Documente Academic
Documente Profesional
Documente Cultură
1. CAPITOLUL 1 : INTRODUCERE…………………………………………………..3
2. CAPITOLUL 2 : PRINCIPII FUNDAMENTALE ALE MICROSCOPIEI DE
SCANARE CU ELECTRONI(SEM)……….…………………………………………4
2.1. Aparatură de scanat cu SEM…………….…………………………….…….4
3. CAPITOLUL 3 : APLICAŢII CU SEM……………………….………….……..…..5
3.1. Aplicaţii cu SEM în medicină………………………………………….....…6
3.1.1. Ingineria biomedicală………………………………….,……………6
3.1.2. Cultura şi morfologia ţesuturilor…………………………………….7
3.1.3. Micro-biologie……………………………………………………….7
3.2. Aplicaţii cu SEM în ştiinţa materialelor……………………………….…….8
3.2.1. Oţeluri şi aliaje metalice……………………………………….…….9
3.2.2. Ceramice şi suprafeţe acoperite……………………………….…….9
3.2.3. Polimeri şi materiale plastice…………………………….………….9
3.3. Aplicaţii cu SEM în semiconductori şi micro-electronice…………………10
3.3.1. Analiză a circuitelor integrate………………………………..……10
3.3.2. Cu ambalare avansată : prin Si(VIAS)………………………...….11
3.3.3. Editare de circuit……………………………………………..……12
3.3.4. Sisteme micro-electromecanice……………………………….…..13
3.4. Aplicaţii cu SEM în ştiinţa Pământului……………………………….…..14
3.4.1. Petrologia magmatică și metamorfică și mineralogia………..……14
3.4.2. Ulei şi Gaz…………………………………………………………15
BIBLIOGRAFIE……………………………………………………………………………16
“Aplicaţii cu SEM (Scanning Electron Microscopy)”
CAPITOLUL 1
1. INTRODUCERE
Multe structuri celulare sunt atât de mici, încât pot fi rezolvate numai în microscopul
electronic. În plus, este adesea crucială vizualizarea și reconstrucția structurii tridimensionale
(3D) a țesutului biologic. Un prim exemplu în care informația 3D este indispensabilă este
explorarea conectivității rețelelor locale de neuroni. In timp ce procesele axonale și dendritice
au fost urmărite cu ajutorul microscopului de lumina de la inceput of Neuroscience celulare
(Cajal 1911), urmărirea microscopică luminii este posibilă numai dacă colorația este limitată
la un subset mic de celule, ca rezultat, de exemplu, din Golgi (Golgi 1873) sau din expresia
mozaică a proteinelor fluorescente (Feng et al., 2000).[1] Cu toate acestea, în multe cazuri,
pentru a înțelege algoritmi computaționali, poate fi necesară reconstrucția unui circuit neural
complet. Pentru aceasta, rezoluția microscopului de lumină este insuficientă, deoarece
procesele dendritice și axonale pot avea diametre care sunt substanțial sub lungimea de undă
a luminii.[1] Această lipsă de rezoluție (1) conduce la imposibilitatea de a rezolva procesele
învecinate dens ambalate, ceea ce este absolut necesar pentru a reconstrui topologia rețelei și
(2) nu permite o estimare suficient de precisă a geometriei neuronale, care poate fi necesară
pentru modelarea biofizică de comportament celular. Până în prezent, numai microscopul
electronic (EM) poate oferi rezoluția spațială necesară pentru a urmări procesele neuronale
sau pentru a identifica sinapselor fără ambiguități. Cel mai frecvent utilizat pentru imaginea
țesutului biologic este microscopul electronic de transmisie (TEM) (Ruska și Knoll 1932), în
care un fascicul larg de electroni este îndreptat către o probă suficient de subțire pentru a
permite o fracție substanțială a electronilor să treacă și apoi fii concentratpe film sau alt
detector cu rezoluție spațială sensibil la electroni. Specimenele sunt, în mod obișnuit, felii
subțiri care sunt tăiate din blocuri de țesut încorporat din plastic, micrografele electronice
rezultate asigurând o secțiune transversală bidimensională prin țesut. microscopie electronică
de baleiaj (SEM) (Ardenne 1938a, 1938b), în care un fascicul strans focalizat de electroni
este peste specimenului în timp ce sunt detectate electroni secundari sau backscattered
scanate raster, este utilizat în imagistica biologică cea mai mare parte ca un instrument de
vizualizare de suprafață, creând o Apariția 3D, dar nu există seturi de date 3D actuale.[2]
An universitar 2017-2018
CAPITOLUL 2
- Alimentare electrică
- Sistem de vid
- Sistem de răcire
- Podea fără vibrații
- Cameră fără câmp magnetic și electric
CAPITOLUL 3
3. APLICAŢII SEM
SEM este utilizat în mod obișnuit pentru a genera imagini de înaltă rezoluție ale formelor
de obiecte (SEI) și pentru a arăta variații spațiale în compozițiile chimice[8]:
SEM este, de asemenea, utilizat pe scară largă pentru identificarea fazelor pe baza
analizei chimice calitative și / sau a structurii cristaline.[5] Măsurarea precisă a dimensiunilor
foarte mici și a obiectelor de până la 50 nm în dimensiune este de asemenea realizată
utilizând SEM. Imaginile cu electroni de backscat (BSE) pot fi folosite pentru o discriminare
rapidă a fazelor în mostrele multifazice. SEM-urile echipate cu detectori de electroni diferiți
(EBSD) pot fi utilizați pentru a examina microfabricarea și orientarea cristalografică în multe
materiale.
An universitar 2017-2018
Fig.2.1.Imagine prin scanare cu SEM[11]
Gama largă de instrumente dedicate ajută oamenii de știință și cercetătorii din toate
domeniile să facă descoperiri uimitoare și să avanseze știința.
TESCAN SEM combină cele mai noi concepte de medicină, biotehnologie și inginerie
pentru proiectarea unei varietăți de tehnologii, cum ar fi matricele de suport pentru creșterea
celulelor, țesuturile artificiale și dispozitivul biomedical implantabil.[9]
3.1.3. Micro-biologie
An universitar 2017-2018
Fig.3.3. Imagini SEM microbiologie[8]
Rezoluția înaltă și adâncimea mare a focalizării sunt funcții care fac microscopul electronic
de scanare (SEM) un instrument excelent pentru observarea caracteristicilor topografice ale
probelor realizate din oțel și aliaje metalice.[12]
“Aplicaţii cu SEM (Scanning Electron Microscopy)”
Înaltă rezoluție și profunzime mare sunt capabilități care fac TESCAN SEMs instrumente
excelente pentru a observa polimerii, materialele plastice și alte materiale compozite.
Polimerii și materialele plastice se caracterizează printr-o gamă largă de proprietăți.[13]
An universitar 2017-2018
Fig.3.6. Imagini SEM cu material plastic[15]
Industria de semiconductori este angajată într-o cursă neobosită, în care obiectivul este
integrarea ridicată, densitatea ridicată și miniaturizarea dispozitivelor logice. Acest lucru a
dus la dezvoltarea de noi tehnologii, cum ar fi IC-uri 3D, care fac posibilă integrarea unei
funcționalități extinse în dispozitive de consum de energie tot mai mici, mai rapide și mai
mici. Cu toate acestea, aceste circuite integrate mai complexe necesită instrumente mai
sofisticate de dezvoltare și de prototipuri, inspecții și analize de defecțiuni pentru a analiza
sau a ajunge în zonele de interes. Microscopia electronică de scanare (SEM), în combinație
cu fasciculele de ioni de focalizare (FIB), este o tehnică ideală pentru a ține pasul cu evoluția
rapidă a industriei semiconductoare, oferind capabilități analitice cu un nivel ridicat de
precizie.[15]
An universitar 2017-2018
Fig.3.8. Imagini SEM cu ambalare avansată a semiconductorilor[11]
An universitar 2017-2018
3.4. Aplicaţii SEM în stiinţa Pământului
Științele pământului cuprind un vast grup de discipline științifice, dintre care cea mai mare
parte efectuează cercetări bazate pe caracterizarea detaliată a materialelor geologice.
Microscopia electronică de scanare reprezintă un instrument esențial în acest domeniu,
oferind o putere de rezolvare ridicată, precum și un potențial analitic. Imagistica electronică
secundară este esențială în special în domeniul micropaleontologiei, în timp ce imagistica
electronică retrospectivă și capacitățile analitice sunt mai relevante în domeniile mineralogiei,
petrologiei și geologiei economice. Portofoliul TESCAN oferă instrumente dedicate care sunt
capabile să satisfacă cerințele aplicațiilor geologice specifice și generale.[4]
ââ
“Aplicaţii cu SEM (Scanning Electron Microscopy)”
An universitar 2017-2018
BIBLIOGRAFIE
[2] G.S. Beveridge şi R.S. Schechter, “Optimization: Theory and Practice. McGraw-Hill,
New York”, 1970.
[3] N.H.M. Caldwell, “Knowledge-based engineering for the scanning electron microscope“.
Teză de doctorat, Universitatea din Cambridge, Noiembrie 1998.
[6] S.J. Erasmus şi K.C.A. Smith, “An automatic focusing and astigmatism correction system
for the SEM and CTEM“, Publicat în “Journal of Microscopy“, 127:185– 199, August 1982.
[7] Stephen Justus Erasmus, “Real-time digital image processing in electron microscopy“,
Teză de doctorat, Universitatea din Cambridge, August 1982.
[8] Lawrence Firestone, Kitty Cook, Kevin Culp, Neil Talsania, şi Jr. Kendall Preston,
“Comparison of autofocus methods for automated microscopy“, Publicat în “Cytometry“,
12(3):195–206, 1991.
[11] Frans C.A. Groen, Ian T. Young, şi Guido Ligthart, “A comparison of different focus
functions for use in autofocus algorithms“, Publicat în “Cytometry“, 6:81– 91, 1985.
[12] D.M. Holburn şi K.C.A. Smith, “Topographical analysis in the SEM using an automatic
focusing technique“, Publicat în “Journal of Microscopy“, 127(1):93–103, Iulie 1982.
[15] F.C. Nicolls, G. de Jager, şi B.T. Sewell, “Use of a general imaging model to achieve
predictive autofocus in the scanning electron microscope“, Publicat în “Ultramicroscopy“,
69(1):25–37, August 1997.