simul_rii deficien½ele proiect_rii pot fi identificate úi corectate
înainte de a se da sistemul spre utilizare. Este necesar s_ se evalueze abilitatea
sistemului la detectarea erorilor, la revenirea automat_ la func½ionarea normal_
31
úi la furnizarea informa½iei de diagnoz_ (de exemplu: loca½ia defec½iunii).
Simularea, fizic_ sau digital_, a defec½iunii este un aspect important al
proiect_rii între½inerii.
32
3 AUTOCONTROLUL CA MIJLOC DE
CREùTERE A FIABILIT^¼II ùI
DISPONIBILIT^¼II SISTEMELOR DE
CALCUL
Progresele recente din tehnologia VLSI au avut o mare influen½_ asupra test_rii
sistemelor digitale (numerice). Sistemele digitale de ast_zi au de la o sut_ de
mii pân_ la un milion de por½i de logic_ aleatoare úi de celule de memorie, ceea
ce face ca generarea testului úi simularea defec½iunilor s_ fie extrem de dificile.
Chiar dac_ se pot folosi maúini hardware dedicate sau super-computere pentru
a genera teste eficace, costul acestora face imposibil_ aplicarea lor în practic_.
Pentru a se dep_úi aceast_ problem_, cercetarea s-a îndreptat c_tre g_sirea altor
metode de testare a sistemelor digitale, incluzând proiectarea pentru testabilitate
úi generarea de test la nivel func½ional (simularea defec½iunilor).
33
Figura 1. Modelul Huffman al tehnicii SCAN.
34
defec½iunilor la sisteme IBM 360. NEC a dezvoltat metoda c_ii de scanare
pentru a rezolva unele probleme, cum ar fi utilizarea intensiv_ a MSI/LSI din
sistemele comerciale de calcul, precum úi num_rul mare de por½i aflate pe
pl_cile acestor sisteme.
Prin componente se în½eleg fie circuite integrate standard (SSI úi MSI) pentru
circuite la nivel de plac_, fie celule standard de module de bibliotec_ pentru
circuite LSI úi VLSI. De asemenea, se presupune c_ mai multe componente
sunt conectate cu leg_turi unidirec½ionale.
Circuitul testat prin metoda c_ii de scanare poate fi parti½ionat logic în mai
multe subcircuite, iar programele de test pot fi generate, independent pentru
fiecare subcircuit. Costul total al întregului circuit scade la .2 / n , unde n este
num_rul de subcircuite, iar . este rata de suprapunere. Tabelul urm_tor arat_
o compara½ie între m_rime úi cost.
35
Denumire M_rime Cost
Circuit original 1 1
Subcircuit . /n (. / n )2
Circuit expandat . .2 / n
36
opera½ia de deplasare. Astfel, bistabilele unei pl_ci logice sunt conectate în
serie printr-o cale de scanare úi opereaz_ ca un registru serial de deplasare
utilizând Clock II, intrarea de test (scan in) úi ieúirea de test (scan out).
Utilizând o adres_ de selec½ie a pl_cii logice, putem selecta o anumit_ plac_
dintr-o unitate logic_.
Chiar dac_ tehnica scan_rii este o tehnic_ DFT puternic_, pentru testarea logicii
aleatoare, aplicarea ei poate pune probleme în diferite tipuri de circuite. Un
astfel de tip sunt úirurile de memorie încorporate în circuite de logic_ aleatoare.
Aplicarea direct_ a tehnicii de scanare la fiecare celul_ de memorie din úir cost_
foarte mult. O solu½ie posibil_ este aplicarea tehnicii de scanare la un anumit
cuvânt din úirul de memorie úi accesarea cuvântului fixat în timpul test_rii
circuitului. Oricum, din moment ce, în timpul test_rii, memoria func½ioneaz_
ca un registru, ea trebuie testat_ utilizând alt_ procedur_.
IBM introduce tehnica LSSD (Level Sensitive Scan Design) care include
tehnica scan_rii úi, în plus, impune ca toate schimb_rile de stare s_ fie controlate
de nivelul semnalului de ceas úi nu de frontul s_u (Level Sensitive Design).
Aceast_ abordare reduce dependen½a func½ion_rii de timpii de propagare,
eliminând cursele sau hazardul. Celula de baz_ este elementul de memorare
37
a informa½iei, dependent de nivel, care asigur_ úi tratarea semnalului de scan
în modul test, element numit SRL (Shift Register Latch).
38
unelte potrivite úi dispozitive de sus½inere pentru boundary-scan, toat_ placa
poate fi testat_ complet, folosind numai calea boundary-scan.
39
cu testarea în circuit úi folosind o combina½ie a celor dou_ se poate simplifica
semnificativ testarea pl_cilor.
Figura 7. Testarea
Boundary Scan la
nivel de cip.
40
seturile de cipuri care se testeaz_ reac½ioneaz_ la cele dou_ tehnici, dând rar
semn_turi identice pentru pl_ci bune sau defecte.
41
3.1.3.1 Autocontrolul bazat pe principiul BILBO
Tehnica de determinare a st_rii unui cip sau a unei pl_ci prin folosirea
informa½iei comprimate a r_spunsului de test se numeúte analiza semn_turii.
În general, metodele de analiz_ a semn_turii pentru testarea pl_cilor utilizeaz_
circuite cu observatori logici, de bloc, încorpora½i (BILBO, Built-In-Logic
Block Observers) pentru a genera úabloane pseudoaleatoare úi pentru a
comprima r_spunsurile. BILBO este, deci, o schem_ încorporat_ de generare
a testului care utilizeaz_, în conjunc½ie scan-designul cu analiza de semn_turi.
Componenta de baz_ a acestei tehnici de autotest este un registru de deplasare
numit registru BILBO care are patru moduri de func½ionare.
42
Figura 10. Utilizarea principiului BILBO.
43
Utilizarea modulelor SW pentru izolarea defec½iunilor introduce întârzieri
adi½ionale între AG-uri, în timpul modului normal de operare. Totuúi, dac_
proiectan½ii implementeaz_ cipuri cu comutatorul de testare utilizând tehnici
de împachetare úi tehnologii avansate, pot minimiza întârzierile adi½ionale.
Se pare c_, în cazul multor aplica½ii, aceast_ întârziere va avea un efect
neglijabil asupra performan½elor sistemului.
La opera½iunea de citire, to½i cei patru octe½i sunt aduúi din memorie úi
decodifica½i de c_tre decodificator, care poate corecta orice octet singular eronat
sau orice eroare de doi bi½i în doi octe½i diferi½i. Este de notat faptul c_
deteriorarea unui singur procesor sau a unei singure memorii afecteaz_ doar
un singur octet din cuvântul de cod. Din acest motiv, sistemul poate tolera
deteriorarea oric_rei perechi singulare procesor-memorie.
În plus, codul poate corecta útergerea unui octet singular precum úi erorile
singulare de bit. Astfel, dac_ se demonteaz_ o pereche procesor-memorie pentru
44
repara½ie, sistemul continu_ s_ opereze utiliz_nd decodificarea de erori-útergeri
(error-erasure decoding). La nivel de bit poate fi corectat_ orice subsecven½_
de eroare singular_.
Multe sisteme digitale includ detectoare de erori, adic_ circuite care detecteaz_
úi semnalizeaz_ apari½ia erorilor. Exist_ dou_ motive principale pentru
includerea detectoarelor de erori într-un sistem úi aceste motive sunt: prevenirea
ajungerii erorii pân_ la ieúirea sistemului úi localizarea pozi½iei erorii.
45
3.2.1 Circuite de verificare dubl_ cale
Un tip foarte important de checker este cel care verific_ egalitatea, adic_ acela
care compar_ dou_ cuvinte de intrare pentru a determina dac_ bi½ii cores-
punz_tori din ambele cuvinte au aceeaúi valoare. Checker-ul de egalitate este
componenta cheie în checker-ele pentru coduri separabile úi pentru compararea
ieúirilor circuitelor duplicate.
46
este folosit pentru a monitoriza operarea corect_ a re½elelor complete de
decodificare.
Ieúirile celor dou_ por½i au fie 10, fie 01, atunci când decodificatorul opereaz_
corect. Schema este cu autotestare deoarece por½ile SAU recep½ioneaz_ toate
configura½iile de intrare (00, 10, 01) necesare test_rii lor pentru defec½iuni
singulare de tip punere pe (stuck-at) în timpul oper_rii normale. Aceast_ schem_
poate fi convertit_ într-un circuit testabil cu o singur_ ieúire.
Codul zecimal 2 din 5 este cel mai cunoscut exemplu al unui cod M din N.
Codurile k din 2k sau k din 2k 1 sunt implement_rile uzuale deoarece con½in
num_rul maxim de cuvinte de cod pentru o lungime cunoscut_ a cuvântului.
47
Checker-ul TSC este un circuit combina½ional care simplific_ sarcina unui
observator. Dac_ unitatea func½ional_ TSC produce o ieúire care apar½ine
spa½iului codului de ieúire, checker-ul TSC indic_ faptul c_ nu exist_ nici o
eroare. O ieúire care nu apar½ine spa½iului codului de ieúire se numeúte ieúire
ilegal_ (noncode) úi, dac_ checker-ul g_seúte o astfel de ieúire la unitatea
func½ional_, atunci indic_ existen½a unei erori.
48
circuitul produce o ieúire ilegal_ (noncode) pentru cel pu½in o
intrare din cod;
Revenind la checker-ul TSC, se puncteaz_ faptul c_ ieúirea lui devine 00 sau 11,
dac_ úi numai dac_ o eroare este detectat_ la ieúirea unei unit_½i func½ionale
sau dac_ checker-ul are o defec½iune hardware. Deci, un checker TSC trebuie
s_ fie code-disjoint.
Adesea exist_ situa½ii în care, chiar dac_ un checker este proiectat pentru
code-disjointness, nu sunt disponibile de la unitatea func½ional_ TSC toate
intr_rile de test, necesare pentru testarea lui. Pentru a face un circuit atât
self-testing, cât úi code-disjoint ar trebui s_ se suspende, din când în când,
opera½ia normal_ pentru a alimenta (to flush) checker-ul cu intr_ri de test care
în mod normal nu sunt disponibile. Dar, în aceast_ situa½ie sistemul nu mai
este on line úi exist_ dificult_½i practice în alimentarea checker-ului. O cale
49
mai bun_ este proiectarea unor checker-e care s_ fie atât self-testing, cât úi
code-disjoint úi care s_ nu aib_ nevoie de acces din exterior, fiind uúor de
încorporat.
În conformitate cu cele discutate anterior, un circuit TSC, ale c_rui ieúiri sunt
codificate într-un cod detector de erori, produce întotdeauna un cuvânt ilegal
ca prim_ ieúire eronat_ din cauza unei defec½iuni. Acest comportament este
foarte avantajos úi este cunoscut sub denumirea de obiectivul proiect_rii TSC
(TSC goal). Exist_, totuúi, úi alte clase de circuite logice care îndeplinesc acest
obiectiv.
50
fie
b) CD úi, dac_ defectul 2 apare, atunci circuitul rezultant este tot SCD
pentru - {2} .
51
BIBLIOGRAFIE
52
[SING97] G. Singer. Current Trends and Future Directions in Test and DFT.
15th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, California, USA, Ap-
ril 27 – May 1, 1997.
53