INTERNATIONAL

STANDARD 4287
First edition
NORME Premkre bdition
1997-04-O 1

INTERNATIONALE

ISO 4287
Distribuido
GeometricalporProduct
el Specifications
(GPS) - Surface texture: Profile method -
Terms, definitions and surface texture
parameters

Spkification gbombtrique des produits

(GPS) - &at de surface: Mbthode
du profil- Termes, dbfinitions et
paramktres d’6tat de surface
a los integrantes del
IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Reference number
Num&-o de rkfbrence
IS0 4287:1997(E/F)
IS0 4287:1997(E/F)

Contents Page

1 Scope . .. .. .. . ... .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. ... . ... .. . .. .. .. . .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. .. . .. .. . 1

2 Normative references . . ... . ... .. .. .. .. . .. .. .. . .. ... . .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. 1
3
3.1
ISO 4287
Terms and definitions .. .. . .. ... .. .. .. . .. .. .. .. . .. .. .. ... .. .. .. .. ... .. .. ... . .. .. . .. .. .. .
General terms .. . .. .. . .. .. ... . .. .. .. .. .. .. . .. .. .. .. ... . ... .. .. .. ... .. .. .. .. . .. .. .. ..
2
2
3.2 Distribuido 6
Geometrical parameter terms . .. .. . .. .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. . .. .. .. .. .
4 Surface profile parameter definitions . .. . .. .. ... .. .. .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. . .. .. ..
por el 1010
4.1 Amplitude parameters (peak and valley) . .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .
4.2 Amplitude parameters (average of ordinates) .. .. .. .. .. . ... . .. .. .. 13
4.3 Spacing parameters . .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. .. ... .. .. ... .. .. .. .. .. . .. .. .. .. . 15
4.4 Hybrid parameters . .. .. .. .. .. ... . ... . .. ... . .. ... .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. . .. .. .. .. .. 15

4.5 Curves and related parameters . .. .. .. ... .. .. .. ... .. .. .. .. .. .. .. .. .. . .. .. .. 16

Annexes
A Text equivalents 19

B Flowchart for surface assessment 20

C Comparison of basic terms and parameter symbols be- 21
tween IS0 4287-1 :I 984 and IS0 4287:1996 a los integrantes del
D Relationship to the GPS matrix model 23

E Bibliography
IMNC/COTNNMET/ 25SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

0 IS0 1997
All rights reserved. Unless otherwise specified, no part of this publication may be reprodu-
ced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photoco-
pying and microfilm, without permission in writing from the publisher. / Droits de
reproduction reserves. Sauf prescription differente, aucune partie de cette publication ne
peut etre reproduite ni utilisee sous quelque forme que ce soit et par aucun procede, elec-
tronique ou mecanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans I’accord ecrit de
l’editeur.
International Organization for Standardization
Case postale 56 l CH-1211 Geneve 20 l Switzerland
Printed in Switzerland / lmprime en Suisse

ii
 @ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Sommaire Page

1 Domaine d’application . .. . .. .. .. . .. .. . ... .. . .. .. . .. .. . .. ... . ... .. .. ... .. .. ... ... .. .. ... . 1

2 References normatives . . .. .. .. . .. .. .. .. .. . .. . .. . .. .. .. .. .. .. ... .. .. ... .. .. ... ... .. .. .. 1
3
3.1
ISO 4287
Termes et definitions ....................
Definitions generales ............ . .. .. . .. . .. .. . .. .. .. ... .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. ..
2
2

3.2 Distribuido
Definitions geometriques ...... .. .. .. . . .. .. . .. ... . ... .. .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. 6
4
por el
Definitions des parametres de pro f il . . .. . .. . .. . ... .. . ... .. .. .. .. ... .. ... .. .. .. .. 10
4.1 Parametres d’amplitude (saillie et creux) . .. .. .. ... .. .. .. ... .. ... .. .. . 10
4.2 Parametres d’amplitude (moyenne des ordonnees) ... .. ... .. .. 13
4.3 Parametres d’espacement ................................................... 15
4.4 Parametres hybrides ............................................................ 15
4.5 Courbes et parametres associes . . .. .. . .. .. . .. .. .. ... .. .. .. .. ... .. ... . .. . 16

Annexes
A Equivalents textuels 19
B Diagramme pour I’evaluation de surface 20
C Comparaison des symboles des termes de base et des 21
a losparametres
integrantes del
entre I’ISO 4287-l :I 984 et I’ISO 4287:1996
D Relation avec la matrice GPS 23
IMNC/COTNNMET/
E Bibliographie
SC 213 25
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Foreword

IS0 (the International Organization for Standardization) is a worldwide

federation of national standards bodies (IS0 member bodies). The work
of preparing International Standards is normally carried out through IS0
technical committees. ISO 4287
Each member body interested in a subject for
which a technical committee has been established has the right to be
Distribuido
represented on that committee. International organizations, governmental
and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. IS0
collaborates closely with the International Electrotechnical Commission
por el
(I EC) on all matters of electrotechnical standardization.

Draft International Standards adopted by the technical committees are cir-

culated to the member bodies for voting. Publication as an International
Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting
a vote.

International Standard IS0 4287 was prepared by Technical Committee

lSO/TC 57, Metrology and properties of surfaces, and has been based on
studies carried out by the Joint Harmonization Group of ISO/TC 3, Limits
and fits, ISO/K 10, Technical drawings, product definition and related
documentation, SC 5, Dimensioning and tolerancing, and ISOK 57,
Metrology and properties of surfaces.

This first edition of IS0 4287 cancels and replaces IS0 4287-1:1984. This
revision of IS0 4287-l :1984; is a major rewrite and reorganization that,
a los integrantes del
together with IS0 11562 and IS0 3274, additionally defines the waviness
profile, the primary profile and their parameters in a consistent manner.
IMNC/COTNNMET/ SC 213
Annex A forms an integral part of this International Standard. Annexes B,
C, D and E are for information only. para uso exclusivo de

NORMALIZACIÓN
 @ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Avant-propos

L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une federation

mondiale d’organismes nationaux de normalisation (comites membres de

ISO 4287
I’ISO). L’elaboration des Normes internationales est en general confiee aux
comites techniques de I’ISO. Chaque comite membre inter-es& par une
etude a le droit de faire partie du comite technique tree 8 cet effet. Les
Distribuido
organisations internationales, gouvernementales et non gouvernemen-
tales, en liaison avec I’ISO participent egalement aux travaux. L’ISO colla-
por el
bore etroitement avec la Commission electrotechnique internationale (CEI)
en ce qui concerne la normalisation electrotechnique.

Les projets de Normes internationales adopt& par les comites techniques

sont soumis aux comites membres pour vote. Leur publication comme
Normes internationales requiert I’approbation de 75 % au moins des co-
mites membres votants.

La Norme internationale IS0 4287 a ete elaboree par le comite technique

lSO/TC 57, M&ro/ogie et propri&& des surfaces, sous-comite SC 1,
Param& tres gbom& triques - Instruments et pro&dures pour la mesure
de /a rugositd et de I’ondulation des surfaces, et tient compte des etudes
me&es par le groupe d’harmonisation joint entre l’lSO/TC 3, Ajustements,
I’ ISO/TC IO, Dessins techniques, d@finitions de produits et documentation
y relative, sous-comite SC 5, Cotation et tokancement et l’lSO/K 57,
M6 trologie et proprid t6s des surfaces.
aCettelospremiere
integrantes
edition de delI’ISO 4287 annule et remplace
I’ISO 4287-l :I 984. Cette revision constitue une reorganisation et une ree-
IMNC/COTNNMET/
criture importantes de I’ISO 4287-lSC :1984; 213
avec I’ISO 11562 et I’ISO 3274,
elle ajoute, de facon coherente, les definitions du profil d’ondulation, du
para usoainsiexclusivo
profil primaire de
que de leurs parametres.
.
NORMALIZACIÓN
L’annexe A fart partie integrante de la presente Norme internat ionale . Les
annexes B, c, D et E sont donnees uniquement a titre d informa tion.
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Introduction

This International Standard is a Geometrical Product Specification (GPS)

standard and is to be regarded as a General GPS standard (see
lSO/TR 14638). It influences chain link 2 of the chains of standards or I sur-
face texture. ISO 4287
Distribuido
For more detailed information on the relationship of this International
Standard to other standards and the GPS matrix model, see annex E.

Historically, the roughness profile porbeenelthe only

and its parameters have
parts of surface texture characterization that have been well defined.

A default relationship between AC and af is under consideration.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
 @ IS0 IS0 4287:1997(E/f]

Introduction

%a presente Norme internationale qui traite de la specification geometrique

des produits (GPS), est consideree comme une norme GPS g&Wale (voir
I’ISO/rR 14638). Elle influence le maillon 2 des cha’ines de normes relati-
ves a Mat de surface.
ISO 4287
Pour de plus amples informations sur la relation de la presente Norme in-
ternationale avec les autres normes et la matrice GPS, voir l’annexe D.
Distribuido
Par le passe, le profil de rugosite et ses parametres ont ete les seuls ele-
por el
ments caracteristiques de Mat de surface a etre correctement definis.

Une relation par defaut entre AC et Af est en tours d’etude.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
 ISO 4287
Distribuido
por el

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a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
INTERNATIONAL STANDARD o ,so
NORME INTERNATIONALE ’
Geometrical Product
Specifications (GPS) - Surface
texture: Profile method -
Terms, definitions and surface
texture parameters ISO 4287 parametres d’btat de surface
Distribuido
II Scope porII elDomaine
This International Standard specifies terms, definitions
and parameters for the determination of surface tex-
ture (roughness, waviness and primary profile) by
profiling methods.
2 Normative references
The following standards contain provisions which,
through reference in this text, constitute provisions of
a los integrantes del
this International Standard. At the time of publication,
the editions indicated were valid. All standards are
IMNC/COTNNMET/ SC 213
subject to revision, and parties to agreements based
on this International Standard are encouraged to in-
vestigate the possibility of applying the most recent
para uso exclusivo de
editions of the standards indicated below. Members
of IEC and IS0 maintain registers of currently valid
lnternational Standards. NORMALIZACIÓN
IS 0 3274: 1996, Geometrical Product Specifications
(GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal
characteristics of contact (stylus) instruments.
IS0 4288: 1996, Geometrical Product Specifications
(GPS) - Surface texture: Profile method - Rules and
procedures for the assessment of surface texture.
IS0 11562: 1996, Geometrical Product Specifications
(GPS) - Surface texture: Profile method - Metro-
logical characterization of phase correct filters.
IS0 4287:1997(E/F)
SpQcification gbombtrique des
produits (GPS) - kat de
surface: Methode du profil-
Termes, definitions et
d’application
La presente Norme internationale prescrit les termes,
definitions et parametres pour la determination de
Bat de surface (profils de rugosite, d’ondulation et
profil primaire) par les methodes de profil. I
2 Refkrences normatives
Les normes suivantes contiennent des dispositions
qui, par suite de la reference qui en est faite, consti-
tuent des dispositions valables pour la presente
Norme internationale. Au moment de la publication,
les editions indiquees etaient en vigueur. Toute norme
est sujette a revision et les parties prenantes des ac-
cords fond& sur la presente Norme internationale
sont invitees a rechercher la possibilite d’appliquer les
editions les plus recentes des normes indiquees ci-
apres. Les membres de la CEI et de I’ISO possedent
le registre des Normes internationales en vigueur a un
moment donne.
IS0 3274: 1996, Spbcification geometr-ique des pro-
duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
Carat t&is tiques nominales des instruments a con tat t
(palpeur).
ISO 4288: 1996, Specification geome trique des pro-
duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
Regles et procedures pour I’evaluation de I’etat de
surface.
IS0 11562: 1996, Specification geometrique des pro-
duits (GPS) - &at de surface: Methode du profil-
Caracteristiques metrologiques des filtres a phase
correcte.
1
IS0 4287:1997(E/F)

3 Terms and definitions 3 Termes et dbfinitions

3.1 General terms 3.1 Dhfinitions ghbrales

3.1.1
profile filter
filter which separates profiles into longwave
shortwave components [ISO 115621
NOTE - There are three filters used in instruments for
measuring roughness, waviness and primary profiles (see
figure 1). They all have the same transmission character-
istics, defined in IS0 11562, but different cut-off wave-
lengths.
3.1.1
filtre de profil
and filtre qui &pare le profil en composantes de longueur
d’onde longue et composantes de longueur d’onde
courte [ISO 115621
NOTE - Trois filtres sont utilises dans les instruments de
mesure des profils de rugosite, d’ondulation et du profil
primaire (voir la figure 1). Ils ont tous les memes caracteris-
tiques de transmission, definies dans I’ISO 11562, mais des
longueurs d’onde de coupure differentes.

ISO 4287
3.1.1.1
3.1.1.1
As profile filter Distribuido
filtre de profil As
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
roughness and the even shorter wave components por el et les composantes d’onde encore plus
de rugosite
present in a surface (see figure 1) courtes presentes a la surface (voir la figure I)

3.1.1.2 3.1.1.2
Ac profile filter filtre de profil AC
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
roughness and waviness components (see figure 1) de rugosite et les composantes d’ondulation (voir la
figure 1)

3.1.1.3 3.1.1.3
Af profile filter filtre de profil ilf
filter which defines the intersection between the filtre qui definit la separation entre les composantes
waviness a los integrantes del
and the even longer wave components d’ondulation et les composantes d’onde encore plus
longues presentes a la surface (voir la figure 1)
present in a surface see figure 1)
IMNC/COTNNMET/ SC 213
8 para uso exclusivo de
c‘
0
.-

.!
E
100
t
NORMALIZACIÓN
i!m
: Roughness profile Waviness profile
Profil de rugosite Profil d'ondulation

50

Af
Wavelength
Longueur d'onde

Figure 1 - Transmission characteristic of roughness and waviness profiles

Figure 1 - Caractbristiques de transmission des profils de rugosit6 et d’ondulation
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.12 3.1.2
coordinate system systame de coordonnhes
that coordinate system in which surface texture systeme de coordonnees dans lequel les parametres
parameters are defined d’etat de surface sont definis

NOTE - It is usual to use a rectangular coordinate sys-
tern in which the axes form a right-handed Cartesian set,
the X-axis being the direction of tracing colinear with the
mean line, the Y-axis also nominally lying on the real sur-
face, and the Z-axis being in an outward direction (from the
material to the surrounding medium). This convention is
adopted throughout the rest of this International Standard.
NOTE - II est courant d’utiliser un systeme orthogonal
de coordonnees cartesiennes de sens direct, l’axe des X
&ant dans la direction du palpage et confondu avec la ligne
moyenne, l’axe des Y etant theoriquement dans le plan de
la surface reelle, et l’axe des 2 &ant dirige vers l’exterieur
(de la mat&e vers le milieu environnant). Cette convention
est celle adoptee tout au long de la presente Norme inter-
nationale.

3.1.3 3.1.3
real surface
surface limiting the body and separating ISO 4287
it from the
surface rhelle
surface qui Iimite le corps et le separe du milieu envi-
ronnant
surrounding medium
Distribuido
3.1.4 por3.1.4
el
surface profile profil de surface
profile that. results from the intersection of the real profil resultant de I’intersection de la surface reelle et
surface by a specified plane d’un plan specific

See figure 2. Voir la figure 2.

NOTE - In practice, it is usual to choose a plane with a NOTE - En pratique, il est courant de choisir un plan dont
normal that nominally lies parallel to the real surface and in une normale est theoriquement parallele a la surface reelle
a suitable direction. et de direction appropriee.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Figure 2 - Surface profile .

Figure 2 - Profil de surface

3
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

3.1.5 3.1.5
primary profile prof il primaire
See IS0 3274. Voir I’ISO 3274.

NOTE - The primary profile is the basis for evaluation of NOTE - Le profil primaire sert de base a I’evaluation des
the primary profile parameters. parametres du profil primaire.

3.1.6 3.1.6
roughness profile profil de rugositb
profile derived from the primary profile by suppressing profil derive du profil primaire par suppression des
the longwave component using the profile filter AC; composantes de grande longueur d’onde, en appli-
this profile is intentionally modified
ISO 4287quant le filtre de profil AC; ce profil est intentionnelle-
ment modif ie
See figure 1.
Distribuido
Voir la figure 1.
NOTES

1 The transmission band for roughness profiles is defined por

NOTESel
by the As and Ac profile filters (see IS0 115621996, 2.6 and 1 La bande de transmission des profils de rugosite est de-
3.2). finie par les filtres de profil As et Ac (voir I’ISO 11562:1996,
paragraphes 2.6 et 3.2).
2 The roughness profile is the basis for evaluation of the
roughness profile parameters. 2 Le profil de rugosite sert de base a I’evaluation des pa-
rametres du profil de rugosite.
3 The default relationship between k and As is given in
IS0 3274: 1996, 4.4. 3 La relation par defaut entre Ac et As est donnee dans
I’ISO 3274:1996, paragraphe 4.4.

3.1.7
waviness profile
a los integrantes
3.1.7 del
prof il d’ondulation
IMNC/COTNNMET/
profile derived by subsequent application of the profile
SC 213
profil derive du profil primaire par application succes-
sive des filtres de profil ilf et k, supprimant ainsi les
filter Af and the profile filter AC to the primary profile,
suppressing the longwave component using the pro- composantes de grande longueur d’onde 8 I’aide du
para uso exclusivo
file filter Af, and suppressing the shortwave com- filtre de profil Af, etde
les composantes de faible lon-
gueur d’onde a I’aide du filtre de profil Ac; ce profil est
ponent using the profile filter Ac; this profile is inten-
tionally modif ied NORMALIZACIÓN
intentionnellement modifie

NOTES NOTES

1 The nominal form should first be removed from the total
profile by best-fit least-squares methods, before applying
the ilf profile filter for separating the waviness profile. For
circular nominal form, it is recommended that the radius
should also be included in the least-squares optimization
and not held fixed to the nominal value. This procedure for
separating the waviness profile defines the ideal waviness
operator.
1 II convient dans un premier temps d’enlever la forme
nominale du profil total par les methodes des moindres car-
r-es, avant d’appliquer le filtre de profil Af pour &parer le
profil d’ondulation. En cas de forme nominale circulaire, il
est recommande d’inclure le rayon dans I’optimisation des
moindres carres plutbt que de le fixer a sa valeur nominale.
Cette procedure de separation du profil d’ondulation definit
I’operateur d’ondulation ideal.

2 The transmission band for waviness profiles is defined 2 La bande de transmission des profils d’ondulation est
by the AC and If profile filters (see IS0 11562:1996, 2.6 and definie par les filtres de profil Ac et Af (voir
3.2). I’ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2).

3 The waviness profile is the basis for evaluation of the 3 Le profil d’ond ulation sert d e base a I’evaluation des pa-
waviness profile parameters. ram& res du profil d’ondulation.

4
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.1.8 Mean lines 3- 1.8 Lignes moyennes

3.1.8.1 3.1.8.1
mean line for the roughness profile ligne moyenne du profil de rugosit6
line corresponding to the longwave profile component ligne qui correspond 8 la composante de profil de
suppresseld by the profile filter Ac grande longueur d’onde supprimee par le filtre de
profil ac
(See IS0 11562:1996, 3.2)
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

3.1.8.2 3.1.8.2
mean line for the waviness profile ligne moyenne du profil d’ondulation
line corresponding to the longwave profile component ligne qui correspond 8 la composante de profil de
suppressed by the profile filteraf ISO 4287 grande longueur d’onde supprimbe par le filtre de
profil af
(See IS0 11562:1996, 3.2)
Distribuido
(Voir I’ISO 11562:1996, paragraphe 3.2)

por el
3.1.8.3 3.1.8.3
mean line for the primary profile ligne moyenne du profil primaire
line determined by fitting a least-squares line of nom- ligne determinee en calculant, a partir du prof il pri-
inal form through the primary profile maire, une ligne des moindres cart-es de forme nomi-
nale

3.1.9 3.1.9
sampling length longueur de base
lp, I?-,lw lp, lr, lw
length in the direction of the X-axis used for identify- longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour

evaluation
a los integrantes del
ing the irregularities characterizing the profile under identifier les irregularites caracterisant le profil a eva-
luer

NOTE -
IMNC/COTNNMET/
The sampling length for the roughness Zr and
SC 213
NOTE - Les longueurs de base des profils de rugosite Zr
waviness profiles IW is numerically equal to the character- et d’ondulation, sont egales, en valeur numerique, aux
para
istic wavelength of the profile filters Ac and uso exclusivo
If, respectively. de
ZW,
longueurs d’onde caracteristiques des filtres de profil AC et
The sampling length for primary profile, lp, is equal to the Af respectivement. La longueur de base du profil primaire,
evaluation length. NORMALIZACIÓN Zp, est egale a la longueur d’evaluation.

3.1.10 3.1.10
evaluation length longueur d%valuation
In In
length in the dire ction of the X-axis used for as)sessi w longueur, dans la direction de I’axe des X, utilisee pour
the profile under evaluation etablir le profil 8 evaluer

NOTES NOTES

The evaluation length may contain one or more sampling 1 La longueur d’evaluation peut comprendre une ou plu-
lengths. sieurs longueurs de base.

2 For default evaluation lengths see IS0 4288:1996, 4.4. 2 Pour les longueurs d’evaluation par defaut, voir
IS0 4288 does not give default evaluation length for I’ISO 4288:1996, paragraphe 4.4. L’ISO 4288 ne donne pas
W-parameters. de longueur d’evaluation par defaut des parametres W.

5
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

3.2 Geometrical parameter terms 3.2 Dhfinitions gbombtriques

3.2.1 3.2.1
B-parameter parambtre P
parameter calculated from the primary profile parametre calcule sur le profil primaire

3.2.2 3.2.2
R-parameter paramatre R
parameter calculated from the roughness profile parametre calcule sur le profil de rugosite

3.2.3 ISO 4287 3.2.3

parambtre W
W-parameter
parameter calculated from the waviness profile Distribuidoparametre calcule sur le profil d’ondulation

lated from any profile. The first capital letter in the par- por el surLesI’unparametres
NOTE - The parameters defined in clause 4 can be calcu- NOTE - definis 8 I’article 4 peuvent etre
calcules ou I’autre des profils. La premiere lettre
ameter symbol designates the type of the profile evaluated. majuscule du symbole du parametre denote Be type de
For example, Ra is calculated from the roughness profile profil evalue. Ainsi, Ra est calcule sur le profil de rugosite et
and Pt is calculated from the primary profile. Pt sur le profil primaire.

3.2.4 3.2.4
profile peak saillie du profil
an outwardly directed (from material to surrounding partie du profil evalue, dirigee vers I’exterieur (de la
medium) portion of the assessed profile connecting mat&e vers le milieu environnant) et reliant deux in-
two adjacents points of the intersection of the profile tersections consecutives du profil avec l’axe des X
with the X-axis

a los integrantes del

3.2.5 IMNC/COTNNMET/ 3.2.5 SC 213
profile valley creux du profil
para
an inwardly directed (from surrounding mediumusoto exclusivo dedirigee vers I’interieur (du mi-
partie du profil evalue,
lieu environnant vers la mat&e) et reliant deux inter-
material) portion of the assessed profile connecting
two adjacent points of the intersection NORMALIZACIÓN
of the as- sections consecutives du profil avec I’axe des X
sessed profile with the X-axis

3.2.6 3.2.6
height and/or spacing discrimination discrimination de hauteur et/au d’espace-
minimum height and minimum spacing of profile ment
peaks and profile valleys of the assessed profile which hauteur minimale et espacement minimal des saillies
should be taken into account et des creux du profil evalue qu’il convient de prendre
en consideration
NOTE - The minimum height of the profile peaks and
valleys are usually specified as a percentage of Pz, Rz, WZ or NOTE - La hauteur minimale des saillies et des creux du
another amplitude parameter, and the minimum spacing as profil est habituellement specifiee sous forme de pourcen-
a percentage of the sampling length. Page de Pz, Rz, Wz ou d’un autre parametre d’amplitude et
I’espacement minimal en pourcentage de la longueur de
base.

6
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.2.7 3.2.7
profile element 6IQment du profil
profile peak and the adjacent profile valley saillie du profil et creux du profil adjacent

See figure 3. Voir la figure 3.

NOTE - The positive or negative portion of the assessed
profile at the beginning or end of the sampling length
should always be considered as a profile peak or as a profile
valley. When determining a number of profile elements
over several successive sampling lengths, the peaks and
valleys of the assessed profile at the beginning or end of
each sampling length are taken into account once only at
the beginning of each sampling length.
NOTE - II convient de toujours compter les portions po-
sitives ou negatives du profil evalue en debut ou en fin de
longueur de base comme des saillies ou des creux du profil.
Lorsqu’on determine les elements du profil sur plusieurs
longueurs de base consecutives, les saillies et creux du
profil evalue situ& en debut et en fin de chaque longueur
de base sont comptes une seule fois, au debut de chaque
longueur de base.

3.2.8
ordinate value
ISO 4287 3.2.8
ordonnhe
z(x) z(x)
height of the assessed profile at any position x Distribuidohauteur du profil &al& en une position quelconque x

NOTE - The height is regarded as negative if the ordinatepor NOTE

el - La hauteur a une valeur negative si I’ordonnee
lies below the X-axis, and positive otherwise. est sit&e au-dessous de l’axe des X, et une valeur positive
dans le cas contraire.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213 Mean line

para uso exclusivo de Ligne moyenne

NORMALIZACIÓN

Figure 3 - Profile element

Figure 3 - bment du profil

7
IS0 4287:1997(E/F)

3.2.9 3.2.9
local slope pente locale
dz dz
dX dx
slope of the assessed profile at a position xi pente du profil 6valu6 2 un point xi

See figure 4. Voir la figure 4.

NOTES NOTES
1 The numerical value of the local slope, and thus the par- 1 La valeur numerique de la pente locale, et done les pa-
ameters PAq, RAq and WAq, depends critically on the ordi- rametres PAq, RAq et WAq, dependent etroitement du pas
nate spacing AX. Ax.
2 A formula for estimating the local slope is 2 La pente locale peut etre estimee par la formule
dzi
-=- 1 dzi 1
6oAx ( Zi+3 - 9Zi+2 + 45Zi+j - 45Zi-1 + 9Zi-2 - Zi-3 ) -=- - 9Zi+2 + 45Zj+J - 45Zj-1 + 923-z - Zi-3)
dx 6oAx ( zi+3
dx

The above formula should be used for the sample spacing

stipulated in IS0 3274 for the filter used, where zi is the
height of the ith profile point and AX is the spacing be-
tween adjacent profile points.
ISO 4287OCI ziest la hauteur du z‘&ne point du profil et AX le pas entre
deux points adjacents du profil. II convient d’utiliser la for-
Distribuido
mule ci-dessus pour le pas d’echantillonnage
I’ISO 3274 en fonction du filtre utilise.
specific dans

por el
3.2.10 3.2.10
profile peak height hauteur d’une saillie du profil
ZP ZP
distance between the X-axis and the highest point o distance entre l’axe des X et le point le plus haut de la
the profile peak saillie du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Figure 4 - Local slope

Figure 4 - Pente locale

8
@IS0 IS0 4287:1997(E/F)

3.2. I I 3.211
profile valley depth profondeur d’un creux du profil
ZV ZV
distance between the X-axis and the lowest point of distance entre l’axe des X et le point le plus bas du
the profile valley creux du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

32.12 3.2.12
profile element height hauteur d’un Qkment du profil
zt zt
sum of the height of the peak and depth of the valley somme de la hauteur de la saillie et de la profondeur
of a profile element du creux de I’element du profil

See figure 3. Voir la figure 3.

ISO 4287
32.13
profile element width
Distribuido
3.2.13
largeur d’un 6l6ment du profil
xs xs
length of the X-axis segment intersecting with thepor longueur
el du segment de l’axe des X qui est toupee
profile element par l’element du profil
See figure 3. Voir la figure 3.

3.2.14 3.2.14
material length of profile at the level c longueur portante du profil & un niveau c
Ml(c) Ml(c)
sum of the section lengths obtained, intersecting with somme des longueurs des segments obtenus en
the profile element by a line parallel to the X-axis at a coupant I’element du profil par une droite parallele a
given level, c l’axe des X a un niveau donne, c
See figure 5. Voir la figure 5.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Sampling Length
Longueurdebase

Ml k) = /Yl, + /Yl*

Figure 5 - Material length

Figure 5 - ILongueur portante
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4 Surface profile parameter definitions 4 Dbfinitions des paramhtres de profil

4.1 Amplitude parameters (peak and valley) 4.1 Paramhtres d’amplitude (saillie et creux)
4.1.1 4.1.1
maximum profile peak height hauteur maximale de saillie du profil
Q4 &5 wp pp.t &A wp
largest profile peak height Zp within a sampling length plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, 3 I’in-
t&ieur d’une longueur de base
See figure 6.
Voir la figure 6.

ISO 4287
Distribuido
por el

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
Sampling length

Figure 6 - Maximum profile pealc height (example of a roughness profile)

Figure 6 - Hauteur maximale de saillie du profil (exemple d’un profil de rugositb)

IO
0 IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.12 4.12
maximum profile valley depth profondeur maximale de creux du profil
Pv, Rv, WV Pv, Rv, WV
largest profile valley depth ZV within a sampling length plus grande des profondeurs de creux du profil, ZV, a
I’int&ieur d’une longueur de base
See figure 7.
Voir la figure 7.

ISO 4287
Distribuido
por el

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
Sampling length
Longueurdebase

Figure 7 -
NORMALIZACIÓN
Maximum profile valley depth (example of a roughness profile)
Figure 7 - Profondeur maximale de creux du profil (exemple d’un profil de rugositk)

11
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4.1.3 4.1.3
maximum height of profile hauteur maximale du profil
Pz, Rz, Wz Pz, Rz, Wz
sum of height of the largest profile peak height Zp and somme de la plus grande des hauteurs de saillie du
the largest profile valley depth Zv within a sampling profil, Zp, et de la plus grande des profondeurs de
length creux du profil, Zv, a I’interieur d’une longueur de base

See figure 8. Voir la figure 8.

NOTE - In IS0 4287-l :1984, the RZ symbol was used to
indicate the “ten point height of irregularities”. In some
countries there are surface roughness measuring instru-
ments in use which measure the former RZ parameter.
Therefore, care must be taken when using existing techni-
cal documents and drawings because differences between
results obtained with different types of instruments are not
always negligibly small.
NOTE - Dans I’ISO 4187-I :I 984, le symbole RZ etait utili-
se pour identifier la ((hauteur des irregularites sur dix
points)). Dans certains pays, certains instruments de mesu-
re de la rugosite qui sont utilises donnent cet ancien para-
metre Rz. II faut done faire attention lorsqu’on utilise des
dessins et documents techniques existants, les differences
entre resultats de mesure obtenus avec differents types
d’instruments n’etant pas toujours negligeables.

4.1.4
ISO 4287 4.1.4
mean height of profile elements
PC, Rc, WC
Distribuido
hauteur
PC, Rc, WC
moyenne des 6lements du profil

mean value of the profile element heights Zt within a valeur moyenne des hauteurs des elements du profil,
sampling length por
Zt, a el
I’interieur d’une longueur de base
I* I*
PC, Rc, WC = - c Zti PC, Rc, WC = - c Zti
m i=l m i=l

See figure 9. Voir la figure 9.

NOTE - The parameters PC, Rc, WC require height and
spacing discrimination. If not otherwise specified, the de-
fault height discrimination shall be 10 % of Pz, Rz, WZ, re-
spectively, and the default spacing discrimination shall be
1 % of the sampling length. Both conditions shall be met.
NOTE - Les parametres PC, Rc, WC necessitent une dis-
crimination de hauteur et d’espacement. Sauf specification
contraire, la discrimination de hauteur par defaut doit etre
de 10 % de Pz, Rz, WZ respectivement, et la discrimination
d’espacement par defaut doit etre de 1 % de la longueur de
base. Les deux conditions doivent etre respectees.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Sampling Length
Longueurdebase
-

Figure 8 - Maximum height of profile (example of a roughness profile)

Figure 8 - Hauteur maximale du profil (exemple de profil de rugosite)

12
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.1.5 4.1.5
total height of profile hauteur totale du profil
Pt, Rt, Wt Pt, Rt, Wt
sum of the height of the largest profile peak height Zp somme de la plus grande des hauteurs de saillie du
and the largest profile valley depth ZV within the profil, Zpp et de la plus grande des profondeurs de
evaluation length , creux du profil, ZV~ a I’interieur de la longueur d’eva-
luation
NOTES
1 Since Pt, Rt and Wt are defined over the evaluation NOTES
length rather than the sampling length, the following will 1 Pt, Rt et Wt &ant definis sur la longueur d’evaluation et
always be true for any profile: non sur une longueur de base, la relation suivante sera
Pt 2 Pz; Rt 2 Rz; Wt a Wz toujours respectee pour tout profil:
Pt 3 Pz; Rt 2 Rz; Wt a Wz
2 In the default case PZ is equal to Pt. In this case the use
of Pt is recommended. 2 Par dbfaut, Pz est egal a Pt. Dans ce cas, I’utilisation de
Pt est recommandee.

ISO 4287
4.2 Amplitude parameters (average of Distribuido
4.2 Paramgtres d’amplitude (moyenne des
ordinates) ordonnhes)
4.2. I por4.2.1
el
arithmetical mean deviation of the assessed &art moyen arithmhtique du profil 6valu6
profile Pa, Ra, Wa
Pa, Ra, Wa moyenne arithmetique des valeurs absolues des or-
arithmetic mean of the absolute ordinate values Z(X) donnees Z(X) a I’interieur d’une longueur de base
within a sampling length

0
avec 2 = lp, Zr ou IW suivant le cas.
with I = Zp, Zr or IW according to the case.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Sampling length
Longueurdebase

Figure 9 - Height of profile elements (example of a roughness profile)

Figure 9 - Hauteur moyenne des Mments du profil (exemple de profil de rugosite)

13
IS0 4287:1997(E/F) @IS0

4.2.2 4.2.2
root mean square deviation of the assessed &art moyen quadratique du profil 6valuQ
profile pqt Rq, wq
pqr Rq, wq moyenne quadratique des valeurs des ordonnees Z(X)
root mean square value of the ordinate values Z(x) a I’interieur d’une longueur de base
within a sampling length
1L
Pq, Rq, Wq = I Z’(x) dx
I
0

avec I = lp, Zr ou lw suivant le cas.

with k = Zp, 21or kw according to the case.

4.2.3 4.2.3
skewness
Psk, Rsk, Wsk
of the assessed profile ISO 4287facteur
skewness
d’asymbtrie du profil 6valu6

quotient of the mean cube value of the ordinate

values Z(X) and the cube of Pq, Rq or Wq respectively,
Distribuido
Psk, Rsk, Wsk
quotient de la moyenne des cubes des valeurs des
within a sampling length ordonnees Z(X) par le cube du parametre Pq, Rq ou Wq
por el
selon le cas, 8 I’interieur de la longueur de base

NOTES
NOTES
1 The above equation defines Rsk; Psk and Wsk are defined
in a similar manner. 1 L’equation ci-dessus definit. Rsk. Psk et Wsk sont definis
de facon similaire.
2 Psk, Rsk and Wsk are measures of the asymme try of the
probability dens ity functi on of the ord inate values. 2 Psk, Rsk et Wsk representent une mesure de I’asymetrie
de la courbe de distribution d’amplitude.
3 These parameters are strongly influenced by isolated
peaks or isolated valleys. 3 Ces parametres sont fortement influences par des
saillies solees ou des creux isoles.

a los integrantes del

4.2.4 IMNC/COTNNMET/ 4.2.4 SC 213
kurtosis of the assessed profile facteur d’aplatissement prof il 6valu6
Pku, Rku, Wku para uso exclusivo
quotient of the mean quartic value of the ordinate
kurtosis
Pku, Rku, Wku
de
NORMALIZACIÓN
values Z(X) and the fourth power of Pq, Rq or Wq re-
spectively within a sampling length
quotient de la moyenne des valeurs 8 la puissance 4
des ordonnees Z(X) par la valeur a la puissance 4 du
parametre Pq, Rq ou Wq selon le cas, a l’interieur
d’une longueur de base

NOTES
l The above equation defines Rku; Pku and Wku are de-
NOTES
fined in a similar manner.
2 Pku, Rku and Wku are measures of the sharpness of the 1 L’equation ci-dessus definit Rku; Pku et Wku sont definis
de facon similaire.
probability density function of the ordinate values.
2 Pku, Rku et Wku representent une mesure de I’aplatis-
3 These parameters are strongly influenced by isolated
sement de la courbe de distribution d’amplitude.
peaks or isolated valleys.
3 Ces parametres sont fortement influences par des
saillies isolees ou des creux isoles.

14
@ IS0 IS0 4287:1997(EIF)

4.3 Spacing parameters 4.3 ParamBtres d’espacement

4.3.1 4.3.1
mean width of the profile elements largeur moyenne des 6l6ments du profil
PSm, RSm, WSm PSm, RSm, WSm
mean value of the profile element widths XS within a valeur moyenne des largeurs des elements du profil,
sampling length XS, a I’interieur d’une longueur de base
1 m 1 m
PSm, RSm, WSm = - Xsi PSm, RSm, WSm = - Xsi
mc mc
i=l i=l
See figure 10. Voir la figure 10.
NOTE - The parameters PSm, RSm, WSm require height NOTE - Les parametres PSm, RSm, WSm necessitent une
and spacing discrimination. If not otherwise specified, the discrimination de hauteur et d’espacement. Sauf specifica-
default height discrimination shall be 10 % of Pz, Rz, WZ re- tion contraire, la discrimination de hauteur par defaut doit
spectively, and the default
1 % of the sampling length. ISO 4287
spacing discrimination shall be
Both conditions shall be met.
etre de 10 % de Pz, Rz, WZ respectivement, et la discrimi-
nation d’espacement par defaut doit etre de 1 % de la lon-
gueur de base. Les deux conditions doivent etre
Distribuido respectees.

por el
4.4 Hybrid parameters 4.4 Paramhtres hybrides
4.4-l 4.4.1
root mean square slope of the assessed pro- pente quadratique moyenne du profil 6valuQ
file PAq, RAq, WAq
PAq, RAq, WAq valeur quadratique moyenne des pentes locales
root mean square value of the ordinate slopes dZ/dX, dZ/dX, 8 I’interieur de la longueur de base
within the sampling length

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

Sampling Length
Longueurdebase

Figure IO - Width of profile elements

Figure IO - ILargeur des Mments du profill

15
IS0 4287:1997(E/F) @IS0

4.5 Curves and related parameters 4.5 Courbes et paramhtres assocks

NOTE - All curves and related parameters are defined NOTE - Toutes les courbes et les parametres qui y sont
over the evaluation length rather than the sampling length, associes sont definis sur la longueur d’evaluation plutot que
as this provides more stable curves and related parameters. sur la longueur de base, afin d’obtenir des courbes et des
parametres associes ayant une plus grande stabilite.

4.5.1 4.5.1
material ratio of the profile taux de longueur portante
Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c)
ratio of the material length of the profile elements rapport de la longueur portante du profil a un niveau
Ml(c) at a given level c to the evaluation length donne c, Ml(c), a la longueur d’evaluation
Ml(c)
Pmr(c), Rmr(c), Wmr(c) = - Pmr( c), Rmr( c), Wmr(c) = -
In In

ISO 4287
4.5.2
material ratio curve of the profile
Distribuido
4.5.2
courbe du taux de longueur portante du
prof il
(Abbott Firestone curve)
curve representing the material ratio of the profile as a por el d’Abbott
(Courbe Firestone)
function of level courbe representant le taux de longueur portante du
profil en fonction du niveau
See figure 1 I.
Voir la figure II.
NOTE - This curve can be interpreted as the sample
cumulative probability function of the ordinate values Z(X), NOTE - Cette courbe peut etre interpretee comme la
within an evaluation length. fonction de distribution cumulee des ordonnees Z(X) a I’in-
terieur de la longueur d’evaluation.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de Mean line
Ligne moyenne

NORMALIZACIÓN

0 20 40 60 100
Evaluation length Rmrk), %
Longueur d’kaluation c

Figure 11 - Material ratio curve

Figure 11 - Courbe du taux de longueur portante

16
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

4.5.3 4.5.3
profile section height difference diffbence de hauteur de coupe du profil
P&, R&, W& Pi%, R&, W&
vertical distance between two section levels of given distance verticale entre deux niveaux de coupe d’une
material ratio courbe du taux de longueur portante
R& = C(Rmr1) - C(RmR)(Rmrl < Rmr2) R&z = C(Rmr1) - C(RmR)(Rmrl < Rmr2)

NOTE -The above equation defines R&; P& and W& are NOTE - L’kquation ci-dessus dkfinit R&. Pi% et W& sont
defined in a similar manner. dkfinis de faGon similaire. .

4.5.4 4.5.4
relative material ratio taux de longueur portante relatif
Pmr, Rmr, Wmr Pmr, Rmr, Wmr
material ratio determined at a profile section level R&, taux de longueur portante determine pour un niveau
related to a reference CO
Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr (Cl )
ISO 4287 de coupe, a une hauteur R& par rapport 8 une refe-
rence CO
Pmr, Rmr, Wmr = Pmr, Rmr, Wmr (Cl )
where Distribuido
00
Cl = CO - R& (or P& or W&)
CO = C(Pmr0, RmrO, WmrO) por elCl = CO -R& (ou P& ou W&j
CO = C (PmrO, RmrO, WmrO)
See figure 12.
Voir la figure 12.

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

40 I 50 60 70 80 1 90 100
RmrO R;7)r

Figure 12 - Profile section level separation

Figure 12 - Taux de longueur portante relatif

17
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

4.5.5 4.5.5
profile height amplitude curve courbe de distribution d’amplitude
sample probability density function of the ordinate Z(x) fonction representant la distribution des ordonkes
within the evaluation length Z(X) 8 I’int&ieur de la longueur d’&aluation

See figure 13. Voir la figure 13.

NOTE - For profile height amplitude curve parameters, NOTE - Voir en 4.2 les paramktres assocks 5 la courbe
see 4.2. de distribution d’amplitude.

ISO 4287
Distribuido
por el
Mean line
Ligne moyenne

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
Evaluation length Amplitude density
Longueur d’fivaluation Distribution d’amplitude
h
NORMALIZACIÓN I

Figure 13 - Profile height amplitude distribution curve

Figure 13 - Courbe de distribution d’amplitude

18
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Annex A Annexe A
(normative) (normative)
Text equivalents Equivalents textuels

In order to facilitate alphanumeric notation by means Afin de faciliter les notations alphanum&iques sur des
of computers, the following text equivalents are ordinateurs, les bquivalents textuels suivants sont re-
recommended: command&.

Parameter Text equivalent

ParamGtre I Equivalent textuel I
ISO 4287
Distribuido
P&
por el Pdc
Rdc
Wdc

Lf

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

19
IS0 4287:1997(E/F) @ IS0

Annex B Annexe B
(informative) (informative)
Flowchart for surface assessment Diagramme pour Mvaluation
de surface

c
Output scaling
- EcheLLe
de sortie
-

ISO 4287
Distribuido Prof iLe recording
Enregistrement du profil
por el
f-l
de rugosite

0Primary profile
ProfiL primaire
Prof iLe filter
FiLtre de profil

AC
4

FiLtre de profil
Characteristic
Fonctions
caractlkistiques

Parameters of
roughness, waviness
functions

and primary profiles

Parametres des profils
de rugosite, d’ondulation
I Af I
et du profil primaire

a los integrantes del

algorithm
IMNC/COTNNMET/ SC 213 Algorithme du
profil primaire
.

para uso
Figure exclusivo
B.1 de
NORMALIZACIÓN
@ IS0 IS0 4287:1997(E/F)

Annex C I Arinexe C
(informative) (informative)
Comparison of basic terms Comparaison des symboles
and parameter symbols between des termes de base
IS0 4287~I:1984 and IS0 4287:1996 et des paramhtres entre
I’ISO 4287~I:1984 et IWO 4287:1996

Table C.1 - Basic terms

Tableau C.l - Termes de base

Clause in 1996
edition
Paragraphe de
ISO 4287
Basic terms, 1996 edition
Termes de base de kdtion 1996
1984 edition 1996 edition

l’bdition 1996 Distribuido

3.1.9
por el
3.1.10

3.2.8
Ordonnee
3.2.9 Local slope dz
Pente locale dx
3.2.10 Profile peak height
&P
Hauteur d’une saillie du profil
3.2.11 Profile valley depth
2%
Profondeur d’un creux du profil
3.2.12 Profile element height
zt
Hauteur d’un element du profil
3.2.13 Profile element width
a los integrantes del
Largeur d’un element du profil
xs

3.2.14 Material length of profile at the level c

Longueur IMNC/COTNNMET/
portante du profil a un niveau c SC 213 Ml(c)

1) The sampling lengths for the three different profiles are named: lp (primary profile), ZW(waviness profile), Zr (roughness
profile). para uso exclusivo de I
1) Les longueurs de base correspondant aux trois differents profils sont symbolisees: Zp (profil primaire), ZW(profil d’ondu-
lation) et Zr (profil de rugosite). NORMALIZACIÓN I
IS0 4287:1997(E/F)

Table C.2 - Parameters of surface texture

Tableau C.2 - ParamQtres d’htat de surface

Clause in 1996 Parameters, 1996 edition

Paramhtre
de kdition 1996
de I’bdition 1996

ISO 4287
Distribuido
por el

4.3.1 Mean width of the profile elements

Largeur moyenne des elements du profil 4Yl R&n*) X

4.4.1 Root mean square slope of the assessed profile

As RAq*) ’ X
Pente quadratique moyenne du profil evalue
4.5.1 Material ratio of the profile
Rmr(c)*) X
Taux de longueur portante
4.5.3 a los integrantes del
Profile section height difference
Difference de hauteur de coupe du profil
R&2) X

4.5.4 Relative materialIMNC/COTNNMET/

ratio SCRI?24 213
Taux de longueur portante relatif tP X

para
Ten point height (deleted as an uso exclusivo
IS0 parameter)
Hauteur sur dix points (parametre IS0 supprime) Rz
de -

1) This sampling length is Zr, ZWand Zp for R-, NORMALIZACIÓN

W- and P-parameters respectively; Zp is equal to ZIZ.
2) Parameters which are defined for three profiles: primary profiles, waviness profile and roughness profiles. Only the
roughness profile parameter is indicated in the table. As an example, the three parameters are written Pa (primary profile),
Wa (waviness profile) and Ra (roughness profile).
1) Cette longueur de base est Zr, Zw et ZZJpour les parametres R, Wet P respectivement; Z~Iest egal a In.
2) Parametres definis sur les dix profils: profil primaire, profil d’ondulation et profil de rugosite. Seul le param&-e du profil
de rugosite est symbolise dans les tableaux. A titre d’exemple, les trois parametres sont symbolises, respectivement, Pa
(profil primaire), Wa (profil d’ondulation) et Ra (profil de rugosite).
0 IS0 PSO 4287:1997(E/F)

Annex D Annexe D
(informative) (informative)
Relationship to the GPS matrix Relation avec la matrice GPS
model

For full details about the GPS matrix model, see Pour de plus amples renseignements 8 propos de la
lSO/TR 14638. matrice GPS, voir I’lSOTrR 14638.

D.1 Information about this International D.l Information sur la prkente Norme
Standard and its use internationale et son utilisation

IS0 4287 is a major rewrite and reorganization of La presente Norme internationale constitue une reor-
IS0
IS0
ISO 4287
4287-l :I984 that, together with IS0 11562 and
3274, additionally defines the waviness profile,
ganisation et une reecriture importantes
I’ISO 4287-l 3984; avec I’ISO 11562 et I’ISO 3274,
de

the primary profile and their parameters in a consist- elle ajoute, de facon coherente, les definitions du
ent manner. Distribuido
profil d’ondulation, du profil primaire ainsi que de leurs
parametres.
por el
D.2 Position in the GPS matrix model D.2 Situation dans la matrice GPS

This International Standard is a general GPS standard
that influences chain link 2 of the chains of standards
on roughness profile, waviness profile and primary
profile in the general GPS matrix, as graphically illus-
trated in figure D.1.
La presente Norme internationale est une norme GPS
g&&ale, qui influence le maillon 2 des chalnes de
normes relatives au profil de rugosite, au profil d’ondu-
lation et au profil primaire de la matrice GPS g&&ale,
comme illustre a la figure D.I.

D.3 Related International Standards D.3 Normes internationales assockes

The related International Standards are those of the

Les Normes internationales associees sont celles des
a los integrantes
chains of standards indicated in figure D.I. delindiquees sur la figure D.I.
chaOnes de normes

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

23
IS0 4287:1997(E/F)

Global GPS standards I

Fundamental
General GPS matrix
GPS
1 Chain link numbs er 1 2 3 4 5 6
standards Size
1 Distance
Radius
Angie
I
1 Form of line independent of datum I I I I I I I
1 Form of line dependent on datum I I I I I I I
I Form of surface independent of datum I I I I I I I
1 Form of surface dependent on datum
I Qrientation
1 Location
1 Circular run-out
I Total run-out
I Datum profiles ISO 4287 I I.~.~_~.~.~.~.~.~.~_
I I
................... I
::::::::::::::::::::::::::::::::::: I
::::::::::::::::::::::::::::::::::::::.
.:.:.:.:.:.~:.:.~:.~:.~~:.~:.~.
.....................
......... 1
I
I Rouclhness profile I .:.:.:.:.f:.:.:.:.:.:.:.~::~::::::’
I Waviness profile
1 Primary profile
Distribuido :.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.:.~:.:~:
f::::::::::j:::::::::::::::::::::
:::::::::::::::::::::::::::::::::::::::

por el I
I Surface imperfections
1 Edges
I I I I I I

Figure D.1

,
Normes GPS globales
Normes
I Matrice GPS g6n&ale I
1 Maillon no 11 I2 I3 I4 I5 I6 1
de base Taille
I Distance
1 Ravon
I Angle

a los integrantes del

Forma d’une ligne indbpendante d’une
r6fitrence

I SC
I 213
I I I I I
Forme d’une ligne dependante d’une
IMNC/COTNNMET/
rhfkrence

I para uso exclusivo

I I de
I I I I I
Forme d’une surface independante d’une
rbfbrence

rbfbrence
NORMALIZACIÓN
I Orientation
I I I I 1-n
Forme d’une surface dependante d’une

1 Position
1 Battement circulaire
I Battement total I I I II
1 Rbfbrences
Profil de rugositi!
Profil d’ondulation
Profil primaire
Imperfections de surface
Ar&es

Figure D.‘!

24
@IS0 PSO 4287:1997(E/F)

Annex E Annexe E
(informative) (informative)
Bibliography Bibliographie

[ I] ISOnR 14638: 1995, Geometrical Product Specifi- 1I ISO/rR 14638: 1995, Sp&c;f;cat;on g6om&rique
cation (GPSI - Mas terplan. des produits (GPS) - Schema directeur.

[Z] VIM:l993, In ternational vocabulary of basic and [2] VIM:l993, Voca b u Iaire international des termes
general terms in metrology. BIPM, IEC, FCC, fondamentaux et g&&aux de m&rologie. BIPM,
ISO, IUPAC, IUPAP, OIML. CEI, FICC, ISO, OIML, UICPA, UIPPA.

ISO 4287
Distribuido
por el

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

25
 ISO 4287
Distribuido
por el

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para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
 ISO 4287
Distribuido
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a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN
IS0 4287:1997(E/F)

ISO 4287
Distribuido
por el

a los integrantes del

IMNC/COTNNMET/ SC 213
para uso exclusivo de
NORMALIZACIÓN

ICS 01.040.17; 17.040.20

Descriptors: geometrical product specifications, surface properties, surface condition, roughness, surface waviness, texture profiles, vo-
cabulary. / Descripteurs: specification geometrique des produits, propriete de surface, etat de surface, rugosite, ondulation de surface,
profil de la texture, vocabulaire.

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