"Año de la lucha contra la corrupción e impunidad"

Universidad Nacional José Faustino Sánchez Carrión

Facultad de ciencias
Escuela profesional académica de Física
Física moderna

“Microscopio electrónico”

Docente: Mtro. Enrique Fernando Tello Rodríguez

Estudiante: Kenji Retuerto Manuel

Huacho – 2019
 Presentación

Este trabajo tiene como finalidad conocer sobre el microscopio electrónico, aplicaciones

y su importancia en las ciencias, especialmente en la Física. Este tipo de microscopio se

usa electrones para iluminar el objeto que se desea observar y lo refleja en una pantalla

fluorescente, obteniéndose imágenes más amplificadas que en un microscopio

convencional.

2
 Lista de contenidos

1. Microscopio electrónico 5

5
1.1.Historia
5
1.2.Microscopio electrónico
10
1.2.2. Microscopio electrónico de exploración de electrones
14
1.3.Preparación de muestras
15
1.4.Imágenes captadas por el microscopio electrónico
17
2. Experimento de Davisson – Germer
20
3. Principio de incertidumbre de Heisenberg
22
3.1. Otra perspectiva del principio de incertidumbre
24
3.2. Aplicaciones
Referencias bibliográficas 26

3
 Lista de figuras

Figura 1. Diagrama básico del microscopio electrónico 6

Figura 2. Diagrama de un microscopio de transmisión de electrones 7

Figura 3. Diagrama del microscopio electrónico de exploración de electrones (SEM) 11

Figura 4. Imagen de un acaro observado desde el SEM 15

Figura 5. Imagen de un microbio replicando su ADN captado por el TEM 15

Figura 6. Imagen de una bacteria de tuberculosis captada por el TEM 16

Figura 7. Imagen de una neurona captada por el SEM 16

Figura 8. Imagen de las células sanguíneas en una arteria 17

Figura 9. Longitud de onda 18

Figura 10. Difracción de otros haces de partículas 20

Figura 11. Microscopio de Heisenberg 24

4
 Microscopio electrónico

1) Microscopio electrónico
1.1.Historia

El primer microscopio óptico fue diseñado por Antón van Leeuwenhoek en el año 1675
y fue considerado como un juguete científico. Posteriormente el microscopio óptico fue
mejorando con la intención de que cada vez se pueda observar objetos más pequeños.

El microscopio electrónico es el resultado de diversos experimentos y concepciones

teóricas. Tiene sus orígenes en J.J. Thomson quien estudio a los rayos catódicos en tubos
con gases enrarecidos. En el año 1924 De Broglie propuso su teoría de la naturaleza
ondulatoria de las partículas materiales. Después de unos años Busch demostró que un
haz de electrones atravesando el campo magnético o eléctrico converge al foco y
basándose en esta construyo la primera lente magnética en 1926. Davisson-Germer
pudieron demostrar la difracción del electrón que también se puede decir que confirmaron
la teoría de De Broglie.

La idea de que los electrones poseen una longitud de onda a controlable que puede hacerse
mucha más corta que las longitudes de onda de luz y que por lo tanto poseen una habilidad
mucho mejor para resolver detalles finos fue otro factor fundamental para la construcción
del microscopio electrónico.

En 1931 Max Knoll y Ernst Ruska diseñaron y empezaron con la construcción del
microscopio electrónico asimilando todo lo que los físicos hasta ese momento habían
descubierto.

1.2.Microscopio electrónico
Un microscopio electrónico usa electrones en lugar de luz visible para formar
imágenes de objetos diminutos. Los microscopios electrónicos permiten
alcanzar amplificaciones mayores antes que los mejores microscopios ópticos,
debido a que la longitud de onda de los electrones es bastante menor que la de
los fotones visibles.

5
Por su funcionamiento se clasifico en dos tipos de microscopio electrónico:
 Microscopio electrónico de transmisión de electrones (TEM).
 Microscopio electrónico de exploración de electrones o microscopio
electrónico de barrido (SEM).
1.2.1. Microscopio electrónico de transmisión de electrones (TEM)
Es un dispositivo que enfoca haces de electrones con lentes
magnéticas y crea de sombras planos y bidimensional en su
pantalla, que es el resultado de variar los grados de transmisión a
través del objeto. En l figura 1 se puede observar un diagrama
básico con los principales componentes del microscopio.

Figura1. Diagrama básico del microscopio electrónico.

Los mejores microscopios ópticos que usan luz ultravioleta poseen
una amplificación aproximada de 2000 y pueden distinguir dos
objetos separados por 100nm, en un TEM que utiliza electrones
acelerados a través de 100kV tiene una amplificación hasta de
1000000 y una resolución máxima de 0.2nm. en la práctica es fácil
utilizar amplificaciones desde 10000 hasta 100000. Aunque podría
parecer que aumentar la energía del electrón debe llevar a una
longitud de onda más corta del electrón y aun aumento en la

6
resolución, imperfecciones o aberraciones en las lentes magnéticas
en realidad establecen el límite de resolución a aproximadamente
0. 2nm.Aumentar la energía del electrón por arriba de 100keV no
mejora la resolución solo permite que los electrones muestren
regiones más profundas en el interior de un objeto.

Figura2. Diagrama de un microscopio de transmisión de

electrones.
Componentes del microscopio electrónico de transmisión (TEM)
1) cañón electrónico
El tipo más usado consiste en un filamento de alambre de
tungsteno doblado en forma de V. el electrodo de control se
denomina cilindro de whenelt y tiene una apertura circular de 1mm
a 3mm de diámetro centrado en el ápice del filamento. La
superficie cóncava hace las funciones de ánodo y utilizando una
superficie convexa la imagen de la fuente electrónica puede reducir

7
en tamaño respecto al electrodo cóncavo. La intensidad total del
haz del catado al ánodo puede ser de 10 a 400 microamperios, pero
solo una pequeña fracción de esta llega hasta la muestra.

2) Condensadores

los dos condensadores son capaces de dar una amplia gama de

intensidad ajustando el cañón electrónico. Este reduce el área
iluminada en la muestra. Sin embargo, otras partes de las muestras
también sufren los efectos del haz electrónico. El primer
condensador reduce la imagen de la fuente mientras que el segundo
mantiene adecuada la intensidad de iluminación.

3) Plataforma para la colocación de la muestra

La plataforma para colocar la muestra está situada en frente del

objetivo. Se introduce la muestra en la columna del microscopio a
través de una abertura.

4) Lente de objetivo

Es la lente más importante del microscopio electrónico. La

distancia focal de esta lente está comprendida entre 1mm a 5mm,
siendo 1.1m la más frecuente. Cuanto menor es la distancia focal
mayor es la resolución. Debido a que el haz de imagen tiene la
máxima apertura angular en el primer objetivo esta lente controla
la calidad de la imagen producida se puede corregir la aberración
esférica usando un stigmator que es un dispositivo que permite
meter metal para compensar la inhomogeneidad inherente de la
lente y obtener elevada resolución. Otro accesorio importante
permite regular la apertura del objetivo la cual limita la dispersión
de los electrones, evitando así la degradación de la imagen. Esta
apertura mejora el contrasté siendo 20 y 40 micrómetros los más
frecuentes.

5) Lente intermedia

8
La lente intermedia puede aumentar o disminuir la imagen. Se
puede conseguir esto aumentado o disminuyendo la potencia de
corriente a esta lente.

6) Lente de proyección

La lente de proyección corresponde al ocular del microscopio

óptico. Su función es proyectar la imagen real sobre la pantalla
fluorescente y permite una amplia gama de aumentos. Se puede
variar la ampliación de 100x hasta 300000x usando lentes
intermedias y de proyección.

7) Cámara de observación

La cámara de observación y la pantalla fluorescente están situados

en el fondo de la columna. La imagen se enfoca sobre un punto
marcado y el enfoque fino se consigue con unos binoculares de 6x
y 20x. El diámetro de enfoque es de 100um, por lo tanto, la imagen
debe ser mayor que este diámetro para ser resuelta. La cámara de
observación está protegida por un vidrio grueso de plomo para
evitar la emisión de rayos X.

8) Cámara fotográfica

La cámara fotográfica está situada debajo de la pantalla

fluorescente. La pantalla fluorescente esta sujetado, por un lado, y
al quitar el paso del haz electrónico la imagen se centra sobre la
película fotográfico. Se pueden utilizar varios tipos de películas y
placas de vidrios.

Fenómenos que ocurre en el TEM

1) se emite electrones cuando se le aplica un campo eléctrico

intenso.
2) Una parte de los electrones es absorbida por la muestra en
función del espesor y de la composición de la misma, lo que
causa un contraste de amplitud en la imagen, dependiendo del
número de electrones secundarios que emite la muestra.

9
 3) Si la muestra es de tipo cristalino los electrones van a sufrir
difracción o dispersión en distintas direcciones.
4) La muestra emite rayos X cuya longitud de onda y energía está
dada en función de la composición de la muestra. Los rayos X
es producido por los choques que provocara transiciones de
electrones en las orbitas del átomo de la muestra.
5) Por el efecto del impacto de los electrones con la muestra
también hará que la muestra emita fotones en el rango de luz
visible.
1.2.2. Microscopio electrónico de exploración de electrones (SEM)
El primer microscopio en operación fue construido por M. von
Ardenne en 1937 y fu ampliamente desarrollado y perfeccionado
por Vladimir Zworykin y sus colaboradores en RCA Camden a
principios de 1940.
Este dispositivo puede operar con electrones de 20 keV y tiene una
resolución aproximada de 10nm y una amplificación que varía
desde 10 hasta 100000. Es capaz de producir imágenes
tridimensionales.
Un haz de electrones se enfoca nítidamente sobre una muestra
mediante lentes de amplificación y luego se explora (rastrea) a
través de una pequeña región sobre su superficie. El haz primario
de alta energía dispersa electrones secundarios de baja energía
fuera del objeto, dependiendo de la composición de la muestra y
de la topografía superficial. Estos electrones secundarios son
detectados por un centelleado de plástico acoplado a un
fotomultiplicador, amplificados y utilizados para modular la
brillantez de una imagen rastreada en forma simultánea mediante
un tubo de rayos catódicos. En otras palabras, las lentes
electromagnéticas direccionaran un haz de electrones paralelo que
van atravesar los campos magnéticos que son generado por las
bobinas de deflexión, las que harán posible el barrido de la
superficie de la muestra que después de interacción con la muestra
producir fotones en la pantalla de fluorescente formando así la
imagen que se puede proyectar en un monitor.

10
Figura3. Diagrama del microscopio electrónico de exploración de electrones (SEM).

Componentes del microscopio electrónico de exploración (SEM)

1) Cañón de electrones

El cañón de electrones es básicamente lo mismo que el de TEM

que consiste en el filamento del alambre de tungsteno y del cilindro
whenelt.

2) Lentes de condensadores

Producirán un rayo paralelo y lo guiarán hacia la muestra. Son dos

el primer lente proyecta la imagen punto de entrecruzamiento de
magnificada, y el segundo controla su diámetro y el ángulo de
convergencia en que incide sobre la muestra.

3) Bobinas de deflexión

Son responsables de que el haz de electrones no estará estable ya

que van a generar un campo magnético, entonces este haz va a
rastrear línea por línea, en barrido progresivo, un área muy
pequeña de la muestra. Debido a que los electrones no necesitan
atravesar la muestra, los voltajes de aceleración son menor que en

11
el TEM que será entre 200 voltios y 30000 voltios que serán
suficiente para analizar la muestra.

4) porta muestras

La muestre montada sobre un soporte puede moverse en tres

dimensiones, ser calentada, estirada, enfriada, etc., dentro del
instrumento.

5) Pantalla

Las imágenes se proyectan en dos tubos de rayos catódicos de alta

resolución que funciona en sincronización con el barrido
electrónico de la muestra. uno de ellos para observación visual
tiene una pantalla de gran persistencia. Fijando el tiempo de
barrido en 10 segundos, se obtiene una imagen de 500 líneas. La
pantalla del segundo tubo es azul para registro fotográfico y de baja
persistencia. Conectada a esta segunda pantalla va la cámara
fotográfica. Aquí se utiliza un barrido más lento de 1000 líneas o
más. Cuando mayor sea el número de líneas en la pantalla
fotográfica mayor será la resolución de la imagen final.

Fenómenos que ocurren en el SEM

1) La muestra en si emite electrones secundarios por efecto del

impacto de los electrones incidentes del haz de barrido.
2) Algunos electrones incidentes al chocar con la muestra son
reflejados; estos son llamados electrones retro dispersados.
3) Algunos electrones son absorbidos por las muestras en función
de su espesor y composición de la misma.
4) La muestra emite radiación de rayos X al producirse transición
de electrones en las orbitas internas de los tomos debido al
impacto.
5) La muestra también en ocasiones emite fotones cuando se
producen transiciones intermoleculares de los electrones por
efecto del impacto del haz.

12
A) Características principales del SEM
1) Poder de resolución

El poder de resolución en este microscopio depende de varios

factores tales como las dimensiones del haz de electrones, la
difusión del mismo en la muestra antes de la emisión de los
electrones secundarios, y la corriente estabilizada de la lente. Se
puede emplear filamentos apuntados o usando elevados kV. Por
ejemplo, a potencia de 1kV, la resolución es de 140nm, mientras a
30kV la resolución será de 20 nm.

En general la alimentación de corriente debe ser una parte de

100000 para conseguir alta resolución.

2) Profundidad de campo

Se utiliza lentes magnéticas con simetría axial con el fin de

producir un fino haz de electrones la propiedad de profundidad de
campo de la superficie de la muestra viene dada por la siguiente
formula:

𝛾
(𝑀 )
𝐷=±
2º𝐶

Siendo M a la amplificación de la imagen; D, el diámetro del haz

y γ la longitud mínima discriminable a simple vista.

El haz de electrones mide solamente 30mm y se mueve en forma

de líneas paralelas a través de la muestra. Se puede cambiar la
amplificación en escalones de 20X a 100000X, aunque la
resolución de 25nm es restringida a aumentos de 10000X a
20000X.

La gran profundidad de campo permite observaciones especiales

de la muestra. En general la profundidad del campo es tan grande
como la mitad de una cara del área bajo observación.

13
 3) Contraste

El contraste en SEM es logrado por el sistema colector. La muestra

recibe los electrones del haz de barrido y genera electrones
secundarios. Estos electrones emitidos son recogidos por el
colector. Los electrones se desplazan en línea recta cuando la
muestra es uniforme. Se consigue el contraste optimo cuando el
colector pueda recoger el máximo de electrones secundarios. La
eficiencia de la emisión de los electrones es máxima cuando el
plano de la muestra esta inclinado con respecto al haz primario.
Este colector que recoge los electrones está en conexión con una
pantalla de fluorescencia el cual al recibir los electrones va emitir
fotones. Por este motivo las microfotografías obtenidas por este
microscopio parecen muy naturales.

1.3.Preparación de muestras
Para el caso de un TEM o un SEM las muestras serán sometidas a un proceso
de preparación antes de que las mismas pueden ser introducidas en el
microscopio para su examen.
Ambos difieren tanto por el tipo y tamaño de la muestra, la aplicación
específica, etc., podría decirse que cada rama de la investigación tiene sus
propios métodos específicos de tratar a la muestra para llevarla a un estado
adecuado para el análisis. Sin embargo, para un buen resultado a depender
mucho de la preparación de la muestra.
Para el caso del TEM es más complejo preparar las muestras. Estas
dimensiones deben ser de 3mm de diámetro y el espesor no debe ser mayor
que 0.5um para que el haz de electrones pueda atravesarlas.
Para el caso del SEM no es muy riguroso en las dimensiones de la preparación
de la muestra, pero sin embargo debe estar libre de humedad, polvo, etc., en
general este microscopio se utiliza más para observar las superficies de la
muestra.

14
1.4.Imágenes captadas por el microscopio electrónico.

Figura4. Imagen de un acaro observado desde el SEM.

Figura5. Imagen de un microbio replicando su ADN captado por el TEM.

15
Figura6. Imagen de una bacteria de tuberculosis captada por el TEM.

Figura7. imagen de una neurona captada por el SEM

16
 Figura8. Imagen de las células sanguíneas en una arteria captada por el SEM.

2) Experimento de Davisson-Germer

Los experimentos de difracción realizados por los físicos estadounidenses Clinton

davisson y Lester Germer constituyeron en 1927 una prueba experimental directa de
que los electrones poseen una longitud de onda.

De hecho, De Broglie ya había sugerido en 1924 que una corriente de electrones que
atraviesan una pequeña abertura debe presentar fenómeno de difracción.

El experimento de Davisson y Germer fue una derivación de un intento por

comprender la disposición de átomos sobre la superficie de una muestra de níquel al
dispersar elásticamente un haz de electrones a baja velocidad utilizando un blanco de
níquel policristalino.

En la figura 9 se muestra un esquema de su aparato. Su dispositivo permitía la

variación de tres parámetros experimentales: la energía del electrón; la orientación
del blanco de níquel, α; y el ángulo de dispersión, φ. Antes de que ocurriese un
accidente afortunado los resultados eran bastante mediocres. Para energías constante
de los electrones de aproximadamente 100eV, la intensidad de dispersión disminuía
rápidamente cuando φ aumentaba. Pero entonces en el accidente ocurrió que a alguien

17
se le cayó un frasco de aire liquido sobre el sistema de tubo al vacío, así rompiendo
el vacío y oxidando el blanco de níquel, que había estado a alta temperatura. Para
remover el óxido, la muestra fue calentada cuidadosamente en una corriente de
hidrogeno en circulación. Cuando volvieron armar el aparato encontraron resultados
muy distintos: observaron fuertes variaciones en la intensidad de los electrones
dispersados con respecto al ángulo.

Evidentemente, el prolongando calentamiento había destemplado el blanco de níquel,

provocando el desarrollo de grandes regiones monocristalinas en la muestra
policristalina. Estas regiones cristalinas proporcionaron la retícula extendida regular
necesaria para observar la difracción de electrones. Una vez que Davisson y Germer
se dieron cuenta de que era l dispersión elástica por monocristales la que se provocaba
tales resultados tan poco comunes, iniciaron una minuciosa investigación la
dispersión elástica por grandes cristales simples con la orientación cristalográfica
predeterminada. Sin embargo, incluso estos experimentos no fueron realizados al
principio como una prueba de la teoría ondulatoria de De Broglie. Luego de
discusiones subsiguientes con Richardson, Born y Frank, los experimentos y sus
análisis culminaron finalmente en 1927 en la prueba de que los electrones
experimentan difracción con una longitud de onda de electrón dada por
ℎ
𝜆=𝑝.

Figura9. Longitud de onda

18
La longitud de onda experimental puede obtenerse si se considera que los átomos de
níquel constituyen una rejilla de difracción por reflexión, como se muestra en la figura
10. Solo se toma en cuenta la capa superficial de los átomos porque los electrones a
baja energía, a diferencia de los rayos X, no penetran profundamente el cristal.
Cuando la diferencia en la longitud de la trayectoria entre dos rayos adyacentes es un
numero entero de longitudes de onda ocurre interferencia constructiva o bien:
𝑑 sin 𝜙 = 𝑛𝜆

Como se sabía de qué d era igual a 2.15Å a partir de mediciones de difracción de

rayos X, Davisson y Germer calcularon que λ era:

𝜆 = (2.15Å)(sin 50°) = 1.65Å

La cual coincide con el resultado teórico de De Broglie.

De esta manera el postulado de De Broglie queda demostrado y valido para toda la

materia, entonces cualquier objeto de masa m poseen propiedades ondulatorias.

En los siguientes años siguientes otros experimentalistas probaron el carácter

universal del postulado de De Broglie al buscar difracción de otros haces de partículas
como con el átomo de helio e hidrogeno.

19
Figura10. difracción de otros haces de partículas

3) Principio de incertidumbre de Heisenberg

En el periodo de 1924-25 Werner Heisenberg invento una teoría completa de la
mecánica cuántica denominada mecánica matricial. Esta teoría supero algunos de
los problemas generados con la teoría del átomo de Bohr, como el postulado no
observable de los electrones. El planteamiento de Heisenberg se basaba
principalmente en cantidades mensurables como las probabilidades de transición
para saltos de los electrones entre estados cuánticos. Debido a que estas
probabilidades de transición dependen de los estados inicial y final, Heisenberg
utilizo en su mecánica variables identificadas con dos subíndices. Aunque al
principio de Heisenberg presento su teoría en forma de algebra no conmutativa,
Max Born pronto se dio cuenta que esta teoría podía describirse de una manera
más alegante utilizando matrices. En consecuencia, Born, Heisenberg y Pascual
Jordán se dieron a la tarea de elaborar una teoría detallada de la mecánica
matricial.
Aunque el planteamiento matricial era muy elegante atrajo poca atención debido
a que era difícil de aplicar en casos específicos.
En 1927 Heisenberg finalmente en un artículo publica su descubrimiento el
principio de incertidumbre.

20
En aquel artículo Heisenberg introdujo el concepto de que es imposible
determinar de manera simultánea y con exactitud ilimitada la posición y cantidad
de movimiento de una partícula.
En su artículo de 1927 Heisenberg tuvo cuidado en indicar que las incertidumbres
ineludibles Δp y Δx no surgen debido a imperfecciones en los instrumentos de
medición.
En vez de ello se deben a la necesidad de utilizar un gran intervalo de números de
onda, Δk, para representar un paquete de ondas de materia localizado en una
pequeña región, Δx. El principio de incertidumbre constituye una ruptura acusada
con las ideas de la física clásico, donde se supone que, con ingenio y capacidad
suficientes, es posible medir simultáneamente la posición y la cantidad de
movimiento de una partícula hasta el grado de exactitud que se quiera.
Es posible demostrar que ΔpΔx≥ ħ/2 proviene de la relación de incertidumbre que
rige cualquier tipo de pulso ondulatorio formado por la superposición de ondas
con distintas longitudes de onda.
Para construir un grupo de ondas localizado en una pequeña región Δx fue
necesario sumar un gran intervalo de números de onda Δk, donde ΔkΔx=1.
Con la definición de Δx y Δk como desviaciones estándar, es posible demostrar
que para una función de onda gaussiana se obtiene el número menor ½. En este
caso de incertidumbre mínima se tiene:
1
Δ𝑥Δ𝑘 =
2
Para cualquier otra elección de f(x),
1
Δ𝑥Δ𝑘 ≥
2
Y usando Δp= ħΔk, ΔxΔk≥1/2 de inmediato se obtiene:
ħ
Δ𝑝Δ𝑥 ≥
2
El significado fundamental de ΔpΔx≥ ħ/2 es que a medida que crece una
incertidumbre, la otra disminuye. En el caso extremo, cuando una incertidumbre
tiende a infinito, la otra debe tender a cero. Este caso se ilustra mediante una onda
plana 𝑒 𝑖𝑘0 𝑥 que tiene una cantidad de movimiento precisa ħ𝑘0 y una extensión
infinita; es decir, la función de onda no está concentrada en ningún segmento del
eje x.

21
Otra relación de incertidumbre importante implica la incertidumbre en energía de
un paquete de ondas, ΔE, y el tiempo, Δt, necesario para medir esta energía.
Empezando con ΔωΔt≥1/2 como la forma mínima del principio de incertidumbre
tiempo-frecuencia y usando la relación de De Broglie para la conexión entre la
energía de la onda de materia y la frecuencia E= ħω, de inmediato se encuentra el
principio de incertidumbre energía-tiempo.
ħ
∆𝐸∆𝑡 ≥
2
Aquella ecuación establece que la precisión con la cual es posible conocer la
energía de algún sistema esta limitada por el tiempo disponible para medirla. Una
aplicación común de la incertidumbre energía-tiempo es en el calculo de tiempo
de vida de partículas subatómicas de muy corta vida, las cuales no pueden medirse
directamente, pero cuya incertidumbre en energía y masa si puede medirse.

3.1.Otra perspectiva del principio de incertidumbre

Aunque ya se indicó que ΔpΔx≥ ħ/2 surge de la teoría de la construcción de pulsos
o grupos de ondas, hay una forma más física de considerar el origen del principio
de incertidumbre. Se consideran algunos experimentos idealizados y se
demostrara que es imposible realizar un experimento que permita medir en forma
simultánea la posición y la cantidad de movimiento con una exactitud tal que se
viole el principio de incertidumbre. El experimento conceptual mas conocido en
esta línea fue introducido por el mismo Heisenberg e implica la medición de la
posición de un electrón por medio de un microscopio que forma una imagen del
electrón sobre una pantalla o en la retina del ojo.
Debido a que la luz puede ser dispersada por un electrón y perturbarlo este efecto
será minimizado al considerar la dispersión de un simple cuanta luz por un
electrón que inicialmente está en reposo. Para ser capturado en la lente, el fotón
debe dispersarse un ángulo que varía desde -θ hasta +θ, lo que importe al electrón,
en consecuencias, una componente x de una cantidad de movimiento que va desde
+(ℎ sin 𝜃)/𝜆 hasta −(ℎ sin 𝜃)/𝜆. Así la incertidumbre en la cantidad de
movimiento del electrón es Δp = (2ℎ sin 𝜃)/𝜆.
Después al pasar a través de la lente el fotón llega a cualquier sitio sobre la
pantalla, aunque la imagen por consiguiente la posición del electrón es borrosa
porque el fotón se difracta al pasar por la abertura de la lente según la óptica física

22
la resolución de un microscopio o la incertidumbre en la imagen del electrón, Δx,
está dada por
Δ𝑥 = 𝜆⁄2 sin 𝜃. Aquí 2θes el ángulo subtendido por el objetivo de la lente, como
se muestra en la figura 11. Al multiplicar las expresiones para Δp y Δx se obtiene
para el electrón lo siguiente:
2ℎ 𝜆
Δ𝑝Δ𝑥 = ( sin 𝜃) ( )=ℎ
𝜆 2sin 𝜃

Figura11. Microscopio de Heisenberg.

Un análisis de este simple experimento muestra varias propiedades físicas clave
que conducen al principio de incertidumbre:
 La naturaleza indivisible de las partículas o los cuantos de luz (no puede
usarse nada menor que un simple fotón)
 La propiedad ondulatoria de la luz, como se demuestra en la difracción.
 La imposibilidad de predecir o medir la trayectoria clásica exacta de un
solo fotón dispersado y por tanto de conocer la cantidad de movimiento
exacta transferida al electrón.

23
3.2.Aplicaciones
 Demuestre que la incertidumbre de velocidades provocada por el principio
de incertidumbre no tiene consecuencias mensurables para objetos
macroscópicos al considerar una pelota de frontenis de 100g confinada a
una habitación de 15m por lado. Suponga que la pelota se desplaza a 2m/s
a lo largo del eje x.
Solución:
ℏ 1.05 × 10−34 𝐽𝑠
Δ𝑝 ≥ = = 3.5 × 10−36 𝑘𝑔. 𝑚/𝑠
2Δ𝑥 2 × 15𝑚
Así la incertidumbre mínima en la velocidad esta dada por:
Δ𝑝 3.05 × 10−36 𝑘𝑔. 𝑚/𝑠
Δ𝑣 = = = 3.5 × 10−35 𝑚/𝑠
𝑚 0.100𝑘𝑔
Esto proporciona una incertidumbre relativa de:
Δ𝑣 3.5 × 10−35 𝑚/𝑠
= = 1.8 × 10−35
𝑣 2𝑚/𝑠
Que ciertamente no es mensurable.
 Aplique el principio de incertidumbre para calcular la energía cinética de
un electrón confinado dentro de un núcleo con tamaño de 1 × 10−14 𝑚.
Solución:
Al tomar como Δx como el semiancho de la longitud de confinamiento en
ℏ
la ecuación ∆𝑝 ≥ 2∆𝑥 ,se obtiene:

6.58 × 10−16 𝑒𝑉. 𝑠 3 × 108 𝑚/𝑠

∆𝑝 ≥ ×
1 × 10−14 𝑚 𝑐
Tendremos:
𝑒𝑉
∆𝑝 ≥ 2 × 107
𝑐
Esto significa que las mediciones de la componente de la cantidad de
movimiento de los electrones atrapados dentro de un núcleo variaran desde
menos de -20MeV/c hasta mas de 20MeV/c, y que algunos electrones
tendrían cantidades de movimientos por lo menos tan grandes como
20MeV/c. debido a que esto parece ser una cantidad de movimiento
grande, para estar seguro se calcula la energía del electrón desde un punto
de vista relativista.

24
 𝐸 2 = 𝑝2 𝑐 2 + 𝑚𝑒2 𝑐 4
20𝑀𝑒𝑉 2 2
𝐸2 = ( ) 𝑐 + (0.511𝑀𝑒𝑉)2
𝑐
𝐸 = 20𝑀𝑒𝑉
Quedará entonces:
𝐸 ≥ 20𝑀𝑒𝑉
Por ultimo la energía cinética de un electrón intranuclear es:
𝑘 = 𝐸 − 𝐸0 ≥ 19.5𝑀𝑒𝑉
Debido a que los electrones emitidos en una desintegración radiactiva del
núcleo posen energías mucho menores que 19.5MeV y se sabe que ningún
otro mecanismo puede llevarse la energía de un electrón intranuclear
durante el proceso de desintegración, se concluye que los electrones
observados en una desintegración beta no provienen del interior del
núcleo, sino que en realidad aparecen en el instante de la desintegración.

25
 Referencias bibliográficas

Bernis, M. (1978). Atlas de microscopia. Ediciones Jover, S.A., Barcelona. Recuperado

de: http://www.laboescuela.com/downloads/microscopia.pdf
Egas, E. (1998). Microscopia electrónica: Fundamentos, teoría y aplicaciones (Tesis de
pregrado). Escuela Politécnica Nacional, Quito, Ecuador. Recuperado de:
https://bibdigital.epn.edu.ec/bitstream/15000/10421/3/T1421.pdf

26