Memorias del Congreso Internacional

de Investigación Academia Journals Morelia, Michoacán, México

Morelia 2018 © Academia Journals 2018 16 al 18 de mayo de 2018

ANÁLISIS DE LA VARIACIÓN DEL CAMPO MAGNÉTICO DE UN

DEFECTO SUPERFICIAL RECTAGULAR DE UNA PLACA
FERROMAGNÉTICA USANDO EL MÉTODO DE MEMORIA
MAGNETICA
J. Jesús Villegas Saucillo1, Tai Say Puon De la Cruz2, Oscar Luis Valerio Peña3,
José Javier Díaz-Carmona4, Carlos Arturo Cerón Álvarez5.

Resumen— Las pruebas no destructivas son importantes para monitorear defectos en placas ferromagnéticas en la
industria, en donde se necesitan pruebas confiables, de bajo costo y portátiles. En este trabajo se presenta el análisis de la
variación del campo magnético de un defecto superficial rectangular en una placa ferromagnética usando el método de
memoria magnética y considerando diferentes dimensiones del defecto (ancho de 500 µm y profundidades de 500µm,
1000µm, 1500µm y 2000µm). La respuesta de esta variación del campo magnético esta relacionada con el tamaño del
defecto. Este método de memoria magnética puede utilizarse para la detección de defectos superficiales en placas
ferromagnéticas.

Palabras clave— Pruebas no destructivas, defecto rectangular, placas ferromagnéticas, método de memoria magnética.

Introducción
El monitoreo de grietas superficiales en placas ferromagnéticas es necesario para supervisar el comportamiento de
las estructuras y controlar su seguridad y funcionamiento. Para esto, se emplean diferentes tipos de sensores en
combinación con sus sistemas de procesamiento y transmisión de señales. Estos sensores pueden utilizar el método
de memoria magnética (MMM) para detectar grietas e imperfecciones geométricas en estructuras ferromagnéticas.
Para esto, es necesario la utilización de modelos analíticos y numéricos que relacionen la distorsión del campo
magnético con el tipo de defecto geométrico en estructuras ferromagnéticas. Por lo tanto, presentamos el análisis de
la variación del campo magnético en función del tamaño de un defecto superficial rectangular en una placa
ferromagnética usando el método de memoria magnética.

Modelo analítico
En los últimos años, se han propuesto algunos modelos teóricos para explicar la relación entre los micro-defectos y
la señal de MMM en defectos geométricos. De esos modelos se analiza un artículo clásico correspondientes a un
defecto, rectangular. Los artículos presentan los fundamentos sobre la formulación de modelos analíticos de carga
magnética que se utilizarán para determinar la forma y dimensiones de los defectos.

A.- Modelo Analítico para Defecto Geométrico Rectangular.

El primer modelo analizado es reportado por Philip y colaboradores [1]. En este trabajo se considera un modelo de
un cuerpo rectangular en 2D con dimensiones de Ig de anchura y Yo en la profundidad. Este modelo incluye las
componentes tangencial (Hz) y normal (Hy) del campo magnético en un punto (y, z) del defecto rectangular. Así como
sus ecuaciones expresadas en (1) y (2). Sus superficies están magnetizadas perpendicularmente como se muestra en
la figura 1.

1
J. Jesús Villegas-Saucillo estudiante del Doctorado en Ciencias de la Ingeniería en el Instituto Tecnológico de Celaya.
jesus.villegas@itcelaya.edu.mx.
2
Tai Say Puon De la Cruz estudiante de la Maestría en Ingeniería Aplicada de la Universidad Veracruzana – Región Veracruz –
Boca del Río; Veracruz, taisayp@gmail.com.
3
Oscar Luis Valerio Peña candidato a doctor y obtuvo el grado de Maestría en Tecnologías de Información. Docente investigador
del Instituto Tecnológico Superior de Alvarado. olpenav@itsav.edu.mx.
4
Dr. José Javier Díaz-Carmona es Profesor Investigador del núcleo académico básico Sistemas de Adquisición y Procesamiento
de Señales del Instituto Tecnológico de Celaya, miembro del SNI nivel I, javier.diaz@itcelaya.edu.mx
5
Dr. Carlos Arturo Cerón Álvarez es Profesor de la Facultad de Ingeniería de la Universidad Veracruzana Región Veracruz –Boca
del Río. cceron@uv.mx .

ISSN 1946-5351 3747

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Fig. 1. Modelo del defecto geométrico rectangular en 2D.

Componente tangencial (Hz):

lg lg
x Yo x Yo
Hg 1
2 1
2
Hz tan tan (1)
2 2
lg lg
x y y Yo x y y Yo
2 2

Componente normal (Hy):

2
lg 2 lg
x y Yo x y2
Hg 2 2
Hy Ln 2 2
(2)
2 lg 2 lg
x y Yo x y2
2 2

donde Hg es el campo magnético aplicado dentro del defecto que se obtiene de la ecuación (3). Ha es el campo
magnético residual uniforme aplicado a la estructura ferromagnética y µ es la permeabilidad del material.

Yo
2 1
lg
Hg Ha (3)
1 2Yo
1
lg

Análisis de los resultados

En esta sección, nosotros presentamos los resultados y algunas discusiones de las señales obtenidas de la variación
del campo magnético del modelo analítico del defecto rectangular.

En el modelo analítico del defecto rectangular se consideraron las ecuaciones (1-3). Para realizar la simulación del
modelo analítico se utilizó el software Matlab con las siguientes condiciones:

x= corresponde a la distancia de escaneo que realiza en sensor sobre la placa.

y= distancia del sensor al placa.
Ha = Campo magnético residual.
µ = permeabilidad relativa del material.

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Las señales obtenidas de las componentes tangencial (Hz) y normal (Hy) del campo magnético de cada una de las
simulaciones del modelo analítico rectangular se normalizaron para facilitar el análisis cualitativo.

Las gráficas de la figura 2

corresponden a las componentes
tangenciales Hz/Hzmax de las
señales de la variación del
campo magnético,
donde podemos
observar que el campo máximo
se produce en el centro del
defecto rectangular.

Fig. 2. Distribución de la componente tangencial (Hz) de la variación del campo magnético alrededor del defecto rectangular.

Se puede ver en la figura 2, que la señal de la componente tangencial aumenta con la profundidad del defecto en
todas las secciones de los picos. Con la observación anterior, se realiza el siguiente el análisis de las señales, el defecto
con dimensiones de profundidad de 500µm tiene un 25% de variación de la profundidad, para el defecto con
dimensiones de profundidad de 1000µm tiene un 50% de variación de la profundidad y en el caso del defecto de
dimensiones de 1500µm de profundidad tiene un variación del 75% respecto a la defecto de dimensiones de 2000µm.
En general, el pico máximo,
está relacionado con la
profundidad, esto hace que se
observe un aumento
gradual con el aumento de la
profundidad, mientras que el
ancho, se sabe está
estrechamente relacionada con
el ancho del daño y esto
hace que aumente con el
aumento de la profundidad
[2].

La figura 3, corresponde las

componentes normales Hy/Hymax de las señales de la variación del campo magnético en donde el centro de la ranura
es cero y con respecto al centro del defecto hay dos picos en ambos lados que corresponden a un máximo y un mínimo.
Ambos lados corresponden a las paredes del defecto geométrico rectangular.

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Fig. 3. Distribución de la componente normal (Hy) de la variación del campo magnético alrededor del defecto rectangular.

Aplicaciones futuras
Realizar los defectos geométricos rectangulares con las dimensiones ya especificadas en placas ferromagnéticas.
Desarrollar un sistema experto para el análisis y monitoreo de grietas superficiales tipo rectangular en placas
ferromagnéticas usando el método de memoria magnética.
Desarrollar un sistema mecánico que permitirá cuantificar el defecto geométrico en placas ferromagnéticas sin
necesidad de un tratamiento especial de la muestra, solamente empleando la respuesta de los sensores magnéticos.

Conclusiones
Un análisis de la variación del campo magnético de un defecto superficial rectangular en una placa ferromagnética
usando el método de memoria magnética fue presentado. Se consideró un defecto rectangular con diferentes
dimensiones (ancho de 500 µm y profundidades de 500µm, 1000µm, 1500µm y 2000µm). Se observó que la amplitud
de la variación del campo magnético es incrementada con la profundidad del defecto rectangular. Con el método de
memoria magnética se puede monitorear defectos superficiales en placas ferromagnéticas.

Referencias
[1] Philip, J.; Rao, C.B.; Jayakumar, T.; Raj, B., A new optical technique for detection of defects in ferromagnetic materials and
components. NDT&E international 33 (2000) 289-295, DOI: 10.1016/S0963-8695(99)00052-3.

[2] Kim, J.M., Park, S., Magnetic flux leakage sensing and artificial neural network pattern recognition baaed automated damage detection and
quantification for wire rope, Sensors 2018, 18, 109; DOI:10.3390/s18010109.

Notas Biográficas
El M.C. J. Jesús Villegas-Saucillo estudió Ingeniería Electrónica así como la Maestría en Ciencias en Ingeniería en Electrónica en el Instituto
Tecnológico de Celaya, Actualmente es estudiante del Doctorado en Ciencias de la Ingeniería del Instituto Tecnológico de Celaya. Catedrático del
Departamento del Ciencias básicas del Instituto Tecnológico de Celaya. Ha publicado artículos en revistas indexadas y de divulgación científica.
Sus áreas de interés incluyen Pruebas No Destructivas (NDT), Método de Memoria Magnética (MMM), Monitoreo de Salud Estructural (SHM),
Ingeniería, matemática aplicada y computacional, y adquisición de datos.
El Ing. Tai Say Puon-De la Cruz estudió la Ingeniería en Electrónica y Comunicaciones de la Facultad de Ingeniería de la Universidad
Veracruzana y es estudiante de la Maestría en Ingeniería Aplicada de la Universidad Veracruzana – Región Veracruz – Boca del Río; Veracruz.
El M.T.I. Oscar Luis Peña-Valerio estudió Ingeniería en Sistemas Computacionales en el Instituto Tecnológico de Veracruz, la Maestría en
Tecnología de la Información en el Centro Universitario Hispano Mexicano y Candidato a Doctor en Sistemas Computacionales en la Universidad
Da Vinci. Actualmente, es docente e Investigador en el Instituto Tecnológico Superior de Alvarado. Ha publicado artículos en revistas indexadas
y arbitradas. Sus áreas de interés incluyen los sistemas expertos, TICs aplicada a la educación e Ingeniería de Software.

ISSN 1946-5351 3750

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El Dr. José Javier Díaz-Carmona estudio Ingeniería Electrónica en el Instituto Tecnológico de Celaya, así como la maestría y el doctorado
en el Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE), Puebla, México. Es profesor investigador de tiempo completo del Instituto
Tecnológico de Celaya del programa de Ingeniería Electrónica, Sistemas de Adquisición y Procesamiento de señales. Ha publicado artículos
científicos en revistas indexadas y es miembro del Sistema Nacional de Investigadores.
El Dr. Carlos Arturo Cerón-Álvarez estudió la Licenciatura en Sistemas Computacionales así como la Maestría en Redes y
Telecomunicaciones en la Universidad Cristóbal Colón y el Doctorado en Ingeniería de la Universidad Veracruzana. Actualmente es profesor de
la Facultad de Ingeniería Eléctrica y Electrónica de la Universidad Veracruzana Región Veracruz –Boca del Río. Ha publicado artículos científicos
en revistas indexadas. Sus áreas de interés incluyen pruebas no destructivas y adquisición de datos.

ISSN 1946-5351 3751

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