Microscopia de transmisie - microscopia de reflexie

Microscopia de transmisie  - Microscopia de reflexie

I. Notiuni teoretice
Microscopul reprezinta un instrument optic alcatuit dintr-un ansamblu de dioptrii (sferici) si centrati ce are rolul de a forma
imagini mult marite ale unor obiecte de dimensiuni mici.
Microscopul este alcatuit din :         
- sistemul mecanic
- sistemul electric                    
- sistemul optic

Figura 2.1. Schema microscopului de transmisie si de reflexie (sistemul optic).

Microscopia de transmisie: se foloseste pentru preparate ce nu au grosimi mai mari de un micron si

prezinta un contrast  bun.
Microscopia de reflexie: se foloseste pentru preparate ce nu permit o transmisie eficienta a luminii.
Obiectivul poate juca rol de condensor sau poate exista un condensor special dispus coaxial cu obiectivul.
Sistemul mecanic (principalele elemente componente):
-masuta microscopului prevazuta cu doi cavaleri (sau calareti) ce asigura fixarea preparatului pe masuta.
-suruburi de punere la punct a imaginii (macroviza pentru acordul brut si microviza pentru acordul fin).
-suruburi de centrare a componentelor optice pe acelasi ax.
-revolverul cu obiective si diafragmele (fante circulare cu diametrul variabil ce au rolul de a modifica
fluxul de lumina pe preparat).
Sistemul optic (principalele elemente componente):
-condensorul – focalizeaza razele de lumina ce vin de la sursa, pe preparat.
-obiectivul – format dintr-un ansamblu de lentile convergente ce formeaza o imagine reala, marita si
rasturnata.
-ocularul – format dintr-un ansamblu de lentile convergente ce formeaza o imagine virtuala, marita si
dreapta.
Sistemul electric (principalele elemente componente):
-sursa de tensiune.
-aparate de masura.
Marimi caracteristice microscopului:

marirea transversala: 
unde: y2 = dimensiunea imaginii (perpendiculara pe axa optica)

y1 = dimensiunea obiectului (perpendicular pe axul optic)

grosismentul: 
unde: α2 = unghiul sub care se vede obiectul privit prin microscop,
α1 = unghiul sub care se vede obiectul atunci cand este privit cu ochiul liber si situat la distanta optima de citire
(0.25m pentru un ochi normal),
Gob = grosismentul obiectivului, Goc = grosismentul ocularului.

puterea separatore: 
unde: ε = distanta dintre doua puncte ale obiectului care pot fi separate,
n = indicele de refractie dintre preparat si obiectiv,
λ = lungimea de unda a radiatiei utilizate,
α = unghiul dintre axa optica si razele cele mai departate de axa care mai patrund in obiectiv.

Figura 2.2. Reprezentare schematica a elementelor prezentate mai sus.

II. Parte experimentala

A. Determinarea diametrului eritrocitelor
Materiale necesare:
preparat
microscop
micrometru ocular
Mod de lucru: se aseaza preparatul pe masuta microscopului si se pune la punct imaginea. Se inlocuieste
ocularul cu micrometul ocular. Se localizeaza apoi o celula (eritrocit) si se determina diametrul in diviziuni
(figura 2.3).

.
Figura 2.3. Eritrocitele vazute la microscop prin micrometrul ocular.

Diametrul in microni se calculeaza cu ajutorul formulei:

, unde  ( )
Datele experimentale se trec in tabelul de mai jos.
 No. fdiv fmm fmed d sn-1
1

Sa se determine intervalul de confidenta si sa se compare rezultatul obtinut cu intervalul fiziologic admis in

literatura de specialitate pentru hematii.
B. Determinarea grosismentului obiectivului
Materiale necesare:
microscop
micrometru obiectiv
micrometru ocular
Mod de lucru: se aseaza micrometrul obiectiv pe masuta microscopului si se pune la punct imaginea. Se
inlocuieste ocularul cu micrometul ocular. Se aliniaza cele doua scale la stanga si se cauta diviziuni ce coincid
atat pe scala micrometrului obiectiv cat si pe cea a ocularului (figura 2.4).

Figura 2.4. Determinarea grosismentului obiectivului (n = numarul de diviziuni

pe micrometrul ocular, m = numarul de diviziuni  pe micrometrul obiectiv).
Grosismentului obiectivului se calculeaza cu ajutorul formulei:

Datele experimentale se trec in tabelul de mai jos.

No. n m gob gmed sn-1
1

Sa se determine intervalul de confidenta.

 Analiza microscopica .Pregatirea probelor metalografice.
Microscopul metalografic
1 Notiuni generale
Analiza microscopica este o metoda de cercetare a structurii materialelor prin microscopie optica si
electronica. Aceasta analiza presupune cunoasterea modului de pregatire a probelor precum si principiul de
functionare al microscopului optic si electronic.
Determinarea microstructurii se face conform STAS 6905-85; SRISO 643; SREN 287-1.

2.Pregatirea probelor metalografice pentru observare la microscop

Proba metalografica (sau esantionul metalografic) este o parte dintr-un material metalic detasata pentru a
fi pregatita in vederea analizei macro si microscopice.
Realizarea unei astfel de probe de diferite forme si dimensiuni consta din urmatoarele operatii: alegerea
locului de taiere; taierea; realizarea unei suprafete plane; slefuirea; lustruirea; atacul metalografic.
Alegerea locului de taiere
Analiza macro sau microscopica se poate face atat asupra unui semifabricat cat si asupra unei piese
finite.
Astfel la alegerea locului de taiere trebuie sa se tina seama de materialul metalic de analizat
(semifabricat sau piesa finita).
In cazul unui semifabricat se pregatesc doua fete sectionate (longitudinal si transversal) din regiunea
axiala a acestuia tinandu-se seama de dimensiunile sale.
In cazul probelor defecte, proba metalografica se va detasa din imediata apropiere a locului cu defect
cuprinzandu-l si pe acesta, iar pentru a compara structurile se detaseaza o proba din regiunea fara defecte.
Prelevarea probelor pentru examinari metalografice este reglementata prin STAS 4203-78, 10952/1, 2-
77, ASTM E 883-86.
La imbinarile sudate este necesara efectuarea examinarilor asupra tuturor zonelor caracteristice (MB,
ZIT, SUD), motiv pentru care probele metalografice trebuie sa cuprinda intreaga sectiune transversala a
imbinarii.
In functie de necesitatile cercetarii, probele se preleveaza diferit.
In special la analizele de avarii prelevarea se efectueaza tinand seama de ipotezele de lucru care trebuie
verificate si de starea si natura materialului supus investigatiei. In cele mai multe cazuri se examineaza in
paralel probe martor prelevate din zone neafectate sau din material similar nesupus conditiilor de exploatare.
La verificarea tehnologiilor de sudare, a materialelor de baza si la asimilarea materialelor de sudare,
probele se preleveaza astfel incat sa fie reprezentative pentru intregul lot reprezentativ. Neasigurarea acestei
conditii duce la interpretari gresite cu consecinte grave.
Taierea probei metalografice
Taierea probelor metalografice trebuie sa se faca astfel incat sa nu se produca modificari in structura
materialului. De aceea se recomanda evitarea metodelor de taiere care produc deformari la rece (daltuire,
forfecare) si a celor care provoaca incalzirea materialului (taierea cu flacara oxiacetilenica).
Exceptie fac piesele sau semifabricatele de dimensiuni prea mari la care debitarea se permite cu flacara
oxiacetilenica insa proba propri-zisa se va afla la minim 50 mm de locul unde s-a executat taierea pentru a nu fi
influentata de caldura flacarii.
O taiere corecta se executa cu fierastraul mecanic sau prin aschiere pe masini-unelte, racirea facandu-se
cu solutii apoase.
Daca se face analiza unui material cu duritate ridicata , detasarea probei (taierea ei) se face prin procedee
tehnologice neconventionale (eroziune electrica, eroziune complexa) sau cu ajutorul unor discuri abrazive.
Se recomanda ca proba metalografica sa aiba o suprafata de cercetat de minimum 1 cm 2 (in mod obisnuit
dimensiunilor lor sunt 15 x15 x10 mm).
Realizarea suprafetei plane
Este posibila prin pilire, frezare sau polizare. La aceasta operatie trebuie avut grija ca piesa sa nu se
deformeze sau sa se incalzeasca fiind ca se produce o modificare a structurii originale.
 Pentru usurinta prelucrarii probele care au fost neregulate sau au sectiuni foarte mici (table, sarme) pot fi
montate in inele metalice si fixate cu rasini sintetice sau in aliaje fuzibile.
Slefuirea probelor
Se executa cu ajutorul hartiilor metalografice care prezinta o finete crescanda a particulelor abrazive
formate din carbura de siliciu.Dupa granulatia hartiilor metalografice folosite, slefuirea poate fi :
a) fina - cand se intrebuinteaza hartie metalografica foarte fina (8,6,5,4);
b) foarte fina- cand se intrebuinteaza hartii metalografice foarte fine (extrafine) (M40, M28, M14, M10,
M7, M5). Slefuirea se poate executa manual sau mecanic. In cazul slefuirii manuale (recomandabila pentru
piese de dimensiuni mari) hartia se aseaza pe o placa de sticla montata pe un suport de lemn. Proba
metalografica fiind apasata usor, se misca tot timpul intr-o singura directie, executandu-se o miscare de dute-
vino.
In cazul slefuirii mecanice se folosesc masinile de slefuit verticale sau orizontale la care hartia
metalografica este fixata pe discuri rotative cu ajutorul unui inel de strangere putandu-se schimba diferite hartii.
In cursul operatiei de slefuire trebuie avute in vedere urmatoarele conditii:
a) slefuirea se incepe intotdeauna cu granulatia cea mai mare (8 sau 6);
b) nu se trece pe o alta hartie metalografica decat dupa ce s-a constatat ca toate rizurile de la slefuirea
anterioara au disparut;
c) la trecerea pe o alta hartie metalografica proba va trebui rotita cu 90s pentru ca rizurile noi sa formeze
un unghi drept cu cele precedente;
d) nu se vor folosi aceleasi hartii pentru aliaje feroase si neferoase;
e) la sfarsitul operatiei de slefuire proba este spalata sub un jet de apa pentru indepartarea tuturor
incluziunilor care au aderat in timpul slefuirii.
Lustruirea
Operatia de lustruire poate fi executata mecanic sau electrolitic. Masina de lustruit mecanica este
prevazuta cu un disc rotativ pe care se fixeaza o pasla din lana de merinos. Pentru lustruire se depune pe pasla o
suspensie de oxid de aluminiu, oxid de magneziu sau praf de diamant de diferite granulatii.
La lustruire proba este tinuta in mana si se face o miscare circulara a sa combinata cu o apasare usoara.
In final suprafata probei trebuie sa aiba un aspect de oglinda( fara rizuri).
Lustruirea electrolitica este o metoda moderna care prezinta urmatoarele avantaje: este rapida; se evita
ecruisajul (intarirea) care denatureaza structura; se pot pregati suprafete cu dimensiuni mari, se pot obtine
simultan suprafete lustruite in doua plane perpendiculare cu margini rotunjite.
Principiul lustruirii electrolitice consta in dizolvarea anodica a suprafetei probei slefuite in prealabil.
Electrolitul si regimul electric se aleg in functie de natura materialului probei de examinat.
Atacul metalografic
Operatia de atac are drept scop scoaterea in evidenta a structurii microscopice. Suprafata lustruita se
ataca cu reactivi corespunzatori care dizolva sau coloreaza selectiv diferiti constituenti prezenti facandu-i sa se
poata distinge unul de celalalt.
Atacul se realizeaza fie prin imersiune fie tamponand suprafata probei cu o bucata de vata imbinata in
reactivi.
Reactivii metalografici difera in functie de natura materialului si de scopul atacului (STAS 4203- 74).
Pentru oteluri carbon, fonte albe si cenusii se foloseste reactivul NITAL care este un amestec de acid
azotic (HNO3) si alcoolul etilic (CH3CH2OH)(1-5) ml HNO3 la 100 ml alcool.
Practic proba se considera atacata cand suprafata pregatita si-a pierdut luciul devenind usor mata. Un
atac prea intens denatureaza structura.
Dupa atacul metalografic proba se spala cu apa apoi cu alcool si se usuca prin apasare pe hartie de filtru
sau sub curent de aer cald dupa care poate fi examinata la microscop.

Tabelul 1 – Reactivi des utilizati

Nr.crt. Denumirea si compozitia chimica a Conditii de atac Interpretari si observatii

reactivului
 1. Reactivi generali pentru fonte si oteluri (imbinari sudate)
Acid azotic concentrat (1,40): 15 ml Timpul de atac de la Pune in evidenta constitutia aliajelor
Alcool etilic sau metilic: 100 ml
(Nital 15%)
Acid azotic (1,40): 5ml
Alcool amilic : 100 ml
(Nital 5%)
Reactiv Kurbotov
Acid azotic (1,40): 5 ml
Glicerina : 10 ml
Acid picric: 4g
Alcool etilic sau metilic: 100 ml
(Picral 4%)
Reactiv Adler
Clorura cuprica    amoniacala :3 g
Clorura ferica :    15 g
Apa distilata :    30 ml
Acid clorhidric :50 ml
Reactiv Benedicks
Acid metanitrobenzen sulfuric : 5 ml
Alcool etilic : 100 ml
2. Reactivi generali pentru oteluri aliate (imbinari sudate )
Acid azotic (1,40) : 3 ml
Anhidrida acetica : 2 ml
Acid clorhidric (1,19) : 50 ml
Alcool etilic : 50 ml
Reactiv A.Schrader
Acid picric: 1 g
Acid clorhidric (1,19): 10 ml
Acid azotic (1,40): 10 ml
Alcool etilic : 80 ml
Reactiv Vilella
cateva secunde la un Fe-C intunecand perlita ti dand
minut. Sunt contrast intre coloniile de perlita ,
recomandate atacuri sipunand in evidenta limitele de ferita si
lustruiri succesive. diferentiind ferita de martensita.
Atac la rece sau intre Permite un atac mai uniform al
50..60 s C otelurilor perlitice. Acest reactiv
delimiteaza bine grauntii.
La atacul otelurilor revenite permite sa
se deosebeasca austenita reziduala de
martensita.
Timpul de atac de la Reactiv utilizabil pentru punerea in
cateva secunde la un evidenta a structurilor fine in Fe, otel,
minut. fonte si oteluri slab aliate. Este
avantajos sa se utilizeze dupa un atac
preliminar cu Nital 2%.
Timpul de atac 15 Este potrivit pentru otelurile calite-
secunde revenite. Innegreste martensita mai
puternic decat austenita.Este potrivit in
egala masura pentru atacul fontelor
sudate.
Reactivul se aplica cu Pentru toate otelurile inoxidabile si alte
tampon oteluri cu continut ridicat de nichel si
cobalt.
Este potrivit     pentru atacurile
otelurilor cu Cr si Ni si inoxidabile
Pune in evidenta dimensiunea
grauntilor structurilor martensitice: o
revenire de 15 minute la 230 sC inainte
de atac amelioreaza mult contrastul
.Permite atacul a numeroase oteluri de
tip feritic, aliaje fier-crom-mangan.
Ataca de asemenea limitele dintre
graunti la otelurile austenitice crom-
nichel sudabile.
Acid picric: 1 g
Acid clorhidric (1,19) : 5 ml
Alcool etilic (sau metilic): 100 m
Acid picric : 4 g
Acid clorhidric (1,19): 5 ml
Alcool etilic : 100 ml
Clorura ferica : 10 g
Acid clorhidric (1,19) : 30 ml
Apa distilata : 120 ml
Acid clorhidric (1,19): 5 ml
Apa distilata : 100 ml
±adaos de clorura ferica
Reactivul Kalling
Clorura cuprica : 5 g
Acid clorhidric (1,19): 100 ml
Alcool etilic: 100 ml
Apa distilata : 100 ml
Acid azotic (1,40): 30 ml
Acid clorhidric (1,19) : 40 ml
Apa distilata : 40ml
Acid azotic (1,40): 5 ml
Acid fluorhidric : 1 ml
Apa distilata : 44 ml
3. Reactivi generali pentru aliaje neferoase (imbinari sudate)
Clorura cuprica amoniacala : 8 g
Apa : 100 ml
(se adauga amoniac pana ce
precipitatul care se formeaza se
redizolva)
Este potrivit pentru atacul otelurilor cu
continutridicat de elemente de aliere.
Atacul perlitei si bainitei este intarziat
in timp ce martensita este mai puternic
atacata. Nu este atacata austenita: sunt
bine atacate limitele grauntilor de
autenita, in particular in otelurile Cr-Ni
cu carburi M23C6.
Timp de atac maxim Pentru oteluri inoxidabile sudate si
30 secunde nesudate
Este potrivit pentru atacul fontelor cu
continut de crom si carbon in regiunea
δ.
Pentru a pune in evidenta structura
otelurilor austenitice si feritice. Ferita
este atacata foarte usor, in timp ce
carburile nu sunt atacate. Austenita
este mult atacata , chair daca este
partial descompusa in martensita.
Timpul de atac cateva Pentru punerea in evidenta a
minute. structurilor fine din otelurile
inoxidabile.
Timpul de atac cca. 5 Pentru punerea in evidenta a structurii
minute la rece (in ansamblu) otelurilor inoxidabile
austenitice.
1530 secunde Atac macro si microscopic al fazelor α
si in aliaje de Cu-Zn , al aliajelor Cu-
Zn speciale si in aliaje de Cu-Sn
(bronzuri) . Ataca suprafata grauntilor
si segregatiilor in aliaje.
 Alcool: 50 ml Cateva minute Ataca suprafata grauntilor la cupru.

Acid clorhidric : 3 ml

Clorura ferica : 5 g

Acetat de amil : 50 ml
Clorura ferica : 5 g
Acid clorhidric : 30 ml
Apa : 100 ml
Apa : 100 ml
Solutie saturata de tiosulfat de sodiu :
11 ml
Metabisulfit de potasiu : 44 g
Acid fluorhidric : 0,5 ml
Acid clorhidric: 1,5 ml
5..10 secunde Microstructura la aliajele de Cu
(bronzuri α si δ) , aliaje de Cu cu Al,
aliaje Cu-Zn (alame ( α +β)), aliaje de
tip Monel.
35 minute Segregatia dendritica in aliajele turnate
, aliaje Cu-Zn (alama α si β), aliaje de
Cu (bronzuri α ), aliaje Cu-Ni. Nu este
indicat pentru Cu si aliaje de Cu cu Al
(bronzuri cu aluminiu).
15 secunde Pentru Al si aliajele sale coloreaza
selectiv unii constituenti.

Acid azotic : 2,5 ml

Apa : 95,5 ml
Reactiv Villela 25 minute Microstructura aluminiului si aliajele
cu baza de Al. Ataca limitele
Acid fluorhidric : 20 ml grauntilor.

Acid azotic : 10 ml

Glicerina : 30 ml
Hidroxid de sodiu : 1 g 10 secunde In aliajele cu    baza de Al ataca trei
Apa : 99 ml constituenti.
Acid azotic : 1 ml 1015 secunde spalare Pentru Mg si aliajele cu baza de Mg.
cu apa calda.
Dietilen glicol : 75 ml

Apa : 24 ml
3.Microscopul metalografic este un microscop adaptat pentru examinarea metalelor sau a mineralelor
metalifere opace, prin reflexia luminii pe suprafata lustruita a probelor.
Microscopul metalografic monocular este microscopul prevazut doar cu un ocular, iar cel prevazut cu
doua oculare este binocular.
Principiul constructiv al microscopului metalografic
Principala diferenta dintre microscopul metalografic si cel folosit in biologie (de exemplu) este data de
sistemul de iluminare. Din cauza opacitatii metalelor microscopul metalografic nu primeste in ocular decat
lumina reflectata de suprafata metalului ceea ce necesita o constructie speciala.
Cu alte cuvinte pentru examinarea strcuturii unui material metalic se folosesc microscoape optice in
lumina reflectata.
Modul de formare a imaginii intr-un asemenea aparat reiese din Fig 3.1
 Fig. 3.1
Schema microscopului optic metalografic
Fasciculul de raze emise de catre sursa luminoasa este dirijat catre o lentila si o sticla plana orientata la
45 s. O parte din aceste raze de lumina traverseaza sticla cu fete paralele in timp ce altele trec prin obiectiv,
ilumineaza obiectul de examinat, dupa care lumina reflectata de suprafata acesteia patrunde din nou prin
obiectiv si prin sticla plana dand nastere unei imagini reale marite. Aceasta este reprodusa ulterior de catre
ocular care da o imagine marita suplimentar observata de ochiul omenesc.
Un microscop metalografic se compune din urmatoarele parti:
a) sistemul optic;
b) sistemul de iluminare;
c) sistemul mecanic de reglare
Sistemul optic al microscopului metalografic reprezinta partea cea mai importanta a microscopului fiind
alcatuit din obiective oculare prisme si oglinzi.
Prin obiectiv se intelege o lentila a unui sistem optic (eventual oglinda concava) care formeaza intr-un
instrument optic o imagine reala a obiectului observat.
Ocularul este o lentila (sau un grup de lentile) a unui intrument optic care are scopul si rolul unei lupe si
prin care se priveste cu ochiul imaginea produsa de obiectiv.
In cazul microscopului metalografic atat obiectivul cat si ocularele sunt formate din lentile care se
comporta in ansamblu ca un sistem pozitiv si convergent.
Obiectivul contine o lentila frontala plan-concava care-i determina puterea de marire si o serie de lentile
secundare care au rolul de a elimina defectele aparute la trecerea razelor     de lumina prin lentila frontala .
Imperfectiunile inerente constructiei unei lentile sunt numeroase dar cele mai defavorabile sunt aberatia
cromatica si aberatia de sfericitate.
Aberatia cromatica a unei lentile este produsa de fenomenul de descompunere a luminii albe care trece
prin acea lentila. Aceasta conduce la formarea cate unui focar al lentilei pentru lumina de fiecare culoare
cuprinsa in lumina alba (lumina care contine toate radiatiile spectrului vizibil in astfel de proportii incat sa dea
lumina mijlocie a zilei).
Aberatia cromatica este cauza formarii unor imagini cu marginile colorate in diferite culori ale spectrului
solar.
Aberatia de sfericitate este aberatia unei lentile pe care cade un manunchi larg de raze de lumina.
Razele care vin de la un punct luminos, dupa reflexia lor pe oglinda sau dupa trecerea lor prin lentila, nu
se mai intalnesc intr-un singur punct- imagine, ci in punctele unei figuri luminoase numita caustica lentilei.
Aberatia cromatica poate fi eliminata prin folosirea luminii strict monocromatice (radiatii
electromagnetice de o singura lungime de unda, adica in domeniul vizibil – de o singura culoare) si micsorata
prin construirea obiectivelor cromatice si apocromatice.
Obiectivul acromatic este obiectivul care produce imagini lipsite de margini colorate (se obtine prin
combinatia unei lentile convergente cu una divergenta astfel incat focarul obiectivului sa fie in acelasi punct
pentru lumina galbena si violeta).
Obiectivul apocromatic este obiectivul cu aberatie cromatica corectata pentru tot spectrul fiind utilizate
pentru mariri puternice, cu toate filtrele si cu orice material fotografic.
 Pentru micsorarea (diminuarea) aberatiei de sfericitate se utilizeaza obiective formate din doua lentile
una convexa si alta concava care poseda aberatii de sfericitate egale dar de sens contrar.
Ocularele au rolul de a mari imaginea reala data de obiectiv si de a corecta erorile optice ale acestuia.Ele
pot fi: obisnuite (de tip Huygens), de compensatie si de proiectie. Ocularele obisnuite sunt necorectate si se
folosesc cu obiective acromatice; ocularele de compensatie sunt corectate si se utilizeaza cu obiective
apocromatice; ocularele de proiectie sunt corectate , se intrebuinteaza numai cu obiectivele pentru care sunt
construite si servesc la microfotografiere.
Sistemul de iluminare se compune din sursa de lumina, lentile, filtre colorate si diafragme. Sursa de
lumina poate fi formata dintr-o lupa de incandescenta sau dintr-un arc electric.
Alimentarea sursei de lumina se face prin intermediul unui transformator de tensiune (6 V sau 12V).
Principalele metode de iluminare in metalografie sunt iluminarea verticala sau oblica in camp luminos si
iluminarea in camp intunecat. De asemena se paote folosi lumina polarizata (lumina obtinuta din lumina
naturala prin reflexie sub anumite unghiuri sau prn trecere prin anumite cristale si care corespunde unei radiatii
electromagnetice in care vibratia are loc in aceeasi directie in tot lungul razei de lumina perpendiculara pe
directia razei).
In cazul iluminarii verticale lumina trece prin obiectiv astfel incat fasciculul focalizat atinge suprafata
esantionului sub unghiuri drepte. Suprafetele normale pe axa optica vor reflecta lumina in obiectiv aparand
luminoase in timp ce suprafetele oblice reflecta mai putina lumina in obiectiv, aparand intunecate.
La iluminarea oblica razele incidente cad sub un unghi anumit pe suprafata probei si datorita efectului de
umbra un relief al suprafetei va fi evidentiat mai clar comparativ cu iluminarea verticala.
In cazul iluminarii in camp intunecat, lumina nu trece prin obiectiv fiind dispersata pe o oglinda inelara
sau pe lentile asezate in jurul obiectivului care la randul lor proiecteaza razele luminoase pe suprafata
esantionului intr-o astfel de directie incat zonele orientate perpendicular fata de axa optica nu reflecta lumina in
obiectiv si deci apar intunecate.
Sistemul mecanic de reglare
Microscoapele metalografice au un stativ, un tub vizual, un ecran fotografic, o masuta port-obiectiv,
suruburi micrometrice, toate acestea formand sistemul mecanic de reglare.
Caracteristicile microscopului metalografic
Cele mai importante caracteristici ale unui microscop metalografic sunt puterea de marire; apertura
(deschiderea numerica), puterea de separare si adancimea de patrundere. Aceste caracteristici sunt determinate
de calitatea lentilelor care intra in componenta obiectivelor si ocularelor.
Puterea de marire (M) este egala cu produsul dintre maririle obiectivului Mob si ocularului Moc:
M= Mob+ Moc

Dar marimea obiectivului este data de Mob= 

L= lungimea optica a tubului microscopului.

Puterea de marire a ocularului este Moc= 

unde avem    1 = 250 mm reprezentand distanta vederii normale;
Fob= distanta focala a obiectivului;
Foc = distsanta focala a ocularului.
Apertura (deschiderea numerica) A se defineste ca fiind puterea de strangere a razelor de lumina de catre
lentilele folosite. Cu cat apertura este mai mare cu atat este mai mare posibilitatea obiectivului de a reda
detaliile fine ale esantionului.
Deschiderea numerica A este data de relatia :
A= n sin α ; n = 1,515 (ulei cedru) ; n= 1 (aer)
unde n = indice de refractie al mediului dintre obiect si obiectiv, iar α = unghiul (semiunghiul)
deschiderii conului de lumina .
Teoretic cel mai mare unghi de deschidere posibil al unui obiectiv este 2α = 180 s , insa practic se
ajunge la maxim 144 s.
 Daca se introduce ulei de cedru intre obiectiv si obiectul de examinat , vom avea un indice de refractie
diferit de 1 (care este al aerului).
In aceste conditii apertura obiectivelor obisnuite variaza intre (0,1 -0,3).
Puterea de separare (sau de rezolutie d) reprezinta distanta minima dintre doua puncte ale obiectivului,
puncte care mai apar in imagine insa distinct unul de altul.
Se stie ca pentru ochi puterea de separare (d ) este egala cu 0,2 mm (un ochi foarte bun distinge detalii
ale obiectelor separate printr-o distanta de minimum 0,2 mm).
Pentru un microscop metalografic puterea de separare este dependenta de apertura si de lungimea de
unda :

d=  =   [μm]
= lungimea de unda a luminii utilizate pentru iluminare.
Valoarea rezolutiei maxime rezulta din calculul urmator:

d =  =  = 1900 Å≈0,19 μm
pentru n= 1 (aer)
Adancimea de patrundere sau puterea de separare verticala reprezinta posibilitatea obiectivului de a reda
clar imaginea unor puncte care se gasesc in plane diferite.
Adancimea de patrundere este invers proportionala cu puterea de marire si cu apertura , de aceea
examinarea microscopica la mariri mari trebuie facuta pe probe slab atacate cu reactivi metalografici.
Adancimea de patrundere este invers proportionala cu puterea de marire si cu apertura, de aceea
examinarea microscopica la mariri mari trebuie facuta pe probe slab atacate cu reactivi metalografici.
Utilizarea microscopului optic metalografic
Microscoapele optice nu pot da marimi mai mari de x 1500 deoarece dincolo de aceasta limita cresterea
marii nu mai este insotita de cresterea puterii de separare (de rezolutie) si deci imaginea nu mai poate da
informatii suplimentare.
Destinatia principala a acestor microscoape este cercetarea incluziunilor nemetalice din oteluri, a
granulatiei structurale precum si a naturii, maririi, formei si distributiei constituentilor structurali existenti intr-
un material metalic supus unor procese tehnologice de prelucrare prin turnare, sudare, deformare plastica,
aschiere si tratament termic.
4. Metoda metalografica prin microscopie electronica
Microscopia electronica , o metoda moderna de investigatie s-a dezvoltat pornind de la limitele
microscopiei optice si anume :
rezolutie scazuta;
profunzime de camp mica.
Legat de rezolutie este si marirea maxima care se poate obtine la microscopul optic.
Puterea de separare la un microscop optic este de :

unde λ este lungimea de unda a luminii folosite.

n este indicele de refractie al mediului intre lentila obiectiv si proba
α este ½ din unghiul de deschidere a conului de lumina captat de lentila obiectiv.
A = n sinα reprezinta apertura obiectivului , adica puterea de strangere a razelor.
Deci puterea de separare este dependenta de lungimea de unda a radiatiei folosite cat si de mediul dintre
lentila obiectiv si proba pe de o parte si caracteristicile lentilelor pe de alta parte.

Marirea data microscopului optic este :

unde d1 reprezinta puterea de separare a ochiului omenesc si este egala cu 0,3 mm.
 In general insa trebuie respectata conditia :
Md ≤ d1
S-a constatat ca singura solutie pentru obtinerea unei puteri de rezolutie satisfacatoare este de a lucra cu
lungimi de unda cat mai mici.
Descoperirea dualitatii unda particola a electronului a deschis largi perspective dezvoltarii microscopiei,
ajungandu-se la construirea microscoapelor electronice. Lungimea de unda a electronului se calculeaza tinand
cont de caracterul sau corpuscular ondulatoriu cu relatia:

λ (Ǻ) = 
U fiind tensiunea de accelerare a electronilor.
Deci pe masura cresterii tensiunii de accelerare se micsoreaza lungimea de unda si se imbunatatesc
caracteristicile microscopului.
Datorita acestor lungimi de unda mici se obtin puteri separate net superioare fata de ale microscopului
optic si fata de ale ochiului omenesc. Astfel daca ochiul omenesc are puterea de separare de 3x 10 6 Ǻ,
microscopul optic ce utilizeaza lumina din partea centrala a spectrului vizibil 2 x 10 3 Ǻ, microscoapele
electronice pot atinge puteri de separare intre 30 Ǻ si 3 Ǻ.
Microscoapele electronice sunt asemanatoare microscoapelor optice formand tot imagini de structuri,
deosebirea dintre ele constand in faptul ca in timp ce la microscoapele optice imaginile sunt formate de
fascicule de lumina, la microscoapele electronice, imaginile sunt formate de fascicule de electroni. Obtinerea
imaginilor cu ajutorul fasciculelor de electroni se bazeaza pe proprietatea acestora de a se deplasa in vid in
campuri electrice si magnetice asemanator razelor de lumina in medii cu capacitati de refractie diferite.
Microscopul electronic in esenta are aceeasi alcatuire ca si un microscop optic , bineinteles cu anumite
deosebiri esentiale:
sursa de lumina este inlocuita cu o sursa de electroni;
razele de lumina prin fascicule de electroni;
lentilele de sticla prin lentile electrostatice sau electromagnetice.
4.1 Principiul microscopiei electronice
In esenta microscopia electronica are ca scop     obtinerea de imagini ale probei folosind ca fascicul
excitator electroni accelerati. In Fig. 4.1. se prezinta principalele tipuri de radiatii care sunt implicate in
interactiunea fasciculului de electroni cu proba.

Fig.4.1.
Interactiunea dintre fasciculul de electroni si proba
Electronii emisi (electroni secundari ) sunt electroni smulsi din proba ca rezultat al interactiunii
coulumbiene dintre proba si fasciculul primar de electroni.
Energia lor nu depaseste 50 eV, in majoritatea cazurilor fiind cuprinsa intre 3 si 10 eV. Datorita
energiilor lor cinetice mici acesti electroni pot fi emisi numai de straturile superficiale ale probei , adancimea
pana la care ei pot fi emisi fiind de cca 50 de straturi atomice.
Electronii reflectati se obtin in urma interactiei elastice cu atomi de la suprafata probei, interactiune ce
se realizeaza pe o adancime de maximum 4 μm. La impactul electronilor incidenti cu atomii de la suprafata
probei nu se produce un schimb sensibil de de energie ci numai o imprastiere in toate directiile a electronilor
incidenti motiv pentru care acesti electroni parasesc proba. Acesti electroni sunt electroni reflectati elastic,
numiti si electroni retrodifuzati sau retroimprastiati, energia lor fiind relativ mare, peste 50 eV. Electronii
retroimprastiati se deosebesc de electronii emisi in primul rand prin energia lor.
Electronii transmisi apar doar in cazul probelor subtiri, cu grosimi care nu atenueaza complet fasciculul
incident de electroni. Grosimea limita a probei depinde de tensiunea de accelerare a electronilor si de masa
atomica a substantei (Tabelul 4.1).
Tabelul 4.1 – Grosimi limita ale probelor
Natura A Grosimea limita (μm)
probei (u.a.) 100 KV 200 KV 1000 KV
Aluminiu
Fier
Aur
Otel inox
18/8
A= masa atomica.
Electronii absorbiti sunt acei electroni care raman in proba si care sunt condusi la masa aparatului.
Utilizarea diferentiata a acestor tipuri de radiatii permite construirea mai multor tipuri de microscoape
electronice.
Folosind electronii transmisi prin proba pentru formarea imaginilor se realizeaza microscopia
electronica prin transmisie (MET) , iar cu electronii retroimprastiati si secundari se poate realiza microscopia
electronica prin baleiaj (MEB). Desi s-au construit si alte tipuri de microscoape electronice, cele care s-au
impus in practica curenta de laborator sunt MET si MEB.
In functie de utilizarea acestor electroni vom distinge :
microscoape electronice cu transmisie
microscoape electronice cu reflexie
microscoape electronice cu emisie
Razele X emise de suprafata probei cu electroni permit in cazul microsondei electronice sa se obtina
compozitia chimica a unor microvolume de 1.3 μm3 de la suprafata probei.
Microscopul electronic prin transmisie
Puterea de separare este mai mica decat la microscopul optic, dar totusi este limitata de calitatile
lentilelor si tehnica de pregatire a probelor.
Microscopul electronic prin transmisie functioneaza dupa acelasi principiu ca si microscopul optic, cu
deosebirea ca in locul luminii (λ cca 500 nm) utilizeaza electroni cu lungimi de unda mai mici decat ale luminii
(aprox. 5 . 10 -3 nm)dependente insa de tensiunea de accelerare. Puterea de separare este mai mica decat la
microscopul optic, dar totusi este limitata de calitatile lentilelor utilizate si de tehnica pregatirii probelor
obtinandu-se doar o rezolutie de ordinul 0,2 nm.
In micrscopul electronic de transmisie se utilizeaza lentile electromagnetice. Electroni accelerati generati
de tunul de electroni au in general o energie cuprinsa intre 20-200 KeV, putand ajunge si pana la 1000 KeV, la
unele aplicatii speciale.Tunul de electroni consta dintr-un filament incalzit care emite electroni si un anod
perforat prin care trec electronii accelerati.Fascicolul format este mai departe transmis prin lentila condensor
care focalizeaza electroni pe obiect. Proba constand dintr-o folie subtire de cateva zeci de nm, moduleaza
intensitatea fascicolului care este apoi preluat de lentila obiectiv. Imaginea data de lentila obiectiv este preluata
in continuare de una sau doua lentile care maresc in continuare imaginea si o proiecteaza pe un ecran
fluorescent. Daca in locul ecranului se pune o placa fotosensibila imaginea electronica se poate fotografia.
Pe langa o buna rezolutie , microscoapele electronice prezinta o profunzime de camp care depaseste pe
cea de la microscoapele optice cu un factor de cca 100. Aceasta situatie este deosebit de avantajoasa in cazul
examinarii unor probe puternic denivelate ca acelea rezultate     din ruperea metalelor.
Constructiv, microscopul electronic se compune din urmatoarele parti principale :
 1- coloana microscopului care formeaza in fond microscopul propriu zis. In ea se formeaza fascicolele
de electroni, se aseaza obiectul si se obtine imaginea.
2- stativul microscopului care este partea pe care se fixeaza coloana microscopului. In stativ se gaseste
de obicei instalatia de vid a micrscopului iar uneori si sistemul de alimentare.
3- instalatia de vid necesara pentru functionarea microscopului de cca 10 -5 torr.
4- instalatia de alimentare a microscopului care da tensiunile necesare: tensiunea inalta de accelerare,
tensiunea de alimentare a lentilelor, tensiunea de alimentare a catodului microscopului.
4.3. Pregatirea probelor pentru MET
Pregatirea probelor pentru MET constituie o problema dificila.Progresul general obtinut in domeniul
aplicativ al microscopei electronice este direct legat de perfectionarea metodelor de preparare a probelor.
Metodele de pregatire si cercetare pot fi directe sau indirecte., dupa tipul preparatului si calitatilor sale
mecanice. S-au dezvoltat mai multe tehnici, cum ar fi : tehnica replicilor (replici dintr-o singura treapta, replici
de carbon) si tehnica foliilor subtiri.