CAPITOLUL III.

PARTEA EXPERIMENTALA

3.1.Cerințele înaintate petru alegerea metodei de determinare rugozitatii suprafetei prelucrate

prin aschiere
a) Posibilitatea masurarii rugozitatii pe suprafata cercetata;
b) Posibilitatea de a prelucra suprafata cu diferite regimuri de aschiere;
c) Posibilitatea fixarii probelor pentru prelucrare cu perametrii necesari;
d) Posibilitatea masurarii parametrilor RA, RZ;
e) Posibilitatea implicarii utilajului din extern pentru masurarea parametrilor RA, RZ;
f) Cercetarea schimbarii ruguzitatii in dependenta de viteza, avans, unghi de atac ϕ;
g) Simplitatea metodei;
h) Alegerea unui material raspindit in industria constructoare de masini pentru efectuarea
cercetarilor;
3.2 Pregatirea probelor pentru experiment
Scopul cercetarii de aborator a fost determinarea valorilor parametrilor RA, RZ in urma
prelucrarii suprafetei cu diferiti parametri ai regimului de aschiere. Probele pentru cercetare au fost
confectionate in forma cilindrica 10X60 mm, la fel a fost confectionat un suport pentru a avea
posibilitatea de a prelucra suprafetele cercetate. (Fig3.1).
DESEN
Ca material pentru cercetare a fost ales Otel 45. In tabelul de mai jos este indicata componenta
chimica a materialului.
Conținutul chimic Oțel 45
Carbon 0,42-0,50%
Siliciu 0,17-0,37%
Magneziu 0,50-0,80%
Sulf 0,04%
Fosfor 0,035%
Nichel 0,25%
Crom 0,25%

In cadrul experimentului au fost alesi parametrii care influinteaza RA, RZ dupa cum urmeaza:
 - Viteza de aschiere;
- Viteza de avans;
- Unghiul de atac ϕ;
3.3 Efectuarea experimetului
Pentru efectuarea experimentului sint folosite discurile cu dimensiunile 10X60 mm fixate pe
arbore.
Fiecare dintre discuri urmeaza sa fie prelucrat cu regimuri de aschiere diferiti conform tabelelor de
mai jos:

Experienta 1 Experienta 2 Experienta 3

S V S V S V
φ(°) φ(°) φ(°)
(mm/rot) (m/min) (mm/rot) (m/min) (mm/rot) (m/min)
27 0,08 2
45 0,13 20
63 0,5 100 45 0,25 100 45 0,52 50
72 0,50 100
81 0,63 150

Au fost efectuate cite cinci probe pentru fiecare regim studiat, pentru toate 15 probe efectuate
adincimea de aschiere a fost constanta t=1 mm.
Probele au fost prelucrate la strungul din incinta companiei Draexlmaie.
Pentru masurarea parametrilor RA, RZ a fost folosit utilajul din incinta UTM din Moldova
Taylor Hobson.
Masurind parametrii RA si RZ pe suprafata probelor prelucrate cu diferite regimuri de
aschiere, am btinut urmatoarele valori:
 1. Dependenta parametrilor RA, RZ de avans: Anexa 1-5

Nr. Masurari S1 S2 S3 S4 S5 ϕ 45 °
S (mm/rot) 0,08 0,13 0,25 0,50 0,63 V (m/min) 100
RA 1,67 1,78 2,01 5,17 7,72 T(mm) 1
RZ 7,92 8,08 9,55 21,06 35,59
40.00
35.59
35.00

30.00
RA/RZ (MICROM)

25.00
21.06
20.00

15.00
9.55
10.00 7.92 8.08 7.72
5.17
5.00 1.67 1.78 2.01

0.00
0.00 0.10 0.20 0.30 0.40 0.50 0.60 0.70
S(MM/ROT)

RA RZ

2. Dependenta parametrilor RA, RZ de viteza: Anexa 5-10

Nr. Masurari V1 V2 V3 V4 V5 ϕ 45°

V(m/min) 2 20 50 100 150 S (mm/rot) 0,5
RA 5,60 4,60 3,55 4,27 5,18 T (mm) 1
RZ 24,69 19,00 15,22 17,16 18,62
 30.00

24.69
25.00

19.00 18.62
20.00
RA/RZ (MICROM)

17.16
15.22
15.00

10.00
5.60 5.18
4.60 4.27
5.00 3.55

0.00
0 20 40 60 80 100 120 140 160
V(M/MIN)

RA RZ

3. Dependenta parametrilor RA, RZ de Unghiul φ: Anexa 10-15

Nr. masurari ϕ1 ϕ2 ϕ3 ϕ4 ϕ5 V (m/min) 100
ϕ (°) 27 45 63 72 81 S (mm/rot) 0,5
RA 5,34 5,08 4,85 3,27 2,27 T (mm) 1
RZ 21,28 17,72 18,54 14,55 9,63

25.00
21.28

20.00 18.54
17.72
RA/RZ (MICROM)

14.55
15.00

9.63
10.00

5.34 5.08 4.85

5.00 3.27
2.27

0.00
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
F (°)

RA RZ
 3.4 Descrierea utilajului Taylor Hobson (Extras din documentatia tehnica)
ANALYSIS
Form Removal: None, Datum, LS line, MZ line, LS arc

Form Parameters: Slope (LS line, MZ line)

Radius (LS Arc and Absolute Arc)
Primary Analysis
Filter: Gaussian
Cut offs (Ls). None, 0.0025mm to 0.8mm

Parameters: Pa, Pq, Pv, Pt, Psk, Pp, Pku,

Pz(JIS), PLamq, PDelq, PS, PSm,
Pz, PDela, ln, PLo, Pc.
Extended parameters: Pvo, PPc, PHSC, Pmr, Pdc.

Roughness analysis
Filter: Gaussian, ISO 2CR, 2CR PC Cut offs (Lc). 0.08mm to 8.0mm
Bandwidths: 30:1, 100:1, 300:1 (depending on cut off)
Parameters: Ra, Rq, Rp, Rv, Rt, Rsk, Rku, Rz,
Rz(JIS), Rz1max, R3y, R3z, RS,
RSm, ln, RLo, Rc. RDela, RLamq, RDelq.
Extended parameters: Rvo, RPc, RHSC, Rmr, Rdc.

Waviness Analysis
Filter: Gaussian ISO 2CR, 2CR PC
Cut offs (Lf). 0.025mm to 8.0mm
Parameters: Wa, Wq, Wp, Wv, Wt, Wsk, Wku,
Wz, WLamq, WDelq, WS, WSm, WDela, ln, WLo, Wc.
Extended parameters: Wvo, WPc, WHSC, Wmr, Wdc.

Rk Analysis
Filter: Gaussian
Cut offs (Lc). 0.08mm to 8.0mm Bandwidths: 30:1, 100:1, 300:1 (depending on
cut off)
Parameters: Rk, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, A1, A2.

R&W Analysis

A and B cutoffs: ISO standard values from for

0.02/0.1mm to 0.5/2.5mm and user entered values up to A=5mm,
B=25mm.
Parameters: Pt, R, AR, Rx, W, AW, Wx,
Wte, SR, SAR, SW, SAW
 INSTRUMENT (M112/2936)
Traverse (measuring) length: 0.1mm to 50mm (0.004in to1.97in)
Run up distance required: 0.3mm (0.01in) max.
Straightness (using 1mm range conical diamond stylus):
Form best fit straight line: 0.3m over 50mm
(12in over1.97in)
0.2 over any 20mm (0.78in over
any0.78in).
Inclination best fit straight line: + 35 degrees
(Range referred to straightness datum)
Accuracy of slope measurement: within 3% of measured angle
(Ra less than 0.1 m)
Form best fit circular arc (P+V): 0.25m/9.5mm (10in/0.37in)
on calibration ball
Radius (min (1mm, max 1000mm): within 2% at 1mm,
0.04% at 12.5-28mm
0.2% at 1000mm.
Parameter measurement height: within 2% +6nm (peak
parameters only)
Measurement speed: 1.0mm/sec (0.039in/sec)
Auto return speed and set-up speed: Up to 10mm/sec (0.39in/sec)
nominal
Removable media: One PCMICA type II slot provided
for use with optional PC Card

INDUCTIVE GAUGE
Nominal Gauge Range: 1mm (0.039in) nominal
0.2mm (0.008in) nominal Gauge
Resolution: 16nm with 1mm range
(0.64in with 0.039in range)
3.2nm with 0.2mm range Stylus force:
0.7mN to 1mN
Stylus: 2m radius conisphere Gauge Body
Diameter: 25mm
Length: 70mm Weight approx.:
90g
DIMENSIONS AND WEIGHTS
Traverse unit length: 535mm retracted,
(incl stand. gauge and 60mm stylus) 585mm extended
Traverse unit depth: 116mm Traverse unit
height: 160mm
Processor Control Module length: 285mm
Processor Control Module depth: 200mm
Processor Control Module height: 80mm

Traverse Unit weight: 5.6kg (with batteries)

4.9kg (without batteries)
Processor Control Module weight: 1.9kg (with batteries)
1.5kg (without batteries)
POWER

Electrical supply: 110/220/240V 50/60Hz

Via low voltage adaptor supplied
Power consumption: 10VA (Traverse Unit)
18VA (Processor Control Module)
Batteries (optional): 6V NiMH rechargeable Charger (optional):
For three batteries, charge time
two hours
Battery life: two hours

CALIBRATION ARTEFACT
For use on 60mm long stylus arms: Precision Tungsten Carbide
ball nominally 25mm diameter

For use on 120mm long stylus arms: Ball nominally 44mm diameter

1mm Range Stylus Arms.

Nominal effective arm length: 60mm Actual arm length:

Standard Conical Diamond 112/2009

Range: 1mm (0.039in) Tip Radius:
1.5 - 2.5m
Stylus force over full range: 70-100mgf (0.7 - 1mN)
Enter 12mm bore to depth of: 12.7mm
Measurable depth of recess: 5mm

Recess Conical Diamond 112/2011

Range: 1mm (0.039in)

Tip Radius: 1.5 - 2.5m

Stylus force over full range: 70 - 100mgf (0.7 - 1mN)
Depth of recess measurable: 11mm

Small Bore Conical Diamond 112/2012

Range: 1mm (0.039in)
Tip Radius: 1.5 - 2.5m
Stylus force over full range: 70 - 100mgf (0.7 - 1mN)
The stylus will enter:
6.0mm bore to depth of: 12.5mm 2.0mm bore to
a depth of: 5mm 2.5mm bore to a
depth of: 11mm
1.4mm wide groove to depth of: 5mm
2.3mm wide groove to depth of: 11mm

3.0mm bore to depth of: 25mm

Chisel Edge Diamond Stylus Arm 112/2013

Range: 1mm (0.039in)

Chisel Edge Tip: 2.5m x 0.9m

Stylus force over full range: 70 - 100mgf (0.7 - 1mN)
The stylus will enter 12mm bore
to a depth of: 12.7mm

2mm Range Arm With Sapphire Ball Stylus (Cannot be used with a Guard Nosepiece).

Nominal effective arm length: 120mm Actual arm length:

Standard Ball Stylus 112/2010

Range: 2mm (0.078in)

Ball radius: 0.5mm ± 0.125m

Stylus force over full range: 1.5 - 2.0 gf (15 – 20N)
Measurable depth of recess: 11mm
 3.5 Metode de prelucrare a datelor
Pentru prelucrarea datelor experimentale, în urma prelucrării metalelor prin aşchiere, cel mai
frecvent se foloseşte metoda grafoanalitică, în care toate mărimile necunoscute din formulă se
determină pe cale grafica.
Prin metoda grafoanalitică, din datele experimentale primite se duc puncte, cu ajutorul cărora
se construieşte o curba care tinde la dependenţa reală a mărimilor cercetate.
La prelucrarea metalelor prin așchiere majoritatea dependențelor au character empiric:
R=𝐶𝑅 𝑡 𝑥 𝑆 𝑦 𝑣 𝑧 . (3.1)
Rezolvarea acestor tipuri de formule se împarte în rezolvarea formulelor de tipul:
R= 𝐶𝑡 𝑡 𝑥 , R=𝐶𝑆 𝑆 𝑦 , R=𝐶𝑣 𝑣 𝑧 . (3.2)
Logaritmînd această egalitate obținem: lgR=lg(𝐶𝑅 𝑡 𝑥 ) =˃ lgR = lg𝐶𝑅 +lg𝑡 𝑥 =˃lgR = lg𝐶𝑅 +xlgt ˂=˃ y
= Ax+B – ecuația unei linii drepte.
Există cîteva metode de construire a liniei drepte din datele experimentale dintre care vom
numi:
- construirea liniei eu ajutorul riglei;
- metoda punctelor pare;
- metoda pătratelor minime;
1. Prin construirea liniei cu ajutorul riglei se subînţelege trasarea aproximativă a unei linii
drepte prin punctele experimental definite pe graficul logaritmic. Linia se duce în aşa fel ca
aproximativ ariile incluse între punctele superioare şi linie şi punctele inferioare şi linie să fie
aproximativ egale.
2. Metoda punctelor pereche ne permite să aflăm cu o exactitate înaltă tangenta unghiului
format de linie şi direcţia pozitivă a axei OX. Iniţial se unesc printr-o linie primele 2 puncte, apoi se
măsoară tangenta unghiului primit dintre linie şi axa absciselor notîndu-se prin tg𝛼1 , apoi următoarele
ş.a.m.d. Ca unghi final α v-a constitui valoarea medie a unghiurilor primite. Linia medie se duce prin
valoarea medie a punctelor de pe axa X şi axa Y. Metoda ne oferă rezultate corecte în cazul cînd
mărimile (𝑋4-𝑋1),( 𝑋5 -𝑋2),( 𝑋6-𝑋3) ş.a.m.d. sunt aproximativ egale
3. Metoda pătratelor minime ne oferă rezultate corecte în cazul cînd intervalele dintre punctele
de pe axa OX sunt egale.
Construirea liniei se efectuează după următorii paşi (Fig.3.1):
- punctele 1 şi 2 se unesc printr-o dreaptă;
- de la 1 spre 2 pe dreaptă la distanţa de 2/3 din intervalul S se fixează un punct;
- unim acest punct cu punctul 3 şi la fel deplasîndu-ne spre punctul 3 pe o dreaptă fixăm iarăşi un
punct la distanţa de 2/3 S de la punctul precedent;
- repetăm aceeaşi paşi pînă cînd nu ajungem la ultimul, astfel găsind un punct din linia medie;
- pentru a găsi al 2 - lea punct folosim aceeaşi legitate, însă începem de la ultimul punct spre primul.
Prin două puncte putem construi o dreaptă care va fi linia medie a puntelor experimentale
[11,12,13,14,16].

Fig.3.1Graficul liniei medii duse prin metoda pătratelor minime.

Folosind graficul liniei medii duse prin metoda patratelor minime am primit urmatorii exponenti
pentru:
1. Dependenta parametrilor RA, RZ de avans:

S RA RZ
tgα 0,75 0,725

2. Dependenta parametrilor RA, RZ de viteza:

V RA RZ
tgα 0,025 0,25

3. Dependenta parametrilor RA, RZ de Unghiul ϕ :

ϕ RA RZ
tgα 0,6 0,56
4. Dependenta parametrilor RA, RZ de Unghiul ϕ1 :

ϕ1 RA RZ
tgα 0,47 0,38

Graficile liniei medii in coordonate logaritmice (Anexa 31-34).