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INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS
DEL ESPECTRO ÓPTICO:
REALIZACIÓN DE UN PATRÓN
DE FRECUENCIAS
INTRODUCCIÓN AL ANÁLISIS
DEL ESPECTRO ÓPTICO:
REALIZACIÓN DE UN PATRÓN
DE FRECUENCIAS
Al Dr. D. Javier Gutiérrez Monreal, Director del Instituto de Fı́sica Aplicada y al Dr.
D. Antonio Corróns Rodrı́guez, Jefe del Departamento de Metrologı́a, por permitirme la
utilización de los laboratorios ası́ como del resto de áreas de servicio del Instituto.
A todos mis amigos y compañeros, tanto con los que empecé en la Universidad como
los que fui conociendo durante mi estancia en ella, Alberto, Ana, Arancha, Cristina, David,
Kike, Michel, Marcos, Ma José, Marı́a, Mónica, Pablo, Raquel, Sergio, Sira, Susana, y tantos
otros, por su respeto y amistad a lo largo del tiempo y que se ha ido fortaleciendo gracias a
todas las experiencias que he vivido con ellos.
A todos mis compañeros del CSIC, Alejandro, Ángeles, Juan Luis, Marı́a, Marisa, Miguel,
Vanesa, con los que he convivido durante el desarrollo de este trabajo, que me han ayudado
y soportado y con los que he compartido gratos momentos.
Finalmente y de manera muy especial, a mis padres y mi hermano, los cuales me han
apoyado y alentado siempre, ayudándome a superar los malos momentos y disfrutando con-
migo de los buenos. De ellos aprendo cada dı́a.
A todos, gracias.
Índice General
Introducción 1
i
2.3 Evaluación de las caracterı́sticas de transmisión de elementos pasivos . . . . 73
2.4 Analisis de señales DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
2.4.1 Principio básico de los sistemas ópticos de DWDM . . . . . . . . . . 75
2.4.2 La señal DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
2.4.3 Nuevos requisitos del equipo de prueba en DWDM . . . . . . . . . . 78
2.4.4 Análisis de sistemas de DWDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
2.4.5 Midiendo los parámetros ópticos del sistema de DWDM . . . . . . . . 78
ii
5.5.1 Primera Fase: Inicialización . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 161
5.5.2 Segunda Fase: Barrido Grueso . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 162
5.5.3 Tercera Fase: Barrido Fino . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
5.5.4 Cuarta Fase: Estabilidad Temporal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 168
5.6 Resultados y Análisis de datos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
5.6.1 Análisis de Barrido Fino . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
5.6.2 Análisis de la Estabilidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
5.7 Patrón de Frecuencias en Incertidumbres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
5.8 Aplicación a la calibración en longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Conclusiones 195
Bibliografı́a 197
PLANOS 227
PRESUPUESTO 231
iii
Lista de sı́mbolos, abreviaturas y siglas
Sı́mbolo Significado fı́sico Unidades
L Longitud m
I Corriente A
c Velocidad de la luz en el vacı́o m/s
k0 Constante de propagación de la onda en el vacı́o 1/m
k Factor de cobertura
n Índice de refracción
P Potencia óptica mW o dBm
α Coeficiente de atenuación dB/km
∆β Adaptación de fase en FWM 1/m
o
∆φ Diferencia de fase
λ Longitud de onda en el vacı́o nm
λ0 Longitud de onda de dispersión nula nm
νef f Grados de libertad efectivos
f Frecuencia Óptica Hz
B Ancho de banda Hz o m
iv
Abreviaturas y siglas
AM Amplitude Modulation, (modulación en amplitud)
APD Avalanche Photodiode, (fotodiodo de avalancha)
ASE Amplified Spontaneous Emission, (emisión espontánea amplificada)
IEC International Electrotechnical Commission
CSIC Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas
DFB Distributed Feedback Laser, (láser de realimentación distribuida)
DWDM Dense Wavelength-Division Multiplexing, (multiplexado denso por división en longitud
de onda)
EDFA Erbium-Doped Fiber Amplifier, (amplificador de fibra dopada con erbio)
FC/APC Fiber Connector/Angle Physical Contact, (conector de fibra/contacto fı́sico en angulo)
FC/PC Fiber Connector/Physical Contact, (conector de fibra/contacto fı́sico)
FM Frequency Modulation, (modulación en frecuencia)
FP Fabry-Perot
FWHM Full Width at Half Maximum, (anchura a media altura)
FWM Four-Wave Mixing, (mezcla de cuatro ondas)
GP-IB General Purpose Interface Bus, (interfaz de comunicaciones de propósito general)
IEEE Institute of Electrical and Electronics Engineering
IFA Instituto de Fı́sica Aplicada
IR Infrared Region, (región infrarroja)
LED Ligth-Emitting Diode, (diodo emisor de luz)
NIST National Institute of Standards and Technology
OSNR Optical Sigal-to-Noise-Ratio, (relación óptica señal/ruido)
PMD Polarization-Mode Dispersion, (dispersión del modo por polarización)
PS Phase-Shift,(desplazamiento de fase)
RF Radio-Frequency, (radio-frecuencia)
RMS Root-Mean-Square, raı́z cuadrática media
SNR Signal-to-Noise Ratio, (relación señal/ruido)
STD Standard Deviation, (desviación estándar)
v
TE Transversal Electric, (transversal eléctrico)
TEM Transversal Electromagnetic, (transversal electromagnético)
TM Transversal Magnetic, (transversal magnético)
WDM Wavelength-Division Multiplexing, (multiplexado por división en longitud de onda)
vi
Índice de tablas
4.1 Cambio de longitud de onda debido al ı́ndice de refracción entre vacı́o y aire 113
4.2 Lı́neas láser de referencia . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
4.3 Calibración de un OSA usando la lı́nea 633 del He-Ne . . . . . . . . . . . . . 118
4.4 Incertidumbres en la calibración de OSA MS9030A respecto a la lı́nea 633 del
He-Ne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
4.5 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg 122
4.6 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ar 123
4.7 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Kr 124
4.8 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ne 125
4.9 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg 126
4.10 Calibración en longitud de onda de un monocromador SPEX-1400 con una
lámpara de Kriptón . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
4.11 Cálculo de incertidumbres en la calibración en longitud de onda de un monocro-
mador SPEX-1400 con una lámpara de Kriptón . . . . . . . . . . . . . . . . 128
4.12 Longitudes de onda certificadas para la SRM 2517a . . . . . . . . . . . . . . 136
4.13 Calibración de un OSA(Q8384) con una fuente de banda ancha . . . . . . . . 138
4.14 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un OSA(Q8384) con una fuente
de banda ancha . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
13
4.15 Longitudes de onda de absorción de la banda ν2 + ν3 del C2 H2 . . . . . . . 140
13
4.16 Longitudes de onda de absorción de la banda 2 × ν3 del H 14 CN . . . . . . 141
4.17 Calibración de un analizador de canales usando un medidor de longitud de onda143
4.18 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un analizador de canales usando
un medidor de longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
vii
4.19 Combinaciones de longitudes de onda, λi y λj , ancladas en lı́neas de absorción
del acetileno que originarán un producto de FWM dentro del rango de 40 GHz
de una lı́nea de absorción del CO. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
viii
Índice de Figuras
ix
1.26 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares de diferente anchura . . . . . 36
1.27 Forma del filtro para un OSA que usa una fibra óptica como rendija de entrada 37
1.28 Curvas caracterı́sticas del fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
1.29 Corte transversal de un fotodiodo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 39
1.30 Responsividades relativas de fotodiodos de Si, Ge e InGaAs . . . . . . . . . . 39
1.31 Monocromador Simple . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
1.32 Monocromador Doble con etapas de filtrado en serie . . . . . . . . . . . . . . 41
1.33 Monocromador Doble con etapas de filtrado en paralelo . . . . . . . . . . . . 41
1.34 Monocromador de paso Doble . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
1.35 Monocromador de paso Cuádruple . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
1.36 Parámetros a considerar en la medida con un OSA . . . . . . . . . . . . . . 44
1.37 Cuatro componentes espectrales de un láser Fabry-Perot medidas cada una
con diferente resolución de rendija . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
1.38 Medida del rechazo al modo lateral de un láser DFB . . . . . . . . . . . . . . 47
1.39 Lı́mites tı́picos del rango dinámico para diferentes configuraciones de monocro-
madores . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
1.40 Atenuación espectral de la fibra y bandas de amplificación . . . . . . . . . . 49
1.41 ORR . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
1.42 Importancia del ORR para la correcta identificación de señales . . . . . . . . 51
1.43 Señal con una amplitud igual al nivel de sensibilidad . . . . . . . . . . . . . 52
1.44 Diseño de un OSA de red de difracción insensible a la polarización . . . . . . 55
1.45 Diagrama representativo del procesado de señal en un OSA . . . . . . . . . . 57
x
2.14 Degradación de la señal de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
2.15 Definición de planitud y deriva en un sistema de WDM . . . . . . . . . . . . 81
2.16 Obtención de OSNR en señales de WDM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
2.17 Factores que influyen en la incertidumbre de medida de la OSNR . . . . . . 83
4.1 Variación del ı́ndice del aire estándar con la longitud de onda . . . . . . . . . 113
4.2 Variación de la longitud de onda por cambio de temperatura en aire . . . . . 114
4.3 Variación de la longitud de onda por cambio de presión en aire . . . . . . . . 114
4.4 Espectro de emisión de una lámpara de Mercurio (Hg) entre 700 y 1700 nm . 120
4.5 Espectro de emisión de una lámpara de Argón (Ar) entre 700 y 1700 nm . . 120
4.6 Espectro de emisión de una lámpara de Kripton (Kr) entre 700 y 1700 nm . 121
4.7 Espectro de emisión de una lámpara de Neón (Ne) entre 700 y 1700 nm . . . 121
4.8 Espectro de emisión de una lámpara de Xenón (Xe) entre 700 y 1700 nm . . 122
4.9 Ajuste lineal de la desviación en longitud de onda . . . . . . . . . . . . . . . 128
4.10 Cavidad Fabry-Perot con diferentes multicapas . . . . . . . . . . . . . . . . . 129
4.11 Transmitancias para 100µm y 500µm de longitud de cavidad FP con diferentes
espesores de multicapa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
12
4.12 Lı́nea de absorción P4 (1527.441 nm) del acetileno C2 H2 para diferentes
presiones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
12
4.13 Espectro de absorción del acetileno C2 H2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135
xi
4.14 (a) Configuración cuando se usa el SRM con una fuente de banda ancha para
calibrar un analizador de espectros óptico. (b) Configuración cuando se usa el
SRM para calibrar una fuente sintonizable. Se puede calibrar un medidor de
longitud de onda usando un láser sitonizable con la configuración de la figura
(b) y midiendo las longitudes de onda con el medidor . . . . . . . . . . . . . 137
4.15 Montaje para la calibración de un OSA empleando un medidor de referencia 142
4.16 Mezcla de cuatro ondas no degenerada . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
xii
Introducción
1
para DWDM (multipexado denso por división de longitud de onda), incorporan dispositivos
activos, como láseres, filtros sintonizables, amplificadores, sistemas de ’add and drop’, detec-
tores, o dispositivos pasivos, como aisladores, multiplexadores y demultiplexadores, redes de
Bragg, que deben ser caracterizados en condiciones estáticas y dinámicas. En este contexto
el conocimiento exacto y preciso del espectro de emisión y la potencia de las fuentes láser
utilizadas es una medida clave en la caracterización de estos sistemas, y los analizadores de
espectro ópticos, los láseres sintonizables o los medidores de longitud de onda son instru-
mentos de vital importancia para la caracterización y mantenimiento de las redes de WDM
y DWDM.
Con el fin primordial de dar la más alta calidad en las comunicaciones, con el mı́nimo
coste, los sistemas de WDM aprovechan la banda completa de los amplificadores ópticos,
introduciendo el óptimo número de longitudes de onda que es posible transmitir por la
misma fibra. Sin embargo, estas longitudes de onda no deben interferir unas con otras,
deben espaciarse suficientemente de forma tal que se asegure que posibles ’driff’ o ’chirp’
que los láseres puedan sufrir, no produzcan interferencias con los canales vecinos. Para ello
es necesario que los niveles de potencia de los canales y su longitud de onda permanezcan
constantes y fijos, y es necesario optimizar las relaciones señal/ruido de las señales enviadas.
· En un sistema con una única longitud de onda, la longitud de onda absoluta de la fuente
y de los componentes asociados no son crı́ticos, sin embargo, en sistemas de WDM la
longitud de onda de emisión de los láseres debe ser medida con precisión de 0.01 nm,
y los estudios de su envejecimiento e inestabilidades deben realizarse con resoluciones
de 0.001 nm (¡1 pm!).
· Las pérdidas dependientes de la longitud de onda de los componentes adquieren ahora más
importancia. Los multiplexores de longitud de onda y los receptores deben rechazar las
señales de los canales adyacentes. Esto requiere exactitud y rango dinámico suficiente
en las medidas. ’Cross talk’ entre canales puede ser introducido por la generación de no
linealidades de la fibra, provocando, estos efectos no lineales, el transvase de potencia
de un canal a otro. Es necesario pues, el control de la potencia total enviada por la
fibra.
2
· La monitorización de la longitud de onda, potencia transmitida en cada canal, y relación
señal/ruido en la red de WDM es imprescindible para el mantenimiento de las mismas.
La localización de fallos en la red de WDM no puede hacerse ahora mediante una
simple monitorización de potencia entre puntos, sino que se debe tener conocimiento
de la longitud de onda que genera el problema.
En este contexto, los analizadores de espectros ópticos (OSA) y los modernos medidores
de múltiples longitudes de onda (MWM) o analizadores de canales (OCA) de WDM, como
instrumentos que asignan potencias ópticas a cada una de las longitudes de onda transmi-
tidas, toman un valor esencial en el diseño, instalación y mantenimiento de los modernos
sistemas de transmisión de información por fibra óptica. La medida de la longitud de onda
con analizadores ópticos, hasta el momento se realizaba con resoluciones de 0.1 nm y la
incertidumbre absoluta de los sistemas no era menor de 1 nm, tolerándose no linealidades
de 0.2 nm a lo largo de su escala de longitudes de onda. Los actuales sistemas de medida
espectral consiguen resoluciones de 0.01 nm o mejores y requieren reducir la incertidumbre
de su calibración a valores similares o superiores. Además de la medida de la longitud de
onda, los OSA y MWM se utilizan frecuentemente para la medida de la potencia óptica de
forma relativa o absoluta, por lo que la calibración de la escala de potencia y especialmente
la medida de su linealidad es otra importante demanda de mejora en las incertidumbres en
la calibración de estos equipos. La medida de la potencia y longitud de onda con el grado
de exactitud requerido, sólo puede realizarse con calibraciones sistemáticas y frecuentes de
los sistemas de medida, debido a que los OSA y MWM, comprenden partes mecánicas sus-
ceptibles de desajustes y de cambios por condiciones ambientales. Además, son necesarios
sistemas compactos y de sencilla aplicación para la calibración de la potencia y de la longitud
de onda en los entornos diversos de utilización de estos instrumentos.
De acuerdo con estas ideas, nos hemos planteado realizar el presente proyecto con los
objetivos siguientes:
3
La presente memoria, que recoge la labor realizada en este sentido, se ha estructurado
de la siguiente forma:
En el primer capı́tulo: ’El análisis de espectro óptico’ se describen los diferentes tipos
de analizadores de espectros ópticos (OSA) más comúnmente usados, como son los basados
en interferómetros tipo Michelson y tipo Fabry-Perot, y analizadores ópticos basados en
redes de difracción. En particular y de forma más extensa nos centraremos en la descripción
de las propiedades y funcionamiento de un OSA basado en red de difracción ya que éstos
son los de uso más extendido.
4
En el capı́tulo 5, ’Realización de un patrón de frecuencias’, se describe de forma
detallada la realización de un patrón de frecuencias para la calibración de analizadores de
espectros ópticos mediante la sintonı́a de un láser sobre un conjunto de lı́neas de absorción
conocidas del acetileno. En este capı́tulo se describe también el software implementado para
el ’anclaje’ del láser en las lı́neas de absorción, que se puede utilizar con otras células de
absorción. Estudiamos también la incertidumbre obtenida en la realización del patrón de
frecuencias y lo aplicamos a la calibración de medidores de longitud de onda.
Por último, bajo el epı́grafe ‘Conclusiones’, destacamos las conclusiones del trabajo y
los futuros desarrollos que pueden realizarse como continuidad del mismo.
5
6
Capı́tulo 1
Una de las propiedades fundamentales de la señal usada en comunicaciones por fibra óptica
es su contenido espectral. El contenido espectral de la señal entendido como la relación de
frecuencias ópticas transmitidas y su potencia absoluta o relativa lo obtenemos usando los
analizadores de espectros ópticos.
Los analizadores de espectros ópticos (OSA) consisten en esencia en un filtro paso banda
sintonizable y un medidor de potencia. Mediante el filtro sintonizable se seleccionan las
diferentes frecuencias ópticas (longitudes de onda) y con el medidor se evalúa la potencia de
cada una de ellas. Tı́picamente los OSA usan como filtro sintonizable una red de difracción
que rota sobre su eje para seleccionar la zona del espectro a medir, no obstante en los
actuales OSA otros sistemas diferentes de filtrado de luz, como los interferómetros se están
implementando.
El propósito de este capı́tulo es revisar los diferentes tipos de OSA comúnmente usados
en el análisis espectral óptico: OSA basado en interferómetros tipo Michelson y tipo Fabry-
Perot, y analizadores ópticos basados en redes de difracción. En particular y de forma más
extensa nos centraremos en la descripción de las propiedades y funcionamiento de un OSA
basado en red de difracción ya que éstos son los más comúnmente usados.
7
del espectro de una fuente de luz es un parámetro importante en sistemas de comunicación
por fibra óptica porque puede limitar las capacidades del propio sistema. Por ejemplo,
la dispersión cromática (CD) que tiene lugar en la fibra, unido al ancho espectral de la
fuente, puede limitar el ancho de banda de modulación del sistema y por consiguiente su
capacidad de transmitir información. El efecto de la dispersión cromática puede verse en el
dominio del tiempo como un pulso que ensancha la forma de onda de la señal digital. Ya
que la CD es función del ancho espectral de la fuente de luz, para sistemas de comunicación
de alta velocidad se requieren fuentes de luz espectralmente estrechas. En estos sistemas,
el conocimiento del espectro de emisión de la fuente es vital en el diseño del sistema de
comunicación.
La figura 1.1 muestra el espectro medido a un láser de cavidad Fabry-Perot (FP). Un láser
FP no es púramente monocromático (lo veremos con más detalle en el capı́tulo 2) y consiste
en una serie de modos longitudinales (longitudes de onda) uniformemente espaciadas con un
perfil de amplitud determinado por las caracterı́sticas del medio de amplificación del láser,
en este caso la cavidad Fabry-Perot. En el estudio de un diodo laser de cavidad FP se debe
conocer para caracterizarlo el espaciamiento entre modos y su distribución de potencia, la
longitud de onda media de emisión y su ancho espectral, que definirán las propiedades de
8
coherencia del láser.
De forma general los analizadores de espectro óptico pueden dividirse en las siguientes
categorı́as:
. Analizadores interferométricos:
Estos son los OSA más comúnmente usados y emplean como filtro óptico sintonizable
una red de difracción. El conjunto de rendija de entrada, espejo y red de difracción o prisma
óptico que rota, forman un monocromador que actúa como filtro óptico sintonizable. De los
diferentes tipos de monocromadores, los basados en prismas no se suelen utilizar en sistemas
de fibra óptica, ya que su poder dispersivo en el infrarrojo es pequeño y no pueden obtenerse
filtros de alta resolución con ellos. Por ello en fibra óptica se utilizan de forma general redes
de difracción. Los OSA de red de difracción pueden medir el espectro tanto de láseres como
de fuentes LED. Su resolución espectral es variable, siendo valores tı́picos los comprendidos
entre 0.1 y 5 nm, y depende del tamaño fı́sico de la rendija y del poder de difracción de la
red.
9
Analizadores basados en interferómetros Michelson:
En los siguientes apartados vamos a describir brevemente cada uno de estos tipos de
analizadores de espectro óptico, fijándonos en la forma que usan para la medida del espectro
óptico. Nos detendremos con mayor profundidad en la descripción del analizador de espectros
óptico basado en red de difracción por ser el más utilizado.
10
Figura 1.2 Diagrama Básico de un OSA.
11
Figura 1.3 Esquema de un interferómetro Michelson.
se desplaza el espejo móvil, siendo luego reunidos con el BS para producir la interferencia.
La señal de interferencia es detectada por un fotodiodo y posteriormente la forma de onda
de la señal sintetizada se somete a la transformada de Fourier para obtener el espectro de
potencia. Con este sistema se puede medir de forma muy precisa la longitud de onda gracias
a que se puede obtener una gran resolución haciendo más largo el brazo del interferómetro.
Si los espejos estuviesen situados a la misma distancia del divisor de haz, despreciando
las diferencias debidas al espesor del espejo, los haces se recombinarı́an en fase, y no se
obtendrı́a interferencia. Si se alejan los espejos, las diferencias de camino óptico producirán
franjas de interferencia (interferencias constructivas o destructivas), que dependerán tanto
de la distancia entre los espejos como de la longitud de onda de la radiación utilizada.
A través del análisis del conjunto de franjas obtenido (interferograma), puede obtenerse
la longitud de onda. El interferograma se puede estudiar desde dos puntos de vista, por un
lado, conocida la longitud de onda del láser que produce el sistema de franjas interferenciales,
puede conocerse el retardo entre ambos brazos o la diferencia de longitud fı́sica de ambos
brazos (un Michelson trabajando de esta manera se usa en medidas de longitudes fı́sicas o
por ejemplo en la medida de la dispersión cromática y dispersión del modo por polarización
(PMD) de una fibra). Por otra parte, cuando se desconoce la longitud de onda de la fuente
12
que produce el sistema de franjas de interferencia, el número de franjas producidas por la
diferencia de camino conocida nos determina la longitud de onda de la luz incidente. Ası́
funciona un Michelson como medidor de longitud de onda.
La luz reflejada por los dos espejos que interfiere se combina sobre el detector. Para
que se produzca interferencia, la luz que proviene de ambos brazos debe superponerse en el
espacio y tener la misma polarización. La forma de la corriente en el fotodetector será:
2π∆L
I(∆L) = 1 + cos( )+φ (1.1)
λ
donde:
I es la corriente del detector.
∆L es la diferencia en longitud entre los brazos del interferómetro.
λ es la longitud de onda de la luz monocromática incidente.
φ es la diferencia de fase residual del interferómetro en ZPD.
Como se puede apreciar en la figura 1.3, ∆L es dos veces el movimiento de los espejos.
Si la diferencia de longitud (∆L), es un múltiplo entero de la longitud de onda de la luz en
el medio del interferómetro, la interferencia es constructiva.
13
Figura 1.4 Interferograma para un láser monocromático a 1550 nm
14
Figura 1.6 Interferograma de un LED centrado a 1550 nm
15
Para el caso de un LED, la corriente que recoge el fotodetector tiene la forma funcional:
π 4∆L∆λ 2 2π∆L
I(∆L) = 1 + exp[− √ ( 2 2
) ] cos( ) (1.2)
4 2 λ − ∆λ λ
para un LED de forma gaussiana siendo ∆λ el ancho del LED a mitad de altura.
Estas figuras demuestran que un interferómetro de Michelson puede distinguir entre una
fuente de espectro estrecho y otra de espectro ancho.
siendo:
λr la longitud de onda de referencia.
Nr el número de franjas de interferencia para la λr .
Nµ un número de franjas de interferencia para la λ desconocida.
nr el ı́ndice de refracción de la λr .
nµ el ı́ndice de refracción de la λ desconocida.
Para usar esta expresión se necesita una medida del ı́ndice de refracción del medio del
interferómetro.
- Ambos láseres deben recorrer el mismo camino pero en direcciones opuestas. Es decir el
alineamiento es crı́tico.
16
Figura 1.8 Michelson como medidor de longitud de onda
17
- La relación de ı́ndices de refracción entre las longitudes de onda del láser de referencia y
del que se mide debe conocerse muy bien. No es necesario el conocimiento del ı́ndice
de refracción absoluto pero sı́ su relación, en este caso el conocimiento de la dispersión
del medio es crı́tico.
Este interferograma, simulado, no muestra periodos regulares y parte del mismo puede
tener potencias bajas. En este caso los contadores de franjas pueden tener problemas para
calcular la λ de forma precisa, si bien se puede obtener el espectro de la fuente mediante la
transformada de Fourier como se muestra en la figura 1.11.
18
Figura 1.11 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas.
en la figura 1.12, donde las señales desconocidas de la figura 1.11 se representan ahora
relacionadas con la señal de referencia del He-Ne.
1
σmax = (m) (1.4)
2σi,i+1
1
σsep = (1.5)
σtot
19
Figura 1.12 Transformada de Fourier del interferograma de tres señales desconocidas y una de
referencia.
20
Figura 1.13 Interferómetro de Fabry-Perot.
por la otra capa reflectora atravesando nuevamente la cavidad, ası́ el rayo luminoso incidente
sufre, al entrar en la cavidad, múltiples reflexiones. Las señales reflejadas interfieren con la
señal incidente, en este caso éstas poseen una longitud de onda que será un múltiplo entero
de la señal sufriendo una interferencia constructiva y siendo transmitida fuera de la cavidad,
en caso contrario la interferencia es destructiva y la señal es atenuada.
iλ
L= (1.6)
2n
donde:
i es un número entero (i=1,2,3,...).
λ es la longitud de onda de la señal incidente.
n es el ı́ndice de refracción del medio comprendido entre los dos espejos (etalón).
Vamos a analizar qué ocurre con estas múltiples reflexiones representadas en la figura
1.13. Para simplificar, se asumirá que todos los rayos son perpendiculares a las superficies
21
de los espejos.
siendo:
t = t i to
βL = 2πnL/λvac = 2πnLf/c
exp(-jβL) = cos(βL) - jsin(βL)
λvac la longitud de onda del vacı́o
L la longitud de la cavidad resonadora
n el ı́ndice de refracción de la cavidad resonadora
f la frecuencia óptica
c la velocidad de la luz en el vacı́o (3×108 m/s)
El campo eléctrico parcial T2 resulta de dos reflexiones más (ri2 ) y un retraso de fase
adicional (-2βL) debido a dos veces la longitud del resonador.
con: r=ri2
Ahora la suma de todos los campos parciales se realiza fácilmente. El campo eléctrico
total transmitido T es:
T = T 1 + T2 + T3 + · · · =
= tE0 exp(−jβL)[(1 + r exp(−j2βL) + r 2 exp(−j4βL) + · · · (1.9)
exp(−jβL)
T = tE0 (1.10)
[1 − r exp(−j2βL)]
Los detectores ópticos responden a la densidad de potencia (irradiancia, W/m 2 ), no
al campo eléctrico. Las irradiancias pueden ser calculadas usando:
EE ∗
H= (1.11)
2Z0
22
donde:
E es la amplitud de campo eléctrico
E ∗ es el complejo conjugado de E
Z0 es la impedancia caracterı́stica del aire (377 Ω).
(1 − r)2
Ht = H 0 TRANSMISIÓN (1.12)
(1 − r)2 + 4r sin2 (βL)
4r sin 2βL
Hr = H 0 REFLEXIÓN (1.13)
(1 − r)2 + 4r sin2 (βL)
con:
r = (n-1/n+1)2 (reflectividad)
H0 = E0 2 /2Z0 (densidad de potencia incidente)
r = r i 2 = r0 2 (coeficiente de reflexión de potencia).
(1 − r)2
Ht = H 0 TRANSMISIÓN (1.14)
(1 − r)2 + 4r sin2 ( 2πnL cos ϕ
λvac
)
De las ecuaciones anteriores se deduce que pueden controlarse las caracterı́sticas del
Fabry-Perot cambiando r, n, L o el ángulo de incidencia de la luz ϕ respecto de la normal
a la superficie del FP, tal y como puede verse en los gráficos de las figuras 1.14, 1.15, 1.16 y
1.17.
Una de las caracterı́sticas más notorias del Fabry-Perot es la banda de repetición que
concuerda con las frecuencias de resonancia. Es obvio el comportamiento resonante, tanto
de la potencia transmitida como de la reflejada. Con independencia de la reflectividad (r)
del espejo utilizado, siempre que se cumpla sin(βL) = 0, la potencia transmitida será del
100% y la reflejada será 0. La comprensión fı́sica de esta situación puede ser clarificante:
en resonancia, el campo eléctrico dentro del resonador es mucho más fuerte que el campo
23
Figura 1.14 Transmitancia de una cavidad FP para diferentes reflectancias.
incidente. A pesar de la alta reflectividad del espejo A, el campo eléctrico que lo atraviesa
en sentido contrario es suficientemente fuerte y está desfasado lo necesario como para crear
un interferencia destructiva con el campo que directamente se refleja en el espejo A.
mc
fm = (1.16)
2Ln cos θ
m es un no entero.
n es el ı́ndice de refracción de la cavidad resonante.
Más interesante que la frecuencia de resonancia absoluta es el espaciado entre dos fre-
cuencias de resonancia próximas, llamado espaciado modal o rango espectral libre FSR (Free
Spectral Range) que es el rango óptico existente entre una frecuencia dada y su múltiplo.
De la ecuación anterior podemos obtener:
24
Figura 1.15 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ı́ndice de refracción.
c
F SR(f ) =
2nL cos θ
λ2 cos θ
F SR(λ) = (1.17)
2nL
Dentro del FSR se pueden colocar otras longitudes de onda y consecuentemente otros
canales. El número máximo de canales, sin tener problemas de diafonı́a, en función del rango
espectral libre se puede expresar como:
F SR
N= (1.18)
∆λ
donde N es el número de canales y ∆λ es el ancho espectral de cada canal.
25
Figura 1.16 Transmitancia de una cavidad FP para cambios de la longitud L del medio.
nm. El ancho de banda, B, de las curvas de resonancia se define normalmente como el ancho
total a la mitad del máximo (FWHM, Full Witch at Half Maximum), es decir, a 3 dB del
máximo, independientemente del mı́nimo actual. Con esta definición, el ancho de banda es:
1−r c
B(F W HM ) = √ [Hz] (1.19)
r 2πnL
Relacionando el ancho de banda con el rango espectral libre se obtiene la finesse F, que
expresa la agudeza del filtro con relación al periodo de repetición:
√
F SR r
F = =π [adimensional] (1.20)
B 1−r
Considerando que los espejos poseen caras perfectamente paralelas y libre de defectos y
que sus reflectividades son constantes en el etalón para el rango óptico de interés, se tiene
que la función de transferencia de potencia del filtro FP en función de la frecuencia de la
señal está dada por:
2 (f − fc ) −1
Tf p (f ) = [1 + (F )2 sin2 (π )] (1.21)
π F SR
donde fc es la frecuencia a la cual está ajustado el filtro.
26
Figura 1.17 Transmitancia de una cavidad FP para cambios del ángulo de incidencia de la luz.
De la ecuación 1.21 y de la figura 1.18 se puede ver que la función de transferencia del
filtro FP es una función periódica centrada en fc y con periodicidad dada por su FSR.
27
Figura 1.18 Función de transferencia de un FP.
28
Figura 1.19 Diagrama de Bloque de un OSA basado en red de difracción.
pero sin detectarla, es decir, el sistema óptico de entrada y salida y la red de difrac-
ción, mientras que un espectrómetro incluye un sistema de registro o detector que
registra la composición espectral de la luz. El monocromador, por tanto, actúa como
un filtro sintonizable. En las siguientes secciones describiremos cada una de las partes
que intervienen en el monocromador, que se aplica en un OSA, y describiremos muy
someramente el detector, ya que su estudio exclusivo no es el objeto de este trabajo.
29
También se controla la temporización de la medición (conversión A/D) a través de una
señal de entrada externa. Además existe una EEPROM que almacena los datos de la
calibración (offset de longitud de onda, nivel de offset, responsividad del detector a
cada longitud de onda, etc) de cada monocromador.
30
- de alta reflectividad (si el diseño se basa en espejos) o alta transmitancia (para el
caso de lentes).
31
perturbaciones periódicas (lı́neas) que forman la red. Cada una de estas lı́neas difracta la
luz en ángulos que dependen de la longitud de onda. Para una longitud de onda dada, cada
una de estas lı́neas enviará la luz en un ángulo tal que todas las ondas tendrán la misma fase
añadiéndose constructivamente en una onda plana. Esta luz sale en un ángulo especı́fico.
La relación entre la luz incidente en la red de difracción y la luz refractada se puede ver
en la figura siguiente 1.21:
donde:
λ es la longitud de onda de la luz.
d es el espaciamiento entre lı́neas (d=1/ρ; ρ: densidad de lı́neas).
α es el ángulo de incidencia.
β es el ángulo de difracción.
m es un entero que define el orden de difracción del espectro.
Res = W mr (1.23)
32
donde:
Res es la resolución en longitud de onda.
W es el ancho de la red de difracción [m]
m es un entero que representa el orden de difracción
r es la densidad lineal de ranuras [/mm].
Para el ”rayo de segundo orden”(m=2), la diferencia entre las longitudes de camino para
lı́neas adyacentes es igual a dos longitudes de onda, para el ”rayo de tercer orden”es igual a
tres longitudes de onda, y ası́ sucesivamente.
33
Los analizadores de espectro óptico utilizan rayos de múltiples órdenes para cubrir todo
el intervalo de longitudes de onda con una estrecha resolución.
En la figura 1.23 se puede ver cómo opera una analizador basado en red de difracción.
La luz pasa a través de la abertura hacia el fotodetector. Rotando la red de difracción, se va
realizando el barrido en longitud de onda, al permitir el paso de la luz difractada (la longitud
de onda depende de la posición de la red de difracción) a través de la abertura (rendija de
salida).
Para obtener una buena precisión en longitud de onda con el monocromador es necesario
controlar con exactitud y sin ningún error el ángulo de rotación de la red de difracción además
de establecer un patrón de longitud de onda estable. La red de difracción se controla con un
motor y un circuito de control angular que hace uso de un encoder. La red de difracción debe
ser controlada con una resolución del orden de la millonésima de rotación. Debido a que el
monocromador convencional tiene un lı́mite en la resolución angular para realizar medidas
con el encoder, se añade al motor un mecanismo reductor de valor 1/300 para obtener la
resolución adecuada. Sin embargo, el mecanismo reductor introduce un error que aparece
como un error en longitud de onda durante el barrido. Para resolver este problema se puede
adoptar un sistema de control directo que elimina el mecanismo de reducción, utilizando un
encoder con alta resolución para obtener una gran precisión en el control, y multiplicando
la señal 1024 veces. Este método rota directamente la red de difracción con una precisión
de una vuelta dividida por 8.4 millones aproximadamente. El error del encoder puede ser
34
mejorado usando técnicas de corrección por software que permiten una excelente linealidad
en longitud de onda (± 10 pm en el rango de los 1530 a 1570 nm). Este proceso de mejora
de resolución y linealidad de los modernos analizadores de espectro se muestra en la figura
1.24.
35
1.4.6 La rendija de salida
Figura 1.25 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares iguales.
Cuando las rendijas se desalinean o son de diferente anchura, la forma del filtro óptico
se puede ver en la figura 1.26. Los desalineamientos de las ópticas, provocan que las rampas
Figura 1.26 Forma del filtro para dos rendijas rectangulares de diferente anchura.
En el caso del OSA de fibra óptica, la rendija de entrada es puntual de ancho 10 µm,
mientras que la de salida es un rectángulo con ancho mayor, en este caso la forma del filtro
óptico será como la que se muestra en la figura 1.27.
1.4.7 El detector
36
Figura 1.27 Forma del filtro para un OSA que usa una fibra óptica como rendija de entrada.
En el caso del analizador de fibra óptica, el fotodetector que se utiliza es un fotodiodo. Los
fotodiodos son diodos de unión PN cuyas caracterı́sticas eléctricas dependen de la cantidad
de luz que incide sobre la unión.
S = dI/dW = K
37
Figura 1.28 Curvas caracterı́sticas del fotodiodo.
El modelo del fotodiodo en inversa está formado por un generador de intensidad cuyo
valor depende de la cantidad de luz. En directa, el fotodiodo se comporta como un diodo
normal. Si está fabricado en silicio, la tensión que cae en el dispositivo será aproximadamente
0,7 V. Este comportamiento se ilustra en la figura 1.28
Los fotodiodos son más rápidos que otros fotodetectores, es decir, tienen un tiempo de
respuesta menor, sin embargo, sólo pueden conducir en una polarización directa corrientes
relativamente pequeñas.
38
Figura 1.29 Corte transversal de un fotodiodo.
39
lo que dependiendo del número de veces que se haga pasar la señal óptica por un filtro,
mejores serán las propiedades a costa de un mayor tamaño.
En este caso se usa una única red de difracción para separar las diferentes longitudes de
onda de la luz. En la figura 1.31 se puede ver el esquema de este tipo de monocromador.
Con esta configuración se aumenta la selectividad y el rango dinámico, ası́ como el ORR
(Optical Rejection Ratio, que se describirá en el apartado 1.4.9.7 con un valor de alrededor
de 10 dB, sin embargo el tamaño es mayor y también el coste. A causa de su tamaño se hace
difı́cil su transporte y, por tanto, su utilización en campo. Además, debido a las limitaciones
40
Figura 1.32 Monocromador Doble con etapas de filtrado en serie.
Con objeto de reducir la longitud del monocromador doble pero manteniendo las carac-
terı́sticas ópticas del mismo, se puede optar por una configuración en paralelo en la que las
etapas de filtrado se colocan una sobre la otra, tal y como se puede ver en la figura 1.33.
41
1.4.8.3 Monocromador de paso Doble
En esta configuración, se parte de un monocromador simple (un único filtro) por el cual se
hace pasar la señal óptica que después atraviesa una ranura intermedia retornando al filtro
anterior para una segunda etapa de filtrado. Se mantiene, por tanto, un único filtro pero se
realizan dos etapas de filtrado.
Este monocromador tiene la ventaja del rango dinámico y del ORR del monocromador
doble y la sensibilidad del monocromador simple, además se mejora la selectividad y se
aumenta la resolución. El primer paso a través del monocromador de paso doble es similar
al del monocromador simple. En la figura 1.34 se muestra un diseño de este tipo en el que
el rayo (1) es colimado y después dispersado mediante la red de difracción. El resultado es
una distribución espacial de la luz, basada en la longitud de onda. La red de difracción se
posiciona de manera que la longitud de onda deseada (2) pase a través de la rendija. El ancho
de la rendija determina el ancho de banda de longitudes de onda cuyo paso se permitirá hacia
el detector. Las rendijas que pueden usarse proporcionan anchos de banda de resolución de
0.08 nm y 0.1 nm a 10 nm respectivamente. En un instrumento con un monocromador simple,
la señal filtrada será detectada con un gran fotodetector situado detrás de la abertura. Sin
embargo, en un monocromador de paso doble como el mostrado en la figura, la luz filtrada
(3) se envı́a por segunda vez al colimador y a la red de difracción. Durante este segundo
paso por el monocromador, el proceso de dispersión se invierte, se crea una réplica exacta
de la señal de entrada, filtrada por la abertura. La pequeña imagen resultante (4) permite
42
que la luz sea concentrada dentro de una fibra que la transportará al detector. Esta fibra
actúa como una segunda rendija en el sistema. La implementación de este segundo paso
da como resultado la alta sensibilidad del monocromador simple, el alto rango dinámico del
monocromador doble, el doble de resolución del monocromador simple. Si se utiliza una
lámina de media onda además, el sistema será independiente de la polarización de la luz
incidente.
En esta figura 1.36 se muestran algunos de los parámetros más importantes que se deben
considerar en la medida con un analizador de espectros óptico. A continuación se pasa a
analizar cada uno de ellos.
43
Figura 1.36 Parámetros a considerar en la medida con un OSA.
1.4.9.1 Sintonización
Es la exactitud con la que un analizador de espectro óptico puede ser resintonizado a una
longitud de onda dada después de un cambio de sintonización.
44
La repetibilidad y reproducibilidad en longitud de onda son controlados y medidos me-
diante la calibración del analizador en longitud de onda.
1.4.9.4 Resolución
Figura 1.37 Cuatro componentes espectrales de un láser Fabry-Perot medidas cada una con
diferente resolución de rendija.
45
con cuatro resoluciones diferentes. En cada caso el ancho espectral real es mucho menor que
la resolución de ancho de banda. Como resultado, cada respuesta muestra la forma del filtro
de resolución del analizador. El principal componente del filtro es la rendija. El ancho fı́sico
del haz de luz en la abertura es función del tamaño de la señal de entrada. Si el ancho fı́sico
del haz de luz en la abertura es estrecho comparado con la abertura misma, la respuesta
tendrá una parte superior plana. Esto ocurre mientras el rayo de luz es barrido a través de la
rendija. Los filtros de resolución de ancho de banda más estrechos dan como resultado una
respuesta con una parte superior más redondeada porque el tamaño de la señal en la rendija
es similar al tamaño de la propia rendija. Cada respuesta en la pantalla es la convolución
de la rendija con la señal óptica.
El analizador con mejor resolución en ancho de banda es aquel que tenga el filtro óptico
más estrecho, en muchos casos se adopta una configuración en doble paso, o más, con una
red de difracción de alta calidad para conseguir mejores resoluciones. Una resolución de
alrededor de 0.05 nm garantizará un buen ORR y mejorará los resultados del OSA cuando
mida el OSNR (Optical Signal to Noise Ratio) entre canales cercanos. El OSA será capaz de
analizar sistemas DWDM con un espaciado entre canales de 50 GHz (0.4 nm) o menos. La
forma del filtro óptico ideal tendrá unos cambios de pendiente laterales muy pronunciados,
casi cuadrados. La forma del filtro es importante cuando se mide la relación de rechazo al
modo lateral (side-mode suppression ratio, SMSR) en láseres DFB o el OSNR entre canales
de alta potencia poco espaciados. El mejor filtro será aquel que tenga la forma más cuadrada.
Para varios tipos de medidas, las diversas componentes espectrales a medir no son de
igual amplitud. Un ejemplo es la medida del rechazo al modo lateral (SMSR) de un láser
DFB, como se muestra en la figura 1.38.
En este caso, el ancho del filtro no es lo único importante. La forma del filtro (desde
el punto de vista del rango dinámico) también es importante. La ventaja de los monocro-
madores dobles sobre los simples es que, en los primeros, las ramas laterales del filtro son
mucho más abruptas y permiten un mayor rango dinámico para la medida de una pequeña
componente espectral localizada muy próxima a una componente espectral más grande. El
monocromador de doble paso tiene las mismas ventajas desde el punto de vista del rango
dinámico que el monocromador doble. El rango dinámico se suele especificar con un offset
de 0.5 nm y 1.0 nm respecto de la respuesta fundamental. El especificar el rango dinámico
para estos offsets se deriva del espaciado entre modos de los lasers DFB tı́picos. Una es-
46
Figura 1.38 Medida del rechazo al modo lateral de un láser DFB.
pecificación en rango dinámico de -60 dB a 1.0 nm indica que la respuesta del analizador de
espectros óptico ante una señal puramente monocromática será -60 dB para offsets de 1.0
nm y mayores. Además, respecto del factor de forma del filtro, esta especificación es una
indicación del nivel de luz perdido y del nivel de respuestas espúreas dentro del analizador.
En la figura 1.39 se muestran los lı́mites tı́picos del rango dinámico de monocromadores
simples, dobles y de doble paso. Estos lı́mites están superpuestos sobre la representación del
espectro de un láser medido con un monocromador de doble paso.
Gracias a su mayor rango dinámico, los monocromadores dobles y de doble paso pueden
ser usados para medir relaciones de rechazo al modo lateral mucho mayores que las medidas
por los monocromadores simples.
47
Figura 1.39 Lı́mites tı́picos del rango dinámico para diferentes configuraciones de monocro-
madores.
Ası́ como los enlaces punto a punto de DWDM cada vez se hacen más largos, para que la
señal llegue a distancias más lejanas se emplean potencias más altas en los puntos de emisión.
Por otro lado, debido a las sucesivas pérdidas a lo largo de la lı́nea en los trayectos largos, el
pico de potencia de la señal al final del enlace es muy débil. Debido a esto se hace necesario,
dependiendo de dónde se evalúe el sistema DWDM, poder medir tanto potencias fuertes
como débiles. También es necesario medir pequeñas potencias cuando se intenta localizar
posibles fallos de funcionamiento en los componentes del sistema. Durante el proceso, el
punto de análisis debe extraer sólo una pequeña parte de la potencia total.
La capacidad necesaria para medir las pérdidas de inserción de los acopladores, filtros,
multiplexores/demultiplexores, etc exige una sensibilidad de baja potencia. Un OSA con un
amplio rango dinámico añade versatilidad, ya que puede ser usado para el análisis, tanto
en el sistema como en los componentes. Mientras la tecnologı́a WDM se extiende por redes
subterráneas y llegan nuevas redes ópticas, el número de componentes ópticos instalados
está en aumento. Esto se traduce en un aumento de la necesidad de evaluaciones detalladas
de componentes fuera de la planta de fabricación y de los laboratorios de investigación.
48
1.4.9.6 Intervalo de longitudes de onda
Un analizador que pueda realizar análisis en estas tres bandas será un instrumento muy
versátil constituyendo una herramienta de futuro, porque será capaz de realizar evaluaciones
49
bajo todos los posibles escenarios de funcionamiento del sistema. Incluso si el usuario decide
extender su sistema WDM a regiones de transporte subterráneo, un OSA con un rango
comprendido entre 1250 y 1650 nm estará listo para ello. Más aún, todas las longitudes de
onda de supervisión (OSC) situadas a las longitudes de onda de 1510 nm, 1625 nm y 1490
nm pueden ser también evaluadas.
El ORR, por tanto, es una especificación crucial cuando se analizan sistemas DWDM.
Cuando los canales estén muy próximos, el ORR determinará cuan fácilmente puede el OSA
distinguir cada canal y medir el ruido entre canales. Un nı́tido ruido entre canales asegura
una medición precisa del OSNR.
En figura 1.41 se comparan dos trazas OSA mientras se mide la misma señal. La traza
superior pertenece a un OSA con un pobre ORR, mientras que la traza inferior corresponde
a un OSA con un ORR mejor. Cuando numerosos canales están muy poco espaciados (por
ejemplo: 50 GHz), la importancia de un buen ORR se hace más obvia.
En la figura 1.42, se muestra que la limitación del ORR de la traza superior está ocul-
tando la mayor parte de los detalles espectrales del perfil de la señal DWDM. La principal
preocupación para el usuario de un OSA es tener una representación clara del perfil espectral
real. Si el ORR del aparato no es mayor que la relación óptica señal-ruido (OSNR), lo que
obtendrá el usuario será una traza mostrando la limitación de su unidad en vez del verdadero
comportamiento óptico de la señal.
Está claro que el aumento en el número de canales y una menor separación entre los
mismos son claves importantes para un mejor ORR y para unas mejores especificaciones en
la medida de potencia, pero además, otro factor importante es la velocidad de multiplexado
en el tiempo para cada uno de los canales del sistema.
50
Figura 1.41 ORR.
51
de medida de OSNR.
1.4.9.8 Sensibilidad
La sensibilidad se define como el valor más pequeño de señal que el analizador es capaz
de detectar, o más especı́ficamente, 6 veces el nivel de ruido “rms”del instrumento. La
sensibilidad no se especifica como la media del nivel de ruido, tal y como se hace para
analizadores espectrales de microondas y de radiofrecuencia, ya que el nivel medio de ruido
para un analizador de espectros óptico es de 0 watios (o −∞ dBm). La figura 1.43 muestra
una señal que tiene una amplitud igual a la sensibilidad establecida en el analizador.
52
El nivel de sensibilidad de un analizador deberá tener un valor:
Ası́, por ejemplo, si el nivel de potencia del canal de menor valor es de -10 dBm y el
OSNR que se desea medir es -35 dB, entonces la sensibilidad del analizador de espectros
óptico deberá ser de -10-35=-45 dBm.
Las caracterı́sticas del monocromador como filtro de luz están limitadas por la luz espar-
cida. La luz esparcida está provocada por el ”scatering”de la luz en los componentes ópticos
que constituyen el monocromador. Una posible mejora de las caracterı́sticas del OSA con-
siste en que el detector distinga entre la luz esparcida y la luz deseada en el plano focal
de medida. Una forma de realizarlo es restar la medida sin la luz deseada, comunmente se
realiza choppeando la señal a una frecuencia dada y detectando de forma sı́ncrona, por lo
que la luz esparcida se eliminará al no estar modulada dentro del filtro de frecuencia del
detector sı́ncrono.
Para barridos rápidos, el tiempo de barrido está limitado por el valor máximo de la razón
de sintonización del monocromador. Los sistemas de guiado directo del motor permiten
barridos más rápidos comparados con los analizadores de espectro óptico que usan sistemas
de guiado con reductor para rotar la red de difracción.
53
Para barridos de alta sensibilidad que tienden a ser lentos, un fotodetector pequeño y
anchos de banda de video variables continuamente, permiten tiempos de barrido más cortos.
Un fotodetector pequeño reduce el tiempo de barrido porque tiene un menor NEP que los
fotodetectores más grandes. El tener un reducido NEP significa que para un nivel dado de
sensibilidad, se puede usar un ancho de banda de video más amplio, lo que da lugar a un
barrido más rápido (el tiempo de barrido es inversamente proporcional al ancho de banda
de video, para una resolución de ancho de banda y un ”span”dados).
Los anchos de banda de video de variación continua incrementan de dos formas distintas
el tiempo de barrido para barridos de alta sensibilidad. Primeramente, la implementación
del filtrado de video digital que es más rápido que el tiempo de respuesta requerido por los
filtros analógicos durante el establecimiento automático del rango. En segundo lugar, desde
que el ancho de banda de video puede ser seleccionado con gran resolución, se puede emplear
sólo el filtrado de video suficiente, siendo innecesario una penalización del tiempo de barrido
por haber usado un ancho de banda de video más estrecho del necesario.
Las propiedades de reflexión de la luz polarizada sobre una superficie dependen funda-
mentalmente del ángulo de incidencia. Este es un problema importante en los OSA, ya que la
luz incidente es normalmente polarizada y al realizar el análisis espectral la red de difracción
está continuamente cambiando de ángulo con respecto a la luz colimada incidente. Mientras
el ángulo de polarización de la luz varı́a, la pérdida en el monocromador varı́a igualmente. La
luz polarizada puede dividirse en dos componentes. La componente paralela a la dirección de
las lı́neas de la red de difracción se denomina polarización P y la componente perpendicular
polarización S. La pérdida en la red de difracción difiere de una polarización a otra y cada
pérdida depende de la longitud de onda. Para cada longitud de onda, la pérdida de la luz
54
polarizada P y de la luz polarizada S representan las pérdidas mı́nimas y máximas posibles
de la luz polarizada linealmente. Para algunas longitudes de onda, la pérdida experimenta-
da por la luz polarizada P es mayor que la experimentada por la luz polarizada S, mientras
que para otras longitudes de onda ocurre lo contrario. Esta sensibilidad a la polarización
da como resultado una incertidumbre en la amplitud para medidas de luz polarizada y se
especifica como dependencia de la polarización. Además, ocurre que normalmente el ruido
no estará polarizado, mientras que la señal puede proceder de una fuente fuertemente polari-
zada, teniendo dentro del OSA un estado de polarización desconocido, por lo que cualquier
dependencia del OSA respecto a la polarización afectará directamente a la precisión en la
medida del OSNR.
55
de otras aplicaciones de procesamiento de señal.
Si la luz de entrada al OSA cambia con el tiempo la señal a medir se describe como una
función de la longitud de onda y del tiempo. Sin embargo, la operación del instrumento
también depende del tiempo. Si la modulación de la señal incidente es mucho más alta
que la velocidad de barrido del OSA la medida del instrumento como media temporal es
correcta. Si la modulación es comparable o menor a la velocidad de barrido del OSA, para
medir su contenido espectral se deben utilizar ciertos modos especiales de disparo para medir
las señales de frecuencias de repetición bajas (<250kHz).
Para entender los modos de disparo del OSA es interesante estudiar el procedimiento de
adquisición que el instrumento de forma general utiliza. La figura 1.45 ilustra el modo de
operación del OSA. Recordando al figura 1.2 el instrumento inicia un barrido de la red de
difracción. La señal del detector se amplifica y se aplica a un convertidor analógico digital
para la adquisición de muestras. La conversión analógico-digital ocurre a frecuencias fijas
(37.5 µs por ejemplo). En el mejor de los casos, el convertidor para tomar una traza total
(501 puntos por ejemplo) emplea un tiempo para escanear el intervalo de longitudes de onda
seleccionado (30 ms/traza). Después el ACD y el procesador de señal digital (DSP) procesan
la señal. Sobre el procesador digital se suele implementar la señal de video. Finalmente los
datos son enviados a la pantalla. Cuando el barrido se completa la red de difracción se mueve
en dirección contraria a la posición de inicio comenzando nuevamente el ciclo.
56
Figura 1.45 Diagrama representativo del procesado de señal en un OSA.
las frecuencias de los componentes particulares de la señal, para que el espectro no se vea
distorsionado.
Cuando no se produce este caso, los OSA ofrecen unos sistemas de disparo para sistemas
donde las frecuencias de modulación de la señal son del orden de 10 Hz a 250 kHz. Estos
métodos se describen en los apartados siguientes.
¦ Modo de span zero (Zero-Span Mode). Cuando el span es cero (λinicial = λf inal ),
la red de difracción mantiene la misma posición angular, por lo que el filtro está fijo
en longitud de onda. La medida registra la potencia a un tiempo dado y seleccionado
por el disparo. Si el tiempo de respuesta se almacena a diferentes longitudes de onda
el espectro temporal del pulso se puede registrar.
Para frecuencias menores de 10 Hz este modo tiene un mayor beneficio como medidor de
la potencia de la señal a una determinada longitud de onda, registrando sucesivamente
y promediando puede funcionar como medidor de potencia a esa longitud de onda.
¦ Modo de barrido por disparo. En este modo la red de difracción espera a iniciar cada
barrido hasta que un pulso externo se recibe. Cada barrido se almacena y se procesa
con los sistemas de promediado implementados en el OSA.
¦ Modo de disparo ADC. En este modo las muestras se toman cuando la rampa de subida
o bajada de un señal de disparo se detecta. La red de difracción está continuamente
moviéndose, y lo que se sincroniza es el muestreo.
57
¦ Modo de disparo ADC-AC. En este modo es muy similar al anterior, si bien mientras
en el anterior el disparo solo se activa para rampas positivas o negativas, en este caso
el disparo se realiza en ambos casos, rampas positivas y negativas alternativamente.
Además el DSP procesa los datos de forma diferente calculando la diferencia entre los
barridos activados con la rampa positiva y los barridos activados con la negativa. El
resultado representa solo el espectro de la señal modulada ya que la continua se cancela.
Este modo se usa en aplicaciones de baja frecuencia en sistemas que incorporan EDFA
para suprimir la señal espontánea.
¦ Modo de barrido de puerta (Gated -Sweep Mode). Este modo hace que el DSP
retenga o ignore los datos que le envia el ADC. En este caso la red y el ADC están
trabajando sin sincronización con señales externas. Si la señal de disparo está en alta
el DSP toma como válidos los datos que en ese momento se encuentran en el ADC.
La mayorı́a de los OSAs para aplicaciones de alto nivel son unidades diseñadas para
instalaciones de investigación. Son aparatos delicados destinados a entornos controlados y a
usuarios experimentados. Por otro lado, la mayor parte de los OSAs destinados a aplicaciones
en campo abierto reducirán sus capacidades para ofrecer soluciones analı́ticas más prácticas
y fáciles de utilizar.
58
1.4.9.14 Puntos de la traza de barrido
El mı́nimo número de puntos de barrido debe ser mayor que dos veces el span de longitud
de onda dividido por el ancho de banda de ruido equivalente.
1.4.9.15 Modularidad
59
60
Capı́tulo 2
Un analizador de espectros óptico (OSA) es una herramienta muy versátil que posee
numerosas aplicaciones dentro de las cuales se pueden destacar:
61
2.1 Caracterización de fuentes de luz
Un LED es una unión p-n fuertemente polarizada en directo que emite radiación espontánea
en la zona visible o infrarrojo del espectro. La emisión se produce porque la polarización
directa de la unión hace que exista una fuerte inyección de portadores minoritarios a uno y
otro lado de la unión, estos portadores minoritarios en exceso se recombinan con los porta-
dores mayoritarios, emitiéndose fotones de energı́a aproximadamente igual a la del gap del
material semiconductor sobre el que se ha construido la unión.
Los LED adquieren importancia para las comunicaciones en cortas distancias y en apli-
caciones con fibra multimodo (850 y 1300 nm). Su bajo costo los hace muy adecuados en
muchas aplicaciones.
Hay dos tipos de LED que se utilizan en comunicaciones por fibra óptica:
62
Un analizador de espectros óptico permite la caracterización de este tipo de fuentes. Para
fuentes LED los analizadores comerciales presentan rutinas implementadas que miden de
forma automática cada uno de los parámetros de interés. Un ejemplo de este tipo de medidas
se muestra en la figura 2.1. De forma general los parámetros que definen y caracterizan una
fuente LED son: la potencia total, la longitud de onda media, la anchura espectral rms, la
anchura espectral FWHM, la longitud de onda media a mitad de altura, la longitud de onda
de pico. La definición de cada uno de estos parámetros es como sigue:
63
• Anchura rms. Representa la anchura del LED considerado este como una distribución
gaussiana, esta es en realidad la desviación estándar de la distribución de potencia del
LED. La anchura rms se calcula como:
N
Pi Espaciado
[(λi − λM edia )2 ×
X
σ= × ] (2.3)
i=1 PT otal Resolucion
• Anchura FWHM. Describe la anchura espectral del LED para puntos a mitad de
altura del pico del mismo, asumiendo que la emisión del LED es continua y gaussiana.
Su valor se obtiene del valor medio rms como:
F W HM = 2.355 × σ (2.4)
∆λ(3dB) = λB − λA (2.5)
64
Figura 2.2 Parámetros que definen la emisión de un LED.
El término ’láser’ denota ’amplificación de luz por emisión estimulada de radiación’. Dos
mecanismos determinan la generación de luz en un diodo láser: La Emisión Espontánea que
es el resultado de la recombinación de electrones excitados de la banda de conducción y de
huecos de la banda de valencia. Este es el proceso principal en un LED (ver figura 2.3).
En un diodo láser (LD), el proceso predominante de generación de fotones es la Emisión
Estimulada, esto es que los fotones activan la generación de fotones adicionales mediante la
estimulación de recombinaciones adicionales. Los fotones estimulados son coherentes con los
fotones generadores, es decir, ambos tipos de fotones tienen la misma longitud de onda y
fase.
Para que se produzca el fenómeno de Emisión Espontánea, los diodos láser deben verificar
tres condiciones, que son las tres caracterı́sticas de los láseres:
¦ Creación de una inversión de población entre niveles de energı́a. En una unión p-n al
aplicarle una fuerte polarización directa, hay una zona cercana a la unión donde se han
inyectado electrones de la zona n. Si la polarización es suficientemente alta, tendremos
una muy alta inyección de electrones en la zona de transición, próxima a la unión, al
igual que huecos inyectados desde la región p, se tendrá, por tanto, que en la zona de
65
Figura 2.3 Mecanismos de generación de luz en diodos láser.
¦ Existencia de un medio que puede excitarse de manera que se cree una amplificación de
la emisión -medio con ganancia-. Cuando la corriente de excitación del diodo supera
el denominado “umbral láser”, el diodo será transparente a la radiación incidente y se
convertirá en un amplificador láser.
¦ Debe ser posible la construcción de una cavidad resonante de forma que se realimente
una sola frecuencia y que los estados de vibración de la emisión estén en fase, tal que
la emisión resultante sea coherente. Si en lugar de realizar una homounión p-n, se
establece una doble heterounión p-p-n, se obtendrá un confinamiento de portadores
en el pozo formado en la propia heterounión y, por tanto, un confinamiento óptico,
teniendo ası́ una cavidad óptica.
Los diodos láser tiene ventajas tales como alta potencia óptica de salida, la posibili-
dad de modulación rápida, buena eficiencia en el acoplamiento óptico con la fibra, etc, sin
embargo tiene problemas con la estabilidad de la emisión de luz, pero desde que se están
resolviendo estos problemas, los diodos láser están siendo usados con más frecuencia para
largas distancias y comunicaciones rápidas.
Los analizadores comerciales al igual que para los LED suelen disponer de unas rutinas
automáticas de medida de los láseres FP con resultados similares a los mostrados en la figura
2.4. Para este tipo de fuentes los siguientes parámetros son los de interés:
• Potencia total. Es la suma de las potencias de cada uno de los modos o componentes
espectrales que satisfacen un criterio de exclusion de picos. La potencia total de los
66
Figura 2.4 Medida automática de un láser Fabry-Perot.
• Anchura rms. Representa la anchura del láser considerado éste como una distribución
gaussiana. La anchura rms se calcula como:
v
N
1
u
u X
σ=t Pi (λi − λM edia )2 (2.10)
PT otal i=1
• Anchura FWHM. Describe la anchura espectral del láser FP para puntos a mitad de
altura del pico del mismo, asumiendo que la emisión del láser es continua y gaussiana.
Su valor se obtiene del valor medio rms como:
F W HM = 2.355 × σ (2.11)
67
• Potencia de pico y longitud de onda de pico. Son los valores de la potencia y la
longitud de onda a las que la emisión del laser son máximas.
Tabla 2.1 Relación entre parámetros para distintos criterios en el análisis rms.
∆Λ σ 2σ 2.355σ 3σ
λA (izquierda) λM edia − 0.5σ λM edia − σ λM edia − 1.117σ λM edia − 1.5σ
λB (izquierda) λM edia − 0.5σ λM edia − σ λM edia − 1.117σ λM edia − 1.5σ
Nivel Máximo Potencia de máximo
Nivel mı́nimo Potencia mı́nimo
68
2.1.3 Láseres de realimentación distribuida (DFB)
La mayorı́a de los OSA tienen una rutina automática de medida para láseres DFB.
Como resultado de ello se obtienen los parámetros que se representan en la figura 2.6. Los
parámetros más a menudo utilizados en la caracterización de estos láseres son:
69
• Longitud de onda de pico y potencia de pico. Es la longitud de onda a la que
emite la principal componente espectral del DFB, y su valor de potencia respectiva-
mente.
• Ancho de banda. Mide el ancho de lı́nea del modo fundamental del DFB. Debido a
la anchura tan fina de los DFB esta medida depende de forma muy significativa de la
anchura de rendija usada en el analizador de espectros.
Un tipo de amplificadores muy usado son los de fibra dopada con Erbio (EDFA) que tienen
un perfil de ganancia dependiente de la longitud de onda y determinado por el espectro de
emisión del ión de erbio. Cuando se usan múltiples amplificadores secuencialmente en un
tramo de transmisión largo, la curva de ganancia de los amplificadores individuales conduce a
grandes variaciones de ganancia a lo largo del tramo. Al incorporar filtros de fibra reticulados,
con perfiles de transmisión cuidadosamente diseñados que compensan la curva de ganancia
de los EDFA con base de sı́lice, se han alcanzado anchos de banda de ganancia plana de 40
nm con una variación de ganancia (rizado) de ± 1 dB, usando amplificadores de bajo ruido.
70
Figura 2.7 Parámetros que definen la emisión de un laser DFB.
71
Figura 2.8 ASE de los amplificadores de Er de banda C y L.
72
El estudio completo de las rutinas y procedimientos de evaluación de los parámetros de
los amplificadores ópticos dopados con Er serı́an objeto de un proyecto en sı́, por lo que en
esta sección vamos a describir someramente los parámetros que nos indican los analizadores.
73
Figura 2.10 Sistema de medida de elementos pasivos.
Si hay alguna diferencia entre las pérdidas de la fibra óptica cuando el DUT está conectado
y cuando no, la medida no será precisa. Hay que tener cuidado para evitar que haya grandes
diferencias en la longitud de la fibra entre ambas situaciones.
Un ejemplo de este tipo de medida se muestra en la figura 2.11 para un filtro de longitud
de onda. En el análisis de los componentes pasivos los OSA son una de las herramientas más
versátiles de la que podemos disponer en un laboratorio de fibras ópticas. Los modernos
OSA pueden sincronizarse con láseres sintonizables para constituir un sistema de medida de
componentes muy potente. Sin embargo, el uso de los OSA con diferentes fines y en distintas
configuraciones hace más necesario la calibración de este instrumento con más precisión, y
se requiere un mejor conocimiento del mismo para poder eliminar los errores sistemáticos en
las medidas.
74
Figura 2.11 Medida de un filtro de longitud de onda con un OSA.
Los modernos sistemas de DWDM utilizan una red de longitudes de onda según especifica
la Recomendación ITU-T G.692. Ésta utiliza un espacio entre canales de 100 GHz/0.8 nm
o múltiplos. Las longitudes de onda recomendadas por ITU para separación de 100 GHz
centradas en la frecuencia de 195.1 THz se muestran en la tabla 2.2. Si el espacio entre
canales es de 100 GHz, hasta 40 canales se pueden acomodar dentro del rango de 1530 a
75
Figura 2.12 Arquitectura de un sistema de WDM.
1565 nm, que pueden ser utilizados con los amplificadores ópticos disponibles normalmente.
Los sistemas DWDM que se han instalado hasta ahora normalmente llevan 4, 8, 16 o 32
canales.
76
Hay una tendencia observable hacia un mayor número de canales con un espaciado entre
ellos de 50 GHz/0.4 nm o incluso menos, que permitirı́a anchos de banda de transmisión de
más de 100 Gbit/s por cada canal, para una fibra de vidrio de 9µm de núcleo.
La relación óptica Señal-Ruido (OSNR o S/N) es un factor importante que gobierna las
interferencias de las transmisiones. Depende del número y de la separación de las señales
portadoras ası́ como de la longitud del trayecto y del número de amplificadores ópticos
utilizados. Normalmente está entre 20 y 30 dB.
77
2.4.3 Nuevos requisitos del equipo de prueba en DWDM
Los sistemas de comunicaciones DWDM tienen unas necesidades de medida completa-
mente diferentes, desde el punto de vista óptico, a los sistemas de un único canal utilizados
hasta entonces, donde la longitud de onda exacta no era tan importante y sólo el nivel de
potencia de la señal necesitaba ser medida con un único medidor de nivel de banda ancha.
78
Figura 2.14 Degradación de la señal de WDM.
79
A) Longitud de onda y potencia de la portadora.
C) Planitud. La diferencia entre las potencia relativas de los diferentes canales de WDM
se conoce como planitud . Para un sistema de WDM estas diferencias se explican
por las variaciones en la ganancia de los amplificadores para distintas longitudes de
onda. La figura 2.15 muestra la medida de planitud de un sistema de WDM, como
la diferencia en dB entre la longitud de onda transmitida de máxima potencia y la de
mı́nima.
80
Figura 2.15 Definición de planitud y deriva en un sistema de WDM.
son modulados en longitud de onda para ensanchar el espectro de emisión del láser
y eliminar el efecto no lineal Brillouin. Esta modulación de longitud de onda puede
provocar el drift de los canales transmitidos.
Para medir la OSNR debemos medir el nivel absoluto de la señal y el nivel absoluto
del ruido a la longitud de onda de la portadora, y debe especificarse el ancho de banda
de medida. Ası́ la OSNR se define como:
Pi Bm
OSN R = 10Log( ) + 10Log( ) (2.12)
Ni Br
donde Pi es la potencia en Watios del canal, Ni es potencia en Watios del ruido del
mismo canal, Bm es el ancho de banda efectivo de medida y Br es el ancho de banda
de referencia.
81
La normalización a un ancho de banda de medida es importante para poder comparar
los datos medidos con los medidos por otro equipo diferente y en otras condiciones
(nótese que 20 dB con un ancho de banda de 1 nm son 30 dB con un ancho de banda
de 0.1 nm y 23 dB con un ancho de banda de 0.5 nm). La figura 2.16 muestra la
medida gráfica de la OSNR en un sistema de WDM con separación entre canales de
100 GHz. Para la medida, como se aprecia en esta figura, se interpolan los valores de
ruido medidos a la mitad de la distancia del espaciamiento ITU, a ambos lados del
canal bajo test. De forma general, cuando la distancia entre canales en mayor de 200
GHz, la interpolación se realizará midiendo los valores de ruido longitudes de onda
separadas 100 GHz del canal bajo test.
82
D
U (OSN R) = 10Log(1 + 10(− 10 ) )(dB) (2.13)
83
84
Capı́tulo 3
3.1 Definiciones
En esta sección se van a definir los términos que se utilizarán en la descripción de los
procedimientos objeto de este capı́tulo.
85
Longitud de onda central, λcentral : longitud de onda en vacı́o de una fuente de luz
obtenida como el valor medio de su espectro de potencia. Se expresa en nanometros. Para
un espectro continuo, la longitud de onda central se obtiene mediante la expresión:
Z
ρ(λ)λdλ
λcentral = (3.1)
Ptotal
Para un espectro consistente en lı́neas discretas, la longitud de onda central se obtiene
usando la siguiente expresión:
P i λi
P
λcentral = P (3.2)
Pi
donde:
86
Incertidumbre del nivel de potencia representado, u(∆P ): es la incertidumbre
estándar de la desviación del nivel de potencia.
POSA
u(∆P ) = u( ) (3.4)
Pref − 1
u :incertidumbre estándar.
U = kσ (3.5)
87
bandas de tolerancia: fecha de referencia, temperatura de referencia, humedad de referencia,
fuente de luz de referencia, nivel de potencia representado de referencia, fibra de referen-
cia, combinación conector-adaptador de referencia, longitud de onda de referencia, ancho de
banda espectral de referencia y resolución de ancho de banda (resolución espectral).
Relación de rechazo al modo lateral, SMSR: es la relación entre los picos de po-
tencia del modo principal y del modo lateral más grande del espectro de un diodo láser
monomodo, como por ejemplo, un DFB. Se expresa en dB.
Ancho de banda espectral, B: es el ancho total a la mitad del máximo (FWHM) del
ancho espectral de la fuente de luz.
88
serie de observaciones, como por ejemplo la estimación de fuentes probables de incertidumbre,
como cuando se evalúan efectos sistemáticos en la medida.
Incluyen los siguientes parámetros y si es necesario, sus bandas de tolerancia: fecha, tem-
peratura, humedad relativa, nivel de potencia, longitud de onda, fuente de luz, combinación
89
conector-adaptador, ancho de banda espectral, y resolución de ancho de banda (resolución
espectral). Salvo que se especifique otra cosa, debe usarse una fibra óptica monomodo tal y
como se prescribe en la IEC 793-1, teniendo una longitud mı́nima de 2 m.
Utilizar el analizador óptico de acuerdo con las especificaciones del fabricante y los pro-
cedimientos operativos. En casos prácticos, seleccionar un rango para los parámetros y
condiciones del test para emular las actuales condiciones operativas del analizador a evaluar.
Elegir estos parámetros de manera que se optimice la precisión del analizador y su resolución,
tal y como describe el fabricante.
NOTA: Los resultados de la calibración son sólo aplicables al conjunto de las condiciones
usadas en ella. Debido a la posible peligrosidad de la radiación, se debe asegurar el
establecimiento y mantenimiento de las condiciones de seguridad al usar el láser.
3.2.1.3 Trazabilidad
Asegurarse de que el equipo que tenga una influencia significativa en los resultados de
la calibración sea calibrado en un orden estricto según el patrón nacional apropiado o una
constante fı́sica natural. Especificar el equipo de test y su cadena de calibración. El periodo
de recalibración debe ser definido y documentado.
Los posibles montajes experimentales para la realización de este test se muestran en las
figuras 3.1, 3.2 y 3.3:
90
Figura 3.2 Test de resolución de ancho de banda usando una fuente de banda ancha y un filtro
de transmisión.
a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador.
Si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son láseres como los descritos en la
tabla 3.1, un diodo láser o un láser (que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro
monomodo. Además, una fuente de banda ancha se puede usar conjuntamente con un
aparato de transmisión con longitudes de onda de transmisión máxima conocidas. El
aparato de transmisión puede ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas de
absorción en medio gaseoso o interferómetros Fabry-Perot.
91
Tabla 3.1 Fuentes de luz recomendadas
Fuente de Luz Longitud de onda en vacı́o (nm)
Láser de Ar 488.1
Láser de Ar 514.7
Láser de He-Ne 633.0
Láser de He-Ne 1152.6
Láser de He-Ne 1523.5
el test de longitud de onda. Este instrumento se usa con un diodo láser con longitud
de onda desconocida como fuente de luz.
c) Fibra Óptica: fibra óptica monomodo tal y como se describe en el documento IEC
793-1.
Usando las configuraciones mostradas en las figuras 3.1, 3.2 y 3.3 establecer el rango de
medida de longitud de onda para el test del analizador de manera que incluya la longitud de
onda de la fuente de luz.
(a) Establecer la resolución de ancho de banda del analizador a su valor especificado. De-
nominaremos a este valor ”Rset ”.
(b) Medir la resolución del ancho de banda espectral mostrado, es decir, el intervalo de
longitud de onda 3 dB por debajo del valor del pico, que llamaremos ”ROSAi ”. Repetir
esta medida al menos diez veces y calcular la resolución media.
X ROSAi
ROSA = (3.8)
m
(c) Calcular el cociente diferencial del valor del analizador a partir de la resolución de ancho
de banda establecida, usando la ecuación:
ROSA
∆Rdif f = (3.9)
Rset − 1
92
3.2.3 Calibración del nivel de Potencia
Los factores que afectan a la incertidumbre para establecer el nivel de potencia de un
analizador consisten en:
1) Incertidumbre intrı́nseca del analizador tal y como se puede ver en el test realizado bajo
condiciones de referencia.
Si el analizador es usado más allá de las condiciones de referencia, será necesario obtener
las incertidumbres parciales y se deberán seguir los procedimientos de calibración que
se describirán más adelante.
NOTAS:
* Será necesario un medidor de potencia para evaluar la fuente de luz cada vez que se use
una nueva fuente de longitud de onda.
* Como la unidad usada normalmente para valores medidos, dBm, no es apropiada para la
incertidumbre acumulada, se usan unidades lineales (mW, µW).
3.2.3.2 Equipo necesario para la calibración del nivel de potencia bajo condi-
ciones de referencia
a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida comprendida entre 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga
un ancho de banda espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para
el analizador. Se recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.
93
Figura 3.4 Montaje para la calibración del nivel de potencia bajo condiciones de referencia.
b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.
1) Medidor de potencia óptica calibrado por una institución oficial que realice servi-
cios de calibración con una incertidumbre definida.
3.2.3.3 Pasos para realizar la calibración del nivel de potencia bajo condiciones
de referencia
Usando la configuración de la figura 3.4, establecer la resolución del analizador tan alta
como el ancho de banda espectral de la fuente de luz. Ajustar el atenuador variable para
que el nivel de potencia de la luz de salida hacia el analizador esté optimizada. La secuencia
de medidas es la siguiente:
(a) Medir el valor de salida de la fibra óptica, PREF i , usando el medidor de potencia óptica
de referencia.
(b) Conectar la salida de la fibra óptica al analizador y anotar el valor del pico de nivel de
potencia medido por el analizador, POSAi , usar una escala lineal ( mW o dBm) para
leer este valor.
94
(c) Calcular el cociente diferencial del OSA a partir del nivel de potencia medido usando la
ecuación:
POSAi
∆Pdif f,i = (3.10)
Pref,i − 1
Calcular la media y la desviación estándar del cociente diferencial usando las siguientes
ecuaciones:
X ∆Pdif f,i
∆Pdif f = (3.11)
m
X (∆Pdif f,i − ∆Pdif f )2
σ∆P dif f =[ ]1/2 (3.12)
m−1
donde m es el número de medidas realizadas.
La incertidumbre u∆P ref con respecto al nivel de potencia (DPL) para el analizador bajo
condiciones de referencia viene dada por:
La desviación para el nivel de potencia ∆Pref es igual que el valor medio del cociente
diferencial: ∆Pref = ∆Pdif f
2) Dependencia de la polarización.
95
3) Linealidad.
4) Dependencia de la temperatura.
Figura 3.5 Montaje para determinar la dependencia con la longitud de onda en la calibración
del nivel de potencia.
a) Fuente de Luz: se debe usar una fuente de luz variable en longitud de onda, por ejemplo
un láser sintonizable. Esta fuente debe proporcionar de manera estable la cantidad
necesaria de potencia luminosa dentro del rango de longitudes de onda establecido
para el analizador, además su ancho espectral debe ser bastante más estrecho que la
resolución del analizador.
(a) Después de que la temperatura ambiente esté completamente estabilizada, medir la luz
procedente de la fuente con el medidor de de longitud de onda. La lectura del medidor
se denomina λj .
96
(b) Con el medidor de potencia óptica, medir la potencia de la fuente de luz. La lectura del
medidor se denomina PREF,j .
(e) ∆Pλ,M AX será el máximo valor de los ∆P (λj ) obtenidos, y ∆Pλ,M IN será el mı́nimo.
Figura 3.6 Montaje para determinar la dependencia con la polarización en la calibración del
nivel de potencia.
97
NOTA: Se asume que la relación de extinción del Controlador de Polarización del sis-
tema de medida es de 20 dB a la salida del conector de fibra. La relación de extinción,
especı́ficamente, afecta a la precisión de los resultados del test para la dependencia de la
polarización, deteriora la precisión de la medida alrededor del 2% a 20 dB.
a) Fuente de Luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm) y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente más estrecho que la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la Tabla 3.1 o un láser de diodo DFB-LD.
c) Fibra Óptica: fibra óptica monomodo como se prescribe en el documento IEC 793-1 y
con una longitud de 1-2 m. Será preferible una fibra que mantenga la polarización a
la fibra de entrada de algunos controladores de polarización.
Establecer la resolución de ancho de banda del analizador tan alta como el ancho de
banda espectral de la fuente de luz. Ajustar correctamente las fibras ópticas para evitar que
se muevan, porque el estado de polarización de la fibra puede variar debido al movimiento
de la fibra.
(a) Introducir la salida de la fuente de luz dentro del controlador de polarización a través
de la fibra óptica 1 e introducir la salida del controlador dentro del analizador a través
de la fibra óptica 2.
(b) Ajustar el controlador de polarización para que se produzca un gran número de estados
de polarización que cubran la totalidad de la esfera de Poincare. Observar el cambio
pico-pico en el nivel de potencia representado debido a la variación en el estado de
polarización. Grabar las anotaciones máxima y mı́nima como PM AX (λj) Y PM IN (λj).
98
(c) Las variaciones en el nivel de potencia debido a la polarización con longitud de
onda λj, ∆PU L (λj) Y ∆PLL (λj), vienen dadas por:
PAV E (λj): Variación media del nivel de potencia debida a la polarización con longitud
de onda λj, y su valor viene dado por:
PM AX (λj) + PM IN (λj)
PAV E (λj) = (3.19)
2
(d) Repetir este proceso estableciendo diferentes longitudes de onda (cambiar λj).
(e) ∆PP OL,M AX será el máximo valor de ∆PU L (λj) y ∆PP OL,M IN será el mı́nimo valor de
∆PLL (λj).
3.2.4.9 Linealidad
La figura 3.7 muestra la configuración para el test de linealidad. Este test se realiza bajo
condiciones de referencia salvo para el nivel de potencia.
a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.
99
Figura 3.7 Montaje para determinar la linealidad de la incertidumbre del nivel de potencia.
b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.
POSA
PLIN,ref = (3.22)
PREF
PLIN j − PLIN,ref
∆PLIN,j (Pj ) = (3.24)
PLIN,ref
100
(c) Repetir este proceso con diferentes niveles de potencia luminosa (cambiar Pj ) para al
menos cinco puntos situados dentro del nivel de potencia de entrada especificada para
el analizador.
(d) Dejar que ∆PLIN,M AX sea el máximo valor de los ∆PLIN (P j) obtenidos y que ∆PLIN,M IN
sea el mı́nimo.
∆PLIN,M AX + ∆PLIN,M IN
∆PLIN = (3.25)
2
∆PLIN,M AX + ∆PLIN,M IN
u∆PLIN = √ (3.26)
2 3
Figura 3.8 Montaje para determinar la dependencia de la temperatura del nivel de potencia.
a) Fuente de luz: usar una fuente de luz que pueda emitir una luz estable en fibra óptica
con una salida de 0.1 mW (-10 dBm) a 1 mW (0 dBm), y que tenga un ancho de banda
espectral suficientemente estrecho para la resolución prescrita para el analizador. Se
recomiendan las fuentes de luz mostradas en la tabla 3.1.
b) Atenuador Variable: usar un atenuador variable que pueda ser ajustado por encima
del rango de potencia óptica usada en el test.
101
3.2.4.15 Pasos para determinar la dependencia del DPL con la temperatura
(a) A partir del esquema de la figura 3.8, establecer la resolución de ancho de banda del
analizador de manera que sea más grande que el ancho de banda espectral de la fuente
de luz. Después de que la temperatura del analizador se estabilice bajo condiciones
de referencia, ajustar el atenuador para que el nivel de potencia de la luz enviada al
analizador sea la misma que la usada para la calibración bajo condiciones de referencia.
La lectura proporcionada por el analizador en ese momento se denominará POSA,T ref .
(e) ∆PT M P,M AX será el máximo valor de los ∆P (Tj ) obtenidos y ∆PT M P,M IN el mı́nimo.
102
onda, con la polarización, con la linealidad y con la temperatura, cuando el analizador es
usado más allá de las condiciones de referencia.
Las posibles configuraciones de calibración son las mostradas en las figuras 3.1, 3.2 y 3.3.
a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador,
si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son lasers como los descritos en la
Tabla 3.1, un diodo láser o un láser (que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro
monomodo. Además, una fuente de banda ancha puede ser usada conjuntamente con
un aparato de transmisión con longitudes de onda de pico de transmisión conocidas.
103
El aparato de transmisión puede ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas
de absorción en medio gaseoso o interferómetros de Fabry-Perot.
(a) Usando las configuraciones de las Figuras 3.1, 3.2 y 3.3, establecer el rango de longitud
de onda del analizador de manera que incluya la longitud de onda de la fuente de luz
alrededor del centro de la representación. Establecer, además, la resolución en longitud
de onda del analizador, de manera que satisfaga la siguiente ecuación:
S
Rset > 10 (3.32)
N
(b) Repetir esta medida al menos 10 veces y calcular la longitud de onda media.
X λOSAi
λOSAAV = (3.33)
m
104
Calcular la incertidumbre estándar, σλOSA , de los valores medidos λOSAi usando:
X (λOSAi − λOSA )2
uλOSA = [ AV
]1/2 (3.35)
m−1
La incertidumbre uλref del analizador respecto a la longitud de onda bajo condiciones de
referencia, viene dada por:
u∆λref = (u2λREF + u2λOSA )1/2 (3.36)
NOTA: uλREF puede ignorarse si se usa un láser o un aparato de transmisión con longitud
de onda estable como fuente de luz y su funcionamiento es mejor que la incertidumbre en
longitud de onda del analizador. Cuando se usa un LD como fuente de luz, medir varias veces
la longitud de onda con el medidor de longitud de onda siendo entonces la incertidumbre de
la fuente de luz su desviación estándar, uλREF .
Los factores individuales que afectan a la incertidumbre en longitud de onda bajo condi-
ciones operativas son los siguientes:
2) Dependencia de la temperatura.
Las figuras 3.1, 3.2 y 3.3 muestran las configuraciones necesarias para determinar esta
dependencia. Son la mismas que las configuraciones usadas para la calibración bajo condi-
ciones de referencia. Este test se realiza bajo condiciones de referencia a excepción de la
fuente de longitudes de onda.
a) Fuente de Luz: Usar una fuente de luz con un ancho de banda espectral lo suficien-
temente estrecho como la resolución de ancho de banda (resolución espectral) del
analizador y con una estabilidad en potencia y en longitud de onda suficiente para
105
la incertidumbre en longitud de onda prescrita para el analizador. Las fuentes de luz
recomendadas son lasers como los descritos en la tabla 3.1, un diodo láser o un láser
(que deberá ser sintonizable) que tenga un espectro monomodo. Además, una fuente
de banda ancha puede ser usada conjuntamente con un aparato de transmisión con
longitudes de onda de pico de transmisión conocidas. El aparato de transmisión puede
ser una serie de filtros de banda estrecha fija, lı́neas de absorción en medio gaseoso o
interferómetros de Fabry-Perot.
Cuando se usen las configuraciones mostradas en las figuras 3.1 y 3.2, el valor de la
longitud de onda conocida de la fuente de luz o del aparato de transmisión se denominará
λREF,j , y para la configuración de la figura 3.3, λREF,j será la longitud de onda de la fuente
de luz medida por el medidor de longitud de onda.
(a) Introducir la luz procedente de la fuente de luz en el analizador, el valor indicado por
éste será λOSAj . Determinar la desviación en longitud de onda,∆λλj , con respecto a
λREF,j , usando la ecuación:
(b) Cambiar la fuente de longitud de onda y realizar el mismo test, usando de nuevo la
ecuación 3.37.
(c) ∆λλ,M AX será el máximo de los valores de desviación obtenidos, y ∆λλ,M IN será el
mı́nimo.
106
∆λλ,M AX − ∆λλ,M IN
u∆λλ = √ (3.39)
2 3
a) Fuente de Luz: usar la fuente de luz prescrita para el test de calibración del analizador,
si no se prescribe ninguna, usar una con un ancho de banda espectral y una estabilidad
en longitud de onda suficientes para la mı́nima resolución de ancho de banda descrita
para el analizador. Las fuentes de luz recomendadas son lasers como los descritos en
la tabla 3.1, un diodo láser o un láser que tenga un espectro monomodo. Además, una
fuente de banda ancha puede ser usada conjuntamente con un aparato de transmisión.
Bajo condiciones de referencia y dentro del rango de temperaturas prescrito para el anali-
zador, medir la longitud de onda de la luz procedente de la fuente para, al menos, cinco
puntos (Tj ).
(a) Llamando λREF a la longitud de onda de la luz entrante y λOSAj al valor indicado por
el analizador, determinar la desviación en longitud de onda mediante la ecuación:
(c) ∆λT,M AX será el máximo de los ∆λTj obtenidos y ∆λT,M IN será el mı́nimo.
Usando los valores medidos de desviación para varias temperaturas, determinar la desviación,
∆λT , y la incertidumbre, σ∆λT , debidas a la dependencia de la temperatura, a partir de las
107
ecuaciones:
∆λT,M AX − ∆λT,M IN
∆λT = (3.41)
2
∆λT,M AX − ∆λT,M IN
u∆λT = √ (3.42)
2 3
3.2.7 La documentación
3.2.7.1 Datos medidos e incertidumbre
Los certificados de calibración deberán incluir los siguientes datos y sus incertidumbres.
Las incertidumbres deberán presentarse en forma de intervalos estimados de confianza me-
diante la multiplicación de la desviación estándar por ± k:
(1) Resolución de ancho de banda (resolución espectral) resultado del test, si se ha medido.
108
3.2.7.2 Condiciones de medida
Cada especificación debe ir acompañada por una descripción del estado del instrumento
y de las condiciones de medida que se han aplicado. Los parámetros más importantes
son: fecha de la calibración, nivel de potencia (DPL), resolución horizontal y vertical de la
pantalla, temperatura, humedad y rango de longitudes de onda representado.
109
110
Capı́tulo 4
En todo este capı́tulo suponemos que un analizador de espectro óptico dispone como
entrada de un conector de fibra óptica monomodo y, como en la norma general IEC, debe
como mı́nimo tener estas otras caracterı́sticas:
111
4.1 Calibración respecto de lı́neas de emisión de refe-
rencia
Las lı́neas de emisión que pueden utilizarse como referencia para la calibración de los
analizadores de espectro óptico de telecomunicaciones pueden ser lı́neas de emisión de láseres
de referencia o lı́neas de emisión de lámparas espectrales de átomos de elementos quı́micos
estables. Dos tipos de lı́neas de referencia pueden utilizarse: las lı́neas de emisión de láseres
estabilizados en frecuencia, que pueden emitir a altas potencias, y lı́neas de emisión de
lámparas de gases a baja presión.
112
Tabla 4.1 Cambio de longitud de onda debido al ı́ndice de refracción entre vacı́o y aire.
Longitud de onda Índice de refraccı́ón Longitud de onda Diferencia
en vacı́o (nm) en aire estándar (nm) (nm)
633.000 1.000276517 632.825 0.175
1300.000 1.000273523 1299.645 0.355
1550.000 1.000273478 1549.577 0.423
Figura 4.1 Variación del ı́ndice del aire estándar con la longitud de onda.
o
donde P se expresa en Torr, T en C, y h es la presión de vapor en Torr. La presión de
vapor para 30% de humedad relativa a 25o C es de 6.7 Torr.
Estas correcciones se representan en las figuras 4.2 y 4.3 para la longitud de onda de 1550
nm. Como vemos en las figuras, la aplicación de estas correcciones son significativas para las
necesidades de los sistemas de WDM, en que la resolución de los sistemas es de 0.001nm. Por
ello en las secciones sucesivas, convertiremos las longitudes de onda a longitudes de onda en
vacı́o, (excepto cuando la resolución del instrumento no lo precise), y nos referiremos siempre
a longitudes de onda de vacı́o, que son invariantes para el medio de transmisión.
113
Figura 4.2 Variación de la longitud de onda por cambio de temperatura es aire.
114
4.1.2 Lı́neas de emisión de láseres de referencia
La tabla 4.2 muestra una lista de lı́neas de emisión láser que pueden ser utilizadas co-
mo referencia para la calibración de los OSA de fibra óptica. El número entre paréntesis
representa la incertidumbre tı́pica de los valores mostrados. El diseño real de cada uno de
los láseres particular puede reducir esta incertidumbre tı́pica, por lo que se deben calibrar
respecto a un Laboratorio Dimensional Nacional de referencia. Para la conversión de la
frecuencia en longitud de onda la velocidad de la luz en el vacı́o usada es 2.99792458(1)×108
m/s.
El más común de los láseres de referencia es el He-Ne a la longitud de onda de 633 nm.
Un tubo de He-Ne usándose en onda continua tienen una vida media de 30.000 horas. El
filamento interno del tubo deposita, con el tiempo de funcionamiento, metal en los espejos de
salida produciendo una caı́da en la transmitancia de los mismos, causando inestabilidades,
y, finalmente, impidiendo la emisión láser. Láseres sintonizables y DFB pueden ser usados
también como referencia, fundamentalmente por su flexibilidad. La estabilidad de los láseres
sintonizables y DFB tienen que ser caracterizada con precisión, si bien estos láseres para uti-
lizarlos como referencia de forma precisa deben ser fijados en longitud de onda usando otros
patrones de frecuencia como son las células de absorción de gases, tal y como describiremos
en el capı́tulo 5.
Sin embargo, los requerimientos de calibración exigen que tanto los analizadores de es-
pectro óptico como los medidores de longitud de onda se calibren para una amplia región
espectral y no sólo para una longitud de onda, por lo que en estos casos se emplean láseres
115
sintonizables convenientemente calibrados en toda la región espectral de funcionamiento.
La incertidumbre de la calibración del sistema está afectada por los siguientes factores:
• La longitud de onda leı́da en el OSA está afectada por las siguientes fuentes de incer-
tidumbre:
116
- Incertidumbre por la resolución de muestreo. El muestreo de la señal del láser de
referencia se ha realizado cada 0.004 nm. Esta incertidumbre se evalúa considerándola
una distribución rectangular y su valor está dado por:
λi − λi−1
u(λres ) = √ (4.7)
2 3
Con la ayuda de esta función modelo podemos elaborar la tabla de cálculo de incer-
tidumbres 4.4, donde G se refiere al número de grados de libertad que afectan al factor
de incertidumbre considerado, y C el coeficiente de sensibilidad obtenido como la derivada
parcial de la función modelo respecto al factor de incertidumbre considerado, νef se refiere
al número de grados de libertad efectivos de la magnitud de salida, obtenidos mediante la
expresión de Welch-Satterthwaite:
u4 (y)
νef = P u4 (y) (4.10)
N i
i νi
117
Tabla 4.3 Calibración de un OSA usando la lı́nea 633 del He-Ne.
número λOSA σOSA He-Ne (en aire) Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm)
Tabla 4.4 Incertidumbres en la calibración de OSA MS9030A respecto a la lı́nea 633 del He-Ne.
Magnitud Simbolo Valor Incertidumbre Evaluación G C Contribución
X(nm) x u(x) n c U(x)
118
4.1.3 Lı́neas de emisión de lámparas espectrales
Los espectros de emisión atómicos de numerosos elementos quı́micos estables son conoci-
dos con gran precisión de la Espectroscopı́a Atómica, siendo muy útiles como sistemas de
calibración de monocromadores y espectrógrafos. Estos elementos se introducen en bulbos
de cuarzo y se enrarecen hasta que emiten a las longitudes de onda que son permitidas
por los niveles electrónicos propios del elemento en cuestión. Para que la emisión de estos
elementos sea estrecha espectralmente deben producirse a bajas presiones. Los elementos
tı́picos usados para la calibración de espectrógrafos son Mercurio (Hg), Argón (Ar), Kriptón
(Kr), Neón (Ne) y Xenón (Xe).
En las tablas 4.5, 4.6, 4.7, 4.8 y 4.9 y en las figuras 4.4, 4.5, 4.6, 4.7 y 4.8, se muestran
las lı́neas de emisión de los elementos Hg, Ar, Kr, Ne y Xe útiles para la calibración de
analizadores de espectro óptico en el IR próximo.
119
Figura 4.4 Espectro de emisión de una lámpara de Mercurio (Hg) entre 700 y 1700 nm.
Figura 4.5 Espectro de emisión de una lámpara de Argón (Ar) entre 700 y 1700 nm.
120
Figura 4.6 Espectro de emisión de una lámpara de Kripton (Kr) entre 700 y 1700 nm.
Figura 4.7 Espectro de emisión de una lámpara de Neón (Ne) entre 700 y 1700 nm.
121
Figura 4.8 Espectro de emisión de una lámpara de Xenón (Xe) entre 700 y 1700 nm.
Tabla 4.5 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg.
122
Tabla 4.6 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ar.
123
Tabla 4.7 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Kr.
124
Tabla 4.8 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Ne.
125
Tabla 4.9 Longitudes de onda en vacı́o y aire de emisión de las lı́neas espectrales del Hg.
126
Como muestra de la utilidad de las lı́neas lámparas espectrales de baja presión, se ha
procedido a la calibración de un monocromador SPEX-1400 en longitud de onda con una
lámpara de Kriptón.
Tabla 4.10 Calibración en longitud de onda de un monocromador SPEX-1400 con una lámpara
de Kriptón.
número λMONO σMONO λKr Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm)
127
Figura 4.9 Ajuste lineal de la desviación en longitud de onda.
Un etalón Fabry-Perot puede ser realizado con una oblea de silicio con ambos lados cuida-
dosamente pulidos. Luz entrante es semireflejada en las superficies espejadas, produciéndose
128
una interferencia de múltiples rayos. Como resultado, se transmitirán un conjunto de longi-
tudes de onda resonantes regularmente espaciadas. La luz transmitida tiene unos máximos
a las longitudes de onda que verifican la relación:
2 × n × Lc × cos θ
λm = (4.11)
m
donde n es el ı́ndice de refracción del etalón, Lc es su longitud del etalón, θ es el ángulo
de incidencia y m es un numero entero. Ajustando la longitud de camino óptico n × Lc
entre los espejos está posible controlar la longitud de onda de los picos de transmisión. La
finesse de las interferencias y el contraste de las mismas dependen de la reflectividad de las
caras del etalón. Por ejemplo, para un etalón de silicio en aire, la interface silicio-aire tiene
una reflectividad r=0.305 (el ı́ndice de refracción del Si a 1550 nm es 3.48) que da lugar a
una finesse F de aproximadamente 2,5 y a un contraste óptico de alrededor de 5,5 dB. El
espaciado en frecuencia entre dos picos adyacentes de transmisión, o intervalo espectral libre
FSR, es inversamente proporcional a la longitud de la cavidad Lc .
El ancho espectral del pico a 3 dB está dado por δf = F SR/F . En particular para un
etalón de 100 µm de anchura de silicio en aire, como se muestra en el caso de la figura 4.10
el FSR es de 411 GHz, equivalente a 3,2 nm y el resultante de ancho de banda a 3 dB es 1,4
nm pero el contraste de las franjas es inadecuado para alcanzar las resoluciones necesarias
en las aplicaciones de WDM. La manera más fácil aumentar la finura del etalón es realizar
una apropiada superficie reflejante en las interfaces silicio-aire.
129
de finesse correspondientes teóricos son 15,9 y 93,0 respectivamente, que son valores más
satisfactorios para las aplicaciones de WDM.
Figura 4.11 Transmitancias para 100µm y 500µm de longitud de cavidad FP con diferentes
espesores de multicapa.
La figura 4.11 muestra las transmitancias teóricas obtenidas para 100µm y 500µm de
longitud de cavidad Fabry-Perot de silicio, con los espesores de multicapa señalados en ella.
Para utilizar este sistema como referencia, una vez conocida la multicapa debe calibrarse
usando un láser de referencia y un medidor de longitud de onda. La multicapa debe diponerse
en un receptáculo controlado en temperatura ya que esto influirı́a sobre las longitudes de
onda calibradas.
La ventaja de este método estriba en que una vez calibrado, el sistema es útil en todo el
intervalo de frecuencias en el que se disponga de fuente de luz.
130
la misma fibra, aumentando en consecuencia, el ancho de banda del sistema. Si una longitud
de onda del canal cambiase, podrı́a haber diafonı́a (crosstalk) entre ella y un canal vecino.
Las referencias de longitud de onda son necesarias para calibrar instrumentos usados en
caracterización de componentes y monitorización de las longitudes de onda de los diferentes
canales. Las lı́neas fundamentales de absorción atómica o molecular proveen referencias en
longitud de onda que tienen un comportamiento bien conocido y además son muy estables
ante cambios medioambientales, tales como variaciones de presión y temperatura o presencia
de campos electromagnéticos. Existe un gran número de buenas transiciones moleculares
12
en la región de 1500 nm. La banda vibracional-rotacional ν1 + ν3 del Acetileno C 2 H2 ,
mostrada en la figura 4.13, contiene alrededor de 50 lı́neas útiles entre 1510 y 1540 nm. La
13
banda correspondiente del C2 H2 se extiende desde 1520 a 1550 nm. El Cianuro también
tiene un buen espectro, con lı́neas desde 1530 a 1565 nm para el H 13 C 14 N . Otras moléculas
con un fuerte espectro de absorción localizado entre 1300 y 1600 nm incluyen Hidrógeno y
Deuterio (Haluros) y otras moléculas biatómicas como el Monóxido de Carbono. Numerosos
Hidrocarburos y otros compuestos tienen un espectro de absorción en la región deseada
pero este espectro es débil. Las absorciones atómicas están limitadas a las transiciones de
estados excitados, que requieren descargas eléctricas o excitación mediante láser como se ha
explicado en la sección 4.1.2.
Se están desarrollando patrones de transferencia que pueden ser usados para calibrar
la escala de longitudes de onda y evaluar la linealidad de los instrumentos en la banda L
(región de los 1565 a los 1630 nm). Los dos estándares de transferencia para esta región
están basados en las transiciones rotatorio-vibratorias de un material estándar de referencia
(SRM) como es el Monóxido de Carbono, creándose células de absorción de este compuesto
con un espectro de absorción en esta región espectral. La SRM 2516 cubre la región entre
12
1565 y 1595 nm, está basada en la transición armónica 3ν del C 16 O. La SRM 2515 cubre
13
la región entre 1595 y 1630 nm, está basada en la transición armónica 3ν del C 16 O. Estos
dos espectros (falta figura) son casi idénticos salvo el cambio para la longitud de onda más
131
13
lejana de los 35 nm en el espectro del C 16 O. Cada espectro contiene aproximadamente 30
lı́neas suficiéntemente fuertes como para ser usadas como referencias de calibración.
12
4.3.1 Acetileno C2 H2 como referencia de absorción para cali-
bración en longitud de onda de 1510 a 1540 nm (SRM 2517a)
La SRM 2517a está pensada para calibración en longitud de onda en la región espectral
de los 1510 a 1540 nm. Es una célula de absorción para fibra óptica monomodo que contiene
12
gas acetileno C2 H2 a una presión de 6.7 kPa (50 Torr). Esta presión ha sido reducida
respecto a su predecesora, SRM2517 que tenı́a 67 kPa (500 Torr), lo cual permite obtener
lı́neas de absorción más estrechas, tal y como se puede ver en la figura 4.12, pudiéndose
emplear en aplicaciones de mayor precisión.
132
Lı́nea de absorción P4 (1527.441 nm) del acetileno 12 C para diferentes pre-
Figura 4.12 2 H2
siones.
133
Para la calibración en longitud de onda de algunos instrumentos, a veces serı́a deseable
usar una célula de media o alta presión con objeto de aumentar la profundidad de absorción.
Esto da como resultado un ensanchamiento de la lı́nea de absorción y una leve variación del
centro de la lı́nea.
Valores Certificados de Longitud de Onda: Las longitudes de onda del vacı́o de las
lı́neas de absorción para las ramas R y P del 12 C2 H2 han sido medidas con alta precisión.
Los valores para las longitudes de onda en el vacı́o fueron ajustados para el cambio
de presión debido a las colisiones entre las moléculas del acetileno a 6.7 kPa (50 Torr)
en el interior de la célula SRM , para obtener valores certificados de longitud de onda
para esta SRM. El espectro de la banda de absorción se muestra en la figura 4.13 y
los valores certificados de longitud de onda se dan en la tabla 4.12. Los centros de
longitud de onda de 15 lı́neas mostrados en la tabla 4.12 están certificados con una
incertidumbre de 0.1 pm, 39 lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.3 pm,
y 2 lı́neas están certificadas con una incertidumbre de 0.6 pm. Estas incertidumbres
son las incertidumbres expandidas usando un factor de cobertura k=2 (es decir la
incertidumbre es ±2σ).
134
Espectro de absorción del acetileno 12 C
Figura 4.13 2 H2 .
INSTRUCCIONES DE USO
Consideraciones Generales: La SRM puede ser usada para calibrar un láser o un instru-
mento de medida de longitud de onda en la región de los 1510 nm a los 1540 nm.
Los valores de la tabla 4.12 son longitudes de onda en vacı́o, si el usuario necesita las
longitudes de onda en el aire, se debe aplicar la corrección apropiada para el ı́ndice de
refracción del aire (no tengo esta corrección). Dependiendo del tipo de instrumento que
está siendo calibrado, se puede utilizar una fuente de banda ancha o un láser sintoni-
zable de banda estrecha. En la figura 4.14 se muestran conexiones ópticas tı́picas. La
célula es bidireccional (no tiene puerto de entrada/salida preferente), las conexiones con
135
Tabla 4.12 Longitudes de onda certificadas para la SRM 2517a
Rama R Longitud de onda (nm) Rama P Longitud de onda (nm)
29 1511.7304(3) 1 1525.7599(6)
28 1512.0884(3) 2 1526.3140(3)
27 1512.45273(12) 3 1526.87435(10)
26 1512.8232(3) 4 1527.44114(10)
25 1513.2000(3) 5 1528.01432(10)
24 1513.5832(3) 6 1528.59390(10)
23 1513.9726(3) 7 1529.1799(3)
22 1514.3683(3) 8 1529.7723(3)
21 1514.7703(3) 9 1330.3711(3)
20 1515.1786(3) 10 1520.97627(10)
19 1515.5932(3) 11 1531.5879(3)
18 1516.0141(3) 12 1532.2060(3)
17 1516.44130(11) 13 1532.83045(10)
16 1516.8747(3) 14 1533.46136(10)
15 1517.3145(3) 15 1534.0987(3)
14 1517.7606(3) 16 1534.7425(3)
13 1518.2131(3) 17 1535.3928(3)
12 1518.6718(3) 18 1536.0495(6)
11 1519.13686(10) 19 1536.7126(3)
10 1519.6083(3) 20 1537.3822(3)
9 1520.0860(3) 21 1538.0583(3)
8 1520.5700(3) 22 1538.7409(3)
7 1521.06040(10) 23 1539.42992(10)
6 1521.5572(3) 24 1540.12544(11)
5 1522.0603(3) 25 1540.82744(11)
4 1522.5697(3) 26 1541.5359(3)
3 1523.0855(3) 27 1542.2508(3)
2 1523.6077(3)
1 1524.13609(10)
la unidad deben realizarse utilizando fibras ópticas monomodo con conectores FC/PC
en los extremos.
Uso con una Fuente de Banda Ancha: Una fuente de banda ancha en la región de los
1500 nm (como un diodo emisor de luz, luz blanca o una fuente de emisión espontánea
amplificada) es útil cuando se calibra un instrumento como un analizador óptico de
espectro basado en red de difracción. El esquema para este tipo de calibración se
muestra en la figura 4.14 (a). La luz procedente de una fuente de banda ancha es
introducida dentro de la SRM y la salida (transmisión a través de la SRM) se conecta al
instrumento que está siendo calibrado. Las lı́neas de absorción del acetileno aparecen
como valles en el espectro de la fuente de luz. En general, los valles no serán tan
136
Figura 4.14 (a) Configuración cuando se usa el SRM con una fuente de banda ancha para cali-
brar un analizador de espectros óptico. (b) Configuración cuando se usa el SRM para calibrar una
fuente sintonizable. Se puede calibrar un medidor de longitud de onda usando un láser sitonizable
con la configuración de la figura (b) y midiendo las longitudes de onda con el medidor.
profundos como los mostrados en la figura 4.13. La mayor parte de los instrumentos
de este tipo tendrán una resolución de ancho de banda significativamente mayor que
los anchos de las lı́neas de absorción del SRM.
Uso con una Fuente Sintonizable: La SRM puede usarse para calibrar la escala de lon-
gitudes de onda de una fuente sintonizable en esta región (como un diodo láser, una
fibra láser o una fuente filtrada mediante un filtro sintonizable). El esquema para este
tipo de calibración se muestra en la figura 4.14 (b). El láser se sintoniza sobre una o
más lı́neas de absorción del acetileno. La transmisión a través de la SRM es captada
por un detector, la potencia transmitida pasa por un mı́nimo en el centro de la lı́nea
de absorción. Además, un láser sintonizable y la SRM pueden usarse para evaluar la
calibración de un medidor de longitud de onda midiendo la longitud de onda del láser
(usando el medidor) mientras el láser es sintonizado sobre la lı́nea de absorción. Este
método se aplica en el capı́tulo 5 para la realización de un patrón de frecuencias.
137
Tabla 4.13 Calibración de un OSA(Q8384)con una fuente de banda ancha.
número λOSA σOSA λref σref Diferencia
de medida (nm) (nm) (nm) (nm) (nm)
138
Tabla 4.14 Cálculo de incertidumbres en la calibración de un OSA(Q8384) con una fuente de
banda ancha.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)
139
1, realizar un barrido con alta resolución de la lı́nea. Usar una densidad de puntos de
al menos un punto cada 1 pm y dividir el espectro de transmisión de la SRM mediante
el espectro de la fuente para obtener una traza normalizada. Usando una técnica de
ajuste como por ejemplo mı́nimos cuadrados, ajustar el dato de absorción a una forma
de lı́nea tipo Lorentziana o tipo Voight.
13
Otros gases útiles para la calibración a longitudes de onda propias del WDM son C 2 H2 ,
CNH, CO2 o CO. Las tablas 4.15 y 4.16 muestran las longitudes de onda de absorciones de
acetileno con C 13 y ácido cianhı́drico.
0 1532.7701 30 1551.5601
1 1532.2541 29 1550.8662
2 1531.7436 28 1550.1776
3 1531.2385 27 1549.4955
4 1530.7389 26 1548.8193
5 1530.2449 25 1548.1491
6 1529.7566 24 1547.4849
7 1529.2740 23 1546.8266
8 1528.7972 22 1546.1742
9 1528.3259 21 1545.5278
10 1527.8604 20 1544.8872
11 1527.4007 19 1544.2525
12 1526.9467 18 1543.6237
13 1526.4984 17 1543.0008
14 1526.0558 16 1542.3837
15 1525.6190 15 1541.7724
16 1525.1880 14 1541.1670
17 1524.7626 13 1540.5674
18 1524.3431 12 1539.9735
19 1523.9293 11 1539.3855
20 1523.5213 10 1538.8032
21 1523.1191 9 1538.2267
22 1522.7226 8 1537.6559
23 1522.3320 7 1537.0909
6 1536.5316
5 1535.9779
4 1535.4298
3 1534.8872
2 1534.3499
1 1533.8180
140
Tabla 4.16 Longitudes de onda de absorción de la banda 2 × ν3 del 13 H 14 CN .
25 1528.054 1 1543.1148(6)
24 1528.4862(6) 2 1543.809
23 1528.9271(6) 3 1544.515
22 1529.376 4 1545.2314(6)
21 1529.8376(6) 5 1545.9563(6)
20 1530.306 6 1546.690
19 1530.780 7 1547.435
18 1531.2764(6) 8 1548.190
17 1531.774 9 1548.9554(6)
16 1532.283 10 1549.7302(6)
15 1532.8024(6) 11 1550.5149(6)
14 1533.329 12 1551.311
13 1533.867 13 1552.116
12 1534.4159(6) 14 1552.931
11 1534.972 15 1553.756
10 1535.5401(6) 16 1554.5892(6)
9 1536.1170(6) 17 1555.4346(6)
8 1536.7034(6) 18 1556.292
7 1537.2997(6) 19 1557.157
6 1537.903 20 1558.033
5 1538.5204(6) 21 1558.919
4 1539.149 22 1559.814
3 1539.786 23 1560.7185(6)
2 1540.431 24 1561.6344(6)
1 1541.087 25 1562.563
0 1541.753
141
4.4 Medidor de referencia
Otra posibilidad para la calibración de los analizadores de espectros ópticos es usar un
medidor de longitud de onda de referencia. Para poder realizarse este sistema deberemos
de disponer de un laser sintonizable en las longitudes de onda de interés, cuya emisión sea
espectralmente pura. El medidor de longitud de onda debe estar calibrado con respecto a
un láser de referencia, o una célula de absorción de referencia. La conexión entre el láser
sintonizable y el medidor de referencia y el analizador de espectros óptico a calibrar puede
realizarse a través de un acoplador de fibra óptica, como se representa en la figura 4.15.
Este sistema tiene por ventaja frente a todos los anteriores, que puede utilizarse en todo
el intervalo de longitudes de onda para el que se dispone de láser sintonizable y para el que
el medidor de longitud de onda puede estar calibrado.
Este sistema con el medidor de referencia HEWLETT PACKARD, modelo 86120C, cali-
brado según el capı́tulo 5, se ha implementado en dos laboratorios de Telefónica S.A: Labora-
142
torio de Metrologı́a y Calibración y el Laboratorio de Calibración y Medidas Electroópticas.
143
de poder calibrar los medidores de longitud de onda o los Fabry-Perot. Sin embargo las
bandas de emisión de láseres de referencia o las lı́neas de absorción de gases bien definidas,
no siempre cubren completamente las bandas de interés de los sistemas de comunicaciones
por fibra óptica. Para extender las calibraciones a otras longitudes de onda puede utilizarse
la mezcla de cuatro ondas.
La mezcla de cuatro ondas (FWM) en fibras ópticas permite aumentar el rango de lon-
gitudes de onda para estándares basados en células de gas. Las referencias ópticas de fre-
cuencia basadas en láseres fijados en las transiciones del Acetileno y del HCN se usan en la
región espectral de los 1500 nm para proporcionar referencias absolutas de frecuencia con
144
alta precisión en las bandas de telecomunicaciones de fibra óptica. Sin embargo, el rango de
longitudes de onda válido está restringido y las transiciones no van a estar localizadas en
las frecuencias ópticas más convenientes mientras que los canales de los sistemas de teleco-
municaciones operan en una región fija de frecuencias con un espaciado de 50 o 100 GHz,
centrados en 193.1 THz (región ITU). Mediante la adecuada selección de las transiciones es
posible sintetizar lı́neas que estén muy cercanas o coincidan con las frecuencias ITU.
Para una fibra con longitud de onda de dispersión nula uniforme, la falta de concordancia
de fase en la región de dispersión nula viene definida por la ecuación 4.12:
πλ4 dDc
∆β = − [(fi − f0 ) + (fj − f0 )](fi − fk )(fj − fk ) (4.12)
c2 dλ
con:
λ: longitud de onda.
Dc : dispersión cromática de la fibra.
fi , fj y fk : frecuencias de las señales de entrada.
f0 : frecuencia de dispersión nula.
c: velocidad de la luz en el vacı́o.
Se puede ver que la condición de adapatación de fase (∆β = 0) siempre se satisface cuando
la longitud de onda (frecuencia) de dispersión nula está situada en el medio, entre las dos
señales de frecuencias fi y fj , es decir, fi − f0 = −(fj − f0 ). A partir de esta condición y
siendo la frecuencia de la señal producto de la FWM: fF = fi + fj − fk = 2f0 − fk , entonces
fk − f0 = −(fF − f0 ). Por tanto, la señal producto de la FWM es generada a la misma
distancia frecuencial pero al lado opuesto de la longitud de onda de frecuencia fk respecto
de f0 , esto es lo que se conoce como caso no degenerado de FWM y podemos verlo en la
figura 4.16.
La mezcla de cuatro ondas degenerada se da cuando dos de las tres señales ópticas tiene
la misma frecuencia, fi = fj , en este caso la condición de concordancia de fase siempre
se cumple cuando fi coincide con la frecuencia de la longitud de onda de dispersión nula,
fi = f0 , y la frecuencia de la señal producto de la mezcla de cuatro ondas será fF = 2fi − fk .
145
Figura 4.16 Mezcla de cuatro ondas no degenerada.
de la selección de una fibra óptica con las caracterı́sticas de dispersión apropiadas. Será
posible combinar fibras ópticas con diferentes caracterı́sticas de dispersión en las longitudes
adecuadas obtener las longitudes de onda nuevas en las regiones apropiadas.
146
Tabla 4.19 Combinaciones de longitudes de onda, λi y λj , ancladas en lı́neas de absorción del
acetileno que originarán un producto de FWM dentro del rango de 40 GHz de una lı́nea de absorción
del CO.
λi C13
2 H2 λj C13
2 H2 λFWM CO ∆ν(GHz)
1532.864 P(5) 1552.968 P(32) 1573.767 R(0) 19.504
1533.411 P(6) 1552.968 P(32) 1572.868 R(1) -19.706
1538.563 P(15) 1552.968 P(32) 1567.324 R(8) -39.19
1534.521 P(8) 1552.968 P(32) 1571.995 R(2) 15.9
1535.083 P(9) 1552.968 P(32) 1571.149 R(3) -15.222
1536.222 P(11) 1552.968 P(32) 1570.331 R(4) 30.081
1536.799 P(12) 1552.968 P(32) 1569.539 R(5) 7.035
1537.382 P(13) 1552.968 P(32) 1568.774 R(6) -12.127
1537.969 P(14) 1552.968 P(32) 1568.036 R(7) -27.66
1539.161 P(16) 1552.968 P(32) 1567.324 R(8) 36.52
1539.766 P(17) 1552.968 P(32) 1566.639 R(9) 29.458
1540.376 P(18) 1552.968 P(32) 1565.982 R(10) 26.158
1540.993 P(19) 1552.968 P(32) 1565.35 R(11) 26.885
1541.615 P(20) 1552.968 P(32) 1564.746 R(12) 31.372
1541.615 P(20) 1552.968 P(32) 1564.168 R(13) -39.425
1542.244 P(21) 1552.968 P(32) 1564.168 R(13) 39.885
1542.244 P(21) 1552.968 P(32) 1563.616 R(14) -27.703
1542.789 P(22) 1552.968 P(32) 1563.091 R(15) -12.066
1543.524 P(23) 1552.968 P(32) 1562.593 R(16) 7.969
1544.169 P(24) 1552.968 P(32) 1562.121 R(17) 31.166
1544.169 P(24) 1552.968 P(32) 1561.676 R(18) -23.539
1544.825 P(25) 1552.968 P(32) 1561.258 R(19) 7.428
1545.415 P(26) 1552.968 P(32) 1560.866 R(20) 33.28
1545.415 P(26) 1552.968 P(32) 1560.5 R(21) -11.717
1546.176 P(22) 1552.968 P(32) 1559.848 R(23) 3.507
1546.176 P(22) 1552.968 P(32) 159.562 R(24) -31.743
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.684 R(28) 24.138
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.53 R(29) 5.22
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.404 R(30) -10.418
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.303 R(31) -22.772
1547.487 P(24) 1552.968 P(32) 1558.23 R(32) -31.839
147
148
Capı́tulo 5
Realización de un patrón de
frecuencias
5.1 Introducción
Hay que hacer notar que los estudios y los datos obtenidos se han realizado en la región
del infrarrojo, en la ventana de los 1500 nm, más concretamente entre 1510 nm y 1540 nm. La
elección de esta ventana se debe a su gran importancia en el campo de las telecomunicaciones
a través de fibra óptica ya que es en esta ventana donde se ha conseguido minimizar la
atenuación de potencia a través de la reducción de los fenómenos de absorción y dispersión
en las fibras.
149
5.2 Descripción de la metodologı́a
El método pensado para la realización del patrón de frecuencia es fijar una emisión de
una fuente en las absorciones de compuestos conocidos, usados como referencia. Entre las
numerosas fuentes de luz disponibles en el Departamento de Metrologı́a del Instituto de
Fı́sica Aplicada del CSIC, lámparas espectrales, láseres sintonizables, láseres FP y DFBs y
diodos emisores de luz LEDs, se han elegido los láseres sintonizables y DFBs como fuentes
más idóneas para la presente aplicación por ser de espectro estrecho pudiendo ası́ ser fijados
en las longitudes de onda de las absorciones.
Con estas perspectivas, y usando DFBs y láseres sintonizables con los cuales se consigue
cubrir una amplia región espectral comprendida entre 1220 nm y 1640 nm de manera con-
tinua, podemos pensar en la posibilidad de realizar patrones de frecuencias en esta ventana,
seleccionando adecuadamente los gases de referencia y realizando un sistema automático de
fijación del laser a cada una de las frecuencias de referencia.
De aquı́ en adelante, se hará referencia como fuente de luz, a un láser sintonizable ya que
es con el que se ha obtenido una mayor precisión y mejores resultados, además está el hecho
150
de que el intervalo de longitudes de onda del DFB empleado es muy pequeño (1529.500
a 1531.202 nm) comparado con el de los láseres sintonizables, existiendo tan sólo en ese
12
intervalo tres lı́neas de absorción del acetileno C2 H2 , la lı́nea P8 en 1529.1799 nm, la lı́nea
P9 en 1529.3711 nm y la lı́nea P10 en 1530.97627 nm.
Para fijar el láser en una longitud de onda (frecuencia) se hace uso de una célula de
absorción de acetileno calibrada por el NIST, y que ya fue descrita en profundidad en el
capı́tulo 3 apartado 4.3. El funcionamiento es el siguiente, cuando el haz de luz procedente
del láser sintonizable se introduce mediante fibra óptica en la célula, el gas acetileno contenido
a cierta presión (6.7 kPa o 50 Torr) dentro de esta célula absorberá parte de la potencia
incidente, la cantidad de potencia absorbida dependerá de la longitud del camino recorrido
por el haz incidente dentro de la célula, de lo próxima que esté la longitud de onda del haz
incidente de algún centro de lı́nea de absorción del acetileno y de lo fuerte que sea esa lı́nea
de absorción.
Estas lı́neas tienen distinta absorción, es decir, habrá unas lı́neas más fuertes que otras,
de todas maneras son fijas y están bien definidas, tal y como se pudo ver en la figura 4.13
del capı́tulo 4.
Por tanto, a la salida de la célula, la potencia del haz habrá disminuido tanto más cuanto
más cerca del centro de lı́nea se encuentre la longitud de onda del haz de luz, de manera que
realizando barridos en longitud de onda (frecuencia) con el láser sintonizable y obteniendo
la potencia a la salida de la célula podremos centrar el láser sintonizable en alguno de los
centros de lı́nea de absorción de la célula de acetileno.
Todas las fases se desarrollan automáticamente una detrás de otra sin que el usuario
tenga que preocuparse de nada, tan sólo debe introducir los datos iniciales en la fase de
barrido grueso. La interfaz gráfica de usuario está, por tanto, diseñada para que pueda ser
utilizada por cualquier persona sin necesidad de que posea grandes conocimientos sobre la
materia.
Pese a que tanto el barrido grueso como el barrido fino se controlan mediante software
a través del ordenador, hay importantes diferencias en cómo el láser sintoniza las distintas
frecuencias en cada barrido.
151
En el barrido grueso, la sintonı́a se logra rotando mecánicamente la red de difracción
interna del mismo, siguiendo el esquema de la figura 5.1.
El doble paso que realiza el haz de luz por la red de difracción favorece una mayor
dispersión contribuyendo a una mejor pureza espectral de la longitud de onda elegida. El
recubrimiento antireflejante de la superficie del diodo favorece también la pureza espectral
protegiendo la cavidad láser frente a cualquier tipo de interferencia.
Respecto a la estabilidad temporal de la fuente de luz, se han analizado dos factores que
podrı́an afectar negativamente a los procesos de calibración:
¦ Por otro lado, la eventual inestabilidad de longitud de onda de la fuente con el paso del
tiempo, que es cuantificable observando la potencia transmitida a través de la célula
de acetileno para una frecuencia fija y centrada a lo largo del tiempo .
152
Figura 5.2 Estabilidad de potencia del láser sintonizable durante 40 minutos.
153
5.3 Descripción instrumental
El montaje utilizado se muestra en la figura 5.3, si bien el medidor de longitud de onda
no es necesario para la realización del patrón pero se ha aprovechado el montaje para la
calibración del mismo.
154
Tabla 5.1 Especificaciones del láser sintonizable empleado
Caracterı́sticas de sintonización
Precisión absoluta en longitud de onda ±0.04 nm
Repetibilidad de sintonización ±0.005 nm
Resolución por defecto 0.001 nm
Frecuencia óptica de sintonizado fino ±2 GHz
Velocidad de sintonı́a 1 s (100 nm)
Caracterı́sticas de salida
Potencia Estándar 10 mW
Estabilidad de potencia ±0.01 dB
Ancho de lı́nea (control de coherencia OFF) 150 kHz (tı́pico)
Ancho de lı́nea (control de coherencia ON) >100 MHz
Relación de rechazo al modo lateral (SMSR) >45 dB
Interfaz
Interfaz Óptico conector FC-APC
Aislamiento de salida 35 dB
Pérdidas de retorno -60 dB
Modulación en baja frecuencia
modo APC 30 kHz a 8 MHz
modo corriente directa DC a 8 MHz
Modulación en alta frecuencia 30 kHz a 1 GHz
Caracterı́sticas ambientales
Rango operativo de temperatura +15 a +30 o C
155
Adicionalmente a las fuentes tipo diodo láser también se utilizó una fuente tipo DFB
con un intervalo de longitudes de onda comprendido entre 1529.461 nm y 1531.163 nm,
salida óptica monomodo y divergencia de salida de 0.09 rad. También con un conector
FC/APC. Las especificaciones del DFB se muestran en la tabla 5.2.
⊕ Detector: Existen dos tipos de detectores sensibles para esta región espectral de 1500
nm, los detectores de InGaAs y los detectores de Germanio. Básicamente la diferencia
entre uno y otro es la situación de la longitud de onda de corte, a partir de la cual
la responsividad del detector decae muy rápidamente y hasta la cual la responsividad
crece de forma más o menos lineal, tal y como puede verse en la figura 1.30 del capı́tulo
1. En los detectores de Germanio, la longitud de corte está situada aproximadamente
en 1500 nm y para los detectores de InGaAs ésta se sitúa en 1600 nm, además, en la
región espectral de 1510 a 1540 nm, la responsividad de los detectores de InGaAs es
bastante horizontal no habiendo diferencias significativas para las distintas longitudes
de onda de esta región. Es por esto que se ha hecho uso de un detector de InGaAs
para determinar la potencia a la salida de la célula de acetileno.
156
Tabla 5.2 Especificaciones del DFB empleado
Caracterı́sticas de sintonización
Rango de sintonización 1.6 nm (1.8 nm valor tı́pico)
Precisión en longitud de onda ±0.03 nm
Estabilidad en longitud de onda 0.005 nm/h, con calentamiento inicial
±0.005 nm/24 h (tı́pico), Ta constante
Caracterı́sticas de salida
Potencia máxima +10 dBm
Estabilidad de potencia 0.01 dB/h, con calentamiento inicial
±0.01 dB/24 h (tı́pico), Ta constante
Ancho espectral(FWHM) <30 MHz
Error de linealidad de potencia ±2% de la máxima potencia de salida
Relación de rechazo al modo lateral (SMSR) >40 dB
157
Tabla 5.3 Especificaciones del Amplificador utilizado.
⊕ Voltı́metro: Para medir la tensión (en continua) procedente del detector, se ha utilizado
un multı́metro digital HEWLETT-PACKARD modelo 3478A. Las especificaciones de
este multı́metro en tensión continua se pueden ver a continuación, para el modo de 5
1/2 dı́gitos que es el que usamos.
Caracterı́sticas de entrada
158
Resistencia de entrada
Intervalo de 30 mV, 300 mV, 3 V: >100 GΩ
Intervalo de 30 V, 300 V: 10 M Ω ± 1%
Tensión máxima de entrada
303 V rms o 450 V de pico
a tierra: ±500 V de pico
Precisión de medida
±(% de la lectura + número de cuentas)
Auto-zero ON
Coeficiente de temperatura
de 0o C a 55o C
Auto-zero ON
±(% de la lectura + número de cuentas)/o C
159
Relaciones de lectura máximas (lecturas/sg)
El bus consta de ocho lı́neas, denominadas lı́neas de datos, las cuales pueden ser usadas
para el envı́o de comandos multilı́nea desde el controlador y para transferir mensajes
entre instrumentos presentes en el bus. Además existen otras cinco lı́neas de órdenes:
ATN, REN, IFC, SRQ y EOI. Estas lı́neas sirven, respectivamente, para indicar que
la información que circula por el bus es un comando, para poner los instrumentos en
estado de retorno, para limpiar los interfaces de los instrumentos, para indicar una
petición de atención al controlador y para indicar el fin del mensaje.
Finalmente, existen tres lı́neas de protocolo: DAV, DAC y RFD, para indicar la validez
o no del dato que circula por el bus, que el dato ha sido aceptado y que el instrumento
está listo para recibir.
La transmisión de señales por estas lı́neas se hace empleando una tarjeta hardware
y un software regulado por la norma IEEE-488, que permite, mediante la llamada a
funciones, activar lı́neas y transmitir mensajes.
160
5.4 Descripción del entorno de programación
El sistema de programación que se ha utilizado para el manejo y control de los instru-
mentos anteriormente descritos es LabWindows/CVI, comercializado National Instruments
Corporation.
Este entorno ofrece un marco de trabajo muy útil para un laboratorio, puesto que permite
comunicarse con instrumentos a través de interfaces GPIB y RS-232, proporciona funciones
propias para análisis matemático de datos, funciones propias para representaciones gráficas
y funciones de control de diversas tarjetas de adquisición de datos (Analógicas y Digitales).
·Inicialización
·Barrido Grueso
·Barrido Fino
·Estabilidad
161
Esto proporciona una gran versatilidad ya que permite la posibilidad de utilizar otras
células de absorción con distinta presión, distinta longitud de camino óptico o con otro gas
12
diferente del acetileno C2 H2 , para ası́ poder realizar calibraciones con diferente precisión
y en otras regiones espectrales. Basta con tener almacenadas las lı́neas de absorción de esa
nueva célula en un fichero de texto. Las lı́neas de absorción útiles para este propósito deben
ser lı́neas de referencia evaluadas por estudios de espectroscopı́a molecular, por ejemplo los
registrados por la International Union of Pure and Applied Chemistry (IUPAC).
Cuando el usuario cargue las lı́neas de absorción, éstas aparecerán en una tabla tanto
en unidades de longitud de onda (nm) como su correspondencia en unidades de frecuencia
(GHz). El usuario deberá finalmente elegir las lı́neas (en frecuencia) para las que desea
realizar la fijación y estabilización de la fuente de luz.
Hay que resaltar que pese a que se puede seleccionar como fuente de luz un DFB o un láser
sintonizable, sólo en el caso del láser sintonizable se puede realizar la fase tres de Barrido Fino
ya que el DFB no ofrece esta posibilidad al carecer internamente de la mecánica adecuada y
de las correspondientes órdenes de programación, que sı́ dispone el láser sintonizable.
En las figuras 5.5 y 5.6 se puede ver, respectivamente, el diagrama de flujo de esta primera
fase y la interfaz gráfica de usuario.
En esta segunda fase, una vez seleccionado el centro de lı́nea de absorción, se realiza un
barrido con el que se centrará el láser sintonizable en la absorción. Este barrido se lleva a
cabo con una precisión de 0.1 GHz (0.8 pm para esta ventana espectral), es decir, el láser
se va desplazando en frecuencia con un paso de 0.1 GHz, almacenándose en cada paso los
datos de frecuencia del láser (GHz) y de potencia relativa (dB) del haz de luz a la salida
de la célula de acetileno, medida con el detector de InGaAs, y que se van representando
gráficamente.
En esta fase, el usuario debe introducir inicialmente el ancho espectral sobre el que desea
realizar el barrido grueso junto con la potencia (en mW) de salida del láser sintonizable, este
último dato carece de importancia relevante en el resto del proceso. A continuación pasará a
introducir dos datos que serán posteriormente utilizados en la Fase de Estabilidad Temporal,
como son el tiempo (en minutos) de duración del proceso y el número de datos a tomar en
ese tiempo.
162
Figura 5.5 Diagrama de flujo de la fase de Inicialización.
A partir del dato de ancho espectral introducido por el usuario y del centro de lı́nea
de absorción seleccionado en la fase anterior, el programa sitúa el láser en una frecuencia
inferior a la del centro de lı́nea y a una distancia de la mitad del ancho espectral elegido,
éste será el punto de comienzo del barrido grueso.
163
Figura 5.6 Interfaz gráfica de la fase de Inicialización.
164
El programa almacena el dato de tensión, proporcionado por el multı́metro digital, para
esta frecuencia de inicio, que será utilizado como tensión de referencia (V0 ) con la que cal-
cular la potencia relativa, en dB, transmitida a través de la célula para el resto de puntos
frecuenciales del barrido. En el cálculo de la potencia relativa se emplea la expresión 5.2.
con:
Vi : tensión del punto frecuencial i-ésimo del barrido.
V0 : tensión en el punto de frecuencia inicial.
Con el fin de reducir el efecto de la leve inestabilidad observada en el último dı́gito del
multı́metro digital, de cada punto frecuencial se toman 10 medidas de tensión y se calcula
la media, siendo con este valor medio con el que se calcula la potencia relativa en dB.
Una vez que se ha finalizado el barrido sobre el rango espectral elegido y almacenados los
datos de frecuencia y potencia relativa, el programa calcula y muestra la mı́nima potencia y
la frecuencia correspondiente, que también se puede visualizar en el gráfico representado.
En esta fase también se establecen tres umbrales necesarios para la etapa siguiente de
barrido fino, el valor de estos umbrales dependerá de si la lı́nea de absorción es intensa o
no. Se han considerado como lı́neas de absorción intensa aquellas es las que, a partir de los
datos de potencia obtenidos en el barrido grueso, la diferencia entre el centro de lı́nea y el
punto inicial o final de barrido supera los 4 dB.
165
En la figura 5.7 se muestra el diagrama de flujo de esta segunda fase, la figura 5.8 nos
enseña el diagrama de flujo de la rutina de Barrido Grueso y en la figura 5.9 se puede ver la
pantalla de visualización para el usuario.
Para eludir posibles errores sistemáticos a la hora de realizar el barrido fino provenientes
de moverse en frecuencia siempre en un mismo sentido, normalmente ascendente, se ha
optado por realizar un barrido oscilante, en el cual se comenzará incrementando la frecuencia
hasta que se supere una valor umbral de potencia, después se decrementará hasta sobrepasar
otro umbral y finalmente volverá a incrementarse la frecuencia acabando cuando, de nuevo,
se supere otro valor umbral.
166
Figura 5.8 Diagrama de flujo de la rutina de Barrido Grueso.
167
El programa comenzará centrando el láser sintonizable en la frecuencia de máxima ab-
sorción de potencia localizada en el barrido grueso, acto seguido empezará a incrementarse
la frecuencia del láser con un paso de 0.02 GHz (Barrido 1), almacenándose para cada punto
frecuencial los datos de potencia relativa y frecuencia, que también son representados en un
gráfico. Ası́ seguirá hasta que la diferencia entre la potencia medida en la frecuencia actual
y la mı́nima potencia de entre las calculadas hasta ahora sobrepase un valor lı́mite (umbral
1). En este primer barrido ascendente se ha optado por un paso de 0.02 GHz con el fin de
reducir el tiempo de proceso y comprobando, de forma experimental, que el paso en esta
primera etapa no influye en absoluto en la localización del centro de lı́nea.
A continuación, la frecuencia del láser irá decrementándose con un paso de 0.01 GHz
(Barrido 2), almacenando y representando igualmente los datos de frecuencia y potencia
relativa. Este barrido descendente continuará hasta que la diferencia entre la potencia medida
en la frecuencia actual y la mı́nima potencia de entre las calculadas hasta ahora supere un
valor lı́mite (umbral 2). El programa guarda la potencia mı́nima obtenida en este barrido
descendente y la frecuencia correspondiente.
Finalmente, la frecuencia del láser vuelve a incrementarse con un paso de 0.01 GHz
hasta que como en los casos anteriores se vuelve a superar un tercer valor lı́mite (umbral 3).
También se almacena la frecuencia para la que se obtiene la menor potencia relativa en este
último barrido ascendente.
De esta manera concluye el barrido fino, el programa entonces muestra al usuario las
frecuencias de máxima absorción (menor potencia relativa) tanto del barrido 2 como del
barrido 3, ası́ como la mı́nima potencia relativa del barrido 2.
Por último, se centra el láser en la frecuencia de máxima absorción del barrido 2 (barrido
descendente), con esto el sistema queda preparado para empezar la cuarta y última fase de
estabilidad temporal.
Las figuras 5.10, 5.11, 5.12, 5.13 y 5.14 representan, respectivamente, el diagrama de flujo
de esta fase de barrido fino, los diagramas de flujo de los Barridos 1, 2 y 3 que componen el
barrido fino y la pantalla de interfaz gráfica del usuario.
168
Figura 5.10 Diagrama de flujo de la fase de Barrido Fino.
puede afectar a las medidas y calibraciones realizadas con el mismo láser durante periodos
de tiempo relativamente largos.
Cuando se calibra un cierto número de equipos, haciendo uso de la misma fuente de luz,
se puede emplear un tiempo considerable en ello por lo que se hace necesario conocer cuándo
el láser puede haberse desestabilizado perdiendo las condiciones de funcionamiento originales
y saliéndose del valor de incertidumbre certificado inicialmente.
Es por esto que en esta última fase, se analiza la pérdida de estabilidad del láser sintoni-
zable empleado. Para ello, teniendo el láser centrado en la frecuencia de máxima absorción
y a partir de los datos introducidos por el usuario en la pantalla de Barrido Grueso (segunda
fase) correspondientes al tiempo total del análisis de estabilidad y al número de muestras
que se quieren tomar, el programa calcula el intervalo de tiempo entre cada muestra sin más
que dividir el tiempo total entre el número de muestras.
169
Figura 5.11 Diagrama de flujo del Barrido 1.
La razón de la elección de 0.2 dB como valor lı́mite para el realineamiento del láser se
explicará en el apartado de “Resultados y Análisis de datos”, aunque se puede anticipar que
este valor determina el instante en el que el láser se ha desalineado 1 pm respecto del centro
de la lı́nea de absorción.
170
Figura 5.12 Diagrama de flujo del Barrido 2.
171
Figura 5.13 Diagrama de flujo del Barrido 3.
172
Figura 5.14 Interfaz gráfica de la fase de Barrido Fino.
173
Figura 5.15 Diagrama de flujo de la fase de Estabilidad.
174
Figura 5.16 Pantalla de visualización de la fase de Estabilidad.
175
5.6 Resultados y Análisis de datos
2A W
Y = Y0 + ( )( ) (5.3)
π 4(X − Xc )2 + W 2
siendo:
Y0 : constante que determina la ordenada inicial de la Lorentziana.
A, W: constantes que determinan de manera correlacionada la amplitud y el ancho de
la Lorentziana.
Xc : abscisa central de la Lorentziana.
La forma de las lı́neas de absorción, estrictamente, responde a una función tipo Voigt, que
es la convolución de una Lorentziana y una Gaussiana, sin embargo, emplear una función
Lorentziana simplifica la modelización y agiliza el proceso. El resultado de emplear una
función Lorentziana para realizar el ajuste, de manera completa, sobre una lı́nea de absorción
particular se puede ver en la figura 5.17, comprobándose que el modelo Lorentziano es
ciertamente aproximado a la realidad, siendo los errores mı́nimos.
El ajuste de la función Lorentziana para algunas lı́neas de absorción puede verse en las
figuras 5.18, 5.19 y 5.20.
Este ajuste ha sido necesario debido a que como muestra en estas figuras, el tramo de
mı́nima potencia relativa es bastante plano, y por razones de pequeñas inestabilidades bien
en el láser, bien en el multı́metro, o por temperatura, se puede obtener como mı́nimo (centro
de lı́nea de absorción) un punto que no es consecuente con la tendencia del resto de puntos.
El ajuste Lorentziano permite salvar este problema con el fin de localizar adecuadamente el
punto de mı́nima potencia y, como se señalará a continuación, poder calcular variaciones de
potencia y de longitud de onda respecto de este punto mı́nimo.
176
Figura 5.17 Ajuste Lorentziano para la lı́nea R9 completa.
Con los datos del ajuste de la función Lorentziana para ciertas lı́neas, se ha estudiado
cuál es el desplazamiento en longitud de onda (pm) que implica una variación de potencia
de 1 dB respecto del centro de la lı́nea, tal y como se puede ver en la figura 5.21. Para ello
se ha utilizado la expresión 5.4, derivada de la ecuación 5.3.
v
AW W2
u
u
X = Xc + t − (5.4)
2π(Y − Y0 ) 4
177
Figura 5.18 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea P9.
178
Figura 5.20 Barrido Fino y ajuste Lorentziano para la lı́nea R11.
179
Los resultados obtenidos en relación con la transmitancia normalizada de la lı́nea corres-
pondiente se muestran en la tabla 5.8.
Estos datos han sido ajustados usando una función polinómica de 2o grado y el resultado
puede verse en la figura 5.22.
Este resultado nos permite estimar el desplazamiento en longitud de onda (pm) que
produce una variación de potencia de 1 dB para otras lı́neas de absorción sin más que conocer
la transmitancia normalizada de la lı́nea, siendo éste un dato obtenido del certificado de la
célula de absorción.
180
5.6.2 Análisis de la Estabilidad
El estudio de la estabilidad nos permite conocer el periodo de tiempo en el que el láser
permanece alineado en el centro de la lı́nea de absorción con un error adecuado, en nuestro
caso queremos que cuando el láser se desplace, aproximadamente, 1 pm respecto del centro
de lı́nea en el que estaba anclado se vuelva a alinear. Esto nos permitirá asegurar que el
láser permanecerá alineado en una longitud de onda con un error de 1 pm.
Como ejemplo, la figura 5.23 muestra la estabilidad del láser sintonizable durante 45
minutos después de haber sido alineado en el centro de la lı́nea P9 (1530.3711 nm o 195895.3
GHz)
Figura 5.23 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P9 durante 45 minutos.
Como se puede comprobar en ella, el láser permanece muy estable durante los primeros
20 minutos, después la potencia empieza a subir de manera más abrupta, lo cual nos indica
que el láser sintonizable se ha desalineado, ya no se encuentra sintonizado en el centro de la
lı́nea de absorción sino que se ha desplazado levemente a uno u otro lado, la potencia que se
absorbe, entonces, en la célula es menor y por tanto la potencia transmitida crece.
181
Figura 5.24 Medida de la estabilidad del láser sintonizable en la lı́nea P6 durante 10 minutos.
En esta fase se ha elegido el valor de 0.2 dB como lı́mite de potencia transmitida, a partir
del cual se debe volver a alinear el láser con el barrido fino. La elección de este valor se debe
a que cuando se supera éste, el láser se ha desplazado en longitud de onda por encima de 1
pm respecto del centro de la lı́nea de absorción en el cual estaba fijado, para el caso de una
lı́nea de absorción media, como son P6 y P4. Para lı́neas de absorción más intensas, esta
variación puede verse en la tabla 5.9.
De esta manera podemos asegurar que para las lı́neas de absorción intensas o relativa-
mente intensas, ejemplos de las cuales son las lı́neas P9 y la P6 respectivamente, el láser
puede permanecer anclado en el centro de las mismas durante 20 o 30 minutos, sin necesidad
de volver a realinear el láser, con un error de 1 pm. Este tipo de lı́neas serán las que se
utilicen para calibración ya que las lı́neas de absorción débiles son más inestables.
182
Tabla 5.9 Desplazamiento (∆) en pm que implica una variación de 0.2 dB de potencia.
Lı́nea ∆ (pm)
R17 0.585
R11 0.583
R1 1.068
P4 1.454
P6 1.146
P9 0.570
P3 0.856
P5 0.633
183
Tabla 5.10 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama R del acetileno.
Lı́nea Frecuencia Incertidumbre Longitud de onda Incertidumbre
de referencia (GHz) (GHz) (nm) (nm)
184
Tabla 5.11 Incertidumbres del Patrón de Frecuencias de la Rama P del acetileno.
Lı́nea Frecuencia Incertidumbre Longitud de onda Incertidumbre
de referencia (GHz) (GHz) (nm) (nm)
185
Para el estudio de la propagación de errores proponemos la siguiente función modelo:
0.01
u(δfref ) = √ (5.7)
2× 3
∆
u(∆f) = √ (5.8)
2× 3
186
d) Incertidumbre debida a la influencia de la presión y la temperatura
La célula de calibración suministrada por el NIST está cerrada y sellada con una presión
de gas de 6.7 kPa. El volumen de la célula y su presión deben ser constantes, si bien
la temperatura del laboratorio puede oscilar un máximo de ±3o C. Las variaciones de
temperatura del laboratorio se traducen en este caso como variaciones de presión a
volumen constante siguiendo la ley de los “gases perfectos”. Las variaciones de presión
en la célula generan un desplazamiento de las lı́neas de absorción que está tabulado
por el NIST, y tienen distinto comportamiento según sean absorciones de la rama R o
de la rama P.
Como las variaciones de temperatura dentro de los lı́mites puestos serán aleatorias,
consideramos que esta fuente de incertidumbre no genera una corrección al valor de
la frecuencia de referencia, si bien incrementa la incertidumbre como una distribución
rectangular según:
Desplazamiento
u(δfP,T ) = √ (5.11)
2 3
En las tablas 5.12 y 5.13 se muestran estas contribuciones en longitud de onda y frecuencia
para la lı́nea R19.
187
Tabla 5.12 Cálculo de la incertidumbre de la Lı́nea estabilizada R19 en longitud de onda.
Magnitud Sı́mbolo Valor Std Evaluación G C Contribución
X (nm) x u(x) n c U(x)
188
Tabla 5.14 Especificaciones del medidor HP86120C.
Intervalo
Longitud de onda 1270 a 1650 nm (236 a 428 THz)
Precisión absoluta lı́neas separadas ≥15 GHz, ±2 ppm
±0.003 nm (para 1550 y 1310 nm)
Precisión diferencial ±1 ppm
Mı́nima separación resoluble 10 GHz
0.08 nm a 1550 nm
0.06 nm a 1300 nm
Resolución 1 s (0.001 nm)
Potencia
Precisión de calibración ±0.5 dB (a ±30 nm de 1310 y 1550 nm)
Rizado 30 nm de cualquier longitud de onda
1270 a 1600 nm ±0.2 dB
1270 a 1650 nm ±0.5 dB
Linealidad ±0.3 dB
Dependencia con la polarización 1270 a 1600 nm ±0.5 dB
1600 a 1650 nm ±1.0 dB
Resolución 0.01 dB
Sensibilidad
1270 a 1600 nm (una lı́nea de entrada) -40 dB
1600 a 1650 nm (una lı́nea de entrada) -30 dB
1270 a 1650 nm (varias entradas) 30 dB por debajo de la P OTtotal entrante
Selectividad
2 lı́neas de entrada separadas 50 GHz 25 dB
2 lı́neas de entrada separadas 10 GHz 10 dB
Potencia Entrante
Nivel máximo representado (suma de todas las lı́neas) +10 dB
Nivel máximo de seguridad (suma de todas las lı́neas) +18 dB
189
Tabla 5.15 Especificaciones del medidor MF9630A.
Intervalo
Longitud de onda 600 a 1600 nm
Frecuencia 500 a 187 THz
Potencia óptica de entrada 0-25 dBm (CW)
Precisión ± 0.5 ppm
Resolución < 0.1 pm (depende del FWHM de la fuente)
Intervalo de medida < 1.5 s
Tipo de conector FC
Señal de modulación Am, > 5 MHz
Representación < 1.5 s
Longitud de onda 10 dı́gitos (LSD 1 fm)
Frecuencia 9 dı́gitos (LSD 1 MHz)
Temperatura ambiente
Intervalo de uso 0 a 40o C
Especı́ficamente 25o ± 5o C
190
Las correcciones y la contribución a la incertidumbre para cada una de estas fuentes de
incertidumbre se calculan como:
Esta incertidumbre está relacionada con la estadı́stica de obtención de datos del ana-
lizador de espectros. Habitualmente se tomarán 10 medidas calculando su valor medio
y desviación estándar. Es una incertidumbre tipo A, con función de densidad de
probabilidad gaussiana donde el número de grados de libertad es 10 y se calcula como:
σ(λmed )
u(λmed ) = √ (5.14)
10
b) Incertidumbre por resolución de muestreo en el medidor, δλmed
1
u(δλmed ) = √ HP 86120C (5.15)
2× 3
0.1
u(δλmed ) = √ M F 9630A (5.16)
2× 3
Son los valores contenidos en las tablas 5.10 y 5.11. Deben tener en cuenta que los val-
ores de incertidumbre obtenidos en estas tablas son para k=2 por lo que su contribución
a la incertidumbre es:
utabla
u(λref ) = (5.17)
2
191
Tabla 5.16 Calibración de un medidor de longitud de onda HP86120C usando nuestro patrón de
frecuencias.
Lı́nea λHP86120C λref Incertidumbre ∆λ
de referencia (nm) (nm) (nm) (nm)
192
Tabla 5.18 Calibración del medidor de longitud de onda MF9630A.
Lı́nea λMF9630A λref Incertidumbre ∆λ
de referencia (nm) (nm) (nm) (nm)
193
El medidor HP86120C se ha calibrado como patrón de referencia por el Laboratorio de
Metrologı́a y medidas electroópticas de Telefónica S.A, donde se utiliza como medidor de
referencia siguiendo la técnica descrita en el capı́tulo 4, sección 4.4 (Medidor de referencia).
194
Conclusiones
1.- Se han descrito los diferentes tipos de analizadores de espectros ópticos (OSA).
2.- Se han descrito las propiedades y funcionamiento de los OSA basados en redes de difrac-
ción, detallando las funciones más notables que este tipo de equipo realiza.
3.- Se han descrito algunas de las aplicaciones más comunes de los analizadores de espec-
tros ópticos: análisis de fuentes LED y LÁSER, análisis de EDFA, caracterización de
componentes y análisis de señales de DWDM.
4.- Se han descrito los métodos de calibración de los analizadores de espectros ópticos y se
han aplicado a la calibración de varios analizadores y medidores de longitud de onda.
195
Futuros desarrollos
• Realización de células de calibración con los compuestos estudiados que puedan ser
utilizados por la industria de las telecomunicaciones.
196
Bibliografı́a
1.- Jeunhomme L. B. Single-Mode Fiber Optics: Principles and Aplications. Marcel Dekker,
Parı́s, 1983.
2.- Forghieri F., Tkach R. W., and Chraplyvy A. R. Optical Fiber Telecomunicatons, volume
IIIA. Academic Press, San Diego, 1997.
8.- Agilent Thecnologies. External Multi-Point Wavelength Calibration for the 8614XB
series of Optical Spectrum Analyzers. Product Note 86140-2.
9.- Agilent Thecnologies. WDM System Test with the HP 86120A Multi-Wavelength Meter.
Product Note 86120-1.
10.- Wandel & Goltermann. Modern Test Solutions Make Your DWDM System Crystal
Clear. Application Note 70.
11.- Shigeki Nishina. Advantest. Shigeki Nishina Technical report Technology for DWDM
Analysis based on Advantest Q8384 Optical Spectrum Analyzer.
197
12.- S. L. Gilbert, T. J. Drapela, and D. L. Franzen, “Moderate accuracy wavelength stan-
dards for optical communications”, in Technical Digest-Symposium on Optical Fiber
Measurements, NIST Spec. Publ. 839 (National Institute of Standards and Technolo-
gy, Boulder, Colo., 1992), pp. 191-194.
12
13.- S. L. Gilbert and W. C. Swann, “Acetylene C2 H2 absorption reference for 1510-1540
nm wavelength calibration-SRM 2517”, NIST Spec. Publ. 260-133 (National Institute
of Standards and Technology, Gaithersburg, Md., 1998).
16.- Che-Chung Chou, Tyson Lin, and Jow-Tsong Shy. Wavenumber Measurements of CO 2
Transitions in 1.5 mm Atmospheric Window Using an External-Cavity Diode Laser.
Journal of Molecular Spectroscopy 205, 122-127 (2001).
17.- Shang-I Chou, Douglas S. Baer, and Ronald K. Hanson. Diode laser absorption mea-
surements of CH3 Cl and CH4 near 1.65 mm. APPLIED OPTICS, Vol. 36, No. 15
3288-3293. 1997.
19.- Amon Yariv. Optical Electronics, third edition. California Institute of Technology.
1985.
20.- Fiber Optics Handbook, “An Introduction and Reference Guide to Fiber Optic Tech-
nology and Measurement Techniques”, third edition. Hewlett Packard. 1989.
21.- Francis A. Jenkins, Harvey E. White. Fundamentals of Optics, fourth edition. 1981.
22.- John M. Senior. Optical Fiber Communications, Principles and Practices. Dept. of
Electrical and Electronic Engineering. Manchester Polytechnic. 1985.
23.- Edward L. Safford. The Fiber Optics & Laser Handbook. 1988.
198
24.- William C. Swam and Sarah L. Gilbert. “Wavelength Calibration Standards for the
WDM L-band”. National Institute of Standards and Technology.
25.- William C. Swam and Sarah L. Gilbert. “Pressure-induced shift and broadening of
1510-1540 nm acetylene wavelenght calibration lines”. National Institute of Standards
and Technology. Vol. 17, no 7/July 2000/J. Opt. Soc. Am. B.
27.- Kyo Inoue. Four-Wave Mixing in an Optical Fibre in the Zero-Dispersion Wavelength
Region. Journal of Lightwave Technology, vol. 10, no 11. 1992.
29.- EXFO. How to Chose the Right DWDM Instrument. Application Note 016.
31.- G. Bönsch and E. Potulski. Measurement of the refractive index of air and coparison
with modified Edlen´s formulae. Metrologı́a, 1998, 35, 133-139.
199
200
ANEXO:
CÓDIGO DE PROGRAMA
//**************************************************************
//
// DESARROLLO DE UN PATRÓN DE FRECUENCIAS
// Autor: ÁLVARO VIVAR ARMENTEROS
// Centro: Dpto. de Metrologı́a del Instituto de Fı́sica Aplicada
// del Consejo Superior de Investigaciones Cientı́ficas.
// Proyecto Fin de Carrera
// Fecha de comienzo: Noviembre de 2001
//
//**************************************************************
/* Includes */
]include <cviauto.h>
]include <gpib.h>
]include <utility.h>
]include <ansi c.h>
]include <userint.h>
]include “hp3478a.h”
]include “toolbox.h”
]include <formatio.h>
]include <ansi c.h>
]include <cvirte.h>
]include <analysis.h>
]include <math.h>
]include <cvirte.h>
]include “Origen.h”
201
]include “Ajuste.h”
]include “Estab Pot Laser.h”
]include “Ajuste fino.h”
//——————– Definiciones —————–
]define ON 1
]define OFF 0
]define SELECCION LINEA\
“Elija una Linea de la LISTA y presione el botón ALMACENAR LINEA”
]define LINEAS ALMACENADAS\
“Ya se han almacenado todas la Lineas, vaya a ejecutar el programa”
]define ELECCION FUENTE\
“Seleccione el tipo de Fuente de luz a estudiar, LASER SINTONIZABLE o DFB y
elija el número de lı́neas que desea analizar”
]define LASER SELECCIONADO\
“Ha seleccionado el LASER SINTONIZABLE, coloque adecuadamente la GP-IB”
]define DFB SELECCIONADO\
“Ha seleccionado el DFB, coloque adecuadamente la GP-IB”
202
static double pot min f1[30], pot min f2[30], pot min f3[30];
static double power f[500], power f2[300], power f3[200];
//—————————————————–
int CVICALLBACK Panel Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{
switch (event)
{
203
case EVENT COMMIT:
j=0;
DisplayPanel(ajuste);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Salir Origen (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla Inicial*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Salir Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Salir Estabil (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para salir del programa desde la pantalla de Estabilidad*/
switch (event)
{
204
case EVENT COMMIT:
QuitUserInterface(0);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Atras Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver a la pantalla Inicial desde la pantalla de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste);
DisplayPanel(origen);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN TABLE, ATTR DIMMED, 1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN ALMAC LINEA, ATTR DIMMED, 1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUMERO LINEAS, ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUM LINEAS, ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 1);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Atras Ajuste f (int panel, int control, int event,void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver al Ajuste Grueso desde la pantalla de Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(Ajuste f);
DisplayPanel(ajuste);
break;
}
return 0;
}
205
int CVICALLBACK Avanza Ajuste f (int panel, int control, int event, void *callback
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para avanzar a la pantalla de Estabilidad desde la de Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Atras Estabil (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para volver a la pantalla de Ajuste Fino desde la de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste f);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Avanza Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para avanzar a la pantalla de Ajuste Fino desde la de Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
HidePanel(ajuste);
DisplayPanel(ajuste f);
break;
}
return 0;
206
}
int CVICALLBACK Imprimir Estabil (int panel, int control, int event, void *callback
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para imprimir datos desde la pantalla de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
PrintPanel (estabilpot, “”, 1, VAL FULL PANEL, 1);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Iniciar Ajuste (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
FUENTE O = OpenDev (“DEV10”, “”);
hp3478a init (23);
hp3478a config (1, 1, 1);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LED1, ON);
/*———- ’Guardar los datos introducidos por el usuario’———-*/
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G POT LASER,&pot Fuente);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G ANCHOBARRIDO,&anchobarrido);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G ANCHOBARRIDO F,&anchobarrido fino);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G NUM MUESTRAS1,&num muestras);
GetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G TIEMPO1,&tiempo);
/*———- ’Identificar la fuente de luz ———-*/
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*IDN?”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
ibrd (FUENTE O, FUENTE respuesta,40);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G LASER IDENTIF, FUENTE respuesta);
/*—————————————————————–*/
207
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“GHZ”);/*unidades de la fuente de luz:GHz*/
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
for (j=0; j<num lineas;j++)
{
SetCtrlAttribute(ajuste,AJUSTE G LAMBDA CENT,ATTR DIMMED, 0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G LAMBDA CENT ,linea[j]);
DeleteGraphPlot (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LAMBDA MIN POT, 0.0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE G POT MIN ,0.0);
i max=(anchobarrido*10)+1;
for (i=0; i<i max; i++)
{
frec[i]=linea[j]-(anchobarrido/2)+(0.1*i);
}
frec ini=frec[0]; /*Frecuencia inicial de barrido*/
frec fin=frec[i max-1]; /*Frecuencia final de barrido*/
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto2, pot Fuente);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(0.5);
/* BARRIDO GRUESO */
DeleteGraphPlot (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste,AJUSTE G GRAFICO1, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, frec[0]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(10.0);
HP resp=MediaHP();
voltimetro ref=HP resp;
power as[0]=10.*log10 (HP resp/voltimetro ref);
for (i=1; i<i max; i++)
{
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, frec[i]);
208
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power as[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
PlotXY (ajuste, AJUSTE G GRAFICO1, frec, power as, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
}
Delay(1.0);
pot min[j]=power as[0];
/*—— Cálculo de la potencia mı́nima ——*/
for (i=0; i<i max; i++)
{
if (pot min[j]>power as[i+1])
{
pot min[j]=power as[i+1];
imin as=i+1;
}
}
linea min[j]=frec[imin as];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”, texto1, linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
if ((power as[i max-1]-pot min[j])>4 k (power as[0]-pot min[j])>4)
{
umbral1=0.5;
umbral2=0.7;
umbral3=0.9;
}
else
{
umbral1=0.2;
209
umbral2=0.3;
umbral3=0.4;
}
/*—— Cálculo del FWHM ——*/
if ((power as[i max-1]-pot min[j])>3 & (power as[0]-pot min[j])>3)
{
i=imin as;
while(power as[i]<pot min[j]+3)
{
fwhm l=i;
i–;
}
i=imin as;
while(power as[i]<pot min[j]+3)
{
fwhm r=i;
i++;
}
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G FWHM, frec[fwhm r]-frec[fwhm l]);
}
/*—— Mostrar resultados ——*/
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G POT MIN, pot min[j]);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LAMBDA MIN POT, linea min[j]);
SetCtrlVal (ajuste, AJUSTE G LED1, OFF);
Delay(5.0);
/*FIN BARRIDO GRUESO*/
HidePanel(ajuste); /*Oculta la pantalla de Ajuste Grueso*/
DisplayPanel(ajuste f); /*Despliega la pantalla de Ajuste Fino*/
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, ON);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F LAMBDA CENT ,linea min[j]);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F ANCHOBARRIDO F,anchobarrido fino);
DeleteGraphPlot (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, -1, VAL IMMEDIATE DRAW);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, 0.00);
SetCtrlVal (ajuste f,AJUSTE F POT MIN ,0.0);
i maxf=(anchobarrido fino*100)+1;
210
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
dfrec[i]=-(anchobarrido fino/2)+(0.01*i);
frecF[i]=linea min[j]+dfrec[i];
}
frec ini=linea min[j]+dfrec[0];
frec fin=linea min[j]+dfrec[i maxf-1];
/* BARRIDO FINO */
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste f,AJUSTE F GRAFICO3, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s¡%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(5.0);
difpower as=0.0;
i=0;
h=0;
l=0;
/*—— Primer barrido ascendente ——*/
while ((difpower as<umbral1 & h<i maxf) k l<2)
{
h=l+(i maxf-1)/2;
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
if (i>0)
{
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
difpower as=power f[i]-pot min f1[j];
}
211
else /*para calcular “power f[0]”*/
{
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
pot min f1[j]=power f[i];
}
if (power f[i]<pot min f1[j])
{
pot min f1[j]=power f[i];
}
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f, power f, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
i++;
l=l+2;
}
pot min f2[j]=pot min f1[j];
difpower as=0.0;
i=i-1;
l=0;
/*—— Segundo barrido, descendente ——*/
while (difpower as<umbral2 & h>-1 k l<4)
{
frec f2[l]=frecF[h];
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f2[l]=power f[i];
if (power f[i]<pot min f2[j])
{
212
pot min f2[j]=power f[i];
frec min2[j]=frec f2[l];
}
difpower as=power f[i]-pot min f2[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f2, power f2, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL DK GREEN);
h=h-1;
i++;
l++;
}
difpower as=0.0;
i=i-1;
h=h+1;
l=0;
/*——Tercer y último barrido, ascendente ——*/
while (difpower as<umbral3 & h<i maxf k l<4)
{
frec f3[l]=frecF[h];
frec f[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power f[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f3[l]=power f[i];
if (l==0)
{
pot min f3[j]=power f3[l];
}
if (power f[i]<pot min f3[j])
{
213
pot min f3[j]=power f[i];
frec min3[j]=frec f3[l];
}
difpower as=power f[i]-pot min f3[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f3, power f3, i+1, VAL DOUBLE,
VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL MAGENTA);
h=h+1;
i++;
l++;
}
l=0;
i maxf=i;
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2[j]-linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
/*—— Mostrar resultados ——*/
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F POT MIN, pot min f2[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, frec min2[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT3, frec min3[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, OFF);
Delay(4.0);
/* FIN BARRIDO FINO */
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT LAMBDA ESTABIL,frec min2[j]);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT NUM MUESTRAS2,num muestras);
SetCtrlVal ( estabilpot,ESTAB POT TIEMPO2,tiempo);
SetCtrlVal ( estabilpot, ESTAB POT LED2, ON);
214
Delay(1.0);
sec=(tiempo/num muestras)*60;
k=0;
DeleteGraphPlot (estabilpot, ESTAB POT GRAF ESTABIL, -1,
VAL IMMEDIATE DRAW);
/* ESTABILIDAD */
for (e=0; e<num muestras+1; e++)
{
HP resp=MediaHP();
if (e==0)
{
voltimetroE ref=HP resp;
}
voltimetro[e]=10*log10 (HP resp/voltimetroE ref);
if (fabs(voltimetro[e])>0.2) /*Inicio de realineamiento del láser*/
{
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste f);
SetCtrlAttribute (ajuste f,AJUSTE F LAMBDA CENT,ATTR DIMMED,0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F LAMBDA CENT,frec min2[j]);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F POT MIN,0.0);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F FREC MIN POT2,0.00);
SetCtrlVal (ajuste,AJUSTE F FREC MIN POT3,0.00);
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
dfrec[i]=-(anchobarrido fino/2)+(0.01*i);
frecF[i]=frec min2[j]+dfrec[i];
}
frec ini=frec min2[j]+dfrec[0];
frec fin=frec min2[j]+dfrec[i maxf-1];
GRAF err= SetAxisScalingMode (ajuste f,AJUSTE F GRAFICO3, VAL XAXIS,
VAL MANUAL, frec ini, frec fin);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
215
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2[j]-linea min[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, ”
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Delay(5.0);
difpower as=0.0;
i=0;
h=frec min2[j]-linea min[j];
while ((difpower as<umbral1 & h<i maxf) k h<2)
{
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
if (i>0)
{
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
difpower as=power fE[i]-pot min f1E[j];
}
else
{
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
pot min f1E[j]=power fE[i];
}
if (power fE[i]<pot min f1E[j])
{
pot min f1E[j]=power fE[i];
}
216
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec E, power fE, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
i++;
h++;
}
pot min f2E[j]=pot min f1E[j];
difpower as=0.0;
i=i-1;
l=0;
while (difpower as<umbral2 & h>-1 k l<4)
{
frec f2E[l]=frecF[h];
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f2E[l]=power fE[i];
if (power fE[i]<pot min f2E[j])
{
pot min f2E[j]=power fE[i];
frec min2E[j]=frec f2E[l];
}
difpower as=power fE[i]-pot min f2E[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f2E, power f2E, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL DK GREEN);
h=h-1;
i++;
l++;
217
}
difpower as=0.0;
i=i-1;
h=h+1;
l=0;
while (difpower as<umbral3 & h<i maxf k l<4)
{
frec f3E[l]=frecF[h];
frec E[i]=frecF[h];
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,dfrec[h]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
Fmt (FUENTE pregunta,“%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
HP resp=MediaHP();
power fE[i]=10*log10 (HP resp/voltimetro ref);
power f3E[l]=power fE[i];
if (l==0)
{
pot min f3E[j]=power f3E[l];
}
if (power fE[i]<pot min f3E[j])
{
pot min f3E[j]=power fE[i];
frec min3E[j]=frec f3E[l];
}
difpower as=power fE[i] pot min f3E[j];
PlotXY (ajuste f, AJUSTE F GRAFICO3, frec f3E, power f3E, i+1,
VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL MAGENTA);
h=h+1;
i++;
l++;
}
218
l=0;
i maxf=i;
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto1,frec min2[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s%f”,texto3,frec min2E[j] frec min2[j]);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O,FUENTE pregunta,n);
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“*OPC”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F POT MIN, pot min f2E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT2, frec min2E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F FREC MIN POT3, frec min3E[j]);
SetCtrlVal (ajuste f, AJUSTE F LED3, OFF);
Delay(4.0);
HidePanel(ajuste f);
DisplayPanel(estabilpot);
voltimetro[e]=10*log10 (HP resp/voltimetroE ref);
/*FIN DE BARRIDO FINO EN PROCESO DE ESTABILIDAD*/
}
tyme[e]=(sec/60.0)*k;
SetCtrlVal (estabilpot, ESTAB POT TEMPO, tyme[e]);
k=k+1;
PlotXY (estabilpot, ESTAB POT GRAF ESTABIL, tyme, voltimetro,
e+1, VAL DOUBLE, VAL DOUBLE, VAL SCATTER, VAL SOLID SQUARE,
VAL SOLID, 1, VAL BLUE);
Delay(sec);
}
SetCtrlVal ( estabilpot, ESTAB POT LED2, OFF);
Delay(0.5);
HidePanel(estabilpot);
DisplayPanel(ajuste);
219
if (Fuente==0)
{
Fmt (FUENTE pregunta, “%s<%s”,“RECALL A”);
n=StringLength(FUENTE pregunta);
FUENTE err=ibwrt (FUENTE O, FUENTE pregunta, n);
}
FUENTE C = CloseDev (FUENTE O);
}
break;
}
return 0;
}
/*—— FIN DE PROCESO ——*/
int CVICALLBACK Guardar Ajuste (int panel, int control, int event, void *callback-
Data, int eventData1, int eventData2)
{ /*rutina para guardar los datos del Ajuste Grueso*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”, “Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%s”,“BARRIDO GRUESO ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c, “%s<%s%s%s%s”,“LINEA CERTIF(nm)”,“FREC CERTIF(GHz)”,
“FREC OBTEN(GHz) ”,“MEDIDOR(nm)”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (j=0; j<num lineas; j++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w9]%s%f[w10]%s%f[w10]%s%f[w9]”,linea NM[j],“ ”,
linea[j],“ ”,linea min[j],“ ”,medida[j]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
220
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
Fmt (result c, “%s<%s”,“ DATOS ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c,“%s<%s%s”,“FREC(GHz) ”,“POT.REL(dBm) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 30);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (i=0; i<i max; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w10]%s%f[w8]”,frec[i],“ ”,power as[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 50);
}
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Guardar Ajuste Fino (int panel, int control, int event, void *call-
backData, int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar los datos del Ajuste Fino*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”,“Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%s”,“BARRIDO FINO ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c, “%s<%s%s%s”,“LINEA CERTIF(nm)”,“FREC CERTIF(GHz)”,
“FREC OBTEN(GHz) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (j=0; j<num lineas; j++)
221
{
Fmt (result c, “%s<%f[w9]%s%f[w10]%s%f[w10]”,linea NM[j],“ ”,
linea[j],“ ”,frec min2[j]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 70);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
Fmt (result c, “%s<%s”,“ DATOS ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 20);
Fmt (result c,“%s<%s%s”,”FREC(GHz) ”,“POT.REL(dBm) ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 30);
Fmt (result c,“%s<%s”,“ ”);
for (i=0; i<i maxf; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w10]%s%f[w8]”,frec f[i],“ ”,power f[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 50);
}
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Guardar Estabil (int panel, int control, int event, void *callback-
Data, int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar los datos de Estabilidad*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (, ”*.txt”, ”*.txt”, ”Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL WRITE ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
Fmt (result c, “%s<%f%s”, frec min2[j],“ GHz ”);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s%s”,“TIEMPO(min) ”,“ VOLTIMETRO(dBm) ”);
222
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s”, “ ”);
for (i=0; i<num muestras+1; i++)
{
Fmt (result c, “%s<%f[w7]%s%f[w9]”,tyme[i],“ ”,voltimetro[i]);
WriteLine (IdentificadorArchivo, result c, 40);
Fmt (result c, “%s<%s”, ” ”);
}
CloseFile (IdentificadorArchivo);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Numero Lineas (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina de selección del tipo de fuente y del número de lı́neas a estudiar */
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
GetCtrlVal(origen,ORIGEN SWITCHFUENTE,&Fuente);
GetCtrlVal (origen,ORIGEN NUM LINEAS,&num lineas);
if (Fuente==1) /*Fuente elegida: láser sintonizable*/
{
Fmt (texto1, “%s<%s”,“F=”);
Fmt (texto2, “%s<%s”,“P=”);
Fmt (texto3,“%s<%s”,“FSCF=”);
MessagePopup(“Laser Seleccionado”,LASER SELECCIONADO);
223
j=0;
MessagePopup(“Selección de Lı́nea”,SELECCION LINEA);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN TABLE, ATTR DIMMED,0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN ALMAC LINEA, ATTR DIMMED,0);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUMERO LINEAS, ATTR DIMMED,1);
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN NUM LINEAS, ATTR DIMMED,1);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK Almac Linea (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para guardar la frecuencia de la lı́nea elegida por el usuario*/
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (j<num lineas)
{
GetActiveTableCell (origen, ORIGEN TABLE, &tablaXY);
GetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE, tablaXY, &linea[j]);
linea NM[j]=2.997925/(linea[j]*1E-8);
if (j==num lineas-1)
{
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 0);
MessagePopup(“Lineas Almacenadas”,LINEAS ALMACENADAS);
}
else
{
MessagePopup(“Selección de Lı́nea”,SELECCION LINEA);
}
j++;
}
else
224
{
SetCtrlAttribute (origen, ORIGEN AJUSTE, ATTR DIMMED, 0);
MessagePopup(“Lineas Almacenadas”,LINEAS ALMACENADAS);
}
Delay(0.5);
break;
}
return 0;
}
int CVICALLBACK cargar lineas (int panel, int control, int event, void *callbackData,
int eventData1, int eventData2)
{/*rutina para cargas los datos de frecuencia y longitud de onda de las lı́neas en la tabla
de la pantalla de Inicialización */
switch (event)
{
case EVENT COMMIT:
if (FileSelectPopup (“”, “*.txt”, “*.txt”, “Nombre del fichero”, VAL OK BUTTON,
0, 1, 1, 0, nombre archivo)>0)
IdentificadorArchivo = OpenFile (nombre archivo, VAL READ ONLY,
VAL OPEN AS IS, VAL ASCII);
225
for (j=0; j<60; j++)
{
ReadLine(IdentificadorArchivo, result c,20);
Scan (result c, “%s>%s[w4]%f[w10]”,rama archivo,&linea archivo NM[j]);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (1, j+1), rama archivo);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (2, j+1), linea archivo NM[j]);
linea archivo GHz[j]=2.997925/(linea archivo NM[j]*1E-8);
SetTableCellVal (origen, ORIGEN TABLE , MakePoint (3, j+1), linea archivo GHz[j]);
if (linea archivo NM[j]==0.0)
{
j=60;
}
}
break;
}
return 0;
}
226
PLANOS
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228
PLIEGO DE CONDICIONES
2.- La Universidad se reserva el derecho de la utilización total o parcial del presente Proyecto,
bien para su publicación o para su uso en trabajos o proyectos posteriores.
3.- Cualquier tipo de reproducción, ya sea para su uso particular de la Universidad o para
cualquier otra aplicación, deberá contar con la autorización expresa y por escrito del
Ingeniero Ponente del Proyecto, que actuará en representación de la Universidad.
229
4.- En la autorización se debe hacer constar la aplicación a la que se destinan las reproduc-
ciones.
6.- Si el proceso pasa la etapa de desarrollo, cualquier modificación que se realice en él
deberá ser notificada al Ingeniero Ponente del Proyecto y, según el criterio de éste, la
Universidad decidirá o no la modificación propuesta.
230
PRESUPUESTO
GASTOS DE PERSONAL
Salarios:
Ingeniero: 27 euros/hora
c) Presupuesto por escritura del documento. Trabajo desempeñado por un Ingeniero Indus-
trial durante 4 semanas a razón de 35 horas a la semana.
Coste: 4×35×27 = 3780 euros
231
Cargos Sociales:
GASTOS DE MATERIAL
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