Catálisis 1. Profesora: Perla Yolanda Castillo Villalon.

Oropeza Sánchez Uriel. 31234141-1.

Microscopía Electrónica de Barrido SEM – Scanning Electron Microscopy.

La SEM es una técnica de análisis superficial que se ejecuta en un microscopio y consiste
en hacer incidir un haz de electrones que a través de detectores en el aparato permite
obtener información sobre la morfología, topografía y composición de la muestra
produciendo imágenes de alta resolución.
Cuando los electrones colisionan con la muestra se producen varios fenómenos:
Electrones Secundarios: Estos son electrones que emite la misma muestra. Al pasar un
electrón del haz muy cerca del núcleo de un átomo de la muestra, proporciona la suficiente
energía para que los electrones interiores se liberen de la muestra. Como la energía de
estos electrones es muy baja (menor a 50eV), estos electrones provienen de los primeros
nanómetros de la superficie y precisamente por eso proporcionan valiosa información
topográfica de la muestra.
Electrones Retrodispersados: Este fenómeno ocurre cuando un electrón del haz choca
frontalmente con el núcleo de un átomo de la muestra repeliéndolo en sentido contrario. La
intensidad de este efecto dependerá del número atómico de la muestra. Esta información
es útil para obtener un mapa
de información sobre la composición superficial de la muestra.
Electrones Auger: Cuando un electrón secundario es expulsado del átomo, otro electrón
más externo puede “saltar” hacia el interior para llenar este hueco. El exceso de energía
provocado por este desplazamiento puede ser corregido emitiendo un nuevo electrón de la
capa más externa. Estos electrones son utilizados para obtener información sobre la
composición de pequeñísimas partes de la superficie de la muestra.
Rayos X: Con estas imágenes es posible identificar elementos contenidos en la muestra y
con ellas se puede determinar la concentración en peso de dichos elementos (análisis
cuantitativo) así como obtener un promedio de la concentración sí se hace un análisis de
línea o análisis de área.
EXPLICA EN UNA CUARTILLA EL PROCEDIMIENTO POR EL CUAL SE DETERMINA LA
CONCENTRACIÓN ELEMENTAL DE UNA MUESTRA POR MEDIO DE LA TÉCNICA
SEM-EDX. NO OLVIDES INCLUIR EN TU RESPUESTA LA DESCRIPCIÓN DETALLADA
DEL FENÓMENO FÍSICO QUE DA LUGAR A ESTA DETERMINACIÓN DE
COMPOSICIÓN.
Pienso que tres fenómenos que ocurren en la microscopía electrónica de barrido
(Electrones retrodispersados, electrones Auger y rayos X) proporcionan información acerca
de la composición o concentración elemental de la muestra, pero el fenómeno que en mayor
medida aporta a la determinación cuantitativa de la CONCENTRACIÓN son los rayos X.
Ya que el impacto del haz de electrones en la muestra produce
rayos X, estos son característicos de los elementos presentes en
la muestra. El análisis de estas imágenes se puede usar para
determinar la composición elemental de puntos individuales,
escaneos de líneas o para trazar la distribución lateral de los
elementos del área de la imagen.