† Microscopia óptica

TÉCNICAS DE
R Estereomicroscopia
CARACTERIZAÇ
CARACTERIZAÇÃO DE R Microscopia de luz transmitida

MATERIAIS
MATERIAIS R Microscopia de luz refletida

† Microscopia de feixe de elétrons

R MEV - Microscopia eletrônica de varredura
TÉCNICAS DE MICROSCOPIA
R MET - Microscopia eletrônica de transmissão

† Estereologia (microscopia quantitativa)

por Prof. Dr. Henrique Kahn

Evolução da microscopia Comparação entre as técnicas de microscopia

Característica Microscopia Microscopia Microscopia Microscopia de

óptica eletrônica de eletrônica de campo iônico
varredura transmissão
Tensão de − 3 a 50 50 a 1000 5 a 15
aceleração (kV)
Faixa útil de 1 a 3.000 X 10 a 50.000 X 1.000 a 300000 1.000.000 X
aumentos
Resolução (Å) 3.000 Å 30 Å 3Å 1Å

Profundidade de 0,1 µm 100 µm 10 µm −

foco com 1000 X
5 6 12
Densidade 10 (cavidades 10 (cavidades 10 (lamina −
máxima de de corrosão) de corrosão) fina)
discordâncias
3
medida (cm/cm )

MICROSCOPIA ÓPTICA -
ESTEREOMICROSCOPIA
APLICAÇ
APLICAÇÕES
† Visão esté
estéreo (3D);
† Identificaç
Identificação de fases cristalinas; † Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);
† Quantificaç
Quantificação de fases; † Distinç
Distinção de fases por meio de caracterí
características
morfoló
morfológicas:
† Composiç
Composição de fases; R cor, transparência, brilho;
R hábito;
† Formas de intercrescimento e associaç
associações.
R clivagem, partiç
partição e fratura;
R luminescência UV.

1
 ESTEREOMICROSCÓ
ESTEREOMICROSCÓPIO ESTEREOMICROSCOPIA -
DISTINÇ
DISTINÇÃO DE FASES

zoom 3 a12 X

Iluminaç
Iluminação:
incidente;
transmitida
zircão turmalina granada

Rutilo Zircão

MICROSCOPIA DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO
POR LUZ TRANSMITIDA CALCITA – CaCO3

† Aumentos 20 a 1.000 vezes;

† Recursos de polarizaç
polarização de luz;
† Distinç
Distinção de fases por meio de:
R caracterí
características morfoló
morfológicas;
R propriedades ópticas.

Como explicar a formaç

formação de uma dupla imagem?

2
MICROSCOPIO DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO MICROSCOPIO DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO POR
POR LUZ TRANSMITIDA LUZ TRANSMITIDA
oculares

lente de Bertrand

analisador/compensador

objetivas

polarizador / intensidade
diafragma e de iluminação
condensador
liga/desliga

controle de foco

MICROSCOPIO DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO POR
LUZ TRANSMITIDA REFRAÇ
REFRAÇÃO DA LUZ
† Comportamento dos minerais transparentes e semi-
analisador /
compensador
opacos em relação à luz
• isó
isótropos (um índice de refração);
• anisó
anisótropos (dois ou três índices de refração, respectivamente,
objetivas
uniaxiais e biaxiais).

platina giratória
z
condensador
polarizador
x y
diafragma

Indicatriz uniaxial
Indicatriz isótropa Indicatriz biaxial
controle de foco

PROPRIEDADES ÓPTICAS - RELEVO ÍNDICE DE REFRAÇ

REFRAÇÃO -
LINHA DE BECKE
Relação entre o índice de refração do mineral † Tênue linha da luz na borda dos minerais que se
e do meio no qual este está imerso: movimenta ao se desfocar o microscópio.

A - baixo B - alto

Índice do mineral > meio

3
 ÍNDICE DE REFRAÇ
REFRAÇÃO -
LINHA DE BECKE LUZ POLARIZADA
† Tênue linha da luz na borda dos minerais que se
movimenta ao se desfocar o microscópio.

† Oscilaç
Oscilação somente em uma direç
direção.
Índice do mineral < meio

MINERAIS ISÓ
ISÓTROPOS MINERAIS ANISÓ
ANISÓTROPOS
† Sistema cúbico; † Outros sistema cristalinos que nâo o cúbico;

† Apresentam um único índice de refração; † Apresentam dois ou três índices de refração;

† São anisótropos em relação à luz:
† São isótropos em relação à luz:
R Pleocroismo (coloridos);
R sob nicóis cruzados
(polarizador e analisador) estão R Extinção;
sempre extintos (não visíveis) R Elongação (hábito prismático);
ao giro da platina R Figuras de interferência.

PLEOCROÍ
PLEOCROÍSMO INTERFERÊNCIA DE LUZ

† Minerais coloridos apresentando duas cores

distintas, cada qual concordante com um índice de

refração.

Observação em nicóis paralelos - só polarizador Atraso = (n1 - n2) . d = birrefringência (∆ )

4
 Tabela de cores de interferência
EXTINÇ
EXTINÇÃO

Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

EXTINÇ
EXTINÇÃO EXTINÇ
EXTINÇÃO

† Reta ou paralela † Simétrica

Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

EXTINÇ
EXTINÇÃO MICROSCOPIA DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO
POR LUZ REFLETIDA
† Inclinada

† Aumentos 20 a 1.000 vezes;

† Recursos de polarizaç
polarização de luz;
† Distinç
Distinção de fases por meio de:
R caracterí
características morfoló
morfológicas;
z R propriedades fí
físicas;
zΛc R propriedades ópticas;
pticas;
c R propriedades quí
químicas.
micas.
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º

5
 MICROSCOPIO DE POLARIZAÇ
POLARIZAÇÃO PREPARAÇ
PREPARAÇÃO DA SEÇ
SEÇÃO
POR LUZ REFLETIDA † Corte da amostra;
† Montagem da seção em resina;
† Desbaste:
Amostra
R manual em lixa d’água e/ou carborundum;
ortogonal à
R mecanizado em discos especiais;
incidência da luz
† Polimento:
R tecidos especiais com alumina ou diamante
como abrasivos;
R disco de chumbo com alumina;

† Tipos de seções:
R polida - luz refletida;
R delgada/polida - luz transmitida e refletida.

Corte da Amostra DESBASTE

† Discos diamantados

† Manual † Discos
Corte para seção delgada especiais

Polimento - Logitech Tipos de Seç

Seções

† Tecidos † Disco de
especiais chumbo † Polida † Delgada polida

6
 DISTINÇ
DISTINÇÃO DE FASES pirita
† Caracterí
Características morfoló
morfológicas:
R hábito;
R clivagem, partiç
partição e fratura;
† Propriedades ópticas:
R cor de reflexão; calcopirita
R isotropia / anisotropia;
R birreflectância;
esfalerita
birreflectância;
R refletividade (relativa ou absoluta);

R reflexão interna;
pirrotita
† Outras propriedades fí
físicas: galena
R dureza ao risco (relativa)
R dureza Vickers (absoluta);
† miné
minério de Cu,Pb (Zn)
† Propriedades quí
químicas

bornita
ISOTROPIA / ANISOTROPIA
calcopirita

† Sob nicóis cruzados (polarizador e analisador

a cerca de 87-88º) observar se ocorre
mudança de cor ao giro da platina do
microscópio:
R não há mudança de cor ⇒ isótropo;
tropo
R há mudança de cor ⇒ anisó
anisótropo.
tropo.

† miné
minério de cobre (exsolu
(exsoluç
ção)
ão)

BIRREFLECTÂNCIA

† Sob nicóis paralelos (só polarizador) observar

se ocorre mudança na cor de reflexão do
mineral ao giro da platina do microscópio:
R há mudança de cor ⇒ birreflectância.
birreflectância.

Obs.: Birreflectância corresponde a fenômeno equivalente a

dicroí
dicroísmo / pleocroí
pleocroísmo em microscopia de polarização
† hematita (nic
(nicó
óis cruzados) sob luz transmitida.

7
 molibdenita REFLETIVIDADE
R birreflectância
† Diferenças na intensidade de luz refletida
R geminação
pelos minerais sob nicóis paralelos (só
polarizador);
† Pode ser avaliada:
R qualitativamente;
R quantitativamente (célula fotoelétrica).

MEDIDA DE REFLETIVIDADE REFLEXÃO INTERNA

† Comparação com padrões⇒ calibraç
calibração;
ão; † Aumento elevado
R ( obj >20X);
† Luz policromática ou monocromática; † Nicóis cruzados
R (polarizador e analisador);
† Medida em ar ou imersão em óleo.

Fenômeno de múltiplas
reflexões internas

DUREZA AO RISCO - Escala Talmage DUREZA VICKERS

A - Argentita;
Argentita; † Medida da deformaç
deformação causada em um
B - Galena; mineral por uma pirâmide invertida de
C - Calcopirita; diamante,sobre a qual é aplicada uma certa
carga (0,1 a 500 g)
D - Tetraedita;
Tetraedita;
E - Nicolita;
Nicolita; 1854,4 . P
D.V. = (kg / mm2) , onde:
F - Magnetita; d2

G - Ilmenita P = peso (g)

d = diâmetro médio da identação (≈ 20 medidas)

8
 Refletividade

DUREZA VICKERS
Média (%) DUREZA VICKERS
X
REFLETIVIDADE

Escala e marcas
Durimet de identação
Microdureza Vickers (média)

MEV – MICROSCOPIA ELETRÔNICA

DE VARREDURA MEV e EDS/WDS

† Aumentos 20 a 50.000 vezes;

† Elevada profundidade de campo;

† Interaç
Interação elé
elétrons - amostra;

† Aná
Análises quí
químicas pontuais (EDS / WDS).

MEV Geraç
Geração do feixe de elé
elétrons
‡ A coluna do MEV gera um
fino feixe de elétrons;
‡ Um sistema de deflexão
controla o aumento da
imagem;
‡ Interação entre os elétrons e
a amostra;
‡ Detetores de elétrons
coletam o sinal;
‡ A imagem é visualizada em
um monitor simultaneamente
a varredura do feixe de
elétrons;

9
 Coluna e lentes
eletromagné
eletromagnéticas Mecanismo de
varredura

Profundidade das informaç

informações
INTERAÇ
INTERAÇÃO ELÉ
ELÉTRONS AMOSTRA
geradas

1 a 5 µm
‡ Fornecem informaç
informações sobre a composiç
composição, topografia,
cristalografia, potencial elé
elétrico e campos magné
magnéticos locais.

ELÉ
ELÉTRONS RETRO-
RETRO-ESPALHADOS
ELÉ
ELÉTRONS RETRO-
RETRO-ESPALHADOS
‡ Compreende espalhamento elástico de elétrons
cuja trajetória foi desviada em mais de 90° em
relação à direção do feixe incidente. Mostram
estreita relação de dependência com o número
atômico e a energia dos elétrons (50 eV até
valores correspondentes a energia do feixe
incidente).
‡ Permitem a individualização de fases através de
contraste de tons de cinza em função do número
atômico médio (Z) - diferenças Z > 0,2.

10
 ELÉ
ELÉTRONS RETRO-
RETRO-ESPALHADOS
ELÉ
ELÉTRONS SECUNDÁ
SECUNDÁRIOS

‡ Compreendem os elétrons da camada de

valência perdidos que emergem através da

superfície da amostra;
‡ Englobam todos os elétrons de energia

inferior a 50 eV;
‡ Possibilitam a visualização da topografia da

amostra, com elevada profundidade de foco.

BSE Ouro primário, Salamangone, AP

SE
DETETOR DE ELÉ
ELÉTRONS
SECUNDÁ
SECUNDÁRIOS

diatomácea

ELÉ
ELÉTRONS SECUNDÁ
SECUNDÁRIOS

SE
CATODOLUMINESCÊNCIA
‡ O bombardeamento da amostra por um feixe de
elétrons pode dar origem a emissão de fótons de
comprimento de onda elevados, situados nas
regiões do espectro eletromagnético referentes às
radiações ultravioleta, visível e infravermelho. Este
fenômeno, bem evidente em alguns minerais
(fluorita, apatita, etc), é denominado de
catodoluminescência.
catodoluminescência
pernilongo

11
 CATODOLUMINESCÊNCIA
RAIOS X

‡ O espectro de raios X resultante da interaç

interação
elé
elétrons / amostra é constituí
constituído por dois
componentes distintos:
P Raios X caracterí
característico,
stico, que permite identificar e
quantificar os elementos presentes,
P Raios X contí
contínuo,
nuo, responsá
responsável pelo “background”
background” em
zircão todos os ní
níveis de energia.

K
LINHAS DE L
M
EMISSÃO

ATÔMICA
RAIOS X CONTÍ
CONTÍNUO

ESPECTRÔMETROS DE RAIOS X ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X POR

DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)
‡ o espectrômetro de dispersão de energia

(EDS);
EDS); ‡ discriminação de todo o espectro de energia
‡ espectrômetro de dispersão de comprimento através de um detector de estado sólido de
de onda (WDS).
WDS). Si(Li) ou Ge.

12
 ETR, Barra de Itapirapuã Bastnaesita Parisita
Ce - 31,1 26,5
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS - X La
Nd
- 23,3
- 3,35
19,9
3,80
outros ETR - 1,67 1,90
Sr - 1.95 1,22
Y - 0,21 0,71
Th - 1,36 0,72
Ca - 0,91 8,11
C - 5,59 6,42
O - 22,3 25,7
F - 8,50 7,39

Ln2O3 - 69,9 61,8

CaO - 1,27 11,4

Fase Clara - Bastnaesita Fase Escura - Parisita

EDS

ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X POR
DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA
(WDS)

‡ cristais analisadores e difração (nλ = 2 d sen θ)

são empregados para a discriminação dos

raios-X segundo o comprimento de onda da
radiação (monocromador).
WDS

ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X : WDS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS-

RAIOS-X : WDS

† Cristais analisadores

13
COMPARAÇ
COMPARAÇÃO ENTRE EDS e WDS COMPARAÇ
COMPARAÇÃO ENTRE EDS e WDS

Espectro por EDS Características WDS - cristais EDS - Si(Li) ou Ge

analisadores
Número atômico z≥4 z ≥ 4 (janela ultrafina)
Intervalo espectral resolução do espectrômetro todo o intervalo disponível
(1 elemento por vez) 0-20 keV (multi-elementar)
Resolução dependente do cristal 132 a 145 eV detetor de Si
espectral (≈ 5 a 10 eV) 111 a 115 eV detetor de Ge
limite de deteção ≈ 0,01 % ≈ 0,1%
Contagem máxima 100.000 cps depende da resolução
Espectro por WDS
para uma linha 2.000 a 100.000 cps para todo o
(escala log) característica espectro (Ge ≈ 4 X Si)
diâmetro usual ≈ 200 nm (2000 Å) ≈ 5 nm (50 Å)
mínimo do feixe
tempo por análise 5 a 30 minutos 1 a 3 minutos
(depende do nº de
elementos)

Fosfato de Tapira, MG
Ca, P;
Si;
MET – MICROSCOPIA ELETRÔNICA
Fe DE TRANSMISSÃO

† Estudo de defeitos cristalinos:

R discordâncias
R defeitos de empilhamento.
† Estudo de defeitos de empilhamento;
† Estudos de precipitados muito finos -
nanométricos.

Ca, P;
Fe

MET MET – Preparaç

Preparação de amostras
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Elemento Número Densidade Espessura
atômico (g/cm³) máxima (Å)
Carbono 6 2,26 >5000
Alumínio 13 2,70 5000
Cobre 29 8,96 2000
Prata 47 10,50 1500
Ouro 79 19,30 1000

Efeito do aumento da tensão de aceleração - base 100 kV

Diferença de potencial (kV) Fator de multiplicação
100 1
200 1,6
300 2,0
500 2,5
1000 3,0

14
 MET – Preparaç
Preparação de amostras MET – Preparaç
Preparação de amostras
Amostras de lâminas finas do pró
próprio material • Réplicas da superfí
superfície da amostra ("negativo" da superfície
observando-se o contraste relativo às variações de
• Preparação de lâminas finas de metais e ligas:
espessura):
• corte de lâminas de 0,8 a 1,0 mm de espessura
• polimento mecânico até 0,10-0,20 mm de espessura • de plástico: solução diluída de plástico em um solvente volátil
Espessura máxima transmissível a 100 kV
• polimento eletrolítico final. formando um filme;

• Preparação lâminas finas de polímeros e outros materiais • de carbono: este material é evaporado na superfície da amostra.

orgânicos: Esta técnica pode ser utilizada também para arrancar partículas de

• microtomia, onde uma navalha corta películas finas e com precipitados da amostra, a chamada réplica de extração;

espessura controlada; • de óxido: usada principalmente para ligas de alumínio, o filme de

• ultramicrotomia - material resfriado em nitrogênio líquido. óxido é obtido por anodização de uma superfície previamente
polida eletroliticamente.

MET - FORMAÇ
FORMAÇÃO DE IMAGEM MET - FORMAÇ
FORMAÇÃO DE IMAGEM
† Sólidos amorfos † Sólidos cristalinos

contraste em só
sólidos amorfos com variaç
variação de densidade -
região B é mais densa que a região A

MET - FIGURAS DE DIFRAÇ

DIFRAÇÃO MET - DIFRAÇ
DIFRAÇÃO DE ELÉ
ELÉTRONS
† Ferro alfa, com as manchas ou pontos indexados

15
 ESTEREOLOGIA
OU
ESTEREOLOGIA
MICROSCOPIA QUANTITATIVA

† Estudo das relaç

relações entre estruturas ou
feiç
feições tridimensionais de uma amostra e seus
parâmetros de medida em imagens
bidimensionais

3D
ESTEREOLOGIA
ESTEREOLOGIA
† PARÂMETROS DE INTERESSE:
R Dimensões de feições;
2D
R Forma de feições;
R Proporções volumétricas;
R Associações minerais:
O Grau de liberação;
Seç
Seções aleató
aleatórias de O Textura e orientação;
esferas de diâmetro d

Proporç
Proporções volumé
volumétricas -
Aná
Análise modal ANÁ
ANÁLISE DE
† As proporções volumétricas são determinadas IMAGENS
através de medidas de áreas, linhas ou pontos a
partir de seções não orientadas, ou material
particulado previamente classificado em estreitas
† Avaliaç
Avaliação quantitativa de feiç
feições
faixas granulométricas.
geomé
geométricas expostas em imagens
Princí
Princípio da
Vv = Aa = Ll = Pp Estereologia
bidimensionais

16
 ANÁ
ANÁLISE DE IMAGENS
† Imagens digitais:
profundidade (bites por pixel)
resolução (500 a 3000 pixels)
SEQÜ
SEQÜÊNCIA DE OPERAÇ
OPERAÇÕES
pixel
† aquisição da imagem (MO ou MEV);
† armazenamento da imagem;
† processamento de imagem;
† detecção das feições de interesse;
† processamento de imagem binária;
† medidas;
† apresentação de resultados.
17