Seis Sigma y CEP

Control estadístico del proceso, CEP

Es una rama de la calidad que consiste en la colecta, análisis e interpretación de datos,

establecimiento de calidades, comparación de desempeños, verificación de desvíos, todo
eso para la utilización en las actividades de mejoría y control de calidad de productos,
servicios y diagnóstico de defectos, es decir, ayuda a identificar las causas especiales que
producen variaciones en el proceso y suministrar información para tomar decisiones.
Además de obtener productos con mejor calidad, la utilización del CEP genera costos
menores y eso disminuye principalmente en función de dos razones: la inspección por
muestreo y la reducción de rechazo (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016;
Martínez, Nuño, & Parra, 2014).

Aplicaciones del control estadístico del proceso:

Su aplicación incide directamente en la racionalización de la administración y

consecuentemente, en el logro de la productividad de todos los recursos de la empresa.
Este control estadístico se puede aplicar en todos los tipos de empresas donde se tienen
un conjunto de operaciones materiales ejecutadas para la obtención, transformación o
transporte de uno o varios productos, como la industria automotriz, electrónica, química,
metal mecánica y maquinados. También es aplicable a la industria de servicios como
salud, transporte, servicio de comida rápida (Kentucky Fried Chicken KFC) (Carro &
Gomez, 2012; Martínez et al., 2014)

El nivel de sigmas que tiene un proceso es una forma de describir qué tan bien la variación
del proceso cumple las especificaciones o requerimientos del cliente. La meta de 6σ, que
le da el nombre, es lograr procesos con una calidad Seis Sigma, es decir, que como
máximo generen 3.4 defectos por millón de oportunidades. Esta meta se pretende alcanzar
mediante un programa vigoroso de mejora, diseñado e impulsado por la alta dirección de
una organización, en el que se desarrollan proyectos 6σ a lo largo y ancho de la
organización con el objetivo de lograr mejoras, así como eliminar defectos y retrasos de
productos, procesos y transacciones (Gutierrez & De la Vara, 2009).

Análisis de la capacidad del proceso

El índice de capacidad del proceso es una función adimensional de los parámetros del
proceso (μ, σ) y de la especificación del proceso (LSE, VN, LIE), desarrollados para
proporcionar un lenguaje común y de fácil entendimiento para la calificación del
desempeño del proceso (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).
Donde:
μ = media del proceso
σ = varianza de las variables de calidad del proceso
LSE = límite superior de especificación
LIE = límite inferior de especificación
VN = valor nominal

Índices Cp y Cpk
El índice Cp se conoce como Capacidad Potencial del Proceso y mide la dispersión
permitida del proceso por la medida de la real dispersión del proceso. La dispersión está
relacionada con los límites de especificación (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe,
2016).
𝐷𝑖𝑠𝑝𝑒𝑟𝑠𝑖ó𝑛 𝑝𝑒𝑟𝑚𝑖𝑡𝑖𝑑𝑎 𝑑𝑒𝑙 𝑝𝑟𝑜𝑐𝑒𝑠𝑜 𝐿𝑆𝐸 − 𝐿𝐼𝐸
𝐶𝑝 = =
𝐷𝑖𝑠𝑝𝑒𝑟𝑠𝑖ó𝑛 𝑑𝑒𝑙 𝑝𝑟𝑜𝑐𝑒𝑠 6𝜎
Donde:
LSE y LIE: son los límites de especificación superior e inferior, respectivamente
σ: representa la dispersión de las variables de calidad del proceso.

La dispersión real del proceso generalmente se asume 6 σ, lo que representa la anchura

del intervalo que contiene el 99,73% de la población. La dispersión permitida del proceso
es considerada fija, mientras que la dispersión real del proceso debe ser estimada
(Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).

Por otro lado, el índice Cpk toma en cuenta la variabilidad del proceso y su ubicación con
relación a los límites, para evaluar el índice Cpk se sigue las siguientes consideraciones
(Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).

Condiciones Descripción del proceso

Cpk ≥ 2,00 Proceso excelente, altamente confiable
1,33< Cpk < 2,00 Proceso capaz, relativamente confiable
1,00< Cpk <1,33 Proceso relativamente incapaz, poco confiable
0< Cpk< 1,00 Proceso incapaz, pudiendo tener producción defectuosa
Cpk<0 Proceso totalmente incapaz, sin condiciones de mantener las
especificaciones.

Existen dos formas equivalentes para el índice Cpk.

1) Se considera los límites de especificación superior e inferior separadamente
2) Se utiliza la desviación de la media del proceso por el pinto medio de los límites
de especificación (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).

Así es necesario considerar dos índices adicionales: CPU y CPL

En una especificación superior se tiene que:

𝐿𝑆𝐸 − 𝜇
𝐶𝑃𝑈 =
3𝜎
En el caso de un proceso con especificación inferior, esta:
𝜇 − 𝐿𝐼𝑆
𝐶𝑃𝑈 =
3𝜎

En especificaciones bilaterales se define el índice como, Cpk = mínimo (CPL, CPU)

El índice Cpk, por tanto, determina la distancia entre la media del proceso y el límite de
especificación más próximo (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).

La relación entre Cp y Cpk está definida como:

𝐶𝑝𝑘 = (1 − 𝑘)𝐶𝑝
Donde:
2(𝑉𝑁 − 𝜇)
𝑘=
𝐿𝑆𝐸 − 𝐿𝐼𝐸
µ= media del proceso
VN = valor nominal del proceso
k= representa la porción de la dispersión permitida del valor del proceso no producida en
el objetivo.

Analizando k, se tiene:
Condiciones Descripción
k=0 La media del proceso coincide con el valor central
k=1 La media del proceso está localizada en uno de los límites de
especificación
0<k<1 El valor central coincide con el punto medio de los límites de
especificación.

Es importante analizar los límites de Cp y Cpk para cada característica.

Si el proceso posee un bajo CPk, entonces el índice Cp debe ser verificado para
determinar si la variabilidad es demasiado alta.
Si el Cp está próximo al valor de Cpk, entonces la operación del proceso no representa
un problema (Hernández-Pedrera & Da Silva Portofilipe, 2016).

Bibliografía:
Carro, R., & Gomez, D. (2012). Control Estadístico De Procesos. Administración de Las
Operaciones AO, 11(25), 1–25. Retrieved from
http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=496251108008
Gutierrez, H., & De la Vara, R. (2009). Control estadístico de calidad y seis sigma
(segunda ed; R. De la Vara & H. Gutierrez, eds.). Retrieved from
https://www.uv.mx/personal/ermeneses/files/2018/05/6-control-estadistico-de-la-
calidad-y-seis-sigma-gutierrez-2da.pdf
Hernández-Pedrera, C., & Da Silva Portofilipe, F. (2016). Aplicación del control
estadístico de procesos (CEP) en el control de su calidad. Tecnología Química,
36(1), 104.
Martínez, V. M., Nuño, P., & Parra, D. (2014). El control estadístico de procesos ( SPC
): aplicaciones y beneficios en la industria. 1–13.