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Equipo en prueba - Ajustes del dispositivo

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Subestación/Bahía:
Subestación: Dirección de subestación:
Bahía: Dirección de bahía:
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Dispositivo:
Nombre/descripción: Test Object Fabricante:
Tipo de dispositivo: Dirección del dispositivo:
No de serie:
Info adicional 1:
Info adicional 2:

Hardware Configuration
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Equipo en prueba
Tipo No de serie
CMC256-6 GF869O
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Comprobación del hardware
Realizado en Resultado Detalles
03/12/2019 02:46:45 p. Correcta
m.

State Sequencer:
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Ajustes de la prueba
Estado Estado 1 Estado 2 Estado 3 Estado 4
I L1 1.000 A 6.000 A 0.000 A 8.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L2 1.000 A 6.000 A 0.000 A 8.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I L3 1.000 A 6.000 A 0.000 A 8.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I(2)-1 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
0.00 ° 0.00 ° 0.00 ° 0.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I(2)-2 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
-120.00 ° -120.00 ° -120.00 ° -120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
I(2)-3 0.000 A 0.000 A 0.000 A 0.000 A
120.00 ° 120.00 ° 120.00 ° 120.00 °
60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz 60.000 Hz
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Módulo de prueba
Nombre: OMICRON State Sequencer Versión: 4.00
Comienzo: 03-dic.-2019 14:50:42 Fin: 03-dic.-2019 14:50:55
Nombre de usuario: Administrador:
Compañía:

Resultados de la prueba
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Evaluación de tiempo
Nombre Ignor. Inicio Fin tnom. tdesv- tdesv+ treal tdesv. Eval.
antes
79 Estado 1 Estado 3 CIERRE 2.000 s 200.0 ms 200.0 ms 2.146 s 145.8 ms +
0>1
o
Eval.: + .. Correcto x .. Incorrecto o .. No evaluado
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Estado de la
prueba:
Prueba correcta