Luiz Eduardo Abbade Dalprat Nery 024457

Relatrio EM-740 A Laboratrio de Engenharia dos Materiais

1. EXPERIMENTO: DIFRAO DE RAIOS-X

Os raios-X so emisses eletromagnticas de natureza semelhante luz visvel, porm apresnetando comprimentos de onda muito menores. Seu comprimento de onda vai de 0,05 (5 pm) at centenas de (1 nm) enquanto o da luz visvel vai de 4.000 a 7.000 (400 a 700nm). No entanto, no emprego dos raios-X em tcnicas de difrao, os comprimentos de onda utilizados so os entre 0,5 e 2,5 . A difrao de raios-X uma das principais tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos. Quando os raios-X atigem um material, eles podem ser espalhados de forma elstica, mantendo sua energia e fase mas mudando de trajetria. Se os tomos do material que gera este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemtica, como em uma estrutura cristalina e se o feixe monocromtico de raios-X tiver comprimento de onda com valor prximo ao dos espaamentos entre tais tomos, ento ocorrer interferncia construtiva em algumas direes e destrutiva em outras, gerando a difrao. Se, no entanto, o feixe for direcionado sobre uma estrutura no cristalina, haver uma emisso de raios-X em todas as direes, de forma catica, no ocorrendo a difrao.

Figura 1. Difratograma Alumnio -Podemos verificar os trs primeiros picos em aproximadamente 38o, 45 o e 65 o.

Figura 2. Difratograma Alumnio 90o. -Podemos verificar picos em aproximadamente 38 o, 45 o e 65o.

Figura 3. Difratograma Sal Light. -Podemos verificar picos em aproximadamente 27 o, 28 o e 32o.

Figura 4. Difratograma Sal Comum. -Podemos verificar picos em aproximadamente 27o, 32 o e 45o.

Figura 5. Difratograma NaCl PA. -Podemos verificar picos em aproximadamente 32 o, 45 o e 75o.

Figura 6. Difratograma Cobre. -Podemos verificar picos em aproximadamente 44 o, 51 o e 74o.

Para descrevermos as estruturas cristalinas , encontramos o fator de empacotamento (f) atravs da equao: f = sin 1 / sin 2 e verificamos o valor de f: se f = 0,5, ento tratase de uma estrutura cbica de corpo centrado e se f = 0,75 ento trata-se de uma estrutura cbica de face centrada. Realizando os clculos, obtemos: Alumnio:CFC Sal Comum: CCC NaCl PA: CCC Cobre: CFC Sal Light: No satisfaz nenhuma das condies A intensidade dos picos de difrao est ligada densidade de tomos, e como o plano {200} tem maior densidade atmica do que o plano {111} podemos observar que a intensidade do segundo pico maior que a primeira. Comparando os difratogramas, podemos observar que no difratograma do sal comum, os picos so definidos e de maior intensidade mxima, no NaCl PA, ainda h uma boa definio dos picos, porm j com uma intensidade menor, e por ltimo, o sal light apresenta uma grande quantidade de picos que no existem nos outros difratogramas, devido presena de mais de um composto e que a intensidade dos picos bem menor que nos outros dois casos.