Sunteți pe pagina 1din 3

Microscopia electronica

Principiu de functionare: electronii generati de un tun electronic si supusi la tensiuni de


accelerare sunt focalizati si dispersati pentru a forma o imagine prin trecerea lor prin campuri
electrostatice sau electromagnetice

Clasificare:

1. Microscopul electronic de transmisie (TEM) utilizat pentru cercetari ultrastructurale


2. Microscopul electronic de baleiaj (SEM) folosit la studiul ultramorfologiei suprafetelor cu
ajutorul electronilor secundari sau reflectati
3. Microscopul electronic de transmisie si baleiaj (STEM) ce permit studiul ultrastructural
prin transmisie de electroni si al suprafetelor prin electroni secundari sau reflectati
4. Microscopul electronic analitic de transmisie (TEAM) folosit pentru cercetari simultane
ultrastructurale si analitice
5. Microscopul electronic sistemic – aparat cu functionalitate de sistem ce permit cercetar
multiple simultan pe acelasi preparat
6. Microscopul electronic cu fotoemisie (PEM) cu aceleasi aplicatii ca si cele de tip SEM
7. Microsonde electronice (EPI) utilizate in analize elementare si in studiul suprafetelor
8. Microscopul ionic cu emisie de camp (FIM) – cu ajutorul caruia se poate vizualiza direct
orientarea atomilor intr-un material

Microscopul electronic de transmisie (TEM)

Microscopia electronica de transmisie este determinata de interactiunea campurilor


electromagnetice produse de lentile cu electronii si de interactiunea electronilor cu proba. Pentru
ca electronii sa poata traversa proba este necesara o grosime suficient de mica a ei si totodata
energii de accelerare suficient de mari ale electronilor.

Din acest punct de vedere deosebim:

Tip Tensiune de accelerare a electronilor


microscopul electronic de transmisie 20-125 kV
conventional (CTEM)
Microscopul electronic de voltaj inalt 3+ MeV
(HVEM)

Alcatuire:

A. Sistemul electronooptic – este responsabil de realizarea imaginii, localizat in coloana


microscopului, alcatuit din:
a. Sistemul de iluminare, alcatuit din:
 Tunul electronic=ansamblul catod-filament, cilindru Wehnelt si anod, este
plasat in partea cea mai inalta de sus a coloanei microscopului, in
prelungirea cablului de inalta tensiune. Filamentul, care joaca rol de
catod, realizat din tungsten, wolfram sau hexaborura de lantan, sub
forma literei V este sursa de radiatii X si se gaseste in vecinatatea
cilindrului Wehnelt, electrodul cu rol de focalizare si care se aseamana
intrucatva cu cel al grilei dintr-o trioda, tetroda sau pentoda. Anodul, in
general, este confectionat dintr-un disc metalic avand un orificiu central
cu diametrul de 3-5 mm, care dirijeaza electronii in axul optic al coloanei
microscopului. Energia ridicata a electronilor necesara traversarii
sectiunilor preparatului se realizeaza prin aplicarea unei tensiuni de
accelerare anod – catod, specifica tipului de microscop, dar si naturii si
grosimii probelor

 Lentilele condensor servesc la focalizarea fasciculului electronic pe proba


si constau dintr-un ansamblu de 2 lentile, prima cu distanta focala scurta
care creeaza o imagine micsorata a sursei de electroni, deci a
filamentului, a 2-a cu distanta focala marita , care transfera imaginea
micsorata in planul obiect. Pentru compensarea aberatiilor optice care
sunt prevazute si in microscopia electronica, lentilelor condensoare li se
adauga sisteme de corectare si compensare (deflectorul, stigmatorul si
compensorul de deplasare).

b. Camera probei – spatiul din interiorul coloanei microscopului, dintre lentilele


condensor si lentilele de formare a imaginii, marginita de 2 diafragme. Accesul se
face printr-o camera ecluza pentru adaptarea presiunii la cea ambientala sau la
vidul din colana, iar proba, introducandu-se intr-un oriificiu in lungul axului optic
prevazut in masuta preparatului.
c. Sistemul de formare a imaginii – realizat prin intermediul a 4 lentile: obiectiv,
intermediara (1+2) si proiector, toate fiind de tip electromagnetic.
d. Camera de observatie – situata la nivelul panoului de comanda, este prevazuta cu
3 ferestre de vizualizare a imaginii, fiind in legatura in partea superioara cu lentila
proiector, iar in partea inferioara cu caseta fotografica. In interiorul ei se afla
ecranul, format dintr-o placa metalica circulara acoperita cu o susbtanta
fluorescenta (monocristale de sulfura de zinc si cadmiu).
e. Camera fotografica – se gaseste sub camera de observatie si este prevazuta cu o
caseta cu 12 sau 24 de placi fotografice a caror emulsie este specifica radiatiei X.
B. Sistemul electronic si consola de comanda – este alcatuit din 2 blocuri: unul responsabil
de realizarea unei tensiuni inalte, care sa permita obtinerea rezolutiei propuse (sub 10 Å),
al doilea fiind responsabil de realizarea unui curent bine stabilizat pentru alimentarea
lentilelor, micsorand pe cat posibil aberatiile lor.
C. Sistemul de vid – impiedica interactiunile dintre radiatiile X si moleculele de aer pentru
obtinerea unui fascicul coerent cu o deplasare perfect rectilinie pana la ecranul
fluorescent; vidul este de aproximativ 10 -4-10-6 torr.

Microscopul electronic cu voltaj inalt (HVEM)

Este un microscop de transmisie ce foloseste o tensiune >300 kV, ajungand, la unele tipuri, pana
la 3-5 MeV.

Primul microscop electronic cu o tensiune de accelerare de 1 MeV a fost construit in 1960 de


catre Dupony si Perrier in laboratorul de optica electronica din Toulouse.
Folosindu-se microscopul electronic Toulouse 3000 cu o tensiune de accelerare de 1 MeV s-au
obtinut fotografii ale unor bacterii, ale moleculelor de acizi nucleici.

Acest tip de microscop se bazeaza pe acelasi principiu constructiv ca si la microscoapele


conventionale de 100 kV. Inalta tensiune utilizata presupune insa realizarea unei coloane cu mult
mai inalta, iar inlaturarea vibratiilor din coloana necesita si realizarea unei fundatii cu mult mai
stabila decat in mod obisnuit. Astfel, intreg ansamblul poate atinge inaltimea nei cladiri pe 3
nivele.

Microscopul electronic analitic de transmisie (TEAM)

Este format dintr-un microscop electronic de transmisie de inalta rezolutie, la care se ataseaza un
microanalizator de raze X din clasa spectrometrelor.

Noutatea adusa de TEAM consta in posibilitatea de a culege si informatii cu privire la elementele


chimice cuprinse in preparat, pe langa cele de ordin morfo-structural, prin difractie de electroni
continute de CTEM.

El functioneaza pe baza analizei lungimii de unda dispersate, sau mai nou pe baza analizei energiei
dispersate. Astfel, bombardarea printr-un fascicul de electroni a unor preparate determina emisia
de radiatii X a caror lungime de unda este caracteristica atomilor bombardati; spectrometrul
masoara aceste lungimi de unda, permitand determinarea compozitiei chimice elementare a unor
volume extrem de mici de materie.

Pana in prezent s-au conturat cateva directii de cercetare, prin utilizarea TEAM, cum ar fi:

1. Localizarea elementelor chimice existente in conditii normale in tesuturi, in special a


ionilor de Na+ si de K+
2. Detectarea unor elemente in anumite stari patologice cum ar fi de ex: intoxicatiile sau
carentele fiziologice
3. Aprecierea distributiei unor elemente poluante in diferite verigi ale lantului biologic
4. Indetificarea unor reactii chimice intre diferite elemente pe baza analizarii unor
precipitate ce se formeaza in tesuturi

Microscopul electronic de baleiaj (SEM)

Spre deosebire de TEM furnizeaza imagini tridimensionale ale suprafetelor probelor cercetate, ale
caror dimensiuni sunt de ordinul centimetrilor, dar nu pot furniza informatiile morfo-structurale
ce se regasesc in grosimea materialului.

Formarea imaginii se bazeaza pe principiul emisiei electronilor secundari, reflectati in urma


bombardrii probei de catre fasciculul primar de radiatii X.

De aceasta data, fasciculul de electroni cade sub un anumit unghi pe proba producand refleii sub
unghiuri diferite in functie de incidenta particulei cu zona de impact. Spotul de radiatii baleiaza in
timp intreaga suprafata a probei, astfel incat pe ecran apare imaginea, la scara dorita, a zonei
scanate.

Constructiv, SEM are in ples un detector al electronilor secundari emisi in urma interactiunii cu
suprafata probei. Curentul produs de aceasta este modulat si trimis in final spre blocul de baleiere
al unui tub cinescopic dintr-un monitor.

S-ar putea să vă placă și