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En la Fluorescencia de rayos X, los rayos X son generados por una fuente que
puede ser un tubo de rayos X, un sincrotrón o un material radiactivo, para ser
irradiados sobre una muestra. Los elementos que se encuentran presentes en
la muestra emitirán radiación fluorescente de rayos X. Cada átomo tiene
niveles específicos de energía, de forma que la radiación emitida es
característica de ese átomo. Un átomo emite más de una sola energía debido
a que se pueden producir vacantes en diferentes niveles y los electrones que
llenan estas vacantes también provienen de diferentes niveles. La colección de
líneas emitidas es característica de cada elemento y puede ser considerada la
huella digital del elemento. El concepto básico para todos los espectrómetros
es una fuente, una muestra y un sistema de detección. La fuente irradia la
muestra, y el detector mide la radiación procedente de la muestra.
Introducción
La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica no
destructiva que se utiliza para obtener información elemental de los diferentes
tipos de materiales. Esta se utiliza en diversas industrias y aplicaciones, como
producción de cemento, producción de vidrio, minería, enriquecimiento de
minerales, hierro, acero y metales no ferrosos, petróleo y petroquímica,
polímeros e industrias relacionadas, productos farmacéuticos, productos de
cuidado de la salud y sector medioambiental. Los sistemas de espectrometría
generalmente se dividen en dos grupos principales: los sistemas de dispersión
por longitud de onda (WDXRF) y los sistemas de dispersión de energía (EDXRF).
La diferencia entre ambos radica en el sistema de detección.