Número de

proporsion de
N° Muestra cuentas
defectos
incorrectas

1 15 0.0060 M
2 12 0.0048
3 19 0.0076 N
4 2 0.0008
5 19 0.0076 Z
6 4 0.0016
7 24 0.0096 LCSp
8 7 0.0028
9 10 0.0040 LCp(p barra)
10 17 0.0068
11 15 0.0060 LCIp
12 3 0.0012
total defectos 147

proporsion
N° Muestra LCIp LCp(p barra) LCSp
de defectos

1 0.0007 0.0049 0.0091 0.0060

2 0.0007 0.0049 0.0091 0.0048
3 0.0007 0.0049 0.0091 0.0076
4 0.0007 0.0049 0.0091 0.0008
5 0.0007 0.0049 0.0091 0.0076
6 0.0007 0.0049 0.0091 0.0016
7 0.0007 0.0049 0.0091 0.0096
8 0.0007 0.0049 0.0091 0.0028
9 0.0007 0.0049 0.0091 0.0040
10 0.0007 0.0049 0.0091 0.0068
11 0.0007 0.0049 0.0091 0.0060
12 0.0007 0.0049 0.0091 0.0012
 12

2500

0.0091

0.0049

0.0007

CARTA P - "n" constante

0.0120

0.0100

0.0080
prop- defectos

Column B
0.0060 Column C
Column D
0.0040 Column E

0.0020

0.0000
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
muestras

la muestra 7 es una causa asignable por que rebasa el LCS; por lo

tanto, la variabilidad del proceso esta fuera de control estadistico
y es necesario investigar la causa del mal desempeñodurante
esta semana
 Producción Producto
Muestra Muestra LCIip
(Lote) Defectuoso
1 96 8 1 0.0341
2 99 12 2 0.0357
3 99 17 3 0.0357
4 100 16 4 0.0362
5 100 9 5 0.0362
6 100 15 6 0.0362
7 100 18 7 0.0362
8 100 14 8 0.0362
9 100 15 9 0.0362
10 99 14 10 0.0357
11 100 17 11 0.0362
12 100 15 12 0.0362
13 100 15 13 0.0362
14 94 8 14 0.0330
15 94 10 15 0.0330
16 99 22 16 0.0357
17 100 15 17 0.0362
18 97 12 18 0.0346
19 87 9 19 0.0287
20 100 12 20 0.0362
21 100 13 21 0.0362
22 98 18 22 0.0352
23 97 14 23 0.0346
24 97 13 24 0.0346
total lotes (di) total defectos (ni)
2356 331
 PROP.DE
LCip LCSip
FECT
0.1405 0.2469 0.0833
0.1405 0.2453 0.1212
0.1405 0.2453 0.1717 Z 3
0.1405 0.2447 0.1600
0.1405 0.2447 0.0900 LCip (p barra) 0.1405
0.1405 0.2447 0.1500
0.1405 0.2447 0.1800
0.1405 0.2447 0.1400 CARTA P - "n" variable
0.1405 0.2447 0.1500 0.3
0.1405 0.2453 0.1414
0.25
0.1405 0.2447 0.1700
0.1405 0.2447 0.1500 0.2

PROP. DEFECT
LC
0.1405 0.2447 0.1500 0.15 LC
0.1405 0.2480 0.0851 LC
0.1 P
0.1405 0.2480 0.1064
0.05
0.1405 0.2453 0.2222
0.1405 0.2447 0.1500 0
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
0.1405 0.2463 0.1237
0.1405 0.2523 0.1034 MUESTRAS
0.1405 0.2447 0.1200
0.1405 0.2447 0.1300
0.1405 0.2458 0.1837 se aprecia que la variabilidad del proceso es estable estadisticamen
0.1405 0.2463 0.1443 no existen causas asignables
0.1405 0.2463 0.1340
n" variable

LCIip
LCip
LCSip
PROP.DEFECT

19 21 23 25

o es estable estadisticamente, ya que

as asignables
 Elementos
Muestra
defectuosos
1 21
2 22
3 20
4 21
5 23
6 39
7 18
8 24
9 20
total defectos = di= 208

Elementos
Muestra LCIp LCp LCSp
defectuosos
1 8.9694 23.1111 37.2528 21
2 8.9694 23.1111 37.2528 22
3 8.9694 23.1111 37.2528 20
4 8.9694 23.1111 37.2528 21
5 8.9694 23.1111 37.2528 23
6 8.9694 23.1111 37.2528 39
7 8.9694 23.1111 37.2528 18
8 8.9694 23.1111 37.2528 24
9 8.9694 23.1111 37.2528 20
m 9

n 600
p barra 0.0385
z 3

LCSp 37.2528

LCp 23.1111

LCIp 8.9694

CARTA P "n-p"
45
40
35
30
# DEFECTOSOS

LCIp
25 LCp
20 LCSp
15 Elementos defectuosos
10
5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
MUESTRAS