Sunteți pe pagina 1din 5

INTERFEROMETRUL MICHELSON

Obiectivele lucrarii:

 Asamblarea interferometrului Michelson;


 Observarea si analiza figurii de interferenţă;
 Determinarea lungimii de unda a sursei de lumina utilizata pentru obtinerea
fenomenului de interferenta

Teoria lucrarii
Interferența luminii reprezintă fenomenul în care intervine interacțiunea undă-undă, prin
suprapunerea în același punct din spațiu a două sau mai multe unde luminoase. Atât
interferența undelor electromagnetice din domeniul vizibil (luminii) cât și cea a undelor
mecanice presupune suprapunerea sau superpoziția a două sau mai multe unde într-o zonă
spațială. Deosebirile apar în aprecierea rezultatului interferenței. Astfel, dacă în cazul undelor
mecanice, rezultatul interferenței se apreciază în funcție de amplitudinea undei rezultante în
acel punct, în cazul luminii, rezultatul interferenței se apreciază după intensitatea luminoasă în
punctul respectiv.

Interferometrul Michelson face parte din familia interferometrelor cu două fascicule.


Interferometrul Michelson (inventat de Albert Abraham Michelson - premiul Nobel pentru
Fizica, 1907) este un dispozitiv optic a cărui funcționare se bazează pe divizarea fasciculului de
lumină incident în două fascicule secundare. A fost folosit în anul 1893 pentru definirea
metrului standard ca număr de lungimi de undă ale liniei spectrale roșii din spectrul optic al
cadmiului.

Dacă două unde cu aceeași frecvență unghiulară  , dar de amplitudini (a 1 și a 2) și faze ( φ 01 și


φ 02) diferite se suprapun într-un anumit punct astfel încât unda rezultantă se scrie:

y ( t )= y¿ ¿ (1)

y (t )= A sin ( ωt+ φ0 ) (2)

1
Unde amplitudinea A este:

A2=a21 +a22 +2 a1 a2 cos φ0 (3)

Cu diferenta de fază:

φ 0=φ01−φ02 (4)

Diferenta de faza dintre cele doua unde(reflectate de cele doua oglinzi) este legata de diferenta
de drum optic prin relatia:


φ 0= ∙2d (5)
λ

Unde λ este lungimea de unda a fasciculului laser utilizat in experiment.

Distributia de intensitate a franjelor pentru amplitudini egale este:

2 2 2 φ0
I = A =4 ∙ a ∙cos (6)
2

Valoarea maxima a acestei expresii se obtine pentru cazul in care φ 0 este multiplu de 2π:


φ 0= ∙ 2 d=m∙ 2 π (7)
λ

, unde m=1, 2, 3, …,

Iar 2d este diferenta de drum geometric dintre cele doua fascicule.

2 d=m ∙ λ (8)

Principiul de funcționare al interferometrului Michelson

Un fascicul de lumină coerentă obținut folosind o sursă de lumină adecvată este împărțit în
două de un dispozitiv optic (divizor de fascicul). Aceste două fascicule parțiale de lumină se
propagă pe drumuri diferite, sunt reflectate unul către celălalt, apoi sunt dirijate către detector,
unde se recombină și se suprapun. Rezultatul este o figură de interferență. Dacă drumul optic al

2
unuia dintre aceste două fascicule parțiale, adică produsul dintre indicele de refracție și drumul
său geometric, se modifică, atunci se produce o diferență de fază față de fasciculul neperturbat.
Aceasta conduce la o modificare a figurii de interferență, care ne permite să măsurăm sau
variația drumului geometric, sau a indicelui de refracție, atunci când una dintre cele două
mărimi a rămas constantă. Astfel, dacă indicele de refracție al mediului parcurs de fasciculul
perturbat nu se modifică, atunci se poate măsura variația drumului său geometric. Acest tip de
variații se pot obține prin deplasarea controlată a uneia dintre oglinzile interferometrului, sau
datorită căldurii ori efectelor de câmp electric sau magnetic. Pe de altă parte, dacă drumul
geometric rămâne constant, putem determina variații ale indicelui de refracție și mărimi care le
determină, cum ar fi variații ale presiunii, temperaturii sau densității. Interferometrul Michelson
poate fi utilizat pentru demonstrarea efectelor șocurilor mecanice sau ale curenților de aer
asupra componentelor optice ale ansamblului.

a) b)

Fig. 1-a) Interferometrul Michelson; b) Schema de principiu a Interferometrului Michelson

Pentru interferometru Michelson, lumina dintr-o sursă LASER este împărțită de un divizor de
fascicul(DF)orientat la 45° față de unda de lumină. Fasciculul transmis se deplasează spre
oglinda O1 unde este reflectat înapoi spre divizorul de fascicul. Fasciculul care se reflectă este
deviat cu 90 de grade de DF catre ecranul de monitorizare(OBSERVATOR). Fasciculul reflectat,
este deviat la 90 ° fata de directia initiala, catre oglinda O 2 unde se reflectă, revenind pe DF care
directioneaza fasciculul refractat catre ecranul de monitorizare(OBSERVATOR). Cele două

3
fascicule care sunt direcționate către ecranul de monitorizare(OBSERVATOR) sunt suprapuse cu
ajutorul sistemului de reglaj cu surub al oglinizi (O1), determinand apariția franjelor de
interferență. Pentru fasciculul care se reflecta din oglinda mobila O 2 se poate modifica drumul
optic printr-un intermediul unui mecanism cu parghie actionat de un surub micrometric.

Procedura de lucru

Pentru determinarea lungimii de undă a sursei laser, se va folosi următoarea procedură. Se ține
cont de faptul că pasul șurubului micrometric este de 0.5 mm, iar tamburul rotativ al șurubului
are 50 de diviziuni, ceea ce înseamnă că valoarea unei diviziuni pe scara tamburului este de
0.01 mm. O pârghie 1:10 leagă oglinda O2 de șurubul micrometric, astfel încât o deplasare a
șurubului micrometric Δx [mm] înseamnă o deplasare a oglinzii O 2 de Δx/10 [mm]. De
asemenea, unei deplasări a șurubului micrometric Δx îi corespunde un număr m de modificări
succesive a centrului figurii din luminos în întunecos (sau invers).
Se pornește de la o poziție a șurubului micrometric cât mai apropiată de poziția 0. Se rotește
șurubul micrometric cu finețe, timp în care se numără apariția succesivă a unui număr de m =
10 ori a figurii de interferență având centrul întunecos/luminos, după care se citește poziția x m
pe șurubul micrometric. Se continuă rotirea șurubului micrometric și se numără apariția
succesivă a încă unui număr de m = 10 ori a figurii de interferență cu centrul întunecos și se
notează noua poziție xm de pe șurubul micrometric. Se efectuează un număr de 10 astfel de
măsurători.

Tabelul 1

m 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
x0 0
xm 1
Δx= xm- x0
d= Δx/10

Se ține cont de faptul că deplasarea oglinzii O 2 este determinată de pârghia 1:10, așadar
deplasarea reală a oglinzii se calculează prin împărțirea la 10 a deplasării Δx a șurubului

4
micrometric. Avându-se în vedere relația (8), se reprezintă grafic funcția d = f(m). Din panta
dreptei rezultate se calculează lungimea de undă. Rezultatul obținut se compară cu valoarea
lungimii de undă a sursei laser înscrisă pe dispozitiv.

Referatul lucrării va conține: Scopul lucrării, teoria lucrării, schema experimentală, tabelul 1 completat,
graficul d = f(m), calculul pantei și al lungimii de undă.

S-ar putea să vă placă și