Mtodos analticos utilizados

5. MTODOS ANALTICOS UTILIZADOS

Os mtodos analticos utilizados na caracterizao qumica de amostras geolgicas so variados. Os mtodos clssicos, como a gravimetria, a volumetria e outros, exigem tempos e recursos humanos intensivos, e os seus limites de deteco no respondem s exigncias impostas na actualidade. Assim, estes mtodos foram sendo substitudos por mtodos instrumentais como a espectrometria de absoro atmica com chama (FAAS), com cmara de grafite (GFAAS) e com gerao de hidretos (GFAAS), a espectrometria de emisso com plasma indutivo (ICP-AES), a espectrometria de massa acoplada a plasma indutivo (ICP-MS), entre outros. Os mtodos instrumentais, apesar de exigirem um forte investimento em equipamento de custo elevado, o qual amortizado pela poupana em recursos humanos (devido automatizao) e reagentes, permitem alargar a escala de concentrao dos elementos at nveis da ordem de grandeza dos ppm, ppb ou mesmo ppt (Fig. 5.1.).

QUMICA CLSSICA FAAS ICP-AES GFAAS

ICP-MS

-10

-9

-8

-7

-6

-5

-4

-3

-2

-1

1 ng/L

1 !g/L

1 mg/L

1 g/L

Fig. 5.1. Capacidade analtica de alguns mtodos: espectrometria de absoro atmica com chama (FAAS), espectrometria de absoro atmica com cmara de grafite (GFAAS), espectrometria de absoro atmica com gerao de hidretos (GFAAS), espectrometria de emisso com plasma indutivo (ICP-AES), espectrometria de massa acoplada a plasma indutivo (ICP-MS) e qumica clssica. Adaptado de Slavin (1992), Hall (1996) e Canto Machado (2002a).

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5.1. ESCOLHA DO MTODO ANALTICO A escolha do mtodo analtico apropriado para a caracterizao das amostras em estudo foi realizada de forma criteriosa, tendo em considerao alguns dos seguintes factores (Slavin, 1992): o tipo de informao que se pretendia obter; a quantidade de amostra disponvel e a proporo do(s) constituinte(s) a analisar; a exactido e a preciso do mtodo analtico; as interferncias analticas e o seu controlo; as dificuldades com possveis contaminaes; o tempo necessrio para analisar cada amostra; o custo da anlise de cada elemento por amostra. Cada mtodo possui um campo de aplicabilidade mais ou menos especfico e, para que a sua utilizao seja a mais adequada, fundamental o conhecimento dos princpios dos fenmenos fsicos presentes, as vantagens e, sobretudo as limitaes mais relevantes de cada um deles, de forma a serem criadas as condies experimentais necessrias para a sua aplicao. Na FAAS, a amostra, previamente convertida num fino aerossol, introduzida na mistura de gases que alimentam a chama produzida num queimador laminar. As tentativas de minimizar as elevadas perdas de amostra durante a fase de nebulizao e o reduzido tempo de permanncia dos tomos na chama, condicionam drasticamente a sensibilidade do mtodo, tornando-o inadequado para aplicaes quantitativas na gama dos g/L (ppb). Este mtodo apresenta, portanto, limites de deteco demasiado altos para algumas aplicaes. O ICP-AES dispe de um sistema de deteco de radiao que permite determinar, numa s amostra e rapidamente, um elevado nmero de elementos. Os limites de deteco que se conseguem atingir so da ordem de grandeza ou um pouco inferiores aos conseguidos por FAAS, mas mais elevados do que os alcanados com GFAAS (Tyler, 1991, 1995). Podemos afirmar que o ICP-AES tem vantagens reais sobre a AAS quando existe um processamento de grande nmero de amostras e determinao de vrios elementos em cada amostra. Alm disso, o ICP-AES tem ainda sobre a FAAS a vantagem de permitir a obteno de melhores limites de deteco para elementos refractrios (por exemplo: alumnio, titnio, zircnio). Em contrapartida, o ICP-AES tem a desvantagem de ser uma tcnica menos adequada determinao dos elementos mais volteis (como: arsnio, bismuto, germnio, ndio, chumbo, antimnio, selnio, estanho e telrio), sendo estes analisados por HGAAS.
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Tambm, os limites de deteco obtidos para elementos do grupo I (por exemplo: sdio, potssio) so, geralmente, melhores por FAAS do que por ICP-AES. A tcnica de ICP-AES tem boa aplicabilidade na anlise de elementos como o boro, o berlio, o ltio, o fsforo, o enxofre e o silcio. No campo econmico, o custo da instrumentao do ICP-AES mais elevado do que a de AAS, sobretudo o sistema de operao que bastante mais dispendioso, principalmente devido ao consumo de rgon (13-18 L/min) (Tyler, 1991; Jarvis & Jarvis, 1992; Slavin, 1992; Ure et al., 1992; Tyler, 1995). O Laboratrio de Espectrometria do DCT-UM dispe de dois espectrmetros: um de emisso com plasma indutivo e outro de absoro atmica, com gerador de hidretos e com cmara de grafite. Assim, para a execuo deste trabalho, que envolve o processamento de um grande nmero de amostras e de determinaes de vrios elementos em cada amostra, foi, inicialmente, escolhido o mtodo de ICP-AES. Dado que os valores de concentrao de alguns elementos eram muito baixos e difceis de detectar por este mtodo, foi tambm necessrio escolher o mtodo de HGAAS para a anlise de arsnio e de antimnio, e o mtodo de GFAAS para a anlise de chumbo. A implementao dos mtodos analticos por espectrometria atmica e a sua aplicao ao tipo de amostras a manusear, obrigou a um conhecimento aprofundado dos mtodos em questo, sendo necessrio a consulta de referncias bibliogrficas diversas. Em seguida, apresenta-se uma sntese dos fundamentos dos mtodos utilizados.

5.2. FUNDAMENTOS DA ESPECTROMETRIA ATMICA 5.2.1. ORIGEM DOS ESPECTROS ATMICOS Quando se fornece a um tomo energia suficiente para ocasionar a passagem dum electro do nvel energtico E0 para o nvel E*, a transio pode ocorrer e, assim, o tomo absorve uma quantidade de energia (E = E*-E0) (Fig. 5.2.). As formas como a energia cedida so diversas: trmica, elctrica, entre outras.

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E*
ABSORO EMISSO

E0
Fig. 5.2. Esquema das transies de absoro e emisso de energia por um tomo.

O tempo de vida do tomo no estado excitado da ordem de grandeza dos nanossegundos, pelo que os electres passam de E* a E0. Para que esta transio ocorra, necessrio que o tomo ceda a energia correspondente diferena E*-E0, a qual pode ser emitida na forma de radiao. Esta caracterizada por uma frequncia, comprimento de onda e nmero de onda dados por

E*-E0 = h ! = hc / = hc v (1)
em que ! a frequncia (s-1 ou Hz), o comprimento de onda (m) e v o nmero de onda (m-1) da radiao emitida, c a velocidade da luz (2,9979x108 m/s) e h a constante de Planck (h = 6,63x10-34 Js) (Potts, 1987; Lajunen, 1992). Expresso idntica a (1) utilizada na relao entre a energia de transio e a frequncia da radiao, quando em lugar da emisso ocorre a absoro atmica. Na figura 5.2. esto esquematizados os dois processos. A populao de tomos nos diferentes nveis atmicos depende da energia cedida e da natureza do elemento, ou seja, da diferena E*-E0. Embora o processo de absoro seja basicamente o inverso da emisso existe uma diferena fundamental: a absoro apenas observada a partir do estado fundamental.

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5.2.2. CARACTERSTICAS DAS RISCAS ESPECTRAIS A intensidade das riscas e, portanto, a sensibilidade do mtodo, depende do nmero de tomos que existe no nvel a partir do qual se d a transio. A relao entre o nmero de tomos que existem no estado excitado, N*, e no estado fundamental, N0, para uma dada temperatura dada pela lei de Boltzmann (Potts, 1987; Lajunen, 1992):

N = N0 (P*/P0) exp
em que N* e N0 P* e P0 E* e E0 T K

" $! $ #

E !E
(

KT

% ' ' &

(2)

(*) n de tomos no estado excitado; (o) n de tomos no estado fundamental; Factores estatsticos que dependem do nmero de estados degenerados de energia, associados a um dado nvel quntico; Energias associadas nos estados excitado e fundamental (em Joule); Temperatura absoluta do sistema (K) (fonte atomizadora); Constante de Boltzmann (1,38 x 10-23 J/K).

A lei de Boltzmann permite estimar a intensidade de uma risca espectral atravs do clculo da populao atmica num dado nvel energtico (Potts, 1987). A intensidade da risca espectral (proporcional a N*) de um dado elemento, para um dado comprimento de onda ( = hc/( E* - E0)) e uma dada temperatura (T), proporcional ao nmero de tomos desse elemento no estado fundamental, por unidade de rea da fonte atomizadora (N0) (Canto Machado, 2002b). Os dois mtodos analticos, absoro atmica e emisso atmica, so possveis, baseados na circunstncia de que, a uma dada temperatura da ordem de grandeza de alguns milhares de graus, existem tomos no estado fundamental e no estado excitado. Os primeiros esto em condies de absorver energia, por exemplo, fornecida por uma radiao de frequncia ressonante com a transio electrnica respectiva, dando origem absoro atmica; os segundos para emitirem radiao, dando origem emisso atmica.

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5.2.3. MTODOS DE ESPECTROMETRIA ATMICA ESTUDADOS Os mtodos de espectrometria atmica utilizam a radiao electromagntica que absorvida ou emitida pelos tomos da amostra. Atravs destes, possvel obter informaes das amostras em estudo, quer a nvel qualitativo, quer a nvel quantitativo. A informao qualitativa fornecida pelo comprimento de onda no qual a radiao absorvida ou emitida e a informao quantitativa fornecida pela quantidade de radiao electromagntica que absorvida ou emitida (Boss & Fredeen, 1989; Csuros & Csuros, 2000). Os mtodos de espectrometria estudados so: Espectometria de Absoro Atmica (Atomic Absorption Spectrometry - AAS) A radiao de comprimento de onda caracterstico do elemento em estudo emitida atravs do vapor atmico. Os tomos do elemento absorvem alguma desta radiao. A quantidade de radiao absorvida por estes tomos medida e usada para determinar a concentrao do elemento na amostra em estudo (Boss & Fredeen, 1989; Csuros & Csuros, 2000). Espectometria de Emisso Atmica (Atomic Emission Spectrometry - AES) A amostra submetida a altas temperaturas, causando no s a dissociao dos tomos, mas tambm, uma quantidade de colises, que provocam a excitao (ou ionizao) dos tomos da amostra. Uma vez que os tomos se encontram em estados de energia superiores (estados excitados), a tendncia voltar a estados de mais baixa energia, emitindo energia. A intensidade da radiao, emitida num comprimento de onda especfico, medida e usada para determinar a concentrao do elemento em estudo (Boss & Fredeen, 1989; Csuros & Csuros, 2000).

5.3. ESPECTROMETRIA DE EMISSO COM PLASMA INDUTIVO (ICP-AES) O mtodo de espectrometria de emisso com plasma indutivo tem subjacente o fenmeno de excitao de tomos ou ies livres no estado gasoso e a consequente emisso de radiao electromagntica, ocasionada pelo retorno das espcies excitadas ao seu estado de mais baixa energia, o estado fundamental.

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5.3.1. PROCESSO DE ATOMIZAO O fenmeno de excitao ocorre por mudanas dos nveis de energia dos electres perifricos, facto que determina a converso prvia de uma amostra lquida ou slida em vapor atmico: a atomizao da amostra (Boss & Fredeen, 1989; Jarvis & Jarvis, 1992). Este processo encontra-se esquematizado na figura 5.3. A amostra introduzida no plasma sob a forma de aerossol. O aerossol transportado para a zona aquecida, onde rapidamente submetido dessolvatao (remoo do solvente da amostra lquida), volatilizao para nveis moleculares e dissociao em tomos, dos quais alguns so ionizados. O vapor atmico resultante do processo de atomizao de uma amostra fundamentalmente constitudo por tomos gasosos no estado fundamental de energia. Simultaneamente, uma fraco desses tomos excitada ou ionizada, produzindo-se uma mistura gasosa de tomos e ies em vrios estados de energia. A emisso produzida pelo regresso dos tomos e ies excitados que voltam ao estado fundamental medida na cauda do plasma usando um espectrmetro ptico (Jarvis & Jarvis, 1992).

Ies Ioniza o tomos Dissocia o Molculas Volatiliza o Partculas Dessolvata o Aerossol Nebuliza o Soluo Amostra

Ies excitados tomos excitados Molculas excitadas

Emisso Inica Emisso Atmica Emisso Molecular

Fig. 5.3. Esquema do processo de atomizao (adaptado de Jarvis & Jarvis, 1992).

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Assim, o espectro de emisso relativo a um dado elemento constitudo por um conjunto de riscas, s quais esto associadas transies entre nveis de energia electrnica. A cada risca corresponde uma energia bem definida, que pode ser caracterizada pelo seu comprimento de onda (equao (1), item 5.2.1.). A temperatura da fonte atomizadora (plasma) exerce um efeito drstico sobre a razo do nmero de tomos nos estados fundamental e excitado, podendo o efeito deste parmetro ser quantificado atravs da equao de Boltzmann (equao (2), item 5.2.2.). O nmero de tomos no estado excitado representa sempre uma fraco diminuta do nmero de tomos no estado fundamental presentes na fase atomizadora, tendo sido estimado um valor de 2%, para temperaturas normais de um plasma. A relao I = Kc, onde I a intensidade da risca espectral seleccionada e c representa a concentrao analtica do elemento na soluo aspirada, cuja verificao indispensvel para que o fenmeno de emisso atmica possa ser utilizado em anlise quantitativa, s ocorre em condies de estabilidade da temperatura da fonte atomizadora e do caudal de aspirao das amostras, exigindo igualmente uma elevada qualidade do aerossol produzido.

5.3.2. FORMAO E CARACTERSTICAS DE UM PLASMA DO TIPO INDUTIVO A fonte de energia que assegura a passagem das amostras lquidas ao estado de vapor atmico o plasma, sendo este por definio um volume luminoso de um gs raro parcialmente ionizado (Jarvis & Jarvis, 1992), facto que lhe confere propriedades de condutor da corrente elctrica. O plasma utilizado de rgon, sendo a conduo de corrente elctrica assegurada pelos ies positivos de rgon e pelos electres libertados no decorrer da ionizao. O plasma uma fonte de calor que pode atingir temperaturas de 10000 K. O plasma do tipo indutivo (fig. 5.4.) gerado por uma fonte de radiofrequncia que cria campos electromagnticos (onde o rgon flui) induzidos numa espiral de cobre, montada em torno do topo da tocha de quartzo (Jarvis & Jarvis, 1992; Riddle, 1993).

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Fig. 5.4. Esquema de um plasma do tipo indutivo: (1) fluxo de gs principal (coolant), (2) fluxo de gs auxiliar (auxiliary), (3) fluxo de gs do nebulizador (nebulizer) e amostra, sob forma de aerossol, (4) tocha de quartzo, (5) campo de radiofrequncia. Adaptado de Riddle (1993).

A tocha compreende trs tubos concntricos atravs dos quais passa rgon. Uma radiofrequncia (de 27 ou 40 MHz) aplicada espiral de cobre produz um campo electromagntico na parte da tocha localizada dentro da espiral. Uma descarga elctrica, aplicada atravs de um fio metlico que se encontra em contacto com a tocha, ocasiona a ignio do plasma. Os electres formados no decurso da ignio do plasma so acelerados, mediante o campo magntico gerado na bobine de cobre, colidindo com os tomos de rgon que atravessam a tocha, produzindo ies Ar+ e electres livres. Colises adicionais causam um aumento do nmero de tomos de rgon ionizados, resultando a formao do plasma, que se mantm indefinidamente, desde que o campo magntico no seja cortado. O rgon circula pelos trs tubos concntricos da tocha. O fluxo de gs principal (coolant, normalmente com um caudal de 15 L/min), flui na parte exterior da tocha e fornece a maioria do rgon que forma o plasma, fazendo tambm com que este no toque nas paredes da tocha (para evitar que esta derreta). O fluxo de gs auxiliar (auxiliary, normalmente com um caudal de 0,75 L/min), flui no tubo intermdio e controla a posio do plasma na parte frontal da tocha. O fluxo de gs do nebulizador (nebulizer, de caudal varivel, sendo os valores normais de 1 L/min), flui atravs do nebulizador, cmara de nebulizao e tubo de injeco da amostra no centro da tocha, conduzindo o aerossol ao centro do plasma

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(Farnsworth, 1993). Uma vez inserida no centro do plasma, a amostra vaporizada, atomizada e ionizada. Um plasma do tipo indutivo apresenta trs zonas distintas de temperatura (Fig. 5.5.): a bola de fogo, a regio secundria e a cauda, as quais exibem propriedades qumicas e fsicas, bem como caractersticas de emisso muito diferentes (Thompson & Walsh, 1989; Jarvis & Jarvis, 1992; Canto Machado, 1995).

Fig. 5.5. Zonas distintas de temperatura de um plasma do tipo indutivo: (1) bola de fogo, (2) regio secundria, (3) cauda. Adaptado de Thompson & Walsh (1989).

A bola de fogo a zona mais quente do plasma, exibindo uma temperatura da ordem de 10000 K, onde a energia transferida atravs da interaco do fluxo de rgon com o campo magntico. a regio mais luminosa que exibe um intenso espectro contnuo, no podendo ser usada para fins quantitativos. A regio secundria localiza-se por cima da bola de fogo, exibindo ainda valores muito altos de emisso de fundo e, portanto, inadequada para aplicaes analticas. A cauda, praticamente invisvel na ausncia de aspirao das amostras, caracterizada por uma emisso de fundo mais baixa, sendo normalmente utilizada para fins analticos. Na zona de utilizao analtica, a cauda exibe uma temperatura da ordem de 6200-6500 K (Potts, 1987).

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A temperatura do plasma controlada pela potncia fornecida pelo gerador de radiofrequncia, pelo caudal seleccionado para o coolant e pela presso do rgon no nebulizador. A estabilidade da temperatura do plasma muito importante na utilizao desta fonte para fins analticos.

5.3.3. INSTRUMENTAO A instrumentao bsica de um espectrmetro de emisso com plasma indutivo encontra-se representada na figura 5.6.

Fig. 5.6. Esquema de um equipamento de espectrometria de emisso com plasma indutivo: (1) rgon, (2) amostra, (3) bomba peristltica, (4) nebulizador, (5) cmara de nebulizao, (6) dreno, (7) tocha, (8) gerador radiofrequncia, (9) espectrmetro, (10) detector-PMT, (11) microprocessador, (12) computador. Adaptado de Boss & Fredeen (1989).

As amostras so introduzidas no centro do plasma mediante a formao prvia de um aerossol de finas dimenses, gerado normalmente por um sistema pneumtico, constitudo por uma bomba peristltica e um nebulizador. A amostra passa para a cmara de nebulizao, onde so removidas as partculas de aerossol grandes, apenas a fraco inferior a 5 m libertada para a tocha e o restante enviado para o dreno. S cerca de 2 % de soluo de
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amostra original entra na tocha. A amostra introduzida no plasma sob a forma de aerossol, ocorrendo instantaneamente a atomizao e a excitao dos tomos a presentes, com emisso de radiao proveniente do retorno das espcies excitadas ao seu estado de mais baixa energia (Boss & Fredeen, 1989; Csuros & Csuros, 2000). O feixe de radiao emitido separado nos comprimentos de onda que o constituem, atravs de monocromadores. Os monocromadores devem ter caractersticas especiais em termos de disperso e resoluo (Fig. 5.7.), de forma a tornar possvel uma seleco de riscas com um mnimo de interferncias. O sistema mais utilizado constitudo por uma rede de difraco em escala (echelle grating) associada a um prisma (Lajunen, 1992).

Fig. 5.7. Comparao da resoluo de um monocromador convencional (1) e um monocromador Echelle (2). Adaptado de Lajunen (1992).

A radiao luminosa seleccionada convertida em corrente elctrica atravs de fotomultiplicadores (PMT), sendo este sinal tratado em computador de modo a relacion-lo com a concentrao do analito.

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Sistema ptico O espectrmetro usado no Laboratrio de Espectrometria do tipo Echelle (Fig. 5.8.).

Fig. 5.8. Sistema ptico: (1) fonte, (2) espelho, (3) fenda de entrada, (4) espelho colimador, (5) rede de difraco, (6) prisma/lente, (7) espelho plano, (8) chapa de abertura, (9) fenda de sada, (10) detector PMT. Adaptado de Philips Scientific (1990).

A fonte de luz proveniente do plasma acoplado indutivamente controlada por um espelho, o qual foca a imagem do plasma na fenda de entrada. O espelho move-se, sob controlo do computador, para fazer o varrimento da imagem do plasma atravs do eixo X e Y, visando a seleco da melhor posio do plano para anlise. Depois da luz passar atravs da fenda de entrada, reflectida por um espelho colimador para a rede de difraco. A rede de difraco dispersa a luz por comprimentos de onda. A luz difractada entra no prisma/lente. O resultado um empilhamento bi-dimensional das ordens, com todos os comprimentos de onda bem separados no espao, produzindo uma alta resoluo. O prisma tambm actua como uma lente, refocando a luz no detector, pela fenda de sada. O espelho plano envia a luz para a chapa de abertura com milhares de fendas de sada. O detector PMT mede a intensidade da radiao (Philips Scientific, 1990).

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5.3.4. INTERFERNCIAS Em espectrometria de emisso com plasma indutivo, as interferncias podem ser classificadas em interferncias espectrais e em interferncias de matriz. Estas ltimas, podem ser divididas em vrios tipos: fsicas, qumicas e de ionizao (Canto Machado, 2002b).

Interferncias espectrais A complexidade do espectro de emisso propicia o aparecimento de interferncias espectrais, produzindo falsos valores de concentrao das espcies em anlise. Por vezes, observam-se bandas de emisso provenientes de espcies moleculares gasosas em certas regies do espectro, que podem ser atribudas a espcies como: OH, N2, NH, O2, SiO. Estas bandas de emisso podem resultar do alargamento de riscas espectrais de elementos que se encontram nas amostras em concentrao muito elevada. Outras vezes, verifica-se a emisso de uma radiao contnua, devida recombinao de ies de rgon, ou de outros elementos, com os electres livres que existem no plasma. Durante o trabalho analtico, fcil ocorrer uma sobreposio total ou parcial de riscas (Fig. 5.9.) referentes a elementos diferentes (Lajunen, 1992). Os espectros de riscas, emitidos pelas espcies atmicas neutras ou ionizadas, so constitudos por um nmero muito varivel de riscas, funo do tipo de elemento emissor, pelo que a sua sobreposio pode acontecer.

Fig. 5.9. Interferncia espectral da linha do alumnio na determinao de cdmio (adaptado de Lajunen, 1992).

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Durante o trabalho, as interferncias espectrais foram minimizadas mediante a seguinte conduta: consulta de tabelas de comprimentos de onda de ICP para despiste de riscas adjacentes; obteno de varrimentos em torno da risca, com aspirao de solues de elevado grau de pureza de outros elementos e do branco; escolha de riscas alternativas para eliminar a sobreposio de riscas; seleco da posio dos correctores de fundo para eliminar a influncia da emisso de fundo e de bandas moleculares; introduo de correctores matemticos.

Interferncias de matriz As interferncias de matriz so provocadas por todos os constituintes da amostra, que no o elemento em estudo, podendo ocasionar o aparecimento de depresses ou sobrecargas nos valores da concentrao do analito. As interferncias de matriz subdividem-se em vrios tipos, podendo ser fsicas, qumicas e de ionizao. As interferncias fsicas perturbam as fases de introduo da amostra, produo e transporte do aerossol, tamanho da gota, afectando a eficincia da nebulizao. Estes factores alteram de forma significativa a performance do plasma, provocando uma diminuio drstica das intensidades das riscas. Este tipo de interferncia provm da viscosidade, da tenso superficial e da tenso de vapor das amostras e da presena de compostos orgnicos nas mesmas, sendo as interferncias mais difceis de eliminar. Durante o trabalho analtico, estas interferncias foram minimizadas atravs da preparao cuidada das solues padro de calibrao, onde foram reproduzidas as matrizes das amostras nos padres (concentrao e tipo de cido, etc.). As interferncias qumicas ocorrem durante o processo de atomizao e dificultam a produo de tomos livres do elemento a dosear. So causadas pelo aparecimento de espcies refractrias.

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Em emisso de plasma, este tipo de interferncia minimizado devido atmosfera inerte em que o processo de atomizao ocorre e s temperaturas muito elevadas da fonte. As interferncias de ionizao perturbam o equilbrio entre os tomos e ies de cada um dos elementos, sendo provenientes da presena de espcies facilmente ionozveis. Durante o trabalho analtico, este tipo de interferncia foi minimizado atravs da reproduo da matriz das amostras nas solues padro de calibrao. Este tipo de interferncia tambm poderia ser minimizado atravs da uniformizao da matriz, pela adio s amostras e aos padres de uma quantidade importante (cerca de 10 g/L) de um sal de um elemento facilmente ionizvel (cloreto de ltio, csio ou rubdio) de qualidade suprapur, a fim de serem evitadas contaminaes adicionais. As interferncias de matriz so tambm minimizadas mediante alteraes de alguns parmetros instrumentais: modificaes da presso do rgon no nebulizador e no caudal de aspirao das amostras (minimizam efeitos da matriz no transporte e qualidade do aerossol); modificaes da potncia e do caudal do coolant (quando a matriz induz uma alterao da temperatura do plasma); escolha da zona do plasma onde so medidas as intensidades das riscas (permitindo a remoo dos efeitos de matriz que advm da presena de um elemento em grande excesso).

5.3.5. VANTAGENS E PROBLEMAS Em seguida, enunciam-se algumas vantagens e alguns dos problemas mais comuns associados ao mtodo de ICP-AES (Riddle, 1993; Canto Machado, 1994; Tyler, 1995; Csuros & Csuros, 2002).

Vantagens: existncia de vrias linhas espectrais intensas para quase todos os elementos; baixos limites de deteco devido a razes pico/fundo geralmente favorveis; interferncias de matriz geralmente fracas para solues diludas; relaes lineares para uma ampla gama de concentraes, sendo possvel determinar elementos principais e vestigiais a partir da mesma soluo de amostra;

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boa repetibilidade para todos os elementos (0,5-5 %); permite anlises rpidas multi-elementares.

Problemas: interferncias espectrais; interferncias fsicas causadas por variaes de viscosidade e de tenso superficial; interferncias qumicas causadas por formao de compostos moleculares, efeitos de ionizao e efeitos termoqumicos associados vaporizao e atomizao da amostra no plasma; limites de deteco demasiado altos para algumas aplicaes; no o mtodo adequado para anlise de solues com mineralizaes superiores a 1,5 g/L, com concentraes de cido iguais ou superiores a 10 %, ou em meio orgnico.

5.4. ESPECTROMETRIA DE ABSORO ATMICA COM GERAO DE HIDRETOS (HGAAS)

A espectrometria de absoro atmica fundamenta-se na absoro de radiao electromagntica, na zona do visvel e ultravioleta, por tomos neutros, no estado gasoso (isolados) e no estado fundamental. A espectrometria de absoro atmica com gerao de hidretos baseia-se na formao, por reduo, de hidretos covalentes volteis do elemento a determinar, os quais so posteriormente atomizados e analisados. Na gerao de vapor qumico, o analito separado da matriz da amostra pela gerao de espcies gasosas como resultado de uma reaco qumica. A GFAAS aplica-se a elementos que formam hidretos covalentes volteis, como: arsnio (As), bismuto (Bi), germnio (Ge), ndio (In), chumbo (Pb), antimnio (Sb), selnio (Se), estanho (Sn), telrio (Te) e mais recentemente o cdmio, o tlio e o cobre (Ure et al., 1992; Hill et al., 1995; Welz & Sperling, 1999).

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5.4.1. PROCESSO DE ATOMIZAO O processo de atomizao com gerao de hidretos engloba as seguintes fases: 1 Gerao de hidretos; 2 Transferncia dos hidretos para o atomizador; 3 Decomposio dos hidretos com formao de tomos do elemento no estado gasoso. Nas primeiras aplicaes da GFAAS, foi usado como agente redutor o zinco metlico em cido diludo (cido clordrico ou cido sulfrico). Contudo, este redutor apresentava algumas desvantagens: a reaco de reduo era lenta e s era aplicvel reduo de arsnio (Godden & Thomerson, 1980). A adio ao zinco metlico de uma soluo de iodeto de estanho (II) ou iodeto de potssio melhora os resultados. Com este processo de reduo conseguem-se reaces de reduo mais rpidas do que no caso anterior, mas a tcnica s aplicvel determinao de arsnio e selnio. A utilizao de uma mistura de cloreto de titnio (III), cido clordrico, magnsio e zinco como agentes redutores, satisfatria para a determinao de antimnio, bismuto e telrio (Godden & Thomerson, 1980; Lajunen, 1992). O agente redutor mais utilizado no mtodo de gerao de hidretos o tetrahidroborato de sdio (NaBH4, tambm designado de borohidreto de sdio). A introduo deste reagente como redutor conduziu a uma ntida mudana neste mtodo analtico (Braman et al., 1972). Usando este redutor, Schmidt & Royer (1973) determinaram o antimnio, o arsnio, o bismuto e o selnio, Pollock & West (1973) determinaram o germnio e Fernandez (1973) optimizou as condies de trabalho para estes elementos e tambm para o telrio e o estanho. Thompson & Thomerson (1974) relataram com sucesso a determinao do chumbo usando este redutor e ainda aumentaram para oito o nmero de metais que podem ser determinados por este mtodo. Nos ltimos anos, tem sido tambm relatada a vaporizao do cdmio (Cacho et al., 1989), do tlio (Ebdon et al., 1995) e do cobre (Sturgeon et al., 1996). Este agente redutor apresenta as seguintes vantagens (Godden & Thomerson, 1980; Lajunen, 1992): permite que a reaco ocorra em sistema homogneo; permite que a reaco seja mais rpida e eficaz do que com outros redutores usados com a mesma finalidade; aplica-se determinao de numerosos elementos; apresenta baixos nveis de branco.

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As solues de tetrahidroborato de sdio so muito instveis, decompondo-se rapidamente em meio cido. A adio de NaOH (ou de KOH) a estas solues numa concentrao de 0,1 %, permite mant-las estveis durante cerca de uma semana (Knechtel & Fraser, 1978; Unicam, 1991). Quando se mistura uma soluo do elemento a analisar com a soluo alcalina de tetrahidroborato de sdio em meio cido, ocorre imediatamente a oxidao do anio tetrahidroborato a cido brico e a formao de hidreto do elemento (E): 8E x+ (aq) + Na+ (aq) + nBH4- (aq) + HCl (l) + nH3O+ (aq) + 2nH2O (l) nH3BO3 (aq) + 8EHn (g) + NaCl (aq) O excesso de anio tetrahidroborato sofre tambm decomposio em cido brico e diidrognio: BH4- (aq) + H3O+ (aq) + 2H2O (l) H3BO3 (aq) + 4H2 (g) Os hidretos volteis so arrastados da soluo para a cmara de atomizao (neste caso, o tubo de quartzo) com o auxlio de uma corrente de gs inerte, geralmente rgon. O hidrognio excedente auxilia, tambm, o transporte de hidretos. O mecanismo pelo qual se processa a atomizao do elemento a partir dos seus hidretos no bem conhecido. Inicialmente pensou-se que a passagem ao estado de vapor atmico se dava por simples decomposio trmica do hidreto. Mas, o mecanismo de decomposio de hidretos parece ser muito mais complicado. Estudos efectuados sobre a decomposio de hidretos de arsnio e selnio levaram a concluir que o mecanismo pelo qual ocorre esta decomposio envolve a coliso do hidreto com radicais livres de hidrognio (Dedina & Rubeska, 1980; Weltz & Melcher, 1983; Welz & Sperling, 1999):

EHn (g) + H (g) EHn-1 (g) + H2 (g)

EH (g) + H (g) E (g) + H2 (g)

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Mtodos analticos utilizados

A presena de concentraes apreciveis de radicais H no atomizador pode resultar da ocorrncia de uma reaco envolvendo oxignio molecular (presente na mistura gasosa) e hidrognio molecular, a temperaturas superiores a 600 C, tendo sido proposto o seguinte mecanismo (Weltz & Melcher, 1983):

H (g) + O2 (g) OH (g) + O (g)

O (g) + H2 (g) OH (g) + H (g)

OH (g) + H2 (g) H2O (l) + H (g)

Outros autores, Santosa et al. (1990), admitem a hiptese de o hidreto ser oxidado pelo oxignio e dar origem a tomos gasosos do elemento (E) a determinar e a gua:

EHn (g) + (n/4)O2 (g) E (g) + (n/2)H2O

Clculos termodinmicos, efectuados para o arsnio e para o selnio, revelaram que, em certas condies experimentais, pode ocorrer polimerizao do elemento (Weltz & Melcher, 1983). A polimerizao afecta as medies, pois provoca diminuio do sinal. Para evitar a formao de polmeros deve-se reduzir o tempo de residncia do hidreto no atomizador, usando um fluxo de gs inerte.

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Mtodos analticos utilizados

5.4.2. INSTRUMENTAO A instrumentao bsica de um espectrmetro de absoro atmica com gerao de hidretos encontra-se representada na figura 5.10.
(2) (1) (3)

(8) (4)

(5) (6) (7) (20) (10) (11) (13) (12) (15) (14) (19)

(9)

(18) (17) (16)

(21)

Fig. 5.10. Esquema de um equipamento de HGAAS: (1) fonte de radiao: lmpada de ctodo oco, (2) chama, (3) cmara de atomizao: tubo de quartzo em forma de T e aberto nas extremidades, (4) queimador, (5) cmara de nebulizao, (6) gases, (7) dreno, (8) monocromador, (9) detector, (10) soluo de redutor (borohidreto de sdio), (11) soluo de cido, (12) soluo de amostra, (13) vlvula de selenide, (14) bomba peristltica de dois canais, (15) gs inerte (rgon ou azoto), (16) detector de fluxo, (17) vlvula de regulao, (18) indicador do fluxo de gs, (19) vaso de reaco, (20) tubo de ligao ao atomizador (21) dreno. Adaptado de Potts (1987) e Unicam (1991).

A gerao de hidretos realizada em sistema de fluxo contnuo. Neste sistema, a produo de hidretos d-se continuamente, num vaso apropriado, que alimentado por fluxos constantes de amostra acidificada e redutor. A amostra e os reagentes so aspirados por intermdio de uma bomba peristltica, sendo a amostra misturada com o cido e o redutor (borohidreto de sdio). A mistura segue para um separador gs-lquido, onde o hidreto retirado da soluo aquosa com auxlio de um gs de purga. A mistura gasosa segue para o tubo de quartzo (cmara de atomizao). Os produtos da reaco gasosos no so tomos de analito livres, mas hidretos volteis. No tubo de quartzo (atomizador) aquecido pela chama
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Mtodos analticos utilizados

d-se a dissociao dos hidretos volteis em tomos livres do analito. O tubo de quartzo aquecido pela chama de ar-acetileno e a amostra no misturada com estes gases. A energia trmica a energia de atomizao dos hidretos. A integrao do sinal no tempo permite obter resultados bastante precisos (Unicam, 1991; Riddle, 1993). A atomizao ocorre num tubo de quartzo, em forma de T e aberto nos extremos, que aquecido pela chama. Este tipo de atomizao tem a vantagem de permitir que o elemento a analisar, no estado de vapor atmico, tenha um tempo de residncia mais longo no percurso ptico do que quando introduzido directamente na chama, o que aumenta a sensibilidade do mtodo. necessrio realar que a superfcie do tubo de quartzo parece exercer um papel importante na sensibilidade, pois, embora o mecanismo de atomizao no seja bem conhecido, admite-se que intervenha como catalizador no processo de formao de radicais livres, favorecendo a atomizao (Weltz & Melcher, 1983; Parisis & Heyndrickx, 1986).

5.4.3. INTERFERNCIAS

Interferncias espectrais A principal vantagem do mtodo de gerao de hidretos permitir a separao do analito da matriz. O analito passa para o atomizador como hidreto gasoso, enquanto que, os possveis interferentes, normalmente, permanecem no vaso de reaco. Neste mtodo, as interferncias espectrais so praticamente excludas (Lajunen, 1992). Interferncias cinticas As interferncias cinticas so causadas pela alterao das velocidades de formao e libertao dos hidretos da soluo. O uso da integrao do pico da rea, como alternativa ao uso do pico em altura, pode ajudar a eliminar as interferncias cinticas. O volume de soluo de amostra pode ter uma influncia importante na sensibilidade. Os hidretos so libertados mais facilmente de volumes pequenos do que de volumes grandes de amostra. Contudo, na prtica, esta situao no problema, desde que os volumes de amostra usados sejam constantes (Lajunen, 1992). Durante o trabalho analtico, este tipo de interferncia foi minimizado atravs do uso de volumes constantes de amostra.
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Mtodos analticos utilizados

Interferncias qumicas Os cidos, geralmente, apresentam uma pequena influncia nos elementos que formam hidretos, excepto no selnio e no estanho. O cido fluordrico causa interferncias a concentraes relativamente baixas, pelo que deve ser evaporado antes de se proceder determinao. O cido clordrico e o cido ntrico apenas diminuem o sinal a concentraes relativamente altas (Lajunen, 1992). Para a maioria dos elementos que formam hidretos, o uso de cido clordrico a concentraes entre 5 a 20 % garante uma rpida, homognea e quantitativa reaco com o tetrahidroborato de sdio (Unicam, 1991). Durante o trabalho, na anlise qumica do arsnio e do antimnio, foi usado cido clordrico numa concentrao prxima de 10 %. Os metais alcalinos, os metais alcalino-terrosos, o alumnio, o titnio, o vandio, o crmio, o mangans e o zinco no interferem com a determinao de elementos que formam hidretos. As principais interferncias qumicas so causadas por elementos dos grupos 8, 9, 10 e 11 da tabela peridica. Um catio metlico de transio presente no gerador de hidretos pode ser reduzido pelo tetrahidroborato de sdio e precipitar (Lajunen, 1992).

5.4.4. VANTAGENS E PROBLEMAS Em seguida, enunciam-se algumas vantagens e alguns dos problemas mais comuns associados ao mtodo de HGAAS (Milner & Whiteside, 1984; Potts, 1987; Viets & O'Leary, 1992; Csuros & Csuros, 2002). Vantagens: permite a separao do elemento da matriz; interferncias de matriz praticamente nulas; limites de deteco baixos. Problemas: poucos elementos geram hidretos estveis; depende de vrios parmetros, como o estado de oxidao do analito, o tempo de reaco, a presso do gs, a concentrao e o volume da soluo, e a temperatura da clula.

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5.5. ESPECTROMETRIA DE ABSORO ATMICA COM CMARA DE GRAFITE (GFAAS) A espectrometria de absoro atmica com cmara de grafite tambm designada de espectrometria de absoro atmica com forno de grafite ou com atomizao electrotrmica. Na atomizao electrotrmica, a amostra introduzida no forno ou cmara de grafite, a qual submetida a um aquecimento progressivo previamente programado (Riddle, 1993). A temperatura da cmara sobe medida que se aumenta a diferena de potencial aplicada nos extremos da cmara ou seco transversal, sendo o calor desenvolvido por efeito de Joule. A caracterstica mais importante da atomizao electrotrmica o facto dos tomos permanecerem no atomizador por um perodo relativamente longo ( 1s), o que torna a tcnica mais sensvel do que a atomizao em chama.

5.5.1. PROGRAMA DE TEMPERATURAS O desenvolvimento de um mtodo de anlise por absoro atmica com cmara de grafite inicia-se, habitualmente, pelo estudo do programa de temperaturas. A quantidade de amostra introduzida no sistema varia de 1 a 100 microlitros. Esta pode ser introduzida no tubo de grafite com o auxlio de uma micropipeta ou usando um sistema de amostragem automtico (Viets & O'Leary, 1992). No Laboratrio de Espectrometria do DCTUM utiliza-se um sistema de amostragem automtico. Recorre-se a este sistema, pois difcil injectar manualmente e de forma reprodutvel quantidades to pequenas de amostra. Os sistemas de amostragem automtica tambm permitem maior produtividade devido automatizao das calibraes, diluies e injeces sequenciais da amostra. A injeco da amostra no interior do tubo de grafite uma etapa muito importante, que ir interferir na qualidade dos resultados. Se a posio do capilar no interior do tubo de grafite no for a correcta (Fig. 5.11.), a reprodutibilidade e a sensibilidade obtidas no sero as melhores (ATI Unicam, 1995).

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Capilar Demasiado Afastado

Capilar Demasiado Pr ximo

Capilar Correcto

Fig. 5.11. Posicionamento do capilar do amostrador automtico no interior do tubo de grafite,

visualizao atravs de um sistema de vdeo incorporado no espectrmetro de absoro atmica (adaptado de ATI Unicam, 1995).

Durante o trabalho, utilizou-se um espelho de dentista para a visualizao da formao, deposio e aquecimento da gota. Nos sistemas mais avanados de absoro atmica possvel incorporar um sistema de vdeo, que permite a monitorizao em tempo real e contnuo desta fase e das seguintes, de um modo mais rpido e seguro. O programa de temperaturas escolhido depende do elemento a analisar e da matriz da amostra.

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Mtodos analticos utilizados

Um programa tpico compreende quatro patamares de temperatura (Fig. 5.12.).

Fig. 5.12. Programa de temperaturas tpico de atomizao electrotrmica: 1 - secagem, 2 calcinao ou pirlise, 3 - atomizao, 4 limpeza. Adaptado de Lajunen (1992).

1. Secagem O principal objectivo desta fase a secagem da amostra pela remoo do solvente. Tal, conseguido com um aquecimento a temperaturas superiores ou prximas das temperaturas de ebulio do solvente. Este aquecimento no pode ser brusco, dado que a amostra pode ser espalhada pelo tubo, com implicaes directas na diminuio de sensibilidade e reprodutibilidade dos resultados. Assim, por vezes, so usadas rampas de aquecimento, sendo seleccionado o tempo necessrio para secar lentamente o solvente. 2. Calcinao ou pirlise Esta fase tem como objectivo a eliminao dos componentes da matriz. Para tal, tenta-se atingir a mxima temperatura possvel sem eliminar o analito. Em alguns casos, para se conseguir melhor sensibilidade, altera-se a qumica da amostra mediante a incorporao de modificadores qumicos.

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3. Atomizao Esta fase a mais importante em termos analticos. Num curto perodo de tempo, o tubo de grafite levado temperatura de atomizao, que varia de elemento para elemento, e influenciada pela matriz. O sinal transiente, rpido e ser integrado pelo computador. 4. Limpeza Para evitar o efeito de memria entre as amostras, aplica-se, durante um tempo de 2 a 3 segundos, uma temperatura elevada. Assim, sero eliminados os restos de analito no atomizado ou xidos difceis de vaporizar.

5.5.2. INSTRUMENTAO A instrumentao bsica de um espectrmetro de absoro atmica com cmara de grafite encontra-se representada na figura 5.13.

Fig. 5.13. Esquema de um equipamento de GFAAS: (1) amostrador automtico, (2) capilar com amostra, (3) tubo de grafite/forno, (4) amostra, (5) fonte de radiao: lmpada de ctodo oco, (6) potncia de abastecimento do forno, (7) monocromador, (8) detector. Adaptado de Riddle (1993).

A amostra introduzida, com o auxlio de um capilar, na cmara de grafite, sendo submetida a um aquecimento progressivo.
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O atomizador de cmara de grafite encontra-se representado na figura 5.14., sendo composto basicamente pelos seguintes elementos: tubo de grafite, ligaes elctricas, armazenamento de gua fria e fluxo de gs interno e externo.
(2) (3) (4)

(3)

(2)

(1) (7)

(5) (3)

(6)

(3)

Fig. 5.14. Atomizador de cmara de grafite: (1) janela, (2) fluxo de gs interno, (3) fluxo de gs externo, (4) local de injeco da amostra, (5) contactos de grafite, (6) tubo de grafite, (7) feixe de luz. Adaptado de Csuros & Csuros (2002).

Os componentes de grafite encontram-se revestidos interna e externamente por um fluxo de gs, rgon (ou azoto), que minimiza a oxidao do forno de grafite e previne a formao de xidos metlicos. O fluxo de gs tambm purga os vapores gerados pela matriz das amostras (Viets & O'Leary, 1992; Csuros & Csuros, 2002).

5.5.3. Caracterizao do material da cmara de atomizao A escolha cmara de atomizao (cuvete) de extrema importncia para a obteno de bons resultados analticos. Antes de iniciar o trabalho analtico, foi efectuado um estudo aprofundado sobre este tema, uma vez que as amostras em estudo apresentam uma matriz muito complexa, exigindo o uso de cmaras de atomizao de boa qualidade. Os principais parmetros a que devem obedecer os materiais utilizados no fabrico da cmara de atomizao so, entre outros (Morton & Roberts, 1993): condutividades trmica e elctrica elevadas; inrcia qumica; nveis baixos de impurezas metlicas; baixa porosidade;

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expanso trmica baixa e rigidez elevada; ponto de fuso elevado. Entre os materiais disponveis, a grafite o que mais se aproxima destas especificaes. Para o fabrico dos atomizadores, a grafite produzida a partir de carvo misturado com agentes ligantes tais como resinas fenlicas, resina de pinheiro ou alcatro. Fazem-se extruses do material, que depois aquecido lentamente at 1300 C em atmosfera inerte. Nestas condies, o material de ligao queimado, formando-se carbono slido amorfo, que duro e quebradio. Para obter grafite ainda necessrio efectuar um processo de electrografitizao, em que o carbono amorfo aquecido, por efeito de Joule, a 3000 C, formando-se ento um verdadeiro material de grafite com as caractersticas acima referidas. As cmaras fabricadas deste modo designam-se por cmaras de electrografite (CEG) (Morton & Roberts, 1993). Para reduzir a porosidade da electrografite, que responsvel por perdas importantes de determinando durante o perodo de atomizao e por ocluses de xidos e carbonetos refractrios, recorre-se, normalmente, ao recobrimento piroltico da mesma, obtendo-se as chamadas cmaras pirolticas (CP) (Morton & Roberts, 1993). A figura 5.15. mostra a diferena entre o carcter poroso e desordenado da electrografite e a estrutura regular do recobrimento.

Fig. 5.15. Fotografia da estrutura da grafite piroltica sobre electrografite (adaptado de Lajunen, 1992).

O material piroltico tem baixa permeabilidade gasosa e boa resistncia qumica ao ataque. L'vov (in Morton & Roberts, 1993) mostrou que as perdas de vapor de determinando se reduziam de 33% em CP relativamente CEG, o que faz aumentar o tempo de residncia dos tomos na cmara e, portanto, a sensibilidade do mtodo. Alm disso, as CP resistem 10
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vezes mais oxidao, bem como a outros ataques qumicos, reduzindo a formao de carbonetos. Porm, apresentam o inconveniente do revestimento ir desaparecendo progressivamente, expondo a electrografite. No sentido de melhorar algumas caractersticas das cmaras, surgiram, nos ltimos anos, as cmaras totalmente pirolticas (CTP). Na figura 5.16. encontra-se representada uma seco de uma cmara totalmente piroltica.

Fig. 5.16. Fotografia de uma seco de uma cmara totalmente piroltica (adaptado de Lajunen, 1992).

Na figura 5.17. mostram-se os sinais referentes atomizao nos diferentes tipos de cmara.

Fig. 5.17. Sinais referentes atomizao, a 2800 C, de uma quantidade de Pt em (1) CTP, (2) CP e (3) CEG. Adaptado de Lajunen (1992).

No trabalho desenvolvido foram usadas cmaras ou cuvetes de electrografite revestidas piroliticamente / ELC (Extended Life Cuvette).

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5.5.4. INTERFERNCIAS Em GFAAS, as interferncias podem ser classificadas em fsicas e qumicas. Alteraes na introduo da amostra, sinais de background (absoro no especfica) e efeitos de memria podem originar efeitos de interferncia fsica. As interferncias qumicas podem ser causadas por reaco do analito com os componentes da matriz, com o material do tubo ou com o gs inerte (Lajunen, 1992).

Interferncias fsicas As situaes mais problemticas quanto a interferncias fsicas ocorrem quando as amostras apresentam viscosidades ou tenses superficiais muito diferentes das solues padro usadas na calibrao. Nestas condies, podem ocorrer diferenas nos volumes efectivamente injectados ou diferenas no modo de disperso das solues durante a fase de secagem do processo de atomizao. Para minimizar estes problemas, deve-se proceder, conforme os casos, prvia destruio total ou parcial da matriz ou, apenas, diluio da mesma. Durante o trabalho, este tipo de interferncia foi minimizado atravs da diluio da matriz das amostras. A absoro no especfica ou absoro de fundo ocorre muito frequentemente em GFAAS. A existncia, no atomizador, de outras espcies que absorvem radiao (absores moleculares) no mesmo comprimento de onda do determinando originar resultados analticos inexactos, se no for feita a devida correco. Para eliminar este tipo de interferncias, que so particularmente importantes na regio do UV, o equipamento de absoro atmica existente no Laboratrio de Espectrometria do DCT-UM dispe de um sistema de correco de fundo muito eficaz. Os efeitos de memria so devidos a uma atomizao incompleta ou a uma m limpeza do tubo, podendo ocorrer um aumento da resposta do analito em anlises posteriores. Este efeito minimizado usando temperatura elevada de atomizao e de limpeza do tubo, ou seleccionando tempos longos para estas fases (Lajunen, 1992). Durante o trabalho, este tipo de interferncia foi minimizado atravs do uso de temperaturas de atomizao e de limpeza elevadas.

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Interferncias qumicas A interferncia qumica mais frequente a formao de monohalogenetos gasosos, provenientes da matriz da amostra. Tal facto resulta da presena de halogenetos, em particular cloretos, na maioria das amostras que so analisadas por AAS, nomeadamente as de origem geolgica. Os efeitos de interferncia qumica resultam da existncia de quantidades elevadas de anio cloreto na amostra, o qual origina a formao de cloretos volteis do determinando, parte dos quais se podem perder na fase de pirlise e cuja dissociao na fase de atomizao incompleta, afectando, portanto, a absoro do determinando. O principal meio de minimizar ou mesmo eliminar este tipo de interferncias o uso de modificadores qumicos. Os modificadores qumicos so frequentemente usados com o objectivo de remover as interferncias de matriz. desejvel que a matriz seja mais voltil que o analito, para que durante a fase de pirlise todos os componentes da matriz da amostra sejam volatilizados e os tomos de analito no sejam perdidos (Csuros & Csuros, 2000). Assim, o principal objectivo do modificador qumico estabilizar o analito para altas temperaturas e tornar possvel a remoo dos interferentes antes da fase de atomizao do analito (Bermejo-Barrera, 1996). Mas, para que um modificador seja aceite, deve cumprir uma srie de requisitos: (1) ser efectivo para um grande nmero de analitos, (2) exibir ou causar baixa absoro de fundo, (3) no reduzir o tempo de vida dos tubos de grafite, (4) ter elevada pureza, (5) ter baixa toxicidade, (6) ter robustez de aco, (7) ser eficaz no programa de temperatura escolhido (Schlemmer & Welz, 1986; Bermejo-Barrera, 1996; Volynsky, 1998). Neste trabalho foi desenvolvido um mtodo para determinao de chumbo em sedimentos fluviais por espectrometria de absoro atmica com cmara de grafite, usando como modificador qumico o dihidrogenofosfato de amnio ((NH4)H2PO4). Uma srie de substncias tm sido propostas para serem usadas como modificadores qumicos na determinao de chumbo por GFAAS. Os mais comuns so: (NH4)H2PO4 (Slavin et al, 1984); mistura de paldio + nitrato de magnsio (Pd+Mg(NO3)2) (Schlemmer & Welz, 1986); hidrogenofosfato de amnio ((NH4)2HPO4) (Lajunen, 1992); Mg(NO3)2 (Miller-Ihli & Greene, 1993); Pd e seus compostos (Xiao-Quan & Bei, 1995; Bermejo-Barrera, 1996); mistura de paldio+nitrato de estrncio (Bin & Zhe-Ming, 1996); paldio/magnsio (Pd/Mg), cido oxlico (Carbon & Le Bihan, 1996); misturas de nquel+paldio+cido tartrico e de

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nquel+platina+cido tartrico (Acar et al., 1999); mistura de tungstnio (W)+paldio+cido tartrico (Acar et al., 2000); (NH4)H2PO4, NH4NO3, H3PO4, MgNO3, LaCl3, cido ascrbico, cido oxlico (Csuros & Csuros, 2000); mistura de nquel+paldio+dihidrogenofosfato de amnio (Ni+Pd+(NH4)2HPO4) (Acar, 2001); paldio coloidal (Volynsky et al., 2001); cido fluordrico (Carbon, 2002); grupo metais de platina (platinum group metals, PGMs): paldio (Pd), platina (Pt), rdio (Rh), rutnio (Ru) e irdio (Ir) (Volynsky, 2004). Os sedimentos, sendo amostras de matriz complexa, so difceis de tratar e analisar. Os modificadores qumicos propostos para serem usados na determinao de chumbo por GFAAS neste tipo de amostras so: Pd (Bermejo-Barrera, 1996), mistura de escndio+paldio+nitrato de amnio (Sc + Pd + NH4NO3) (Acar, 2005), entre outros. O (NH4)H2PO4 foi escolhido como modificador qumico pois reduz os efeitos de matriz, desempenhando uma dupla funo. O anio fosfato forma, com o elemento em estudo, fosfatos termicamente estveis, os quais constituem tambm um factor inibidor de perdas de determinando na fase de pirlise. Segundo Slavin et al. (1984), o fosfato estabiliza o chumbo para temperaturas elevadas.

5.5.5. VANTAGENS E PROBLEMAS Em seguida, enunciam-se algumas vantagens e alguns dos problemas mais comuns associados ao mtodo de GFAAS (Riddle, 1993; Canto Machado, 1994; Tyler, 1995; Csuros & Csuros, 2002). Vantagens: permite o doseamento de todos os elementos, com concentraes de g/L, directamente sobre as amostras; limites de deteco muito baixos; necessita de volumes mnimos de amostra. Problemas: interferncias de matriz; interferncias de background; gama de concentrao de trabalho muito restrita; altamente vulnervel a fenmenos de contaminao.

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5.6. VALIDAO E CONTROLO DA QUALIDADE DOS MTODOS ANALTICOS A qualidade analtica de uma metodologia detalhadamente avaliada na fase da sua montagem e optimizao atravs do processo de validao do mtodo, forma genrica de designar todas as averiguaes efectuadas de molde a demonstrar que o mtodo, nas condies em que praticado, exibe as caractersticas necessrias para fornecer resultados com qualidade adequada para os fins a que se destinam. A validao de uma metodologia consiste no estudo detalhado do processo subjacente sua implementao (Wells, 1998). Green (1996) define a validao como o processo de reconhecimento de que um mtodo analtico aceitvel para os objectivos projectados. O grau de confiana nos resultados fornecidos pelo mtodo analtico expresso em termos de probabilidade estatstica, a qual definida durante o processo de validao. Este processo conduz a critrios de aceitao/rejeio dos resultados obtidos. Na validao dos mtodos analticos escolhidos foram estudados vrios parmetros como a linearidade e a gama analtica, o limite de deteco e de quantificao, a preciso, a exactido e a selectividade (Taylor, 1981; Keith et al., 1983; Taylor, 1983; Nicholson, 1989; IPQ, 2000; Castro, 2004). Os laboratrios devem estabelecer um sistema rigoroso de controlo de qualidade. No trabalho desenvolvido foi efectuado o controlo da qualidade, de modo a garantir e controlar a exactido dos resultados (controlo de qualidade externo) e garantir e controlar a preciso dos mesmos (controlo de qualidade interno) (IPQ, 2000; Castro, 2004).

5.6.1. PARMETROS ESTUDADOS NO PROCESSO DE VALIDAO DOS MTODOS

5.6.1.1. LINEARIDADE E GAMA ANALTICA

A linearidade e a gama analtica foram definidas atravs do traado de curvas de calibrao, sendo utilizado o valor do coeficiente de correlao (r), para avaliar o grau de linearidade dos pontos experimentais. Este valor, para uma recta traada com um branco e pelo menos trs padres, deve apresentar valores iguais ou superiores a 0,9990 (Castro, 2001).

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Nos mtodos analticos estudados foi usada a tcnica de anlise quantitativa com recta de calibrao, sendo efectuado um controlo apertado das seguintes etapas: seleco do comprimento de onda mais apropriado; definio da zona linear de trabalho; definio da zona de concentraes de trabalho, consoante as concentraes previstas para as amostras; preparao cuidada das solues padro de calibrao; tratamento das amostras (diluio ou pr-concentrao), quando necessrio, por forma a que as suas concentraes se encontrem dentro da gama de concentraes dos padres; traado dirio da recta de calibrao; controlo da recta de calibrao durante o perodo de trabalho, atravs do uso de dois padres de controlo (dos dois pontos extremos da recta) e do branco, no caso de gama baixa, para controlo das contaminaes; uso de padres de controlo independentes dos de verificao da calibrao. O critrio de aceitao estabelecido para este parmetro nos mtodos estudados foi o seguinte: coeficiente de correlao 0,9995, conjuntamente com a representao e a visualizao grfica da recta de calibrao.

5.6.1.2. LIMITE DE DETECO E LIMITE DE QUANTIFICAO

A estimativa destes parmetros ainda objecto de discusso, no se encontrando, actualmente, o seu clculo devidamente uniformizado. Encontram-se vrios tipos de modelos passveis de serem usados na determinao do limite de deteco (LD) e do limite de quantificao (LQ) (Thompson, 1992; Miller & Miller, 1993; Kaus, 1998; IPQ, 2000). Do ponto de vista analtico, a presena de uma espcie num sistema pode ser encarada de forma qualitativa, se for conhecida a quantidade mnima que pode ser detectada, ou de forma quantitativa, se for conhecida a quantidade mnima que pode ser determinada com exactido e reprodutibilidade, aplicando a metodologia seleccionada. O LD corresponde ao incio da zona em que possvel distinguir com confiana estatstica (95%) o sinal do branco do sinal da amostra, sendo possvel indicar se o analito
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Mtodos analticos utilizados

est ou no presente. A gama entre LD e LQ considerada como sendo uma zona de deteco qualitativa. O LQ usado como incio da zona de deteco quantitativa (IPQ, 2000). Assim sendo, o valor mnimo de concentrao, usado para marcar a fronteira entre a deteco qualitativa e as medies quantitativas, fornecido pelo LQ (Funk et al., 1995). Na figura 5.18. evidenciam-se as trs principais zonas analticas.

ZONA 1 Desconhecida

ZONA 2 Anlise Qualitativa

ZONA 3 Anlise Quantitativa

Sinal Medido

LD

LQ

Fig. 5.18. As trs principais zonas analticas (adaptado de Curie, 1968).

Os limites de deteco foram estimados usando a expresso: LD = x0 + 3,3 s0 onde x0 representa, no mnimo, o valor mdio de 30 leituras de branco e s0 o respectivo desvio padro (IPQ, 2000). Os limites de quantificao foram estimados usando a expresso: LQ = x0 + 10 s0 onde x0 representa, no mnimo, o valor mdio de 30 leituras de branco e s0 o respectivo desvio padro (IPQ, 2000). Na determinao dos limites de deteco e de quantificao, nos vrios mtodos usados e para cada elemento estudado, foram efectuados, no mnimo, 30 ensaios com um branco representativo (ensaios preparados de forma independente e lidos ao longo de vrios dias).

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Mtodos analticos utilizados

5.6.1.3. PRECISO

A preciso corresponde concordncia entre os resultados obtidos por aplicao do mesmo mtodo de ensaio, vrias vezes em condies definidas. Actualmente o termo preciso tem sido substitudo pelos dois termos seguintes: repetibilidade e reprodutibilidade (Relacre, 1996; Castro, 2004). A repetibilidade mede o grau de variabilidade dos valores numricos encontrados para a mesma amostra, no decurso de vrios ensaios realizados em condies semelhantes, como por exemplo: mesmo laboratrio, operador e equipamento, durante um curto espao de tempo (Relacre, 1996; Castro, 2004). A reprodutibilidade mede o grau de variabilidade dos valores numricos encontrados para a mesma amostra, no decurso de vrios ensaios realizados em condies diferentes, como por exemplo: dias diferentes (Relacre, 1996; Castro, 2004). quantitativamente avaliada atravs do desvio padro associado mdia de um conjunto de ensaios independentes, sendo expressa em desvio padro relativo (DPR) ou relative standard deviation (RSD). DPR = RSD = (s/ x ) 100 % onde x o valor mdio do conjunto de resultados e s o desvio padro associado (Castro, 2004). Trata-se de um parmetro estatstico que quantifica a incidncia de erros acidentais ou aleatrios num dado resultado analtico. Estes erros ocorrem de acordo com as leis do acaso e so responsveis pelo aparecimento de uma disperso de valores isolados em torno do valor mdio respectivo. A reprodutibilidade de um mtodo ser tanto melhor quanto menor for o valor do desvio padro relativo, uma vez que a disperso dos resultados em torno do valor mdio mais reduzida. O critrio de aceitao estabelecido para este parmetro nos mtodos estudados foi o seguinte: DPR para padres de calibrao 5 %; DPR para amostras < 10 %.

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Mtodos analticos utilizados

As leituras referentes s solues de brancos, aos padres e s amostras foram efectuadas em triplicado.

5.6.1.4. EXACTIDO

A exactido de um mtodo fornece uma medida da aproximao entre o resultado experimental e o verdadeiro valor da grandeza que est a ser avaliada. Expressa-se em termos de um erro relativo associado mdia de um conjunto de resultados experimentais ( x ), quando comparada com o verdadeiro valor ( x ref.): Erro relativo = [( x - x ref. ) / x ref.] 100 %

podendo exibir um sinal negativo quando o valor experimental inferior ao valor verdadeiro e sinal positivo na situao inversa (Castro, 2004). A exactido de um mtodo, ou de um resultado, est condicionada pela existncia de erros sistemticos, que se manifestam sempre da mesma maneira, para um dado conjunto de ensaios independentes. Os erros sistemticos obedecem a causas determinadas e conduzem ao aparecimento de resultados significativamente afastados do seu valor verdadeiro. Este tipo de erros pode ser classificado em trs categorias: erros instrumentais, onde so includas a m calibrao do material e as avarias parciais do equipamento; erros operativos, onde so includos alguns erros dos analistas e erros de mtodo, associados a interferncias de ordem variada, existncia de reaces secundrias no processo analtico. Os erros sistemticos pem em causa a veracidade do resultado experimental, provocando o seu afastamento relativamente ao verdadeiro valor presente na amostra analisada. Estes erros podem ser minimizados pela utilizao de ensaios em branco e pela aplicao da mesma metodologia na preparao das solues padro de calibrao. A exactido dos mtodos analticos estudados foi avaliada pela anlise de materiais de referncia certificados (MRCs) e pelo uso de ensaios de recuperao.

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Mtodos analticos utilizados

5.6.1.5. SELECTIVIDADE

A selectividade do mtodo a capacidade deste para identificar e distinguir um determinado analito numa mistura complexa, sem interferncia de outros componentes (Castro, 1999). Este parmetro foi devidamente controlado pela anlise de amostras adicionadas do analito, pela anlise de padres puros, onde foram introduzidas quantidades conhecidas de possveis interferentes.

5.6.2. CONTROLO DA QUALIDADE INTERNO

O controlo da qualidade interno permite controlar continuamente a preciso dos resultados. Este controlo deve ser baseado em (IPQ, 2000; Castro, 2004): uso de materiais de referncia internos (MRIs); uso de tcnicas complementares de controlo da qualidade, como: a anlise de ensaios de brancos em paralelo com as amostras, as anlises em duplicado, o uso de padres de controlo, os ensaios de recuperao, o uso do mtodo de adio padro, o controlo de curvas de calibrao, a comparao de resultados obtidos por diferentes tcnicas analticas, entre outras; uso de cartas de controlo estatstico.

5.6.2.1. MATERIAIS DE REFERNCIA INTERNOS (MRIs)

Os materiais de referncia internos (MRIs) podem ser: uma amostra de controlo (de um lote reservado para essa finalidade), um padro de matriz ajustada com as amostras ou um padro semelhante (mas independente dos de calibrao) (IPQ, 2000; Castro, 2004).

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Mtodos analticos utilizados

Os MRIs usados, no decorrer do trabalho, eram padres de controlo, independentes dos de calibrao, com uma concentrao dentro da gama analtica estudada. O uso destas solues permitiu avaliar a variabilidade da metodologia e controlar a calibrao. Durante este trabalho, foi efectuada a anlise do MRI aps cada calibrao e entre cada conjunto de nove amostras analisadas no mesmo dia.

5.6.2.2. ENSAIOS DE BRANCOS

A utilizao de ensaios de brancos uma ferramenta de controlo da qualidade interno, que deve ser utilizada com o objectivo de avaliar a incidncia de contaminaes provenientes do material, dos reagentes e da atmosfera do laboratrio, e tambm de todo o processo de manipulao. O ensaio em branco contm todos os reagentes, excepto a amostra, e submetido em paralelo a todo o processo analtico das amostras. A limpeza e a descontaminao de todo o material de laboratrio, usado no decurso dos ensaios, de grande importncia dado que os teores dos elementos a determinar podem ser facilmente alterados por possveis fontes de contaminao. O material utilizado foi submetido a um processo de descontaminao, por contacto demorado com cido ntrico diludo (20 %) e, posteriormente, estabilizado com gua de qualidade tipo I (resistividade elctrica de 18 M.cm). Sempre que possvel foi usado material descartvel de qualidade. Todos os compostos adicionados s amostras ou utilizados na preparao de padres so fonte potencial de contaminao. A gua utilizada na preparao das solues deve ser ultrapura, de qualidade tipo I e todos os reagentes usados durante a anlise devem ser de qualidade suprapur ou equivalente. Neste trabalho, estes critrios foram devidamente seguidos. As condies ambientais em que as anlises so efectuadas devem ser cuidadosamente ponderadas, uma vez que a existncia de vapores e poeiras na atmosfera do laboratrio pode contribuir para alterar a concentrao de certos elementos vestigiais. Assim sendo, importante que o ar do laboratrio seja o mais limpo possvel. Os ensaios de brancos permitem, tambm, controlar (indirectamente) o limite de deteco e/ou de quantificao.

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Mtodos analticos utilizados

Durante este trabalho, foi efectuado um ensaio de branco para cada conjunto de amostras analisadas no mesmo dia.

5.6.2.3. ENSAIOS EM DUPLICADO

Os ensaios em duplicado so uma ferramenta muito importante de controlo da qualidade interno, pelo que devem estar sempre presentes em qualquer ensaio de quantificao. Este ensaio consiste na preparao, independente, de dois ensaios da mesma amostra. Os ensaios em duplicado fornecem informao adequada sobre a homogeneidade das amostras em estudo, o modo como decorreram as fases prvias de preparao das amostras e o estado de descontaminao do material usado. Quando so avaliados em diferentes calibraes analticas ainda fornecem informaes sobre a estabilidade do sistema instrumental durante a fase de quantificao. Para duas preparaes diferentes da mesma amostra, a coerncia dos resultados encontrados foi avaliada mediante o clculo de um afastamento percentual entre dois valores experimentais: % Afastamento = [(C1-C2) / ((C1+C2)/2)] 100

onde C1 e C2 so as concentraes lidas no mesmo dia referentes a duas preparaes, independentes, da mesma amostra. O critrio de aceitao estabelecido para este parmetro nos mtodos estudados foi o seguinte: Afastamento entre duplicados 10 %. Durante este trabalho, foi efectuada a anlise de, pelo menos, um ensaio em duplicado entre cada conjunto de nove amostras analisadas no mesmo dia.

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Mtodos analticos utilizados

5.6.2.4. ENSAIOS DE RECUPERAO

A realizao sistemtica de ensaios de recuperao outra ferramenta que deve ser utilizada, com o fim de identificar possveis casos em que as matrizes das amostras causam o aparecimento de situaes de depresso dos sinais dos analitos. O aumento adequado da concentrao dos elementos presentes nas amostras, pela adio de uma alquota do analito com concentrao conhecida, proporciona informao fivel acerca de possveis interferncias de matriz. A escolha da concentrao de reforo foi muito criteriosa, uma vez que, para determinados elementos, se trabalhou em zonas de quantificao de apenas alguns g/L. Os resultados obtidos foram avaliados atravs do clculo da % de recuperao, sendo utilizados os dados experimentais obtidos e a concentrao nominal do padro adicionado:

% Recuperao = [(Aadic.-A) / Padic.] 100

onde A o valor obtido para a amostra inicial, Aadic. o valor obtido para a amostra reforada e Padic. a concentrao do padro adicionado. O critrio de aceitao estabelecido para este parmetro nos mtodos estudados foi o seguinte: % Recuperao entre 95-105 %. Durante este trabalho, foi efectuada a anlise de, pelo menos, um ensaio de recuperao entre cada conjunto de nove amostras analisadas no mesmo dia.

5.6.3. CONTROLO DA QUALIDADE EXTERNO O controlo da qualidade externo permite avaliar pontualmente no tempo a exactido dos resultados. As aces de controlo da qualidade externo englobam (IPQ, 2000; Castro, 2004): o uso de materiais de referncia certificados (MRCs) ou de padres equivalentes; a participao em ensaios interlaboratoriais (EIL).
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Mtodos analticos utilizados

5.6.3.1. MATERIAIS DE REFERNCIA CERTIFICADOS (MRCs) OU PADRES EQUIVALENTES O uso de Materiais de Referncia Certificados (MRCs) e de Materiais de Referncia (MRs) constitui uma forma de avaliar a exactido de um mtodo analtico. O MRC e o MR devem ser usados de forma idntica s amostras, devem apresentar uma matriz semelhante a estas e ser adequado s gamas de trabalho dos mtodos em causa. Segundo o IPQ (2000), Material de Referncia (MR) um material ou substncia com uma ou mais propriedades suficientemente bem estabelecidas para serem usadas na calibrao de aparelhos, avaliao de um mtodo de anlise ou atribuio de valores a materiais"; "Material de Referncia Certificado (MRC) um material de referncia em que os valores de uma ou mais propriedades foram certificados por um processo tecnicamente vlido, e que acompanhado um certificado emitido por um organismo de certificao". Os MRCs utilizados devem ser produzidos por entidades de reconhecida credibilidade (Kane, 1992). Neste trabalho utilizaram-se dois MRCs de sedimentos: um do National Research Council Canada (NRCC) - NRCC MESS 3 e outro do Bureau of Community Reference (BCR) - BCR 320, e um MR internacional de um granito do Groupe International de Travail Etalons analytiques des minraux, minerais et roches - International Working Group Analytical standards of minerals, ores and rocks (GIT-IWG) - AC-E. Os certificados do MRC NRCC MESS 3 e do MR AC-E contm todos os elementos que se pretendia quantificar, com as concentraes e respectivas incertezas, enquanto que o certificado do MRC BCR 320 contm apenas as concentraes e incertezas correspondentes a alguns dos elementos pretendidos. Aps a anlise de um MRC e/ou de um MR, o valor obtido deve ser comparado com o valor certificado e deve situar-se dentro do intervalo de incerteza do MRC e/ou do MR. Caso isso no acontea, deve-se tentar encontrar as causas dos desvios e tentar elimin-las. A aceitao e/ou rejeio dos desvios entre os valores experimentais obtidos e os valores que constam nos certificados devem obedecer a critrios objectivos. Neste trabalho, estes critrios foram previamente estipulados de acordo com o grau de qualidade pretendido para os mtodos utilizados.

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Mtodos analticos utilizados

O comportamento dos mtodos analticos para estes materiais foi estudado com base no valor do parmetro estatstico Z-score (Castro, 1999), sendo calculado da seguinte forma: Z-score = (VExp. VRef.) / s onde VExp. o valor experimental, VRef. o valor referncia e s o desvio mximo permitido e igual a 5% do valor de referncia ou a sua incerteza caso esta seja conhecida, como o caso dos MRCs e do MR utilizados. Este parmetro encontra-se condicionado pelos critrios de aceitao/rejeio estabelecidos: Z-score 1: Bom desempenho 1 <Z-score 2: Desempenho duvidoso Z-score > 2: Mau desempenho Assim, o critrio de aceitao estabelecido para os desvios entre os valores experimentais obtidos e os valores que constam nos certificados, nos mtodos estudados, foi o seguinte: Valores de Z-score < 2, para um erro mximo admissvel de 5%. Durante este trabalho, foi efectuada a anlise de, pelo menos, um ensaio de um MRC e/ou MR entre cada conjunto de nove amostras analisadas no mesmo dia.

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