Sunteți pe pagina 1din 17

ŞTIINŢA ŞI INGINERIA MATERIALELOR

Se consideră o probă metalografică de dimensiuni  10 x 15 mm, elaborată din:

A. Oţeluri carbon:
1. - oţel cu 0,01 ... 0,02%C;
2. - oţel cu 0,15%C;
3. - oţel cu 0,35 ... 0,45%C;
4. - oţel cu 0,60 ... 0,65%C;
5. - oţel cu 0,77%C;
6. - oţel cu 1,00 ... 1,20%C;

B. Fonte albe:

7. - fontă albă cu 3%C;


8. - fontă albă cu 4,3%C;
9. - fontă albă cu 5%C;

C. Fonte cenuşii cu grafit lamelar:


10. - fontă cenuşie feritică cu grafit lamelar;
11. - fontă cenuşie perlito-feritică cu grafit lamelar;
12. - fontă cenuşie perlitică cu grafit lamelar;
13. - fontă cenuşie perlito-cementitică cu grafit lamellar (fontă pestriţă);
14. - fontă cenuşie fosforoasă cu grafit lamelar (fontă cenusie cu eutectic fosforos
ternar şi grafit lamelar);

D. Fonte cenuşii modificate cu grafit nodular (sferoidal):


15. - fontă cenuşie modificată feritică cu grafit nodular (sferoidal);
16. - fontă cenuşie modificată ferito-perlitică cu grafit nodular (sferoidal);
17. - fontă cenuşie modificată perlitică cu grafit nodular (sferoidal);

E. Fonte cenuşii maleabile (cu grafit în cuiburi):

18. - fontă cenuşie maleabilă feritică cu grafit în cuiburi (fontă cu inimă neagră);
19. - fontă cenuşie maleabilă perlitică cu grafit în cuiburi;
20. - fontă cenuşie maleabilă perlitică / perlito-feritică cu grafit în cuiburi
(fontă cu inimă albă).

I. Realizaţi pentru aceasta, o tehnologie completă de pregătire în vederea


analizei optice metalografice microstructurale. Se vor evidenţia operaţiile şi materialele
necesare pentru:
a) Stabilirea locului pentru debitarea probei metalografice

La prelevarea probelor metalografice trebuie avut în vedere alegerea


corectă a locului de prelevare şi a metodei de tăiere. Locul de prelevare trebuie
astfel ales ca proba să fie reprezentativă pentru materialul cercetat, să corespundă
scopului cercetării şi să conţină structura caracteristică precum şi variaţiile posibile
de structură.

c) Realizarea suprafeţei plane

Este posibila prin pilire, frezare sau polizare.

d) Șlefuirea probei metalografice

Şlefuirea se execută cu ajutorul hârtiilor metalografice (particule


abrazive de carbură de siliciu sau electrocorindon pe suport de hârtie sau pânză).

e) Lustruirea probei metalografice

Lustruirea are ca scop obţinerea unei suprafeţe plane cu luciu


oglindă.

Lustruirea se poate executa mecanic, electrolitic sau chimic.

f) Punerea în evidenţă a structurii probei metalografice (atacul chimic


metalografic)

Are ca scop punerea în evidenţă a constituenţilor structurali.


Developarea structurii se realizează prin atacul suprafeţei cu reactivi chimici, în
general soluţii de acizi. Se utilizează următoarele metode de atac : atac chimic,
atacul electrolitic, atac prin formarea unei pelicule de oxid sau sulfură pe suprafaţa
lustruită a probei, fără atac.

II. Elaboraţi o sinteză a aparaturii şi metodelor utilizabile practic în


vederea efectuării unei analize metalografice macro şi microscopice a probei
considerate.

a) Stabilirea locului pentru debitarea probei metalografice

În cazul pieselor turnate se vor lua probe din fiecare zonă


caracteristică de solidificare. Pentru table, platbande şi benzi se vor pregăti două
feţe: în direcţia laminării şi perpendicular pe aceasta pentru a evidenţia anizotropia
introdusă de deformarea plastică. Structura medie se relevă prin luarea unei probe
la o treime din lăţimea tablei. Impurităţile şi segregaţia se evidenţiază prin luarea
unei probe din axa tablei. Pentru bare şi ţevi proba va fi luată prin secţionare
longitudinală.

În cazul pieselor rupte, proba va fi luată din imediata apropiere a


suprafeţei de rupere, cuprinzând-o şi pe aceasta, iar pentru comparare se va lua
încă o probă din zona sănătoasă. La piesele tratate termochimic (cementare,
nitrurare, etc.), proba va cuprinde şi stratul exterior. Dacă stratul este foarte subţire,
este indicat ca tăierea să se facă înclinat. Îmbinările sudate se analizează în
secţiune transversală cordonului de sudură. Tăierea probelor metalografice trebuie
astfel realizată, încât să nu producă modificări în structura materialului. Se vor evita
procedee care produc deformări (cu dalta, cu foarfecă etc.) sau care provoacă
încălzirea materialului (tăiere cu flacără oxigaz). O tăiere corectă se execută cu
fierăstrăul mecanic, prin aşchiere pe maşini unelte, folosind lichide de răcire.

În cazul materialelor metalice dure (peste 400 HB) tăierea se face cu


discuri abrazive sau prin electroeroziune. În cazul semifabricatelor sau pieselor de
dimensiuni mari, se admite tăierea oxiacetilenică sau mecanică, dar zona influenţată
termic sau prin deformare trebuie înlăturată prin prelucrare mecanică. După tăiere,
obţinerea unei suprafeţe plane, cu rugozitate redusă, se obţine prin rectificare, pilire
sau polizare. Forma curentă a probelor metalografice este paralelipipedică sau
cilindrică, de dimensiuni 15 x 15 x 15 mm. Întotdeauna, înălţimea probei va fi mai
mică decât celelalte două dimensiuni, pentru că altfel nu se menţine planeitatea
suprafeţei la prelucrarea ulterioară. Probele de dimensiuni mici (table subţiri, sârme,
piese mici) sau la care interesează structura până la margine se pot fixa în forme
speciale cu aliaje uşor fuzibile, (Wood, Lipowitz, Newton), răşini sintetice, duracrilat
dentar, ceară etc. sau mecanic, prin nituire sau cu şuruburi .

c) Realizarea suprafeţei plane

La aceasta operatie trebuie avut grija ca piesa sa nu se deformeze sau sa


se incalzeasca fiind ca se produce o modificare a structurii originale.

Pentru usurinta prelucrarii probele care au fost neregulate sau au


sectiuni  foarte mici (table, sarme) pot fi montate in inele metalice si fixate cu rasini
sintetice sau in aliaje fuzibile.

d) Șlefuirea probei metalografice


Şlefuirea are ca scop obţinerea unei suprafeţe perfect plane, fără zgârieturi,
cu grad înalt de luciu. Şlefuirea se poate executa manual sau mecanic, uscat sau
umed. În cazul şlefuirii manuale hârtia metalografică se aşează pe o placă de sticlă,
montată, prin intermediul unei plăci de cauciuc, pe un suport de lemn. Proba uşor
apăsată se mişcă numai într-o singură direcţie printr-o mişcare alternativă. Şlefuirea
se execută pe minim 8 hârtii metalografice pornindu-se de la granulaţia 150 sau 180
până la 800-1000. La fiecare schimbare a hârtiei proba va fi ştearsă şi rotită cu 90º,
astfel ca rizurile noi să formeze un unghi drept cu cele precedente. Se trece la
următoarea hârtie metalografică, atunci când s-a constatat, că au dispărut toate
rizurile de la şlefuirea anterioară. Hârtia de şlefuit se curăţă prin scuturare de praful
metalic ori de câte ori se foloseşte; nu se admite utilizarea aceleiaşi hârtii pentru
materiale feroase şi neferoase. La sfârşitul operaţiei, proba va fi spălată sub jet de
apă pentru a îndepărta urmele de abraziv sau praf metalic şi se usucă prin ştergere.
În cazul şlefuirii mecanice, se folosesc maşini de şlefuit verticale sau orizontale la
care hârtia metalografică este fixată pe discuri rotitoare . Şlefuirea umedă, aplicată
mai ales la şlefuirea mecanică, se efectuează sub jet continuu de apă, utilizând
hârtii metalografice hidrofile. În timpul şlefuirii, proba nu trebuie să se încălzească
peste temperatura mâinii.

e) Lustruirea probei metalografice

Lustruirea mecanica

Se face cu maşini de lustruit prevăzute cu un disc rotitor pe care se


fixează o pâslă de lână merinos, postav, fetru, catifea, în funcţie de materialul
probei.În tabelul urmator se prezintă condiţiile concrete de lustruire pentru câteva
metale şi aliaje frecvent utilizate. Lustruirea se face cu agenţi de lustruire, cu care
se impregnează materialul pe care se lustruieşte. Cel mai frecvent se foloseşte
alumina (Al2O3), oxidul de magneziu (MgO) sau oxidul de crom (Cr2O3).

Alumina se găseşte cu trei grade de fineţe (1, 2, 3)


corespunzătoare unor durate de decantare 3, 12 şi 24 ore. Pentru a se evita apariţia
culorilor de revenire pe probă, se adaugă câteva picături de tartrat sau hidroxid de
amoniu . Pentru metalele foarte dure (oţeluri călite, fonte albe, etc.) se foloseşte ca
agent de lustruire praful de diamant. Acesta se prezintă în mai multe trepte de
granulaţie (0,25; 1; 3; 6; 8 şi 15 µm), sub formă de paste sau spray-uri. La lustruirea
mecanică se evită încălzirea probei prin răcire cu apă. Pentru a obţine o suprafaţă
uniform lustruită proba trebuie rotită continuu şi deplasată în contra sensului de
rotaţie a discului. În caz contrar, în urma constituenţilor duri, pot apare zone
nelustruite ca umbre. Un exemplu de lustruire cu bune rezultate este următorul: se
aşează, la jumătatea razei discului o probă metalografică paralelipipedică, cu una
din laturi contra sensului de rotire a discului, şi se menţine sub apăsare relativ
puternică circa un minut; se roteşte apoi proba cu 90°, aducând o nouă latură în
poziţia iniţială, şi se menţine sub apăsare circa un minut. După aproximativ trei patru
minute când se ajunge la poziţia iniţială, se menţine proba un minut, în zona
marginală a discului, sub o apăsare foarte uşoară şi se roteşte uşor după cele patru
laturi.

Pentru o probă cilindrică se respectă aceleaşi etape în raport cu


două diametre perpendiculare ale suprafeţei de lustruit. După date experimentale
durata de lustruire este de circa cinci minute. Lustruirea nu trebuie să dureze nici
prea mult, deoarece constituenţii structurali moi sunt erodaţi. Proba lustruită, care
trebuie să prezinte aspect de oglindă, se spală cu apă cu un tampon de vată, se
degresează cu alcool şi se usucă prin tamponare pe hârtie de filtru sau în curent de
aer cald. Verificarea lustruirii se face la microscop, mărire 100x. Pe probă se vor
observa incluziunile nemetalice, grafitul în fonte, fisurile sau defectele de pregătire.
Spre deosebire de şlefuire, care are la bază un proces de abraziune a suprafeţei,
prin lustruire mecanică asperităţile se nivelează prin “curgerea“ materialului.
Suprafaţa probei este puternic deformată la rece (ecruisată), cu formarea unui strat
subţire amorf, numit strat BEIBLY. Acest strat, care denaturează sau acoperă
structura reală, este îndepărtat în mare măsură prin atacul metalografic.

Lustruirea electrolitică

Este o metodă care prezintă următoarele avantaje: evită ecruisarea probei,


este rapidă, se pot lustrui suprafeţe de dimensiuni mari. Această metodă se poate
aplica numai materialelor metalice monofazice (cupru, fier pur, alamă, bronz, etc.).
O celulă de lustruire electrolitică cuprinde un vas de sticlă 1 în care se pune un
electrolit (2), răcit cu apă prin vasul exterior (3). În vasul 1 se află catodul 4 din oţel
inoxidabil sau grafit şi proba metalografică plasată la anod (5). Electrolitul este agitat
cu un agitator (6), iar temperatura băii se măsoară cu termometrul 7. Cu ajutorul
rezistenţei 8 se reglează tensiunea şi intensitatea curentului. La trecerea curentului
electric, la anod are loc dizolvarea metalului, cu formarea unui strat de produse de
reacţie. Acest strat va prezenta o rezistentă electrică cu atât mai ridicată cu cât
grosimea sa va fi mai mare. Ştiind că din cauza agitării aplicate, suprafaţa acestui
strat este mai netedă spre electrolit decât spre metal, unde urmăreşte relieful
probei, rezultă că. în dreptul proeminenţelor, stratul este mai subţire şi prezintă o
rezistenţă electrică mai mică decât în rest. Conform legii lui Ohm, la micşorarea
rezistenţei, creşte intensitatea, deci implicit viteza de dizolvare, cu efect de nivelare
a suprafeţei. Electrolitul şi regimul de lucru electric se aleg funcţie de natura
materialului probei din STAS 4203-74.

Lustruirea chimică

Procedeul poate fi aplicat numai materialelor deformate plastic şi în


cazul când nu se impun condiţii severe cu privire la calitatea probei. Este un
procedeu foarte rapid, care înlocuieşte şlefuirea şi lustruirea de lungă durată. La
lustruirea chimică, proba şlefuită pe hârtie de granulaţie 150, este imersionată cu
suprafaţa de lustruit într-o baie de acizi. Are loc o dizolvare mai puternică a
metalului, decât în cazul lustruirii electrolitice, care conduce la nivelarea suprafeţei
probei. Aplicarea procedeului necesită o oarecare experienţă.

f) Punerea în evidenţă a structurii probei metalografice (atacul chimic


metalografic)

Atac chimic, când reactivul atacă limitele de grăunte, dizolvă diferenţiat


grăunţii cristalini, în funcţie de natura fazelor şi după orientarea lor cristalografică.
Reactivul chimic poate forma de asemenea, pe suprafaţa grăunţilor cristalini
depuneri de constituenţi, care determină colorarea acestora. Astfel, acidul azotic
formează pe suprafaţa grăunţilor straturi de oxizi de grosime diferită, a căror culoare
variază de la galben deschis (strat subţire) la cafeniu închis (strat gros). Atacul
chimic se face prin imersionarea şi agitarea probei în reactiv, sau ştergerea
suprafeţei cu un tampon de vată înmuiat în reactiv, până la dispariţia luciului
oglindă. Proba se spală apoi în apă sau alcool şi se usucă prin tamponare pe hârtie
de filtru sau curent de aer cald. Durata atacului variază de la câteva secunde la
câteva minute în funcţie de compoziţia chimică şi structura materialului
probei.Reactivii sunt numeroşi, în funcţie de materialul cercetat şi de scopul urmărit.
În cazul oţelurilor şi fontelor se foloseşte nitalul, care este o soluţie de acid azotic 2
– 5%, în alcool etilic.

Atacul electrolitic se foloseşte în instalaţia de lustruire electrolitică cu proba


plasată la anod, într-un regim de electroliză adecvat.

Atacul prin formarea unei pelicule de oxid sau sulfură pe suprafaţa lustruită a
probei. Structura se evidenţiază, deoarece viteza de oxidare sau sulfurare variază
cu natura grăunţilor şi orientarea lor. Pe acest principiu se bazează atacul prin culori
de revenire. Prin încălzire cu aer a probei lustruite se formează pe grăunţi straturi de
oxizi transparenţi, de grosimi diferite. Interferenţa razelor reflectate de pelicula de
oxid si de suprafaţa metalică determină colorarea diferită a grăunţilor. Astfel la un
oţel carbon încălzit la 280ºC, perlita se colorează în albastru, iar cementita în roşu.

Fără atac, se pot evidenţia diferiţi constituenţi structurali prin capacitatea lor
diferită de reflexie, culoare, denivelările create la lustruire, ca urmare a durităţii
diferenţiate.

Fonte albe

Sunt aliaje Fe-C care contin intre 2,11-6,67%C, care cristalizeaza dupa
sistemul metastabil Fe-Fe3C in conditiile unor viteze rapide de racire sau in prezenta
unor elemente antigrafitizante (Mn, Cr, Mo, V) si absenta celor grafitizante .

Cantitatea totala de carbon (Ct) se gaseste o mica parte dizolvata in fier (C S)


si restul legata chimic in cementita (C Fe3C). Nu prezinta grafit CG= 0.

Ct = CS + C Fe3C

Prezenta cementitei determina aspectul luminos al suprafetei de rupere si


denumirea fontei. Din punct de vedere al compozitiei chimice si structurii sunt (fig.
9.12): fonte hipoeutectice, care contin 2,11-4,3%C si au microstructura alcatuita din
perlita, ledeburita si cementita secundara; fonta eutectica cu ≈ 4,3%C si
microstructura formata din ledeburita; fonte hipereutectice, care contin 4,3-6,67%C
si au in microstructura cementita primara si ledeburita.. Sunt aliaje de turnatorie
datorita prezentei eutecticului din structura. Cele mai bune proprietati de turnare
(fluiditate, punct de topire redus, segregatii minime) corespund aliajelor cu un
continut de carbon in apropierea punctului eutectic, care le asigura un interval de
solidificare redus.
Datorita ledeburitei (amestec mecanic de 40% perlita si 60% cementita) cat
si a cementitei secundare, respectiv primare, fontele albe sunt foarte dure,
casante, greu prelucrabile, neaschiabile, cu utilizare limitata. Cu cat creste
continutul de carbon, se mareste cantitatea de cementita si ca urmare se maresc
duritatea si fragilitatea fontei. Din aceasta cauza isi gasesc utilizare doar fontele
hipoeutectice. O fonta alba hipoeutectica, care contine 50-60% perlita (libera si
eutectica) si in rest cementita, are duritatea Brinell 440-500 daN/mm 2, rezistenta la
tractiune 120-150 N/mm2, alungirea specifica la rupere 0%, rezistenta la
compresiune 2500 N/mm2. Aceste proprietati determina rezistenta la uzura
abraziva, principala utilizare industriala a fontelor albe.

Fontele care conţin carbon legat sub formă de cementită şi a căror


microstructură este descrisă prin intermediul diagramei de echilibru a sistemului
metastabil Fe-Fe3C se numesc fonte albe datorită aspectului metalic strălucitor
conferit suprafeţelor de rupere ale pieselor din aceste materiale, de către cementită.

Cementita determină o fragilitate ridicată şi o duritate mare a fontelor albe


(duritatea = 350-500 HB, KV = 0), fapt care face ca aceste aliaje să aibă o utilizare
limitată la următoarele două domenii:

- turnarea de piese cu crustă foarte dură şi rezistentă la uzură, cum ar fi:


bilele pentru mori de măcinat, cilindrii de laminor, rolele pentru sape de foraj, roţile
de vagonet etc. Cele mai multe dintre aceste piese trebuie să aibă şi o anumită
rezistenţă la şocuri, astfel că ele nu se fabrică în întregime din fontă albă, ci doar
stratul superficial (crusta) se obţine din acest material, prin turnarea fontei
hipoeutectice în forme metalice şi răcirea mai rapidă a părţii exterioare a pieselor.

- elaborarea fontei maleabile, prin turnarea şi maleabilizarea fontelor


albe.

Fonta este cea mai ieftina varietate de fier, dar folosirea ei este

limitata din cauza rezistentei mici. O mare parte din ea se folosesc la

prepararea otelului iar o cantitate mai mica, a fierului forjat.

Fonta prezinta urmatoarele caracterisrici generale:se toarna bine, se

lucreaza prin aschiere,dar nu se poate prelucra plastic(nu se poate lamina

sau forja)si nu se poate suda.Fontele turnate in piese mai sunt numite si

fonte de a doua topire si se obtin din fonte brute ,prin retopirea in cuptoare
speciale (cubilouri)in scopul inlaturarii impuritatilor si a obtinerii anumitor

compozitii.Ele pot fi : fonte cenusii,fonte nodulare si fonte maleabile.

Aliajele din diagrama Fe – Fe3C se clasifică şi se denumesc în funcţie de


concentraţia lor de carbon şi, în consecinţă, în funcţie de transformările structurale
pe care le pot suferi la încălzire sau răcire; categoriile unei astfel de clasificări şi
denumirile aliajelor din fiecare categorie se prezintă astfel: A. aliajele având
concentraţia masică de carbon situată în intervalul (2,11 %;6,67 %), care pot suferi
atât transformarea eutectică, cât şi transformarea eutectoidă, sunt denumite fonte
albe; A.1. fonta albă având concentraţia masică de carbon de 4,30 % este denumită
fontă albă eutectică; A.2. fontele albe având concentraţia masică de carbon mai
mică decât cea corespunzătoare fontei albe eutectice sunt denumite fonte albe
hipoeutectice; A.3. fontele albe având concentraţia masică de carbon mai mare
decât cea corespunzătoare fontei albe eutectice sunt denumite fonte albe
hipereutectice

Particularităţile formării structurilor la fontele albe şi oţelurile carbon se pot


evidenţia analizând transformările la răcirea din stare lichidă ale diferitelor tipuri de
astfel de aliaje. Pentru exemplificare, se analizează transformările la răcirea din
stare lichidă pentru patru aliaje ale sistemului Fe – Fe3C (cu verticalele marcate I, II,
III şi IV în fig. 2.1). a) Aliajul I este o fontă albă hipereutectică. La temperatura
ambiantă, structura fontei albe hipereutectice este alcătuită din: faze: ferită (α) şi
cementită (Fe3C); constituenţi: ledeburită transformată (LedTr) şi cementită primară
(Fe3C’). b) Aliajul II este o fontă albă hipoeutectică. La temperatura ambiantă,
structura fontei albe hipoeutectice este alcătuită din:faze: ferită (α) şi cementită
(Fe3C); constituenţi: ledeburită transformată (LedTr), perlită (P) şi cementită
secundară (Fe3C”).

Se pot construi diagramele structurale (de faze şi de constituenţi), la orice


temperatură, pentru sistemul de aliaje analizat; de exemplu, diagramele structurale
corespunzătoare temperaturii ambiante sunt prezentate în figura 2.2. Cu ajutorul
acestor diagrame se pot determina conţinuturile procentuale de faze şi constituenţi
în structurile de echilibru ale fontelor albe şi oţelurilor carbon, la orice temperatură.
De asemenea, diagramele structurale pot fi utilizate pentru a estima concentraţia
masică a carbonului (%C) pentru orice fontă albă sau oţel carbon la care, prin
examinarea unor probe (eşantioane) la microscopul metalografic, s-au stabilit
conţinuturile procentuale ale diverşilor constituenţi care alcătuiesc microstructura;
de exemplu, dacă microstructura vizionată la microscop corespunde unui oţel
carbon hipoeutectoid, iar conţinutul procentual de perlită în această microstructură
are valoarea %P, concentraţia masică de carbon a oţelului carbon hipoeutectoid se
poate estima cu relaţia: 100 750020 P% m += ,,C% ;dacă microstructura vizionată
la microscop corespunde unei fonte albe hipoeutectice, iar conţinutul procentual de
ledeburită transformată în această microstructură are valoarea %LedTr,
concentraţia masică de carbon a fontei albe hipoeutectice se poate determina cu
relaţia: 100 192112 LedTr% m += ,,C%
Diagrama de echilibru stabil Fe – C (construită experimental) are configuraţia
asemănătoare diagramei de echilibru metastabil Fe − Fe3C, dar unele linii şi puncte
caracteristice au poziţiile uşor modificate. Ţinând seama de această particularitate,
aşa cum se poate vedea în figura 2.3, diagramele de echilibru Fe – C şi Fe – Fe3C
se reprezintă împreună, liniile cu poziţii modificate ale diagramei Fe – C fiind
desenate punctat, iar literele care marchează punctele caracteristice cu poziţii
modificate ale diagramei Fe – C (aceleaşi ca şi în diagrama Fe – Fe3C) sunt însoţite
de semnul ‘ (prim). Abscisele (concentraţiile masice de carbon) şi ordonatele
(temperaturile) punctelor caracteristice ale diagramei de echilibru stabil Fe – C sunt
precizate în tabelul 2.2.

Fazele care apar în diagrama de echilibru stabil Fe – C au semnificaţia


cunoscută: L este soluţia lichidă a componentelor Fe şi C; γ – austenita (soluţia
solidă interstiţială de carbon în Feγ, γ ≡ Feγ(C)); α, – ferita (soluţia solidă interstiţială
de carbon în modificaţia Feα stabilă la temperturi joase, α ≡ Feα(C)); C – grafitul
(carbonul liber). În cazul aliajelor din sistemul fiercarbon, formarea structurilor în
conformitate cu diagrama de echilibru stabil Fe – C este posibilă dacă sunt
îndeplinite simultan următoarele condiţii: * aliajele au concentraţia masică de carbon
suficient de ridicată pentru a se asigura apariţia grafitului (carbonului liber) în
structurile care se formează la răcirea lor din stare lichidă; ca urmare, în general,
formarea unor structuri având grafitul ca fază este posibilă numai în cazul fontelor; *
aliajele sunt răcite foarte lent (cu viteză foarte mică) din stare lichidă, pentru
asigurarea desfăşurării transformărilor structurale în condiţiile corespunzătoare
atingerii stărilor de echilibru stabil; deoarece viteza de răcire a aliajelor turnate în
forme este invers proporţională cu grosimea pereţilor produselor sau
semifabricatelor care trebuie realizate, rezultă că structurile având grafitul ca fază
pot să se formeze numai în piesele cu pereţi groşi turnate din aliaje fiercarbon; *
aliajele au în compoziţia chimică (pe lângă fier şi carbon) concentraţii masice
suficient de mari de siliciu (şi alte elemente cu efect grafitizant, cum ar fi fosforul,
aluminiul, nichelul şi cuprul); prezenţa siliciului în aliajele fier-carbon topite asigură
(în timpul solidificării şi răcirii lor) formarea cu prioritate a unor compuşi de tipul
Fe3Si, FeSi sau FeSi2, care fixează fierul, împiedică formarea cementitei (Fe3C)
sau produce descompunerea acesteia (prin reacţii de tipul Fe3C + Si ⇒ Fe3Si + C)
şi asigură carbonul liber necesar constituirii germenilor de grafit.

Schema microscopului optic metalografic

Fasciculul de raze emise de catre sursa luminoasa este dirijat catre o lentila
si o sticla plana orientata la 45 s. O parte din aceste raze de lumina traverseaza
sticla cu fete paralele in timp ce altele trec prin obiectiv, ilumineaza obiectul de
examinat, dupa care lumina reflectata de suprafata acesteia patrunde din nou prin
obiectiv si prin sticla plana dand nastere unei imagini reale marite. Aceasta este
reprodusa ulterior de catre ocular care da o imagine marita suplimentar observata
de ochiul omenesc.

Un microscop metalografic se compune din urmatoarele parti:


a) sistemul optic;

b) sistemul de iluminare;

c) sistemul mecanic de reglare

Sistemul optic al microscopului metalografic reprezinta partea cea mai


importanta a microscopului fiind alcatuit din obiective oculare prisme si oglinzi.

Prin obiectiv se intelege o lentila a unui sistem optic (eventual oglinda


concava) care formeaza intr-un instrument optic o imagine reala a obiectului
observat.

Ocularul este o lentila  (sau un grup de lentile)  a unui intrument optic care


are scopul si rolul unei lupe si prin care se priveste cu ochiul imaginea produsa de
obiectiv.

In cazul microscopului metalografic atat obiectivul cat si ocularele sunt


formate din lentile care se comporta in ansamblu ca un sistem pozitiv si convergent.

Obiectivul contine o lentila frontala plan-concava care-i determina puterea de


marire si o serie de lentile secundare care au rolul de a elimina defectele aparute la
trecerea razelor  de lumina prin lentila frontala .

Aberatia cromatica a unei lentile este produsa de fenomenul de


descompunere a luminii albe care trece prin acea lentila. Aceasta conduce la
formarea cate unui focar al lentilei pentru lumina de fiecare culoare cuprinsa in
lumina alba (lumina care contine toate radiatiile spectrului vizibil in astfel de proportii
incat sa dea lumina mijlocie a zilei).

Aberatia cromatica este cauza formarii unor imagini cu marginile colorate in


diferite culori ale spectrului solar.

Aberatia de sfericitate este aberatia unei lentile pe care cade un manunchi


larg de raze de lumina.

Razele care vin de la un punct luminos, dupa reflexia lor pe oglinda sau dupa
trecerea lor prin lentila, nu se mai intalnesc intr-un singur punct- imagine, ci in
punctele unei figuri luminoase numita caustica lentilei.

Aberatia cromatica poate fi eliminata prin folosirea luminii strict


monocromatice (radiatii electromagnetice de o singura lungime de unda, adica in
domeniul vizibil – de o singura culoare) si micsorata prin construirea obiectivelor
cromatice si apocromatice.

Obiectivul acromatic este obiectivul care produce imagini lipsite de margini


colorate  (se obtine prin combinatia unei lentile convergente cu una divergenta astfel
incat focarul obiectivului sa fie in acelasi punct pentru lumina galbena si violeta).

Obiectivul apocromatic este obiectivul cu aberatie cromatica corectata pentru


tot spectrul fiind utilizate pentru mariri puternice, cu toate filtrele si cu orice material
fotografic.
Pentru micsorarea (diminuarea) aberatiei de sfericitate se utilizeaza obiective
formate din doua lentile una convexa si alta concava care poseda aberatii de
sfericitate egale dar de sens contrar.

Ocularele au rolul de a mari imaginea reala data de obiectiv si de a corecta


erorile optice ale acestuia.Ele pot fi: obisnuite (de tip Huygens), de compensatie si
de proiectie. Ocularele obisnuite sunt necorectate si se folosesc cu obiective
acromatice; ocularele de compensatie sunt corectate si se utilizeaza cu obiective
apocromatice; ocularele de proiectie sunt corectate , se intrebuinteaza numai cu
obiectivele pentru care sunt construite si servesc la microfotografiere.

Sistemul de iluminare  se compune din sursa de lumina, lentile, filtre colorate


si diafragme. Sursa de lumina poate fi formata dintr-o lupa de incandescenta sau
dintr-un arc electric.

Alimentarea sursei de lumina se face prin intermediul unui transformator de


tensiune (6 V sau 12V).

Principalele metode de iluminare in metalografie sunt iluminarea verticala


sau oblica in camp luminos si iluminarea in camp intunecat. De asemena se paote
folosi lumina polarizata (lumina obtinuta din lumina naturala prin reflexie sub
anumite unghiuri sau prn trecere prin anumite cristale si care corespunde unei
radiatii electromagnetice in care vibratia are loc in aceeasi directie in tot lungul razei
de lumina perpendiculara pe directia razei).

In cazul iluminarii verticale lumina trece prin obiectiv astfel incat fasciculul
focalizat atinge suprafata esantionului sub unghiuri drepte. Suprafetele normale pe
axa optica vor reflecta lumina in obiectiv aparand luminoase in timp ce suprafetele
oblice reflecta mai putina lumina in obiectiv, aparand intunecate.

La iluminarea oblica razele incidente cad sub un unghi anumit pe suprafata


probei si datorita efectului de umbra un relief al suprafetei va fi evidentiat mai clar
comparativ cu iluminarea verticala.

In cazul iluminarii in camp intunecat, lumina nu trece prin obiectiv fiind


dispersata pe o oglinda inelara sau pe lentile asezate in jurul obiectivului care la
randul lor proiecteaza razele luminoase pe suprafata esantionului intr-o astfel de
directie incat zonele orientate perpendicular fata de axa optica nu reflecta lumina in
obiectiv si deci apar intunecate.

Sistemul mecanic de reglare

Microscoapele metalografice au un stativ, un tub vizual, un ecran fotografic, o


masuta port-obiectiv, suruburi micrometrice, toate acestea formand sistemul
mecanic de reglare.

Caracteristicile microscopului metalografic

Cele mai importante caracteristici ale unui microscop metalografic sunt


puterea de marire; apertura (deschiderea numerica), puterea de separare  si
adancimea de patrundere. Aceste caracteristici sunt determinate de calitatea
lentilelor care intra in componenta obiectivelor si ocularelor.

Puterea de marire  (M) este egala cu produsul dintre maririle obiectivului


Mob si ocularului Moc:

               M= Mob+ Moc

Dar marimea obiectivului este data de  Mob= 

 L= lungimea optica a tubului microscopului.

Puterea de marire a ocularului este Moc= 

unde avem   1 = 250 mm reprezentand  distanta vederii normale;

                     Fob= distanta focala a obiectivului;

                     Foc = distsanta focala a ocularului.

Apertura (deschiderea numerica) A se defineste ca fiind puterea de strangere


a razelor de lumina de catre lentilele folosite. Cu cat apertura  este mai mare cu atat
este mai mare posibilitatea obiectivului de a reda detaliile fine ale esantionului.

Deschiderea numerica A este data de relatia :

A= n sin α ; n = 1,515 (ulei cedru)  ; n= 1 (aer)

unde n = indice de refractie al mediului dintre obiect si obiectiv, iar α =


unghiul (semiunghiul) deschiderii conului de lumina .

Teoretic cel mai mare unghi de deschidere posibil al unui obiectiv este 2α =
180 s , insa practic se ajunge la maxim 144 s.

Daca se introduce ulei de cedru intre obiectiv si obiectul de examinat , vom


avea un indice de refractie diferit de 1 (care este al aerului).

In aceste conditii apertura obiectivelor obisnuite variaza intre (0,1 -0,3).

Puterea de separare  (sau de rezolutie d) reprezinta distanta minima dintre


doua puncte ale obiectivului, puncte care mai apar in imagine insa distinct unul de
altul.

Se stie ca pentru ochi puterea de separare (d’)  este egala cu 0,2 mm (un


ochi foarte bun distinge detalii ale obiectelor separate printr-o distanta de minimum
0,2 mm).

Adancimea de patrundere sau  puterea de separare verticala reprezinta


posibilitatea obiectivului de a reda clar imaginea unor puncte care se gasesc in
plane diferite.
Adancimea de patrundere este invers proportionala cu puterea de marire si
cu apertura , de aceea examinarea microscopica la mariri mari trebuie facuta pe
probe slab atacate cu reactivi metalografici.

Adancimea de patrundere este invers proportionala cu puterea de marire si


cu apertura, de aceea examinarea microscopica la mariri mari trebuie facuta pe
probe slab atacate cu reactivi metalografici.

Utilizarea microscopului optic metalografic

Microscoapele optice nu pot da marimi mai mari de x 1500 deoarece dincolo


de aceasta limita cresterea marii nu mai este insotita de cresterea puterii de
separare (de rezolutie) si deci imaginea nu mai poate da informatii suplimentare.

Destinatia principala a acestor microscoape este cercetarea incluziunilor


nemetalice din oteluri, a granulatiei structurale precum si a naturii, maririi, formei si
distributiei constituentilor structurali existenti intr-un material metalic supus  unor
procese tehnologice de prelucrare prin turnare, sudare, deformare plastica, aschiere
si tratament termic.

Principiul microscopiei electronice

In esenta microscopia electronica are ca scop  obtinerea de imagini ale


probei folosind ca fascicul excitator electroni accelerati. In Fig. 4.1. se prezinta
principalele tipuri de radiatii care sunt implicate in interactiunea fasciculului de
electroni cu proba.                       

  Electronii emisi (electroni secundari ) sunt electroni smulsi din proba ca


rezultat al interactiunii coulumbiene dintre proba si fasciculul primar de electroni.

Energia lor nu depaseste 50 eV, in majoritatea cazurilor fiind cuprinsa intre 3


si 10 eV. Datorita energiilor lor cinetice mici acesti electroni pot fi emisi numai de
straturile superficiale ale probei , adancimea pana la care ei pot fi emisi fiind de
cca  50 de straturi atomice.

Electronii reflectati se obtin in urma interactiei elastice cu atomi de la


suprafata probei, interactiune ce se realizeaza pe o adancime de maximum 4 μm.
La impactul electronilor incidenti cu atomii de la suprafata probei nu se produce un
schimb sensibil de de energie ci numai o imprastiere in toate directiile a electronilor
incidenti motiv pentru care acesti electroni parasesc proba. Acesti electroni sunt
electroni reflectati elastic, numiti si electroni
retrodifuzati sau retroimprastiati, energia lor fiind relativ mare, peste 50 eV.
Electronii retroimprastiati se deosebesc de electronii emisi in primul rand prin
energia lor.

Electronii transmisi apar doar in cazul probelor subtiri, cu grosimi care nu


atenueaza complet fasciculul incident de electroni. Grosimea limita a probei depinde
de tensiunea de accelerare a electronilor si de masa atomica a substantei.
            Electronii absorbiti sunt acei electroni care raman in proba si care
sunt condusi la masa aparatului.

            Utilizarea diferentiata a  acestor tipuri de radiatii permite construirea


mai multor tipuri de microscoape electronice.

            Folosind electronii transmisi prin proba pentru formarea imaginilor se


realizeaza microscopia electronica prin transmisie (MET) , iar cu electronii
retroimprastiati si secundari se poate realiza microscopia electronica prin baleiaj
(MEB). Desi s-au construit si alte tipuri de microscoape electronice, cele care s-au
impus in practica curenta de laborator sunt MET si MEB.

Pregatirea probelor pentru MET

Pregatirea probelor pentru MET constituie o problema dificila.Progresul


general obtinut in domeniul aplicativ al microscopei electronice este direct legat de
perfectionarea metodelor de preparare a probelor.

Metodele de pregatire si cercetare  pot fi directe sau indirecte., dupa tipul


preparatului si calitatilor sale mecanice. S-au dezvoltat mai multe tehnici, cum ar fi :
tehnica replicilor (replici dintr-o singura treapta, replici de carbon) si tehnica foliilor
subtiri.

nt MET si MEB

Microscopul electronic prin transmisie

Puterea de separare este mai mica decat la microscopul optic, dar totusi este
limitata de calitatile lentilelor si tehnica de pregatire a probelor.

Microscopul electronic prin transmisie functioneaza dupa acelasi principiu ca


si microscopul optic, cu deosebirea ca in locul luminii (λ cca 500 nm) utilizeaza
electroni cu lungimi de unda mai mici decat ale luminii (aprox. 5 . 10 -

nm)dependente insa de tensiunea de accelerare. Puterea de separare este mai
mica decat la microscopul optic, dar totusi este limitata de calitatile lentilelor utilizate
si de tehnica pregatirii probelor obtinandu-se doar o rezolutie de ordinul 0,2 nm.

In micrscopul electronic de transmisie se utilizeaza lentile electromagnetice.


Electroni accelerati generati de tunul de electroni au in general o energie cuprinsa
intre 20-200 KeV, putand ajunge si pana la 1000 KeV, la unele aplicatii
speciale.Tunul de electroni consta dintr-un filament incalzit care emite electroni si un
anod perforat prin care trec electronii accelerati.Fascicolul format este mai departe
transmis prin lentila condensor care focalizeaza electroni pe obiect. Proba constand
dintr-o folie subtire de cateva zeci de nm, moduleaza intensitatea fascicolului care
este apoi preluat de lentila obiectiv. Imaginea data de lentila obiectiv este preluata in
continuare de una sau doua lentile care maresc in continuare imaginea si o
proiecteaza pe un ecran fluorescent. Daca in locul ecranului se pune o placa
fotosensibila imaginea electronica se poate fotografia.

Pe langa o buna rezolutie , microscoapele electronice prezinta o profunzime


de camp care depaseste pe cea de la microscoapele optice cu un factor de cca 100.
Aceasta situatie este deosebit de avantajoasa in cazul examinarii unor probe
puternic denivelate ca acelea rezultate  din ruperea

Principiul microscopiei electronice

In esenta microscopia electronica are ca scop  obtinerea de imagini ale


probei folosind ca fascicul excitator electroni accelerati. In Fig. 4.1. se prezinta
principalele tipuri de radiatii care sunt implicate in interactiunea fasciculului de
electroni cu proba.     

Electronii emisi (electroni secundari ) sunt electroni smulsi din proba ca


rezultat al interactiunii coulumbiene dintre proba si fasciculul primar de electroni.

Energia lor nu depaseste 50 eV, in majoritatea cazurilor fiind cuprinsa intre 3


si 10 eV. Datorita energiilor lor cinetice mici acesti electroni pot fi emisi numai de
straturile superficiale ale probei , adancimea pana la care ei pot fi emisi fiind de
cca  50 de straturi atomice.

Electronii reflectati se obtin in urma interactiei elastice cu atomi de la


suprafata probei, interactiune ce se realizeaza pe o adancime de maximum 4 μm.
La impactul electronilor incidenti cu atomii de la suprafata probei nu se produce un
schimb sensibil de de energie ci numai o imprastiere in toate directiile a electronilor
incidenti motiv pentru care acesti electroni parasesc proba. Acesti electroni sunt
electroni reflectati elastic, numiti si electroni
retrodifuzati sau retroimprastiati, energia lor fiind relativ mare, peste 50 eV.
Electronii retroimprastiati se deosebesc de electronii emisi in primul rand prin
energia lor.

Electronii transmisi apar doar in cazul probelor subtiri, cu grosimi care nu


atenueaza complet fasciculul incident de electroni. Grosimea limita a probei depinde
de tensiunea de accelerare a electronilor si de masa atomica a substantei

BIBLIOGRAFIE
1. Bibu, M. – Metalografia aliajelor feroase şi neferoase, Editura Universităţii "Lucian

Blaga" din Sibiu, ISBN 973-651-027-1, Sibiu, 2000;

2. Bibu, M. – Metode şi tehnici de analiză structurală a materialelor metalice, Editura

Universităţii "Lucian Blaga" din Sibiu, ISBN 973-651-030-1, Sibiu, 2000;

3. Bibu, M., - Ştiinţa materialelor, Editura Universităţii "Lucian Blaga" din Sibiu, Sibiu,

2004;

4. Bibu, M. – Studiul materialelor – Bazele teoretice ale ştiinţei şi ingineriei

materialelor metalice, Editura Universităţii "Lucian Blaga" din Sibiu,


ISBN 973-651-824-8, Sibiu, 2004;

5. Bibu, M. – Studiul materialelor – Materiale utilizate în construcţia de maşini,

Editura Universităţii "Lucian Blaga" din Sibiu, ISBN 973-651-825-6,


Sibiu, 2004;

6. Bibu, M., - Tehnologia construcţiilor sudate – Bazele tehnologice ale sudării şi

tăierii termice, Editura Universităţii "Lucian Blaga" din Sibiu, Sibiu,


2004;

7. Colan, H. ş.a., - Studiul metalelor, Editura Didactică şi Pedagogică, Bucureşti,

1983;

8. Domşa, A., Domşa, S. – Materiale metalice în construcţia de maşini şi instalaţii,

Editura Dacia, Bucureşti, 1981;

9. Gâdea, S., Petrescu, M., ş.a. – Metalurgie fizică şi studiul metalelor, vol.I, II şi III,

E.D.P., Bucureşti, 1979, 1981, 1988;

10. Geru, N. – Metalurgie fizică, E.D.P., Bucureşti, 1981;

11. Geru, N., ş.a. – Analiza structurii materialelor metalice, E.T., Bucureşti, 1991;

12. Geru, N., ş.a. – Materiale metalice. Structură, proprietăţi, utilizări, E.T., Bucureşti,

1985;

13. Mitelea, I., Radu, B. – Selecţia şi utilizarea materialelor inginereşti, Editura


Politehnica, Timişoara, 1998;

14. Mitelea, I., ş.a. – Ştiinţa materialelor în construcţia de maşini, Editura Sudura,

Timişoara, 1999;

15. Truşculescu, M., ş.a. - Studiul metalelor - tehnici de laborator, Editura Facla,

Timişoara, 1977.

16. *** Colecţia de standarde STAS, SR ISO, SR EN ş.a.