Takiy Ae Me Ilha-Interferometria

Campus de Ilha Solteira
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA ELTRICA
Anlise Terica e Experimental de uma Nova Tcnica de Processamento de Sinais Interferomtricos Baseada na Modulao Triangular da Fase ptica
ALINE EMY TAKIY
Orientador: Prof. Dr. Cludio Kitano
Dissertao apresentada Faculdade de Engenharia - UNESP Campus de Ilha Solteira, para obteno do ttulo de Mestre em Engenharia Eltrica. rea de Conhecimento: Automao.
Ilha Solteira SP novembro/2010
FICHA CATALOGRFICA
Elaborada pela Seo Tcnica de Aquisio e Tratamento da Informao Servio Tcnico de Biblioteca e Documentao da UNESP - Ilha Solteira.
T136a
Takiy, Aline Emy. Anlise terica de uma nova tcnica de processamento de sinais interferomtricos baseada na modulao triangular da fase ptica / Aline Emy Takiy. -- Ilha Solteira : [s.n.], 2010 148 f. : il. Dissertao (mestrado) - Universidade Estadual Paulista. Faculdade de Engenharia de Ilha Solteira. rea de conhecimento: Automao, 2010 Orientador: Cludio Kitano Inclui bibliografia 1. Interferometria. 2. Medio de deslocamentos nanomtricos. 3. Deteco de fase. 4. Efeito eletro-ptico. 5. SIMULINK (Software).
Aos meus queridos avs Yoshiharu Hashiguti, (in Memorian) Itiko Hashiguti, Itiro Takiy e Kumiko Takiy .
AGRADECIMENTOS
Primeiramente, agradeo a Deus pela oportunidade e capacidade dadas, permitindo que eu chegasse etapa final e por todos os momentos vividos durante este mestrado. Ao meu orientador, Prof. Dr. Cludio Kitano, que me ensinou, disciplinou, acreditou e confiou no meu potencial. A sua criatividade, conhecimento e qualidade cientfica que me soube transmitir, contriburam para meu crescimento intelectual e pessoal. Agradeo pelos ensinamentos, por todo apoio prestado e tempo dedicado ao nosso trabalho e pelos momentos de conversa e amizade. Muito obrigada! Agradeo aos meus pais, Nelson e Kimiko, meus irmos Rodrigo e Stephanie, e todos os demais familiares por estarem ao meu lado em todos os momentos, incentivando e auxiliando em mais esta etapa de minha vida. Devo agradecer meu namorado Daniel pelo seu carinho e compreenso, estando sempre presente e me apoiando. Ao Prof. Dr. Ricardo Tokio Higuti, pela contribuio com sugestes, idias e por disponibilizar equipamentos para a elaborao do trabalho. Aos tcnicos Everaldo L. Moraes, que me auxiliou com dvidas tcnicas e parte prtica no laboratrio, Jos Aderson Anhussi, Valdemir Chaves, Adilson A. Palombo, por toda colaborao e pacincia quando foi necessrio utilizar o laboratrio de ensino. Agradeo o Prof. MSc. Jos Vital Ferraz Leo, que viabilizou o contato com a Unesp e me incentivou para a realizao do mestrado. Obrigada, por muitas vezes, dispor seu tempo me ensinando e disponibilizando materiais que me foram muito teis. Aos amigos do Laboratrio de Optoeletrnica, Joo Paulo C. de Menezes, Francisco de A. A. Barbosa, Ericsson Vendramini e Jos Henrique Galeti, que em muitos momentos me ajudaram e apoiaram durante a pesquisa. s amigas de mestrado e repblica, Camila G. Gonsales, Andria B. A. Ferreira e Flavilene S. Souza, e aos amigos Naryane Peraro, Joel David M. Trujillo, Marcelo Moreira Tiago, Vander Teixeira Prado e Paula Lalucci Berton pela amizade e incentivo nesta jornada. Ao Conselho Nacional de Desenvolvimento Cientfico e Tecnolgico (CNPq) pela oportunidade de bolsa de mestrado, permitindo o melhor desenvolvimento da pesquisa.
" na experincia da vida que o homem evolui."
Harley Spencer Lucio
RESUMO
Neste trabalho estuda-se a interferometria laser, a qual constitui uma tcnica adequada para determinar grandezas fsicas com sensibilidade extremamente elevada. Basicamente, no interfermetro ptico, a informao a respeito do dispositivo sob teste inserida na fase da luz. Utilizando-se o fotodiodo, promove-se a transferncia de informao, do domnio ptico para o eltrico, no qual pode ser demodulada usando-se as vrias tcnicas disponveis na literatura para detectar sinais modulados em fase. nfase dada a um novo mtodo de demodulao de fase ptica auto-consistente e de grande sensibilidade. Neste mtodo, utilizase a modulao dada por uma forma de onda triangular e baseado na anlise do espectro do sinal fotodetectado, sendo capaz de estender a faixa dinmica de demodulao a valores to elevados quanto s dos mtodos clssicos. Simulaes dinmicas computacionais de interfermetros pticos so executadas em Simulink juntamente com este mtodo, levando-se em considerao tenses de rudo eletrnico do tipo rudo branco, evidenciando a eficincia do mtodo quando comparados com dados tericos obtidos em Matlab. A validao experimental do mtodo realizada com o auxlio de um modulador eletro-ptico de amplitudes, cujas caractersticas de fase podem ser previstas analiticamente. Trata-se de um sensor polarimtrico baseado em cristal de Niobato de Ltio, em que a diferena de fase ptica induzida pela tenso eltrica aplicada pode ser determinada atravs de anlise espectral, tal como o novo mtodo descrito neste trabalho. Um interfermetro de Michelson homdino de baixo custo implementado e a eficincia do novo mtodo de demodulao de fase ptica avaliada atravs de testes com atuadores e manipuladores piezoeltricos flextensionais, cujas caractersticas de linearidade so conhecidas. Os resultados experimentais concordam com as previses tericas e revelam que este mtodo mais eficiente que os mtodos clssicos.
Palavras-chave: Interferometria ptica. Medio de deslocamentos nanomtricos. Deteco de fase. Efeito eletro-ptico. Simulink.
ABSTRACT
In this work, has been done a study the laser interferometer, which is a technique for determining physical quantities with extremely high sensitivity. Basically, in the optical interferometer, information about the device under test modulates the phase of light. Using a photodiode, promotes the transfer of information from the optical domain for the electric, which can be demodulated using the various techniques available in literature to detect modulated signals in phase. Emphasis is given to a new method of phase demodulation of optical self-consistent and high sensitivity. The method employs a linear modulation given by a triangular waveform, and is based on analysis of the spectrum of the photodetected signal, being able to extend the dynamic range of the demodulation values as high as the classical methods. Dynamic computational simulations of optical interferometers are implemented in Simulink with this method, taking into account strains of electronic noise like white noise, indicating the efficiency of the method compared with theoretical data obtained in Matlab workspace. The experimental validation of the method is performed with the aid of an electrooptic amplitude modulator, whose phase characteristics can be analytically predicted. This is a polarimetric sensor based on lithium niobate crystal, in which the optical phase difference induced by electric voltage can be determined by spectral analysis, using new method described in this work. A low cost homodyne Michelson interferometer is implemented and the efficiency of the new method of optical phase demodulation is evaluated by testing with piezoelectric flextensional actuators whose characteristics of linearity are well known.The experimental results agree with theoretical analysis and reveal this method is more efficient than the classical methods.
Keywords: Optical interferometry. Nanometers displacement measurement. Phase detection. Electro-optic effect. Simulink.
LISTA DE FIGURAS
Figura 2.1 Figura 2.2 Figura 2.3 Figura 2.4
O interfermetro de Michelson bsico ....................................................... Sinal triangular usado para excitar a fase do interfermetro ...................... Curva de transferncia ptica de um interfermetro .................................. Exemplos de sinais fotodetectados quando em quadratura de fase = 2 rad. a) Visualizao em osciloscpio, sinal de excitao (acima) com tenso de 34 Vpp e fotodetectado (abaixo). b) Simulao em Matlab, sinal de fase com amplitude de = 0,2 rad. c) Visualizao em osciloscpio, sinal de excitao (acima) com tenso de 120 Vpp e fotodetectado (abaixo). d) Simulao em Matlab, sinal de fase com amplitude de = 0,5 rad. e) Visualizao em osciloscpio, sinal de excitao (acima) com tenso de 170 Vpp e fotodetectado (abaixo). f) Simulao em Matlab, sinal de fase com amplitude de = 0,7 rad ......... Efeito do desvanecimento. a) Sinal de excitao, com tenso de 34 V pp, e fotodetectado com = rad visualizados em osciloscpio. b) = rad e = 0,2 rad. c) Sinal de Simulao em Matlab para = 4 rad excitao, com tenso de 110 Vpp, e fotodetectado com = 4 visualizados em osciloscpio. d) Simulao em Matlab para rad e amplitude de 0,4 rad. e) Sinal de excitao, com tenso de 170 V pp, = 4 rad visualizados em osciloscpio. d) e fotodetectado com = 4 rad e amplitude de 0,7 rad ............ Simulao em Matlab para Tenso fotodetectada v(t) e seu espectro de magnitude em dB (at a dcima harmnica), normalizados, para uma excitao do tipo = ( ), considerando visibilidade unitria, e regime multi-franjas, com ndice de modulao = 2 rad. (a) Ponto quiescente Q [ ( ) = 2 rad]. (b) Ponto quiescente [ ( ) = 0 rad]. (c) Ponto quiescente ( ) = 3 rad] (MARAL, 2008) ................................................. Q [ Funes de Bessel de primeira espcie e ordem n ..................................... Resultados do mtodo J1/J3 (MENEZES, 2009) ....................................... Clculo do erro de deteco (MENEZES, 2009) ....................................... Grfico da razo versus , evidenciando o problema de ambigidade (MENEZES, 2009) ..................................................................................... Atuadores piezoeltricos flextensionais clssicos. (a) moonies. (b) cymbals (LEO, 2004) .............................................................................. Projeto de um atuador flextensional utilizando a tcnica de otimizao topolgica. (a) Domnio inicial. (b) Domnio discretizado em elementos finitos. (c) Topologia obtida. (d) Interpretao. (e) Verificao. (f) Manufatura (CARBONARI, 2003) ............................................................
32 38 39
40
Figura 2.5
42
Figura 2.6
44 45 48 49 50 54
Figura 2.7 Figura 2.8 Figura 2.9 Figura 2.10 Figura 3.1 Figura 3.2
56
Figura 3.3 Figura 3.4 Figura 3.5
Resultados da otimizao topolgica. (a) Atuador f1a1025. (b) Atuador f2b0830. (SILVA et al., 2003) ................................................................... APFs com piezocermicas de 5 mm de espessura. (a) Atuador f1a1025. (b) Atuador f2b0830. (NADER, 2002) ...................................................... Projeto de multi-atuadores piezoeltricos flextensionais. (a) Nanoposicionador piezoeltrico XY. (b) Microgarra piezoeltrica (CARBONARI, 2007) ............................................................................... Projeto de um manipulador flextensional utilizando a tcnica de otimizao topolgica. (a) Domnio inicial. (b) Domnio discretizado. (c) Topologia obtida. (d) Interpretao. (e) Verificao. (f) Modelo para a produo (CARBONARI, 2007) ................................................................ Exemplos de manipuladores flextensionais projetados pelo mtodo de otimizao topolgica (BARBOSA, 2009) ................................................ Atuador piezoeltrico flextensional AFX-01 conectado a uma Piezocermica PZT-5A. (a) Vista lateral. (b) Vista lateral oposta. (c) Vista superior, com espelho acoplado no ponto de medio. (d) Outra vista lateral (BARBOSA, 2009) ................................................................. Atuador piezoeltrico flextensional AFX-02 conectado a uma Piezocermica PZT-5A. (a) Vista lateral. (b) Vista lateral oposta. (c) Vista superior, com espelho acoplado no ponto de medio. (d) Vista lateral no sentido longitudinal do atuador (MENEZES, 2009) .................. Estrutura metlica do multi-atuador MFX-01 (BARBOSA, 2009) ........... Manipulador piezoeltrico flextensional MFX-01 manufaturado com a presena das pastilhas de PZT responsveis pelo acoplamento direto e cruzado ....................................................................................................... Exemplo de um processo de deteco de fase ptica utilizando o sinal triangular .................................................................................................... Espectro de magnitudes das harmnicas do sinal detectado............... Processo de deteco de fase com = 2 rad. a)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 30,4 Vpp e sinal fotodetectado (abaixo); b) Simulao do sinal de fase para 2 rad; c)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 78 V pp e sinal fotodetectado (abaixo); (d) Simulao do sinal de fase para = 2 rad. e)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 142 V pp e sinal fotodetectado (abaixo); f) Simulao do sinal de fase para > 2 rad ............................................................................................................... Comportamento das componentes | | e | | para valores de entre 0 e 20 rad .......................................................................................................... Grfico de
57 58
59
Figura 3.6
60 60
Figura 3.7 Figura 3.8
62
Figura 3.9
63 64
Figura 3.10 Figura 3.11
65 67 75
76 78 83 83 83
Figura 4.4 Figura 4.5 Figura 4.6 Figura 4.7
versus
para o mtodo de b1/b3 ........................................... para o mtodo do b1/b3 ......................................... para o mtodo do b1/b3 em detalhe .......................
Grfico de versus Grfico de versus
Figura 4.8 Figura 5.1 Figura 5.2 Figura 5.3 Figura 5.4 Figura 5.5 Figura 5.6 Figura 5.7
Relao entre a profundidade de modulao estimada em funo da fase ( ) para o valor esperado = 1 rad, aplicando o mtodo b1/b3 ..... Modelo implementado no Simulink para simulao do mtodo b1/b3 ....... Subsistema de gerao do sinal modulado em fase ................................... Subsistema de anlise do sinal modulado em fase [ ( ) + ( )] e identificao das componentes espectrais. Clculo usando uma FFT ....... Subsistema de clculo das amplitudes das harmnicas usando diretamente o mdulo da FFT .................................................................... Subsistema de clculo de usando o mtodo b1/b3 ...................................
86 91 92 92 94 94 95
Sinal modulado em fase com a presena do desvanecimento (TAKIY, 2009b) ........................................................................................................ Sinal modulado em fase gerado para = 2,9 rad, = 1 e = 4 rad. (a) Quadro temporal usando janela retangular. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado ....................................................................... Efeito do janelamento para o sinal modulado gerado, para = 2,9 rad, = 2 rad. (a) Quadro temporal do sinal usando janela de =1e Hanning. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado .............................. Resposta do subsistema de clculo de pelo mtodo b1/b3, para variando. (a) ndice estimado . (b) Erro na estimao de ............. Resultados obtidos usando-se o mtodo b1/b3, dentro de sua regio de faixa dinmica (0,097 rad < < 8 rad) ...................................................... Resposta da simulao com visibilidade varivel, = 1 rad e = 4 rad. (a) Profundidade de modulao estimada em funo da visibilidade. (b) Erro em % ............................................................................................. Resposta do subsistema de clculo de pelo mtodo b1/b3, para e ( ) variando. (a) ndice estimado . (b) Erro na estimao de . (c) Fase ( ) ............................................................................................ Clula Pockels com eletrodos na configurao transversal ....................... Clula Pockels com eletrodos na configurao longitudinal ..................... Clula Pockels com cristal de LiNbO3 fixa no suporte .............................. Modulador eletroptico de amplitude (MARTINS, 2006) ........................ Aparato experimental do modulador eletroptico montado em laboratrio .................................................................................................. Padro de interferncia experimental devido ao espalhamento da luz no cristal .......................................................................................................... Curva de transmisso de uma clula Pckels de LiNbO3 .......................... Grfico de versus aplicando-se o mtodo b1/b3 .................................
96
Figura 5.8
97 99 100
101
Figura 5.12
102 105 106 106 108 110 111 113 115
Figura 6.1 Figura 6.2 Figura 6.3 Figura 6.4 Figura 6.5 Figura 6.6 Figura 6.7 Figura 6.8
Figura 6.9
Foto da instrumentao eletrnica utilizada. Visualizao do osciloscpio digital, o gerador de funes e o computador usado na aquisio dos dados .................................................................................... Sinal de sada do modulador eletro-ptico aplicando tenso senoidal 87 Vp em 1 kHz. (a) Forma de onda correspondente sada do fotodetector. (b) Espectro do sinal de sada do fotodetector ........................................... Sinal temporal detectado e espectro correspondente, obtidos numa medio subseqente ao da figura 6.10 Efeito do desvanecimento ........ Mtodo b1/b3 aplicado aos dados do modulador eletro-ptico de amplitude com tenso entre 0 e 170 Vp ...................................................... Valores de medidos para os dados da faixa dinmica linear ................
116
Figura 6.10
117 118 119 120 121 121
Figura 6.11 Figura 6.12 Figura 6.13 Figura 6.14 Figura 6.15 Figura 7.1
Conjunto de dados mal comportados obtidos aplicando o mtodo b1/b3 com tenso entre 0 e 170 Vp ....................................................................... Valores de para as sequncias de dados da figura 6.15 ........................
Configurao experimental do interfermetro de Michelson homdino utilizada para medio de deslocamento dos APFs: 1- laser de He-Ne, 2- espelho fixo, 3- APF com espelho mvel, 4-divisor de feixes e 5fotodetector ................................................................................................ Osciloscpio digital utilizado, sintetizador de sinais para realizar a excitao do APF, e computador para o processamento do sinal .............. Interfermetro levemente desalinhado (BARBOSA, 2009) ...................... Formas de ondas adquiridas nas medies dos deslocamentos gerados pelo AFX 01 em conjunto com a cermica PZT 5-A na freqncia de 125 Hz. a) Tenso de excitao de 56 Vp; b) Tenso de excitao de 38,4 Vp; c) Tenso de excitao de 8,8 Vp (BARBOSA, 2009) ........................ Relao entre a tenso de excitao e a profundidade de modulao obtida para o atuador AFX-01 com aplicao do mtodo b1/b3 ................. Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o atuador AFX-01, utilizando o mtodo b1/b3 .................................... Relao entre a tenso de excitao e a profundidade de modulao obtida para atuador AFX-02 com aplicao do mtodo b1/b3 .................... Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o atuador AFX-02, utilizando o mtodo b1/b3 .................................... Relao entre a tenso de excitao e a variao de fase do manipulador MFX-01 acoplamento direto obtida pela aplicao do mtodo b1/b3 ........ Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o manipulador MFX-01 acoplamento direto, utilizando o mtodo b1/b3 ............................................................................................................ Relao entre a tenso de excitao e a variao de fase do manipulador MFX-01 acoplamento cruzado obtida pelo mtodo b1/b3 ..........................
124 125 126
128 130 130 132 133
Figura 7.5 Figura 7.6 Figura 7.7 Figura 7.8 Figura 7.9
134
Figura 7.10
135
Figura 7.11
136
Figura 7.12
Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o manipulador MFX-01 acoplamento cruzado, utilizando o mtodo b1/b3 ............................................................................................................
137
LISTA DE TABELAS
Tabela 7.1 Tabela 7.2 Tabela 7.3 Tabela 7.4 Tabela 7.5
Resultados obtidos com o atuador piezeltrico AFX-01 .............................. Comparao dos resultados obtidos para o coeficiente angular da reta que descreve a linearidade do atuador piezeltrico flextensional AFX-01 ......... Resultados obtidos com o atuador piezeltrico AFX-02 .............................. Resultados obtidos com o manipulador piezeltrico MFX-01 acoplamento direto ............................................................................................................ Resultados obtidos com o manipulador piezeltrico MFX-01 acoplamento cruzado .........................................................................................................
129 131 132 134 136
LISTA DE SIGLAS E ABREVIATURAS
APFs BaTiO3 DPDM DSP FFT Fibra Hi-Bi Fibra PBF IFOG LiNbO3 MDPS NBPM PbTiO2 PHDM
Atuadores piezoeltricos flextensionais Titanato de brio Mtodo direto da diferena de fase (Direct Phase Diference Method) Processador de sinal digital (Digital Signal Processor) Transformada rpida de Fourier (Fast Fourier Transform) Fibra ptica de alta birrefringncia (High Birefringence) Fibra de foto conectores (Photonic-bandgap Fiber) Giroscpio em fibra ptica (Interferometric Fiber-Optic Gyroscope) Niobato de ltio Mnimo desvio de fase detectvel (Minimun Detectable Phase Shift) Baixa profundidade de modulao (Narrow Band Phase Modulation ) Titanato de chumbo Mtodo de deteco pseudo-heterdino (Pseudo-heterodyne Detection Method)
PIN PLL PM PSDM PZT RFOG RMS SMI SNR STFT
Fotodiodo PIN (Positive-Intrinsic-Negative) Phase-Locked Loop Modulao de fase (Phase Modulation) Phase Sensitive Detection Method Titanato-zirconato de chumbo Giroscpio Ressonante em Fibra ptica (Ressonator Fiber-Optic Giro) Valor quadrtico mdio ou valor eficaz (Root mean square) Self-mixing Interferometry Relao sinal-rudo (Signal-to-Noise Ratio) transformada de Fourier de curta durao (Short Time Fourier Transform)
TTL
Lgica-transistor-transistor (Transistor-transistor logic)
LISTA DE SMBOLOS
Smbolo , Significado
Amplitude das harmnicas pares e mpares respectivamente Coeficiente da srie exponencial de Fourier Espessura do cristal de niobato de ltio
( ) ( ) u u ( )
Variao no comprimento do ramo sensor do interfermetro Variao de fase relativa induzida entre os modos de propagao da luz Variao relativa no ndice de refrao do ramo sensor do interfermetro Excitao de fase triangular peridico Diferena de fase relativa entre os modos de propagao da luz Deslocamento na direo do eixo x. Erro em funo do desvio de fase esperado Erro relativo em porcentagem, em funo de Deslocamento na direo do eixo y. Campo eltrico do laser Amplitude do campo eltrico Amplitude do campo eltrico no ramo referncia do interfermetro Amplitude do campo eltrico no ramo sensor do interfermetro e
( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( )
Campo eltrico do ramo referncia do interfermetro Campo eltrico do ramo sensor do interfermetro Campo eltrico total na sada do interfermetro Campo eltrico na direo Z do cristal Diferena de fase total entre os dois feixes do interfermetro Diferena de fase esttica entre os braos do interfermetro Funo cossenoidal de ( ) Intensidade ptica ou irradincia Intensidade ptica do laser Funes de Bessel de primeira espcie e ordem n Fator de rudo branco
Comprimento do cristal de niobato de ltio Diferena total entre os comprimentos dos braos do interfermetro Comprimento do ramo referncia do interfermetro Comprimento do ramo sensor do interfermetro Comprimento de onda Comprimento de onda da radiao da fonte ptica Razo entre as tenses mpares ndice de refrao do meio ndice de refrao extraordinrio do cristal de niobato de ltio ndice de refrao ordinrio do cristal de niobato de ltio Frequncia da portadora de sinal modulador ( ) Frequncia de modulao da excitao de fase senoidal Frequncia da portadora de sinal modulador ( )
Fator de desvanecimento de sinal
Ponto quiescente Responsividade do diodo
Coeficientes eletro-pticos do niobato de ltio Transmisso ptica Perodo do sinal de modulador ( ) Visibilidade Tenso DC aplicada clula Pockels Amplitude da harmnica de ordem n da tenso fotodetectada Tenso de mei-onda do cristal eletro-ptico Tenso de rudo na frequncia fundamental
( ) ( ) ( ) , , X, Y, Z
Tenso eltrica fotodetectada Tenso eltrica aplicada clula Pockels Funo exponencial de ( ) ndice de modulao de fase: esperado, estimado e medido Direes cristalogrficas do cristal de niobato de ltio
SUMRIO
CAPTULO 1 - INTRODUO ....................................................................................... 19 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 Interferometria ptica ........................................................................................... 20 Tcnicas Espectrais de Demodulao de Fase ptica ........................................... 22 Utilizao da Modulao Triangular da Fase ptica: O Estado da Arte............. 23 Objetivos da Dissertao ........................................................................................ 29 Organizao da Dissertao ................................................................................... 29
CAPTULO 2 - FUNDAMENTOS DE INTERFEROMETRIA PTICA ...................... 31 2.1 2.2 2.3 2.4 O Interfermetro de Michelson.............................................................................. 32 Sinal Interferomtrico ............................................................................................ 33 O Problema de Desvanecimento do Sinal .............................................................. 39 Deteco de Fase ptica O Mtodo ............................................................ 43
CAPTULO
ATUADORES
MANIPULADORES
PIEZOELTRICOS
FLEXTENSIONAIS ............................................................................................... 52 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 Efeito Piezoeltrico ................................................................................................. 53 Atuadores Piezoeltricos Flextensionais ................................................................ 54 O Mtodo de Otimizao Topolgica ..................................................................... 55 Manipuladores Piezoeltricos Flextensionais ........................................................ 58 Descrio dos Atuadores e do Manipulador Piezoeltrico Flextensionais Utilizados ................................................................................................................ 61 3.5.1 Atuador Piezoeltrico Flextensional - AFX-01 ........................................................ 61 3.5.2 Atuador Piezoeltrico Flextensional - AFX-02 ........................................................ 62 3.5.3 Manipulador Piezoeltrico Flextensional - MFX-01 ............................................... 63
CAPTULO 4 - NOVO MTODO AUTO-CONSISTENTE DE DETECO DE FASE PTICA COM MODULAO TRIANGULAR ................................................. 66 4.1 4.2 Interferometria ptica com Sinal Triangular ....................................................... 67 O Novo Mtodo b1/b3 .............................................................................................. 77
4.2.1 Insero do Rudo Branco Usando o Mtodo b1/b3.................................................. 80 4.2.2 Dependncia do Mtodo b1/b3 com 4.3 Clculo de ..................................................................... 86
.......................................................................................................... 87
CAPTULO 5 - SIMULAES DINMICAS APLICANDO O MTODO b1/b3 ......... 90 5.1 5.2 Implementao do Mtodo b1/b3 no Simulink ....................................................... 91 Resultados das Simulaes Numricas .................................................................. 94
5.2.1 Sinal Interferomtrico Gerado no Simulink ............................................................ 95 5.2.2 Resposta dos Subsistemas de Clculo do ndice de Modulao de Fase para Variando e ( ) Constante .................................................................................... 98 e ( ) Constantes .......................................................................... 100 e ( )
5.2.3 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para Variando e
5.2.4 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para
Variando ................................................................................................................ 102
CAPTULO
MODULADOR
ELETRO-PTICO
VALIDAO
EXPERIMENTAL DO MTODO b1/b3 ............................................................. 104 6.1 6.2 6.3 6.4 6.5 A Clula Pockels ................................................................................................... 104 Modulador Eletro-ptico de Amplitude............................................................... 109 Demodulao de Fase Eletro-ptica Usando o Mtodo b1/b3 ............................. 114 Arranjo Experimental do Sistema ....................................................................... 115 Validao do Mtodo b1/b3 ................................................................................... 119
CAPTULO
RESULTADOS
EXPERIMENTAIS:
AVALIAO
DA
LINEARIDADE DOS ATUADORES/MANIPULADORES PIZOELTRICOS123 7.1 7.2 7.3 7.4 Arranjo Experimental do Interfermetro ........................................................... 124 Avaliao da Linearidade do Atuador AFX-01 Utilizando o Mtodo b 1/b3 ....... 127 Avaliao da Linearidade do Atuador AFX-02 Utilizando o Mtodo b 1/b3 ....... 131 Avaliao da Linearidade do Manipulador MFX-01 Utilizando o Mtodo b1/b3133
CAPTULO 8 - CONCLUSES ..................................................................................... 138 8.1 Sugestes para Trabalhos Futuros ....................................................................... 141
REFERNCIAS ............................................................................................................... 142
19
Captulo 1
INTRODUO
A interferometria um ramo da ptica que comeou a se desenvolver mais rapidamente no incio do sculo XX e ganhou significativo impulso com o desenvolvimento do laser (dcada de 1960), principalmente devido ao seu alto grau de coerncia. Fazendo o uso do fenmeno da interferncia possvel determinar grandezas fsicas com sensibilidade extremamente elevada. Desde o seu incio, a interferometria tem se prestado a mltiplas aplicaes, como por exemplo, medies de deslocamento, velocidade, rotao, temperatura, presso, tenso, corrente, e outras (GIALLORENZI et al., 1982). No interfermetro ptico a informao a respeito do dispositivo sob teste inserida na fase da luz. Usando-se o fotodiodo, promove-se a transferncia de informao, do domnio ptico para o eltrico, no qual pode ser demodulada usando-se as vrias tcnicas disponveis na literatura para detectar sinais PM Phase Modulated. O desempenho e a sensibilidade destes sistemas sensores esto relacionados com a capacidade de detectar variaes mnimas na intensidade de sada dos interfermetros. Como o comprimento de onda do laser muito pequeno, da ordem de m, torna-se possvel a deteco de mnimas variaes de fase ptica. Atualmente, a instrumentao eletrnica consegue facilmente demodular 1 de modulao angular. Na frequncia ptica necessrio um deslocamento de 1 nm para que haja a variao de 1 na fase ptica. Assim, os interfermetros surgem como importantes sensores de deslocamento ou de vibrao, sendo capazes de detectar amplitudes de vibrao sub-nanomtricas (LEO, 2004). Na presente dissertao realiza-se o estudo de uma nova tcnica de anlise espectral com modulao triangular, aqui denominada de mtodo b1/b3, e a implementao em Simulink do comportamento dinmico desses sinais interferomtricos, a fim de testar esta nova tcnica de demodulao de fase ptica. Abordam-se tambm, conceitos sobre o modulador eletro-ptico de amplitude, o qual ser utilizado na fase experimental da pesquisa para validar a tcnica proposta.
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1.1 Interferometria ptica
Em 1960 inventou-se o laser como fonte de elevada coerncia, o que permitiu a aplicao das tcnicas anteriormente utilizadas em microondas, em ptica, estabelecendo-se a rea hoje conhecida como optoeletrnica. Assim, conceitos como modulao PM (Phase Modulated), interferncia entre ondas eletromagnticas e deteco por lei quadrtica puderam ser aplicados a sensores pticos, como o sensor interferomtrico analisado nesta dissertao de mestrado. Os interfermetros pticos so transdutores eficientes que convertem uma variao de fase induzida ao longo de um de seus ramos, numa variao de intensidade ptica que pode ser mensurada. Um interfermetro constitudo por um conjunto de componentes, incluindo o laser, que possibilita a obteno da superposio de dois ou mais feixes pticos, os quais podem ser comparados e medidos na escala do comprimento de onda da luz, tipicamente de 1 m. A intensidade de radiao, proporcionada pela superposio dos feixes pticos, possui caractersticas que dependem das intensidades, polarizaes, freqncias e fases dos feixes que geram a interferncia. No caso da interferometria de dois feixes, quando so conhecidas as caractersticas de um deles, possvel determinar as caractersticas do outro atravs da anlise da intensidade de radiao gerada pela sua superposio. Os interfermetros MachZehnder e Michelson so configuraes consagradas muito utilizadas quando se opera com ptica volumtrica, isto , quando os dois feixes pticos, que geram a interferncia, propagam-se no espao livre (BORN; WOLF, 1980; HARIHARAM, 2003; HETCH, 1987). A utilizao do laser trouxe vantagens interferometria ptica, pois se trata de uma fonte de elevada coerncia temporal e espacial, alm de ser monocromtica, direcional e de elevado brilho (SVELTO, 1982). O interfermetro como sensor extremamente sensvel a pequenas variaes de grandezas fsicas, das mais variadas naturezas, e atravs de medies realizadas no infravermelho (10 THz), pode-se mensurar facilmente 1 de desvio na fase da luz, variao que pode ser demodulada eletronicamente sem grandes dificuldades. Esta pesquisa se insere na linha de estudos da deteco interferomtrica de deslocamentos micromtricos e nanomtricos em atuadores piezoeltricos desenvolvida na FEIS/UNESP, em colaborao com o Grupo de Sensores e Atuadores da Escola Politcnica da USP.
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Conforme ser mostrado no captulo 2, o sinal de sada do interfermetro usado para mensurar microvibraes em atuadores, dado por:
( )=
{1 +
[ ( ) +
]}
(1.1)
sendo ( ) a intensidade ptica de sada do sistema, mensurar,
a intensidade ptica do laser, ( ) a a
variao de fase ptica que contm informaes sobre a grandeza fsica que se deseja a diferena de fase esttica entre os braos do interfermetro e
visibilidade das franjas de interferncia. A fase esttica , em princpio, deveria permanecer constante, porm devido a
vibraes externas ambientais, turbulncias de ar e alteraes de temperatura e presso no local do interfermetro, o valor dessa fase sofre derivas aleatrias ocasionando a variao da amplitude do sinal detectado, o que prejudica o processo de demodulao do sinal. Este fenmeno, denominado desvanecimento, se deve principalmente porque a interferometria extremamente sensvel e no porque ineficiente. Para se extrair com exatido a informao desejada, mesmo diante do desvanecimento, encontram-se registradas nas literaturas diversas tcnicas de processamento dos sinais de sada do interfermetro. Dentre as diversas tcnicas existentes, optou-se, neste trabalho, por abordar uma nova tcnica de deteco de fase ptica, baseada na anlise das componentes espectrais do sinal de sada dado em (1.1), sendo aqui denominada de mtodo b1/b3. O efeito eletro-ptico quadrtico foi descoberto primeiramente, em 1875, por John Kerr, sendo observado originalmente em lquidos e vidros, e, conhecido geralmente como efeito Kerr. Aproximadamente 20 anos mais tarde, Rntgen e Kundt observaram o efeito eletroptico linear em materiais com estrutura atmica no centro-simtrica, ficando conhecido como o efeito Pockels, aps Fredrich Pockels ter desenvolvido a teoria eletro-ptica linear (KAMINOW, 1974). Quando o efeito eletro-ptico linear atua em um slido, este dominante, e geralmente, o efeito quadrtico desconsiderado por ser muito reduzido. Nesta pesquisa, um modulador eletro-ptico empregado para validar as tcnicas de demodulao de fase originalmente propostas para sistemas interferomtricos. De fato, como o sinal de sada de um modulador eletro-ptico do tipo descrito em (1.1), e como tem soluo analtica, baseado apenas no eletromagnetismo (ao contrrio dos atuadores piezoeltricos, que demandam mtodos de elementos finitos), constitui uma excelente plataforma para teste e validao de novas tcnicas de demodulao de fase ptica. Alm
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disso, o modulador eletro-ptico menos susceptvel ao problema do desvanecimento que os interfermetros, tem largura de banda elevada, mais simples de ser alinhado opticamente no laboratrio e no apresenta problemas com visibilidade das franjas.
1.2 Tcnicas Espectrais de Demodulao de Fase ptica
Embora a literatura apresente uma grande diversidade de mtodos de demodulao de sinais interferomtricos do tipo (1.1), existem poucas referncias usando especificamente a anlise espectral. Em geral, mtodos de demodulao ps-deteco no conseguem distinguir entre a fase induzida pelo sinal, ( ), e a deriva aleatria, estejam em diferentes bandas de freqncias. Os estudos dos mtodos de deteco de fase ptica utilizando a anlise espectral se iniciaram antes da disponibilidade comercial do laser, na dcada de 1960. Um dos primeiros trabalhos publicados neste assunto data de 1945, quando Smith props o mtodo mensurar deslocamentos entre 104,5 nm e 1,33 m (SMITH, 1945). Em 1961 Schmidt et al. propuseram o mtodo de mx, aplicado interferometria nulo, para , a menos que o sinal e a deriva
ptica, para calibrar vibrmetros que operavam na faixa de deslocamentos entre 72 e 4400 . Ainda na dcada de 60, vrios outros mtodos foram propostos, e, em 1967, Deferrari, Darby e Andrews, compararam os mtodos mx, nulo, e aplicados medio
interferomtrica de deslocamentos na faixa de 0,1 a 6000 . Estes mtodos foram amplamente utilizados por outros autores, em interfermetros volumtricos e em fibra ptica, nas mais diferentes aplicaes. Contudo, necessitavam de procedimentos prvios de calibrao do sistema e ajustes iniciais do interfermetro. Em 1989, Sudarshanam e Srinivasan propuseram uma nova tcnica denominada capaz executar a medio linear da fase ptica e que era imune deriva trmica de , , porm
com faixa dinmica de demodulao de fase limitada. E, em 1993, foi proposto, por Sudarshanam e Claus, o mtodo processo de deteco de fase ptica. Como se observa, a literatura fornece um nmero relativamente pequeno de tcnicas espectrais de demodulao de fase ptica. Em particular (no conhecimento do autor), no foi encontrado nenhum que usa a modulao com forma de onda triangular. Nesta dissertao , com o propsito de ampliar a faixa dinmica do
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ser explanado o novo mtodo b1/b3, por tratar-se de uma tcnica auto-consistente, com soluo analtica e independe de variaes aleatrias de .
1.3 Utilizao da Modulao Triangular da Fase ptica: O Estado da Arte
A interferometria laser uma tcnica bem estabelecida para mensurar deslocamentos e tem amadurecido at o estgio de instrumentos fceis de se operar, amplamente empregados em metrologia mecnica e controle de mquinas ferramentas. Alm disso, com pequenas modificaes no arranjo bsico, tm sido propostas uma variedade de aplicaes tais como vibrmetros, velocmetros, medidores de distncias absoluta (range finders), etc. A operao de um interfermetro, com elevada sensibilidade e fator de escala linear, envolve a modulao da fase ptica por um sinal de portadora externo, a fim de desloc-la do domnio eltrico original para o ptico. Com isso, o deslocamento de fase poder ser detectado subsequentemente a partir da amplitude, fase ou retardo de tempo do sinal da portadora modulada. Com o custo e as perdas por acoplamento reduzidos nos atuais moduladores de fase, em particular, os de ptica integrada, pode-se aumentar sensvelmente a resposta em frequncia do esquema de demodulao, relativamente aos antigos moduladores piezoeltricos de fase (que operam sintonizados, em torno da frequncia de ressonncia mecnica). Com isto, as formas de onda para a modulao de fase no precisam ficar limitadas modulao senoidal, podendo-se empregar funes arbitrrias como, por exemplo, a quadrada, a dente-de-serra (serrodyne modulation), e outras. Em geral, um sinal de modulao triangular apresenta algumas vantagens em relao aos sinais senoidal, dente-de-serra ou quadrado: menor contedo harmnico no sinal de sada do interfermetro (para grandes profundidades de modulao de fase ptica) e maior facilidade de implementao. Esta ltima, porque o sinal triangular pode ser facilmente gerado a partir de um contador up-down com um conversor D/A, permitindo-se a implementao das tcnicas de demodulao na forma digital. Alm disso, quando se opera com baixa profundidade de modulao em interfermetros de dois feixes convencionais, como o Michelson ou Mach-Zehnder, o sinal fotodetectado tambm deve ser triangular. Com
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isto, permite-se avaliar rapidamente se o sistema (fotodiodos, atuadores, etc) possui largura de banda adequada, caso contrrio, ocorrem distores. Por conta disso, vrios autores utilizam a forma de onda triangular para testar a capacidade de recuperao de informaes em sistemas interferomtricos (BEHEIN; FRISTSH, 1986; DONATI; MERLO, 1998; FERRARI; GARCIA, 1996; ROOS; STEPHENS; WIEMAN, 1996; SUSUKI; KOBAYASHI; SASAKI, 2000). Nas aplicaes acima, foi o movimento do alvo (no caso de sensores de deslocamento) ou o estmulo ao espcime que se deseja caracterizar quem recebeu a excitao triangular. Assim, os autores evidenciam o sucesso da tcnica de demodulao se o sinal recuperado na sada tambm for triangular. Nos prximos pargrafos, no entanto, so descritas tcnicas cuja forma de onda triangular inerente e fundamental aos seus funcionamentos, como ocorre no caso desta dissertao de mestrado. A tcnica de demodulao de sinais em giroscpios em fibra ptica (IFOG ou Interferometric Fiber-Optic Gyroscope) em malha-aberta, denominada pseudo-heterdina (ou ento, deteco PM com banda lateral nica, ou tcnica serrodyne), proporciona um fator de escala linear, grande largura de faixa dinmica e imunidade flutuaes na intensidade do laser. Neste mtodo, utiliza-se uma modulao de fase em forma de onda dente-de-serra para converter o desvio de fase ptica numa variao de fase de uma portadora eltrica de baixa frequncia (EBERHARD; VOGES, 1984). Entretanto, esta tcnica necessita estabilizar a amplitude do sinal de modulao. Chien et al. (1991) propuseram utilizar a forma de onda triangular, a qual pode ser considerada como uma forma de onda dente-de-serra com inclinao dupla, num modulador de fase integrado inserido num IFOG. O desvio de fase no IFOG era deduzido a partir da fase de um sinal eltrico na faixa de kHz. Foi proposto, por Chien e Chao (1993), um novo gerador ptico de sinal, cuja sada era multiplicada em frequncia usando-se a modulao triangular de fase aplicada a dois interfermetros Mach-Zehnder integrados em cascata (moduladores eletro-pticos de fase). Um oscilador de referncia de 10 MHz foi multiplicado, gerando-se um novo sinal em 120 MHz. O fator de multiplicao foi limitado apenas pelo desvio mximo de fase permitido nos moduladores eletro-pticos cascateados. Uma das caractersticas de um diodo laser a sintonizao (tunability), na qual o comprimento de onda gerado pode ser variado continuamente alterando-se sua corrente de injeo. Chien et al. (1995) usaram um interfermetro de Michelson para mensurar distncias e velocidades de alvos, usando um diodo laser modulado em frequncia por uma forma de
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onda triangular e aplicando-se a tcnica conhecida como time gating (contagem digital ao longo de diferentes meios-perodos do sinal triangular). Ao contrrio da tcnica de demodulao passiva de fase, na qual o sinal de sada do retardo de fase ptica medida diretamente a partir do circuito eletrnico de deteco, na tcnica ativa, o retardo anulado por um elemento compensador de fase, de maneira a deixar a sada do interfermetro mantida sempre neste ponto nulo; o sinal de sada, portanto, deve ser obtido a partir da sada do compensador. Chien et al. (1997) implementaram um novo esquema para processamento de sinais para detectar variaes de fase ptica em um interfermetro Mach-Zehnder usando o sinal triangular. A sada do interfermetro foi misturada (mixed) com trens de pulsos chaveados, com largura e espaamento entre os pulsos apropriados. Um sensor com elevada faixa dinmica e fator de escala linear foi obtido. Lee et al. (1998) propuseram trs novos mtodos de processamento de sinais capazes de detectar o desvio de fase ptica em interfermetros usando-se o sinal modulador triangular. Nos trs experimentos utilizou-se um IFOG com modulador eletro-ptico de fase em ptica integrada. No primeiro mtodo (PSDM Phase Sensitive Detection Method), o sinal de sada tinha o mesmo formato de uma demodulao sensvel fase (lock-in demodulation) convencional, na frequncia fundamental. No segundo (DPDM Direct Phase Diference Method), circuitos geravam dois pulsos, sendo que a informao encontrava-se no retardo de tempo entre os mesmos. No terceiro (PHDM Pseudo-heterodyne Detection Method), o retardo de fase ptica podia ser mensurado com medidores de fase, que mediam diferena de fase entre as sadas de dois sinais PLL. Um sensor opto-qumico foi proposto por Heideman e Lambeck (1999), implementado na forma de interfermetro Mach-Zehnder integrado e modulado com sinal triangular auxiliar. Empregando-se amplitudes adequadas, detectavam o sinal interferomtrico, e, usando-se comparadores de cruzamento por zeros, a resposta foi digitalizada para o padro TTL, a partir da qual o nmero de franjas pde ser contado. Almeida et al. (1999) usaram a modulao triangular de fase, em conjunto com a tcnica de cruzamento de zeros, a fim de ampliar a faixa dinmica e o fator de escala linear de um IFOG. Com um giroscpio com 16,4 cm de dimetro de bobina e 300 m de fibra ptica Hi-Bi, os autores utilizaram um modulador de fase integrado, obtendo-se uma faixa dinmica de 30 dB, bem acima da obtida com modulao senoidal (e tcnica de cruzamento de zeros). A fonte ptica foi um diodo superluminescente operando em = 1,31 m; o sinal triangular
selecionado tinha frequncia de 331,3 kHz e profundidade de modulao de 2 rad.
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A tcnica interferomtrica conhecida como self-mixing interferometry, ou, SMI, utiliza a cavidade externa formada pelo laser e o alvo remoto; a luz refletida ou espalhada pelo alvo acoplada de volta cavidade laser e gera modulaes de frequncia e amplitude do campo ptico, a partir do qual pode-se recuperar os desvios de fase aplicando-se diversos esquemas. Originalmente, a tcnica SMI permite mensurar deslocamentos com exatido de 2, contando-se os picos dos sinais de interferncia. A fim de se obter valores de deslocamento com maior preciso, tornam-se necessrios mtodos de medio de fase (phaseshifting technique) a partir do sinal detectado. Para isto, deve-se modular a frequncia ptica do diodo laser, variando-se sua corrente de injeo. Uma forma alternativa de modular o sinal e demodular a fase, recorre modulao do comprimento da cavidade externa, na qual se obtm preciso de nanmetros. Wang e Lai (2001) propuseram o mtodo de modulao da cavidade externa, seguida de demodulao de fase atravs da transformada de Fourier, obtendo-se erros de apenas 100. Modulando-se linearmente o comprimento da cavidade com a forma de onda triangular, a fase do sinal SMI depende do comprimento dessa cavidade, e, o sinal de sada tem forma similar ao das franjas de interfermetros convencionais. O arranjo experimental usou somente um diodo laser, um filtro (que causava retorno de 5 % do laser de volta cavidade) e o alvo. A modulao da cavidade externa foi implementada simplesmente acoplando-se o invlucro do diodo laser a um PZT. Norgia e Donati (2003) desenvolveram um interfermetro do tipo SMI para mensurar deslocamentos de superfcies no-cooperativas (ou rugosas). Nestes sensores, um diodo laser usado tanto como fonte de luz quanto detector do sensor. A configurao do sistema ptico extremamente simples e compacta, no necessitando de elementos como divisores de feixes, espelhos ou fotodetectores externos. O deslocamento do alvo medido contando-se as transies abruptas na forma de onda do sinal de sada, resultando numa resoluo submicromtrica para medies at 500 mm. A fim de ter um sinal SMI disponvel mesmo quando o alvo est em repouso, considerou-se um sinal de modulao triangular na corrente de polarizao d.c. do diodo laser. Este tipo de modulao eficaz para enfatizar tanto os pulsos positivos quanto negativos, melhorando a discriminao da contagem. Sensores interferomtricos por mtodo de contagem de franjas tm a vantagem de no serem afetados por flutuaes na fonte ptica ou visibilidade de franjas. Se um processo de sub-diviso de franjas for adotado, a resoluo do sensor pode ser sensivelmente melhorada. A fim de julgar o sentido do deslocamento das franjas, em geral, so utilizados dois fotodiodos. Cao et al. (2005) propuseram um esquema que utilizava somente um fotodiodo,
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beneficiando-se das propriedades do sinal interferomtrico diante da modulao triangular da fase, e assim, mensurar aceleraes bidirecionais. Foi utilizado um interfermetro MachZehnder em fibra ptica, cujos braos foram enrolados num sensor em forma de mandril (configurao push-pull). No caso, o sinal triangular modulou a corrente de injeo do diodo laser, obtendo-se modulao de fase da luz atravs da variao da frequncia ptica. Vibraes dinmicas em tempo real puderam ser medidos sem distores. Variando-se a corrente de injeo, o comprimento de onda do diodo laser modulado, porm, tambm ocorre uma concomitante modulao de intensidade da luz, conduzindo a erros de medio. Guo e Wang (2006) usaram um modulador eletro-ptico na cavidade externa, excitado com modulao triangular de fase, a qual proporciona uma modulao de fase pura, com modulao de amplitude extremamente reduzida. Comparado com a tcnica de phase-stepping tradicional (que usa o algoritmo de Schwinder-Hariharam), a qual limitada ao estudo de objeto esttico, o mtodo de deslocamento de fase da portadora temporal permite operaes mais rpidas, tornando possvel a medio de deslocamentos em tempo real, com exatido de 60. Uma nova configurao foi proposta por Kuo et al. (2007), usando-se sinal triangular para excitar um modulador eletro-ptico a fim de se gerar um interfermetro heterdino. Aplicando-se o sinal triangular, com tenso de pico-a-pico igual a (tenso de meia-onda da
clula Pockels), produz-se uma sada senoidal no fotodiodo, desde que o retardo de fase entre os modos e de polarizao da luz seja nulo. Por outro lado, se tal retardo no for nulo, a
sada torna-se distorcida, com elevado contedo de segunda harmnica. Empregando-se um amplificador lock-in para selecionar a segunda harmnica, os autores mensuraram o ngulo de rotao ptica de um meio chiral (soluo de glicose), obtendo-se excelentes resultados para ngulos inferiores a 30. Baseado no efeito Sagnac, o giroscpio ressonante em fibra ptica (RFOG Ressonator Fiber-optic Giro) tem potencial de grande exatido como sensor de rotao inercial. Para o IFOG convencional, uma longa bobina de fibra ptica (maior que 1 km) e uma fonte de luz com baixa coerncia so necessrios para se atingir desempenho elevado. Por outro lado, o RFOG pode diminuir a intensidade de rudo usando laser com alta coerncia, o qual mais estvel, e, a bobina de fibra to curta (5 a 10 m) que as derivas trmicas podem ser sensivelmente reduzidas. Na prtica, o desempenho do RFOG inferior ao IFOG devido a erros introduzidos pelo retroespalhamento Rayleigh e Kerr, efeitos Faraday e trmicos. A tcnica de modulao e de deteco de sinal fundamental no RFOG para que uma deteco precisa influencie diretamente na resoluo final do giroscpio. Tcnicas de modulao
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senoidal e dente-de-serra linear de fase tm demonstrado diminuir os erros no RFOG. O pulso de rudo induzido pelo reset de 2 de fase na forma de onda dente-de-serra constitui uma dessas fontes de erro. A modulao triangular melhor para reduzir o rudo por retroespalhamento induzido, quando comparado com a modulao senoidal ou dente-de-serra. Esta modulao de fase equivalente a um desvio de frequncia, gerando-se um sinal pseudoheterdino. Alm disso, o sinal triangular vantajoso por permitir a digitalizao do sistema RFOG. Jin et al. (2007) construram, pela primeira vez, um RFOG em malha aberta baseado na tcnica de modulao digital da forma de onda triangular da fase, a qual isenta do pulso de rudo por reset, proporcionando reduo do rudo por retroespalhamento. Os resultados experimentais conduziram faixa dinmica de 3,37 rad/s, com deriva de 0,012 rad/s ao longo de 5 s. Ying et al. (2008) propuseram o uso da tcnica de modulao triangular da fase em um RFOG usando um modulador integrado de LiNbO3. A fim de maximizar a declividade de demodulao de sinal, os parmetros de forma de onda triangular foram investigados, obtendo-se valores timos de frequncia de modulao e ndice de modulao de fase. Como resultado, conclui-se que a modulao triangular superior tcnica senoidal na reduo do rudo induzido por retroespalhamento. Ying et al. (2010) analisaram o efeito Kerr em RFOGs baseados em modulao triangular da fase. Conclui-se que existe uma diferena tima dos coeficientes de intensidade que conduzem a erro nulo no RFOG. Tambm, que o erro induzido por efeito Kerr num RFOG com fibra ptica PBF (air-core photonic-bandgap fiber) chega a duas ordens de magnitude menor que num RFOG com fibra ptica Hi-Bi convencional. Conclui-se, portanto, a importncia da modulao de fase triangular para o desempenho de vrios sistemas interferomtricos. Contudo, nenhuma dessas tcnicas emprega a anlise espectral do sinal detectado. Nesta dissertao, prope-se, pela primeira vez, empregar a modulao de fase triangular em conjunto com a anlise do espectro para determinar a profundidade de modulao , com vistas para mensurar deslocamentos sub-nanomtricos.
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1.4 Objetivos da Dissertao
Conforme discutido, existe um nmero relativamente pequeno de mtodos de deteco de fase, utilizando anlise espectral, divulgados na literatura e que podem ser utilizados para a caracterizao de atuadores piezoeltricos flextensionais. Neste trabalho nfase dada ao estudo do novo mtodo desenvolvido, denominado b1/b3 baseado na modulao de fase triangular. Como estratgia, pretende-se validar esse mtodo testando-o em um modulador eletro-ptico de amplitude. Este, por sua vez, possui caractersticas previamente conhecidas, pois pode ser modelado analiticamente utilizando-se apenas o eletromagnetismo. Realizam-se tambm simulaes dinmicas interferomtricas utilizando o software Simulink, onde o novo mtodo de demodulao analisado antes da aplicao prtica. Por fim, o desempenho do mtodo testado diante de dados experimentais, resultantes de ensaios, de interferometria ptica aplicada medio de deslocamentos nanomtricos em atuadores piezoeltricos flextensionais. Antes de concluir, deseja-se ressaltar que esta dissertao privilegia a proposio e o estudo do mtodo b1/b3, que tambm aplicado experimentalmente em laboratrio. Desta forma, a avaliao e desempenho do mtodo b1/b3 no tratamento de sinais interferomtricos, baseou-se em dados mensurados pela autora com o modulador eletro-ptico e por outrem como, por exemplo, no trabalho de Barbosa (2009). Conforme ser evidenciado no texto, esta tcnica conduz a resultados concordantes com trabalhos anteriores, alm de exibir maior simplicidade e potencial para medio de deslocamentos micro e nanomtricos de superfcies slidas.
1.5 Organizao da Dissertao
Esta dissertao dividida em oito captulos, incluindo esta Introduo. No captulo 2 abordam-se os conceitos fundamentais de interferometria ptica de dois feixes, mostrando o interfermetro de Michelson, a anlise do sinal fotodetectado e as dificuldades que se apresentam na fotodeteco devido ao fenmeno de desvanecimento.
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No captulo 3, descreve-se os atuadores piezoeltricos. Nele so apresentados os conceitos de piezoeletricidade, assim como os atuadores piezoeltricos flextensionais, os quais so utilizados neste trabalho. No captulo 4, apresenta-se a nova tcnica espectral para demodular sinais interferomtricos, descrevendo-se seu funcionamento. feita a analise do comportamento da tcnica com simulaes em condies ideais e na presena de rudo branco gaussiano, bem como, da sensibilidade do mtodo. No captulo 5 encontra-se um modelo do sistema interferomtrico desenvolvido no Simulink. O novo mtodo espectral, proposto no captulo 4, implementado neste modelo. Os resultados obtidos com a simulao dinmica do novo mtodo so apresentados e discutidos. Conforme ser mostrado, esta plataforma de desenvolvimento serve para validar os novos mtodos com simulao dinmica, que muito se aproxima da realidade prtica, antes de serem aplicados em laboratrio. No captulo 6, apresentado o processo de validao do novo mtodo que usa o modulador eletro-ptico de amplitude baseado no efeito eletro-ptico. Apresenta-se a clula Pockels e a arquitetura do modulador, o qual aplicado para validao da exatido do novo mtodo de demodulao de fase ptica proposto. No captulo 7, so discutidos os resultados experimentais obtidos pelo novo mtodo de demodulao. Comparaes so feitas quanto sua eficincia e aplicabilidade prtica com experimentos realizados com atuadores e manipuladores piezoeltricos flextensionais. Por fim, apresentam-se as concluses e algumas perspectivas futuras no captulo 8.
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Captulo 2
FUNDAMENTOS DE INTERFEROMETRIA PTICA
A interferometria ptica tem sido amplamente utilizada para medio de deslocamentos micromtricos em slidos, principalmente, por constituir uma tcnica no invasiva, no exigindo nenhum acoplamento mecnico entre o dispositivo sensor e a superfcie do espcime sob investigao. A deteco ptica pode ser aplicada em banda larga, para mensurar microvibraes, com resposta em frequncia plana ao longo de centenas de MHz. Isto, sem interferir nem inserir novas frequncias de ressonncias mecnicas (SCRUBY; DRAIN, 1990). Os interfermetros, investigados nesta dissertao, fazem uso de dois feixes de luz de mesma frequncia ptica, sendo classificados como homdinos. Estes sistemas
interferomtricos empregam o princpio de interferncia ptica usando a luz refletida por uma superfcie submetida a um deslocamento vibratrio. Trata-se de uma tcnica muito sensvel, porm, para ser prtica no uso geral, requer uma fonte de luz altamente monocromtica e, portanto, o uso do laser essencial (HARIHARAN, 2003). Os sistemas interferomtricos so aplicados como sensores baseados na variao relativa da fase ptica entre seus feixes, a qual mensurada e convertida em variao de intensidade ptica, como ser discutido neste captulo. Os interfermetros como sensores de fase possuem sensibilidades extremamente elevadas, e por isso, paradoxalmente, so influenciados no somente pelo estmulo de interesse, mas tambm por perturbaes ambientais, tais como variaes de temperatura e vibraes externas, que provocam uma variao aleatria de fase ptica, a qual prejudica significativamente a qualidade do sinal fotodetectado. Este fenmeno denominado desvanecimento de sinal. Assim sendo, neste captulo, abordam-se os fundamentos da interferometria ptica: interfermetro de Michelson, o problema do desvanecimento e o estudo do processo de fotodeteco.
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2.1 O Interfermetro de Michelson
O interfermetro abordado neste trabalho adequado para detectar microvibraes em slidos. Esse sistema tem a vantagem de no entrar em contato com a amostra e, portanto, no perturba o campo acstico; o ponto de medio pode ser movido (varredura de superfcie) e no h restries quanto temperatura da amostra (SCRUBY; DRAIN, 1990). Como as medies podem ser relacionadas diretamente com o comprimento de onda da luz no vcuo, nenhum padro de calibrao necessrio. Ou seja, a interferometria ptica constitui um padro primrio de calibrao. Alm disso, possui elevada largura de banda, relativamente a outros mtodos convencionais. Os interfermetros podem se apresentar em diversas configuraes como as de Michelson, Mach-Zehnder, Sagnac, Fabry-Perot, e outras (HARIHARAM, 2003), cada qual sendo mais adequada a certas aplicaes especficas. Neste trabalho, estuda-se apenas a primeira. Na figura 2.1 ilustra-se o interfermetro de Michelson bsico, o qual mais adequado para mensurar vibraes (ou deslocamentos), embora tambm possa ser adaptado para mensurar outras grandezas fsicas. A luz de uma fonte monocromtica (laser) dividida por um divisor de feixes, parte atingindo o espelho de referncia M1 e parte direcionada para o espelho mvel M2, cujo deslocamento se deseja mensurar. Basicamente, um divisor de feixes cbico constitudo por dois prismas colados a um espelho semi-refletor, formando um sanduche. De acordo com o fabricante, a taxa de diviso de feixes pode ser 50/50 (razo entre as potncias pticas transmitida e refletida), 75/25, e outras.
Figura 2.1 O interfermetro de Michelson bsico.
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Os feixes so refletidos de volta ao divisor de feixes, onde so superpostos e recombinados sobre um fotodetector. A diferena de fase entre os feixes pticos de referncia e sensor no fotodetector depende da diferena entre os dois caminhos pticos percorridos. Se esta diferena for um mltiplo inteiro do comprimento de onda ( ), os feixes estaro em fase e interferncia construtiva ocorre (HETCH, 1987). Se a diferena for uma frao igual a 2, a interferncia ser destrutiva e a intensidade ptica resultante se anula. Caso o espelho M2 se mova gradativamente numa dada direo, com amplitudes relativamente grandes, observar-se- uma sucesso de mximos e mnimos de intensidade ptica sobre o fotodetector, denominada de movimento de franjas (BARBOSA, 2007). Isto pode ser explorado para mensurar os valores dos deslocamentos de M2: um ciclo de sinal observado pelo fotodetector corresponde a um movimento de na faixa ptica 2, algo na escala sub-nanomtrica, pois
da ordem de 1 m. Embora o processo de contagem de franjas constitua
uma tcnica classicamente til para mensurar microvibraes, adequada apenas para estudar deslocamentos da ordem de vrios milhares de angstroms. Informaes tericas e experimentais envolvendo a tcnica de contagem de franjas podem ser encontradas no trabalho de Leo (2004). Os aspectos prticos do alinhamento do interfermetro em laboratrio e o processo de formao de franjas de interferncia podem ser obtidos no relatrio de Barbosa (2007). Na configurao da figura 2.1, no h nenhum deslocamento da frequncia ptica dos ramos sensor e de referncia. Neste caso, o interfermetro de Michelson denominado homdino. Se a luz de um dos feixes, por exemplo, o do ramo de referncia, sofrer um desvio de frequncia, o interfermetro denominado heterdino (TAKIY, 2009a). Embora esta constitua uma importante linha de pesquisa (SAKAMOTO; PACHECO, 2010) a tcnica heterdina no ser abordada nesta dissertao.
2.2 Sinal Interferomtrico
Conforme discutido na seo 1.1, o advento do laser acentuou a aplicao de deteco por lei quadrtica em sensores pticos. Fotodetectores de lei quadrtica so dispositivos optoeletrnicos que geram uma corrente/tenso diretamente proporcional intensidade ptica incidente. So exemplos de fotodetectores de lei quadrtica o fotodiodo convencional, o
34
fotodiodo PIN, o fotodiodo de avalanche e o fototransistor. Para que tenham uma elevada largura de banda, tais fotodetectores tm rea receptora muito pequena, tipicamente inferior a 1 mm2 (KEISER, 1991). Do modelamento matemtico que ser desenvolvido a seguir, primeiramente demonstrar-se- a expresso da intensidade ptica de sada (1.1), a qual inicia-se com a anlise do interfermetro de Michelson homdino mostrado na figura 2.1. Considera-se que os dois raios de luz so originados da mesma fonte laser, e, que ao passarem por um divisor de feixes neutro, garante-se que as polarizaes dos raios pticos nos dois ramos so idnticas. Em princpio, o modelo de onda plana suficientemente preciso para a anlise. Considere-se que o campo eltrico associado ao laser na figura 2.1 seja dado por:
E0 e jZt ,
Ein (t )
(2.1)
onde
a amplitude e a frequncia da luz. Assim, dividindo-se (2.1) aos ramos referncia ( ) e sensor ( ) que incidem
e sensor, aps a passagem da luz pelo divisor de feixes e posteriores reflexes nos espelhos M1 e M2, tm-se os campos eltricos dos ramos referncia no fotodetector:
E01 e j (Zt ) , E02 e j[Zt
) ( t )]
ER (t ) ES (t )
(2.2-a) , (2.2-b)
onde
so as amplitudes dos campos eltricos no ramo referncia e sensor,
respectivamente, e ( ) a diferena de fase total entre os dois feixes. Observa-se que o formalismo de onda plana escalar e a notao fasorial foram empregados. Isto vlido se for admitido que os feixes so polarizados linearmente, no ocorra mudana do estado de polarizao durante as reflexes nos espelhos e que a radiao monocromtica, gerada por uma fonte com elevado grau de coerncia. Esta hiptese ser adotada ao longo de todo este captulo. Um sinal como o descrito pela equao (2.2-b) constitui o que chamado de modulao de fase (PM Phase Modulation) na teoria de sistemas de comunicao, sendo a frequncia da portadora de sinal modulador ( ) (CARLSON; CRILLY; RUTLEDGE, 2002). Como a frequncia ptica deste campo eltrico da ordem de 10 14 Hz, esta variao de fase no pode ser medida diretamente, usando-se instrumentao eletrnica convencional. Em
35
outras palavras, toda informao de fase perdida quando medies de intensidade ou potncia ptica so executadas. Por esta razo, os sistemas interferomtricos so utilizados, para converter a variao de fase do campo eltrico (2.2-b), resultante do deslocamento da superfcie de atuadores (por exemplo), em variaes de intensidade ptica, a qual pode se mensurada diretamente com o auxlio de fotodetectores. A superposio destas componentes de campos sobre o fotodetector d origem ao seguinte campo eltrico total na sada do interfermetro:
Eout (t )
ES (t ) ER (t ) .
(2.3)
No entanto, o sinal de sada do interfermetro dado atravs da intensidade ptica ou irradincia ( ), que proporcional ao valor mdio do vetor de Poynting (BORN; WOLF, 1980), detectada pelo fotodetector de lei quadrtica:
I (t )
* Eout (t ) Eout (t )
[ ES (t ) ER (t )][ ES (t ) ER (t )]* .
(2.4)
Substituindo as equaes (2.2-a) e (2.2-b) na expresso (2.4) e executando-se o produto, obtm-se:

I (t )
2 2 E01 E02
E01E02e j[) (t )]
E01E02 e
j [ ) ( t )]
(2.5)
Recorrendo-se identidade de Euler, cos x (2.5) conduz a:
(e jx 2
jx
, mostra-se que a equao
I (t )
2 E01
2 E02
2E01E02 cos[)(t )]
(2.6)
As primeira e segunda parcelas do segundo membro de (2.6) esto associadas soma das intensidades pticas dos raios individuais, e a terceira, ao termo de interferncia (ou produto cruzado). Somente o termo de interferncia contm informao sobre o sinal de interesse.
36
Colocando em evidncia a soma das intensidades pticas dos raios individuais em (2.6), tem-se: ( )=( + ) 1+ 2 + [( )] . (2.7)
A seguir, define-se o fator de visibilidade como:
2 E01E02 2 2 E01 E02
2 2 E01E02 2 2 ( E01 E02 ) / 2
(2.8)
correspondente razo entre a mdia geomtrica e a mdia aritmtica das intensidades pticas nos ramos do interfermetro. O valor da visibilidade ( ) pode variar entre nulo (quando , ou vice-versa) e unitrio (quando = ), sendo o valor unitrio uma situao
na qual ocorre grande contraste entre franjas e, portanto, constitui uma situao mais fcil de ser detectada e demodulada (MENEZES, 2009). A fim de simplificar a equao (2.7), calcula-se a intensidade ptica do laser a partir da expresso (2.1):
I 0 (t )
* Ein Ein
2 E0 .
(2.9)
Considerando-se que o divisor de feixes tenha uma razo de 50:50, possvel afirmar que as potncias pticas em cada ramo do interfermetro sejam iguais, tal que = =
2. Desse modo usando-se (2.8) e (2.9) pode-se reescrever (2.7) da seguinte forma:
( )=
[1 +
( )],
(2.10)
sendo o fator 12 inserido ad-hoc a fim de que a intensidade normalizada, , varie somente entre 0 e 1. A rigor, quando = , ocorre = 1 em (2.8) e (2.10). Contudo, na prtica, podem
ocorrer no idealidades como, por exemplo, pequenos desalinhamentos entre os feixes pticos na sada do interfermetro, comprimento de coerncia finita da fonte ptica, imperfeio do paralelismo entre as polaridades dos feixes, e outras (DEFERRARI; DARBY; ANDREWS,
37
1967). Por isso, o valor de
(tal que 0 < = .
< 1) tambm costuma ser inserida em (2.10) de
forma ad-hoc, mesmo quando
Alm disso, destaca-se que ( ) a diferena total de fase relativa entre os dois feixes do interfermetro, e, que a mesma pode ser composta pela soma da variao de fase induzida entre os braos do interfermetro, ( ), e da diferena de fase esttica entre os braos, Ou seja: .
( ) = ( ) +
(2.11)
Em (2.11) tem-se que ( ) est associada ao sinal de interesse e corresponde a um desvio de fase varivel no tempo, induzido pelo fenmeno que se deseja mensurar, enquanto que, o termo , idealmente, uma fase esttica dada por (HETCH, 1987):
I0
2S
O0
nl ,
(2.12)
onde
o comprimento de onda (no vcuo) da fonte ptica,
o ndice de refrao do
meio onde a luz se propaga ( = 1, para o ar) e dos braos do interfermetro.
a diferena total entre os comprimentos
Considerando que, no arranjo da figura 2.1, o fenmeno a ser medido possa causar uma variao relativa no ndice de refrao ( ) e no comprimento ( ) quando atua sobre o ramo sensor do interfermetro, tem-se uma variao de fase ptica no feixe de sinal igual a (GIALLORENZI et al., 1982): 2
( )=2
[ ( ) + ( )],
(2.13)
onde o fator 2 foi utilizado porque ocorrem desvios de fase tanto na ida quanto na volta do feixe sensor que incide em M2 (figura 2.1) no interfermetro de Michelson. Assim, se esse arranjo estiver usando o ar como meio de propagao e considerando que no haja variao de ndice de refrao, possvel reescrever (2.13) tal que: 2
( )=2
[ ( )].
(2.14)
38
Atravs de (2.14) pode-se calcular o deslocamento do espelho M2, isolando ( ), obtendo-se: ( )= 4 ( ). (2.15)
Por sua vez, substituindo-se a expresso (2.11) em (2.10), a intensidade ptica no fotodetector pode ser reescrita como:
( )=
{1 +
[ ( ) +
]}.
(2.16)
A intensidade ptica de sada (2.16), ao incidir no fotodetector, convertida em um sinal eltrico PM, e assim, pode ser demodulado usando-se tcnicas estudadas em sistemas de comunicao (CARLSON; CRILLY; RUTLEDGE, 2002). O interesse extrair a informao contida em ( ), a qual, com o auxlio do interfermetro, transferida do domnio ptico, conforme dado em (2.2-b) para o domnio eltrico, conforme (2.16). Em princpio, ( ) pode ser uma funo que varia arbitrariamente no tempo, porm, para o novo mtodo envolvido nesta dissertao, utiliza-se uma excitao de fase triangular peridica ( ), conforme apresentada na figura 2.2, e dada por: 4 ( ) = ( ) = 4 +2
para para
4 3 < < 4 4
< <
(2.17)
onde x a profundidade de modulao de fase em radianos e
o perodo.
Figura 2.2 Sinal triangular usado para excitar a fase do interfermetro.
39
Portanto, o problema da interferometria ptica consiste em se mensurar
(uma vez
conhecido o perodo ), ou seja, a amplitude de ( ), e da, ( ) usando-se (2.15). A nova tcnica de demodulao de fase ptica com ( ) do tipo (2.17) ser relatada no captulo 4.
2.3 O Problema de Desvanecimento do Sinal
As tcnicas de demodulao de sinais interferomtricos com baixas amplitudes de modulao, em geral, dependem da condio Segundo a equao (2.12), = 2 rad, denominada quadratura de fase.
corresponde diferena de fase causada pela diferena entre os
caminhos pticos dos dois braos do interfermetro (BARBOSA, 2009). Assim, a condio de quadratura de fase pode ser estabelecida ajustando-se, por exemplo, o espelho fixo M1, na figura 2.1 at que seja observado o maior valor pico-a-pico de sinal de sada em torno do ponto Q na figura 2.3, cujo grfico de versus corresponde funo de transferncia
no linear dada em (2.10). Neste caso em particular, ( ) tem uma forma de onda triangular com baixa amplitude ( ser essencialmente triangular. 2 rad). Como o ponto Q est sobre a regio mais linear da curva de transferncia, o sinal fotodetectado na sada do interfermetro (proporcional a )
Figura 2.3 Curva de transferncia ptica de um interfermetro.
40
Na figura 2.4, ilustram-se exemplos de sinais interferomtricos adquiridos no laboratrio de Optoeletrnica da FEIS (na realidade, oriundos de um interfermetro polarimtrico, discutido no captulo 6) e em simulaes em Matlab, aplicando-se um sinal de excitao triangular, do tipo ( ) dado por (2.17), em quadratura de fase = 2 rad. Em
a) o sinal de excitao, localizado na tela do osciloscpio acima do sinal fotodetectado, aplicado com tenso de 34 Vpp, e em b) simulado o sinal de fase com amplitude de 0,2 rad. O sinal fotodetectado ( ) diretamente proporcional ao sinal de excitao. medida que se aumenta a amplitude do sinal de excitao, abrange-se a maior parte da regio linear da curva de transferncia, chegando a ponto de se tornar senoidal e at mesmo apresentar reentrncias. No caso c) tem-se o sinal de excitao, com tenso de 120 V pp, e fotodetectado (abaixo) visualizados pelo osciloscpio, e em d) simulado o sinal de excitao com amplitude de 0,5 rad. Em e) o sinal de excitao aplicado com tenso de 170 V pp e em f) simulado o sinal de fase com amplitude de 0,7 rad.
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(a)
(b)
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(c)
(d)
Figura 2.4 (continua...)
41
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(e)
(f)
Figura 2.4 Exemplos de sinais fotodetectados quando em quadratura de fase = 2 rad. a) Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao (acima) com tenso de 34 V pp e fotodetectado (abaixo). b) Simulao em Matlab: sinal de fase com amplitude de = 0,2 rad. c) Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao (acima) com tenso de 120 Vpp e fotodetectado (abaixo). d) Simulao em Matlab: sinal de fase com amplitude de = 0,5 rad. e) Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao (acima) com tenso de 170 V pp e fotodetectado (abaixo). f) Simulao em Matlab: sinal de fase com amplitude de = 0,7 rad.
Em princpio, o termo de fase
deveria corresponder uma fase esttica, contudo, ele
invariavelmente corrompido por perturbaes ambientais, mesmo que tnues. Flutuaes de temperatura e presso, turbulncias de ar e vibraes geradas nas proximidades do interfermetro, produzem derivas diferenciais no caminho ptico entre os braos do interfermetro. Isto faz com que o ponto de operao Q na figura 2.3 excursione aleatoriamente sobre a curva caracterstica dada por (2.10), causando o desvanecimento do sinal fotodetectado. No se trata de rudo eletrnico, o qual afeta a amplitude desse sinal, mas sim uma perturbao espria sobre a fase ptica . Normalmente, um termo de
variao lenta no tempo, associado frequncia inferiores a 50 Hz em grande parte das aplicaes (DEFERRARI; DARBI; ANDREWS, 1967). Na figura 2.5 ilustram-se exemplos de desvanecimento, para um sinal de fase triangular. No caso a) o sinal de excitao aplicado com tenso de 34 Vpp, e em b) simulado o sinal de excitao operando em = rad e = 0,2 rad. Observa-se que o sinal fotodetectado ( ) = 4 rad e = 0,4 rad. Para o caso e) o = 0,7 rad, o que
apresenta-se distorcido. Em c) o sinal de excitao aplicado com tenso de 110 Vpp, e em d) simulado o sinal de excitao operando em
sinal de excitao aplicado com tenso de 170 V pp, e em f) simulado o sinal de excitao operando em = 4 rad, porm com amplitude aumentada, de
proporciona maior reentrncia no sinal de sada.
42
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(a)
(b)
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(c)
(d)
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(e)
(f)
Figura 2.5 Efeito do desvanecimento. a) Sinal de excitao, com tenso de 34 Vpp, e fotodetectado com = rad = rad e = 0,2 rad. c) Sinal de excitao, com visualizados em osciloscpio. b) Simulao em Matlab para = 4 rad visualizados em osciloscpio. d) Simulao em Matlab para tenso de 110 Vpp, e fotodetectado com 4 rad e amplitude de 0,4 rad. e) Sinal de excitao, com tenso de 170 Vpp, e fotodetectado com = = 4 rad = 4 rad e amplitude de 0,7 rad. visualizados em osciloscpio. d) Simulao em Matlab para
43
Segundo Barbosa (2008), basta um deslocamento relativo entre os espelhos igual a =( ) = 0,5 m, para que varie de 2 rad. Este pequeno deslocamento pode ser
causado, por exemplo, pela vibrao introduzida no laboratrio pelo aparelho condicionador de ar. Entretanto, em interferometria, deseja-se mensurar valores de ( ) to pequenos quanto 10-3 rad. Significa ento, que o problema da interferometria conseguir mensurar um pequeno ( ), obscurecido por uma intensa variao aleatria de .
Na prtica, o desvanecimento pode ser minimizado montando-se o interfermetro sobre mesas pticas com amortecimento ssmico, e condicionando-se o ambiente do laboratrio para proporcionar isolao acstica e temperatura controlada, como tipicamente ocorre nos laboratrios de metrologia. Uma outra alternativa, mais barata e elegante, consiste em se aplicar tcnicas de processamento de sinais.
2.4 Deteco de Fase ptica O Mtodo
Conforme apresentadas neste captulo, as tcnicas de contagem de franjas (BARBOSA, 2007; LEO, 2004) e de baixa profundidade de modulao (BARBOSA, 2009) podem ser empregadas para detectar a fase ( ) presente em (2.16). Contudo, a primeira se presta a mensurar grandes deslocamentos (acima de 2000 nm), enquanto a segunda, aplicada somente para mensurar deslocamentos abaixo de aproximadamente 20 nm. Alm disso, a primeira introduz um erro sistemtico devido discretizao dos resultados (um nmero inteiro de franjas), a despeito de perturbaes externas esprias. J a segunda, demanda um trabalhoso processo de auto-calibrao do interfermetro. Em 1967, Deferrari, Darby e Andrews propuseram os mtodos mx, nulo, e
, baseados no comportamento das raias espectrais do sinal fotodetectado (2.16), para ( )= detectados para . Dentre esses, destaca-se nesta seo o mtodo , o qual se aplica = 3 rad
faixa de deslocamentos entre 20 nm e 2000 nm. Na figura 2.6 so listados exemplos de sinais = 2 rad, sendo = 2 rad em (a), = 0 rad em (b), e,
em (c). Como se observa, o sinal de sada no mais proporcional ao sinal de entrada, mas sim, um sinal distorcido, composto de mltiplas harmnicas. O espectro do sinal fotodetectado em (a) apresenta somente harmnicas mpares, em (b), harmnicas pares, e, em (c), harmnicas pares e mpares.
44
Figura 2.6 Tenso fotodetectada ( ) normalizada e seu espectro de magnitude em dB (at a dcima harmnica), para uma excitao do tipo = ( ), considerando visibilidade unitria, e regime multi[ ( ) = 2 rad]. (b) Ponto quiescente franjas, com ndice de modulao = 2 rad. (a) Ponto quiescente [ ( ) = 0 rad]. (c) Ponto quiescente [ ( ) = 3 rad] (MARAL, 2008).
45
Como j deduzido, num interfermetro de Michelson o sinal de sada do fotodetector, ( ), o qual proporcional (2.16), pode ser reescrito como:
( )=
{1 +
( )
( )},
(2.18)
sendo
, onde
a responsividade de tenso do fotodiodo (KEISER, 1991).
Uma vez que a diferena de fase ( ) considerada nesta seo senoidal, pode-se utilizar as seguintes relaes matemticas para dar sequncia ao desenvolvimento (ABRAMOWITZ; STEGUN, 1972):
( e (
)=
( )+2
( )
(2.19 a)
)=
( )
[(2 1) ] ,
(2.19 b)
nas quais
so as funes de Bessel de primeira espcie e ordem n, e cujos grficos
encontram-se ilustrados na figura 2.7 (n inteiro):
Figura 2.7 Funes de Bessel de primeira espcie e ordem n.
46
Assim, substituindo-se (2.19-a) e (2.19-b) em (2.18), obtm-se:
( )=
{1 +
( )+2
( ) cos(2
) +
( )
[(2 1)
] },
(2.20)
correspondente decomposio espectral do sinal detectado. Se este sinal ( ) estiver acoplado a um analisador de espectros de varredura, ser 1): (2.21 a) (2.21 b)
possvel observar as amplitudes das componentes harmnicas, dadas por (para
= = O mtodo
( ), ( ),
para para
par, mpar.
sugere mensurar as magnitudes das componentes fundamental ( ) e
terceira harmnica ( ) de ( ) e, em seguida, calcular a razo entre as mesmas. Durante o clculo da razo coeficientes , apenas raias espectrais com mpar sero envolvidas e, assim, os , de (2.21-b) so cancelados entre o numerador e denominador de independe do valor de
mostrando que o clculo de
. Por esse motivo, em princpio, tal
mtodo imune ao desvanecimento. Curiosamente, esta propriedade no foi explorada pelos autores do mtodo, os quais sugeriam que deveria ser ajustado em 2 rad. Tambm
pode-se afirmar que o mtodo independe da estabilidade da fonte ptica ( ), da responsividade do fotodiodo ( ) e da visibilidade ( ), uma vez que o clculo independe do valor de . Assim, para =1 e 3 em (2.21-b) tem-se a equao transcendental: ( ) , ( )
(2.22)
a qual, por no ter soluo analtica, deve ser resolvida numericamente a fim de se extrair o valor de . A relao (2.22), contudo, constitui uma idealizao cuja repercusso no foi totalmente formulada pelos autores do mtodo em (DEFERRARI; DARBY; ANDREWS, 1967). Na
47
prtica, existe um limite inferior para deteco do ndice de modulao eletrnico, conforme ser discutido a seguir. luz da decomposio espectral, quando
imposta pelo rudo
1, somente as componentes
( )e
( )
so significativas. De fato, pela figura 2.7, observa-se que a magnitude das raias espectrais superiores a = 1 so desprezveis para 1. Isto pode tambm ser observado
constatando-se que (ABRAMOWITZ; STEGUN, 1972):
( )= 1 ( )=
2 .4
+ 1, + , 2
(2.23 a) (2.23 b)
2 .4
2 .4 .6
( )=
2 .4
2 .4 .6
2 . 4 . 6. 8
(2.23 c)
( )=
2 .4 .6
2 .4 .6 .8
2 . 4 . 6 . 8 . 10
48
(2.23 d)
para
1. Portanto, quando
1, componentes superiores a
(em particular
) possuem
magnitudes desprezveis, podendo ser inferiores aos nveis de rudo eletrnico no sistema. Sudarshanam e Claus (1993) estabeleceram, atravs de resultados experimentais, que a caracterstica de rudo nestes mtodos de deteco pode ser formulada com base na tenso de rudo do tipo 1 , gerado por junes semicondutoras nos componentes do sistema, tais como o laser, fotodetector, amplificador e analisador de espectros. Com isso, assumindo-se que componente fundamental, ento, [usando (2.21-a) e (2.21-b)] para: ( )+ , ( )+ 3 a tenso de rudo 1 que incide sobre a
ser a tenso de rudo que incide sobre a n-sima
harmnica de ( ). Admitindo-se, ainda, que este rudo aditivo, (2.22) deve ser corrigida
( ) = ( )
( ) = ( )
(2.24)
onde
o ndice de modulao esperado e
o ndice de modulao estimado
(calculado, resolvendo-se a equao transcendental).
48
Definindo-se um novo fator de rudo, 1993):
, conforme (SUDARSHANAM; CLAUS,
(2.25)
(2.24) poder ser reescrita como: ( )+ ( )+ 3
( ) = ( )
(2.26)
a qual, para um dado , deve ser resolvida para se determinar . O valor de pode ser determinado por experimentos, sendo o valor de = 0,0011 bastante conservador para a maioria das aplicaes prticas (SUDARSHANAM; CLAUS, 1993). Utilizando-se este valor de , obteve-se o grfico (empregando-se o Matlab) mostrado
na figura 2.8, resolvendo-se (2.22) e (2.26), para os casos ideal e com rudo, respectivamente. Adotou-se o valor = 4 rad por convenincia. Como se observa, existe uma discrepncia 1, devido a incidncia do rudo 1 .
entre os grficos quando
Figura 2.8 - Resultados do mtodo J1/J3 (MENEZES, 2009).
importante ressaltar que, conforme mostraram os clculos de Menezes (2009), variando-se arbitrariamente os valores de , obteve-se o mesmo resultado da figura 2.8,
49
evidenciando que a tcnica de fato imune ao desvanecimento, exceto nos casos onde = = rad, inteiro. = em funo
Na figura 2.9, apresenta-se o grfico (em cor vermelha) de erro do desvio de fase esperado, .
Figura 2.9 - Clculo do erro de deteco (MENEZES, 2009).
A fim de estabelecer o limite inferior da exatido do mtodo
, define-se o mnimo
desvio de fase detectvel MDPS (ou Minimum Detectable Phase Shift) como sendo o valor de para o qual = ou, equivalentemente, o ponto no qual o grfico de versus
intercepta a reta = . possvel observar o MDPS na figura 2.9, que no presente caso, igual a 0,1765 rad. Abaixo deste valor, o rudo torna-se predominante e diverge do valor esperado . Apesar da eficincia do mtodo para mensurar > 0,1765 rad, existe o
inconveniente de se resolver numericamente uma equao transcendental, (2.22), envolvendose a inverso de funes de Bessel. Alm disso, ocorre um problema adicional, que torna o mtodo no confivel. Na soluo da razo entre as funes de Bessel existente em (2.22), aqui denominada de razo = ( ) ( ) = , h um problema de ambigidade de
fase, ou seja, para um mesmo valor de
h vrios valores possveis de . A situao se torna , e o ndice de modulao
evidente quando se analisa o grfico que relaciona a razo esperado ( ), o que apresentado na figura 2.10.
50
Figura 2.10 - Grfico da razo 2009).
versus , evidenciando o problema de ambigidade de fase (MENEZES,
Como se observa atravs da figura 2.10, no possvel determinar especificamente qual valor de foi aplicado para um dado valor da razo e = . Ou seja, para um dado , que
calculado a partir das raias espectrais
, podem ocorrer infinitos valores de
satisfaam (2.22). Este problema de ambigidade de fase restringe a aplicao do mtodo soluo de problemas nos quais aumenta gradativamente a partir de = 0, a fim de rastrear
a evoluo das razes da equao transcendental, bem como os sinais algbricos das funes de Bessel. Objetivando resolver as dificuldades operacionais do mtodo , outros mtodos
imunes ao problema do desvanecimento e baseados na anlise do espectro do sinal detectado foram propostos. Embora tais mtodos sejam diretos (no h necessidade de resolver equaes transcendentais) e no ambguos, apresentam problemas de faixa dinmica de demodulao limitada. Por exemplo, o mtodo , somente detecta valores de entre 0,2
rad e 3,8 rad (SUDARSHANAN; SRINIVASAN, 1989); o mtodo somente entre 0,2 rad e 5,2 rad (JIN et al., 1991); o mtodo
modificado, opera
opera somente entre 0,2
rad e 6,0 rad (SUDARSHANAN; CLAUS, 1993). Alm disso, considera-se ainda que, para valores de x superiores a aproximadamente 3,83 rad, as funes de Bessel podem assumir valores negativos (ver figura 2.7) e, nesta situao, erro no clculo dos valores do ndice de modulao ocorre sendo necessrio um algoritmo de correo dos sinais algbricos como proposto por JIN et al. (1991) no mtodo J1...J4 modificado. Nesta dissertao de mestrado,
51
ser proposto, um mtodo simples, direto, auto-consistente, imune ao desvanecimento, com faixa dinmica superior a todos esses mtodos e que no necessita de um algoritmo de correo de sinais algbricos das tenses fotodetectadas. Porm, antes, apresenta-se um breve estudo sobre atuadores e manipuladores piezoeltricos flextensionais abordando-se suas caractersticas e algumas noes sobre seus mtodos de projeto.
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Captulo 3
ATUADORES E MANIPULADORES PIEZOELTRICOS FLEXTENSIONAIS
Este captulo dedicado ao estudo de atuadores e manipuladores piezoeltricos, analisando suas caractersticas gerais, o efeito piezoeltrico e algumas noes sobre mtodos de projeto e implementao das estruturas flexveis, utilizando o mtodo de otimizao topolgica. O efeito piezoeltrico a capacidade de certos espcimes gerarem corrente eltrica por resposta a uma imposio de stress mecnico (BALLATO, 1995). So exemplos de materiais piezoeltricos os cristais de quartzo, o niobato de ltio, determinadas cermicas (como o titanato-zirconato de chumbo, titanato de brio, etc) e alguns polmeros (como o fluoreto de polivinilideno, o poliparaxileno, as poliamidas aromticas, etc.). Este efeito reversvel, pois os materiais piezoeltricos, quando sujeitos a uma tenso eltrica externa, podem sofrer variaes de dimenses, como ocorre nos atuadores eletromecnicos. neste contexto que surgem os atuadores e manipuladores piezoeltricos como sendo aqueles que produzem deslocamentos, em geral micromtricos, quando excitados por tenses de alimentao/comando relativamente baixas. Os atuadores tm grande utilidade em vrios campos de aplicao como, por exemplo, na nanotecnologia, em discos rgidos de computadores, em sistemas de fibra ptica e at mesmo na engenharia gentica, quando h a necessidade de alta preciso em situaes como manipulao de organelas ou inseminao artificial (LE LETTY et al., 2003; NIEZRECKI et al., 2001). Para tanto, devem ser projetados e desenvolvidos de forma sistemtica, a fim de que desempenhem uma determinada funo com grande preciso.
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3.1 Efeito Piezoeltrico
Descoberta por Jacque e Pierre Curie no final de 1880, a piezoeletricidade (ou efeito piezoeltrico direto) definida como a capacidade que determinados materiais possuem de gerar uma polarizao eltrica quando submetidos a uma deformao mecnica (BALLATO, 1995). Pouco tempo depois, descobriu-se que tal fenmeno reversvel, ou seja, quando um campo eltrico aplicado atravs de um cristal, ele sofre uma deformao fsica e suas dimenses sero alteradas. Em razo dos deslocamentos reais serem muito pequenos, as aplicaes prticas para piezoeletricidade demoraram a surgir. No entanto, medida que o desenvolvimento das pesquisas nessa rea foram se intensificando, evidenciou-se que alguns materiais possuem melhores respostas relativamente a essa caracterstica piezoeltrica, inclusive com maior estabilidade em relao a variaes de temperatura e umidade, podendo-se destacar as cermicas piezoeltricas como o titanato-zirconato de chumbo (PZT), o titanato de brio (BaTiO3), o titanato de chumbo (PbTiO2), entre outros (MENEZES, 2009). O PZT, material regularmente utilizado em atuadores, no possui caractersticas piezoeltricas em seu estado natural. Trata-se de uma cermica com uma estrutura multicristalina constituda por um grande nmero de gros de cristais (domnios) orientados aleatoriamente. Esta orientao aleatria resulta no cancelamento do efeito piezoeltrico lquido. Por esta razo o PZT precisa ser submetido a um pr-processamento a fim de que seus domnios sejam alinhados atravs da tcnica conhecida como polarizao (poling). Nesta tcnica um campo eltrico c.c. originado por uma tenso eltrica elevada aplicado momentaneamente atravs do material, em temperatura elevada, que leva o material a uma expanso na direo axial ao campo e a uma contrao na direo perpendicular. Aps a remoo do campo eltrico e sob resfriamento, as regies de dipolos eltricos que compem o material (denominadas regies de Weiss) orientam-se na direo do campo eltrico e o material estar permanentemente polarizado (BALLATO, 1995). Em operao, os domnios no interior da pastilha de PZT polarizado alteram levemente suas posies quando um campo eltrico externo aplicado. Isto causa uma pequena deformao na geometria fsica da pastilha. Quando o campo removido a pastilha retorna suas dimenses originais.
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3.2 Atuadores Piezoeltricos Flextensionais
O atuador piezoeltrico flextensional (APF) constitudo por uma piezocermica na qual colada uma estrutura metlica flexvel que tem por objetivo converter um modo de vibrao em outro, redirecionar e amplificar os pequenos deslocamentos gerados pela cermica. A estrutura flexvel faz a substituio de juntas, pinos e dobras devido flexibilidade da pea, quando h deformao no PZT (CARBONARI, 2003). Os tipos clssicos de atuadores piezoeltricos flextensionais so os moonies e os cymbals (DOGAN; UCHINO; NEWNHAM, 1997; NEWNHAM et al., 1993; XU et al., 1991). Ambos so ilustrados na figura 3.1. No transdutor cymbal o deslocamento provocado por movimentos de flexo e rotao, diferentemente do moonies, onde o deslocamento somente causado pela flexo da pea. As setas duplas informam que as estruturas metlicas amplificam e mudam a direo do deslocamento gerado pela piezocermica.
(a)
(b)
Figura 3.1 Atuadores piezoeltricos flextensionais clssicos. (a) moonies. (b) cymbals (LEO, 2004).
Os APFs possuem diversas aplicaes, como microtesouras e micropinas acionadas por sinais eltricos e, tambm, sistemas de micro ou nanoposicionamento, cujas vantagens em relao a sistemas convencionais so: deslocamentos com alta resoluo, tempo de resposta rpido, no apresentam desgaste (por no possurem engrenagens ou eixos de rotao), gerao de foras elevadas (podendo-se chegar ordem de 1300 N), possuem baixa susceptibilidade a campos magnticos, consumo de potncia reduzido e elevado tempo de vida (LE LETTY et al., 2003; NIEZRECKI et al., 2001).
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Para que essas tarefas sejam executadas com preciso, exige-se um projeto detalhado dos dispositivos para que tenham uma geometria dedicada, capaz de gerar um deslocamento especfico a cada funo quando o APF for submetido a um sinal eltrico de controle. Neste texto, o projeto e a construo dos APFs se d atravs do mtodo de otimizao topolgica utilizando elementos finitos e o software ANSYS. Nas pesquisas desenvolvidas no Laboratrio de Optoeletrnica da FEIS-UNESP h um interesse particular em posicionadores de deslocamentos da ordem de micro/nanmetros. Nesse sentido, a FEIS-Unesp mantm cooperao com o Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP, o qual projeta e implementa os APFs usando a tcnica de otimizao topolgica. A descrio do mtodo ser apresentada de forma mais detalhada a seguir.
3.3 O Mtodo de Otimizao Topolgica
O mtodo de otimizao topolgica consiste em se atingir, atravs de algoritmos computacionais, a melhor topologia da estrutura seguindo um critrio de custo, distribuindo o material num espao determinado de forma a maximizar ou minimizar a funo objetivo. Para isso, o software de otimizao utiliza o mtodo de elementos finitos, atravs do programa de computador ANSYS para que o projeto do atuador seja realizado (BAHIA, 2005; CARBONARI, 2003; NADER, 2002). O grande desafio do projeto final est em se obter uma estrutura metlica que ser acoplada a uma piezocermica e que seja suficientemente flexvel para obter grandes deslocamentos de sada, e suficientemente rgido para produzir fora generativa, numa direo especfica (SILVA; KIKUCHI, 1999; SILVA; NISHIWAKI; KIKUSHI, 2000). O mtodo de otimizao topolgica efetivo na busca de distribuio tima de duas fases (material e vazio) no domnio de projeto, atingindo-se os resultados desejados e ainda levando-se a uma reduo de material. Na figura 3.2 ilustra-se o procedimento de otimizao topolgica para o projeto de um atuador piezoeltrico flextensional, o qual consiste essencialmente por seis etapas, descritas a seguir.
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(a)
(b)
(c)
(d)
(e)
(f)
Figura 3.2 Projeto de um atuador flextensional utilizando a tcnica de otimizao topolgica. (a) Domnio inicial. (b) Domnio discretizado em elementos finitos. (c) Topologia obtida. (d) Interpretao. (e) Verificao. (f) Manufatura (CARBONARI, 2003).
Inicialmente, definido um domnio de projeto inicial, onde a estrutura poder existir [figura 3.2(a)]. Nessa etapa, levam-se em considerao as condies de contorno, como regies de aplicao de carga ou de restrio de deslocamento. Na segunda etapa [figura 3.2(b)], este domnio discretizado em elementos finitos e todas as condies de contorno no aplicadas, constituindo entrada para o ANSYS em conjunto com o algoritmo de otimizao topolgica. Este algoritmo far a anlise e escolha da distribuio tima de material no domnio, de modo a determinar os interstcios e conectividades da estrutura pela adio e remoo de material no domnio fixo estendido [figura 3.2(c)]. Percebe-se que nas reas escuras h a presena de material no domnio, enquanto que nas reas claras o domnio permanece vazio (BAHIA, 2005). Havendo convergncia no processo de otimizao, o resultado , ento, interpretado atravs de tcnicas de processamento de imagem, tcnicas de otimizao de forma ou ainda desenhando uma nova estrutura com base na topologia obtida na etapa anterior, como mostrado na figura 3.2(d). Para a validao dos resultados obtidos, aplicam-se filtros para definir as reas de cinza e estabelecer o controle da estrutura, verificado, de acordo com a figura 3.2(e). Aps o projeto ser verificado e corrigido, com o auxlio de algoritmos que
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retificam pequenos erros ainda presentes, a pea ento produzida [figura 3.2(f)] (SILVA, 2007). Diferentes estruturas de piezoatuadores flextensionais podem ser obtidas, objetivando a realizao de tarefas variadas com a maior eficincia. Para isso alteram-se as topologias da estrutura de acoplamento e novos projetos de APFs so obtidos com melhor desempenho, para diferentes aplicaes. A figura 3.3 ilustra diferentes prottipos manufaturados utilizando a mesma piezocermica. Cada um destes APFs foi projetado para possuir um deslocamento mximo num determinado ponto sobre sua superfcie. Assim, a funo objetivo em (a) estabelecia que o deslocamento fosse mximo no centro da estrutura metlica flexvel, enquanto no caso (b) foi imposto que o deslocamento fosse mximo nas bordas. A designao dos APFs segue a utilizada em (SILVA et al., 2003), ou seja, f1a1025 e f2b0830, respectivamente.
(a)
(b)
Figura 3.3 Resultados da otimizao topolgica. (a) Atuador f1a1025. (b) Atuador f2b0830. (SILVA et al., 2003).
A figura 3.4 apresenta os atuadores piezoeltricos flextensionais f1a1025 e f2b0830 que foram projetados e produzidos, utilizando a otimizao topolgica atravs do mtodo de elementos finitos, pelo Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP.
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(a)
(b)
Figura 3.4 APFs com piezocermicas de 5 mm de espessura. (a) Atuador f1a1025. (b) Atuador f2b0830. (SILVA et al., 2003).
3.4 Manipuladores Piezoeltricos Flextensionais
Os manipuladores piezoeltricos flextensionais consistem numa estrutura multi-flexvel cuja atuao produzida por duas ou mais pores de cermicas piezoeltricas. Esses mecanismos geram valores diferentes de foras e deslocamentos de acordo com a cermica que est sendo excitada. A estrutura multiflexvel, geralmente metlica, age como um transformador mecnico que modifica e amplifica a deformao da piezocermica, acoplada esta estrutura (BARBOSA, 2009). Estes dispositivos so utilizados em reas onde a preciso do movimento de primordial importncia como, por exemplo, a manipulao de clulas, instrumentos de microcirurgias, equipamentos de nanotecnologia, posicionadores de espelhos em sistemas interferomtricos e em muitos sistemas microeletromecnicos (MEMS) (CARBONAARI et al., 2005). A figura 3.5 ilustra dois diferentes tipos de micro-dispositivos projetados utilizando a tcnica de otimizao topolgica. O primeiro modelo apresentado um nanoposicionador
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piezoeltrico XY formado por duas piezocermicas e, portanto, possui dois graus de liberdade (eixo X e eixo Y). O segundo modelo uma microgarra piezoeltrica com quatro graus de liberdade, pois alm de ser capaz de produzir deslocamento nos eixos X e Y, tambm capaz de realizar rotao e movimento de abre-e-fecha da garra.
(a)
(b)
Figura 3.5 Projeto de multi-atuadores piezoeltricos flextensionais. (a) Nanoposicionador piezoeltrico XY. (b) Microgarra piezoeltrica (CARBONARI, 2007).
O projeto dos manipuladores piezoeltricos flextensionais complexo devido ao nmero de movimentos de atuao ao aplicar a tenso eltrica nas piezocermicas. Durante a atuao surgem movimentos em direes indesejveis que comprometem a eficincia dos movimentos de atuao, denominados movimentos acoplados (ou cruzados). Alm disso, o projeto de estruturas metlicas deve ser elaborado de tal maneira que consigam conter, de forma comportada, todas as piezocermicas. Para a eliminao destes inconvenientes, utilizase como ferramenta de projeto e construo o mtodo de otimizao topolgica. O procedimento de projeto de um manipulador piezoeltrico flextensional utilizando a tcnica da otimizao topolgica e o mtodo de elementos finitos esquematizado na figura 3.6. Percebe-se que as etapas de projeto e construo so as mesmas utilizadas para os atuadores piezoeltricos flextensionais, figura 3.2. As mudanas so devido quantidade de material utilizado, do nmero de pastilhas de PZT empregadas e das localizaes dos deslocamentos a serem produzidos. Os algoritmos de projeto e avaliao e as tcnicas de fabricao so basicamente as mesmas aos dos atuadores como mostra (CARBONARI, 2007; CARBONARI et al., 2005; CARBONARI; SILVA; NISHIWAKI, 2005).
60
(a)
(b)
(c)
(d)
(e)
(f)
Figura 3.6 - Projeto de um manipulador flextensional utilizando a tcnica de otimizao topolgica. (a) Domnio inicial. (b) Domnio discretizado. (c) Topologia obtida. (d) Interpretao. (e) Verificao. (f) Modelo para a produo (CARBONARI, 2007).
A figura 3.7 apresenta alguns manipuladores piezoeltricos flextensionais que foram projetados e produzidos, utilizando a otimizao topolgica atravs do mtodo de elementos finitos, pelo Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP.
Figura 3.7 - Exemplos de manipuladores flextensionais projetados pelo mtodo de otimizao topolgica (BARBOSA, 2009).
Aps a apresentao, de uma forma geral, dos atuadores e manipuladores piezoeltricos flextensionais, passa-se, na prxima seo, ao estudo das estruturas que foram utilizadas nos
61
experimentos realizados por Barbosa (2009) e reportados nesta dissertao de mestrado. Posteriormente, no captulo 6, utilizar-se- os dados adquiridos durante as medies de Barbosa (2009) em simulao no ambiente Simulink.
3.5 Descrio dos Atuadores e do Manipulador Piezoeltrico Flextensionais Utilizados
Projetados e fabricados pelo Grupo de Sensores de Atuadores da Escola Politcnica da USP (EPUSP), fazendo o uso do mtodo de otimizao topolgica em conjunto com o mtodo de elementos finitos, alguns atuadores foram cedidos FEIS-Unesp para caracterizao. Destacam-se nessa dissertao, os APFs AFX-01 e AFX-02 e o manipulador MFX-01, os quais foram utilizados para parte dos ensaios propostos por Barbosa (2009) com o mtodo de baixa profundidade de modulao e com modulao de fase triangular.
3.5.1 Atuador Piezoeltrico Flextensional - AFX-01
Designado AFX-01, este atuador flextensional constitudo por uma estrutura metlica de alumnio bipartida, juntamente com a pastilha de PZT-5A fixada a essa estrutura com resina epxi (BARBOSA, 2009). Atravs da figura 3.8 possvel observar algumas fotos do AFX-01 manufaturado, evidenciando sua estrutura metlica bipartida, a piezocermica com os fios condutores conectados para efetuar a excitao eltrica e o espelho colado estrutura. A piezocermica PZT-5A o elemento ativo do atuador, e possui o formato de paraleleppedo, com dimenses de 30 mm x 13 mm x 3 mm, nas direes 1, 2 e 3, respectivamente. A piezocermica est polarizada na direo 3. O objetivo maximizar o deslocamento do ponto central, no topo do dispositivo. Por ser aberta nas extremidades a transmisso de deslocamento da piezocermica para a estrutura flexvel envolve dois mecanismos: uma tenso mecnica devido a expanso/contrao da espessura da piezocermica, e uma tenso mecnica de cisalhamento devido a
62
expanso/contrao em modo extensional. Caso os APFs sejam produzidos com estrutura flexvel em monobloco, fechada nas duas extremidades, a transmisso de deslocamento por fora de cisalhamento no ocorre (MENEZES, 2009).
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 3.8 - Atuador piezoeltrico flextensional AFX-01 conectado a uma Piezocermica PZT-5A. (a) Vista lateral. (b) Vista lateral oposta. (c) Vista superior, com espelho acoplado no ponto de medio. (d) Outra vista lateral (BARBOSA, 2009).
3.5.2 Atuador Piezoeltrico Flextensional - AFX-02
Diferentemente do AFX-01, este segundo atuador, tambm cedido pelo Grupo da EPUSP, denominado AFX-02, formado por apenas um bloco de alumnio como estrutura flexvel e por uma piezocermica PZT-5A, tambm em formato de paraleleppedo e polarizada na direo 3. As dimenses dessa piezocermica, porm, so de 30 mm x 14 mm x 1 mm, nas direes 1, 2 e 3, respectivamente (BARBOSA, 2009). Na figura 3.9 apresenta-se algumas fotos do AFX-02, exibindo sua piezocermica acoplada onde possvel ver os terminais utilizados para a excitao da cermica de PZT, o espelho colado em sua superfcie e sua estrutura flexvel monobloco, caracterstica desse atuador.
63
Figura 3.9 - Atuador piezoeltrico flextensional AFX-02 conectado a uma Piezocermica PZT-5A. (a) Vista lateral. (b) Vista lateral oposta. (c) Vista superior, com espelho acoplado no ponto de medio. (d) Vista lateral no sentido longitudinal do atuador (MENEZES, 2009).
No AFX-02, o deslocamento da piezocermica amplificado e redirecionado para gerar deslocamentos mximos em dois pontos da poro superior/inferior. No ponto central da superfcie flexvel, o deslocamento deve ser nulo (BARBOSA, 2009).
3.5.3 Manipulador Piezoeltrico Flextensional - MFX-01
O multi-atuador flextensional, denominado MFX-01, foi utilizado por Barbosa (2009) como parte dos ensaios experimentais. Este manipulador, tambm projetado e desenvolvido pelo Grupo da EPUSP, foi construdo utilizando o alumnio como matria-prima para a estrutura flexvel e as pastilhas de PZT-5A foram fixadas a esta estrutura com resina epxi. Na figura 3.10 observa-se a estrutura flexvel do MFX-01, o qual possui dois graus de liberdade, podendo produzir deslocamentos na direo X ou na direo Y, dependendo da piezocermica que for excitada.
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Figura 3.10 - Estrutura metlica do multi-atuador MFX-01 (BARBOSA, 2009).
A regio do canto superior direito da estrutura o local aonde sero produzidos os maiores deslocamentos e esto representados por ux e uy. O deslocamento em X ser o deslocamento direto, quando a cermica que se encontra na posio vertical for excitada, sendo o deslocamento em Y, o deslocamento cruzado. De forma inversa, quando a cermica da posio horizontal for excitada, o acoplamento direto ser o na direo Y, enquanto que o deslocamento na direo X ser o acoplamento cruzado. O procedimento de projeto e construo do MFX-01 possui as mesmas etapas que os atuadores piezoeltricos flextensionais, descritas na seo 3.3. Como um dos objetivos de projeto, desejou-se ainda que houvesse mxima deformao na direo do acoplamento direto, com um mnimo valor de acoplamento cruzado (CARBONARI, 2007). Ilustra-se na figura 3.11 o MFX-01 manufaturado, bem como as cermicas PZT-5A conectadas. Na foto visualiza-se a estrutura flexvel de alumnio que amplifica o deslocamento da piezocermica e os condutores eltricos conectados s pastilhas e que so utilizados para excitar as cermicas promovendo a deformao. Esses trs modelos de atuadores sero testados no captulo 7, usando-se a interferometria ptica para medio de deslocamentos. Devido necessidade de uma superfcie reflexiva e pela dificuldade de se obter um polimento com qualidade ptica, espelhos delgados (filme metlico de 200 m de espessura) foram colados na superfcie dos APFs AFX-01, AFX-02, conforme mostrado nas figuras 3.8 e 3.9, respectivamente. Como as estruturas desses APFs so suficientemente robustas (rgidas), a presena do espelho no chega a inserir frequncias de ressonncias adicionais. Por outro lado, como a estrutura do MFX-01 mais flexvel, utilizou-se pequenos trechos de fita reflexiva (3M, Scotchlite 7610) colados nos pontos sob observao.
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No captulo seguinte ser abordado o novo mtodo de demodulao de fase ptica com modulao triangular para fins de mensurar os deslocamentos nesses atuadores, e que ser o principal objeto de estudo deste trabalho.
Figura 3.11 - Manipulador piezoeltrico flextensional MFX-01 manufaturado com a presena das pastilhas de PZT responsveis pelos acoplamentos direto e cruzado.
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Captulo 4
NOVO MTODO AUTO-CONSISTENTE DE DETECO DE FASE PTICA COM MODULAO TRIANGULAR
O objetivo deste captulo apresentar o mtodo de anlise espectral com modulao triangular para a demodulao de fase ptica de sinais PM cuja forma geral dada por (2.17), baseado em relaes estabelecidas a partir das componentes espectrais de (2.16), bem como o clculo da fase ( ). Trata-se de uma tcnica que possibilita o clculo direto do
deslocamento de fase ptica induzido no feixe de sinal de um interfermetro, ou ento, do retardo eletro-ptico de um modulador eletro-ptico, alm de, em princpio, no ser afetado por variaes da intensidade ptica da fonte, visibilidade de franjas e variaes aleatrias da fase . No entanto, este mtodo possui limitaes na faixa dinmica, cujos limites mnimo e
mximo dependem do nvel de rudo do sistema de medio e do desvanecimento de sinal provocado pelo ambiente, conforme ser discutido adiante. A medio da fase ( ) baseado em uma expresso analtica, que permite estimar
seu valor para uma ampla faixa dinmica de x, sendo possvel monitorar a influncia das perturbaes ambientais no sistema interferomtrico, durante as medies experimentais. Enfatiza-se que, esse mtodo espectral adequado para o uso com um interfermetro de Michelson de baixo custo, no havendo necessidade de deslocamento de frequncia ptica, como ocorre em interferometria heterdina, nem de controle externo da fase (utilizando
interfermetros em malha fechada). Quando aplicado a um modulador eletro-ptico (a ser discutido no captulo 6), no exige o uso de lminas de 4 para substituir a fonte de tenso (YARIV; YEH, 1984), nem o controle de temperatura ambiente para se fixar valor constante. num
67
4.1 Interferometria ptica com Sinal Triangular
Com base na teoria de sistemas lineares, sabe-se que senides so as formas de onda adequadas para caracterizar (por exemplo, atravs da curva de resposta em frequncia) dispositivos como amplificadores, transmissores e receptores de sistemas de comunicao (CARLSON; CRILLY; RUTLEDGE, 2002). Em particular, permitem avaliar as faixas de linearidade e largura de banda. Contudo, neste trabalho, dar-se- preferncia por operar com formas de onda triangular, como no exemplo da Figura 4.1.
Figura 4.1 Exemplo de um processo de deteco de fase ptica utilizando o sinal triangular.
Este procedimento regularmente utilizado na caracterizao de moduladores eletropticos integrados (DOLFI; NAZARATHY, 1988) e j foi utilizado em interferometria por Barbosa (2009). O procedimento de deteco de fase aqui utilizado se beneficia das propriedades do sinal triangular, uma forma de onda com ngulos acentuados e bem definidos (ao contrrio da senide), que proporciona uma melhor preciso experimental. Alm disso, permite avaliar continuamente se o fotodiodo empregado apresenta largura de banda suficiente, bastando certificar-se que o sinal de sada tambm triangular (de acordo com a amplitude da excitao de fase). Tudo isto, obviamente, quando em regime de quadratura de fase e sob baixa profundidade de modulao (NBPM ou Narrow Band Phase Modulation). Lembra-se nesta dissertao, que o sinal triangular mostrado na figura 2.2 definido ao longo de um ciclo por:
68
4 ( )= 4 +2
para para
4 . 3 < < 4 4
< <
(4.1)
sendo
(rad) a profundidade de modulao. Na sequncia pretende-se determinar a expresso em srie de Fourier da expresso da
intensidade ptica no fotodetector dada por (2.16), para ( ) = ( ), a qual tambm pode ser reescrita como:
= {1 + sendo
[( )]
[( )]},
(4.2)
a fase quase-esttica, ( ) a diferena de fase induzida entre os ramos do uma constante que depende da potncia do laser ( ) e da responsividade
interfermetro e
do fotodiodo ( ). Neste texto, o sinal fotodetectado ser representado por ou ( ) como em (2.18), indistintamente. Considera-se, para o clculo da profundidade de modulao x, que os termos e [( )] esto relacionados matematicamente conforme abaixo: ( ) = e ( ) =
( ) ( ) ( )
[( )]
(4.3 a)
(4.3 b)
onde
uma funo dada por:

( )
( )=
(4.4)
Portanto, sendo (4.4) uma funo complexa e peridica, pode-se aplicar a srie exponencial de Fourier definida por (BUTKOV, 1968):
( )=
(4.5)
69
onde
=2 e
dado por:
( )
(4.6)
sendo
o perodo da funo
( ). A partir das expresses (4.4) e (4.5), tem-se que as
expresses (4.3-a) e (4.3-b) podem ser reescritas como:
( ) =
(4.7 a)
( ) =
(4.7 b)
O prximo passo calcular o coeficiente expresso (4.6) pode ser dada por:
para
= 0,1,2,3, . Deste modo a
( )
(4.8)
na qual se observa que a integrao executada com perodo
definido entre 4 e 3 4
[pois, ( ) foi definida como um ciclo em (4.1)] e assim, com o auxlio de (4.1) e (4.4), a expresso (4.8) torna-se:

= =
1 1
( )

( ) .
(4.9)
Na sequncia, calcula-se o coeficiente, resultando na expresso dada por:
, considerando primeiramente
= 0,
70
= =
1 4 1 {2 = 4
+ } = 0,
(4.10)
evidenciando que o valor mdio do sinal de sada nulo conforme esperado. Para expresso (4.9) torna-se:

0 a
+
( ) ( )
(4.11)
(4 2
+ +
(4 + 2
4 2
4 +2
sendo possvel obter a expresso
para
par e mpar. Porm, antes, convm simplificar os
fatores exponenciais fazendo o uso da identidade de Euler conforme abaixo:
= cos( )
( )
=( ) ( ) = (1) , para par, (4.12 a) () = ( ) = (1) , para mpar.
71
= ( ) [( ) ] = (1) , para par, = ( )(1) , para mpar. (4.12 b)
= [( )( )] = ( )[ ( ) ]
Continuando a simplificao de outros fatores exponenciais da expresso (4.11) tem-se que:
= e = =
(4.13 a)
(4.13 b)
os quais, como se pode observar, devem resultar nas mesmas relaes, dadas em (4.12-a) e (4.12-b), respectivamente. Calcula-se agora, os valores de , com par e mpar, para as expresses (4.7-a) e (4.7par, lembrando que
b). Primeiramente, o desenvolvimento matemtico de (4.7-a) com = 0 [como mostra (4.10)], so realizadas conforme abaixo:
( ) =
4 2
(1)
(1)
+ +
4 +2 4 +2 4 2
(1) (1)
(1)
+ . (4.14)
( )(1) (1) (1)
E, novamente, usando a relao de Euler
= cos( )
( ) tem-se que:
72
( ) =
(1) 2
4 2
4 +2
(1) 2
.2
1 4 2
1 4 +2
(1)
4 +2 +4 2 (4 ) (2 )
=8
(1) 4 ( )
).
(4.15)
No desenvolvimento matemtico de (4.7-a) com
mpar, tem-se que:
( ) =
4 2
( )(1)
(1)
4 +2 4 +2 (1)
(1)
( )(1) +
( )(1) (1)
4 2
( )(1)
(4.16)
E usando a relao de Euler, (4.16) torna-se:
( ) =
(1)
4 2
4 +2
(1)
.2
1 4 2
1 4 +2
73
(1)
8 (4 ) (2
= 0.
(4.17)
Percebe-se que (4.17) apresenta o fator imaginrio e sendo real do termo entre chaves, tem-se que, para Realiza-se, agora, o clculo de mpar, (4.17) nulo.
( ) dado pela parte
( ), com
par, em (4.7-b) conforme abaixo:
( ) =
4 2
(1)
(1)
4 +2 4 +2 4 2
(1) (1) (1)
(1) (1) +
(1)
(4.18)
Novamente, usando a relao de Euler em (4.18) tem-se que:
( ) =
(1)
4 2
4 +2
4 2
4 2 +
4 +2
(1)
4 +2
(1) 2
.2
1 4 2
1 4 +2
= 0. (4.19)
74
Observa-se que em (4.19) ocorre o fator imaginrio termo entre chaves puramente real. Sendo tem-se que, para par, (4.19) nulo. ( ), com
, o qual equivale a -1, portanto, o
( ) dada pela parte imaginria deste termo, mpar, em (4.7-b) conforme abaixo:
Por fim, realiza-se o clculo de
( ) =
4 2
( )(1)
(1)
4 +2 4 +2 (1)
(1)
( )(1) + (1)
( )(1)
4 2
( )(1)
(4.20)
E atravs da relao de Euler tem-se que:
( ) =
(1)
4 2
4 +2
(1)
.2
1 4 2
1 4 +2
(1)
4 +2 +4 2 (4 ) (2 )
= 8
(1) 4 (
).
(4.21)
Substituindo (4.15), (4.17), (4.19) e (4.21) em (4.2), tem-se a intensidade ptica de sada dada por:
75
1+
)8
( )
(1) 4 ( ) (1) 4 (
)+
)8
( )
) .
(4.22)
Na expresso (4.22) a fase esttica
varia arbitrariamente no tempo. Conforme j
discutido na seo 2.3, devido s flutuaes trmicas, turbulncias de ar e vibraes mecnicas, mesmo que imperceptveis, ocorrem variaes aleatrias indesejveis em Se o sinal .
em (4.22) estiver acoplado a um analisador de espectros de varredura, ser
possvel observar as amplitudes das componentes harmnicas pares e mpares, conforme esquematizado na figura 4.2, dadas por: 0 8 4 8 4 (1) ( ) (1) ( ) para para para = 0, par, (4.23)
mpar.
Figura 4.2 Espectro de magnitudes das harmnicas do sinal detectado.
Devido s variaes aleatrias de
, observa-se, em um osciloscpio, que as aumenta quando diminui,
magnitudes das raias variam a todo momento. Como
e vice-versa, a magnitude das raias para n mpar aumentam quando a magnitude das raias para n par diminuem, e vice-versa.
76
Conforme esquematizado na figura 4.1, quando a profundidade de modulao pequena, isto , 2 rad, o sinal detectado, ( ), uma rplica de ( ) = ( ). Isto = 2 rad, como mostra a figura 4.3 (vlidos para o interfermetro
pode ser observado em um exemplo de sinal adquirido em laboratrio e em simulaes em Matlab, quando
polarimtrico discutido no captulo 6) . Em a) apresenta-se a tela do osciloscpio contendo, acima do sinal fotodetectado (azul), o sinal de excitao (amarelo) aplicado com tenso de 30,4 Vpp e em b) simulado o sinal de fase quando 2 rad. Contudo, percebeu-se que
no mtodo de anlise espectral com modulao triangular, ao se aumentar a amplitude do sinal de modulao aps um certo patamar, o sinal fotodetectado passa a no ter mais o formato triangular, o que tambm pode ser observado com um osciloscpio. Por exemplo, em c) tem-se o sinal de excitao (amarelo), com tenso 78 Vpp, e o sinal fotodetectado (azul) e em d) simulado o sinal de fase quando = 2 rad e = 2 rad o sinal interferomtrico > 2 rad, o sinal fotodetectado uma
uma senide perfeita. Por outro lado, quando
verso distorcida de ( ): em e) o sinal de excitao (amarelo) aplicado com 142 Vpp e em f) simulado o sinal de fase para > 2 rad.
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(a)
(b)
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(c)
(d)
77
Sinal fotodetectado
Sinal de excitao
(e)
(f)
Figura 4.3 Processo de deteco de fase com = 2 rad. a)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 30,4 Vpp e sinal fotodetectado (abaixo); b) Simulao do sinal de fase para 2 rad; c)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 78 V pp e sinal fotodetectado (abaixo); (d) Simulao do sinal de fase para = 2 rad. e)Visualizao em osciloscpio: sinal de excitao com 142 Vpp e sinal fotodetectado (abaixo); f) Simulao do sinal de fase para > 2 rad.
Nas figuras 4.3 (b), (d) e (f),
= 2 rad e o espectro do sinal de sada pode ser arbitrrio, onde podem existir harmnicas pares e
obtido partir de (4.22) ou (4.23), neste caso ocorre somente a presena de harmnicas mpares. O mesmo no ocorre para mpares, dependendo do valor de . Na prxima seo apresenta-se a tcnica dedicada demodulao de fase ptica usando os coeficientes mpares, aqui denominados e conforme:
( )=
8 4
(1) ( )
para
mpar,
(4.24)
os quais so imunes ao desvanecimento e que permitem extrair a profundidade de modulao x.
4.2 O Novo Mtodo b1/b3
O mtodo b1/b3 originalmente aplicado a um interfermetro de Michelson homdino. Nesta tcnica, executam-se as medies das amplitudes das componentes fundamental ( ) e
78
terceira harmnica ( ) de (4.22) ou (4.23) e calcula-se a razo entre as mesmas. Recorrendose a (4.23), observa-se que tal razo resulta em: | | | | ( )| = = | | ( )|
(4.25)
onde
( ) est representado pela expresso (4.24). Admite-se que as componentes
sejam mensuradas com um analisador de espectros o qual detecta somente a magnitude (mdulo) das raias espectrais. Esta relao entre os coeficientes mpares semelhante ao mtodo , proposto no artigo clssico de Deferrari, Darby e Andrews (1967) e descrita no
captulo 2, porm, possui soluo analtica ao extrair o valor de , ao contrrio da tcnica que resulta em uma equao transcendental. Percebe-se que durante o clculo da razo (4.25), o qual envolve somente raias espectrais com do valor de o termo mpar, os termos so cancelados. Com isso, o clculo de independe
e, portanto, imune ao desvanecimento. Alm disso, tal clculo no apresenta , ou seja, tambm independe da estabilidade da fonte ptica (laser) ou da
visibilidade das franjas. Na figura 4.4 ilustra-se o comportamento das componentes | | e | | para valores de entre 0 e 20 rad. Observa-se que em vrios pontos podem ocorrer | || | = 0/0.
Figura 4.4 Comportamento das componentes | | e | | para valores de
entre 0 e 20 rad.
79
Substituindo (4.24) em (4.25) com valores de n iguais a n=1 e n=3, obtm-se:
| ( )| 8 = | ( )| 4 = 4 9 4
4 9 8 = ( ). (4.26)
Elevando ao quadrado os dois membros de (4.26), tem-se a equao biquadrada dada por:
{9 [ ( )] } {81 [ ( )] } + = 0, 2{1 [ ( )] } 16{1 [ ( )] }
(4.27)
cujas solues so:
[9 ( )] 4[1 ( )]
(4.28)
[9 + ( )] . 4[1 + ( )]
(4.29)
Conforme se observa em (4.25), se = 0 em (4.28), obtm-se
( ) deve ser positivo. Assim, por exemplo, fazendo= 0 em (4.29), obtm-se = 9. Portanto,
= 9, e,
somente a soluo (4.28) verdadeira, e assim:
[9 2 [1
( )] . ( )]
(4.30)
Conforme previsto, atravs de (4.30), este mtodo permite estimar x de forma direta (no necessrio resolver equaes transcendentais), independente de [os quais so
cancelados na diviso entre o numerador e denominador de (4.25)] e, portanto, imune ao desvanecimento ocasionado por perturbaes ambientais. O clculo de tambm independe
80
de
, sendo insensvel variaes na fonte ptica e visibilidade das franjas. O mtodo
auto-consistente, isto , no necessita aferir o sistema com nenhum padro de calibrao, e, como (4.30) no envolve funes peridicas, no se gera o problema de no-reciprocidade de fase. Ademais dessas vantagens, o mtodo b1/b3 possui algumas desvantagens, como a necessidade do sinal de excitao ser triangular o que pode conduzir ao fenmeno de tracking error na caracterizao de atuadores piezoeltricos operando em altas frequncias (BARBOSA, 2009; LEO, 2004). Alm disso, a largura de banda do fotodiodo deve ser elevada o suficiente para detectar as harmnicas significativas de operar na condio = rad, ( ). No se deve
inteiro, pois (4.25) conduziria a uma indeterminao (zero
dividido por zero). Outro problema possvel neste mtodo o fato de que, na prtica, existe um limite inferior para deteco do ndice de modulao imposta pelo rudo eletrnico, conforme ser discutido a seguir.
4.2.1 Insero do Rudo Branco Usando o Mtodo b1/b3
Conforme discutido no Captulo 2, os fotodiodos so dispositivos optoeletrnicos capazes de detectar a potncia ptica incidente ( ) e convert-la em uma corrente/tenso eltrica proporcional ( ). Em um fotodiodo aparecem diversos tipos de rudos eletrnicos como, por exemplo, o rudo quntico, o rudo de corrente de escuro, de corrente de fuga, e outros (TAKIY, 2009a). Esse tipo de deteriorao de sinal muito difcil de compensar, pois no possui uma expresso matemtica no tempo que a descreva deterministicamente, no podendo ser prognosticado, a no ser em termos de probabilidade. Alm disso, em princpio, os rudos possuem energia infinita, o que os torna teoricamente eternos. Sendo assim, o rudo caracterizado como sinal de potncia aleatrio e, portanto no se pode prever com exatido sua forma de onda (CARLSON; CRILLY; RUTLEDGE, 2002). Uma forma de se mensurar a qualidade do sistema, quando na presena de rudo, o clculo da SNR (do ingls Signal-to-Noise Ratio), definida como a relao entre a potncia do sinal de informao e a potncia do rudo. Em um interfermetro, a SNR medida na sada do fotodetector, devendo ser consideradas todas as fontes de rudo presentes. Em geral, o sinal e
81
o rudo variam no tempo de forma no determinstica. Considerando-se o rudo um processo estacionrio, uma SNR mdia pode ser obtida se as medies forem executadas durante um longo perodo de tempo. Na literatura h diversos trabalhos que consideram a influncia do rudo sobre a deteco de sinais interferomtricos como no artigo de Sudarshanam (1992) para o mtodo , no qual considerou-se como predominante a tenso do rudo do tipo 1 . Contudo, Maral (2008) concluiu que este tipo de rudo somente expressivo em frequncias muito baixas. Para frequncias usualmente utilizadas no Laboratrio de Optoeletrnica da FEISUNESP (entre centenas de Hz a centenas de kHz), a fonte de rudo predominante o rudo branco gaussiano. Nesta seo faz-se uma anlise da influncia do rudo branco, cuja potncia distribuda uniformemente no espectro de freqncias utilizando o software Matlab. Rudos como o shot e o trmico, presentes na fotodeteco, so tipos de rudo branco (CARLSON; CRILLY; RUTLEDGE, 2002). A influncia do rudo nos clculos da profundidade de modulao de fase, usando o mtodo b1/b3, leva a um erro absoluto de fase, estabelecido como: = sendo , (4.31) o valor estimado, calculado
o valor esperado da profundidade de modulao e
usando o mtodo discutido e a presena de rudo. O erro relativo percentual, calculado em mdulo, definido por: | |
100% .
(4.32)
O rudo conduz ao erro que limita a faixa dinmica do mtodo, estabelecendo um limiar mnimo, definido como MDPS (Minimun Detectable Phase Shift), o mnimo desvio de fase detectvel, correspondente a um erro percentual de 100% (SUDARSHANAM, 1992, SUDARSHANAM; CLAUS, 1993). O limiar mximo normalmente estabelecido de forma arbitrria dependendo da aplicao. Um valor de erro absoluto igual a 0,05 rad costuma ser adotado uma vez que bastante conservador. Na presena de rudo branco gaussiano, (4.25) deve ser modificada para:
82
( )=
| ( )| + | ( )| +
(4.33)
onde
o fator de rudo na frequncia fundamental, obtido de:
(4.34)
em que
a tenso eficaz de rudo na frequncia fundamental. O valor de
pode ser
estimado a partir do espectro de magnitude de tenso fotodetectada (SUDARSHANAM, 1992). Em (4.34), considera-se um nvel de rudo medido em um longo intervalo de tempo, o que uma aproximao vlida desde que o rudo seja estacionrio. Para as simulaes apresentadas a seguir utilizou-se o fator de rudo = 0,0004 para o
rudo branco. Este fator foi obtido em simulaes realizadas por Maral (2008) e ser considerado nas prximas anlises realizadas. Com a insero do rudo branco na formulao apresentada para o mtodo b1/b3, a profundidade de modulao pode ser estimada ( ), a partir de (4.30), como:
[9 2 [1
( )] , ( )]
(4.35)
onde
( ) dado por (4.33). Nas figuras 4.5 e 4.6 ilustram-se os grficos, elaborados utilizando-se o Matlab, de ) versus , respectivamente. Adotou-se no qual = . = 0,0004 e = 4
versus , e, de = (
rad. Consta-se tambm na figura 4.6, as retas = , que so utilizadas para estimar o MDPS, ou seja, o valor de
83
Figura 4.5 Grfico de
versus
para o mtodo de b1/b3.
Figura 4.6 Grfico de versus
para o mtodo do b1/b3.
para o mtodo do b1/b3 em detalhe.
84
Observa-se na figura 4.5, que o grfico de
versus
apresenta uma primeira e tornam-se to
singularidade significativa em, aproximadamente, 7,8 rad, quando
pequenos (ver figura 4.4) chegando ao nvel de rudo. Na figura 4.7, apresenta-se um detalhe em torno da origem da figura 4.6, que permite estabelecer que o MDPS do mtodo b1/b3 aproximadamente 0,097 rad. Adotando-se, ento, um erro mximo de 0,05 rad para o extremo superior de , a mxima fase detectvel antes que a descontinuidade ocorra aproximadamente 8 rad, como revela a figura 4.5. Pode-se afirmar, portanto, que a faixa dinmica do mtodo b1/b3 est entre 0,097 e 8 rad, mostrando ser superior aos mtodos , modificado e -pos. nas regies de singularidades superiores a = 7,8 rad. Isto
Analisando-se o grfico da figura 4.6, verifica-se que o nvel de rudo eletrnico potencializa o erro no clculo de
se deve ao fato de que as SNRs calculadas para as harmnicas mpares so to pequenas chegando ao nvel de rudo, levando o clculo de significativos. Alm disso, pela figura 4.4, nota-se que existem dois valores de singularidades antes de valores de = 7,8 rad, a saber, em = 1,57 rad e que podem gerar pela aplicao do mtodo b1/b3 erros
= 4,71 rad. Porm, estes , (4.24), fazendo
no constituem singularidades, pois no ocorre a indeterminao do tipo
= 00 como ser mostrado. Primeiramente, efetuado o clculo de =1e = 2 rad obtendo-se:
( ) = lim
( )=
8 4
8 ( ) 2 = lim (2 )(2 + ) 2 2
= lim
8 2(2 )
(4.36)
Apenas o segundo termo entre as chaves de (4.36) possui singularidade em rad. Logo, fazendo = com 0 tem-se:
= 2
( 2) =
8 2 2 2 2 + =3e
lim
( )
= 1.
(4.37)
Calculando agora (4.24) para
= 2 rad, tem-se:
85
( 2) =
8( 2) ( 2)(1) = 4( 2) 3
0 3
= 0.
(4.38)
Atravs de (4.37) e (4.38) tem-se que o clculo da razo entre as tenses, (4.25), nulo e a profundidade de modulao pode ser determinada atravs de (4.30), obtendo-se:
(9 0) 3 = rad. 2 2 (1 0)
(4.39)
Fazendo, agora, os clculos de
para
= 3 2 rad, temos que: 0
(3 2) =
8(3 2 ) (3 2 ) = 9 4(3 2)
= 0.
(4.40)
( ) = lim
( )=
8 4
8 ( )(1) 2 = lim 3 3 (2)(2 + 3 ) 2 3 2 2 . (4.41)
= lim
4 (2 + 3 )
Apenas o segundo termo entre as chaves de (4.41) possui singularidade em rad. Logo, fazendo ( )= = com
= 3 2
0 e sabendo da propriedade da funo seno que
( + ), tem-se: 3 2
(3 2) =
8 3 2 2
3 +3 2
lim
( )
= 1.
(4.42)
A partir de (4.40) e (4.42) tem-se que o clculo da razo entre as tenses, (4.25), tende ao infinito e a profundidade de modulao pode ser determinada atravs do clculo do limite de (4.30), obtendo-se:
86
( )
( )
lim
( )
9 1 ( ) = 1 = rad. 1 2 2 1 ( )
(4.43)
Como se observa, em
= 1,57 rad e
= 4,71 rad no ocorre indeterminaes no
clculo da profundidade de modulao, mostrando que o mtodo realmente funciona para uma faixa dinmica entre 0,097 e 8 rad.
4.2.2 Dependncia do Mtodo b1/b3 com
Um outro problema na exatido e no desempenho de um interfermetro a variao aleatria de , o que torna complicada a operao estvel dos sensores interferomtricos sem presente no
realimentao ativa. Na expresso (4.25) considerou-se que o fator
numerador e denominador, em princpio, foi automaticamente cancelado. Na realidade, a fim de levar em conta o efeito de fator na presena de rudo, a expresso (4.25) deve preservar o
no numerador e no denominador. Desta forma aplicou-se o mtodo b1/b3 nesta , considerando o valor esperado =1
condio, e plotou-se o grfico de em funo de rad.
Figura 4.8 Relao entre a profundidade de modulao estimada esperado = 1 rad, aplicando o mtodo b1/b3.
em funo da fase
( ) para o valor
87
Observa-se na figura 4.8 que o valor de prximo a onde tem-se
recuperado (valor estimado) encontra-se = rad, inteiro,
= 1 rad, a no ser nas regies de singularidades com
= 0, o que resulta em harmnicas mpares nulas conduzindo-se a uma = 1 rad e variando-se , a probabilidade modificado e = 2 rad, pelo
indeterminao em (4.25) potencializada pelo rudo branco. Nesta simulao realizada para o mtodo b1/b3, mantendo-se
, mostra-se que, assumindo desvanecimento aleatrio de sinal devido de erro pela aplicao do novo mtodo menor que nos mtodos ,
. Isto ocorre devido eliminao de singularidades nos pontos em que emprego do novo mtodo. O problema se restringe a convencionais usando funes de Bessel. Verificando-se a ocorrncia de singularidades quando =
inteiro, pelo fato das harmnicas pares no terem sido utilizadas no clculo de
rad, ao contrrio dos mtodos
torna-se mltiplo inteiro de
rad, pode-se concluir que pontos eventualmente situados fora da reta em funo de , dentro da faixa dinmica do mtodo, provavelmente se devero s singularidades causadas por . Portanto, o clculo de , a partir dos dados experimentais, ser importante.
4.3 Clculo de
O clculo de permite avaliar se, na prtica, os grficos de versus so confiveis.
Ou seja, permite verificar se um dado valor de calculado experimentalmente est fora da reta versus porque assumiu um valor igual a um mltiplo inteiro de rad, no momento da medio, ou se por algum outro motivo qualquer. Se acontecer o primeiro caso, e o nmero de pontos da reta for suficientemente elevado, bastaria descartar esta medio duvidosa. No mtodo de medio de , baseado na anlise espectral, tem-se que a intensidade
ptica de sada (4.22) pode ser reescrita como:
1+
)+
) ,
(4.44)
sendo
harmnicas pares e mpares, respectivamente, dadas por:
88
( )=8
( )
(1) 4 ( )
(4.45 a)
( )=8
( )
(1) 4 (
(4.45 b)
Assim, fazendo por:
= 1, 2, 3, 4, tem-se que a intensidade ptica de sada (4.44) dada
= +
+ (
( ){
){ (
(2 )+
)+ (3
(4
) + } (4.46)
) + },
Na prtica, (4.46) pode ser reescrito como:
(2
)+
(4
) ++
)+
(3
) + , (4.47)
onde
um valor constante e
so as amplitudes das harmnicas pares e mpares [dadas
em (4.23)] obtidas durante a medio. Neste mtodo, os coeficientes espectrais e mensurados conforme: ( ( ) ) e esto relacionados segundo a razo das raias
(4.48)
Substituindo (4.45-a) e (4.45-b), para se:
=2e
= 1, respectivamente, em (4.48), tem-
89
8 ( )= = 8 4 1 (2 ) 1 4
( ) ( )
(1) (2 ) 4 (1) 4 ( )
( ) 4 4
( )
( ) 4
(4.49)
a partir do qual possvel extrair o valor de
atravs de:
( ) .
(4.50)
sendo que
so mensurados, e,
calculado pelo mtodo b1/b3.
Neste captulo estudou-se a aplicao do mtodo de demodulao de fase ptica com modulao triangular baseado no espectro do sinal fotodetectado, seus benefcios e limitaes, bem como sua faixa dinmica de aplicao. No captulo seguinte o mtodo b1/b3 ser simulado utilizando o aplicativo Simulink.
90
Captulo 5
SIMULAES DINMICAS APLICANDO O MTODO b1/b3
Neste captulo, descreve-se a implementao no Simulink do mtodo b1/b3 discutido no captulo 4. O Simulink um software para modelagem, simulao e anlise de sistemas dinmicos. Trata-se de uma extenso do Matlab (KARRIS, 2006). Atravs do modelo apresentado no Simulink obtm-se vrios resultados grficos, possibilitando compar-los e avaliar a eficincia do novo mtodo b1/b3 com modulao triangular em simulaes dinmicas com rudo branco. Um software de desenvolvimento similar o Labview, produzido pela National Instruments. Trata-se de um ambiente de simulao e desenvolvimento que tambm fornece ao usurio uma interface grfica para o desenvolvimento e simulao de sistemas dinmicos. O sistema elaborado nesta dissertao no ambiente Simulink, conforme ser descrito na prxima seo, pode ser ajustado para o ambiente de software do Labview em aplicaes futuras (KEHTARNAVAZ; GOPE, 2006). A motivao para a implementao do mtodo b1/b3 em ambiente grfico de simulao em computador, se deve possibilidade de comparao de dados tericos, obtidos em Matlab com rudo estacionrio e fixo, com resultados da simulao com rudo dinmico e
varivel, os quais se aproximam mais da prtica. Da mesma forma, escolheu-se o Simulink para implementao e teste devido praticidade de alterao de parmetros e obteno de resultados grficos durante as simulaes. A eficcia da utilizao do Simulink para simular dinamicamente o interfermetro e mtodos de demodulao de fase como o , ,
e outros, j foi comprovada nos trabalhos de Maral (2008) e Takiy (2009b).
91
5.1 Implementao do Mtodo b1/b3 no Simulink
Primeiramente vale ressaltar algumas caractersticas do Simulink, pois trata-se de um software que permite a modelagem de sistemas lineares e no lineares em tempo contnuo, tempo discreto ou um modelo hbrido, podendo trabalhar com diferentes partes que so amostradas sob diferentes taxas de amostragens. As simulaes so interativas, o que permite alterar os parmetros e imediatamente verificar o comportamento do sistema. O acesso instantneo a todas as ferramentas de anlise, como a biblioteca de controladores de dispositivos, possibilita a interao dos resultados da simulao com o ambiente de trabalho do Matlab (workspace) para ps-processamento. O mtodo b1/b3 com modulao triangular foi modelado no Simulink utilizando sua interface grfica, onde o modelo composto de diagramas contendo blocos funcionais interligados. O Simulink inclui uma ampla biblioteca de blocos funcionais, dentre os quais se destacam os de processamento digital de sinais, sendo estes os mais utilizados neste trabalho, visto que se optou por processamento digital, com anlise em freqncia usando um algoritmo de transformada de Fourier discreta de curta durao (STFT Short Time Fourier Transform). Os algoritmos referentes ao mtodo b1/b3, foram implementados em um nico modelo elaborado no ambiente Simulink, como mostra a figura 5.1:
Figura 5.1 Modelo implementado no Simulink para simulao do mtodo b1/b3.
92
Semelhante a um interfermetro homdino, no prprio ambiente de simulao foi gerado o sinal modulado em fase. O modelo apresenta as seguintes etapas do processamento, associadas a subsistemas, as quais foram desenvolvidas durante a elaborao para facilitar a compreenso e anlise do modelo implementado: x x x x x
Gerao do sinal modulado em fase; Anlise de sinal e identificao das harmnicas; Clculo das amplitudes das harmnicas; Clculo da profundidade de modulao usando o mtodo b1/b3 ;
Mostradores grficos/Armazenamento em variveis no Matlab.
Os subsistemas, ilustrados nas figuras deste captulo, so compostos de vrios blocos funcionais. As funes e parmetros associados a estes blocos podem ser obtidas em Karris (2006). No subsistema de gerao do sinal modulado em fase, ilustrado na figura 5.2, gerado artificialmente um sinal similar ao interferomtrico com a inteno de se obter um sinal da forma:
= ( )+ ( ) 1 1+ 2
( )
)+
( )
) + ( ),
(5.1) sendo ( ) o sinal interferomtrico sem rudo e a profundidade de modulao. A funo
( ) representa o rudo aditivo presente na fotodeteco do sinal, sendo adotado o rudo branco para as simulaes, cujo valor mdio e varincia podem ser definidos diretamente no modelo implementado. Alm disso, os parmetros , e podem ser variados durante a
simulao, permitindo flexibilidade na obteno e anlise dos resultados.
93
Figura 5.2 Subsistema de gerao do sinal modulado em fase.
A anlise de sinal e identificao das harmnicas faz parte do subsistema mostrado na figura 5.3. Nesta etapa, o sinal s(t) + r(t) janelado (janela Hanning) e um algoritmo de Transformada Discreta de Fourier aplicado. A forma da janela e o seu comprimento devem ser escolhidos de modo a garantir resoluo espectral suficiente para a identificao das harmnicas e evitar interao entre as amplitudes de duas componentes de freqncias prximas (leakage) (OPPENHEIM; SCHAFER; BUCK, 1999). E ainda, visto que o sinal modulado em fase peridico (considerando que a influncia do desvanecimento seja suficientemente lenta no tempo), a janela deve ser limitada a um quadro que garanta esttico neste intervalo de anlise (MARAL, 2008).
Figura 5.3 Subsistema de anlise do sinal modulado em fase [ ( ) + ( )] e identificao das componentes espectrais. Clculo usando uma FFT.
94
Uma vantagem do mtodo b1/b3 para o clculo de
, de ser baseado somente na
magnitude das harmnicas mpares, sendo a magnitude das harmnicas obtidas diretamente do mdulo da FFT, como mostra o subsistema da figura 5.4.
Figura 5.4 - Subsistema de clculo das amplitudes das harmnicas usando diretamente o mdulo da FFT.
A amplitude da componente fundamental e da terceira harmnica so usadas como parmetros de entrada do subsistema de clculo de figura 5.5. usando o mtodo b1/b3, mostrado na
Figura 5.5 Subsistema de clculo de
usando o mtodo b1/b3.
Por fim, seguindo a organizao do modelo no Simulink, um subsistema foi elaborado para a visualizao dos resultados grficos e armazenamento destes em variveis, para que as mesmas pudessem ser ps-processadas a partir de linhas de comando do Matlab. Assim, o subsistema Mostradores grficos/Armazenamento em variveis no Matlab (ver figura 5.1), permitiu a elaborao dos grficos apresentados nas prximas sees deste captulo.
5.2 Resultados das Simulaes Numricas
As simulaes foram realizadas para um sinal modulador de frequncia
= 500 Hz
(escolhido ao acaso), atribuindo-se uma frequncia de amostragem igual a 16 kHz, o
95
suficiente para se evitar aliasing (OPPENHEIM, 1999). Um sinal de rudo com distribuio gaussiana, mdia nula e desvio padro = 0,005 foi adicionado ao sinal modulado ( ), = 0,0004, compatvel com aquele utilizado nas foi mantido constante. Por outro lado nos itens a
obtendo-se na sada um sinal modulado ruidoso ( ) + ( ). Segundo Maral (2008), nesta situao, pode-se estimar um fator de rudo previses tericas obtidas no captulo 4. No entanto, na anlise do captulo 4 considerou-se rudo branco ilimitado em banda, onde
seguir, a distribuio de rudo varivel no tempo e, portanto, os resultados sero mais prximos da prtica.
5.2.1 Sinal Interferomtrico Gerado no Simulink
O princpio do modelamento a gerao do sinal interferomtrico [ ( )], o qual foi janelado usando-se um quadro temporal de 1024 amostras. Ainda nesta etapa, foi inserido um sinal de rudo [ ( )] com distribuio gaussiana e fator de rudo modulao de fase usando a anlise espectral. mantido constante em 4 rad durante os clculos. A varia aleatriamente, como , obtendo-se na sada um
sinal modulado ruidoso [ ( ) + ( )], sendo deste o interesse em se extrair a profundidade de Para primeiras anlises,
ttulo de ilustrao, mostra-se o problema causado quando
acontece em casos prticos. Na figura 5.6 tem-se um exemplo de sinal amostrado, para um intervalo de tempo igual a 120 ms, no qual o fenmeno do desvanecimento evidenciado (a periodicidade do sinal no respeitada) a medida que se permite a variao de respectivo intervalo. ao longo do
Figura 5.6 Sinal modulado em fase com a presena do desvanecimento (TAKIY, 2009b).
96
Como o sinal da figura 5.6 no peridico, a expanso em srie de Fourier dada em (4.22) no mais se aplica e, portanto, nenhum mtodo de anlise espectral conseguiria realizar a demodulao de fase com exatido. Em resumo, a fim de se obter um espectro de sinal fotodetectado com raias bem definidas, adequado se amostrar um grande nmero de ciclos (em princpio, um nmero infinito de ciclos). Porm, diante do exposto, este tipo de amostragem conduziria a um sinal prtico no-peridico, como o da figura 5.6, devido a variao indesejvel de Na prtica, contudo, a taxa de variao de ( ).
( ) costuma ser relativamente lenta,
tipicamente inferior a 50 Hz em ambientes de laboratrios convencionais. Assim, uma estratgia seria amostrar um nmero menor de ciclos durante um breve intervalo de tempo, o suficiente para que a periodicidade do sinal seja aproximadamente preservada. Na figura 5.7-a apresenta-se um exemplo da forma de onda que passa por uma janela retangular e o seu respectivo espectro de magnitude, na figura 5.7-b, calculado usando-se uma FFT de 1024 pontos quando se amostra um menor nmero de ciclos. Adotou-se uma profundidade de modulao = 2,9 rad, visibilidade =1 e = 4 rad, sendo o sinal = 4 rad, a forma de
interferomtrico influenciado apenas pelo rudo branco. Como onda de ( ) exibe simetria de meia-onda.
(a)
97
(b)
Figura 5.7 Sinal modulado em fase gerado para = 2,9 rad, = 1 e = 4 rad. (a) Quadro temporal usando janela retangular. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado.
Entretanto, a reduo (as vezes excessiva, devido a dificuldades prticas) do nmero de ciclos amostrados pode conduzir a erros no clculo das amplitudes espectrais e insero de lbulos laterais indesejveis, uma vez que o sinal peridico no eterno, mas sim, com durao finita de tempo. Por isto, o uso da tcnica de janelamento torna-se necessria (OPPENHEIM, 1999). De forma anloga ao caso da figura 5.7, tem-se na figura 5.8-a o mesmo quadro do sinal, mas que agora passa por uma janela de Hanning e, na figura 5.8-b, o espectro de magnitude associado. Nesta situao foi utilizado, tambm, uma profundidade de modulao = 2,9 rad, visibilidade =1 e = 4 rad. Ressalta-se que o alargamento das raias
espectrais no compromete a resoluo espectral, visto existir uma banda de reserva segura entre as harmnicas consecutivas de sinais prticos.
(a)
98
(b)
Figura 5.8 Efeito do janelamento para o sinal modulado gerado, para = 2,9 rad, = 1 e = 2 rad. (a) Quadro temporal do sinal usando janela de Hanning. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado.
Nas prximas sees, tambm ser inserido na simulao o efeito de
varivel no se
tempo. Em particular, ser investigado o comportamento do sinal fotodetectado quando aproxima de rad, quando = exibe uma singularidade [ver (4.25)].
5.2.2 Resposta dos Subsistemas de Clculo do ndice de Modulao de Fase para Variando e ( ) Constante
As simulaes nesta seo foram realizadas com
variando, e na presena de rudo
branco gaussiano, para se chegar o mais prximo das medies experimentais. Assim, a primeira tarefa foi associar os erros nos clculos de , usando o novo mtodo com
modulao triangular, s limitaes na faixa dinmica potencializadas pelo nvel de rudo no sistema. Os resultados obtidos foram registrados em grficos, como mostra a figura 5.9, para o mtodo b1/b3 implementado no Simulink. Nesta figura tem-se em: a) o valor estimado ( ) usando o novo mtodo com modulao triangular, e em b) o erro percentual no clculo de Estes grficos foram obtidos para simulaes realizadas com . (valor esperado) variando de 0 = 4 rad. Os nas regies de
a 20 rad, com incrementos regulares de 2 mrad, e considerando-se resultados tornam evidentes os erros nos clculos do ndice estimado
singularidades apontadas no captulo 4, podendo chegar prximo a 100% de erro.
99
(a)
(b)
Figura 5.9 Resposta do subsistema de clculo de estimado . (b) Erro na estimao de . pelo mtodo b1/b3, para variando. (a) ndice
Como previsto no captulo 4, a figura 5.9 implica em faixa dinmica entre 0,097 rad e 8 rad, para o mtodo b1/b3. Na figura 5.10, apresenta-se novamente este resultado, porm, limitado ao trecho de variao de entre correspondente respectiva faixa dinmica. A linearidade
e , dentro da faixa dinmica de aplicao do mtodo b1/b3, excelente, a despeito da
incidncia do rudo branco.
100
Figura 5.10 Resultados obtidos usando-se o mtodo b1/b3, dentro de sua regio de faixa dinmica (0,097 rad < < 8 rad).
A figura 5.10 informa que, mesmo na presena de rudo branco, o mtodo b1/b3 tem resposta satisfatria para baixos ndices de modulao se comparados aos mtodos clssicos, como o mtodo -pos, cuja faixa dinmica de demodulao de fase estende-se de 0,22
rad a 6 rad (TAKIY, 2009b). Alm disso, como o extremo da fixa dinmica do mtodo b1/b3 se estende at 8 rad, pode-se concluir que, na presena de rudo branco, o mtodo b1/b3 extremamente eficiente, pois tem desempenho superior em relao aos mtodos clssicos de anlise espectral aqui citados.
5.2.3 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para Variando e e ( ) Constantes
Na sequncia realiza-se a anlise da influncia da visibilidade sendo que as simulaes foram realizadas para foi mantida em = 1 rad com a presena de rudo branco gaussiano, e a fase esttica
= 4 rad. Os resultados obtidos foram registrados em grficos, como
mostra a figura 5.11 (escala horizontal logartmica).
101
(a)
(b)
Figura 5.11 Resposta da simulao com visibilidade varivel, modulao estimada em funo da visibilidade. (b) Erro em %. = 1 rad e = 4 rad. (a) Profundidade de
No grfico da figura 5.11(a) observa-se que o mtodo b1/b3 capaz de demodular sinais mesmo diante de valores de visibilidade iguais a 10-3. No grfico de porcentagem de erro, figura 5.11(b), verifica-se que o erro reduzido, inferior a 0,02 % para 10 < < 1.
102
5.2.4 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para e ( ) Variando
Com o intuito de realizar simulaes mais prximas da realidade, considerando fatores enfrentados nas medies experimentais, variou-se os parmetros rudo. A variao de e ( ), na presena de ( )=0 e
( ) foi feita senoidal, entre 0 e 2 rad com perodo igual a 20s. Esta inteiro, os quais, conforme visto no captulo 4, so pontos de
forma de onda permite apreciar a ocorrncia das duas condies indesejveis, ( )= rad,
singularidades inerentes ao clculo usando o mtodo espectral b1/b3. O objetivo avaliar o erro que ocorre nos clculos nas proximidades destes pontos durante as simulaes. Considerou-se uma variao linear de simulao foi de 95 s. Os resultados obtidos diante das variaes de ( ) e rudo branco esto ilustrados na no tempo, para 0 < < 20 rad. A durao de cada
figura 5.12 onde se tem: em a) os valores da profundidade de modulao esperada ( ) e estimada ( ) usando o mtodo b1/b3, para uma variao linear de ; em b) o erro percentual no clculo de ; em (c) a fase ( ).
(a)
103
(b)
(c)
Figura 5.12 Resposta do subsistema de clculo de estimado . (b) Erro na estimao de . (c) Fase pelo mtodo b1/b3, para ( ). e ( ) variando. (a) ndice
Como se observa, significativa a influncia de 0, ou 2 rad sobre a demodulao de erros podem chegar a 500 %. Na prtica avaliar os valores de
quando este assume valores iguais a
usando o mtodo b1/b3. Prximo a estes pontos, os ( ) varia aleatoriamente, da a importncia de se
, em concomitncia com o clculo de , durante os experimentos. Ao
se perceber que um dado ponto exibe grande discrepncia em relao aos demais pontos do grfico de versus , deve-se calcular o valor correspondente de se este estiver prximo a , aplicando-se (4.42), e,
rad, desconsidera-se este dado e procede-se a uma nova medio.
No prximo captulo, abordar-se- um estudo sobre o modulador eletro-ptico, o qual foi utilizado para validar, em condies prticas, o novo mtodo b1/b3 de demodulao de fase ptica com modulao triangular.
104
Captulo 6
MODULADOR ELETRO-PTICO E VALIDAO EXPERIMENTAL DO MTODO b1/b3
Este captulo dedicado aplicao experimental do mtodo b1/b3, de modo a validar sua utilizao prtica. Para tanto, ser utilizado um modulador de intensidade ptica baseado no efeito eletro-ptico do cristal de niobato de ltio (LiNbO 3). O sistema ser til, pois emprega uma clula Pockels na configurao de modulador de amplitude, a qual possui caractersticas que podem ser determinadas analiticamente. Alm disso, um sistema mais bem comportado em termos de desvanecimento de sinal que um interfermetro e adequado para a validao do mtodo b1/b3. Dessa forma, sero abordados no decorrer do captulo a clula Pockels e a descrio de um modulador eletro-ptico desenvolvido na FEIS.
6.1 A Clula Pockels
A propagao da radiao ptica atravs de determinados materiais, cuja estrutura cristalina no exibe centro de simetria, e na presena de um campo eltrico externo d origem a um fenmeno fsico conhecido como o efeito eletro-ptico. O efeito eletro-ptico refere-se mudana nas propriedades de polarizao ptica em um dieltrico, atravs do qual a luz se propaga, induzidas por um campo eltrico externo cuja frequncia encontra-se muito abaixo da primeira ressonncia cristalina do meio (YARIV; YEH, 1984). Uma onda ptica, ao se propagar atravs desse material, sofre uma modulao de fase, a qual pode ser posteriormente demodulada utilizando-se mtodos adequados. Em 1893, Rntgen e Kundt observaram o efeito eletro-ptico linear no quartzo. Porm, coube a Pockels estudar fisicamente este efeito e
105
provar a existncia de um efeito eletro-ptico intrnseco, independente da piezoeletricidade induzida por deformaes mecnicas (KAMINOW, 1974). Um cristal constitudo por um arranjo (array) tridimensional peridico de tomos no espao, e a aplicao de um campo eltrico externo resulta numa redistribuio das cargas de ligao ocorrendo uma pequena deformao na rede inica, o que causa a variao da permissividade dieltrica deste material (KAMINOW, 1974, YARIV; YEH, 1984), e da no seu ndice de refrao. Denomina-se clula Pockels um dispositivo constitudo pelo cristal eletro-ptico, juntamente com os eletrodos para aplicar o campo eltrico externo. O niobato de ltio (LiNbO3) um dos principais cristais empregados para confeco de clulas Pockels, devido a uma excelente combinao de propriedades pticas como, por exemplo, tima transparncia na faixa de espectro da luz de interesse em comunicaes pticas e sensores, coeficientes eletro-pticos elevados, custo reduzido, no-higroscpico, etc. H diferentes tipos de eletrodos que podem ser utilizados nas clulas Pockels, como placas metlicas, filmes metlicos ou tintas metlicas (MARTINS, 2006). Conforme ilustram as figuras 6.1 e 6.2, a maneira com que so dispostos os eletrodos em uma clula Pockels pode ocorrer segundo duas configuraes: transversal, para campo eltrico perpendicular direo de propagao do feixe ptico, ou longitudinal, para campo eltrico paralelo direo de propagao do feixe ptico.
Figura 6.1 - Clula Pockels com eletrodos na configurao transversal.
106
Figura 6.2 - Clula Pockels com eletrodos na configurao longitudinal.
No
caso
da
clula
Pockels
longitudinal,
utilizam-se
eletrodos
condutores
semitransparentes para revestir as extremidades do cristal. Esta configurao proporciona uma distribuio uniforme de campo eltrico, mas ocorrem perdas pticas severas quando a luz atravessa os eletrodos, que algumas vezes no podem ser toleradas. Por esta razo, neste trabalho, utiliza-se a clula Pockels com eletrodos na configurao transversal com cristal de LiNbO3 de dimenses de 5mm x 50,025 mm x 1,1 mm, nas direes cristalgrficas X, Y, Z, respectivamente. Neste arranjo, a propagao ptica se d na direo Y do cristal, e a aplicao do campo eltrico externo ocorre na direo Z, perpendicular direo de propagao da luz. Este campo ser representado por . Na figura 6.3 observa-se a clula
utilizada, j fixada em um suporte com mltiplos ajustes mecnicos.
Figura 6.3 - Clula Pockels com cristal de LiNbO3 fixa no suporte (MENEZES, 2009).
107
A clula Pockels, quando empregada em sistemas de comunicao ptica para modular a luz, tem o sinal de informao disponvel na forma de um campo eltrico modulador. Atravs do efeito eletro-ptico, esta informao inserida na fase da luz que passa atravs da clula. Ao emergir do dispositivo, o sinal ptico modulado segue em direo ao receptor para que a informao seja decodificada (YARIV, 1985). Por outro lado, nos casos em que a clula Pockels utilizada como sensor, as caractersticas de fase da luz transmitida so mensuradas para determinar o valor do campo eltrico desconhecido aplicado clula Pockels (LI; YOSHIRO, 2002). No caso do cristal apresentar eletrodos na forma de placas paralelas, separadas por uma distncia d, obtm-se o campo eltrico, , a partir da tenso eltrica aplicada, ( ), ou seja:
( )
( )=
(6.1)
O niobato de ltio um meio dieletricamente anisotrpico (uniaxial negativo), que apresenta dois modos de propagao eletromagntica, dependendo do estado de polarizao da luz incidente: os modos ordinrio e extraordinrio. O desenvolvimento desta anlise longa e trabalhosa, fugindo do escopo deste texto. Ao leitor interessado, sugere-se recorrer ao livro de Yariv e Yeh (1984) ou a tese de Martins (2006). Nesta dissertao, em razo da clula Pockels ser utilizada como modulador de intensidade ptica, considera-se uma diferena de fase relativa entre os modos de propagao da luz, transmitida na sada do cristal dada por (YARIV; YEH, 1984): 2
() ,
(6.2)
sendo
o comprimento de onda do laser, e
os ndices de refrao extraordinrio e so seus coeficientes eletro-pticos e o
ordinrio do cristal de niobato de ltio, comprimento do cristal.
A expresso (6.2) torna evidente que existem dois tipos de defasagem relativa. O primeiro tipo, correspondente a primeira parcela de (6.2), e se deve birrefringncia natural do cristal. O segundo tipo, corresponde a segunda parcela de (6.2), e induzida pelo campo eltrico externo . Esta parcela pode ser controlada eletronicamente, bastando ajustar a
108
amplitude da tenso eltrica
( ) aplicada. Estas diferenas de fase so denominadas de
defasagens natural e induzida, respectivamente. Utilizando (6.1) e (6.2), a defasagem induzida pode ser definida como:
( )=
( ),
(6.3)
e a defasagem natural pode ser dada por: 2
) .
(6.4)
O valor da tenso eltrica aplicada ao cristal, e que proporciona o retardo eletro-ptico, ( ), de radianos denominada de tenso de meia-onda, representada por
e ( )= , a partir de (6.3), obtm-se:
. Assim,
fazendo ( ) =
(6.5)
A tenso de meia-onda um fator de mrito para o dispositivo e usada para comparar diferentes clulas Pockels. Alm disso, quanto menor o valor de , menor a tenso
necessria para aliment-la, o que nos casos dos moduladores pticos usados em telecomunicaes constitui uma caracterstica desejvel. Como se observa em (6.5) a tenso de meia-onda depende do material e do comprimento de onda da radiao ptica ( ). Os parmetros do material ( no variam tanto com a frequncia da luz, porm, valores elevados de quando for grande. pequeno no modulador transversal reduzir a , , e )
sero obtidos
Uma maneira de obter um valor de razo
. Entretanto, esta informao deve ser usada com critrio, uma vez que valores
muito elevados de L causam um aumento substancial na capacitncia do modulador eletroptico. Isto, por sua vez, faz com que o dispositivo no consiga responder em freqncias elevadas, da ordem de MHz. Alm disso, para dimenso d muito pequena, existem problemas associados largura do feixe de laser que utilizado. Se ambos forem da mesma ordem de
109
grandeza, o efeito da difrao do feixe ptico pode degradar o desempenho do modulador (KAMINOW, 1974). Conhecendo-se os parmetros do cristal de niobato de ltio utilizado na clula Pockels implementada na FEIS-Unesp, possvel calcular o valor de V terico aplicando (6.5). Para tanto, considera-se o valor do comprimento de onda do laser = 632,8 nm (laser de HlioNenio), a espessura do cristal d = 1,1 mm, os valores dos ndices de refrao ordinrio e extraordinrio dados por n = 2,286 e n = 2,2, respectivamente, os coeficientes eletropticos do niobato de ltio como sendo r = 64,92 V. Por outro lado, substituindo-se (6.5) em (6.3), tem-se que: = 9,6 pm/V e r = 30,9 pm/V, e, finalmente, que o comprimento da clula igual a L = 50,025 mm. Assim, obtem-se um valor terico de
( )=
( ),
(6.6)
a qual fornece o retardo de fase como funo linear da tenso aplicada ( ). De acordo com (6.6), quanto menor o valor de maior ser o valor de retardo para um mesmo valor de ( ). Portanto, conforme mencionado, sabe-se que o efeito eletro-ptico permite inserir informaes na fase da luz, ou seja, no retardo eletro-ptico (6.6). Isto permite a implementao de um modulador ptico, no qual a informao sobre o valor instantneo da tenso ( ) pode ser inserida na fase da luz e transmitida at um receptor, onde, havendo um esquema adequado para realizar a demodulao, ocorrer uma converso inversa.
6.2 Modulador Eletro-ptico de Amplitude
Neste trabalho pretende-se estudar a informao contida no retardo de fase ptico ( ) quando o cristal de LiNbO3 submetido a uma tenso eltrica ( ). Conforme se observa na figura 6.4 apresentado o esquema do sistema modulador eletro-ptico, que composto por um polarizador cujo eixo est ajustado a 45 dos eixos cristalogrficos X ou Z do cristal, com a finalidade de acoplar dois modos ortogonais de propagao da clula Pockels, com iguais amplitudes. A clula Pockels com cristal de niobato de ltio encontra-se na configurao
110
transversal e, na sua sada, encontra-se um segundo polarizador, com eixo deslocado angularmente do eixo do primeiro polarizador por 90.
Figura 6.4 Esquema do modulador eletro-ptico de amplitude (MARTINS, 2006).
Este segundo polarizador, tem por funo analisar o estado de polarizao dos feixes aps a clula Pockels, razo pela qual denominado analisador. O analisador permite obter um feixe de sada no qual a informao da tenso eltrica ( ) encontra-se inserida na
intensidade ptica de sada do sistema. Na figura 6.5 apresenta-se uma fotografia da montagem experimental do modulador eletro-ptico no laboratrio da FEIS-Unesp.
Figura 6.5 - Aparato experimental do modulador eletro-ptico montado em laboratrio.
111
Na prtica o alinhamento do arranjo no uma tarefa trivial, uma vez que o grau de paralelismo do feixe ptico com o eixo Y do cristal demanda ajustes extremamente delicados. Todo o arranjo deve estar bem fixado numa mesa ptica para que no ocorram vibraes indesejveis no sistema. Estgios de translao e rotao micromtricos so utilizados para garantir um bom alinhamento. O processo de alinhamento consiste, primeiramente, em cruzar os polarizadores P e A sem inserir a clula Pockels no sistema. Para isto, ajusta-se o polarizador a 45 do plano horizontal estabelecido pela mesa ptica e em seguida, monitorando-se o sinal de sada com um fotodiodo, posiciona-se o analisador de tal forma que se anule o mximo possvel o feixe de laser na sada do sistema. Isso garante que os polarizadores esto cruzados a 90 entre si. Quando a clula Pockels inserida entre o polarizador e o analisador, conforme mostra a figura 6.5, a birrefringncia natural do LiNbO3 far com que a intensidade de sada seja novamente no-nula. Ao se apagar completamente a iluminao do laboratrio, observa-se que a clula Pockels fica iluminada, evidenciando um intenso espalhamento de luz no interior do cristal. Assim, o feixe de sada, aps o analisador, composto pelo feixe de laser propriamente dito, e por luz espalhada ao redor de seu eixo longitudinal. Projetando-se essa luz de sada sobre um anteparo, obtm-se a imagem mostrada na figura 6.6. O sistema estar alinhado quando o spot ptico do feixe principal coincidir com o centro geomtrico da figura de franjas gerada pela luz espalhada no cristal (MARTINS, 2006).
Figura 6.6 - Padro de interferncia experimental devido ao espalhamento da luz no cristal.
112
Em resumo, o feixe de laser propaga-se paralelamente direo Y do cristal, e incide sobre o polarizador que acopla, com a mesma amplitude, os modos de propagao ordinrio e extraordinrio do material. Enquanto o feixe de luz transmitido atravs do cristal de LiNbO3, uma tenso eltrica ( ) aplicada clula Pockels atravs de eletrodos paralelos,
gerando o campo eltrico definido em (6.1). Consequentemente o cristal eletro-ptico sofre modificaes nas suas caractersticas pticas, modulando o estado da polarizao da luz transmitida que sai da clula Pockels. No analisador, a modulao na fase relativa que ocorreu durante a passagem dos modos ordinrio e extraordinrio pela clula convertida em modulao de amplitude e, dessa maneira, pode ser detectada pelo fotodetector, de lei quadrtica que obedece a relao (2.4). A intensidade ptica na sada do sistema, a qual proporcional ao sinal gerado pelo fotodiodo, ser (YARIV; YEH, 1984): , 2
(6.7)
sendo
a intensidade ptica do laser. Porm, foi definido em (6.2) que o valor do retardo de fase total ( ) uma soma de
duas parcelas: uma devida birrefringncia natural do cristal (
), e outra devido influncia
do campo eltrico externo ( ). Portanto, (6.7) tambm pode ser reescrita como:
= =
2 2
(1
) + ( ))]. (6.8)
[1 cos(
Deve ser enfatizado a similaridade entre (6.8) e (2.16), a menos do valor
= 1 em
(6.8). Por conta disso, o sistema da figura 6.4 tambm chamado de interfermetro polarimtrico. A partir de (6.8) define-se a transmisso de um dispositivo ptico ( ) como a razo entre as intensidades pticas de sada ( ) e de entrada ( ). Assim, substituindo (6.6) em (6.8), tem-se a transmisso atravs do sistema representada por: 1 1 2
( ) .
(6.9)
113
Atravs da transmisso ( ) possvel determinar a intensidade ptica de sada, para qualquer intensidade ptica de entrada numa clula Pockels, sobre a qual se aplica uma tenso eltrica ( ). Na figura 6.7, representa-se (6.9) graficamente, obtendo-se a curva de
transmisso ( versus ).
Figura 6.7 Curva de transmisso de uma clula Pockels de LiNbO3.
O exemplo da figura 6.7 um caso hipottico no qual
= 0. Percebe-se que h um
ponto Q, denominado ponto de polarizao quiescente para operao em quadratura de fase, em torno do qual obtida uma resposta aproximadamente linear de intensidade ptica em funo da tenso externa aplicada, tendo assim considervel sensibilidade de modulao. Neste caso, o ponto Q pode ser estabelecido atravs de uma tenso DC aplicada clula Pockels, cujo valor tenso = 2. Como se verifica na figura 6.7, incidindo-se um sinal de
( ) com amplitude reduzida e que oscila em torno deste ponto quiescente, a sada num sinal
ptica, ou luz modulada em intensidade/amplitude, constituir uma reproduo fiel desse sinal eltrico. Com o auxlio de um fotodiodo, pode-se converter a intensidade ptica de tenso eltrica ( ). No caso geral, 0 rad, porm, isto significa apenas que a curva de transferncia encontra-se deslocada, para a direita ou esquerda, em relao origem. Entretanto, o raciocnio usado acima, para executar a demodulao da fase ptica em (6.9), ainda se aplica,
114
desde que o ponto Q tambm esteja sobre a regio mais linear da curva de transferncia (basta mudar o valor de ). ( ), altera o retardo da fase ( ) em (6.8), ( ),
Portanto, a tenso a ser mensurada,
conforme estabelecido em (6.9). Assim, medindo-se ( ), automaticamente se mede desde que e amplitude pode ser implementado.
sejam conhecidos. Baseado neste princpio, um modulador eletro-ptico de
6.3 Demodulao de Fase Eletro-ptica Usando o Mtodo b1/b3
Nas sees anteriores foi enfatizada a similaridade entre o sinal fotodetectado na sada do modulador eletro-ptico, (6.8), com o sinal de sada do interfermetro de Michelson, (2.16). Beneficiando-se dessa similaridade, ser utilizado o modulador com clula Pockels das figuras 6.4 ou 6.5, para validar a tcnica b1/b3. Neste caso, a fase induzida (t) em (6.8) dever variar segundo uma forma de onda triangular. Baseando-se em (6.6), verificou-se que isso pode ser obtido facilmente aplicandose uma tenso eltrica ( ) triangular clula Pockels. Se ( ) = ( ), conforme definida em (2.17) e desenhada na figura 2.2, ento, ( ) dever ter um valor de pico, , tal que:
(6.10)
Um grfico semelhante ao mostrado na figura 4.5 pode ser obtido para o caso do modulador eletro-ptico de amplitudes. Assim, na figura 6.8 ilustra-se o grfico de versus , obtido aplicando-se o mtodo b1/b3 para sinais ( ) triangulares com amplitudes entre 0 e 400 V. Na simulao, considerou-se a clula Pockels descrita na seo 6.1, com V. Foi assumindo que o rudo branco, com fator convenincia). A escala de tenso obtida a partir de = rad quando = = 64,92 V. = 0,0004, e, que = 64,92 = 4 rad (por
aplicando-se (6.10). Como se observa,
Uma caracterstica importante no mtodo b1/b3 a sua independncia em relao ao valor de (exceto para rad). Com isso, os sinais oriundos do modulador eletro-ptico de 4 para serem
intensidades dispensam o uso da tenso de bias ou de lminas de
115
demodulados. Inclusive, esta configurao cristalogrfica foi escolhida justamente por apresentar o termo de fase que varia aleatoriamente com a temperatura ambiente, servindo
para testar o mtodo b1/b3 diante do desvanecimento.
aplicando-se o mtodo b1/b3.
Neste trabalho emprega-se um modulador eletro-ptico de amplitude usando um cristal de niobato de ltio no qual aplicado um sinal triangular de tenso de at algumas centenas de volts (170 Vp) e frequncia de 1 kHz. Os dados experimentais obtidos so confrontados com os dados tericos simulados, e, como ser demonstrado nas prximas sees, verifica-se concordncia entre os mesmos.
6.4 Arranjo Experimental do Sistema
Nesta seo descreve-se o arranjo do sistema montado como um todo para a aquisio de dados experimentais. O aparato experimental constitudo pelo modulador eletro-ptico, ilustrado na figura 6.5, com a clula Pockels, onde o campo eltrico aplicado na direo Z e a propagao ptica na direo Y, montou-se um modulador eletro-ptico para medir a profundidade de modulao com tenses de sinal triangular. Foi usado um laser de Hlio
116
Nenio (He-Ne) operando em
= 632,8 nm, os polarizadores so de plstico polaride e o
fotodetector de lei quadrtica um fotodiodo de silcio do tipo PIN (Siemens, BPX-65, com amplificador de transimpedncia base do amplificador operacional OP 27). Para obteno dos resultados deste captulo, foram aplicadas tenses de sinal triangular clula Pockels que variaram entre 0 e 170 Vp, com incrementos de aproximadamente 8 Vp, e a uma freqncia de 1 kHz. O sinal de sada do fotodetector foi armazenado atravs do software Matlab para posterior clculo da FFT e aplicao do mtodo de b1/b3, ou seja, posterior demodulao de fase do sinal de sada. Estes resultados experimentais so comparados com os simulados (tericos), obtidos pelo emprego do mtodo b1/b3. A figura 6.9 mostra uma foto da instrumentao eletrnica utilizada. Utilizou-se um osciloscpio de amostragem (modelo Tektronix TDS2022), um microcomputador e um sintetizador de funes (modelo 33210A da Agilent Technologies). Este gerador de funes opera com um limite de amplitude de no mais do que 10 V pp, valor suficiente para se obter uma tenso ( ) significativa para a aplicao do mtodo b1/b3, e conectado um
transformador de tenso com relao de transformao 6 Vrms : 220 Vrms, alimentado pelo lado de baixa tenso. A sada do transformador conectado clula Pockels, fazendo com que a amplitude atinja valores prximos a 340 Vpp sem haver saturao do sinal fotodetectado.
Figura 6.9 - Foto da instrumentao eletrnica utilizada. Visualizao do osciloscpio digital, o gerador de funes e o computador usado na aquisio dos dados.
117
Os sinais, aps fotodetectados, so adquiridos pelo osciloscpio digital Tektronix TDS2022. A aquisio dos dados, para posterior processamento, feita atravs da conexo do osciloscpio digital com um microcomputador atravs da porta RS 232 e da utilizao do software WaveStar da Tektronix. Este software faz a aquisio dos sinais referentes a uma janela, amostrada pelo osciloscpio, e armazena 2500 pontos adquiridos em um arquivo de extenso .sht. Estes dados so convertidos em arquivos .txt, e ento, processados utilizando o Matlab. A figura 6.10 (a) mostra um exemplo de sinal amostrado da sada do fotodetector no domnio temporal, para uma tenso aplicada clula Pockels de 87 Vp e 1 kHz de freqncia. A figura 6.10 (b) ilustra o grfico correspondente ao espectro do sinal, obtido calculando-se sua FFT com auxlio do software Matlab. A poro ocupada abaixo de -50 dB refere-se apenas a rudo.
(a)
(b)
Figura 6.10 - Sinal de sada do modulador eletro-ptico aplicando tenso senoidal 87 Vp em 1 kHz. (a) Forma de onda correspondente sada do fotodetector. (b) Espectro do sinal de sada do fotodetector.
118
Minutos aps a realizao da medio do sinal de sada do fotodetector mostrada na figura 6.10, procedeu-se a nova medio, obtendo-se os resultados mostrados na figura 6.11.
(a)
(b)
Figura 6.11 - Sinal temporal detectado e espectro correspondente, obtidos numa medio subseqente ao da figura 6.10 Efeito do desvanecimento.
Como se percebe, as formas de onda so diferentes, o que evidencia que o fenmeno de desvanecimento est ocorrendo devido variao trmica do ambiente. Apesar disso, aplicando-se o mtodo b1/b3 a ambos os casos, obtm-se um valor de aproximadamente 4,13 rad, evidenciando que a tcnica imune a variaes de fase igual a ( ).
119
6.5 Validao do Mtodo b1/b3
Em seguida o procedimento foi realizado para os conjuntos compreendidos entre 0 e 170 Vp e foi aplicado o mtodo espectral de demodulao de fase ptica b1/b3 para esses dados utilizando uma rotina desenvolvida no software Matlab. Os resultados obtidos so apresentados na figura 6.12. A varivel refere-se ao ndice de modulao mensurado (para diferenciar de , valor esperado, e , o valor estimado).
Figura 6.12 - Mtodo b1/b3 aplicado aos dados do modulador eletro-ptico de amplitude com tenso entre 0 e 170 Vp.
Observa-se que, utilizando o mtodo b1/b3 na demodulao de fase, obtm-se uma faixa linear que se estende de 5 a 170 Vp, resultado esse que condiz com os estudos desenvolvidos nos captulos 4 e 5. O valor experimental de , ou seja, , pode ser mensurado a partir dos resultados da
figura 6.13, obtidos pelo mtodo b1/b3. O coeficiente angular da reta resulta em 47,4 mrad/Vp e, ento, para uma tenso externa correspondente a uma profundidade de modulao igual a rad, deduz-se que = 66,24 Vp. Portanto, ocorre uma discrepncia de apenas 2,04 % em relao ao valor terico ( desenvolvido. Conforme se observa, no mtodo b1/b3 demanda somente a medio dos mdulos das componentes fundamental e terceira harmnica, ou seja, as informaes sobre as fases so dispensveis. Isto no ocorria com os mtodos J 1/J3, J1...J4 ou J1...J6, os quais exigiam a execuo de um algoritmo para correo de sinais quando as funes de Bessel tornavam-se = 64,92 Vp), o que valida satisfatoriamente o mtodo b1/b3, aqui
120
negativas, como no mtodo J1...J4 modificado. Sem dvida, esta constitui uma importante caracterstica do mtodo b1/b3. Ressalta-se que a clula Pockels importante para a validao do mtodo b1/b3 porque, alm de ser um sistema geometricamente bem comportado, cujas caractersticas de fase podem ser modeladas analiticamente atravs do eletromagnetismo, tambm menos sensvel aos efeitos do desvanecimento devido variao aleatria da fase . Isso ocorre
essencialmente porque ambos os modos, ordinrio e extraordinrio, percorrem o mesmo trajeto ao atravessar a clula Pockels, enquanto no interfermetro os dois feixes devem percorrer caminhos pticos distintos. Para confirmar esta observao, aplicou-se o procedimento da seo 4.3 objetivando-se mensurar os valores de para os pontos correspondentes ao grfico da figura 6.12, usando-
se a expresso (4.42). O resultado encontra-se registrado na figura 6.13, na qual se observa que, ao longo do perodo em que a medio foi efetuada, o valor de aproximadamente constante, em torno de permaneceu
2 rad (mesmo assim, alguma variao ocorre).
Este tipo de resultado seria inconcebvel no caso do interfermetro de Michelson da FEISUnesp, no qual varia aleatoriamente com maior rapidez.
Figura 6.13 Valores de
medidos para os dados da faixa dinmica linear.
No entanto, conforme j mencionado, a fase
sofre derivas influenciada pela variao
de temperatura ambiente. Com o intuito de se observar esse fenmeno, foram realizadas vrias medies para os mesmos valores de tenso aplicada, de modo a obter vrias formas de onda do sinal fotodetectado. Na figura 6.14, ilustra-se um dos conjunto de dados nas quais as
121
medies entre pontos adjacentes foram realizadas num maior intervalo de tempo, permitindo-se que variasse vontade.
Figura 6.14 Conjunto de dados mal comportados obtidos aplicando o mtodo b1/b3 com tenso entre 0 e 170 Vp.
Aplicou-se o procedimento de clculo de
para os pontos correspondentes ao grfico
da figura 6.14. O resultado encontra-se registrado na figura 6.15, na qual se observa que, ao longo do perodo em que a medio foi efetuada, o valor de variou entre 0 e 2 rad.
Figura 6.15 Valores de
para as sequncias de dados da figura 6.15.
Como se observa, os valores de
prximos a 3 2 rad permaneceram bem est
comportados, evidenciando o comportamento linear na figura 6.14. Porm, quando
prximo de 0 ou rad, ocorrem grandes discrepncias relativamente ao comportamento linear
122
entre e
(pontos numerados de 1 a 6 para melhor visualizao), podendo-se descartar
esses pontos durante a medio de . Os resultados experimentais obtidos neste captulo efetivamente validam o mtodo b1/b3 e permitem sua utilizao, por exemplo, para a caracterizao de APFs discutidos no captulo 3. Atravs do valor medido para , comprovou-se, tambm, que ambos resultados obtidos,
tericos (simulados) e experimentais, esto em concordncia, evidenciando a eficincia do modelamento interferomtrico, em simulaes dinmicas. Na prxima seo so apresentados resultados da aplicao do mtodo b1/b3 utilizando sinais fotodetectados de medies obtidas por Barbosa (2009) na caracterizao dos atuadores AFX-01 e AFX-02, e manipulador MFX-01.
123
Captulo 7
RESULTADOS EXPERIMENTAIS: AVALIAO DA LINEARIDADE DOS ATUADORES/MANIPULADORES PIEZOELTRICOS
Este captulo dedicado descrio e discusso dos resultados experimentais envolvendo atuadores e manipuladores piezoeltricos. A configurao interferomtrica descrita no captulo 2 foi implementada no laboratrio e o mtodo de demodulao de fase ptica, b1/b3, foi utilizado para avaliar a linearidade dos atuadores. Como se sabe, no mtodo b1/b3 trabalha-se com modulao triangular para a demodulao de fase ptica. De forma anloga ao novo mtodo de demodulao de fase apresentado, Barbosa (2009) tambm utilizou a modulao de fase com forma de onda triangular, pois este sinal possui propriedades que beneficiam o procedimento de autocalibrao do interfermetro NBPM como, por exemplo, melhor preciso experimental, devido aos ngulos acentuados e bem definidos, abrangendo-se boa parte da regio linear da curva de transferncia ptica. Desta forma, a modulao triangular tambm foi utilizada em interferometria ptica por Barbosa (2009), para a caracterizao dos atuadores AFX-01, AFX-02 e do manipulador MFX-01, descritos no captulo 3, atravs do mtodo de baixo ndice de modulao. Menezes (2009) tambm trabalhou na caracterizao dos AFX-01 e AFX-02 utilizando o mtodo de Pernick com excitao de fase senoidal. Porm, operou com frequncias da ordem de kHz, superiores s dessa dissertao. Finalmente, destaca-se que Nader (2002) tambm caracterizou o atuador AFX-01 utilizando um sensor reflexivo em fibra ptica, o qual refere-se a um sensor de intensidade ptica (ao contrrio do sensor interferomtrico, de fase). Neste caso, operou-se em regime quase-esttico, com frequncias da ordem de poucos Hz.
124
Visando, mais uma vez, avaliar a eficincia do modelamento interferomtrico e do mtodo b1/b3, efetuou-se clculos de profundidade de modulao e de deslocamento dinmico a partir dos dados mensurados por Barbosa (2009). Os resultados assim obtidos sero confrontados com os divulgados por Barbosa (2009) e Nader (2002).
7.1 Arranjo Experimental do Interfermetro
Com a finalidade de realizar a caracterizao dos APFs AFX-01, AFX-02 e MFX-01, optou-se por um interfermetro na configurao de Michelson em ptica volumtrica homdino. Foi utilizado no processo um laser de Hlio Nenio (He-Ne) (Ealing Electrooptics, 15 mW) operando no comprimento de onda = 0,6328 m, um divisor de
feixes neutro (Ealing Electrooptics), com taxa de 50/50 e um fotodiodo PIN de silcio (BPX 65 da Siemens), o qual constitui um fotodetector de lei quadrtica. Na figura 7.1 apresenta-se o sistema interferomtrico montado em laboratrio.
Figura 7.1 - Configurao experimental do interfermetro de Michelson homdino utilizada para medio de deslocamento dos APFs: 1- laser de He-Ne, 2- espelho fixo, 3- APF com espelho mvel, 4-divisor de feixes e 5- fotodetector.
125
O interfermetro est montado sobre uma mesa ptica constituda por uma espessa estrutura inercial de granito, na qual a superfcie da estrutura possui furaes para parafusos de 1/4 de polegada onde os elementos que compem o interfermetro so fixados. O espelho fixo do ramo de referncia foi acoplado a uma estrutura com ajuste dos graus de liberdade (tilt positioner), dotada de parafusos micromtricos de forma que o alinhamento do interfermetro pudesse ser realizado atravs deste ramo. O APF est fixado no sistema atravs de um suporte e excitado por sinais triangulares gerados por um sintetizador de sinais Agilent 33220A, que tem sua sada conectada a um amplificador de udio. O amplificador de udio utilizado corresponde a um mdulo convencional, o qual possui tenso de sada mxima limitada em aproximadamente 35 V p. O sinal de sada do sistema interferomtrico detectado pelo fotodiodo PIN e foi adquirido por um osciloscpio de armazenagem (Tektronix, modelo TDS2022). Este sinal temporal, por sua vez, transferido para um computador usando uma interface de comunicao, e, com o auxlio de um software de aquisio de sinais do osciloscpio, tambm da Tektronix, tem-se os arquivos referentes aos sinais de sada j no computador. A partir da, pode-se, ento, processar e demodular esses sinais utilizando o software Matlab. Na figura 7.2 apresentam-se o sistema de aquisio e o sintetizador de sinais.
Figura 7.2 - Osciloscpio digital utilizado, sintetizador de sinais para realizar a excitao do APF, e computador para o processamento do sinal (BARBOSA, 2009).
126
Antes de realizar as medies, o interfermetro deve ser criteriosamente alinhado. O processo de alinhamento consiste em fazer com que os feixes que emergem do divisor de feixes cbico estejam totalmente sobrepostos. Para isso, atua-se no espelho do ramo de referncia (M1 mostrado na figura 7.3) de forma que, em determinado momento, consiga-se ortogonalidade entre os planos das faces dos dois espelhos M1 e M2. Na estrutura ao qual o espelho fixo foi preso, existem dois estgios de ajuste mecnico que podem ser utilizados para a obteno do alinhamento: um estgio de rotao e outro de inclinao. O estgio de rotao faz com que o espelho gire em torno de seu prprio eixo, aproximando ou afastando os feixes no sentido longitudinal. O estgio de inclinao age similarmente ao de rotao, porm, na direo transversal. A movimentao dos estgios realizada de forma precisa atravs de parafusos micromtricos, bastando ao usurio atuar nos micrmetros para que o espelho gire e os feixes se movimentem buscando uma melhor condio de alinhamento.
Figura 7.3 Interfermetro levemente desalinhado (BARBOSA, 2009).
Ressalta-se que o alinhamento uma das partes mais importantes de todo o processo interferomtrico. Quanto mais rigoroso e correto estiver o alinhamento do interfermetro, melhores sero os resultados obtidos. Devido tcnica utilizada por Barbosa (2009) para a demodulao da fase ptica no ser imune ao desvanecimento, ento, foi necessrio condicionar o ambiente de medio contra distrbios e interferncias externas: as luzes foram apagadas, para que no houvesse influncia das lmpadas incandescentes ou fluorescentes sobre o fotodiodo. Antes de proceder
127
s medies, o ambiente do laboratrio foi refrigerado, a fim de equalizar sua temperatura. A partir da, o condicionador de ar foi desligado, portas e janelas mantiveram-se fechadas, evitando-se quaisquer turbulncias de ar no local. E, por fim, a maioria das medies foi realizada durante a madrugada, horrio no qual o fluxo de pessoas nas proximidades do Laboratrio de Optoeletrnica da UNESP Campus de Ilha Solteira bem reduzido. Seguem nas prximas sees, as medies e resultados obtidos.
7.2 Avaliao da Linearidade do Atuador AFX-01 Utilizando o Mtodo b1/b3
Para a caracterizao do atuador AFX-01, inicialmente configurado o gerador de funo para produzir um sinal triangular com freqncia fixa de 125 Hz, um valor suficientemente baixo e na qual o sinal fotodetectado bem comportado. Para a aplicao do mtodo de baixo ndice de modulao, Barbosa (2009) realizou o procedimento de autocalibrao interferomtrico, assunto que no ser abordado neste trabalho. Como discutido no captulo 4, ao contrrio do mtodo NBPM, o mtodo b1/b3 auto-consistente, dispensando-se qualquer procedimento de calibrao inicial do interfermetro. As formas de onda adquiridas experimentalmente por Barbosa (2009) so apresentadas na figura 7.4. Na parte superior da figura 7.4, est representado o sinal fotodetectado, enquanto que as formas de onda apresentadas na parte inferior, mostram o sinal de excitao. Em a) ilustra-se quando a tenso de excitao (56 Vp) atinge valor tal que supera ( ) = 2 rad, e as formas de onda do sinal detectado apresentam reentrncias em seus picos e vales. Em b) a tenso diminuda at que o sinal fotodetectado uma senide (38,4 Vp), requisito bsico para realizar a autocalibrao para o mtodo de demodulao de fase ptica de Barbosa (2009). Em c) apresenta-se um exemplo de sinal triangular fotodetectado adquirido em medies com tenso aplicada para o sinal de excitao de 8,8 Vp.
128
(a)
(b)
(c) Figura 7.4 - Formas de ondas adquiridas nas medies dos deslocamentos gerados pelo AFX 01 em conjunto com a cermica PZT 5-A na freqncia de 125 Hz. a) Tenso de excitao de 56 Vp; b) Tenso de excitao de 38,4 Vp; c) Tenso de excitao de 8,8 Vp (BARBOSA, 2009).
129
Os sinais fotodetectados foram adquiridos de medies realizadas para tenses variando entre 3,6 e 56 Vp. Os resultados experimentais de profundidade de modulao de fase e de deslocamentos produzidos pelo atuador piezoeltrico flextensional, os quais so calculados utilizando a relao (2.15), so apresentados na tabela 7.1. Ressalta-se que, para o mtodo aplicado por Barbosa (2009), a condio de quadratura de fase [ = 2 rad] era necessria,
utilizando-se apenas os sinais fotodetectados similares aos sinais de excitao triangulares. O mtodo b1/b3, no entanto, no necessita desta condio para efetuar a demodulao de fase ptica sendo possvel, ento, obter a profundidade de modulao para as tenses de excitao 38,4 Vp e 56 Vp. Tabela 7.1 - Resultados obtidos com o atuador piezeltrico AFX-01. Tenso de excitao (em Vp) 56 38,4 30,4 24,8 18,4 16,4 12,8 8,8 5,4 3,6 Barbosa (2009) (em rad) 0,82 0,72 0,55 0,47 0,41 0,28 0,21 0,13 Deslocamento (em nmpico) 43,4 36,5 27,6 23,9 20,7 14,4 10,7 6,9 (em rad) 1,5561 1,0866 0,8611 0,7239 0,5480 0,4772 0,4183 0,2726 0,2129 0,1320 Mtodo b1/b3 Deslocamento (em nmpico) 78,34 54,72 43,36 36,45 27,60 24,03 21,06 13,73 10,72 6,65 (x rad) 0,5002 0,4998 0,4983 0,4975 0,4971 0,4970 0,4970 0,4974 0,4978 0,4986
Com os resultados obtidos e tabulados, traou-se o grfico da relao tenso de excitao em funo da profundidade de modulao obtida experimentalmente apresentado na figura 7.5 (para os valores calculados com o mtodo b1/b3). , como
130
Figura 7.5 - Relao entre a tenso de excitao e a profundidade de modulao obtida para o atuador AFX-01 com aplicao do mtodo b1/b3.
Percebe-se, na figura 7.5, a linearidade entre os resultados para a profundidade de modulao em relao tenso de excitao obtidos. A seguir, procede-se anlise o comportamento de deslocamento do AFX-01 calculado usando-se (2.15) como mostra a figura 7.6.
Figura 7.6 - Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o atuador AFX-01, utilizando o mtodo b1/b3.
Analisando o grfico, observa-se que a relao entre o deslocamento e a tenso de excitao linear, dentro da faixa de tenso aplicada na piezocermica do AFX-01. Atravs dessa investigao, pode-se calcular o coeficiente angular da reta aproximada, formada pelos pontos adquiridos aplicando a tcnica dos mnimos quadrados. Para isso, usa-se a expresso:
131
(7.1)
Escolheu-se os pontos
(3,6 ; 30,4) e (6,65 ; 43,36) que, substitudos em (7.1),
resulta em um coeficiente angular de 1,37 nm/V p, compatvel com o valor de 1,36 nm/Vp, mensurado por (BARBOSA, 2009). Ressalta-se que a linearidade do atuador AFX-01, tambm foi analisada por Nader (2002). A comparao de resultados para o coeficiente angular pode ser vista na tabela 7.2.
Tabela 7.2 - Comparao dos resultados obtidos para o coeficiente angular da reta que descreve a linearidade do atuador piezeltrico flextensional AFX 01. Valores dos coeficientes angulares da reta de linearidade Mtodo de referncia Mtodo b1/b3 Baixa profundidade de modulao (BARBOSA, 2009) Sensor ptico MTI2000 (NADER, 2002) Inclinao (nm/V) 1,37 1,36 1,35 Frequncia 125 Hz 125 Hz 1 Hz
7.3 Avaliao da Linearidade do Atuador AFX-02 Utilizando o Mtodo b1/b3
Para o atuador AFX-02, a caracterizao foi realizada com o gerador de funo configurado para produzir um sinal triangular com freqncia fixa de 400 Hz, a menor freqncia em que o sinal fotodetectado se mostrou mais bem comportado diante do desvanecimento (BARBOSA, 2009). Os sinais fotodetectados foram adquiridos de medies realizadas para tenses variando entre 0,58 e 18,4 Vp. Os resultados experimentais, de profundidade de modulao de fase e de deslocamentos produzidos pelo AFX-02, os quais so calculados utilizando a relao (2.15), so apresentados na tabela 7.3.
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Tabela 7.3 - Resultados obtidos com o atuador piezeltrico AFX-02. Tenso de excitao (em Vp) 18,40 14,80 11,20 7,40 3,60 1,08 0,58 Barbosa (2009) (em rad) 0,73 0,62 0,47 0,31 0,15 0,04 0,03 Deslocamento (em nmpico) 37,14 31,36 23,93 16,09 8,04 2,14 1,65 (em rad) 0,7406 0,6278 0,4830 0,3105 0,1486 0,2470 0,3226 Mtodo b1/b3 Deslocamento (em nmpico) 37,29 31,61 24,32 15,64 7,48 (x rad) 0,4973 0,4969 0,4967 0,4969 0,4982 -
Com os dados tabulados, percebe-se que ocorre discrepncia entre os valores de para tenses abaixo de 1,08 Vp. Isto ocorre devido ao mtodo b1/b3, conforme demonstrado na seo 4.2.1, possuir um MDPS de aproximadamente 0,097 rad. Portanto, considerou-se somente os dados para as tenses entre 3,6 e 18,4 V p para a elaborao do grfico da tenso de excitao em funo da profundidade de modulao obtida experimentalmente , como apresentado na figura 7.7 (para o mtodo b1/b3).
Figura 7.7 - Relao entre a tenso de excitao e a profundidade de modulao obtida para atuador AFX-02 com aplicao do mtodo b1/b3.
Percebe-se, na figura 7.7, a linearidade entre os resultados para a profundidade de modulao em relao tenso de excitao obtidos em simulao. Por fim, procede-se
133
anlise do comportamento de deslocamento do AFX-02 calculado usando-se (2.15) como mostra a figura 7.8.
Figura 7.8 - Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o atuador AFX-02, utilizando o mtodo b1/b3.
Analisando o grfico, observa-se que a relao entre o deslocamento e a tenso de excitao linear para o mtodo b1/b3, dentro da faixa de tenso (3,6 a 8,4 V p) aplicada na piezocermica do AFX-02. Atravs dessa investigao, calcula-se o coeficiente angular da reta aproximada, formada pelos pontos V(3,6 ; 18,4) e L(7,48 ; 37,49) que, substitudos em (7.1), resulta em um coeficiente angular de 2,01 nm/Vp, compatvel com o valor de 2,00 nm/Vp, mensurado por Barbosa (2009).
7.4 Avaliao da Linearidade do Manipulador MFX-01 Utilizando o Mtodo b1/b3
Nessa seo apresenta-se a simulao com os dados experimentais obtidos para mensurar deslocamentos produzidos no mini-manipulador MFX-01 mostrado na figura 3.10. Conforme discutido no captulo 3, este manipulador apresenta duas cermicas acopladas estrutura metlica. Ao excitar a cermica vertical, o deslocamento na direo X caracteriza o acoplamento direto, e, o deslocamento na direo Y, o cruzado, portanto, foram medidos esse dois tipos de acoplamento.
134
A freqncia utilizada para o sinal modulador triangular foi de 100 Hz, tanto para o acoplamento direto como para o cruzado. Os sinais fotodetectados das medies do acoplamento direto foram adquiridos para tenses variando entre 0,34 e 3,6 Vp. Apresenta-se na tabela 7.4 os resultados experimentais obtidos por Barbosa (2009) e com o mtodo b1/b3 de deslocamentos produzidos pelo manipulador MFX-01. Novamente utilizou-se a relao (2.15) para o clculo de deslocamento.
Tabela 7.4 - Resultados obtidos com o manipulador piezeltrico MFX-01 - acoplamento direto. Tenso de excitao (em Vp) 10,4 7,2 3,60 2,00 0,68 0,34 Barbosa (2009) (em rad) 0,8036 0,4554 0,1857 0,0929 Deslocamento (em nmpico) 40,46 22,92 9,35 4,67 (em rad) 2,2735 1,5310 0,8020 0,4546 0,1781 0,0966 Mtodo b1/b3 Deslocamento (em nmpico) 114,47 77,09 40,38 22,89 8,97 4,86 (x rad) 0,4998 0,5001 0,4981 0,4969 0,4979 0,4988
Atravs dos resultados obtidos, pde-se verificar na figura 7.9 o comportamento da variao da fase em funo da tenso de excitao, usando-se o mtodo b1/b3.
Figura 7.9 - Relao entre a tenso de excitao e a variao de fase do manipulador MFX-01 acoplamento direto obtida pela aplicao do mtodo b1/b3.
135
Percebe-se, na figura 7.9, a linearidade entre os resultados para a profundidade de modulao em relao tenso de excitao. Traou-se tambm o grfico da tenso de excitao em funo do deslocamento, como apresentado na figura 7.10.
Figura 7.10 - Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o manipulador MFX01 acoplamento direto, utilizando o mtodo b1/b3.
Verifica-se ao analisar o grfico, que a relao entre o deslocamento e a tenso de excitao linear, dentro da faixa de tenso aplicada na piezocermica vertical do MFX-01. A partir desses dados, calcula-se o coeficiente angular da reta aproximada, formada pelos pontos adquiridos aplicando a relao (7.1). Escolheu-se os pontos (0,34 ; 3,6) e (4,86 ; 40,38) resultando em um coeficiente angular de 10,90 nm/Vp, compatvel com o valor de 10,97 nm/Vp, mensurado por (BARBOSA, 2009). A mesma anlise realizada agora para as medies do deslocamento cruzado. Os sinais fotodetectados para o acoplamento cruzado, foram adquiridos para tenses eltricas maiores, variando entre 1,68 e 23,2 Vp. Observa-se na tabela 7.5 os resultados experimentais de deslocamentos produzidos pelo manipulador MFX-01 para o acoplamento cruzado. Tal qual nos itens anteriores, utilizou-se a relao (2.15) para o clculo desses deslocamentos.
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Tabela 7.5 - Resultados obtidos com o manipulador piezeltrico MFX-01 - acoplamento cruzado. Tenso de excitao (em Vp) 40,00 23,20 20,00 16,80 13,60 10,40 7,20 3,36 1,68 Barbosa (2009) (em rad) 0,82 0,70 0,62 0,50 0,37 0,25 0,14 0,07 Deslocamento (em nmpico) 41,54 35,24 31,47 25,17 18,63 12,58 7,30 3,52 (em rad) 1,4252 0,8306 0,7107 0,6357 0,5182 0,3716 0,2386 0,1381 0,8177 Mtodo b1/b3 Deslocamento (em nmpico) 71,76 41,82 35,78 32,01 26,09 18,71 12,01 6,95 (x rad) 0,4997 0,4982 0,49756 0,49716 0,49668 0,49648 0,49721 0,49816 -
Novamente, vale lembrar que a aplicao do mtodo b1/b3 resulta em erro nas medies para profundidade de modulao menores que seu MDPS de 0,097 rad. Assim, considera-se somente os valores de obtidos para as tenses entre 3,36 e 23,20 Vp. A figura 7.11, ilustra o comportamento da variao da fase em funo da tenso de excitao, usando-se o mtodo b1/b3.
Figura 7.11 - Relao entre a tenso de excitao e a variao de fase do manipulador MFX-01 acoplamento cruzado obtida pelo mtodo b1/b3.
137
Observa-se, na figura 7.11, a linearidade entre os resultados para a profundidade de modulao em relao tenso de excitao obtidos com a aplicao do mtodo b1/b3. Atravs dos resultados obtidos, traou-se tambm o grfico da tenso de excitao em funo do deslocamento, como apresentado na figura 7.12.
Figura 7.12 - Grfico dos deslocamentos em funo da tenso de excitao obtidos para o manipulador MFX01 acoplamento cruzado, utilizando o mtodo b1/b3.
Ao analisar o grfico da figura 7.12, percebe-se que a relao entre o deslocamento e a tenso de excitao tambm linear, dentro da faixa de tenso aplicada no MFX-01 para o acoplamento cruzado. Calcula-se, ento, o coeficiente angular da reta aproximada aplicando a relao (7.1) e escolheu-se os pontos (3,36 ; 23,20) e (6,35 ; 41,82) resultando em um
coeficiente angular de 1,75 nm/Vp, compatvel com o valor de 1,76 nm/Vp, mensurado por (BARBOSA, 2009). Os resultados obtidos com dados experimentais obtidos por Barbosa (2009), puderam comprovar a eficincia do mtodo b1/b3, desde que se trabalhe dentro da faixa de profundidade de modulao entre 0,097 e 8 rad. Com isso, encerram-se os testes obtidos com o mtodo b1/b3 com os dados experimentais adquiridos para o atuador e mini-manipulador piezoeltrico flextensional, bem como a validao do mtodo b 1/b3. No prximo captulo sero apresentadas discusses sobre esses resultados, alm da concluso desta dissertao de mestrado.
138
Captulo 8
CONCLUSES
Ao longo deste trabalho, apresentou-se uma reviso bibliogrfica sobre fundamentos de interferometria homdina, bem como, do funcionamento de interfermetros de dois feixes, como o de Michelson. Retratou tambm a influncia de rudos eletrnicos na fotodeteco e de fatores ambientais externos, devido a alta sensibilidade do sistema interferomtrico, ocasionando o fenmeno do desvanecimento. Ainda como parte da investigao terica, abordou-se deteco de fase ptica, com vistas para aplicao em medio de deslocamentos micromtricos em slidos. Em seguida, foi relatado tambm um dos temas relacionados a esta pesquisa, que so os atuadores piezoeltricos flextensionais. Abordou-se os mtodos de projeto, seu funcionamento e algumas de suas caractersticas mais relevantes. nfase foi dada ao novo mtodo com modulao triangular para demodulao de fase ptica, aqui denominado de mtodo b1/b3, apresentando suas potencialidades e limitaes. Mediante simulaes realizadas utilizando o software Matlab, foi possvel determinar a faixa dinmica terica para o mtodo b1/b3, diante de rudo e desvanecimento. Foi realizada tambm, a implementao em Simulink, devido possibilidade da insero de rudo branco varivel no tempo, o que permite que os resultados tericos sejam os mais prximos dos experimentais. Alm disso, evidenciou-se que o mtodo b1/b3 possui simplicidade de clculo do deslocamento de fase ptica e que no afetado por variaes da intensidade ptica da fonte, por influncias de fase e valores reduzidos de visibilidade de
franjas. Pde-se verificar, em testes de simulao, que este mtodo realmente possui limitaes na faixa dinmica, conforme previsto analiticamente, cujos limites mnimo e mximo so influenciados pelo nvel de rudo do sistema de medio. A presena de rudo branco, representado pelo fator de rudo , e de varivel so responsveis pelo
aparecimento de regies prximas s singularidades, dentro da quais a SNRs das harmnicas caem a valores abaixo da unidade, ocasionando um erro no clculo da profundidade de modulao esperada
O desenvolvimento do modelo interferomtrico no Simulink foi importante para o conhecimento do processo computacional envolvido na demodulao de utilizando sinal
139
modulador triangular, possibilitando avaliar a complexidade computacional exigida para a implementao do mtodo b1/b3. Os testes realizados permitiram confirmar que os cdigos de programao dos algoritmos de deteco de fase foram inseridos corretamente no computador, sem erros de sintaxe ou semntica. Alm disso, verificou-se que o modelamento elaborado em Simulink eficaz mesmo com condies severas de parmetros. A avaliao realizada durante as simulaes ainda no pode ser considerada, de certa forma, generalizada, pois se estabeleceu caractersticas especficas de rudo para a obteno de resultados. No entanto, pode-se concluir que com os resultados obtidos e o estudo das caractersticas do novo mtodo permitiu-se a elaborao da figura 5.9, na qual evidencia-se que o mtodo b1/b3 vantajoso, apresentando uma faixa dinmica potencialmente mais ampla do que a dos mtodos clssicos aqui citados. Uma vez comprovada teoricamente a potencialidade do mtodo b1/b3 atravs das simulaes, implementou-se o modulador eletro-ptico de amplitude para realizar sua validao experimental. O sistema modulador de amplitude baseado no efeito eletro-ptico, o qual utiliza uma clula Pockels em configurao transversal. A utilizao do sistema se justifica por apresentar melhor comportamento que o interfermetro em termos de desvanecimento, e pelo fato de a clula Pockels possuir caractersticas que podem ser previstas analiticamente. O mtodo b1/b3 foi aplicado a um conjunto de dados na qual se operou com tenses triangulares, em 1 kHz, e amplitudes at 340 Vpp. Os resultados obtidos para as profundidades de modulao mensuradas foram satisfatrios e concordaram com resultados obtidos em simulaes. Foi calculado tambm o valor prtico da tenso de meiaonda, fator de grande relevncia em uma clula Pockels, obtendo-se satisfatoriamente condizente com o valor terico obtido de = 66,24 Vp, valor
= 64,92 V. Dessa maneira, foi
possvel comprovar e validar a aplicabilidade do mtodo b1/b3 em ambientes experimentais. Comprovou-se tambm a eficcia do mtodo b1/b3 quando aplicada demodulao dos sinais fotodetectados adquiridos por Barbosa (2009). A comparao dos dados permite estabelecer que este novo mtodo pode ser aplicado na caracterizao de atuadores e manipuladores piezoeltricos. Embora Barbosa (2009) tenha operado na condio de quadratura de fase ( = 2
rad), devido natureza inerente do processo de demodulao de sinais NBPM, no mtodo b1/b3 a fase pode assumir quaisquer valores, exceto = rad. Entretanto, a utilizao , conforme (4.42),
de uma rotina computacional para determinar o valor experimental de
em concordncia com o clculo de , permite avaliar se no momento da medio tal problema ocorreu, e assim, descartar este dado.
140
Relativamente ao mtodo NBPM, o mtodo b1/b3 s mostrou problemas na deteco de profundidade de modulao inferiores 0,097 rad (correspondente a 4,9 nm), quando se cai abaixo do limite inferior da faixa dinmica de demodulao. Ainda assim, tanto o deslocamento principal (elevado) quanto o deslocamento cruzado (reduzidos) pode ser detectado no teste do mini-manipulador MFX-01. Por outro lado, ao contrrio da tcnica NBPM que demanda um exaustivo procedimento de calibrao do interfermetro, o mtodo b1/b3 dispensa este esforo. Em resumo, com relao a outros mtodos convencionais de demodulao dinmica da fase ptica em interfermetros homdinos, como o J1/J3, J1...J4, J1...J4 modificado e J1...J6, o novo mtodo b1/b3 revelou as seguintes caractersticas: x x x x x x x x x x
imune ao desvanecimento de sinal; um mtodo direto, no necessitando resolver nenhuma equao
transcendental; auto-consistente, no exigindo nenhum procedimento de calibrao inicial; imune variao na potncia da fonte ptica ou na visibilidade das franjas; No apresenta o problema de ambiguidade de fase; No necessita de nenhuma rotina extra para correo de sinal [como no J 1...J4 modificado]; mais sensvel que todos aqueles mtodos (MDPS igual a 0,097 rad); Tem ampla faixa dinmica (s inferior ao J1/J3); Alm da medio de deslocamentos, tambm pode ser aplicada medio de outras grandezas fsicas; Alm do interfermetro de Michelson, tambm pode ser aplicado a outros interfermetros como o Mach-Zehnder, Sagnac e polarimtrico.
Por outro lado, devem ser enunciadas as seguintes limitaes: x
O sinal eltrico de excitao triangular deve apresentar o menor contedo de distoro harmnica possvel (MENEZES, 2007), caso contrrio, pode ocorrer reduo na faixa dinmica;
141
Na caracterizao de atuadores piezoeltricos, deve-se operar em frequncias de modulao bem inferiores suas primeiras ressonncias mecnicas, sob o risco de se gerar o fenmeno de tracking error (LEO, 2004);
O fotodiodo deve apresentar elevada largura de banda, a fim de no distorcer o sinal detectado sob baixa profundidade de modulao.
Acredita-se assim, mediante os resultados obtidos, que o estudo e aplicao desse mtodo tem uma boa perspectiva para a caracterizao de APFs, manufaturados pelo Grupo de Sensores e Atuadores da Escola Politcnica da USP, juntamente com a interferometria ptica.
8.1 Sugestes para Trabalhos Futuros
Espera-se que este trabalho sirva como uma referncia inicial para o leitor, e que fornea estmulo para que refinamentos futuros sejam incorporados ao modelamento, gerando-se resultados que se aproximem mais da prtica. Sugere-se que, antes que quaisquer novas tcnicas interferomtricas de demodulao de fase sejam implementadas em laboratrio, sejam testadas em ambiente Simulink, diante de variaes severas dos parmetros , , , e . Alm disso, como o Simulink possui uma
biblioteca de controladores de dispositivos, incluindo placas de aquisio de dados e outras interfaces de E/S prope-se, em futuras aplicaes, a compilao do algoritmo para processamento em placas de DSP ou em ambiente do software Labview. Sugere-se tambm, utilizar a forma de onda triangular para avaliar o grau de histerese dos atuadores piezoeltricos investigados, algo que ainda no foi realizado no Laboratrio de Optoeletrnica da FEIS-Unesp.
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Campus de Ilha Solteira

PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA ELTRICA

ALINE EMY TAKIY

Orientador: Prof. Dr. Cludio Kitano

Ilha Solteira SP novembro/2010

" na experincia da vida que o homem evolui."

Harley Spencer Lucio

Figura 2.1 Figura 2.2 Figura 2.3 Figura 2.4

Figura 3.3 Figura 3.4 Figura 3.5

Figura 3.7 Figura 3.8

Figura 3.10 Figura 3.11

Figura 4.1 Figura 4.2 Figura 4.3

Figura 4.4 Figura 4.5 Figura 4.6 Figura 4.7

Grfico de versus Grfico de versus

Figura 5.9 Figura 5.10 Figura 5.11

102 105 106 106 108 110 111 113 115

117 118 119 120 121 121

124 125 126

Figura 7.2 Figura 7.3 Figura 7.4

128 130 130 132 133

129 131 132 134 136

LISTA DE SIGLAS E ABREVIATURAS

PIN PLL PM PSDM PZT RFOG RMS SMI SNR STFT

Lgica-transistor-transistor (Transistor-transistor logic)

Ponto quiescente Responsividade do diodo

5.2.3 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para Variando e

5.2.4 Resposta da Simulao do Clculo do ndice de Modulao de Fase para

Variando ................................................................................................................ 102

REFERNCIAS ............................................................................................................... 142

1.1 Interferometria ptica

sendo ( ) a intensidade ptica de sada do sistema, mensurar,

a intensidade ptica do laser, ( ) a a

1.2 Tcnicas Espectrais de Demodulao de Fase ptica

1.3 Utilizao da Modulao Triangular da Fase ptica: O Estado da Arte

selecionado tinha frequncia de 331,3 kHz e profundidade de modulao de 2 rad.

1.4 Objetivos da Dissertao

1.5 Organizao da Dissertao

2.1 O Interfermetro de Michelson

Figura 2.1 O interfermetro de Michelson bsico.

da ordem de 1 m. Embora o processo de contagem de franjas constitua

2.2 Sinal Interferomtrico

so as amplitudes dos campos eltricos no ramo referncia e sensor,

Substituindo as equaes (2.2-a) e (2.2-b) na expresso (2.4) e executando-se o produto, obtm-se:

Recorrendo-se identidade de Euler, cos x (2.5) conduz a:

, mostra-se que a equao

A seguir, define-se o fator de visibilidade como:

2 E01E02 2 2 E01 E02

2 2 E01E02 2 2 ( E01 E02 ) / 2

1967). Por isso, o valor de

(tal que 0 < = .

< 1) tambm costuma ser inserida em (2.10) de

forma ad-hoc, mesmo quando

o comprimento de onda (no vcuo) da fonte ptica,

meio onde a luz se propaga ( = 1, para o ar) e dos braos do interfermetro.

a diferena total entre os comprimentos

onde x a profundidade de modulao de fase em radianos e

Figura 2.2 Sinal triangular usado para excitar a fase do interfermetro.

Portanto, o problema da interferometria ptica consiste em se mensurar

2.3 O Problema de Desvanecimento do Sinal

corresponde diferena de fase causada pela diferena entre os

Figura 2.3 Curva de transferncia ptica de um interfermetro.

Em princpio, o termo de fase

deveria corresponder uma fase esttica, contudo, ele

proporciona maior reentrncia no sinal de sada.