Ejemplo 1

Un proceso de manufactura de mesas para teléfono tiene cuatro subprocesos: fabricación de patas, bastidor, cub

Subproceso Defectos Oportunidades/ Unidad

Patas 212 17
Bastidor 545 5
Cubierta 71 9
Pintura 54 1
Totales: 882 32

Unidades procesadas 1510

Total defectos 882

DPO (defectos por oportunidad)=Total Defectos/(total muestra*oportunidades para que aparezcan defectos)
DPO= 0.0182533113

DPMO= 18253.3112582781

Ejemplo 2

N° Actividad Entradas

1 Elaboración de la masa 50
2 Preparación de la salsa 50
3 Preparación de los ingredientes 50
4 Preparación de la pizza 50
5 Hornear 49
6 Entrega al cliente 42
total 291

Calculo del DPMO por cada parte del proceso

Proceso Defectos Muestra
Elaboración de la masa 0 50
Preparación de la salsa 0 50
Preparación de los ingredientes 0 50
Preparación de la pizza 1 50
Hornear 7 49
Entrega al cliente 11 42

yield es un porcentaje de eventos de un proceso libre de fallas

yield es igual al (numero de
entradas - fallas)/entradas

Proceso Defectos Yield

Elaboración de la masa 0
Preparación de la salsa 0
Preparación de los ingredientes 0
Preparación de la pizza 1
0.62
Hornear 7
Entrega al cliente 11
Total 19
Total de pizzas 50
rendimiento en rollo junta los rendimientos de cada una de las partes en un solo valor
el cual representa la posibilidad de que un producto o un servicio salga bien a la primera
en ese proceso
ción de patas, bastidor, cubierta y pintura. Se toman los datos de 1510 mesas fabricadas y se observa la siguiente información. Calcule el Sig

ue aparezcan defectos)

DPMO

Defectos por millon Nivel

Defectos Oportunidades
de oportunidades sigma

0 1 0 6
0 1 0 6
0 1 0 6
1 1 20000 2.5
7 1 142857.142857143 2.6
11 1 261904.761904762 2.1
19 6

Oportunidades Cáclulo DPMO

1

1 20000
 1 142857.142857143
1 261904.761904762

Rendimiento de primera vez

divide el proceso general con sus
procesos y a cada parte del proceso Porcentajde de
se le calcula su rendimiento eventos libre de
Eventos libres de fallas fallas Nivel sigma
1 100 6
1 100 6
1 100 6
0.98 98 3.5
0.857 85.7 2.5
0.738 73.8 2.1
nformación. Calcule el Sigma del proceso.

Yield

Eventos libre % de eventos

Nvel Sigma
de defectos libre de defectos