UNIVERSITATEA TEHNICA “GHEORGHE ASACHI” DIN IASI

FACULTATEA DE CONTSTRUCTII DE MASINI SI

MANAGEMENT INDUSTRIAL

SPECIALIZAREA IEDM

Referat

Microscopie cu forță atomică

(AFM)

Obiect: Tehnologii Neconventionale Grupa: 4407 A

Profesor: Student:

Dr. Ing. Margareta Coteață

IASI, 2020
 Rezumat: Microscopie cu forță atomică (AFM) este un tip de microscopie cu sondă de
scanare, cu rezoluție demonstrată de ordinul fracțiilor unui nanometru. Informațiile sunt culese
prin „simțirea” sau „atingerea” suprafeței cu o sondă mecanică. A fost aplicat problemelor într-o
gamă largă de discipline ale științelor naturii, inclusiv fizica în stare solidă, știința și tehnologia
semiconductorilor.

Cuvinte cheie: Microscopie, sondă mecanică, scanare

Prezentare Generală:
Microscopie cu forță atomică (AFM) este un tip de microscopie cu sondă de scanare (SPM), cu
rezoluție demonstrată de ordinul fracțiilor unui nanometru, de peste 1000 de ori mai bună decât
limita de difracție optică. Informațiile sunt culese prin „simțirea” sau „atingerea” suprafeței cu o
sondă mecanică. Elementele piezoelectrice care facilitează mișcări minuscule, dar precise și
precise pe comanda (electronică) permit scanarea precisă.

Abilități:

Fig.1
AFM are trei abilități majore: măsurarea forței, imagini topografice și manipulare.

1. În măsurarea forței, AFM pot fi utilizate pentru a măsura forțele dintre sondă și eșantion, în
funcție de separarea reciprocă a acestora.

2. Pentru imagistică, reacția sondei la forțele pe care eșantionul le impune poate fi utilizată
pentru a forma o imagine cu forma tridimensională (topografia) unei suprafețe de probă la o
rezoluție mare. Acest lucru se realizează prin scanarea raster a poziției eșantionului în raport cu
vârful și înregistrarea înălțimii sondei care corespunde unei interacțiuni sondă-probă constantă

3. În manipulare, forțele dintre vârf și eșantion pot fi de asemenea utilizate pentru a modifica
proprietățile probei într-un mod controlat. Exemple în acest sens includ manipularea atomică,
scanarea litografiei sondei și stimularea locală a celulelor.
 Istoric:
AFM a fost inventat de oamenii de știință IBM în 1985 . Precursorul AFM, microscopul cu
tunel de scanare (STM), a fost dezvoltat de Gerd Binnig și Heinrich Rohrer la începutul anilor
1980 la IBM Research - Zurich, o dezvoltare care le-a câștigat premiul Nobel pentru fizică din
1986. Binnig a inventat microscopul de forță atomică și prima implementare experimentală a fost
făcută de Binnig, Quate și Gerber în 1986.

Primul microscop de forță atomică disponibil comercial a fost introdus în 1989. AFM este unul
dintre principalele instrumente pentru imagistica, măsurare și manipulare a materiei la nanoscală.

Fig.2

Domeniul de utilizare:
AFM a fost aplicat problemelor într-o gamă largă de discipline ale științelor naturii, inclusiv
fizica în stare solidă, știința și tehnologia semiconductorilor, inginerie moleculară, chimie și
fizică polimerică, chimie de suprafață, biologie moleculară, biologie celulară și medicină.

Aplicațiile în domeniul fizicii în stare solidă includ (a) identificarea atomilor la o suprafață, (b)
evaluarea interacțiunilor dintre un atom specific și atomii săi învecinați și (c) studiul
modificărilor proprietăților fizice rezultate din schimbări într-un aranjament atomic prin
manipulare atomică.

În biologia celulară, AFM poate fi utilizat pentru a încerca să distingă celulele canceroase și
celulele normale pe baza unei durități a celulelor și pentru a evalua interacțiunile dintre o celulă
specifică și celulele vecine într-un sistem de cultură competitiv. AFM poate fi, de asemenea,
utilizat pentru a indenta celulele, pentru a studia modul în care acestea reglează rigiditatea sau
forma membranei sau peretelui celular. In unele variații, potențialele electrice pot fi scanate și
cu ajutorul cantilelor conductoare .

Costul:
 Piața microscopiei cu forțe atomice a fost evaluată la 441 milioane USD în 2019 și este
prevăzută să ajungă la 586 milioane USD până în 2024; este de așteptat să crească la un CAGR
de 5,8% în perioada de prognoză. Principalii factori ai microscopiei forței atomice este sprijinul
angajat al mai multor guverne pentru promovarea cercetării și dezvoltării nanotehnologiei și
nano științei. De asemenea, este de așteptat ca cererea mare de tehnologii electronice 3D din
industria semiconductorului și a electronicii să ofere o nouă oportunitate de creștere pentru piața
microscopiei cu forță atomică în perioada de prognoză.

Fig.3

Tabelul 1
Model Description
TT-2 AFM FROM $33,980 TO $91,920
B-AFM FROM $19,495 TO $39,965
NP/LS/SA-AFM FROM $41,340 TO $99,450
INSTALLATIONS AND CUSTOMER FROM $5,995 TO $9,995
SERVICE
MODES FROM $995 TO $4,995
ACCESSORIES, COMPONENTS AND FROM $290 TO $14,049
PROBES
AFM TRAINING FROM $1.695 TO $2,995

Domeniul de aplicare al raportului:

 Tabelul 2

Report Metric Details

Market size available for years 2016–2024

Base year 2018

Forecast period 2019–2024

Units Value, USD

Segments covered Offering, Grade, Application

Geographic regions covered North America, APAC, Europe, and RoW

Companies covered Bruker (US), Park Systems (South Korea),

Hitachi (Japan), Horiba (Japan), Oxforfd
Instrumenst (UK), Nanosurf (Switzerland),
WITec (Germany), NT-MDT (Russia),
NanoMagnetics Instruments (UK), Nanonics
Imaging (Israel)

NanoMagnetics Instruments Ltd. (NMI) este una dintre cele mai importante companii din
lume în domeniul microscopelor cu sonde de scanare (SPM) și sisteme de măsurare pentru
diverse domenii de știință și tehnologie. Fondată în 1998, își comercializează produsele în lume
sub brandul NanoMagnetics Instruments Ltd. Universități de prestigiu precum Oxford, MIT,
Kyoto și laboratoare de cercetare Harvard, precum Laboratorul Național Los Alamos, Labonne
National Labs, TATA-Institutes, institute guvernamentale precum NASA și companii precum
Seagate, Microsoft și Samsung sunt printre clienții noștri. 6 universități din top 10 și 26
universitățile din top 100 sunt clienții noștri. Un microscop cu forță atomică low cost, pornește
de la 15000 USD. Valoarea totala a companiei fiind de 7.47$ Milioane și 10,66$ per actiune.

Biografie:

1. https://www.marketsandmarkets.com/ResearchInsight/atomic-force-microscopy-
market.asp
2. https://www.nanomagnetics-inst.com/
3. https://www.afmworkshop.com/afm-products/price-list
4. https://en.wikipedia.org/wiki/Atomic_force_microscopy
5. https://www.marketwatch.com/investing/stock/8035?countrycode=jp