These Étalonnage

Acadmie de Nantes
ECOLE DOCTORALE DE l'UNIVERSITE DU MAINE

LE MANS, FRANCE
THESE DE DOCTORAT DE L'UNIVERSITE DU MAINE
Spcialit : ACOUSTIQUE
prsente par
Dominique RODRIGUES
pour obtenir le titre de Docteur d'Universit
METHODE DE RECIPROCITE : CARACTERISATION
DE PETITS COMPOSANTS ACOUSTIQUES,
ETALONNAGE DES MICROPHONES EN PRESSION ET
EN CHAMP LIBRE
Soutenue le 24 octobre 2008
devant le jury compos de
P. HERZOG Directeur de Recherche CNRS, LMA (Marseille), Rapporteur
K. RASMUSSEN Professeur, DTU (Danemark), Rapporteur
Z. KVOR Professeur, VUT (Prague), Rapporteur
J. KERGOMARD Directeur de Recherche CNRS, LMA (Marseille), Examinateur
S. MONTRESOR Matre de Confrences, LAUM (Le Mans), Examinateur
N. JOLY Matre de Confrences (HDR), LAUM (Le Mans), Examinateur
J.-N. DUROCHER Ingnieur, LNE (Trappes), Promoteur de thse
M. BRUNEAU Professeur mrite, LAUM (Le Mans), Directeur de thse
P. LOTTON Charg de Recherche CNRS (HDR), LAUM (Le Mans), Invit
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Remerciements
Cette thse s'est droule au Laboratoire National de mtrologie et d'Essais (LNE) en
collaboration avec le Laboratoire d'Acoustique de l'Universit du Maine (LAUM), et a bnfici
d'un financement de l'ANRT (convention CIFRE). Ce travail de recherche n'aurait pu aboutir sans
une relle collaboration et un change d'ides entre tous ceux qui y ont particip ; je tiens ici les
remercier.
Je tiens adresser en tout premier lieu mes sincres remerciements M. Bruneau et A.-M.
Bruneau, Professeurs mrites l'Universit du Maine, pour m'avoir donn l'opportunit de raliser
cette thse dans d'excellentes conditions, pour leur soutien constant et la confiance qu'ils m'ont
accords. Tout au long de ces trois annes, ils se sont toujours montrs disponibles et ont su orienter
mes travaux tout en me laissant beaucoup d'autonomie. J'ai particulirement apprci l'ambiance
chaleureuse dans laquelle ils m'ont encadr, ce qui a rendu cette exprience d'autant plus
enrichissante. Pour tout cela, je les remercie vivement.
Mes remerciements les plus sincres s'adressent galement J.-N. Durocher, Ingnieur au LNE,
qui a initi les travaux de recherche dans lesquels s'insrent mon travail de thse. Il m'a accord
toute sa confiance en me confiant la responsabilit d'tudes importantes. Tout au long de ces trois
annes, il a su me transmettre un vif intrt pour l'exprimentation, son contact fut la source dun
enrichissement constant.
Je tiens galement tmoigner ma reconnaissance C. Guianvarc'h qui a co-encadr une partie
de ce travail de recherche, pour son soutien et ses prcieux conseils.
Mes remerciements les plus sincres s'adressent K. Rasmussen, P. Herzog, et Z. kvor qui me
font l'honneur de prendre connaissance de ce travail et d'en tre les rapporteurs.
Mes remerciements s'adressent galement aux membres du jury pour avoir accept de juger ce
travail.
Jadresse un grand merci C. De Waubert, M. Hebert et C. Bartoli pour l'aide et les conseils
quils mont apports, ainsi quaux personnes que j'ai ctoyes au LNE pour leur sympathie et leur
bonne humeur.
Mes remerciements vont galement aux personnes que j'ai ctoyes au LAUM, en particulier C.
Potel, S. Durand et T. Le Van Suu pour leur accueil chaleureux chaque fois que j'ai eu l'occasion
de les rencontrer au Mans lors de mes sances de travail avec mes directeurs de thse.
Enfin, je remercie Sandrine, ma compagne, ainsi que mes parents et frres pour leur soutien
quotidien durant ces trois annes.
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Table des matires i
Table des matires
Introduction gnrale............................................................................................................................1
Chapitre 1
Mthode de mesure d'impdance de petits lments acoustiques........................................................7
1.1 Introduction................................................................................................................................7
1.2 Mthode de mesure....................................................................................................................8
1.3 Expression analytique de l'admittance acoustique de transfert de la cavit de couplage..........9
1.4 Elments utiliss comme rfrences : modles thoriques......................................................13
1.4.1 Admittance d'entre d'une fente ouverte son extrmit.................................................14
1.4.2 Admittance d'entre d'un rseau de quatre tubes cylindriques.........................................15
1.5 Rsultats thoriques et exprimentaux, discussion..................................................................18
1.6 Conclusion...............................................................................................................................22
Chapitre 2
Modlisation analytique d'un microphone lectrostatique : application l'talonnage des
microphones en pression par la mthode de la rciprocit.................................................................25
2.1 Introduction..............................................................................................................................25
2.2 Modle analytique d'un microphone lectrostatique...............................................................26
2.2.1 Equations fondamentales du mouvement acoustique......................................................27
2.2.2 Equation de propagation..................................................................................................28
2.2.3 Champ de pression acoustique dans la lame de fluide.....................................................34
2.2.4 Champ de dplacement de la membrane..........................................................................34
2.3 Efficacit en pression...............................................................................................................36
2.4 Modlisation globale du systme d'talonnage........................................................................40
2.4.1 Champs de dplacement des membranes et champs acoustiques....................................40
2.4.2 Rsultats thoriques.........................................................................................................43
2.5 Conclusion...............................................................................................................................45
Chapitre 3
Etalonnage en champ libre des microphones par la mthode de la rciprocit..................................49
3.1 Introduction..............................................................................................................................49
3.2 Principe de rciprocit en champ libre....................................................................................50
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Table des matires ii
3.2.1 Fonctionnement du transducteur en metteur..................................................................51
3.2.2 Fonctionnement du transducteur en rcepteur.................................................................52
3.2.3 Produit des efficacits en champ libre de deux microphones..........................................54
3.3 Dispositif exprimental utilis au LNE et difficults de mesure.............................................56
3.3.1 Dispositif exprimental....................................................................................................56
3.3.2 Sources de perturbations..................................................................................................59
3.4 Filtrage des fonctions de transfert mesures............................................................................61
3.4.1 Principes gnraux...........................................................................................................62
3.4.2 Pr-traitement de la fonction de transfert.........................................................................64
3.4.3 Synthse de la fentre de filtrage.....................................................................................67
3.5 Rsultats et incertitudes...........................................................................................................71
3.5.1 Mesures et rsultats..........................................................................................................71
3.5.2 Incertitudes.......................................................................................................................74
3.6 Conclusion...............................................................................................................................77
Chapitre 4
Centre acoustique d'un microphone lectrostatique...........................................................................79
4.1 Introduction..............................................................................................................................79
4.2 Dtermination analytique de la position du centre acoustique d'un transducteur
lectrostatique................................................................................................................................80
4.2.1 Les quations fondamentales du problme......................................................................81
4.2.2 Solutions des quations fondamentales............................................................................84
4.2.3 Conditions aux interfaces.................................................................................................88
4.2.4 Pression acoustique en champ lointain............................................................................92
4.2.5 Evaluation thorique de la position du centre acoustique d'un microphone....................93
4.3 Dtermination exprimentale de la position du centre acoustique d'un microphone
lectrostatique................................................................................................................................96
4.3.1 Principe gnral................................................................................................................96
4.3.2 Dispositif exprimental, mesures.....................................................................................99
4.3.3 Perturbations des mesures..............................................................................................100
4.3.4 Filtrage des fonctions de transfert, centres acoustiques.................................................103
4.4 Conclusion.............................................................................................................................106
Conclusion gnrale.........................................................................................................................109
Annexe A
Equation de propagation en fluide thermo-visqueux, approximation onde quasi plane : application
aux tubes et fentes............................................................................................................................115
A.1 Formulation gnrale............................................................................................................115
A.2 Application aux tubes cylindriques (coupleurs et tubes troits) et aux fentes annulaires. . . .118
Annexe B
Solution modale du champ de pression dans une cavit cylindrique...............................................121
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Table des matires iii
Annexe C
Plans des coupleurs de haute prcision utiliss pour la mesure d'impdance d'entre d'une fente
annulaire et d'un rseau de quatre tubes...........................................................................................125
C.1 Coupleur pourvu d'une fente annulaire de haute prcision...................................................125
C.2 Coupleur pourvu d'un rseau de quatre tubes de haute prcision.........................................135
Annexe D
Calculs intermdiaires dans la rsolution des problmes poss dans le chapitre 2..........................139
D.1 Calculs intermdiaires...........................................................................................................139
D.2 Rsolution du problme coupl............................................................................................142
Annexe E
Proprits utiles des fonctions de Bessel..........................................................................................149
Annexe F
Fiches synoptiques............................................................................................................................151
F.1 Fiche synoptique de l'appareil de rciprocit [68].................................................................151
F.2 Fiche synoptique de l'amplificateur Nexus [69]....................................................................152
Annexe G
Fentre de filtrage : techniques de synthse, performances et paramtres d'influences...................153
G.1 Synthse d'une fentre de filtrage par la mthode de la fentre............................................153
G.2 Mthode itrative : performance des fentres de filtrages et paramtres d'influences.........155
Annexe H
Etalonnage des microphones en champ libre par la mthode de rciprocit : bilan des incertitudes
..........................................................................................................................................................161
H.1 Mesurande : efficacit en champ libre d'un microphone......................................................161
H.2 Paramtres d'entre, incertitudes...........................................................................................163
H.3 Incertitude compose largie................................................................................................169
Annexe I
Valeurs des paramtres d'un microphone lectrostatique dans un modle constantes localises..171
Annexe J
Centre acoustique des microphones lectrostatiques : calculs intermdiaires et rsolution matricielle
du problme......................................................................................................................................173
J.1 Calculs intermdiaires............................................................................................................173
J.2 Rsolution du problme coupl..............................................................................................177
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Table des matires iv
J.3 Fonctions Kp..........................................................................................................................181
Bibliographie....................................................................................................................................183
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Introduction gnrale 1
Introduction gnrale
Le Systme International d'units (SI), est officiellement n en 1960 partir d'une rsolution de
la 11
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Confrence gnrale des poids et mesures. Ce systme permet de rapporter toutes les units
de mesure un petit nombre d'talons fondamentaux, et de consacrer tous les soins ncessaires
amliorer leurs dfinitions. C'est l une des missions des diffrents laboratoires nationaux de
mtrologie dont le Laboratoire National de mtrologie et d'Essais (LNE). Au sein du LNE, la
mtrologie fondamentale vise dvelopper et maintenir des talons nationaux de rfrence,
reconnus l'chelle internationale, permettant l'industrie de raccorder leurs instruments de
mesure au systme international d'units. Les dispositifs de mesures tels que ceux utiliss pour
mesurer les pressions acoustiques sont ainsi caractriss par rapport ces rfrences. C'est ainsi
que, depuis plusieurs annes, le LNE cherche renforcer sa position dans le domaine de la
mtrologie acoustique en amliorant les mthodes et techniques existantes pour l'talonnage des
microphones talons ; par de-l, il cherche galement intgrer de nouvelles activits, dont
l'audiomtrie.
L'talonnage absolu des microphones de mesure en acoustique repose sur l'obtention d'talons
primaires, eux-mmes talonns suivant un protocole adapt (mthode de rciprocit) et
conformment aux normes en vigueur. Ces normes ont fait l'objet d'amliorations au cours des
dernires dcennies mais des zones d'ombre subsistent, dont certaines sont mentionnes dans les
rares articles publis depuis vingt ans. Paralllement, la caractrisation approprie des oreilles
artificielles, ncessaire au rglage des audiomtres (en particulier) et par suite leur talonnage, fait
aujourd'hui dfaut, avec des consquences soulignes l'heure actuelle dans les milieux mdicaux
et laboratoires spcialiss. Cette caractrisation ncessite l'utilisation de microphones talonns
avec prcision, mais ncessite aussi la modlisation prcise (contrle par des mesures fines) des
composants acoustiques qui constituent ces oreilles artificielles.
Ce propos met en cause la prcision de l'talonnage des talons de mesure de pression acoustique
et l'insuffisance des rglages d'appareils mdicaux largement utiliss. Par del, il met en cause
l'insuffisance (et mme l'absence) de procds de mesure pour caractriser les systmes en usage
dans les rglages acoustiques de ces appareils mdicaux et le manque de prcision des modles
analytiques ncessaires ces caractrisations et ces talonnages. Les enjeux pratiques, techniques et
scientifiques ont donc leur importance et les tudes mener comportent des exigences qui
ncessitent des recherches approfondies.
C'est ainsi que les thmes abords dans le prsent mmoire font appel la mthode de la
rciprocit en cavit et en champ libre. Les microphones talons de laboratoire sont talonns
l'heure actuelle par la mthode de la rciprocit, que ce soit pour un usage du microphone en
pression (norme CEI 61084-2) ou en champ libre (norme CEI 61094-3). Ces mthodes ncessitent
l'usage de trois microphones coupls deux deux par un milieu de couplage, soit une cavit
acoustique de forme cylindrique pour l'talonnage en pression, soit un milieu infini pour
l'talonnage en champ libre. Quant la caractrisation des composants acoustiques qui constituent
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les oreilles artificielles (notamment), non seulement elle n'tait pas jusqu' prsent accessible par la
mesure en laboratoire, mais encore, la validit des modles thoriques dont ils faisaient l'objet
n'tait justifie le plus souvent que dans une bande frquence de quelques centaines de hertz.
Dans la premire partie de cette thse, l'objectif vis est de mettre en uvre et de valider une
mthode de mesure d'impdance d'entre de petits lments acoustiques, tels que des tubes fins, des
fentes fines, des petites cavits et leurs associations. Ces lments tant trs utiliss dans de
nombreux systmes acoustiques, dont les oreilles artificielles, plusieurs rfrences proposent des
modlisations analytiques de chacun d'entre eux et de leurs associations en fluide compressible
dissipatif tout en prenant en compte des conditions aux frontires ralistes (conditions de non
glissement et isotherme prs des parois). Nanmoins, l'estimation des caractristiques acoustiques
de ces lments partir de modles thoriques se traduit gnralement par des incertitudes
importantes non seulement en raison des approximations gnralement retenues mais surtout en
raison des incertitudes sur les dimensions gomtriques de ces lments. Ainsi, il est important de
pouvoir caractriser exprimentalement leur comportement acoustique ( l'unit), en mesurant en
l'occurrence leur impdance d'entre avec une faible incertitude relative (de l'ordre de un pourcent).
Cette mthode de mesure de petits lments acoustiques contribue mettre en vidence les
insuffisances actuelles de l'talonnage des microphones en cavit par la mthode de la rciprocit.
Ces insuffisances rsident dans diverses approximations, dont l'influence des modes suprieurs dans
la cavit de couplage (modes radiaux) sur les rsultats des talonnages. La norme CEI 61094-2
propose un modle dcrivant le comportement acoustique de la cavit de couplage en considrant la
propagation d'ondes planes suivant l'axe de la cavit. Nanmoins, compte tenu de la non-uniformit
du champ de dplacement de la membrane du microphone metteur et des diffrences de diamtres
(faibles) entre la cavit de couplage et la partie mobile de la membrane de chacun des deux
microphones, l'influence des modes radiaux sur les rsultats d'talonnages est non ngligeable, plus
particulirement en hautes frquences. Des tudes prcdentes concernant la modlisation hautes
frquences du champ acoustique non uniforme de la cavit de couplage sont ici prolonges par
une modlisation du microphone lui-mme en prenant en compte une dforme dynamique de la
membrane aussi raliste que possible (cette dforme rsultant du couplage membrane/champs
acoustiques paritaux) et en proposant une ouverture sur des travaux futurs de nature amliorer la
modlisation des facteurs d'amortissement.
La deuxime partie de ce travail trouve son origine dans la comparaison cl CCAUV.A-K4 entre
plusieurs laboratoires nationaux laquelle j'ai particip directement (LNE, France ; CENAM,
Mexique ; DPLA, Danemark ; INMETRO, Brsil ; KRISS, Core du Sud ; NIST, Etats-Unis
d'Amrique ; NMIJ, Japon ; NPL, Royaume-Uni ; PTB, Allemagne) portant sur les techniques
d'talonnage des microphones en champ libre. La difficult rencontre dans ces mthodes
d'talonnage exprimentales provient du traitement des perturbations la fois acoustiques et
lectriques, qui restent importantes (malgr les prcautions prises) en raison des faibles niveaux
acoustiques mis en jeu. De ce fait, cette technique d'talonnage fait appel un dispositif de mesure
de qualit, qui de nos jours, conduit une incertitude de l'ordre de 0,12 dB sur les efficacits des
microphones talonns. Dans le cadre de la comparaison cl, le LNE a cherch amliorer le
dispositif de mesure et la chane de traitement lis cette technique d'talonnage en champ libre.
C'est l'objet du troisime chapitre de cette thse que de prsenter les bases thoriques sur lesquelles
repose cette mthode d'talonnage, de prsenter le dispositif exprimental mis en uvre au LNE, de
rpertorier les difficults rencontres, de prsenter les solutions utilises pour contourner ces
difficults et de prciser les amliorations apportes en regard de l'existant au niveau international.
Par ailleurs, l'talonnage en champ libre des microphones lectrostatiques par la mthode de la
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rciprocit fait appel la notion de centre acoustique des microphones. La dtermination aussi
prcise que possible de la position de ce centre (en fonction de la frquence) est primordiale du fait
que la contribution de l'erreur sur cette position l'erreur globale sur l'efficacit mesure par
rciprocit en champ libre est trs grande. Au cours de la dernire dcennie, le concept de centre
acoustique des microphones lectrostatiques a essentiellement fait l'objet d'tudes exprimentales.
La mthode de mesure classique permet d'obtenir la position du centre acoustique d'un microphone
partir de mesures de la fonction de transfert entre un microphone metteur et un microphone
rcepteur (telle qu'elle est prconise par la norme CEI 61094-3 dans la mthode d'talonnage par
rciprocit), pour diffrentes distances entre les deux transducteurs. Les dveloppements
analytiques sont trs peu nombreux, relativement anciens et ne portent pas sur les dispositifs de
mesure auxquels nous sommes amens nous intresser aujourd'hui. C'est ainsi que le dernier
chapitre de cette thse porte sur l'tude du concept de centre acoustique d'un microphone aussi bien
sur le plan analytique que sur le plan exprimental, dans le but d'apporter un clairage nouveau, en
reprenant et en compltant les modles analytiques et les rsultats exprimentaux existants.
Pour les raisons qui apparaissent dans les propos qui prcdent, les travaux mis en uvre afin de
rpondre aux objectifs portent aussi bien sur des tudes exprimentales que thoriques. Par ailleurs,
ils posent les bases des travaux futurs qui permettront de rduire encore certaines causes
d'incertitudes mais galement bien au-del, de prvoir la mise en uvre de mthodes adaptes la
mtrologie des capteurs du futur qui seront fabriqus par des procds relevant des
microtechnologies. Ils montrent enfin la ncessit aujourd'hui de complter les acquis actuels en
prvoyant notamment des tudes par simulations numriques qui peuvent dsormais tre menes
grce aux avances rcentes dans les mthodes numriques de calculs de champs acoustiques en
fluides dissipatifs, compte tenu des couches limites thermo-visqueuses associes, en toutes
situations, y compris celles o certaines dimensions des domaines tudis sont du mme ordre de
grandeur que l'paisseur de ces couches limites.
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Premire partie
Mthode de rciprocit en pression
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1. Mthode de mesure d'impdance de petits lments acoustiques 7
Chapitre 1
Mthode de mesure d'impdance de petits lments
acoustiques
1.1 Introduction
De nombreux systmes acoustiques (oreille artificielle, haut-parleur, microphones, miniaturiss
ou non, ou bien dfinissant des systmes de mesures prcis pour la dtermination de la constante de
Boltzmann [1]) sont conus l'aide d'lments dont les dimensions peuvent parfois tre du mme
ordre, plus petit, voir trs petit devant la longueur d'onde considre. Dans ces systmes
(gnralement dcrits dans les basses frquences l'aide de modles constantes localises), les
facteurs d'amortissement, d'lasticit et d'inertie peuvent respectivement tre obtenus au moyen de
tubes troits o de fentes, de petites cavits et de tubes courts. Ces lments tant trs utiliss, de
nombreuses rfrences tels que les ouvrages [2,3] proposent des modlisations analytiques de
chacun d'entre eux et de leurs associations en fluide compressible dissipatif tout en prenant en
compte des conditions aux frontires ralistes (conditions de non glissement et isotherme prs des
parois). Nanmoins, l'estimation des caractristiques acoustiques de ces lments partir de
modles thoriques se traduit gnralement par des incertitudes relatives suprieures cinquante
pour-cent en raison des incertitudes sur les dimensions gomtriques de ces lments.
Ainsi, il est important de pouvoir caractriser exprimentalement le comportement acoustique de
ces lments (ou de leurs associations), soit pouvoir mesurer leurs impdances d'entre avec une
bonne prcision (avec une incertitude relative de l'ordre de un pour-cent). Ceci tait trs difficile,
voir impossible jusqu' prsent du fait que ces impdances d'entre sont en gnral trs grande
devant celles mises en jeu dans les dispositifs de mesure. De tels dispositifs de mesure
d'impdances acoustiques ncessitent gnralement deux transducteurs, un li aux variations de
pression acoustique et un autre li au dbit (ce dernier tant gnralement la source d'nergie). En
gnral, l'talonnage de ces dispositifs de mesure est effectu l'aide du mme systme de couplage
que celui utilis pour les mesures d'impdances, ce qui peut tre discut, ceci dans le but d'obtenir
des rsultats utilisables dans la pratique avec les techniques actuellement disponibles (un tat de
l'art de ces techniques est effectu dans les rfrences [4,5]). Ceci est plus particulirement vrai
lorsque les lments sont petits et doivent tre caractriss dans une large gamme de frquence
(typiquement de 20 Hz plus de 20 kHz).
Afin de rpondre au problme pos, la mthode de mesure d'impdances propose dans ce
chapitre repose sur les avances effectues dans le cadre de la mtrologie fine et plus
particulirement l'talonnage des microphones en pression par la mthode de la rciprocit
[6,7,8,9,10]. La mthode de la rciprocit fait usage d'un matriel d'une grande sensibilit et d'une
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1.1. Introduction 8
grande reproductibilit et est donc particulirement bien adapte pour effectuer des mesures
prcises d'impdances d'entre de petits lments acoustiques. C'est l'objet de ce chapitre que de
prsenter cette mthode de mesure, de l'exprimenter sur des lments simples et de discuter des
prcisions accessibles. L'oreille artificielle dcrite dans la Norme CEI 60318-1 [11] est un exemple
reprsentatif des systmes acoustiques contenant ce type de petits lments, soit une fente annulaire
mince et quatre tubes troits connects des cavits de volumes diffrents. Ces lments sont
utiliss dans le cadre de cette tude comme rfrences pour la validation de cette mthode de
mesure d'impdances d'entre.
1.2 Mthode de mesure
Le cur du dispositif de mesure est constitu d'une cavit cylindrique (figure 1.1) d'une longueur
l
(5,111 mm ou 4.639 mm) et d'un rayon a du mme ordre de grandeur (4,650 mm), tous deux
trs grands devant l'paisseur des couches limites viscothermiques de sorte que l'expression
analytique du nombre d'onde peut tre donne par l'approximation rappele en Annexe (Eq. A.21)
(cf. 1.3). La cavit de couplage est ferme ses extrmits par les membranes de deux
microphones lectrostatiques rciproques, un tant utilis en metteur (efficacit en pression
M
pe ,
rayon
a
e ) en z=0 et l'autre tant utilis en rcepteur (efficacit en pression
M
pr , rayon
a
r ) en
z=l
. Les rayons
a
e
et
a
r sont lgrement infrieurs au rayon a de la cavit de couplage. Les
membranes de l'metteur et du rcepteur sont animes respectivement des vitesses
v
e (impose) et
v
R (due au champ de pression sur la membrane).
Figure 1.1. Dispositif de mesure (a), notations (b) : cavit cylindrique (coupleur) de longueur l et de rayon a , deux
membranes de microphones de rayons a
e
(metteur) et a
r
(rcepteur) localises respectivement en z=0 et z=l .
L'admittance d'entre
Y
c mesurer (dfinie comme le rapport entre le dbit et la pression
acoustique l'entre de l'lment caractriser), est localise en paroi de la cavit de couplage en
z=l
c et w=a sur une surface
c
c trs petite devant la surface latrale de la cavit. Suivant les
techniques de mesure par rciprocit dcrites par exemple dans les normes [8], les quantits
dterminer sont : l'admittance lectrique de transfert
Y
E et l'admittance acoustique de transfert
Y
T .
L'admittance lectrique de transfert
Y
E est dfinie comme le quotient du courant
i
e qui alimente le
microphone metteur par la tension circuit ouvert
u
r0 aux bornes du microphone
Y
E
=
i
e
u
r0
(1.1)
et l'admittance acoustique de transfert
Y
T est dfinie comme le quotient du dbit
q
e de la
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
1.2. Mthode de mesure 9
membrane de l'metteur en court circuit acoustique par la pression
p(l )
sur la membrane du
rcepteur
Y
T
=
q
e
p( l )
, (1.2)
o le dbit en court circuit acoustique est donn par l'expression
q
e
=S
e
v
e
+Y
e
p( 0)
, (1.3)
o
Y
e est l'admittance acoustique du microphone metteur et S
e
=na
e
2
.
Lorsque le coupleur est totalement clos (cavit sans lment caractriser, soit
Y
c
=0
),
l'expression analytique de l'admittance acoustique de transfert [9,10] (cf. 1.3), note Y
T
0
et la
mesure de l'impdance lectrique de transfert, note Y
E
0
conduisent au produit des efficacits en
pression des deux microphones [8] :
M
pe
M
pr
=
Y
T
0
Y
E
0
. (1.4)
Ainsi, la mesure de l'admittance lectrique de transfert
Y
E lorsque l'lment caractriser est
plac en paroi de la cavit de couplage, donne l'admittance acoustique de transfert
Y
T
=M
pe
M
pr
Y
E
, (1.5)
ou, en reportant l'quation (1.4),
Y
T
=
Y
T
0
Y
E
0
Y
E
. (1.6)
Ainsi, en exprimant l'admittance acoustique de transfert
Y
T
comme une fonction de l'admittance
inconnue
Y
c
, l'admittance
Y
c de l'lment caractriser peut tre obtenue, les quantits mesures
tant les admittances lectriques de transfert (Eq. 1.1)
Y
E et Y
E
0
respectivement avec et sans
lment en paroi de la cavit de couplage (cf. 1.3). La procdure utilise pour leurs mesures est
donne dans la rfrence [8] (cf. 3.3.1) et se rsume ainsi : la tension circuit ouvert
u
r0 est
obtenue en utilisant la technique de la tension insre [8] et le courant
i
e alimentant le microphone
metteur est dduit d'une mesure de tension
u
e
=i
e
/( j oC
ref
)
aux bornes d'une capacit de rfrence
et talonne
C
ref (figure 1.1.a).
En pratique, les dimensions de la cavit pourvue de l'lment caractriser sont lgrement
diffrentes de celles de la cavit totalement close (sans lment en paroi). Nanmoins, ces
dimensions sont suffisamment proches les unes des autres de sorte que le mme modle peut tre
utilis pour la modlisation des deux admittances acoustiques de transfert Y
T
0
et
Y
T .
Ainsi, la mthode de mesure propose bnficie des procdures optimises dans le cadre de
l'talonnage en pression par la mthode de la rciprocit des microphones talons de laboratoire
ainsi que du matriel de mesure de prcision correspondant [6,8,9,10].
1.3 Expression analytique de l'admittance acoustique de transfert de
la cavit de couplage
Comme il a t dit prcdemment, l'obtention de l'expression analytique de l'admittance
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
1.3. Expression analytique de l'admittance acoustique de transfert de la cavit de couplage 10
acoustique de transfert
Y
T dfinie par les quations (1.2) et (1.3) ncessite d'exprimer le champ de
pression dans la cavit de couplage en tenant compte des effets des couches limites
thermovisqueuses et de la prsence de l'admittance
Y
c de l'lment plac en paroi de la cavit de
couplage. Cette modlisation du champ de pression dans la cavit de couplage s'effectue l'aide de
la formulation classique en fluide thermo-visqueux (rfrences [9,10,12], reportes en Annexe A.1).
Elle conduit des rsultats suffisamment prcis pour tirer profit du dispositif de mesure de haute
prcision utilis pour l'talonnage primaire des microphones par le principe de rciprocit
(0,01 dB), du moins tant que l'hypothse onde quasi plane retenue reste valable (cf. fin de la
remarque du paragraphe 1.3).
En supposant d'une part que les rayons
a
e et
a
r des membranes sont sensiblement gaux au
rayon a de la cavit de couplage et d'autre part que l'admittance d'entre
Y
c de l'lment
caractriser conduit un champ de pression dans la cavit indpendant des coordonnes
(w , 0)
, ce
qui permet de dcrire le champ de pression comme une superposition d'ondes planes se propageant
dans les deux sens suivant l'axe z de la cavit cylindrique, indpendantes des coordonnes r et 0
et satisfaisant aux conditions aux limites thermo-visqueuses, le systme d'quations dcrivant le
champ de pression acoustique dans la cavit prend alors la forme suivante.
i. Equation de propagation [9], Eq. (A.18)
(

2
z
2
+k
z
2
)
p( z)=0 , pour
0zl
, (1.7)
o le nombre d'onde complexe
k
z tient compte de l'amortissement d aux effets visqueux et
thermiques (cf. Annexe A, Eq. (A.19)). Dans la gamme de frquences utile (20 Hz, 20 kHz), la
cavit est considre comme large puisque k
v , h
a>11
; ce nombre d'onde est alors donn, en
considrant un dveloppement asymptotique, l'ordre 1/ 2 des longueurs caractristiques
l '
v et
l
h , par la relation :
k
z
2
k
0
2
|
1+
1 j
.2
2
a
.
k
0
(.
l '
v
+( 1)
.
l
h )
, (1.8)
o
k
0
=o/ c
0 , et o
l '
v
=
j
j
0
c
0
et
l
h
=
\
j
0
c
0
C
P
,
dsignent les longueurs caractristiques thermique et visqueuse, j et \ tant respectivement les
coefficients de viscosit de cisaillement et de conduction thermique.
A noter que dans les conditions standards d'environnement l '
v
4,5.10
8
m et l
h
6.10
8
m .
ii. Condition aux frontires en z=0 [9]
S v
z
=S v
e
Y
p
p
, en z=0 , (1.9)
o
Y
p est une admittance reprsentant les effets des couches limites thermiques au voisinage de la
paroi (approximation d'ordre un en .
k
0
l
h
),
Y
p
S
j
0
c
0
1+j
.2
.k
0
( 1) .l
h , (1.10)
et o, en reportant l'quation (A.20) dans (A.11.b)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
S v
z
( z )=
1
Z
v
z
p( z )
, (1.11)
o S=na
2
,
Z
v
=
1
S
j k
0
j
0
c
0
1K
v
, K
v
=
2
k
v
a
J
1 (
k
v
a
)
J
0
( k
v
a)
, et
k
v
=
1 j
.2
.k
0
/ l '
v
. (1.12)
A noter que l'quation (1.11) est l'quation d'Euler qui tient compte des effets visqueux dans les
couches limites. En effet, dans la gamme de frquences utile, le module de
(k
v
a)
est toujours trs
grand devant un ( k
v
a>13
), et ainsi la fonction
K
v peut tre crite sous forme approche
K
v
1 j
.2
2
a
.
l '
v
k
0
, (1.13)
ce qui conduit la relation (Eq. (1.11))

z
p j k
0
j
0
c
0
v
z
( z)
|
1+
1 j
.2
2
a
.
l '
v
k
0
, (1.14)
o le module du facteur (
| 2/ a
.
l '
v
/ k
0
) prend des valeurs comprises entre 0,15 ( 20 Hz) et 5.10
-3
( 20 kHz), et par suite n'est pas ngligeable dans les basses frquences.
iii. Condition aux frontires en z=l [9]
Sv
z
=( Y
p
+Y
r
) p
, en
z=l
, (1.15)
o
Y
r
=Sv
R
/ p(l )
dsigne l'admittance acoustique du microphone rcepteur.
iv. Conditions aux frontires en w=a, z=l
c
, (conservation des dbits et continuit des
pressions)
Sv
z
( l
c
-
)=Sv
z
( l
c
+
)+Y
c
p( l
c
) ,
p(l
c
-
)=p(l
c
+
)=p(l
c
) ,
(1.16.a)
(1.16.b)
o Sv
z
(l
c
+
) et Sv
z
(l
c
-
) dsignent respectivement, les dbits dans les parties suprieure et infrieure

z=l
c de la cavit de couplage.
v. Champ acoustique dans la cavit de couplage
La solution pour la pression acoustique en considrant un rgime d'ondes planes (Eq. (1.7)) dans
les deux domaines de la cavit (
zl
c et
z>l
c ), satisfaisant les conditions aux frontires (1.9) et
(1.15) ainsi que la condition l'interface
z=l
c (1.16.a), pour une source harmonique ( e
j ot
) de
dbit
Sv
e du microphone metteur ( z=0 ), s'crit sous la forme suivante
p( z)=A( e
jk
z
z
+Be
j k
z
z
) , pour 0zl
c
,
p( z)=C( e
jk
z
z
+De
j k
z
z
) , pour l
c
zl .
(1.17.a)
(1.17.b)
Les constantes d'intgration A , B , C et D tant dtermines partir des conditions aux
frontires (1.9) et (1.15) et des conditions d'interfaces (1.16.a et b), soit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
A=
Sv
e
Y
i
(1B)+Y
p
(1+B)
,
B=e
2 j k
z
l
c
Y
c
+De
2 j k
z
l
c
(Y
c
2Y
i
)
( Y
c
+2Y
i
)+De
2 j k
z
l
c
Y
c
,
C=A
e
j k
z
l
c
+Be
jk
z
l
c
e
j k
z
l
c
+De
j k
z
l
c
,
D=e
2 j k
z
l
Y
i
( Y
r
+Y
p
)
Y
i
+( Y
r
+Y
p
)
,
(1.18.a)
(1.18.b)
(1.18.c)
(1.18.d)
o l'admittance itrative
Y
i s'crit
Y
i
=
na
2
j
0
c
0
.
|1+( 1) K
h
( 1K
h
) ,
Y
i
na
2
j
0
c
0
|
1+
1 j
.2
2
a
.
k
0
(
.
l '
v
+( 1)
.
l
h
)
.
(1.19.a)
(1.19.b)
vi. Admittance acoustique de transfert
En utilisant les solutions (1.17.a et b) du champ de pression dans la cavit de couplage,
l'admittance acoustique de transfert
Y
T dfinie par les relations (1.2) et (1.3), soit
Y
T
=
S
e
v
e
+Y
e
p(0)
p( l )
, (1.20)
s'crit de la manire suivante :
Y
T
=Y
T0
+oY
c
, (1.21)
o
o=
1
2 |
j
Y
e
+Y
r
+2Y
p
Y
i
sin k
z
l +
(
1+
(Y
e
+Y
p
) (Y
r
+Y
r
)
Y
i
2
)
cos k
z
l
+j
Y
r
Y
e
Y
i
sin k
z
( l 2l
c
)+
(
1
( Y
e
+Y
p
)( Y
r
+Y
p
)
Y
i
2
)
cos k
z
( l 2l
c
)
,
(1.22)
et o
Y
T0
=
|
Y
i
+
(Y
e
+Y
p
) (Y
r
+Y
p
)
Y
i

j sin k
z
l +( Y
e
+Y
r
+2Y
p
)cos k
z
l , (1.23)
dsigne l'admittance acoustique de transfert de la cavit de couplage pourvue de l'lment
acoustique caractriser lorsque l'admittance d'entre
Y
c est nulle.
En reportant l'quation (1.21) dans (1.6), l'admittance
Y
c de l'lment caractriser s'crit de la
manire suivante :
Y
c
=
Y
T
0
o (
Y
E
Y
E
0
Y
T0
Y
T
0
)
, (1.24)
o
Y
T0 est donne par l'quation (1.23),
l
dsignant la longueur de la cavit pourvue de l'lment
caractriser, o Y
T
0
est donne par la mme quation,
l
dsignant dans ce cas prcis la longueur de
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
la cavit totalement close (cf. discussion la fin de paragraphe 1.2), et o les admittances
lectriques de transfert Y
E
0
et
Y
E sont mesures respectivement avec les coupleurs totalement clos
et pourvu de l'lment caractriser.
Aux basses frquences, approximativement jusqu' 2 kHz, soit lorsque les dimensions de la
cavit sont trs petites devant la longueur d'onde ( k
z
l 1
), un dveloppement asymptotique au
premier ordre en
k
z
l
peut tre retenu dans l'expression (1.21) de
Y
T et en utilisant les expressions
approches (1.10), (1.8) et (1.19.b) pour
Y
p ,
k
z et
Y
i respectivement, il vient [2,3,9,13] :
Y
T
j o
V
P
0
|
1+( 1)
A
V
1j
.2

+Y
e
+Y
r
+Y
c
, (1.25)
o le rapport entre la surface totale de la cavit et son volume s'crit
A / V=2/ a+2/ l
(ce dernier
rsultat tant dmontr en Annexe de la rfrence [9] lorsque
Y
c
=0
). L'admittance acoustique
j oV /( P
0
)
(premier terme de l'quation (1.25)) reprsente l'admittance purement ractive de la
cavit lorsque ses dimensions sont trs petites devant la longueur d'onde et ses parois supposes
totalement rigides.
A noter que la dtection d'une variation de l'ordre de 0,01 dB [8] entre les mesures avec et sans
lment signifie qu'il est possible de dtecter une variation relative de
Y
T de l'ordre de
20 log
(
Y
T
+AY
T
Y
T
)
0,01 dB , soit
AY
T
Y
T
10
3
. (1.26)
Afin d'obtenir la valeur inconnue de l'admittance avec approximativement deux chiffres
significatifs, le rapport Y
c
/(oV / (P
0
))
doit tre plus grand que 10
2
, soit Y
c
>3.10
14
o , c'est
dire par exemple, 100 Hz, Y
c
>2.10
11
m
3
s
1
Pa
1
. Par ailleurs, les effets de conduction
thermique (second terme dans l'quation (1.25) et les effets des transducteurs reprsents par leurs
admittances
Y
e et
Y
r ne sont pas ngligeables, car respectivement donns par :
( 1)
A
V
.
l
h
k
0
0,06 , 100 Hz, (1.27)
et, pour les microphones utiliss (B&K Type 4180) par,
Y
e
+Y
r
oV /( P
0
)
0,07
, (1.28)
pour les basses frquences.
Remarque : il est noter que lorsque l'admittance d'entre
Y
c de l'lment caractriser conduit
un champ de pression dans la cavit de couplage dpendant de la coordonne azimutale 0 , le
modle onde plane utilis n'est plus adapt. De ce fait, une modlisation plus labore doit tre
considre. Un modle (prsent en Annexe B), construit sur la base d'un modle donn dans la
littrature [10,14] dans le cas d'une cavit totalement close, a t tendu au cas o un lment est
plac en paroi de la cavit.
1.4 Elments utiliss comme rfrences : modles thoriques
Afin de valider la mthode de mesure prsente ci-dessus et estimer les incertitudes associes,
deux types d'lments acoustiques, issus de l'oreille artificielle [11] ont t choisis. Leurs
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
1.4. Elments utiliss comme rfrences : modles thoriques 14
gomtries simples autorisent leur caractrisation exprimentale et leur modlisation suffisamment
prcise l'aide des quations classiques de l'acoustique en fluide dissipatif (cf. Annexe A). Le
premier est une fente annulaire mince et courte, ouverte son extrmit dans un espace infini
(figure 1.2) (son admittance d'entre ne dpend pas de la coordonne azimutale 0 ). Le second est
un ensemble de quatre tubes identiques, troits et courts, rgulirement rpartis en
0=0, n/ 2, n, 3n/ 2 de manire garantir une symtrie de sorte que le champ de pression peut
tre considr comme dpendant peu de la coordonne azimutale 0 (figure 1.3). Ces quatre tubes
sont soit ouverts leur extrmit sur un espace infini, soit connects une cavit annulaire
totalement close.
1.4.1 Admittance d'entre d'une fente ouverte son extrmit
Le schma de la fente considre est reprsent sur la figure 1.2 en condition de mesure, soit
situe en paroi de la cavit de couplage en w=a et
z=l
c (cf. figure 1.1). La fente une paisseur
e (trs petite devant la longueur
l
de la cavit) et une longueur
( Ra)
; sa charge acoustique en
w=R est dcrite par une condition de Dirichlet (condition de champ libre).
Figure 1.2. Fente annulaire : schma et notations utilises.
Le champ acoustique dans la fente est rgi par l'quation de propagation (Eqs. (A.23) et (A.24)) :
|

2
w
2
+
1
w

w
+X
2
p(w)=0 , (1.29)
o
X
2
=k
0
2
1+( 1) K
h
s
1K
v
s
,
Re(X)>0
et
Im(X)0
, (1.30)
et (Eq. (A.25))
K
v, h
s
=
tan( k
v , h
e /2)
k
v , h
e/ 2
. (1.31)
La solution de l'quation (1.29) satisfaisant la condition de Dirichlet
p(w=R)=0
s'crit de la
manire suivante :
p( w)=A
s |
J
0
( Xw)+B
s
N
0
( Xw)
, (1.32)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
avec
B
s
=
J
0
( X R)
N
0
( X R)
. (1.33)
En utilisant la composante w de l'expression (A.11.b) pour exprimer la vitesse
v
w
(a)
l'entre
de la fente annulaire, l'admittance acoustique d'entre Y
c
s
en w=a s'crit
Y
c
s
=
2na e v
w
(a)
z
s
p( a)
=
aY
i
s
R
J
1
( Xa)+B
s
N
1
( Xa)
J
0
( Xa)+B
s
N
0
( Xa)
, (1.34)
o
v
w
(a)
z
s
est la valeur moyenne sur l'paisseur de la fente de la vitesse particulaire
v
w
( a)
et o
l'admittance itrative Y
i
s
est donne par l'expression
Y
i
s
=
2ne R
j j
0
c
0
.|1+(1) K
h
s
|1K
v
s
. (1.35)
A noter qu'une expression approche de l'admittance d'entre de la fente peut tre substitue
l'expression (1.34) en basses frquences (dveloppement autour de l'origine lorsque k
v , h
e1
des
quations (1.30), (1.31), (A.6) et (A.8)) et en hautes frquences (comportement asymptotique
lorsque k
v, h
e1
des quations (1.30), (1.31), (A.6) et (A.8)). Nanmoins, dans la gamme de
frquences usuelle, soit entre 100 Hz et 10 kHz, l'expression (1.34) de l'admittance d'entre Y
c
s
doit
tre utilise sans approximation du fait que dans cette gamme de frquences, les expressions (A.6)
et (A.8) respectivement de
k
v et
k
h intervenant dans les quations (1.30) et (1.31) du nombre
d'onde X conduisent (pour e=71,2 jm) au rsultat
1k
v , h
e10
. (1.36)
En basses frquences (jusqu' environ 100 Hz), l'expression approche de l'admittance d'entre
Y
c
s
(quation (1.34)) est donne par l'expression
Y
c
s
2ne
3
12jln ( R/ a)
, (1.37)
montrant un comportement purement rsistif. A 100 Hz, cette expression conduit au rsultat (pour
e=71,2 jm , a=4,65 mm et R=8,5 mm) :
Y
c
s
1,73.10
8
m
3
s
1
Pa
1
. (1.38)
1.4.2 Admittance d'entre d'un rseau de quatre tubes cylindriques
Les ouvertures des quatre tubes considrs sont places en paroi de la cavit de couplage en
w=a ,
z=l
c et 0=0, n/ 2, n, 3n/ 2 (figures 1.1 et 1.3). Leurs rayons
a
T sont trs petits devant
la longueur
l
de la cavit et leurs axes sont nots
x
t , l'origine
x
t
=0
tant choisie l'entre du
tube. Leurs longueurs sont notes
l
T
=R
1
a
.
Le champ acoustique dans chaque tube est rgi par l'quation de propagation (A.18), s'crivant de
la manire suivante :
|

2
x
t
2
+k
t
2
p( x
t
)=0
, (1.39)
o le nombre d'onde
k
t s'crit (Eq. (A.21)) :
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
k
t
2
k
0
2
|
1+
1 j
.2
2
a
T .
k
0
(.
l '
v
+(1)
.
l
h )
. (1.40)
Figure 1.3. Quatre tubes et cavits annulaires : schma et notations utilises.
La solution de l'quation de propagation (1.39) est cherche sous la forme
p( x
t
)=A
t
(
e
j k
t
x
t
+B
t
e
j k
t
x
t
) , (1.41)
o la constante d'intgration
B
t est dtermine en crivant la condition aux limites satisfaire en
x
t
=l
T , soit une condition de Dirichlet (champ libre), soit une condition d'impdance
Z
L (cavit
annulaire).
En utilisant la composante
x
t
de l'expression (A.11.b) pour exprimer la vitesse moyenne (sur une
section du tube) en
x
t
=0
l'entre d'un des quatre tubes, l'admittance d'entre Y
c
t
d'un tube
s'crit :
Y
c
t
=
na
T
2
v( x
t
=0)
p( x
t
=0)
=Y
i
t
1+Z
L
Y
i
t
tanh( j k
t
l
T
)
tanh( j k
t
l
T
)+Z
L
Y
i
t
, (1.42)
l'impdance itrative Y
i
t
tant donne par l'expression (1.19.b) en remplaant a par
a
T .
Si les tubes sont ouverts sur l'espace infini leur extrmit en
x
t
=l
T , l'impdance de charge
Z
L
est nulle et l'admittance Y
c
t
d'un tube est rduite l'expression suivante :
Y
c
t
=
Y
i
t
tanh( j k
t
l
T
)
, (1.43)
o la longueur
l
T est corrige de la correction de longueur classique
Al
T
=8a
T
/(3n)
[3].
A noter qu'une expression approche de l'admittance d'entre d'un des tubes peut tre substitue
l'expression (1.42) ou (1.43) en basses frquences (dveloppement autour de l'origine lorsque
k
v , h
a
T
1
des quations (A.19), (A.20), (A.6) et (A.8)) et en hautes frquences (comportement
asymptotique lorsque k
v, h
a
T
1
des quations (A.19), (A.20), (A.6) et (A.8)). Nanmoins, dans la
gamme de frquences usuelle, soit entre 100 Hz et 10 kHz, l'expression (1.43) de l'admittance
d'entre Y
c
t
doit tre utilise sans approximation du fait que dans cette gamme de frquences, les
expressions (A.6) et (A.8) respectivement de
k
v et
k
h intervenant dans les quations (A.19) et
(A.20) du nombre d'onde
k
t
conduisent (pour
a
T
=225 jm
) au rsultat
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
1k
v , h
a
T
10
. (1.44)
En basses frquences (jusqu' environ 100 Hz), l'expression approche de l'admittance d'entre
Y
c
t
(quation (1.43)) est donne par l'expression
Y
c
t
na
T
4
8jl
T
, (1.45)
montrant un comportement purement rsistif. A 100 Hz, cette expression conduit au rsultat (pour
a
T
=225 jm
et
l
T
=3,8 mm
) :
Y
c
s
1,29.10
8
m
3
s
1
Pa
1
. (1.46)
Les quatre tubes peuvent galement tre chargs par une cavit annulaire d'impdance d'entre
Z
L (figure 1.3) (cette configuration tant utilise dans l'oreille artificielle [11]). Cette cavit
annulaire est constitue de deux fentes annulaires (indices n=1,2 dans la suite) ayant le mme
comportement acoustique que la fente modlise au paragraphe 1.4.1. Ainsi, le champ de pression
dans chacune des deux fentes n=1ou 2 est donn par la solution (1.32)
p
n
( w)=A
n |
J
0 (
X
n
w
)
+B
n
N
0 (
X
n
w
) , (1.47)
o n=1 pour la premire fente (paisseur
e
1 , rayon interne
R
1 et externe
R
2 ) et n=2 pour la
deuxime fente (paisseur
e
2
, rayon interne
R
2
et externe
R
3
), avec
R
1
=a+l
T , et o (Eq. (A.24))
X
n
2
=k
0
2
1+( 1) K
h
n
1K
v
n
,
Re(X
n
)>0
et
Im(X
n
)0
, (1.48)
et
K
v, h
n
=
tan( k
v , h
e
n
/ 2)
k
v , h
e
n
/ 2
. (1.49)
Les constantes d'intgration
B
n
sont dtermines en utilisant la continuit des dbits et des
pressions en
w=R
2 et la condition aux limites en
w=R
3 (impdance de paroi prenant en compte
les effets thermiques, Eq. (1.10)).
Ainsi, en utilisant la composante w de l'expression (A.11.b) pour exprimer la vitesse moyenne
(sur une section de la fente) en
w=R
1
l'entre de la premire fente, l'impdance de charge
Z
L
l'extrmit de chaque tube s'crit :
Z
L
=
4 p
1
( R
1
)
2nR
1
e
1
v
w1
( R
1
)
e
1
=
4 R
3
R
1
Y
i,1
s
J
0 (
X
1
R
1)
+B
1
N
0 (
X
1
R
1)
J
1
(
X
1
R
1
)
+B
1
N
1
(
X
1
R
1
)
, (1.50)
o
B
1
=
Y
i,1
s
J
1
(
X
1
R
2
) |
J
0
(
X
2
R
2
)
+B
2
N
0
(
X
2
R
2
)
Y
i ,2
s
J
0
(
X
1
R
2
) |
J
1
(
X
2
R
2
)
+B
2
N
1
(
X
2
R
2
)
Y
i,1
s
N
1
( X
1
R
2
) |
J
0
(X
2
R
2
)+B
2
N
0
( X
2
R
2
)
Y
i ,2
s
N
0
( X
1
R
2
) |
J
1
( X
2
R
2
)+B
2
N
1
(X
2
R
2
)
, (1.51)
et
B
2
=
J
0
(
X
2
R
3
)
(Y
i ,2
s
/ Y
p
'
) J
1
(
X
2
R
3
)
N
0
( X
2
R
3
)(Y
i ,2
s
/ Y
p
'
) N
1
( X
2
R
3
)
, (1.52)
avec
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
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1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Y
i , n
s
=
2ne
n
R
n+1
j j
0
c
0
.
| 1+( 1) K
h
s
|1K
v
s
, (1.53)
avec n=1 ou 2 , et o
Y
p
'
2nR
3
e
2
j
0
c
0
1+j
.2
.
k
0
( 1)
.
l
h
. (1.54)
1.5 Rsultats thoriques et exprimentaux, discussion
Les valeurs exprimentales des admittances
Y
c sont obtenues en mesurant les admittances
lectriques de transfert Y
E
0
et
Y
E , respectivement avec un coupleur totalement clos et un autre
pourvu de l'lment acoustique caractriser. L'admittance
Y
c est alors dduite de l'expression
(1.24) o les admittances acoustiques
Y
T0 , Y
T
0
et le paramtre o sont dduits des expressions
(1.23) et (1.22) en fonctions des paramtres gomtriques des deux cavits de couplage. Les valeurs
thoriques des admittances
Y
c sont obtenues partir des quations (1.34), (1.43) et (1.42)
respectivement pour une fente annulaire ouverte sur l'espace infini son extrmit (figure 1.4),
quatre tubes ouverts sur l'espace infini leur extrmit (figure 1.5) ou chargs par une cavit
annulaire (figure 1.6).
Les dimensions de la fente annulaire, des tubes et de la cavit annulaire sont donnes
respectivement dans les tableaux 1.1, 1.2 et 1.3. Deux valeurs sont donnes dans le tableau 1.2 pour
les rayons des tubes, l'une correspondant aux donnes du fabricant et l'autre aux donnes issues de
nos propres mesures (obtenues aux extrmits des tubes en utilisant un microscope).
Figure 1.4. Admittance d'entre d'une fente annulaire ouverte sur l'espace infini son extrmit (tableau 1.1), (a)
module et (b) phase : rsultat thorique (trait discontinu) et son incertitude (zone grise), rsultat exprimental (trait
continu) et son incertitude (zone hachure).
L'expression (1.21) de l'admittance acoustique de transfert, dont le domaine frquentiel de
validit est compris approximativement entre 20 Hz et 5 kHz, montre des divergences significatives
aux frquences suprieures (au del de 5 kHz) avec le modle plus labor prsent en Annexe B,
ou prsent et discut plus en dtails dans la rfrence [10] pour une cavit totalement close. Ainsi,
les divergences entre les valeurs thoriques et exprimentales des admittances d'entre observes
sur les figures 1.4, 1.5 et 1.6 pour les hautes frquences sont probablement dues l'insuffisance du
modle utilis ici pour le calcul de l'admittance acoustique de transfert (Eqs. (1.21), (1.22) et
(1.23)).
t
e
l
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0
0
3
4
9
2
0
6
,

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1

-

2
4

D
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c

2
0
0
8
1.5. Rsultats thoriques et exprimentaux, discussion 19
Dans la figure 1.4, montrant l'admittance d'entre de la fente annulaire, l'incertitude sur le rsultat
thorique (zone grise) est calcule en utilisant les incertitudes sur l'paisseur et la longueur de la
fente donnes dans le tableau 1.1. L'incertitude sur le rsultat exprimental (zone hachure) provient
principalement du manque de rptabilit des mesures en hautes frquences (au del de 2 kHz).
Figure 1.5. Admittance d'entre d'un rseau de quatre tubes ouverts sur l'espace infini leur extrmit (tableau 1.2),
(a) module et (b) phase : rsultat thorique (donnes gomtriques du fabricant) (trait discontinu) ; rsultat thorique
(donnes gomtriques mesures), (trait pointill) ; rsultat exprimental (trait continu).
Figure 1.6. Admittance d'entre d'un rseau de quatre tubes chargs par une cavit annulaire leur extrmit
(tableaux 1.2 et 1.3), (a) module et (b) phase : rsultat thorique (donnes gomtriques du fabricant) (trait
discontinu) ; rsultat thorique (donnes gomtriques mesures), (trait pointill) ; rsultat exprimental (trait
continu).
Dans les figures 1.5 et 1.6, montrant les admittances d'entre du rseau de quatre tubes,
respectivement, ouverts sur l'espace infini et chargs par une cavit annulaire leur extrmit, une
attention particulire doit tre accorde au fait que deux rsultats thoriques peuvent tre considrs
selon les valeurs retenues des rayons des quatre tubes (donnes du fabricant ou nos propres
mesures, tableau 1.2). Ces deux rsultats thoriques mettent en vidence le manque de prcision sur
les dimensions gomtriques des quatre tubes utiliss, les rsultats exprimentaux obtenus tant
situs entre ces deux rsultats thoriques possibles.
t
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0
0
3
4
9
2
0
6
,

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1

-

2
4

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c

2
0
0
8
Dimension (m) Incertitude (m)
Epaisseur 71,2 6
Longueur 3,883.10
3
6
Tableau 1.1. Fente annulaire mince : dimensions gomtriques et incertitudes associes.
Rayons (donnes du fabricant) 225 10
Rayons (mesures indpendantes) 190 ; 185 ; 180 ; 150 8 ; 23 ; 20 ; 30
Longueurs (donnes du fabricant) 3,800.10
3
50
Tableau 1.2. Quatre tubes troits : dimensions gomtriques et incertitudes associes.
Rayon
R
1 8,446.10
3
3
Rayon
R
2 20,526.10
3
3
Rayon
R
3 24,068.10
3
3
Epaisseur
e
1 4,082.10
3
6
Epaisseur
e
2 7,150.10
3
6
Volume 8053 mm
3
50 mm
3
Tableau 1.3. Cavits annulaires : dimensions gomtriques et incertitudes associes.
Afin de mieux connaitre la prcision accessible la mesure il est ncessaire dutiliser des
coupleurs (fentes et tubes) raliss par des techniques adaptes pour la circonstance dont la
prcision des cotes est meilleure que celle des coupleurs utiliss prcdemment. Les modles
analytiques montrent en effet que les valeurs thoriques des admittances dune fente ouverte et d'un
rseau de quatre tubes ouverts sont particulirement sensibles respectivement lpaisseur de la
fente et au diamtre des tubes. Les tableaux 1.4 et 1.5 prsentent les dimensions et les incertitudes
des lments devant permettre daccder une incertitude relative infrieure 5% pour le module et
2 pour la phase sur les valeurs thoriques des admittances dentre des lments en question.
Epaisseur 100 1
Longueur 1,320.10
3
10
Tableau 1.4. Fente annulaire mince de haute prcision : dimensions gomtriques et incertitudes associes.
Rayon 225 1
Longueur 3,800.10
3
10
Tableau 1.5. Quatre tubes troits de haute prcision : dimensions et incertitudes associes.
t
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l
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0
0
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1

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2
4

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c

2
0
0
8
La figure 1.7.a montre une esquisse en 3 dimensions (vue en coupe) du coupleur tudi pour
obtenir une fente annulaire mince selon les cotes et incertitudes donnes dans le tableau 1.4. La
conception de ce coupleur cherche respecter deux objectifs : lincertitude sur lpaisseur de la
fente (1 m) et lincertitude sur sa longueur (10 m). Afin dy parvenir, le coupleur est constitu de
deux pices principales identiques pourvues de trois bras de support en priphrie. La particularit
de chacune de ces pices est que la surface dlimitant la fente annulaire et les trois surfaces
dappuis des supports sont confondues dans le mme plan. Cette opration est obtenue en rectifiant
ces surfaces en mme temps par rodage avec une finition miroir. La fente est alors cre en plaant
entre chaque support des cales talons mesures par interfromtrie avec une incertitude de lordre
du centime de m. Cette solution prsente galement l'avantage de pouvoir faire varier l'paisseur
de la fente en utilisant des jeux de cales d'paisseurs diffrentes. Enfin, la procdure de fabrication
prvoit de percer les trous de fixations et de centrage dans un bloc cylindrique unique qui sera
ensuite sci en deux mi-hauteur. Aprs reprage de chaque trou, les deux blocs ainsi obtenus sont
usins afin dobtenir les pices principales du coupleur. Le centrage des deux pices principales est
alors garanti 10 m en appariant les deux pices convenablement et en utilisant des goupilles de
prcision adaptes. L'Annexe C.1 prsente en dtail les plans et la procdure de fabrication envoys
au fabricant.
La figure 1.7.b montre une esquisse en 3 dimensions (vue en coupe) du coupleur tudi pour la
mesure de ladmittance d'entre d'un rseau de 4 tubes ouverts. Ce coupleur est d'une conception
plus simple que le prcdent, la seule difficult, qui reste nanmoins importante, est la ralisation
des tubes avec la prcision requise. Les techniques de perage usuelles (foret, laser ou
lectrorosion) ne permettent pas de percer des trous avec un rapport rayon/longueur aussi petit
avec une telle prcision. La solution retenue consiste mouler des petits cylindres en alumine
autour dun fil de diamtre connu au m prs. Aprs dmoulage, les petits cylindres obtenus sont
ensuite adapts et encastrs dans le coupleur. La forme concave lintrieur du coupleur est
reproduite sur une extrmit des cylindres afin dexclure toute discontinuit importante. Des piges
de prcision permettent par ailleurs le contrle des diamtres des tubes au m prs. L'Annexe C.2
prsente en dtail les plans envoys au fabricant.
Figure 1.7. Esquisses en 3 dimensions (vue en coupe) des coupleurs de haute prcision pour la mesure des admittances
d'entre d'une fente annulaire ouverte (a) et d'un rseau de 4 tubes ouverts (b) (les chelles sont diffrentes).
Enfin, la mthode de mesure impose que les deux microphones soient isols lectriquement. Le
matriau choisi pour lusinage de ces deux coupleurs est lalumine, connue pour ses proprits
disolant lectrique et qui de plus, offre des proprits mcaniques intressantes notamment en
t
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D
e
c

2
0
0
8
terme de rsistance la flexion, proprit importante pour le coupleur fente ouverte puisque
labsence de matire au centre du coupleur pourrait entrainer une compression de la fente
provoque par le systme de fixation des microphones (un simple ressort). Lpaisseur des bras des
supports est dimensionne de manire limiter cet effet (valu moins de 2/100 de m pour une
force de 5N).
Les rsultats obtenus avec le nouveau coupleur de haute prcision pourvu d'un rseau de quatre
tubes ouverts sur un espace infini sont prsents sur la figures 1.8. Les rsultats thorique et
exprimental sont en parfait accord jusqu'aux frquences voisines de 5 kHz (les incertitudes sont de
l'ordre de 1% pour le module et 1 degr sur la phase), validant ainsi la mthode propose pour la
caractrisation acoustique de petits lments avec une bonne prcision. Malheureusement, au
moment de la rdaction de ce mmoire, le coupleur fente ouverte n'a toujours pas t livr par le
fabricant, les rsultats ne sont donc pas prsents ici.
Figure 1.8. Admittance d'entre d'un rseau de quatre tubes de haute prcision ouverts sur l'espace infini aux
extrmits (tableau 1.5), (a) module et (b) phase : rsultat thorique (trait discontinu) ; rsultat exprimental (trait
continu).
1.6 Conclusion
L'tude prsente dans ce chapitre traite d'une mthode de mesure d'impdance d'entre de petits
lments acoustiques tels que des tubes, fentes, cavits et leurs associations. Les lments utiliss
jusqu' prsent peuvent tre dcrits avec prcision selon les exigences des systmes qui les
contiennent (oreille artificielle, haut parleur, microphones et autres dispositifs acoustiques).
Nanmoins, la sensibilit des rsultats thoriques aux incertitudes sur l'paisseur (fente) ou sur le
diamtre (tubes) de ces lments est grande (l'incertitude sur l'admittance peut atteindre 90% de la
valeur attendue). Par consquent, des rsultats exprimentaux d'admittances d'entre
Y
c
pour ce
type d'lments sont ncessaires afin d'optimiser le comportement acoustique de certains dispositifs
telle que l'oreille artificielle. De plus, les dispositifs qui dans le futur seront miniaturiss en utilisant
des techniques de type MEMS (Micro Electro Mechanical Systems), exigeront des mesures
appropries d'admittances d'entre de fentes et de tubes miniaturiss du fait que la limite de validit
de la thorie classique reporte dans ce document pourrait tre atteinte si les dimensions des
lments en question taient rduites.
La mthode de mesure d'admittance propose dans ce chapitre repose sur la mthode de
rciprocit utilise pour l'talonnage des microphones talons de laboratoire. Parce qu'elle fait usage
d'un matriel d'une grande sensibilit et d'une grande reproductibilit, elle est particulirement bien
t
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0
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3
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2
0
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n

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c

2
0
0
8
1.6. Conclusion 23
adapte pour effectuer des mesures prcises d'impdances d'entre de petits lments acoustiques
tels que des tubes ou des fentes annulaires.
La validation de la mthode de mesure propose dans ce chapitre par comparaison directe avec
les admittances dentre thoriques (calcules sur la base des donnes gomtriques) passe par la
ralisation de petits composants (fente mince et tubes) laide de procdures spcifiques permettant
une grande prcision sur les dimensions de ces lments (de l'ordre du m sur les dimensions
sensibles). Deux nouveaux coupleurs dcrits en Annexe C ont t conus de manire satisfaire
ces exigences. Les rsultats obtenus pour l'un d'entre eux (l'autre n'ayant pas t livr par le
fabricant) ont permis daffiner les comparaisons et par consquent ont conduit une meilleure
connaissance de la prcision de la technique de mesure propose et de son domaine de validit en
frquence.
Ainsi, les rsultats exprimentaux prsents dans ce chapitre montrent que la mthode de mesure
propose est adapte pour caractriser le comportement acoustique de divers petits lments avec
une bonne prcision, remplaant ainsi les rsultats thoriques qui sont entachs d'incertitudes non
ngligeables en raison de l'imprcision des donnes gomtriques. Ceci est important dans la
pratique lorsque des mthodes acoustiques sont utilises pour des mesures de prcision telle que la
constante de Boltzmann avec une incertitude relative de 10
-6
[1]. Aussi, cette mthode de mesure
peut tre utilise pour optimiser le comportement acoustique de chaque lment constitutif de
l'oreille artificielle et ainsi proposer des modles thoriques plus prcis que ceux utiliss
actuellement [11].
Enfin, pour les hautes frquences (au del de 5 kHz), les rsultats prsents ont mis en vidence
la ncessit dutiliser un modle acoustique dcrivant le comportement acoustique de la cavit de
couplage plus prcis que celui utilis dans ce chapitre (modle onde plane), prenant en compte les
modes suprieurs, tel celui dcrit dans la rfrence [10] ou en Annexe B. Cependant, ce modle
ncessite en pratique la connaissance des dformes non uniformes des membranes des
microphones ainsi que l'incidence de cette non-uniformit sur la transduction, ce qui revient
devoir reconsidrer la dfinition mme de l'efficacit en pression d'un microphone.
t
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8
2. Modlisation analytique d'un microphone lectrostatique : application l'talonnage
des microphones en pression par la mthode de la rciprocit
25
Chapitre 2
Modlisation analytique d'un microphone
lectrostatique : application l'talonnage des
microphones en pression par la mthode de la
rciprocit
2.1 Introduction
Les rsultats des mesures d'impdances de petits lments acoustiques prsents dans le chapitre
prcdent ont montr certaines insuffisances dans les hautes frquences (au del de 5 kHz),
insuffisances attribues au modle utilis pour dcrire le comportement acoustique l'intrieur de la
cavit de couplage. En effet, le modle utilis ne prend en compte que la propagation d'ondes planes
suivant l'axe de la cavit de couplage et nglige les effets des modes suprieurs (essentiellement
radiaux).
Ceci pose de manire plus gnrale le problme de l'influence des modes suprieurs dans la
cavit de couplage (modes radiaux) sur les rsultats des talonnages en pression par la mthode de
la rciprocit. La norme CEI 61094-2 [8] propose un modle dcrivant le comportement acoustique
de la cavit de couplage en considrant la propagation d'ondes planes suivant l'axe de la cavit (Eq.
(1.23)). Nanmoins, compte tenu de la non-uniformit du champ de dplacement de la membrane
du microphone metteur et des diffrences de diamtres (faibles) entre la cavit de couplage et la
partie mobile de la membrane des deux microphones, l'influence des modes radiaux sur les rsultats
d'talonnages est non ngligeable, plus particulirement en hautes frquences [9,15].
Dans la rfrence [9], les auteurs proposent un modle plus labor dcrivant le comportement
acoustique de la cavit de couplage, tenant compte des modes suprieurs ainsi que des effets des
couches limites viscothermiques. Pour autant, le modle tabli repose sur l'hypothse que les
membranes des microphones ont un mouvement non uniforme et suppose connue la forme de leur
profil de vitesse. Ce profil de vitesse y est donn sous diverses formes lmentaires dont la
prcision est certainement insuffisante dans le cadre de l'talonnage primaire des microphones en
pression. Par ailleurs, l'influence de la non-uniformit du champ de pression incident sur l'efficacit
d'un microphone, est l'heure actuelle inconnue. Dans la rfrence [15], K. Rasmussen propose de
corriger les effets de cette non-uniformit l'aide d'un facteur de pondration appliqu au champ de
pression incident sur la membrane du microphone rcepteur. Nanmoins, cette pondration repose
sur des bases empiriques non vrifies l'heure actuelle.
t
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6
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0
0
8
2.1. Introduction 26
C'est l'objet de ce chapitre que de proposer, plus exactement de tenter d'ouvrir la voie une
nouvelle modlisation analytique de microphones lectrostatiques (Type B&K 4180) tenant compte
de l'ensemble des paramtres du microphone, tout en restant raisonnablement simple de manire
pouvoir l'insrer facilement dans le modle global qui inclut deux microphones, un rcepteur et un
metteur coupls par une cavit cylindrique. Autant cette modlisation ne pourra rpondre
l'attente que dans la mesure o elle pourra tre revue et complte pour prendre plus finement en
compte certains paramtres gomtriques, autant elle nous permet aujourd'hui de vrifier
l'hypothse retenue par K Rasmussen [15] pour corriger les effets de la non-uniformit du champ de
pression dans la cavit de couplage sur l'impdance acoustique de transfert et donc sur l'efficacit
mme du microphone.
N.B. : Cette recherche de nouvelle modlisation n'est ici qu'une bauche, le temps trs court qui a
pu tre consacr cette aspect du travail de thse n'ayant pas permis d'analyser ni les insuffisances
du modle propos ni la pertinence et l'exactitude des donnes numriques retenues.
2.2 Modle analytique d'un microphone lectrostatique
Le systme de coordonnes cylindriques
( z , w)
utilis est dfini sur la figure 2.1. Une couche de
fluide compressible dissipatif d'paisseur
c(w)
est anime d'un mouvement associ au dplacement
harmonique
((w)
d'une membrane (tension
T
m et masse surfacique
c
s ) de rayon
a
m fixe sa
priphrie, cette couche de fluide tant limite en
w=a
m par une paroi cylindrique rigide et en
z=0 par une lectrode rigide perfore (
N
k orifices, de rayons
a
k
et de longueurs
l
k ) de rayon
a
el
a
m
laissant apparatre une fente priphrique cylindrique d'paisseur
e
f
et de longueur
l
f ,
cette fente et les trous de l'lectrode dbouchant dans un volume ferm
V
c . Le systme est suppos
possder une symtrie de rvolution autour de l'axe z . Le tableau 2.1 prcise les dimensions et les
caractristiques (extraites de la rfrence [16]) des lments constitutifs d'un microphone
lectrostatique '' B&K Type 4134, (ancienne gnration de microphone en pression, nanmoins
proche dans sa conception du microphone '' talon de laboratoire actuel, B&K Type 4180). Les
rsultats prsents sont obtenus pour des conditions standard de temprature et de pression dans
l'air.
Figure 2.1. Schma d'un microphone lectrostatique.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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1

-

2
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2
0
0
8
2.2. Modle analytique d'un microphone lectrostatique 27
Membrane : Rayon
a
m 4,45.10
-3
m
Tension
T
m 3162,3 N.m
-1
Masse surfacique
c
s 4.45.10
-2
Kg.m
-2
Lame de fluide : Epaisseur
c(a
m
)
2,077.10
-5
m
Electrode : Rayon
a
el 3,607.10
-3
m
Nombre d'orifices
N
k 6
Rayon des orifices
a
k 5,08.10
-4
m
Longueur des orifices
l
k 8,43.10
-4
m
Largeur de la fente annulaire
e
f
=a
m
a
el
8,43.10
-4
m
Longueur de la fente annulaire
l
f 3,048.10
-4
m
Cavit arrire : Volume
V
c 1,264.10
-7
m
3
Tableau 2.1. Dimensions et caractristiques des lments constitutifs d'un microphone lectrostatique '' Type B&K
4134 [16].
2.2.1 Equations fondamentales du mouvement acoustique
Pour le problme pos, l'amplitude des mouvements acoustiques est suffisamment faible pour
pouvoir en linariser les quations. Les variables dcrivant l'tat dynamique et thermodynamique du
fluide sont (les dfinitions et quations fondamentales reportes ci-dessous sont celles du dbut de
l'Annexe A) :
l'cart instantan de pression p ,
la vitesse particulaire v ,
l'cart instantan de masse volumique
j'
,
l'cart instantan de temprature
t
.
Les paramtres caractristiques des proprits du fluide sont les suivants :
la masse volumique
j
0
,
les coefficients de viscosit de cisaillement
j
et de volume
j
,
le coefficient de conduction thermique
\
,
le coefficient de compressibilit isotherme
X
T
,
les chaleurs massiques par unit de masse pression constante et volume constant
C
P et
C
V , et leur rapport
=C
P
/ C
V
,
le taux d'accroissement de pression par unit d'accroissement de temprature volume constant
=(P/ T )
V
.
Les quations linaires homognes du mouvement du fluide sont au nombre de trois [3, 2.5.1].
L'quation de Navier-Stokes
1
c
0
v
t
+
1
j
0
c
0
grad( p)=l
v

grad( div( v))l '
v

rot

rot (v)
, (2.1)
o
l
v et
l '
v sont les longueurs caractristiques dfinies par
l
v
=
1
j
0
c
0
(
4
3
j+j
)
et
l '
v
=
j
j
0
c
0
,
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
et o c
0
=
.
/(j
0
X
T
) est la clrit adiabatique du son.
L'quation de Fourier pour la conduction de la chaleur
|
1
c
0
t
l
h
A
t=
1
1
c
0
p
t
, (2.2)
o
l
h
=\/(j
0
c
0
C
P
)
dsigne une longueur caractristique de diffusion thermique.
L'quation de conservation de la masse exprime dans un volume
D
0
D
0
|
c
0
2

t
( p
t)+j
0
div( v )
d D
0
=
D
0
( j
0
q) d D
0 , (2.3)
o q dsigne le dbit volumique d'une source acoustique dans le domaine considr
D
0 .
2.2.2 Equation de propagation
Compte tenu de la faible valeur de l'paisseur
c( w)
de la lame de fluide par rapport au diamtre
2 a
m
de la membrane et la longueur d'onde acoustique, un certain nombre d'hypothses
simplificatrices [3, 3.6] peuvent tre retenues pour simplifier le systme d'quations (2.1, 2.2 et
2.3). En premier lieu l'cart instantan de pression
p
l
dans la lame de fluide tant (quasi) uniforme
sur l'paisseur
c( w)
, il est considr comme indpendant de la coordonne z et peut tre not
p
l
( w , z )=p
l
(w)
. (2.4)
Par suite, la composante axiale du gradient de pression est ngligeable par rapport sa
composante radiale,
grad
w
( p
l
)
p
l
z

, (2.5)
et la composante axiale de la vitesse particulaire est trs petite devant sa composante radiale,
v
w
v
z
. (2.6)
Par ailleurs, en raison de l'importance des effets lis la viscosit de cisaillement, la variation de
la vitesse particulaire suivant la variable z est trs suprieure sa variation suivant la direction w ,

w
v (w , z)

z
v( w , z)
. (2.7)
i. Equation de Navier-Stokes
Ainsi, la composante radiale de l'quation de Navier-Stokes (2.1) prend la forme approche
suivante (quation de Poiseuille) :
(
1
c
0
t
l '
v

2
z
2
)
v
w
(w , z )=
1
j
0
c
0
w
p
l
( w) . (2.8)
A cette quation est associe une condition de non glissement sur la membrane en
z=c(w)
, soit
v
w
( w , c( w))=0
. (2.9)
En z=0 , la prsence des orifices dans l'lectrode et de l'ouverture priphrique fait que la
condition de non glissement n'est pas vrifie. Au niveau de chaque orifice, la vitesse radiale peut
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
tre approche par (quation d'Euler)
v
w
(w
k
,0)
1
j oj
0
w
p
l
( w
k
)
. (2.10)
Pour prendre en compte ce glissement sur les orifices, un effet de moyenne sur toute la surface
est retenu par l'approximation [17]
v
w
(w,0)
y
w
j oj
0
w
p
l
( w) , (2.11)
o
y
w
k
S
k
S
el
, (2.12)
S
k dsignant la surface du k
ime
orifice et S
el
=na
el
2
la surface de l'lectrode arrire (il est clair que
ce modle trs simplifi comporte un certain arbitraire en particulier en ce qu'il omet le lien entre
les vitesses tangentielle et normale au niveau des orifices).
La solution du problme (2.8), (2.9) et (2.11), en rgime harmonique (le facteur e
j ot
est omis),
est crite sous la forme de la somme de la solution particulire de l'quation (2.8) et de la solution
gnrale de l'quation sans second membre :
v
w
(w , z)=
1
j oj
0
w
p
l
( w)
|
1
( 2y
w
) cos(k
v
(zc( w) /2))
2cos(k
v
c( w) /2)
+
y
w
sin( k
v
( zc( w) /2))
2sin( k
v
c( w)/ 2)

, (2.13)
o le nombre d'onde de diffusion visqueuse
k
v est dfini par
k
v
=
1 j
. 2 .
k
0
l '
v
. (2.14)
La valeur moyenne de la vitesse radiale
v
w sur l'paisseur de la couche de fluide prend alors la
forme suivante :
v
w
( w)
c
=
1
j j
0
o
F
v
( w)

w
p
l
(w)
, (2.15)
avec
F
v
(w)=1f
v
(w)
, (2.16.a)
et
f
v
( w)=
( 2y
w
)
2
tan(k
v
c( w) /2)
k
v
c( w) /2
. (2.16.b)
ii. Equation de Fourier
L'cart instantan de temprature
t
s'annule sur les deux lectrodes en
z=c(w)
et z=0 : il
s'agit ici d'une approximation du fait de la prsence des orifices. A l'instar de la vitesse particulaire,
sa variation suivant la variable w reste trs infrieure sa variation suivant z :

w
t( w , z)

z
t( w , z)
. (2.17)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Par suite, l'quation de conduction de la chaleur (2.2) prend la forme approche
|
1
c
0
t
l
h

2
z
2
t=
1
1
c
0
t
p
l
( w) . (2.18)
La solution de cette quation qui satisfait aux conditions aux frontires
t( w,0)=0 w ,
t( w, c(w))=0 w ,
(2.19.a)
(2.19.b)
s'crit
t( w , z )=
1
p
l
( w)
|
1
cos( k
h
( zc( w) /2))
cos( k
h
c(w)/2)

, (2.20)
o le nombre d'onde de diffusion thermique
k
h est dfini par
k
h
=
1 j
. 2 .
k
0
l
h
. (2.21)
L'expression de la valeur moyenne de la variation de temprature
t
sur l'paisseur de la couche
du fluide s'crit alors
t(w)
c
=
1
F
h
( w) p
l
( w)
, (2.22)
avec
F
h
( w)=1 f
h
( w)
, (2.23)
et
f
h
(w)=
tan( k
h
c( w)/ 2)
k
h
c(w)/ 2
. (2.24)
iii. Equation de conservation de la masse
Enfin, en considrant un domaine lmentaire
D
0
d'paisseur comprise entre w et w+dw
dlimit par la membrane et l'lectrode arrire, le premier membre de l'quation de conservation de
la masse (2.3) prend la forme simplifie suivante [18]
D
0
|
c
0
2

t
( p
l
t)+j
0
div (v )
d D
0

|
j o
c
0
2
( p
l
t(w)
c
)+
j
0
wc( w)

w
( v
w
(w) wc( w)
c
)
2nc(w) wdw,
(2.25)
et compte tenu de ce que
v
z
( w , c( w))=j o(( w)
le second membre s'crit
D
0
( j
0
q) d D
0
=2nj
0
wdw
|
j o(( w)v
z
( w,0)
. (2.26)
Ainsi, la loi de conservation de la masse s'crit elle :
j o
j
0
c
0
2
( p
l
t
c
)+
1
wc( w)

w
( v
w
c
wc( w))=
1
c( w)
| j o(( w)v
z
(w,0)
. (2.27)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
iv. Equation de comportement des orifices
Il reste prsent exprimer la composante
v
z de la vitesse particulaire en z=0 lie la
prsence des orifices dans l'lectrode arrire et la fente priphrique. Dans un orifice cylindrique
indice k, la vitesse suivant l'axe z dans l'orifice
v
k z
s'crit (Eq. (A.11.b))
v
k z
( w
t
, z)=
1
j oj
0
p
k
z
|
1
J
0
( k
v
w
t
)
J
0
( k
v
a
k
)
, (2.28)
o
p
k
est la pression dans le k
ime
orifice qui en premire approximation est suppose indpendante
de la cordonne radiale
w
t
( noter que cette solution est quivalente la solution (2.13) avec
y
c
=0
et en permutant les rles des coordonnes w et z ). En intgrant cette quation sur la
surface
S
k du k
ime
orifice, le dbit suivant z dans l'orifice s'crit
U
k
=
S
k
v
k z
dS
k
=
S
k
j j
0
o
( 1 f
vk
)
p
k
z
, (2.29)
avec
f
vk
=
2 J
1
( k
v
a
k
)
k
v
a
k
J
0
( k
v
a
k
)
. (2.30)
En considrant l'approximation (
l
k
>0
)
p
k
z

p( w
k
,0)p
c
l
k
, (2.31)
o
p
c dsigne la pression suppose ici uniforme dans la cavit arrire. Ainsi, le dbit sortant (au
niveau z=0 ) d'un orifice s'crit
U
k
(w
k
)=Y
k |
p
l
( w
k
,0)p
c , (2.32)
o l'admittance acoustique
Y
k s'crit
Y
k
=
S
k
(1 f
vk
)
j oj
0
l
k
, (2.33)
et o
l
k
est la longueur du k
ime
orifice (corrige ventuellement de la correction de longueur
classique,
Al
k
=8a
k
/(3n)
, [3]).
Le modle de la fente priphrique du microphone est approch en considrant une fente
annulaire plate. Ce modle est a priori considr comme suffisant dans la situation concrte
laquelle nous sommes intresss ici. La formulation simplifie de la vitesse suivant l'axe z de la
fente
v
f z
s'crit (quation A.9 ou 2.13 avec
y
c
=0
)
v
fz
(w
f
, z)v
fw
(w
f
, z)=
1
j oj
0
w
f
p
f
(w
f
)
|
1
cos( k
v
( ze
f
/ 2))
cos(k
v
e
f
/ 2)

, (2.34)
o
e
f
=a
m
a
e dsigne l'paisseur de la fente et
p
f le champ de pression l'intrieur de la fente.
Le dbit suivant z de la fente priphrique de surface S
f
=n(a
m
2
a
e
2
) s'crit dans ces conditions
U
f
( w
f
)=Y
f |
p
l
( w
f
,0)p
c , (2.35)
l'admittance acoustique
Y
f
s'crivant
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Y
f
=
S
f (
1f
v , f )
j oj
0
l
f
, (2.36)
o
l
f dsigne la longueur de la fente et o
f
v , f
( w)=
tan(k
v
e
f
/ 2)
k
v
e
f
/ 2
. (2.37)
A l'instar de la vitesse radiale
v
w , un effet de moyenne sur toute la surface de l'lectrode arrire
est retenu pour exprimer la vitesse
v
z en z=0 . Le dbit de l'ensemble des ouvertures sur
l'lectrode suivant z en z=0 s'crit
S
0
v
z
w
=
k=1
N
k
U
k
( w
k
)+U
f
( w
f
)=
k=1
N
k
Y
k |
p
l
(w
k
,0)p
c
Y
f |
p
l
( w
f
,0)p
c
, (2.38)
o
S
0
dsigne la surface des ouvertures sur l'lectrode.
En considrant l'approximation
p
l
(w,0)p
l
( w
k
,0)p
l
( w
f
,0)
, (2.39)
il vient d'aprs l'quation (2.38)
S
o
v
z
w
Y
|
p
l
( w,0)p
c , (2.40)
o
Y =
k=1
N
Y
k
+Y
f
. (2.41)
En considrant un modle petite cavit [3, 3.5] pour dcrire le comportement acoustique de
la cavit arrire, la pression acoustique
p
c prend la forme
p
c
=
P
0
j oV
c
S
o
v
z
w
, (2.42)
o
V
c dsigne le volume de la cavit arrire. Le report de cette quation dans la relation (2.40)
permet d'crire finalement une expression approche pour la vitesse
v
z en z=0 :
v
z
( w,0)y
c
p
l
( w)
, (2.43)
avec
y
c
=
Y / S
0
1+
P
0
j oV
c
Y
S
0
S
m
,
(2.44)
La dissipation des couches limites thermiques de la petite cavit arrire peut tre prise en compte
en remplaant dans l'quation (2.44) le terme
V
c par [3]
V
c
|
1+
1i
.2
(1)
S
c
V
c
.
c
0
l
h
o

,
o
S
c dsigne la surface de la cavit arrire.
v. Equation de comportement de la lame de fluide
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Le report des quations (2.15), (2.22) et (2.43) dans l'quation de conservation de la masse (2.27)
conduit l'quation de propagation suivante :
|

2
w
2
+
(
1
w
+
1
c( w)

w
c( w)+
1
F
v
( w)

w
F
v
(w)
)

w
+
o
2
F
v
(w) c
0
2
(1+( 1) f
h
( w))
p
l
(w)
=
j oj
0
F
v
( w)c( w)
(
j o((w)+y
c
p
l
(w)
)
,
(2.45)
soit
|

2
w
2
+
(
1
w
+
1
c( w)

w
c(w)+
1
F
v
( w)

w
F
v
( w)
)

w
+X
2
p
l
( w)=
o
2
j
0
F
v
( w) c( w)
(( w)
, (2.46)
o
X
2
=
o
2
c
0
2
1+( 1) f
h
(w)
1f
v
( w)
j o
j
0
y
c
c(w)( 1f
v
(w))
. (2.47)
Figure 2.2. Valeurs absolues des fonctions (w/ F
v
(w)
w
F
v
(w)) aux frquences 100 Hz (courbe jaune), 1 kHz (courbe
rouge), 10 kHz (courbe noire), 20 kHz (courbe bleue), 30 kHz (courbe mauve) et de la fonction (w/ c(w)
w
c(w))
(courbe verte) en fonction de la coordonne radiale w pour une forme c( w) parabolique o c(a
m
)=20,77 jm et
c(0)=c(a
m
)0,64 jm .
Le premier membre de l'quation de propagation (2.46) fait apparatre les fonctions
| 1/c(w)
w
c( w)
et |
1/ F
v
( w)
w
F
v
( w)
qui traduisent la variation de l'paisseur de la lame de fluide
en fonction de la distance ( w ) au centre du dispositif. Ces deux fonctions sont comparer la
fonction 1/ w qui provient du systme de coordonnes cylindriques. La figure 2.2 reprsente les
modules des fonctions
( w/ F
v
(w)
w
F
v
(w))
( comparer l'unit) 100 Hz (courbe jaune), 1 kHz
(courbe rouge), 10 kHz (courbe noire), 20 kHz (courbe bleue), 30 kHz (courbe mauve), et le module
de la fonction
(w/c( w)
w
c(w))
( comparer l'unit) (courbe verte) en fonction de la coordonne
radiale w pour une forme
c(w)
parabolique o
c( a
m
)=20,77 jm
et
c( 0)=c( a
m
)(
0
(0)
. La
dforme statique
(
0
( w)
s'crit (en supposant
a
el
a
m ) :
(
0
( w)
p
s0
4T
m
(a
m
2
w
2
) , (2.48)
la force lectrostatique par unit de surface s'crivant pour un condensateur plan
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
p
s0
=
U
0
2
c
0
2c
2
( a
m
)
, (2.49)
o
U
0
=200 V
dsigne la tension statique et c
0
8,85.10
12
F.m
1
la permittivit du vide. Compte
tenu des donnes du problme,
(
0
( 0)0,64 jm
d'o
c(0)c(a
m
)20 jm
.
Compte tenu des rsultats obtenus (figure 2.2), la dflexion statique de la membrane peut tre
nglige en premire approximation. Dans la rfrence [18], les auteurs proposent une mthode qui
tient compte de ces facteurs, cette mthode pourra au besoin tre reprise ultrieurement.
L'quation de propagation prend alors la forme simplifie suivante :
|

2
w
2
+
1
w

w
+X
2
p
l
( w)=
o
2
j
0
F
v
c
(( w) , (2.50)
laquelle est associe la condition en frontire
w=a
m
(

w
p
l
( w)
)
w=a
m
=0
, (2.51)
2.2.3 Champ de pression acoustique dans la lame de fluide
La solution de l'quation de propagation (2.50) satisfaisant la condition (2.51) est recherche
sous la forme d'un dveloppement sur la base des fonctions propres orthonormes
E
n
(w)
du
cylindre
p
l
( w)=
j=0
p
l j
E
l j
( w)
, (2.52)
o les fonctions propres orthonormes
E
l j
( w)
s'crivent
E
l j
( w)=
1
.na
m
J
0
(
j
)
J
0
(
j
w
a
m
)
, (2.53)
les coefficients
j
dsignant les zros de la drive premire de la fonction de Bessel
J
0 (soit
J '
0
(
j
)=0
, le premier tant not
0
), et o les coefficients
p
l j
sont donns par l'expression
p
l j
=
o
2
j
0
F
v
c
(( w
0
)E
l j
( w
0
)
m
X
2
(
j
/ a
m
)
2
, (2.54)
o le produit scalaire est dfini par
((w
0
)E
l j
(w
0
)
m
=2n
0
a
m
((w
0
)E
l j
(w
0
)w
0
dw
0
. (2.55)
2.2.4 Champ de dplacement de la membrane
Dans le cas gnral (configuration metteur et rcepteur), le champ de dplacement normal
(( w)

de la membrane, compt positif dans le sens des z croissants rpond au problme suivant :
T
m
(A
w
+k
w
2
) ((w)=p
av
(w)p
l
( w)p
s
(w)
, (2.56)
o
T
m dsigne la tension de la membrane,
p
av
(w)
dsigne la pression l'avant de la membrane,
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
p
l
( w)
dsigne la pression dans la lame de fluide l'arrire de la membrane,
p
s
(w)
dsigne la
force lectrostatique par unit de surface applique sur la membrane en rgime harmonique ( e
j ot
)
et
k
w
2
=o
2
c
s
T
m
, (2.57)
o
c
s
dsigne la masse surfacique de la membrane.
En considrant le microphone comme un condensateur quasi plan, la force lectrostatique est
inversement proportionnelle au carr de l'paisseur
c(w)
(Eq. (2.49)). La variation relative de la
force lectrostatique par unit de surface entre w=0 et
w=a
m
vaut, pour
c( a
m
)=20,77 jm
et
c( 0)=c( a
m
)0,64 jm
P
s
( a
m
)p
s
( 0)
p
s
( 0)
=
c
2
(0)
c
2
( a
m
)
10,06
. (2.58)
Ainsi, la force lectrostatique par unit de surface
p
s
peut-elle tre suppose uniforme sur la
surface de la membrane.
L'quation (2.56) peut tre crite sous la forme
T
m
(A
w
+k
w
2
) ((w)=| p
av
( w)p
av
( a
m
)| p
l
( w)p
l
(a
m
)+| p
av
( a
m
)p
l
(a
m
)p
s
(2.59)
o les facteurs
p
av
( a
m
)
et
p(a
m
)
ont t ajouts et retranchs dans le second membre pour assurer
la compatibilit des formes de solutions modales pour un second membre donn (Eq. (2.64)).
La solution pour le dplacement de la membrane satisfaisant la condition de Dirichlet en
w=a
m peut tre exprime de la manire suivante, somme de la solution gnrale de l'quation sans
second membre
J
0 (
k
w
w
) et d'une solution particulire de l'quation avec second membre (somme
d'une constante
B
0 et d'un dveloppement modal) :
(( w)=B
0
(
1
J
0
(k
w
w)
J
0
(k
w
a
m
)
)
+
j=0
(
j
1
j
( w) . (2.60)
1
j
( w)
s'crivent
1
j
( w)=
1
.na
m
J
1
( j
j
)
J
0
(
j
j
w
a
m
)
, (2.61)
j
j
reprsentant les zros de la fonction de Bessel
J
0 (le premier tant not
j
0 ) et o les
coefficients
B
0 et
(
j
sont donns par les expressions
B
0
=
p
av
(a
m
)p
l
(a
m
)p
s
T
m
k
w
2
,
(
j
=
p
av
( w
0
)p
av
(a
m
)
1
j
( w
0
)
p
l
(w
0
)p
l
(a
m
)
1
j
( w
0
)
m
T
m
( k
w
2
( j
j
/a
m
)
2
)
.
(2.62.a)
(2.62.b)
o le numrateur de l'expression du coefficient
(
n
reprsente le produit scalaire sur le domaine
w(0, a
m
)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
p
av
( w
0
)p
av
( a
m
)
1
j
( w
0
)
p
l
( w
0
)p
l
( a
m
)
1
j
( w
0
)
m
=2n
0
a
m
(
| p
av
(w
0
)p
av
(a
m
)| p
l
( w
0
)p
l
( a
m
)
)
1
j
( w
0
) w
0
dw
0
.
(2.63)
A noter que la partie modale de la solution est solution de l'quation
T
m
(A
w
+k
w
2
)
j=0
(
j
1
j
(w)=| p
av
( w)p
av
( a
m
) | p
l
( w)p
l
(a
m
)
, (2.64)
o A
w
( j
j
/ a
m
)
2
; pour
w=a
m l'galit est bien satisfaite ( 0=0 ) du fait du choix retenu pour le
second membre.
A ce point de l'expos, la solution du problme prsent est donne par les deux solutions
couples pour les deux inconnues, la pression acoustique
p
l
( w)
(Eqs. 2.52 2.55) et le champ de
dplacement de la membrane
((w)
(Eq. 2.60 2.63).
2.3 Efficacit en pression
Pour un microphone utilis en rcepteur et pour un champ de pression l'avant de la membrane
p
av uniforme, l'efficacit en pression
M
p s'crit :
M
p
=
u
r
p
av
, (2.65)
o
u
r est la tension en circuit ouvert gnre aux bornes des lectrodes. Compte tenu du
dplacement
((w)
de la membrane, pour une lectrode arrire plane et en ngligeant la dflexion
statique de la membrane, la tension
u
r s'crit
u
r
=
2nU
0
S
el
c

0
a
el
((w) wdw , (2.66)
U
0 tant la tension de polarisation du microphone.
Lorsque la pression l'avant de la membrane
p
av n'est pas uniforme, la dfinition (2.65) de
l'efficacit en pression n'est plus adapte. Une solution consiste considrer une pression moyenne
sur la surface de la membrane [10], soit pour l'efficacit
M
p
=
u
r
p
av
( w)
m
. (2.67)
Nanmoins, cette dfinition ne rend pas rellement compte de l'influence de la non-uniformit du
champ de pression sur l'efficacit, l'influence du champ de pression sur l'efficacit tant plus
importante l ou le dplacement de la membrane est plus important. K. Rasmussen [15] propose de
corriger les effets de la non-uniformit du champ de pression sur l'efficacit avec un facteur de
pondration appliqu au champ de pression
p
av
(w)
, soit
M
p
=
u
r
v( w) p
av
(w)
m
, (2.68)
o
v (w) est le facteur de pondration ayant la forme du champ de vitesse (ou de dplacement)
v (w)=j o(( w) de la membrane, soit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
2.3. Efficacit en pression 37
v (w)=
v (w)
v( w)
m
. (2.69)
Cette pondration traduit un facteur de couplage qui ne repose pas ici sur des arguments prcis.
On se propose ici de tester ces deux dfinitions (2.67) et (2.68) en fonction du champ de pression
l'avant de la membrane afin de vrifier la stabilit de l'efficacit du microphone obtenue.
Le champ de pression
p
av
(w)
est crit sous la forme d'un dveloppement modal, soit
p
av
(w)=
j=0
p
j
E
j
(w)
, (2.70)
o les fonctions propres normalises
E
j
(w)
s'crivent :
E
j
(w)=
1
.na
m
J
0
(
j
)
J
0
(
j
w
a
m
)
. (2.71)
Ainsi, le problme coupl est caractris par le champ de pression
p
l
( w)
dans la lame de fluide
du microphone (Eq. (2.52)), par le champ de dplacement de la membrane (( w) (Eq. (2.60)) et par
le champ de pression l'avant de la membrane
p
av
(w)
(Eq. (2.70)). Les coefficients inconnus du
problme forment trois ensembles :
p
l j
,
B
0
et
(
j
, dfinis respectivement par les quations (2.54),
(2.62.a, o les variations de la force lectrostatique par unit de surface sont ngliges
p
s
=0
, la
tension
u
r tant celle en circuit ouvert (impdance lectrique infinie)) et (2.62.b). La rsolution du
problme est effectue en crivant ces quations sous forme matricielle ; le dtail de ces calculs est
report en Annexe D pour ne pas alourdir ici le propos.
i. Champ de pression l'avant de la membrane uniforme : efficacit en pression
Un champ de pression uniforme l'avant de la membrane est obtenu en ne considrant que le
premier mode du dveloppement (2.70), soit :
p
0
=.na
m
et
p
n
=0n1
, conduisant ainsi
p
av
=1 Pa
. L'efficacit en pression obtenue en utilisant les caractristiques d'un microphone ''
B&K Type 4134 (tableau 2.1) est reprsente en module sur la figure 2.3 en fonction de la
frquence (trait plein). Le niveau en basses frquences (-40 dB) est lgrement infrieur celui
annonc par le constructeur (-38 dB) [19]. Ce niveau dpend nanmoins fortement de la tension
T
m
et de la masse surfacique
j
s de la membrane et ces donnes sont variables d'une rfrence l'autre.
Par exemple, en utilisant le couple (
T
m ,
j
s ) donn dans la rfrence [20] pour un microphone ''
B&K Type 4180, le niveau calcul de l'efficacit en basse frquences est de -38,5 dB.
Au del de 10 kHz, une variation importante du niveau de l'efficacit est observe. Cette
variation atteint 20 dB et est nettement suprieure celle donne par le constructeur (maximum
1,5 dB). Cette diffrence est trs certainement due aux approximations effectues dans le
dveloppement du modle du microphone, entre autres au niveau de l'amortissement interne de la
membrane et au niveau de la prise en compte des orifices de l'lectrode sous la forme d'une
admittance moyenne, qui nglige les effets dissipatifs lis aux discontinuits de bord des orifices.
De la sorte la rsistance acoustique de l'ensemble est sous-estime. En divisant l'admittance
y
c
des
ouvertures sur l'lectrode (Eq. (2.44)) par un facteur dix, la variation observe au del de 10 kHz
peut tre nettement attnue (trait discontinu). Mais ceci ncessiterait une tude plus approfondie ;
notamment certains rsultats de la littrature devraient pouvoir tre adapts pour valuer les effets
de bord [21,22,23].
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Figure 2.3. Module calcul de l'efficacit en pression M
p
(en dB, ref. 1V/Pa) d'un microphone '' B&K Type 4134
obtenu pour un champ de pression l'avant de la membrane uniforme, partir des caractristiques du microphone
donnes dans le tableau 2.1 (trait plein) et en divisant l'admittance y
c
des ouvertures sur l'lectrode (Eq. (2.44)) par
un facteur dix (trait discontinu).
ii. Champ de pression l'avant de la membrane non uniforme : efficacit en pression,
dfinition (2.67)
Un champ de pression l'avant de la membrane non uniforme est ici modlis en ne considrant
que les deux premiers modes du dveloppement (2.70) non nul, soit en imposant
p
av
( w)
m
=1 Pa
:
p
0
=.na
m
,
p
1
=k p
0 (o k ) et
p
n
=0, n2
. (2.72)
Figure 2.4. Amplitude du champ de pression l'avant de la membrane p
av
(w) en fonction du rayon de la membrane
du microphone ('') dfini par les quations (2.70), (2.71) et (2.72) o k =0 (mode plan, courbe noire), k =0,01
(courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue) et k =0,2 (courbe mauve).
La figure 2.4 reprsente quatre profils de champ de pression l'avant de la membrane en fonction
du rayon de la membrane avec k =0 (mode plan, courbe noire), k =0,01 (courbe rouge), k =0,1
(courbe bleue) et k =0,2 (courbe mauve). La figure 2.5.a reprsente les efficacits obtenues avec
les champs de pression l'avant de membrane ainsi dfinis en considrant la dfinition (2.67). La
figure 2.5.b montre les diffrences entre les efficacits obtenues avec un champ de pression l'avant
de la membrane non uniforme et celle obtenue en mode plan. Ainsi, la dfinition (2.67) conduit
des efficacits diffrentes selon le profil du champ de pression l'avant de la membrane et ne
semble pas tenir compte des effets de la non-uniformit du champ de pression sur l'efficacit du
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
microphone.
Figure 2.5. a) Module de l'efficacit en pression M
p
(en dB, ref. 1V/Pa) calcul avec la dfinition (2.67), en fonction
des champs de pression l'avant de la membrane dfinis sur la figure 2.4 : k =0 (mode plan, courbe noire), k =0,01
(courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue) et k =0,2 (courbe mauve). b) Diffrences entre les efficacits calcules avec
k =0,01 (courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue), k =0,2 (courbe mauve) et l'efficacit calcule avec k =0 (mode
plan).
iii. Champ de pression l'avant de la membrane non uniforme : efficacit en pression,
dfinition (2.68)
Figure 2.6. a) Module de l'efficacit en pression M
p
(en dB, ref. 1V/Pa) calcul avec la dfinition (2.68), en fonction
des champs de pression l'avant de la membrane dfinis sur la figure 2.4 : k =0 (mode plan, courbe noire), k =0,01
(courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue) et k =0,2 (courbe mauve). b) Diffrences entre les efficacits calcules avec
k =0,01 (courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue), k =0,2 (courbe mauve) et l'efficacit calcule avec k =0 (mode
plan).
L'efficacit du microphone est prsent calcule en considrant la dfinition (2.68) o la pression
moyenne l'avant de la membrane est pondre par le profil de vitesse
v (w) de la membrane (Eq.
(2.69)) [15]. La figure 2.6.a reprsente les efficacits obtenues en considrant les champs de
pression
p
av
(w)
dfinis sur la figure 2.4 (Eqs. (2.70), (2.71) et (2.72) avec k =0 (mode plan,
courbe noire), k =0,01 (courbe rouge), k =0,1 (courbe bleue) et k =0,2 (courbe mauve)). La figure
2.6.b montre les diffrences entre les efficacits obtenues avec un champ de pression l'avant de la
membrane non uniforme et celle obtenue en mode plan. Ainsi, les efficacits obtenues en
considrant le facteur de pondration
v(w)
convergent davantage vers l'efficacit obtenue pour
p
av
(w)
uniforme. Ce facteur de pondration semble donc corriger les effets de la non-uniformit du
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
champ pression l'avant de la membrane sur l'efficacit du microphone. En pratique, le champ de
pression l'avant du microphone est celui d'une cavit de couplage (cf. infra paragraphe 2.4) ; par
suite les coefficients du dveloppement modal de la pression l'avant de la membrane du rcepteur
sont fonctions de la frquence ce qui implique que le facteur k introduit prcdemment est lui-
mme fonction de la frquence (contrairement au choix retenu prcdemment). Il convient donc
ce point d'effectuer une modlisation globale du systme d'talonnage constitu de deux
microphones, un rcepteur et un metteur, coupls par une cavit de couplage cylindrique.
2.4 Modlisation globale du systme d'talonnage
Le systme tudi est reprsent sur la figure 2.7 ; il est suppos symtrie axiale. Il est constitu
de deux microphones lectrostatiques de mme type, l'un metteur et l'autre rcepteur, coupls par
une colonne de fluide compressible dissipatif contenue dans un cylindre de longueur
l
et de rayon
a . Les membranes des microphones metteur en z=0 et rcepteur en
z=l
, respectivement de
rayon
a
e
et
a
r
(lgrement infrieur au rayon a de la cavit) sont animes des dplacements
(
e
( w)
et
(
r
( w)
. Les champs de pression sont nots p( z , w) ,
p
l e
( w)
,
p
l r
(w)
,
p
ce
et
p
cr

respectivement dans la cavit de couplage, dans les couches de fluides d'paisseurs
c
e
et
c
r
, dans
les cavits arrires des microphones metteur et rcepteur de volumes
V
ce
et
V
cr
.
Figure 2.7. Etalonnage en pression par la mthode de la rciprocit : schma de principe.
2.4.1 Champs de dplacement des membranes et champs acoustiques
La rsolution du problme impose la connaissance des formes de solutions des pressions
acoustiques dans les diffrents domaines ainsi que les formes de solutions des champs de
dplacement des membranes des microphones metteur et rcepteur ; ces solutions sont reportes
ci-dessous.
i. Champ de pression dans la cavit de couplage
Le champ de pression dans la cavit de couplage a fait l'objet d'un important travail de
modlisation [10]. Les auteurs proposent un modle analytique dvelopp sur la base d'une solution
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
2.4. Modlisation globale du systme d'talonnage 41
modale, reposant sur la formulation intgrale et prenant en compte la nature dissipative du fluide.
Les dveloppements qui suivent sont extraits de cette tude [14, 4] et [10], reporte en Annexe B.
Le problme est simplifi en supposant le champ de pression dans la cavit de couplage
symtrie axiale. Il s'crit sous la forme d'un dveloppement sur la base des fonctions propres
orthonormes du cylindre (Eq. B.9)
p( w , z)=
j=0
p
j
( z) E
j
( w)
, (2.73)
o
E
j
(w)=
1
.na J
0
(
j
)
J
0
(
j
w
a
)
, (2.74)
les coefficients
p
j
tant donns par l'expression (B.10) (avec
y
c
=0
,
v
e
=j o
e et
v
R
=j o
r
)
p
j
( z)=
o
2
j
0
1K
v
| g
j
( z ,0) (
e
( w
0
)E
j
( w
0
)
e
+g
j
( z , l ) (
r
( w
0
)E
j
( w
0
)
r
, (2.75)
et
K
v tant donn par l'expression (A.20).
La fonction de Green
g
j
( z , z
0
)
s'crit
g
j
( z , z
0
)=
cos( k
z j
z+
j
)cos( k
z j
( z
0
l )
j
)
k
zj
sin(k
z j
l +2
j
)
, si zz
0,
g
j
( z , z
0
)=
cos( k
z j
z
0
+
j
) cos( k
z j
( zl )
j
)
k
zj
sin(k
z j
l +2
j
)
, si z>z
0,
(2.76.a)
(2.76.b)
o
k
z j
2
=k
0
2
(
j
/ a)
2
, (2.77)
et
tan
0, l j
=
j k
0
z0 , l j
k
z j
, (2.78)
z0 , l j
dsignant l'admittance thermo-visqueuse en parois en z=0 et
z=l
z0 , l j
1+ j
.2
.
k
0
|
(
j
/ a
e, r
)
2
k
0
2
.
l
v
' +(1)
.
l
h
, pour Re( k
0
2
)(
j
/ a
e, r
)
2
,
z0 , l j
1+ j
.2
.
k
0
| .
l
v
' +( 1)
.
l
h
, pour Re( k
0
2
)(
j
/ a
e, r
)
2
.
(2.79.a)
(2.79.b)
ii. Champ de pression dans la couche de fluide d'paisseur
e
du microphone metteur
Le champ de pression dans la couche de fluide d'paisseur
c
e
du microphone metteur est donn
par les expressions (2.52 2.55), soit
p
l e
(w)=
j=0
p
l ej
E
ej
( w)
, (2.80)
E
en
( w)
s'crivent
t
e
l
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0
0
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6
,

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D
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c

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0
0
8
E
ej
( w)=
1
.na
e
J
0
(
j
)
J
0
(
j
w
a
e
)
, (2.81)
les coefficients
p
l ej
tant donns par l'expression
p
l ej
=
o
2
j
0
F
ve
c
e
(
e
(w
0
)E
e j
(w
0
)
e
X
e
2
(
j
/a
e
)
2
, (2.82)
o
F
ve et X
e
2
sont donns respectivement par les quations (2.16.a) et (2.47) avec
c( w)=c
e
.
iii. Champ de dplacement de la membrane du microphone metteur
Le champ de dplacement
(
e
de la membrane du microphone metteur est donn par les
quations (2.60 2.62), soit
(
e
( w)=B
0 e
(
1
J
0
( k
we
w)
J
0
( k
we
a
e
)
)
+
j=0
(
ej
1
ej
(w) , (2.83)
1
ej
( w)
s'crivent
1
e j
( w)=
1
.na
e
J
1
( j
j
)
J
0
(
j
j
w
a
e
)
, (2.84)
les coefficients
B
0 e
et
(
ej
tant donns par les expressions
B
0e
=
p( a
e
,0)p
l e
(a
e
)p
s
T
me
k
we
2
,
(
ej
=
p( w
0
,0)p( a
e
,0)
1
e j
( w
0
)
p
l e
(w
0
)p
l e
( a
e
)
1
ej
(w
0
)
e
T
me
( k
we
2
( j
j
/a
e
)
2
)
,
(2.85.a)
(2.85.b)
T
me dsignant la tension de la membrane de l'metteur et
k
we
2
=o
2
c
s
T
me
. (2.86)
iv. Champ de pression dans la couche de fluide d'paisseur
r
du microphone rcepteur
Le champ de pression dans le film de fluide d'paisseur
c
r
du microphone rcepteur s'crit
p
l r
( w)=
j=0
p
l rj
E
r j
(w)
, (2.87)
E
r j
( w)
s'crivent
E
r j
( w)=
1
.na
r
J
0
(
j
)
J
0
(
j
w
a
r
)
. (2.88)
Compte tenu de ce que le champ de dplacement
(
r
(w)
de la membrane rceptrice est compt
positif suivant l'axe z (figure 2.7), le signe du membre de droite de l'quation de propagation (2.45)
est chang. Cela conduit l'expression des coefficients
p
l r j
suivante (Eq. 2.54) :
p
l r j
=
o
2
j
0
F
vr
c
r
(
r
( w
0
)E
r j
( w
0
)
r
X
r
2
(
j
/ a
r
)
2
, (2.89)
t
e
l
-
0
0
3
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9
2
0
6
,

v
e
r
s
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o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
o la fonction
F
vr
est donne par l'quation (2.16.a et b) avec
c( w)=c
r
et o X
r
2
s'crit compte
tenu du discours prcdent (Eq. 2.47) :
X
r
2
=
o
2
c
0
2
1+(1) f
hr
1f
vr
+j o
j
0
y
c
r
c
r (
1f
vr)
, (2.90)
o les fonctions
f
h r et
f
vr sont respectivement donnes par les quations (2.24) et (2.16.b) avec
c( w)=c
r
et o l'admittance
y
c
r
est de signe oppos l'admittance
y
c
e
(Eqs. (2.43) et (2.44)).
v. Champ de dplacement de la membrane du microphone rcepteur
Pour le microphone rcepteur, le champ de dplacement de la membrane rpond au problme
(2.56) o les variations de la force lectrostatique par unit de surface sont ngliges
p
s
=0
puisque
le microphone rcepteur est connect une impdance lectrique infinie. Le champ de dplacement
de la membrane s'crit :
(
r
( w)=B
0r
(
1
J
0
( k
wr
w)
J
0
( k
wr
a
r
)
)
+
j=0
(
r j
1
rj
(w) , (2.91)
1
r j
( w)
s'crivent
1
r j
( w)=
1
.na
r
J
1
( j
j
)
J
0
(
j
j
w
a
r
)
. (2.92)
A l'instar du paragraphe prcdent, compte tenu de ce que le champ de dplacement
(
r
(w)
est
compt positif suivant l'axe z (figure 2.7), le signe du second membre de l'quation (2.56) est
chang. Cela conduit aux expressions des coefficients
B
0 r
et
(
r j
suivantes :
B
0r
=
p(a
r
, l )p
l r
( a
r
)
T
mr
k
wr
2
,
(
r j
=
p( w
0
, l )p( a
r
, l )
1
r j
( w
0
)
p
l r
( w
0
)p
l r
(a
r
)
1
r j
( w
0
)
r
T
mr
( k
wr
2
( j
j
/a
r
)
2
)
,
(2.93.a)
(2.93.b)
T
mr
dsignant la tension de la membrane du rcepteur et
k
wr
2
=o
2
c
s
T
mr
. (2.94)
2.4.2 Rsultats thoriques
Le problme est caractris par les champs de pression
p
l e et
p
l r
dans les lames de fluides des
microphones metteur et rcepteur (Eqs. (2.80) et (2.87) et par les champs de dplacement de leur
membrane
(
e et
(
r
(Eqs. (2.83) et (2.91)) coupls entre eux par le champ de pression dans la
cavit cylindrique (Eq. (2.73)). Ainsi, les coefficients inconnus du problme forment six
ensembles :
p
l ej
,
p
l r j
,
B
0 e ,
(
ej
,
B
0r et
(
r j
dfinis respectivement par les quations (2.82),
(2.89), (2.85.a et b) et (2.93.a et b) coupls aux champ de pression dans la cavit de couplage (Eqs.
(2.73), (2.74),(2.75) et (2.76.a et b)). Compte tenu du nombre important d'quations couples, la
rsolution du problme est effectue en crivant ces quations sous forme matricielle ; le dtail de
ces calculs est report en Annexe D pour ne pas alourdir ici le propos.
t
e
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0
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c

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0
0
8
Figure 2.8. Module du rapport k des deux premiers coefficients ( p
1
(l )/ p
0
(l ) , trait plein) et ( p
2
(l )/ p
0
(l ) , trait
discontinu) du dveloppement modal (Eq. (2.75)) du champ de pression en z=l l'avant de la membrane du
microphone rcepteur, obtenu pour une cavit de couplage courante ( a=4,7 mm ; l =4,7 mm ).
La figure 2.8 prsente le module du rapport des deux premiers coefficients (
p
1
(l )/ p
0
( l )
, trait
plein) du dveloppement modal (Eq. (2.73)) du champ de pression en
z=l
l'avant de la
membrane du microphone rcepteur, obtenu pour une cavit de couplage courante ( a=4,7 mm ,
l =4,7 mm
) et en considrant les microphones metteur et rcepteur identiques (cf. tableau 2.1).
Sur cette mme figure la courbe en trait discontinu montre que le terme suivant (
p
2
(l )/ p
0
( l )
) du
dveloppement (2.73) apporte une contribution ngligeable y compris en hautes frquences (par
rapport celle du premier mode).
Figure 2.9. Diffrence entre les efficacits obtenues avec le champ de pression incident dfini par le dveloppement
modal (2.73) o le rapport p
1
(l )/ p
0
(l ) est donn sur la figure 2.8 et celle obtenue pour un champ de pression
uniforme ; en considrant : la dfinition (2.67) (sans pondration, trait discontinu) et la dfinition (2.68) (avec
pondration
v (w) , Eq. (2.69), trait plein)

La figure 2.9 prsente la diffrence entre les efficacits obtenues avec le champ de pression
l'avant de la membrane ainsi dfini (non uniforme) et celle obtenue pour un champ de pression
uniforme ; en considrant : la dfinition (2.67) (sans pondration, trait discontinu) et la dfinition
(2.68) (avec pondration
v(w)
, Eq. (2.69), trait plein). Ainsi, l'efficacit obtenue en considrant le
facteur de pondration
v (w) converge davantage vers l'efficacit obtenue avec une pression
l'avant de la membrane uniforme. Ce facteur de pondration semble corriger les effets de la non-
uniformit du champ de pression dans la cavit de couplage sur la mesure de l'efficacit du
microphone. Nanmoins, ce rsultat doit tre nuanc du fait que le modle du microphone
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8
dvelopp ici n'est pas satisfaisant en haute frquences (cf. paragraphe 2.3). Les mthodes
numriques envisages l'avenir permettront peut tre d'apporter un clairage sur ce point.
2.5 Conclusion
L'tude prsente dans ce chapitre porte sur l'talonnage des microphones en cavit, plus
particulirement sur les effets de la non-uniformit du champ de pression l'avant de la membrane
du microphone sur les rsultats de l'talonnage. Dans le cadre de l'talonnage en pression par la
mthode de la rciprocit, compte tenu de la non-uniformit du champ de dplacement de la
membrane du microphone metteur et des diffrences de diamtres (faibles) entre la cavit de
couplage et la partie mobile de la membrane des deux microphones, l'influence des modes radiaux
sur les rsultats d'talonnages est non ngligeable. Dans la rfrence [15], K. Rasmussen propose de
corriger les effets de cette non-uniformit l'aide d'un facteur de pondration appliqu au champ de
pression l'avant de la membrane du microphone rcepteur, cette pondration conduisant alors
une meilleur reproductibilit des rsultats de l'talonnage.
Les rsultats reports ici sont obtenus pour des microphones lectrostatiques ''. Les rsultats
obtenus pour l'efficacit, issus d'une modlisation approche du microphone, sont conformes aux
rsultats attendus en basses frquences, mais par contre s'en cartent aux frquences suprieures
10 kHz. Par ailleurs, le bien fond du facteur de pondration retenu par K. Rasmussen, pour corriger
les effets lis la non-uniformit du champ de pression l'avant de la membrane du microphone
dans l'expression de son efficacit, a t vrifi d'abord en considrant des champs de pression trs
particuliers, puis en reprenant la modlisation globale du systme d'talonnage constitu de deux
microphones et une cavit de couplage. Cette dernire modlisation montre l'intrt d'exprimer de
faon raliste le champ de pression l'avant de la membrane en fonction de la frquence.
Compte tenu des imperfections du modle du microphone et du poids des modes suprieurs dans
la cavit de couplage, des modles beaucoup plus prcis, voire des mthodes numriques, auront a
tre mis en uvre sur la base de travaux rcents [24,25].
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8
Deuxime partie
Mthode de rciprocit en champ libre
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3. Etalonnage en champ libre des microphones par la mthode de la rciprocit 49
Chapitre 3
Etalonnage en champ libre des microphones par la
mthode de la rciprocit
3.1 Introduction
Les mesures acoustiques effectues l'aide de sonomtres ou autres dispositifs microphoniques
ncessitent des microphones de travail talonns de manire prcise. Habituellement, ces
microphones sont talonns par comparaison avec des microphones de rfrence nomms
microphones talons de laboratoire. Ces microphones talons doivent leur tour tre talonns
l'aide d'une mthode primaire aussi prcise que possible.
Les microphones talons de laboratoire sont talonns l'heure actuelle par la mthode de la
rciprocit, que ce soit pour un usage du microphone en pression (norme CEI 61084-2 [8]) ou en
champ libre (norme CEI 61094-3 [26]). Cette mthode ncessite l'usage de trois microphones
coupls deux deux par un milieu de couplage, soit une cavit acoustique de forme cylindrique
pour l'talonnage en pression, soit un milieu infini pour l'talonnage en champ libre. Rcemment, la
mthode d'talonnage en pression par la mthode de la rciprocit fait l'objet de travaux de
modlisation analytique prcis de la cavit de couplage [14,9,10]. Ces travaux ont permis une
amlioration significative de cette technique d'talonnage conduisant une incertitude sur les
efficacits des microphones de l'ordre de 0,05 dB en module, ce qui en fait la mthode d'talonnage
la plus prcise l'heure actuelle. Nanmoins, dans la majorit des cas, les microphones de travail
sont utiliss dans des conditions de champ libre ce qui ncessite en tout tat de cause une mthode
permettant l'talonnage des microphones talons dans les mmes conditions d'environnement.
L'talonnage en champ libre des microphones par la mthode de la rciprocit a vocation
rpondre cette exigence. Il repose sur les mmes bases que l'talonnage en pression mais reste
nanmoins plus dlicat mettre en uvre en raison des faibles signaux reus. Les premiers travaux
traitant du principe de rciprocit pour des systmes lectroacoustiques ont ts publis dans les
annes 20 par W. Schottky [27]. Plus tard, dans les annes 40, en se basant sur les travaux de W.
Schottky, W. R. MacLean [28] propose une procdure permettant l'talonnage en champ libre des
microphones l'aide de trois transducteurs. Dans ces mmes annes, d'autres auteurs [29,30] ont
prsent le thorme du principe de rciprocit pour un systme lectroacoustique ainsi que
quelques notions thoriques tels que les centres acoustiques des microphones [29,31]. Il s'en est
suivi la publication des premiers rsultats exprimentaux par I. Rudnick et M. N. Stein [32]. Dans
les annes 80, plusieurs laboratoires de mtrologie ont travaill la mise en place de bancs
d'talonnages en champ libre de microphones par la mthode de la rciprocit. Ces travaux ont
abouti une premire comparaison cl [33] (comparaison appartenant un ensemble de
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0
8
comparaisons slectionnes par un Comit consultatif afin de vrifier les principales techniques et
mthodes du domaine) pour des microphones talons de types LS1P et LS2P, soit respectivement 1''
et ''. Les disparits importantes des rsultats d'talonnage constates entre certains laboratoires ont
alors mis en vidence la ncessit d'un filtrage des signaux lectriques mis en jeu [34,35].
Une deuxime comparaison cl (CCAUV.A-K4 [36]) concernant l'talonnage en champ libre des
microphones LS2P ('') par la mthode de la rciprocit est actuellement en cours. Dans le cadre de
cette comparaison cl, le LNE a cherch amliorer le dispositif de mesure ainsi que la chane de
traitement lie cette technique d'talonnage en champ libre. L'objet de ce chapitre est de prsenter
les bases thoriques sur lesquelles repose cette mthode d'talonnage, de prsenter le dispositif
exprimental mis en uvre au LNE, de rpertorier les difficults qui sont apparues, et enfin de
prsenter les solutions utilises pour contourner ces difficults, et les amliorations apportes.
3.2 Principe de rciprocit en champ libre
Le transducteur considr ici est un tube cylindrique (contenant notamment l'lectronique de
proximit) suppos semi-infini, dont la surface est dsigne par
S
t , tube ferm par une surface
vibrante
S
m , la somme
S=S
m
+S
t dsignant la surface totale du transducteur (figure 3.1). Le
domaine
D
est illimit et le fluide, suppos continu, homogne et isotrope, est caractris par sa
masse volumique
j
0
et la clrit du son
c
0 .
Figure 3.1. Tube semi-infini ferm par une surface vibrante ; schma et notations utilises.
Un point du milieu est dsign par le vecteur r . Les fluctuations de tension lectrique aux
bornes du transducteur sont notes
u
r et les fluctuations du courant lectrique le traversant
i
e . Les
quantits p( r ) et v( r ) dsignent respectivement la pression acoustique et la vitesse particulaire
au point
r du fluide,
v
n
( r )
dsigne plus prcisment le champ de vitesse normale de la surface S
du transducteur (nul sur
S
t ).
Les bases thoriques du principe de rciprocit ont t publies dans la rfrence [29]. De
manire gnrale, les quations de ce systme lectroacoustique s'crivent sous la forme suivante :
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
3.2. Principe de rciprocit en champ libre 51
p(r )=
S
z
0
(r , r
0
)v
n
( r
0
)dS
0
+h(r )i
e
, rS ,
u
r
=
S
h' ( r
0
)v
n
( r
0
) dS
0
+Z
b
i
e
,
(3.1.a)
(3.1.b)
o
z
0
(r , r
0
)
est une impdance acoustique non locale, h(r ) et h' (r ) des coefficients de couplage
lectromcaniques locaux et
Z
b l'impdance lectrique du transducteur. Ces quantits sont
indpendantes de p(r ) ,
v
n
(r )
,
u
r et
i
e , mais dpendent de la frquence.
Un transducteur est dit rciproque lorsqu'il conserve les mmes caractristiques lors d'une
utilisation en metteur ou en rcepteur. Un transducteur lectrostatique rpondant cette dfinition
est caractris par les relations suivantes [29,30,3] :
z
0
(r , r
0
)=z
0
( r
0,
r ) , r S ,
h(r)=h' (r ) , r S.
(3.2.a)
(3.2.b)
3.2.1 Fonctionnement du transducteur en metteur
Le domaine d'tude considr est un espace infini dans lequel est plac le tube (suppos semi-
infini) muni d'une membrane mettrice son extrmit. Sous forme diffrentielle le problme s'crit
de la manire suivante, pour une source harmonique ( e
j ot
) :
(A+k
0
2
) p(r )=0, r D ,
n
p(r )=j k
0
j
0
c
0
v
n
( r ) , r S
m
,
n
p(r )=0, r S
t
,
condition de Sommerfeld l'infini,
(3.3.a)
(3.3.b)
(3.3.c)
(3.3.d)
o
n reprsente la drive suivant la normale locale la surface S oriente vers l'extrieur du

domaine, et
k
0
=o/ c
0
le nombre d'onde.
Le champ de pression acoustique p(r ) dans le domaine
D
peut s'crire sous la forme intgrale
suivante [3]
p(r )=
D
G(r , r
0
) f
s
( r
0
) d D
0
+
S
|G(r , r
0
)
n
p( r
0
)p( r
0
)
n
G(r , r
0
) dS
0
,
rD
, (3.4)
o la fonction
f
s
( r
0
)
reprsente l'action de sources qui seraient rparties l'intrieur du domaine
D
(dans le cas prsent
f
s
( r
0
)=0
), et o la fonction
G(r , r
0
)
est une fonction de Green satisfaisant
l'quation
(A+k
0
2
)G(r , r
0
)=6(r , r
0
) ,
rD
, (3.5)
o
6(r , r
0
)
reprsente la distribution de Dirac.
En choisissant une fonction de Green satisfaisant la condition de Neumann sur la surface du
transducteur,
n
G(r , r
0
)=0
, rS , (3.6)
et en utilisant la condition aux frontires (3.3.b), l'expression du champ cr (3.4) se simplifie et
s'crit sous la forme
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
p(r )=j k
0
j
0
c
0
S
G(r , r
0
)v
n
( r
0
)dS
0
,
rD
. (3.7)
La vitesse normale sur la membrane du transducteur peut tre crite en fonction de l'intensit
i
e
le traversant en faisant usage des quations (3.1.a) et (3.7). Il vient alors
S
z
0
(r , r
0
) v
n
( r
0
) dS
0
+h(r )i
e
=j k
0
j
0
c
0
S
G(r , r
0
) v
n
( r
0
) dS
0
, rS , (3.8)
soit
h(r )i
e
=
S
|
z
0
(r , r
0
)+j k
0
j
0
c
0
G(r , r
0
)
v
n
( r
0
) dS
0
, rS . (3.9)
En posant,
K(r , r
0
)=z
0
(r , r
0
)+j k
0
j
0
c
0
G(r , r
0
)
, (3.10)
il est possible de montrer qu'il existe une fonction note {K( r
0,
r
0
' )}
1
[37] telle que d'aprs
l'quation (3.9)
v
n
( r
0
)=i
e
S
{ K( r
0,
r
0
' )}
1
h( r
0
' ) dS
0
'
,
r
0
S.
. (3.11)
On dfinit le rendement ponctuel en champ libre
R
ff
( r)
(indice ff pour free-field) du
transducteur qui le caractrise en mission par le rapport entre la pression p(r ) et l'intensit
i
e ,
soit
R
ff
( r)=
p(r )
i
e
,
rD
. (3.12)
En faisant usage des relations (3.7) et (3.11), cette quantit s'crit :
R
ff
( r)=j k
0
j
0
c
0
S

S
G(r , r
0
){ K( r
0
, r
0
' ) }
1
h( r
0
' ) dS
0
' dS
0
,
r D
. (3.13)
3.2.2 Fonctionnement du transducteur en rcepteur
Le milieu est prsent suppos contenir une source suffisamment loin d'un point d'observation
o est situ un transducteur rcepteur. Sous forme diffrentielle le problme s'crit :
(A+k
0
2
) p(r )=f
s
(r ), r D ,
n
p(r )=j k
0
j
0
c
0
v
n
( r ) , r S
m
,
n
p(r )=0, r S
t
,
condition de Sommerfeld l'infini,
(3.14.a)
(3.14.b)
(3.14.c)
(3.14.d)
o
f
s
(r )
est une fonction source extrieure au transducteur. Le champ de pression acoustique
p( r ) dans le domaine
D
peut s'crire sous la forme intgrale suivante
p(r )=
D
G(r , r
0
) f
s
( r
0
) d D
0
+
S
|G(r , r
0
)
n
p( r
0
)p( r
0
)
n
G(r , r
0
) dS
0
,
rD
. (3.15)
En choisissant la mme fonction de Green que prcdemment (3.5 et 3.6) et en utilisant la
condition aux frontires (3.14.b), l'expression du champ de pression (3.15) se simplifie et s'crit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
sous la forme,
p(r )=p
g
(r)j k
0
j
0
c
0
S
G(r , r
0
) v
n
( r
0
) dS
0
,
rD
, (3.16)
o l'intgrale double reprsente le champ de pression d au mouvement de la membrane du
rcepteur et o
p
g
(r )
reprsente l'intgrale triple de l'quation (3.15), somme du champ direct (en
l'absence du transducteur) et du champ diffract par la surface S du transducteur suppose
parfaitement rigide en tous points (
v
n
=0
), du fait du choix de la fonction de Green.
En faisant usage des quations (3.1.a) et (3.16) il vient
S
z
0
(r , r
0
)v
n
( r
0
) dS
0
+h(r )i
e
=p
g
(r )j k
0
j
0
c
0
S
G(r , r
0
)v
n
( r
0
)dS
0
, rS , (3.17)
soit
p
g
(r )h(r) i
e
=
S
K(r , r
0
)v
n
( r
0
)dS
0
, rS , (3.18)
avec K(r , r
0
)=z
0
( r , r
0
)+j k
0
j
0
c
0
G(r , r
0
) . La vitesse normale de la membrane en prsence
d'une source lointaine s'crit alors d'aprs l'quation (3.18) sous la forme [37] :
v
n
( r
0
)=
S
{K( r
0
, r
0
' )}
1
| p
g
( r
0
' )h( r
0
' )i
e
dS
0
'
,
r
0
S
. (3.19)
En faisant usage de l'quation (3.1.b), la tension aux bornes du transducteur s'crit alors
u
r
=Z
b
i
e
+
S

S
h' ( r
0
){K( r
0,
r
0
' )}
1
| p
g
( r
0
' )h( r
0
' ) i
e
dS
0
' dS
0
. (3.20)
On dfinit prsent l'efficacit ponctuelle du transducteur en champ libre
M
ff
(r )
qui le
caractrise en rception par le rapport entre la tension
u
r0 ses bornes en circuit ouvert (courant
i
e
nul) et la pression acoustique
p
0
(r )
qu'il y aurait en un point r si le transducteur tait absent du
milieu, soit
M
ff
(r )=
u
r0
p
0
( r)
. (3.21)
En circuit ouvert (
i
e
=0
), la tension aux bornes du transducteur s'crit d'aprs l'quation (3.17)
u
r0
=
S

S
h' ( r
0
){K( r
0,
r
0
' )}
1
p
g
( r
0
' ) dS
0
' dS
0
, (3.22)
o pour une source ponctuelle situe en r
s la pression
p
g
( r
0
' )
prend la forme
p
g
(r '
0
)=
D
G( r
0
' , r
0
) f
s
( r
0
) dD
0
=j k
0
j
0
c
0
Q
0
G( r
0
' , r
s
)
, (3.23)
o
Q
0 est le dbit volumique de la source. En l'absence du transducteur dans le milieu, le champ de
pression direct cr par cette source ponctuelle en un point quelconque r peut tre crit sous la
forme
p
0
(r )=
j k
0
j
0
c
0
Q
0
4 n
e
j k
0 r r
s
r r
s
. (3.24)
En faisant usage des relations (3.22, 3.23 et 3.24), l'efficacit ponctuelle en champ libre
M
ff
(r )

(Eq. 3.21) s'crit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
M
ff
(r )=4nr r
s
e
ik
0r r
s
S

S
h' ( r
0
) {K ( r
0
, r
0
' ) }
1
G( r
0
' , r
s
)dS
0
' dS
0
. (3.25)
Dans le cas particulier o l'efficacit ponctuelle en champ libre
M
ff
( r
c
)
est exprime au point
r
c , o
r
c reprsente la position du centre acoustique du transducteur en question (concept discute
au chapitre 4), cette quantit est communment nomme l'efficacit en champ libre du microphone
dfinie d'aprs la norme CEI 61094-3 [26] comme le quotient de la tension circuit ouvert du
microphone par la pression acoustique qui existerait l'emplacement du centre acoustique du
microphone, en l'absence de celui-ci .
3.2.3 Produit des efficacits en champ libre de deux microphones
On considre prsent deux microphones rciproques, chacun plac dans une tige cylindrique
semi-infinie, sur le mme axe, en supposant qu'ils ne se perturbent pas (ce qui n'est pas le cas dans
la ralit, cf. 3.3.2 [38]). Les positions des centres acoustiques des microphones sont notes
r
1
pour le microphones 1 et r
2 pour le microphone 2 (figure 3.2).
Figure 3.2. Etalonnage des microphones en champ libre par la mthode de la rciprocit ; schma et notations
utilises.
L'efficacit en champ libre du microphone 1 et son rendement en r
2 s'crivent d'aprs les
quations (3.25) et (3.13)
M
ff 1
( r
1
)=
u
r01
p
0
( r
1
)
=4n r
1
r
2
e
j k
0r
1
r
2
S

S
h' ( r
0
) { K( r
0
, r
0
' )}
1
G( r
0
' , r
2
) dS
0
' dS
0
,
R
ff 1
( r
2
)=
p( r
2
)
i
e1
=j k
0
j
0
c
0
S

S
G( r
2
, r
0
) { K( r
0
, r
0
' )}
1
h( r
0
' ) dS
0
' dS
0
.
(3.26.a)
(3.26.b)
En faisant usage de la relation de rciprocit des transducteurs (3.2.a) et de la relation de
rciprocit de la fonction de Green, d'aprs l'quation (3.10) il vient la proprit suivante
K( r
0
, r
0
' )=K( r
0
' , r
0
)
, (3.27)
et par suite, en utilisant la proprit (3.2.b), les quations (3.26.a et b) conduisent la relation
M
ff 1
( r
1
)
R
ff 1
( r
2
)
=
4n
r
1
r
2
e
j k
0 r
1
r
2
j k
0
j
0
c
0
=Y
T
( r
1
, r
2
) , (3.28)
o
Y
T
( r
1
, r
2
)
reprsente une admittance acoustique de transfert. Par analogie, pour le microphone
2, il vient la relation
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
M
ff 2
( r
2
)
R
ff 2
( r
1
)
=
4n
r
2
r
1
e
j k
0 r
2
r
1
j k
0
j
0
c
0
=Y
T
( r
2
, r
1
) . (3.29)
De plus, par dfinition du rendement
R
ff 1
( r
2
)
(Eq. 3.12) et de l'efficacit
M
ff 2
( r
2
)
(Eq. 3.21), il
vient
M
ff 2
( r
2
) R
ff 1
( r
2
)=
u
r02
p
0
( r
2
)
p( r
2
)
i
e1
. (3.30)
La pression
p( r
2
)
est la pression acoustique au point
r
2 sur le microphone rcepteur
(microphone 2, au niveau de son centre acoustique) mise par le microphone metteur (microphone
1) depuis son centre acoustique
r
1 (il est donc suppos ponctuel de telle sorte que la fonction de
Green (Eq. 1.7) est celle du champ libre), alors que la pression
p
0
( r
2
)
reprsente la pression
mesure au point
r
2 (position du centre acoustique du microphone 2) par le microphone rcepteur
en l'absence de celui-ci. Dans ces conditions particulires (metteur rduit son centre acoustique)
p
0
( r
2
)=p( r
2
)
, la relation (3.30) se simplifie et s'crit
M
ff 2
( r
2
) R
ff 1
( r
2
)=
u
r02
i
e1
=Z
E12
. (3.31)
o
Z
E 12 dsigne l'impdance lectrique de transfert, rapport de la tension mesure aux bornes du
microphone rcepteur en circuit ouvert sur le courant traversant le microphone metteur. En
inversant le rle des microphones, soit le microphone 1 en rcepteur et le microphone 2 en
metteur, par analogie, il vient la relation suivante
M
ff 1
( r
1
) R
ff 2
( r
1
)=
u
r01
i
e2
=Z
E21
. (3.32)
En utilisant les quations (3.28) et (3.31) ou les quations (3.27) et (3.32) il vient
M
ff 1
( r
1
) M
ff 2
( r
2
)=Y
T
( r
1
, r
2
) Z
E12
=Y
T
( r
2
, r
1
) Z
E 21 , (3.33)
o
Z
E 12
=Z
E21 puisque
Y
T
( r
1
, r
2
)=Y
T
( r
2
, r
1
)=
4n
r
1
r
2
e
j k
0 r
1
r
2
j k
0
j
0
c
0
. (3.34)
Un troisime microphone est prsent utilis, remplaant soit le microphone 1, soit le
microphone 2 (figure 3.2). La position de son centre acoustique est note r
3 . Lorsque ce
microphone est utilis uniquement en tant que rcepteur, par analogie avec les quations (3.31) et
(3.32), il vient
M
ff 3
( r
3
) R
ff 1
( r
3
)=
u
r0 3
i
e1
=Z
E 13
,
M
ff 3
( r
3
) R
ff 2
( r
3
)=
u
r03
i
e 2
=Z
E 23
.
(3.35.a)
(3.35.b)
Enfin, en reportant ces quations dans les relations (3.28) et (3.29) en considrant les rendements
R
ff 1
( r
3
)
et
R
ff 2
( r
3
)
il vient
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
M
ff 1
( r
1
) M
ff 3
( r
3
)=Z
E13
Y
T
( r
1
, r
3
)=Z
E13
4n r
1
r
3
e
j k
0 r
1
r
3
j k
0
j
0
c
0
,
M
ff 2
( r
2
) M
ff 3
( r
3
)=Z
E 23
Y
T
( r
2
, r
3
)=Z
E 23
4n r
2
r
3
e
j k
0 r
2
r
3
j k
0
j
0
c
0
.
(3.36.a)
(3.36.b)
Ainsi, en combinant les quations (3.33), (3.36.a) et (3.36.b), il est possible d'obtenir
individuellement l'efficacit en champ libre de chaque microphone partir des mesures des
impdances lectriques de transfert
Z
E12 ,
Z
E13 et
Z
E23 . A noter que les quations de rciprocit
des transducteurs (1.2.a et b) n'interviennent que dans la dfinition des quations (3.27), (3.28) et
(3.29), quations caractristiques des microphones rciproques 1 et 2. De ce fait, le troisime
microphone utilis uniquement en rcepteur n'est pas ncessairement rciproque.
Dans la pratique, il faut tenir compte des phnomnes dissipatifs, le produit des efficacits en
champ libre de deux microphones s'crit alors de manire gnrale
M
ff j
M
ff +
=Z
Ej+
Y
T j+
=Z
Ej+
2 d
j f j
0
e
j k
0
d
e
d
, (3.37)
o (j, +)=1,2,3 , o d est la distance entre les centres acoustiques des deux microphones tests, f
dsigne la frquence et o reprsente l'affaiblissement linique de propagation dans l'air.
3.3 Dispositif exprimental utilis au LNE et difficults de mesure
L'talonnage en champ libre des microphones par la mthode de la rciprocit ncessite de faire
usage d'un dispositif exprimental dont les imperfections doivent tre soigneusement prises en
compte et de disposer d'un environnement champ libre (salle anchoque). C'est l'objet du
paragraphe que de prsenter ce dispositif et de rpertorier les difficults.
3.3.1 Dispositif exprimental
Le dispositif exprimental utilis est dcrit sur la figure 3.3. Les microphones sont monts sur des
pramplificateurs adapts, le tout plac dans une salle anchoque. La chane de mesure se compose
des lments prsents ci-dessous.
Un analyseur vectoriel (1250 de Schlumberger) qui effectue les mesures ncessaires (voies
mettrice et rceptrice) et fournit le signal d'entre au microphone metteur grce un
gnrateur interne.
Un appareil de rciprocit (5998 de Brel & Kjr) conu originellement pour l'talonnage en
pression des microphones par la mthode de rciprocit. Bien qu'il soit conu pour le
conditionnement des voies mettrice et rceptrice, seule la voie mettrice est utilise
permettant ainsi de limiter les problmes de diaphonie entre voies, problmes discuts au
paragraphe suivant. Cet appareil, reli au pramplificateur (Type ZE 0796) du microphone
metteur, dispose d'un gnrateur interne de 200 V pour la polarisation de ce microphone, de
filtres passe-haut (1 ; 20 ; 100 Hz) et d'amplificateurs de gains rglables (0 50 dB) (cf.
Annexe F.1).
Un amplificateur gains rglables (-20 90 dB) de type Nexus (2690 Brel & Kjr)
fonctionnant sur batterie qui conditionne les signaux de la voie rceptrice. Cet appareil est reli
au pramplificateur du microphone rcepteur (Type 2673-W-001, pramplificateur faible
bruit conu pour une utilisation en champ libre et disposant d'un gain interne de +20 dB) ; il
t
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3.3. Dispositif exprimental utilis au LNE et difficults de mesure 57
dispose d'un gnrateur interne de 200 V pour la polarisation du microphone, de filtres passe-
bas (0,1 ; 20 Hz) et passe-haut (0,1 100 kHz) (cf. Annexe F.2).
Un boitier lectronique permettant une insertion de tension au microphone rcepteur (cf.
discours ci-aprs).
Un ordinateur pour le pilotage et le stockage des donnes. Le logiciel d'acquisition est ralis
en Visual Basic et enregistre les rsultats de mesure dans une feuille de calcul Excel.
Figure 3.3. Etalonnage des microphones en champ libre par la mthode de rciprocit ; dispositif exprimental.
L'impdance lectrique de transfert
Z
E
=u
r0
/ i
e entre les deux microphones, rapport de la tension
circuit ouvert
u
r0 aux bornes du microphone rcepteur sur le courant
i
e traversant le microphone
metteur est mesure comme suit : le courant
i
e est dduit de la mesure d'une tension
u
E
=i
e
/( j oC
ref
)
,
C
ref tant une capacit de rfrence prsente dans le pramplificateur du
microphone metteur et rgulirement talonne ; la tension circuit ouvert
u
r0 aux bornes du
microphone rcepteur n'est pas accessible par une simple mesure en raison des imperfections de
l'amplificateur utilis (capacits parasites et donc impdance d'entre non infinie) et ncessite
l'usage de la technique dite de la tension insre , technique dcrite dans la norme CEI 1094-2
[8] et fonde sur un certain nombre d'hypothses discutes et vrifies dans la rfrence
[14, 1.2.3].
La mesure de l'impdance lectrique de transfert s'effectue en deux temps, la mthode est dcrite
dans la rfrence [14, 2.4] et se rsume ainsi :
dans un premier temps, une tension lectrique
u
g est applique sur l'lectrode arrire du
microphone metteur gnrant ainsi une pression acoustique, qui agissant sur la membrane du
microphone rcepteur gnre une tension
u
r0 ces bornes. Deux tensions
u
A et
u
B sont ainsi
releves aux sorties de l'appareil de rciprocit et de l'amplificateur Nexus. La chane de
mesure est dcrite sur la figure 3.4, les deux microphones tant reprsents par leur schma
quivalent de Thvenin (impdances lectriques
Z
Thr et
Z
The ).
Les tensions
u
A et
u
B s'expriment en fonction de
i
e et
u
r0 par les relations
t
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8
u
B
=h
B
F
B
g
B
u=h
B
F
B
g
B
i
e
j o(C
ref
+C
pB
)
, (3.38)
et
u
A
=h
A
F
A
g
A
u
r
=h
A
F
A
g
A
1/( j oC
pA
)
Z
Thr
+1/( j oC
pA
)
u
r0
, (3.39)
o les quantits
h
A , B ,
g
A , B ,
F
A , B ,
C
PA , B dsignent les gains, filtrages, et capacits parasites.
Figure 3.4. Mesure de l'impdance lectrique de transfert : premire partie.
Dans un deuxime temps (figure 3.5), les deux microphones sont excits lectriquement par
une mme tension de rfrence
u
ref . A noter que pour la mesure des tensions, dans la pratique
l'amplificateur Nexus n'est pas prvu pour l'insertion de tension : un botier permettant cette
opration est ajout entre l'amplificateur Nexus et le pramplificateur du microphone rcepteur.
Les tensions
u
A
'
et
u
B
'
s'expriment en fonction de
u
ref par les relations
u
B
' =h
B
F
B
g
B
u' =h
B
F
B
g
B
C
ref
C
ref
+C
pB
u
ref
, (3.40)
et
u
A
' =h
A
F
A
g
A
u
r
' =h
A
F
A
g
A
1/( j oC
pA
)
Z
Thr
+1/( j oC
pA
)
u
ref
. (3.41)
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8
Figure 3.5. Mesure de l'impdance lectrique de transfert : deuxime partie.
En faisant le rapport des relations (1.40, 1.38) et (1.39, 1.41), il vient
u
B
'
u
B
=
j oC
ref
i
e
u
ref
et
u
A
u
A
'
=
u
r0
u
ref
. (3.42)
L'impdance lectrique de transfert s'crit alors
Z
E
=
u
r0
i
e
=
1
j oC
ref
u
A
u
B
u
B
'
u
A
'
. (3.43)
L'impdance lectrique de transfert se dduit ainsi des mesures des rapports de tensions
u
A
/ u
B et
u
B
' / u
A
'
, la valeur de la capacit
C
ref tant connue (dans le cas prsent
C
ref
=4744 pF
).
3.3.2 Sources de perturbations
Idalement, l'talonnage en champ libre des microphones par la mthode de la rciprocit exige
un environnement parfaitement anchoque et un matriel de mesure de qualit. En ralit, les
dimensions finies de la chambre anchoque, les faibles niveaux sonores mis en jeu, la prsence de
matriels (les microphones, supports ...) dans l'environnement sont des sources de perturbations lors
de la mesure de l'impdance lectrique de transfert qu'il convient de prendre en compte.
Les sources de perturbations peuvent tre classes en trois types :
diaphonie entre les voies mettrice et rceptrice,
chos sur des objets,
bruits lectrique et acoustique.
La diaphonie est un phnomne d'interfrence d'un signal sur un autre. Ce phnomne peut tre
produit de plusieurs faons : par couplage inductif, un courant circulant dans un fil gnre un champ
magntique autour de celui-ci qui induit une tension dans les boucles voisines ; par couplage
capacitif, les variations de tension entre un conducteur et son environnement gnrent un champ
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lectrique variable, celui-ci crant son tour un courant dans les conducteurs proches ; il peut
galement tre d des impdances communes aux deux voies (boucles de masses). Pour le
problme pos, la diaphonie entre les voies mettrice et rceptrice est attnue en sparant autant
qu'il se peut ces deux voies. Ainsi, seule la voie mettrice de l'appareil de rciprocit (5998 de Brel
& Kjr, cf. Annexe F.1) est utilise, la voie rceptrice est conditionne par un amplificateur de type
Nexus, fonctionnant sur batterie afin de minimiser les perturbations de mode commun apportes par
le secteur des deux appareils. Les deux voies sont runies l'entre de l'analyseur vectoriel qui
effectue les mesures des rapports de tensions entre voies (figure 3.3).
Compte tenu des contraintes matrielles qui s'imposent, les chos sur des objets sont nombreux
avec des consquences plus ou moins importantes selon les cas. L'influence des perturbations se fait
sentir la fois sur la tension mesure aux bornes du microphone rcepteur et dans une moindre
mesure sur le courant alimentant le microphone metteur [34]. L'impact de ces chos dpend de la
distance entre l'objet responsable de l'cho et les transducteurs. Ainsi, compte tenu de la loi de
dcroissance en 1/ r de l'amplitude de la pression acoustique, l'influence de l'cho est d'autant plus
faible que l'objet en question est loign des deux transducteurs. Ces perturbations se rpercutent
sur l'impdance lectrique de transfert
Z
E mesure en fonction de la frquence sous forme
d'oscillations priodiques, leurs frquences tant lies au chemin acoustique parcouru. Leurs
amplitudes dpendent quant elles de la puissance acoustique mise par la source, de la forme et de
la surface de l'objet responsable de l'cho.
Les parois de la salle anchoque.
La salle anchoque disponible au LNE est particulirement bien adapte pour ce projet
puisqu'elle possde un volume important (500 m
3
utile) et une frquence de coupure de 70 Hz.
Ainsi, les parois prsentent une bonne absorption dans la gamme de frquence [1 kHz; 40 kHz]
et sont suffisamment loignes des deux microphones (minimum 3 m).
Les supports des microphones.
Le support du microphone metteur est une tige de diamtre sensiblement gal celui du
microphone et du pramplificateur, cette tige est directement encastre dans une des parois de
la salle anchoque se rapprochant ainsi des conditions idales (tige semi-infinie)(figure 3.6).
Le support du microphone rcepteur est un dispositif plus complexe (figure 3.6). Le
microphone est plac l'extrmit d'une tige (diamtre sensiblement gal celui du
microphone et du pramplificateur) soutenue par un dispositif permettant un rglage vertical et
horizontal. Ce dispositif est compos d'lments complexes susceptibles d'engendrer des chos
perturbateurs. Ils sont donc loigns et placs environ 2 m du microphone rcepteur.
Les perturbation d'un microphone par l'autre [38].
Les deux microphones sont placs l'un en face de l'autre, il se cr alors une succession
d'chos, les premiers tant les plus perturbateurs. Cette perturbation est d'autant plus
importante que les deux microphones sont proches l'un de l'autre. La solution consiste donc
loigner les deux microphones ce qui implique un signal reu plus faible, ce qui n'est pas sans
consquence.
Les autres objets.
Certains lments du dispositif exprimental doivent tre placs dans l'environnement de
mesure (thermomtre, hydromtre, cbles). Pour les raisons voques ci-aprs, l'appareil de
rciprocit et l'amplificateur Nexus sont galement placs dans la salle anchoque. Tous ces
lments sont donc loigns autant que faire se peut des deux microphones (minimum 3 m).
Compte tenu des faibles niveaux sonores mis en jeu (notamment en basses frquences), les bruits
lectrique et acoustique sont des sources de perturbations importantes. Le rapport signal sur bruit
peut tre amlior de trois faons diffrentes : en effectuant les mesures en frquences pures
(mthode harmonique), en rapprochant les deux microphones l'un de l'autre et en utilisant un
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quipement lectrique de qualit.
Figure 3.6. Dispositif exprimental utilis pour la mesure de l'impdance lectrique de transfert Z
E
.
Ainsi, le dispositif de mesure engendre des perturbations de natures diverses et les solutions
voques ci-dessus afin d'en limiter les effets sont parfois contradictoires. Ceci implique des
concessions dans les choix qui doivent tre faits.
Les impdances lectriques de transfert
Z
E mesures rsultent de la superposition d'un signal
principal (champ direct entre les microphones metteur et rcepteur) et de perturbations de natures
diverses. Ces perturbations, excepts les bruits lectrique et acoustique sont caractrises par des
chemins acoustiques diffrents. En s'appuyant sur cette particularit, il est possible d'isoler le signal
principal (chemin acoustique gal la distance entre les deux microphones) des signaux
perturbateurs. Ainsi, il est prfrable de privilgier l'attnuation des bruits lectrique et acoustique
au dtriment des autres sources de perturbations, sachant que celles-ci peuvent tre traites
ultrieurement. Pour ces raisons, le compromis suivant a t choisi : les deux microphones sont
espacs des distances comprises entre 25 et 35 cm, les amplificateurs sont placs au plus proche
des microphones (environ 3 m) dans la salle anchoque permettant ainsi de limiter la longueur des
cbles entre les amplificateurs et les pramplificateurs (cbles de 3 m), cbles spcifiques
plusieurs voies (alimentation, polarisation, signal) de moins bonne qualit que les cbles coaxiaux
dans lesquels les signaux essentiels sont extrmement faibles (quelques mV) et donc assujettis aux
perturbations lectriques.
3.4 Filtrage des fonctions de transfert mesures
La premire comparaison cl de l'talonnage en champ libre des microphones par la mthode de
la rciprocit [33] a mis en vidence la ncessit d'une mthode de filtrage permettant d'apporter des
solutions aux problmes voqus dans le paragraphe prcdent. Une mthode classique de filtrage
applique au problme en question est dfinie dans les rfrences [34,35]. C'est l'objet du
paragraphe que de prsenter et d'optimiser cette mthode de filtrage.
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3.4. Filtrage des fonctions de transfert mesures 62
3.4.1 Principes gnraux
Z
E
( f )
(Eq. 3.43) mesure en amplitude et en phase en
fonction de la frquence contient l'information recherche (champ direct entre les microphones
metteur et rcepteur) mais galement l'information parasite lie aux perturbations cites dans le
paragraphe 3.3.2. Ces signaux (excepts ceux lis aux bruits lectrique et acoustique), caractriss
par divers chemins acoustiques, se traduisent dans la rponse impulsionnelle du systme
(Transforme de Fourier Inverse (TF
-1
) de l'impdance lectrique de transfert
Z
E
( f )
dfinie en
entre par le courant
i
e alimentant le microphone metteur et en sortie par la tension
u
r0 aux
bornes du microphone rcepteur) par des impulsions caractrises par des retards fonctions des
chemins acoustiques parcourus. En faisant usage des mthodes classiques de filtrage, il est alors
possible d'isoler le signal principal des chos perturbateurs.
i. Filtrage dans le domaine temporel, mthode prcdemment en usage [35]
Figure 3.7. Procdure de filtrage d'une impdance lectrique de transfert (complexe) dans le domaine temporel (seul
les modules des impdances lectriques de transfert sont reprsents).
La mthode classique de filtrage utilise prcdemment pour le problme en question, dcrite
dans la rfrence [35] et schmatise sur la figure 3.7 se rsume ainsi :
l'impdance lectrique de transfert
Z
Em
( f )
est mesure en module et en phase un pas
frquentiel
A f
dans une bande frquentielle limite
| f
min
; f
max
(
f
min tant impose par la
cohrence des signaux mis et reus, compte tenu du faible rapport signal sur bruit dans les
basses frquences, pour des microphones '' espacs de 30 cm
f
min
1kHz
),
l'impdance lectrique de transfert mesure est ensuite complte dans la bande frquentielle
|0; f
min
par des donnes idales extrapoles ou pouvant tre extraites d'talonnages en

pression effectus par la mthode de la rciprocit (cf. paragraphe 3.4.2) ; par ailleurs, un filtre
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passe-bas est appliqu l'impdance lectrique de transfert mesure de manire l'attnuer
artificiellement dans les hautes frquences (cette dernire opration ayant pour but de limiter
les effets indsirables d'oscillations de la TF
-1
d'une fentre rectangulaire) ; puis, l'impdance
lectrique de transfert obtenue est prolonge en frquences ngatives avec la proprit
Z
Ec
(f )=Z
Ec
*
( f ) (l'astrisque dsignant le complexe conjugu), il vient alors l'impdance
lectrique de transfert
Z
Ec
( f )
,
la troisime tape consiste calculer la rponse impulsionnelle
z
E
( t )=TF
1
|
Z
Ec
( f )
(
z
E
(t )
tant relle compte tenu de l'opration prcdente), puis isoler l'impulsion principale l'aide
d'une fentre temporelle w(t ) adapte,
enfin, l'impdance lectrique de transfert filtre
Z
E f
( f )
est obtenue en calculant la
Transforme de Fourier (TF) du produit
z
E
(t) w( t)
.
ii. Filtrage dans le domaine frquentiel, mthode propose dans le prsent travail
Le thorme de la convolution, soit la relation
TF
|
z
E
( t ) w(t )
=Z
Ec
( f )W ( f )
, (3.44)
o W( f ) et
Z
Ec
( f )
sont respectivement les TF de w(t ) et
z
E
(t)
montre que la procdure de
filtrage dcrite prcdemment peut tre faite par convolution l'aide d'une fentre spectrale W( f )
rigoureusement choisie. Dans un espace frquentiel discrtis, l'opration de convolution s'crit
Z
Ef
( f
n
)=

k=N/ 2
N /2
Z
Ec
( f
nk
) W( f
k
) . (3.45)
o la fentre spectrale
W ( f
k
)
(o
f
k
=k A f
) est de support fini N+1 (nombre d'chantillons
frquentiels), ncessairement impair et symtrique par rapport
W ( f
k=0
)
de manire ne pas
introduire de dcalages en frquence sur la fonction filtre. La figure 3.8 schmatise cette opration
de filtrage d'une fonction discrte quelconque avec une fentre spectrale
W ( f
k
)
(support N+1=9
).
Figure 3.8. Procdure de filtrage dans le domaine frquentiel : convolution d'une fonction de transfert (ventuellement
complexe, points bleus) par une fentre spectrale (points noirs) de manire obtenir une fonction de transfert filtre
(points rouges).
On note que l'obtention d'un point de la fonction de transfert filtre (celui de frquence
f
n par
exemple) ne ncessite que la connaissance des seuls points de frquences
f
nN / 2
f
n+N/ 2
de la
fonction de transfert filtrer du fait que le support de la fentre spectrale est fini. Ainsi, le filtrage
direct par convolution peut tre effectu directement sur l'impdance lectrique de transfert mesure
Z
Em
( f
n
)
sans aucune opration pralable (telles celles prsentes au paragraphe i prcdent). Aussi,
le contrle des effets de bords aux extrmits de la bande frquentielle est plus simple du fait que la
connaissance de l'ordre de la fentre spectrale
W ( f
k
)
permet d'anticiper les frquences extrmes
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f
min et
f
max mesurer. Enfin, cette mthode de filtrage est particulirement intressante lorsque
par exemple l'talonnage est demand en 1/3 d'octave (ce qui est gnralement le cas, aux
frquences dites normales [39]), puisque le nombre d'chantillons de
Z
Em
( f
n
)
mesurer peut tre
limit aux N+1 chantillons indispensables au filtrage autour des points frquentiels talonner,
comme schmatis sur la figure 3.9. Aussi, en prolongeant ce raisonnement, un talonnage
frquence unique peut tre imagin.
Figure 3.9. Procdure de filtrage dans le domaine frquentiel : convolution de la fonction de transfert (ventuellement
complexe, points bleus) par une fentre spectrale (points noirs) de manire obtenir une fonction de transfert filtre en
1/3 d'octave (points rouges).
3.4.2 Pr-traitement de la fonction de transfert
La bande frquentielle retenue pour l'talonnage des microphones '' dans le cadre de cette tude
est la suivante : [1 kHz ; 31,5 kHz]. L'talonnage, et par consquent, le filtrage des mesures 1 kHz
implique des mesures des impdances lectriques de transfert aux frquences infrieures 1 kHz.
Or, compte tenu du faible rapport signal sur bruit en basses frquences, ces mesures ne peuvent tre
effectues. Par consquent, les donnes manquantes sont obtenues partir d'talonnages en pression
effectus par la mthode de la rciprocit suivant la mthode ci-dessous.
L'efficacit d'un microphone en champ libre
M
ff est lie son efficacit en pression
M
P
par la
relation [26]
M
ff
=M
P
S ( f , 0)
Z
a
Z
a
+Z
a , r
=M
P
A
ff
, (3.46)
o
Z
a est l'impdance acoustique du microphone,
Z
a , r l'impdance de rayonnement et S( f , 0) le
facteur de diffraction fonction de la frquence et de l'angle d'incidence. Les coefficients
A
ff
liant
l'efficacit en champ libre
M
ff l'efficacit en pression
M
P
sont nomms coefficients champ
libre et dpendent entre autres de la temprature statique. Le document technique CEI 61094-7
[40] fournit un polynme issu de diverses exprimentations permettant le calcul de leur module en
fonction de la temprature. En ce qui concerne les phases, pour des microphones de type LS2P
(''), seule notre connaissance la rfrence [41] prsente sous forme graphique des donnes
exprimentales. En basses frquences (longueur d'onde petite devant la dimension transversale du
microphone), l'impdance de rayonnement est trs petite devant l'impdance acoustique du
microphone et le facteur de diffraction tend vers 1. De ce fait, les coefficients champ libre
A
ff

tendent vers 1 en module et sont faibles en phase (cf. tableau 3.1), les efficacits en champ libre et
en pression sont donc sensiblement gales.
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8
Frquence (Hz) 400 500 630 800 1000
Module (dB) 7.10
-4
0,006 0,015 0,031 0,056
Phase (degr) 0,21 0,26 0,33 0,41 0,52
Tableau 3.1. Corrections champ libre A
ff
en module (en dB, 20log
10(
A
ff ) ) et en phase (en degr) 23C en
incidence normale pour un microphone LS2P (B&K Type 4180) [40,41].
Les efficacits en champs libre
M
ff se dduisent ainsi des efficacits en pression
M
P pour les
frquences infrieures 1 kHz en apportant ventuellement la correction
A
ff
de manire
minimiser l'erreur. L'impdance lectrique de transfert en basses frquences s'crit d'aprs la
relation (3.37)
Z
Ebf j+
=( M
Pj
M
P+
A
ff
2
)
j j
j+
f
2d
e
j k
j+
d
e
j+
d
, f 1kHz , (3.47)
o d dsigne la distance entre les centres acoustiques des deux microphones (numrots j et + ),
o
j
j + ,
k
j+ et
j+ dsignent respectivement la masse volumique, le nombre d'onde et

l'affaiblissement linique de l'air valus en fonction des conditions d'environnements lors des
exprimentations [26,42] (temprature statique
T
j+ , pression statique
P
j+ et humidit relative de
l'air
HR
j+ ). Cependant, il n'existe actuellement aucune donne disponible de centres acoustiques
pour les microphones de type LS2P ('') aux frquences infrieures 1 kHz. Cette contrainte peut
tre leve en travaillant directement sur le produit des efficacits en champ libre de deux
microphones. Aux basses frquences (infrieures 1 kHz ), ce produit est dduit d'un talonnage en
pression et pour les frquences suprieures, il est dduit de la mesure en champ libre de l'impdance
lectrique de transfert
Z
Emj+
( f )
. Le produit des efficacits en champ libre de deux microphones
s'crit d'aprs l'quation (3.37) sous la forme
M
ff j
M
ff +
=M
Pj
M
P+
A
ff
2
, f 1kHz ,
M
ff j
M
ff +
=
2(d
m
d
j
d
+
)
j j
j+
f
Z
Emj+
e
j k
j+
( d
m
d
j
d
+
)
e
j+
( d
m
d
j
d
+
)
, f 1kHz ,
(3.48.a)
(3.48.b)
o
d
m dsigne la distance entre les membranes des deux microphones et
d
j, +
les positions des
centres acoustiques des microphones metteur et rcepteur (par rapport leurs membranes),
fonctions de la frquence et comptes positives devant les membranes des microphones (cf.
chapitre 4).
Il n'en reste pas moins que, pour que la transition entre les deux domaines frquentiels soit
satisfaisante (Eqs. 3.48.a et b), les conditions d'environnement (pression statique, temprature
statique et humidit) doivent tre sensiblement les mmes pour les mesures extraites de l'talonnage
en pression et celles effectues en champ libre. En pratique, cela est rarement le cas et leurs
variations influent sur les proprits acoustiques des microphones, ncessitant ainsi des coefficients
correctifs. La norme CEI 61094-3 [26] recommande de ramener les rsultats d'un talonnage dans
les conditions d'environnement de rfrence, soit une pression statique
P
0
=1013,25hPa
, une
temprature statique
T
0
=23C
et un taux d'humidit relatif
HR
0
=50 %
. La rfrence [20] prsente
de faon thorique et exprimentale les effets des variations de pression statique et de temprature
statique sur les efficacits en pression des microphones LS1P Type B&K 4160 (1'') et LS2P Type
B&K 4180 (''). Le document technique [43], plus rcent, propose, pour plusieurs types de
microphones et en fonction de leurs frquences de rsonance
f
0 , des polynmes permettant le
calcul en module et en phase en fonction de la frquence f des facteurs correctifs nots 6
P
P
et 6
T
P

corrigeant respectivement les effets des variations de pression statique et de temprature statique sur
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
les efficacits en pression
M
p . A noter que, actuellement, aucune tude n'a mis en vidence
l'influence notable des variations d'humidit courantes sur l'efficacit des microphones ; ces
variations ne sont donc pas prises en compte. Les efficacits en pression
M
P corriges des
variations de temprature et de pression statiques s'crivent donc sous la forme
M
P
( T
0
)=6
T
P
( f , f
0
, T
0
T
j+
) M
P
(T
j +
) ,
M
P
( P
0
)=6
P
P
( f , f
0
, P
0
P
j+
) M
P
( P
j+
) .
(3.49.a)
(3.49.b)
Les facteurs correctifs 6
P
P
et 6
T
P
connus [20, 43] sont prvus pour corriger les efficacits en
pression
M
P et a priori, ils ne s'appliquent pas aux efficacits en champ libre
M
ff . Ces deux
efficacits (
M
P et
M
ff ) sont lies entre elles par la relation (3.46) et la rfrence [44, 4] montre
que la contribution de la charge acoustique
Z
a
/( Z
a
+Z
a , r
)
sur les corrections champ libre
A
ff
est
trs petite compare la contribution du facteur de diffraction S( f , 0) . Ainsi, les effets des
variations de pression et de temprature statiques sur la charge acoustique
Z
a
/( Z
a
+Z
a , r
)
sont
ignors. Le facteur de diffraction S( f , 0) est peu sensible aux variations de pression statique mais
l'est en revanche aux variations de temprature statique puisqu'elles influent directement sur la
clrit du son et donc sur la longueur d'onde. En consquence, le facteur correctif not 6
P
ff

corrigeant les effets des variations de pression statique sur les efficacits en champ libre
M
ff est le
mme que celui corrigeant les effets de ces mmes variations sur les efficacits en pression
M
P ,
soit
6
P
ff
=6
P
P
. (3.50)
D'autre part, en utilisant les relations (3.46) et (3.49.a) il vient
M
ff
( T
0
)
M
ff
(T
j+
)
=6
T
P
( f , f
0
, T
0
T
j+
)
A
ff
( T
0
)
A
ff
(T
j+
)
. (3.51)
Par suite, le facteur correctif not 6
T
ff
corrigeant l'effet des variations de temprature statique sur
les efficacits en champ libre
M
ff s'crit
6
T
ff
( f , f
0
, T
0
T
j+
)=6
T
P
( f , f
0
, T
0
T
j+
)
A
ff
(T
0
)
A
ff
( T
j+
)
. (3.52)
Finalement, le systme d'quations (3.48) dfinissant le produit des efficacits en champ libre de
deux microphones pour une large bande frquentielle s'crit dans les conditions d'environnement de
rfrence
M
ff j
M
ff +
=M
P j
M
P +
A
ff
2
, f 1kHz ,
M
ff j
M
ff +
=
2( d
m
d
j
d
+
)
j j
j+
f
Z
Emj+
e
ik
j+
( d
m
d
j
d
+
)
e
j+
( d
m
d
j
d
+
)

. 6
T
ff
( f , f
0j
, AT
j+
) 6
P
ff
( f , f
0j
, AP
j+
)6
T
ff
( f , f
0 +
, AT
j+
)6
P
ff
( f , f
0 +
, AP
j+
) , f 1kHz ,

(3.53.a)
(3.53.b)
o
f
0j , +
sont les frquences de rsonances des microphones metteur et rcepteur dduites
d'exprimentations [14, 2], o
AT
j+
=T
0
T
j+
et
AP
j+
=P
0
P
j+
reprsentent respectivement les
variations de temprature et de pression statique entre les conditions d'environnement de rfrence
et exprimentales en champ libre et o les efficacits en pression
M
P j , +
sont donnes dans les
conditions d'environnement de rfrence.
La figure 3.10 reprsente un exemple du produit des efficacits en champ libre de deux
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
microphones LS2P ('') obtenu exprimentalement en champ libre (trait plein) dans la gamme
frquentielle [1 kHz ; 33,5 kHz] et partir d'un talonnage en pression par la mthode de la
rciprocit (trait discontinu) pour les basses frquences. Comme le laisse apparatre cette figure, la
transition entre les deux types de donnes est imparfaite en raison des oscillations de la courbe issue
des mesures en champ libre, oscillations dues aux perturbations voques au paragraphe 3.3.2.
Figure 3.10. Produit des efficacits en champ libre de deux microphones obtenu partir de mesures effectues dans un
environnement champ libre (trait plein) et estim partir d'un talonnage en pression par la mthode de la rciprocit
(trait discontinu) .
3.4.3 Synthse de la fentre de filtrage
La performance du filtrage est troitement lie au choix de la fentre de filtrage spectrale
W ( f
k
)
. Ce choix doit tre fait en fonction des perturbations supprimer, ce qui ncessite une tude
pralable de l'influence relle du dispositif de mesure sur la fonction de transfert (produit des
efficacits en champ libre de deux microphones, Eqs. (3.53.a et b)).
i. Identification des perturbations
L'valuation de l'influence du dispositif de mesure sur le produit des efficacits dfini par les
quations (3.53.a) et (3.53.b) est ralise en calculant sa TF
-1
. La figure 3.11 reprsente en fonction
de l'espace
c
0
t
la TF
-1
d'un produit d'efficacits
M
ff j
M
ff +
obtenu pour un couple de microphones
LS2P ('') espacs de 30 cm, l'impdance lectrique de transfert
Z
Emj+
( f
n
)
ayant t mesure un
pas frquentiel
A f =50 Hz
. A noter que la discrtisation de l'espace frquentiel pour
consquence par TF
-1
la priodisation de l'espace temporel avec une priode
T=1/ A f
, soit
T=20 ms (
c
0
T6,92 m
) . Cette priodisation doit tre prise en considration afin d'anticiper les
ventuels problmes de repliement d'chos (cf. discours ci-aprs). Le pic principal, correspondant
au champ direct entre les microphones metteur et rcepteur est centr autour de
c
0
t =0m
, ceci en
raison de la multiplication par e
ik
0
(d
m
d
1
d
2
)
effectue dans l'quation (3.53.b), sans quoi, le pic
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
principal serait centr autour de
c
0
t =0,3m
quivalent la distance entre les deux microphones
tests.
Les figures 3.12.a, b et c reprsentent les TF
-1
de trois produits d'efficacits
M
ff j
M
ff +
obtenus
pour trois distances entre microphones, traces de manire plus prcise en dilatant l'chelle verticale
permettant ainsi l'observation des chos lis aux perturbations. La diaphonie est dcale par rapport
au pic principal d'un facteur
c
0
t
gal la distance en module entre les microphones. Le premier
cho sur le microphone metteur est quant lui dcal par rapport au pic principal d'un facteur
c
0
t

gal 2 fois la distance entre les microphones. Les chos dus aux supports des microphones et
autres appareillages sont visibles au del de
c
0
t =2 m
, un des chos est plus important : il
correspond une pice du systme de fixation du microphone rcepteur situ dans le prolongement
de la tige de support environ 1 m du microphone rcepteur. Enfin, un dernier cho est visible
c
0
t 0,3m
correspondant une source de perturbation situe environ 15 cm du microphone
rcepteur. Il s'agit probablement d'une perturbation lie une discontinuit de la tige supportant le
microphone rcepteur (discontinuit entre le support du pramplificateur et la tige). Cette
perturbation a t nglige au dpart et compte tenu du dlai impos par le protocole de la
comparaison cl, ce dfaut n'a pas pu tre corrig. Conformment aux attentes, les figures montrent
galement qu' signal gal, le bruit est plus important lorsque les deux microphones sont loigns.
Ceci explique le masquage par le bruit total de certains chos perturbateurs voqus prcdemment
lorsque les microphones sont espacs de 35 cm.
Figure 3.11. TF
-1
(amplitude normalise) du produit des efficacits en champ libre de deux microphones LS2P ('')
espacs de 30 cm.
Il est noter que, a priori, la caractrisation de certains chos dus aux parois de la salle
anchoque ncessite un pas frquentiel d'chantillonnage
A f
plus petit que celui choisi ( 50 Hz ).
En effet, la priodisation de l'espace temporel par TF
-1
(
c
0
T 6.98 m
) a pour consquence le
repliement de certains chos, le danger tant alors qu'un cho de paroi soit confondu avec le pic
principal et ne soit pas filtr. Dans le cas prsent, une tude plus approfondie permet de lever cette
ambigut. La premire paroi de la salle est situe environ 3 m des deux microphones (paroi
parallle l'axe des microphones) ce qui correspond un chemin acoustique environ gal 6 m en
prenant en compte les dispositions des deux microphones dans la salle (pas de repliement dans le
cas prsent). Les figures 3.12.a, b et c devraient donc prsenter un cho
c
0
t 0,98m
, ce qui n'est
pas le cas, montrant ainsi une bonne attnuation des parois de la salle anchoque. Un cas plus
particulier peut tre tudi : il s'agit de la porte de la salle anchoque, constitue de pices
mcaniques plus imposantes et pouvant introduire des perturbations plus importantes. La porte est
situe environ 5 m du microphone rcepteur. Compte tenu de la disposition des microphones dans
la salle (porte perpendiculaire l'axe des microphones), le chemin acoustique parcouru est de
environ 10,3 m ( 5 cm selon les configurations). Dans le cas prsent, l'cho ne peut tre visible
sur les figures 3.12.a, b et c que par repliement
c
0
t =10,3| 6,98=3,32 m
(5 cm selon les
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
configurations) ce qui garantit quoi qu'il en soit un filtrage possible. Ces figures montrent quelques
chos faibles autour du facteur
c
0
t
en question, mais non ncessairement attribuables la porte de
la salle anchoque (supports, amplificateurs).
Ainsi, le pas frquentiel d'chantillonnage
A f =50 Hz
choisi est parfaitement adapt au
problme en question, d'une part parce que les chos de parois sont ngligeables compte tenu des
distances qui sparent les microphones des parois, d'autre part parce que la disposition des
microphones dans la salle a t choisie de manire carter tout repliement d'chos autour du pic
principal pour les lments ou il subsiste un doute (porte de la salle anchoque). Enfin, ce choix est
d'autant plus justifi que le protocole impos par la comparaison cl CCAUV.A-K4 [36] prvoit
l'talonnage des microphones aux frquences dites normales dfinis dans la norme ISO 266
[39], toutes multiples de 50 Hz.
Figure 3.12. TF
-1
(amplitude normalise) du produit des efficacits en champ libre de deux microphones LS2P ('') :
espacs de 25 (a), 30 (b) et 35 cm (c).
ii. Synthse de la fentre de filtrage
L'tude des chos perturbateurs relate au-dessus permet prsent le calcul d'une fentre de
filtrage adapte au problme. Le principe gnral consiste dfinir une fentre dans l'espace
temporel isolant le pic principal des chos perturbateurs.
Dans la littrature du domaine [34,35,44], la synthse d'une telle fentre est effectue en utilisant
la mthode classique dite mthode de la fentre . Le filtre temporel
w(t )
est cr l'aide d'une
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
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o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
fonction de priode T=1/A f , par exemple une fentre rectangulaire, Hanning, Tukey (fentre
recommande dans la rfrence [35]) ou autres. Il en rsulte une fentre spectrale
W ( f
k
)
(obtenue
par TF de la fentre temporelle
w(t )
) de support infini, non adapte au filtrage d'une fonction de
transfert dfinie dans une bande frquentielle limite. Une solution consiste tronquer cette fentre
spectrale idale
W ( f
k
)
et de ne garder que la partie centrale qui comprend les valeurs les plus
grandes. Nanmoins, cette opration a pour consquence l'introduction d'oscillations sur le gain du
filtre temporel w(t ) connues sous le nom de phnomne de Gibbs. L'Annexe G.1 prsente plus en
dtails ces observations.
La mthode retenue ici pour la synthse de la fentre de filtrage est une mthode d'optimisation.
La fentre spectrale
W ( f
k
)
est dtermine de manire optimale en respectant le gabarit d'un filtre
temporel l'aide d'une mthode itrative. L'algorithme classique de Parks-McClellan [45,46], aussi
connu sous le nom de Remez rpond ces exigences. Conu pour la synthse de filtre Rponse
Impulsionnelle Finie (RIF), un gabarit est dfini dans l'espace frquentiel, la mthode recherche
alors itrativement les paramtres afin quavec un ordre minimal, le gabarit soit respect au mieux.
Cette mthode est base sur une distribution uniforme de londulation sur lensemble de la bande
passante et de laffaiblissement sur toute la bande coupe. Londulation dans la bande passante et
laffaiblissement minimal dans la bande coupe sont configurables sparment.
Dans le cas prsent, du fait que les perturbations connues sont identifiables dans le domaine
temporel, le gabarit du filtre est dfini dans l'espace temporel, ses spcifications et les termes
utiliss sont dfinis dans la figure 3.13 en fonction de l'espace
c
0
t
pour des considrations
pratiques. Les spcifications dfinir sont les suivantes :
la largeur de la fentre
c
0
T
( T=1/A f ),
la demi-largeur prserve
c
0
t
p
,
la largeur de transition
c
0
t
tr
,
l'affaiblissement minimum dans la largeur attnue (en dB),
le taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB).
Figure 3.13. Gabarit du filtre temporel w(t ) reprsent en fonction de c
0
t .
La fentre temporelle w(t ) doit tre conue avec un palier unitaire autour de
c
0
t =0
trs plat,
soit un faible taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve et un affaiblissement minimum
dans la largeur attnue aussi faible que possible tout en gardant un ordre de filtre raisonnable. Une
tude de l'influence de ces paramtres est faite en Annexe G.2 pour une configuration o les
microphones sont espacs de 30 cm. Il en rsulte un filtre caractris par un compromis entre
performance et ordre du filtre spectral
W ( f
k
)
dcrit dans le tableau 3.2 et reprsent sur la figure
3.14 dans le domaine temporel. La figure 3.15 prsente la fentre spectrale
W ( f
k
)
obtenue, utilise
pour le filtrage par convolution des produits des efficacits en champ libre des microphones dfinis
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
par les relations (3.53.a et b).
Largeur de la fentre
c
0
T
(en m) 6,98
Demi-largeur prserve
c
0
t
p
,(en m) 0,07
Largeur de transition
c
0
t
tr
,(en m) 0,23
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve 0,03 dB
Affaiblissement minimum dans la largeur attnue -40 dB
Ordre ( N+1) du filtre
W ( f
k
)
obtenu 75
Tableau 3.2. Paramtres utiliss pour la synthse d'un filtre destin au filtrage des produits des efficacits en champ
libre de deux microphones lorsque ils sont espacs de 30 cm (algorithme de Parks-McClellan).
Figure 3.14. Fentre de filtrage temporelle w(t ) construite partir des paramtres dfinis dans le tableau 3.2,
( c
0
T6,98m ).
Figure 3.15. Fentre spectrale W( f
k
) du filtre dfini dans le tableau 3.2 ( A f =50 Hz ).
3.5 Rsultats et incertitudes
Ce paragraphe prsente les rsultats obtenus pour l'talonnage en champ libre de trois
microphones LS2P ('') Type B&K 4180 espacs de 30 cm.
3.5.1 Mesures et rsultats
Comme dcrit dans le paragraphe 3.3, les impdances lectriques de transfert
Z
Emj+
( f )
sont
mesures par couple de microphones, soit trois mesures, dans la gamme de frquence
[1 kHz ; 33,5 kHz] un pas frquentiel
A f =50 Hz
. Les mesures sont effectues en salle
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
3.5. Rsultats et incertitudes 72
anchoque dans les conditions d'environnement prcises dans le tableau 3.3. La figure 3.16
prsente les trois impdances lectriques de transfert mesures.
Les oprations dcrites dans le paragraphe 3.4.2 conduisent aux produits des efficacits en champ
libre pour chaque couple de microphones ramens aux conditions d'environnement de rfrence
(Eqs. 3.53.a et b). Les efficacits en pression des microphones ncessaires aux prolongements des
fonctions de transfert dans les basses frquences sont issues d'talonnages en pression indpendants
effectus par la mthode de la rciprocit dcrite dans la norme CEI 61094-2 [8]. Les centres
acoustiques des microphones sont extraits de la norme CEI 61094-3 [26]. La figure 3.17 prsente
les produits des efficacits obtenus avant filtrage.
Couples de microphones ( j et + ) 1 et 2 1 et 3 2 et 3
Temprature statique
T
j+ (en C) 23 23 23
Pression statique
P
j+ (en hPa) 1002,2 1001,5 1001,1
Humidit relative
HR
j+ (en %) 48,1 47,8 47,6
Tableau 3.3 : Conditions d'environnements lors des mesures des impdances lectriques de transfert en champ libre de
3 couples de microphones ''.
Figure 3.16. Impdances lectriques de transfert en champ libre Z
Emj+
mesures (module et phase) : Z
Em12
(courbe
bleue), Z
Em13
(courbe noire), Z
Em23
(courbe rouge).
Figure 3.17. Produits des efficacits en champ libre (
M
ff j
M
ff +) complts en basses frquences (Eq. 3.53) avant
filtrage (module et phase), ramens aux conditions d'environnement de rfrence : (
M
ff 1
M
ff 2) (courbe bleue),
(
M
ff 1
M
ff 3) (courbe noire), (
M
ff 2
M
ff 3) (courbe rouge).
Les oprations de filtrage appellent plusieurs remarques :
compte tenu de l'ordre du filtre spectral
W ( f
k
)
( N+1=75 , cf. tableau 3.2) et du pas
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
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o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
frquentiel d'chantillonnage ( A f =50Hz ) , le filtrage en basses frquences implique le
prolongement dans les frquences ngatives des produits des efficacits (
M
ff j
M
ff +) en
considrant la proprit ( M
ff j
M
ff +
)( f
n
)=( M
ff j
M
ff +
)
*
(f
n
) ,
de mme, aux hautes frquences, les N / 2=37 derniers points frquentiels du produit des
efficacits (
M
ff j
M
ff +) ne peuvent tre filtrs correctement et sont exclus (bande frquentielle
[31,65 kHz; 33,5 kHz]),
enfin, le processus de filtrage gnre une dformation des produits des efficacits filtrs ; cette
dformation nomme rosion et note
6
e dpend de la fentre de filtrage choisie : elle
volue en fonction de la frquence et est value en Annexe G.2.1.i moins de 0,005 dB en
module pour la fentre de filtrage utilise dans ce paragraphe.
Les produits d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) (complts en frquences ngatives) sont alors convolus
avec la fentre spectrale
W ( f
k
)
(cf. figure 3.15 et tableau 3.2) et sont corrigs de l'effet d'rosion,
soit les oprations :
|
M
ff 1
M
ff 2
c
=
(
M
ff 1
M
ff 2
)
W /6
e12
,
|
M
ff 1
M
ff 3
c
=
(
M
ff 1
M
ff 3
)
W /6
e13
,
| M
ff 2
M
ff 3
c
=( M
ff 2
M
ff 3
)W /6
e23
,
(3.54.a)
(3.54.b)
(3.54.c)
|
M
ff j
M
ff +
c
dsignant le produit des efficacits des microphones en champ libre filtrs et o
6
e 12
6
e13
6
e 23
.
Figure 3.18. Produits des efficacits en champ libre |
M
ff j
M
ff +
c
filtrs (module et phase) ramens aux conditions
d'environnement de rfrence : |
M
ff 1
M
ff 2
c
(courbe bleue), |
M
ff 1
M
ff 3
c
(courbe noire), |
M
ff 2
M
ff 3
c
(courbe
rouge).
Figure 3.19. Perturbations filtres (module et phase) sur les produits des efficacits en champ libre (oprations
|
M
ff j
M
ff +
c
/
(
M
ff j
M
ff +) ) : (j,+)=(1,2) (courbe bleue), (j,+)=(1,3) (courbe noire) et (j,+)=( 2,3) (courbe
rouge).
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La figure 3.18 prsente les produits des efficacits filtrs dans la bande frquentielle utile
[1 kHz ; 31,6 kHz]. Les perturbations filtres sur les trois produits d'efficacits sont reprsentes en
module et en phase sur la figure 3.19 (oprations |
M
ff j
M
ff +
c
/
(
M
ff j
M
ff +) ). Leur amplitude est non
ngligeable et montre l'importance du processus de filtrage mise en place. Des oscillations sont
visibles en basses frquences avec une priodicit de environ 1500 Hz , soit une perturbation ayant
parcouru un chemin acoustique
c
0
/ 1500 30 cm
. Il s'agit principalement des perturbations lies
la diaphonie qui mergent dans les basses frquences au fur et mesure que le rendement du
microphone source diminue.
La rsolution du systme d'quations (3.54) conduit alors aux efficacits en champ libre filtres
de chaque microphone (figure 3.20).
Figure 3.20. Efficacits en champ libre (filtres) (module et phase) M
ff c 1
(courbe rouge), M
ff c 2
(courbe noire) et
M
ff c 3
(courbe bleue).
3.5.2 Incertitudes
L'incertitude associe au rsultat de l'talonnage est fonction du dispositif exprimental, de la
fentre de filtrage choisie et des conditions d'environnement dans lesquelles les mesures sont
effectues. L'incertitude compose largie ( k=2 ) [47] associe l'efficacit d'un microphone ''
talonn en champ libre par la mthode de la rciprocit est prsente ci-dessous en considrant des
variations maximums des conditions d'environnement autour des valeurs de rfrence, soit une
pression statique
P
0
=1013,25!30 hPa
, une temprature statique
T
0
=23!3C
(salle anchoque
climatise permettant un bon contrle de la temprature statique) et un taux d'humidit relatif
HR
0
=50!30%
(le bilan des incertitudes est report en Annexe H).
La figure 3.21 prsente l'incertitude compose largie associe au module de l'efficacit en
champ libre d'un microphone '' value partir des donnes du prsent travail (cf. Annexe H, trait
plein) et compare celle dpose en 2005 par le LNE au BIPM (trait discontinu) [48]. Une
amlioration sensible de la gamme frquentielle utile ainsi qu'une diminution notable du plancher
d'incertitude est constate. A noter que cette dernire amlioration doit tre considre avec
prcaution puisqu'elle devra tre valide par les rsultats de la comparaison cl CCAUV.A-K4 en
cours. Les raisons de cette amlioration et les divergences constates peuvent nanmoins tre
justifies : la diminution globale de niveau d'incertitude s'explique par un dispositif exprimental
plus performant (nouvelle salle anchoque, pramplificateurs faible bruit, sparation des voies
d'acquisitions ...) et par l'optimisation de la fentre de filtrage ; la diminution dans le prsent travail
de l'incertitude en basses frquences s'explique par la prise en compte du processus de filtrage dans
le calcul de l'incertitude (diminution de la composante lie aux bruits lectrique et acoustique, cf.
Annexe G.2.1.v) ; enfin, l'amlioration dans le prsent travail de l'incertitude aux hautes frquences
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est simplement due l'abandon d'une composante qui avait t introduite dans les prcdents bilans
des incertitudes pour tenir compte des divergences constates entre les rsultats de diffrents
laboratoires lors d'inter-comparaisons. Ces divergences augmentaient avec la frquence mais
n'taient pas clairement identifies. Diffrentes pistes ont t envisages pour les expliquer : la
prsence de molcules de solvant issues du revtement anchoque de la salle et susceptibles de
modifier les caractristiques d'absorption de l'air, l'accroissement local de temprature due la
consommation d'nergie des pramplificateurs qui engendrait des mouvements de convection de
l'air trs nfastes surtout pour une disposition verticale des microphones (cette dernire piste tant la
plus crdible). Les nouveaux pramplificateurs (utiliss dans la prsente tude) tant dsormais
moins consommateurs d'nergie et les microphones tant disposs horizontalement, on peut
raisonnablement penser que l'introduction cette composante dans l'valuation de l'incertitude ne se
justifie pas, et les rsultats de la comparaison cl en cours permettront probablement de valider ce
choix.
Figure 3.21. Incertitudes composes largies ( k =2 ) associes au module de l'efficacit en champ libre d'un
microphone ''' : value partir des donnes du prsent travail (cf. Annexe H, trait plein) et dpose par le LNE au
BIPM en 2005 (trait discontinu).
Figure 3.22. Paramtres d'influences dans le calcul de l'incertitude associe au module de l'efficacit en champ libre
d'un microphone ''.
Les paramtres d'influences intervenant dans le calcul du module de l'incertitude compose sont
prsents sur la figure 3.22. Il apparat que les paramtres prpondrants sont lis aux incertitudes
intervenant sur la distance entre les centres acoustiques des microphones (l'incertitude lie la
rptabilit des mesures hors bruit lectrique et acoustique tant principalement lie au
positionnement des microphones, cf. Annexe G.2.1.v). Une diminution de l'incertitude compose
passe donc principalement par une diminution de l'incertitude associe la dtermination de la
position des centres acoustiques des microphones (cf. chapitre 4) et, dans une moindre mesure, par
l'utilisation d'un dispositif permettant le positionnement des microphones de manire plus prcise
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que celui utilis actuellement ( 1 mm prs). Une simulation numrique montre que l'utilisation d'un
dispositif permettant un positionnement 0,1 mm permettrait une diminution globale de
l'incertitude compose largie de l'ordre de 0,005 dB.
Figure 3.23. Incertitude compose largie ( k =2 ) associe la phase de l'efficacit en champ libre d'un microphone
''.
Figure 3.24. Paramtres d'influences dans le calcul de l'incertitude associe la phase de l'efficacit en champ libre
d'un microphone ''.
La figure 3.23 prsente l'valuation de l'incertitude compose largie associe la phase de
l'efficacit en champ libre d'un microphone ''. La courbe obtenue montre que l'incertitude
compose est en premire approximation proportionnelle la frquence, cela tant d
principalement aux incertitudes sur la distance entre membranes et sur la position des centres
acoustiques des microphones comme le montre les paramtres d'influences intervenant dans le
calcul d'incertitude, reprsents sur la figure 3.24. Il est intressant de dcomposer cette incertitude
sous la forme d'une somme quadratique de deux termes U
c
2
( f )=(k
u
. f )
2
+U
r
2
: un premier
( k
u
f )

proportionnel la frquence ayant pour source les incertitudes dpendant de la distance entre les
centres acoustiques des microphones et un deuxime
U
r constitu du reste des incertitudes (cf.
figure 3.25). Le facteur
k
u pourrait tre fortement diminu en rduisant les incertitudes dpendant
de la distance entre les centres acoustiques des microphones ou bien par une autre mthode, par
exemple en remarquant que la phase de l'efficacit en pression d'un microphone la frquence de
rsonance de celui-ci est par dfinition gal 90 . Il vient alors
Arg
(
M
ff
( f
0
)
)
=Arg
(
M
P
( f
0
)
)
+Arg
(
A
ff
( f
0
)
)
=n/ 2+Arg
(
A
ff
( f
0
)
) . (3.55)
o les corrections champ libre
A
ff
en phase pourraient tre obtenues partir de simulations
numriques [44]. Ainsi, en connaissant la phase de la correction champ libre
A
ff
la frquence de
rsonance du microphone il est alors possible de dterminer une fonction affine corrigeant la phase
de l'efficacit en champ libre et par consquent, de rduire trs fortement le terme d'incertitude
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( k
u
f )
proportionnel la frquence. Nanmoins, ce travail n'a pas t ralis du fait que
l'talonnage en phase n'est pas demand dans le cadre de la comparaison cl CCAUV.A-K4 [36].
Figure 3.25. Dcomposition de l'incertitude compose largie ( k =2 ) associe la phase de l'efficacit en champ libre
d'un microphone '' : a) terme proportionnelle la frquence (k
u
f ) , b) terme rsiduel U
r
.
3.6 Conclusion
L'tude prsente dans ce chapitre porte sur l'talonnage primaire en champ libre des
microphones talons de laboratoire LS2P ('') par la mthode de la rciprocit et s'inscrit dans le
cadre de la comparaison cl CCAUV.A-K4 [36] impliquant plusieurs laboratoires de mtrologie. La
mthode de la rciprocit en champ libre consiste mesurer les impdances lectriques de transfert
entre trois couples de microphones (cf. 3.3.1) et modliser leurs impdances acoustiques de
transfert dans un milieu infini (Eq. (3.34)). Ces deux quantits conduisent alors aux efficacits en
champ libre de chaque microphone.
Des difficults de mesures ont t mises en vidences, difficults lies aux faibles niveaux
acoustiques mis en jeu. Il en rsulte des mesures d'impdances lectriques de transfert entaches de
perturbations, dont les causes ont t identifies partir des retards constats sur les TF
-1
des
produits des efficacits en champ libre des microphones. Ces retards permettent d'utiliser une
procdure de filtrage construite sur la base d'une fentre spectrale rigoureusement choisie et qui
convolue aux produits des efficacits mesurs conduit une forte rduction des perturbations. Les
courbes de perturbations filtres (figure 3.19) montrent que la cause principale de perturbations, du
moins en basses frquences, est avant filtrage la diaphonie malgr les prcautions prises en amont
du filtrage (sparation des deux voies de mesures).
Le bilan des incertitudes prsent dans ce chapitre montre nanmoins une nette diminution des
incertitudes en module compares celles dposes par le LNE au BIPM en 2005 [48] ; bien que
cette diminution doit tre considre avec prcaution puisqu'elle devra tre valide par les rsultats
de la comparaison cl CCAUV.A-K4 en cours. La diminution de l'incertitude sur la position des
centres acoustiques et la diminution de l'incertitude sur le positionnement des microphones
permettrait de diminuer encore l'incertitude compose de quelques centimes de dB, ce qui la
rapprocherait du niveau d'incertitude atteint par l'talonnage en pression par la mthode de la
rciprocit (environ 0,04 dB ).
Enfin, il faut noter que d'autres mthodes d'talonnages en champ libre pourraient complter ou
remplacer la mthode tudie dans ce chapitre. Les derniers travaux effectus concernant
l'estimation de la vitesse particulaire partir de moyens non intrusifs [49,50] (par Vlocimtrie
Laser Dopler ou par Vlocimtrie par Image de Particule) constituent une ouverture en ce sens.
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4. Centre acoustique d'un microphone lectrostatique 79
Chapitre 4
Centre acoustique d'un microphone lectrostatique
4.1 Introduction
L'talonnage en champ libre des microphones lectrostatiques par la mthode de la rciprocit
fait appel la notion de centre acoustique des microphones. La dtermination aussi prcise que
possible de la position de ce centre est primordiale du fait que la contribution de l'erreur sur cette
position l'erreur globale sur l'efficacit mesure par rciprocit en champ libre est trs grande (cf.
paragraphe 3.5.2 et 3.6). C'est l'objet essentiel de ce chapitre que d'apporter un clairage, de
reprendre et complter les modles analytiques ( 4.2) et les rsultats exprimentaux ( 4.3), actuels
de la littrature sur cette notion.
De manire idale, une source ponctuelle gnre dans un milieu infini (champ libre) une pression
acoustique dont l'amplitude dcrot de faon inversement proportionnelle la distance. Dans le cas
d'une source de dimension finie, cette loi de dcroissance peut tre considre comme vraie si entre
autres hypothses le point d'observation est suffisamment loin de la source. Si tel n'est pas le cas, la
source peut encore tre reprsente par une source ponctuelle appele centre acoustique, dont la
position doit tre dtermine. La norme CEI 61094-3 [26] prcise la dfinition de ce centre
acoustique de la manire suivante :
Pour un transducteur metteur acoustique, pour un signal sinusodal de frquence donne, et pour
une direction et une distance spcifies, point d'o semblent diverger les surfaces d'onde
approximativement sphriques qu'on observe dans une petite rgion autour du point d'observation.
Notes :
Le centre acoustique d'un transducteur rciproque utilis comme rcepteur concide avec le
centre acoustique de ce transducteur utilis comme metteur.
Cette dfinition s'applique seulement aux rgions du champ acoustique o les surfaces
d'ondes sont sphriques ou approximativement sphriques.
La norme prcise galement la notion de transducteur ponctuel quivalent comme suit :
Transducteur qui, situ l'emplacement du centre acoustique du microphone, possde les
caractristiques d'mission et de rception de ce microphone pour une direction et une gamme de
distances donnes.
La premire note concernant le centre acoustique s'explique par le fait que le champ diffract est
approximativement quivalent au champ rayonn lorsque l'objet est utilis dans les mmes
conditions [51]. Bien entendu, tel qu'il est dfini, le centre acoustique dpend de la frquence ainsi
que de l'orientation et de la distance entre le point d'observation et la source.
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Compte tenu des exigences imposes par l'talonnage en champ libre des microphones par la
mthode de la rciprocit, la position du centre acoustique des microphones doit tre dtermine
[33]. La norme [26] donne des estimations (issues d'expriences) de ces positions avec une
incertitude estime infrieure 2 mm pour des microphones de type LS1 (1'') et LS2 ('') en
incidence normale et valables pour des distances d'observation comprises entre 15 et 60 cm.
Typiquement ces valeurs varient entre 5 mm 1 kHz et 0.5 mm 20 kHz pour des microphones de
type LS2 ('') et entre 9 mm 630 Hz et -1.9 mm 20 kHz pour des microphones de type LS1 (le
signe - indiquant que la position du centre acoustique est l'arrire de le membrane du
microphone). Ces valeurs et la majorit des mesures extraites de la littrature sont obtenues partir
de la loi de dcroissance inversement proportionnelle la distance du module du champ de
pression acoustique. Il existe nanmoins d'autres mthodes, bases sur des mesures de phases. Dans
la rfrence [52], les auteurs prsentent et discutent ces diffrentes mthodes.
Au cours de la dernire dcennie, le concept de centre acoustique des microphones
lectrostatiques a essentiellement fait l'objet d'tudes exprimentales et numriques [33,53,54,55],
qui ont conduit des rsultats cohrents. Les mthodes numriques ne sont pas discutes ici ; elles
pourront au besoin tre reprises ultrieurement sur la base de codes adapts au propos. La mthode
exprimentale utilise par les auteurs permet d'obtenir la position du centre acoustique partir de
mesures de la fonction de transfert entre un microphone metteur et rcepteur (telle qu'elle est
prconise dans la mthode d'talonnage par rciprocit), pour diffrentes distances entre les deux
transducteurs. Cette mthode exprimentale prsente certaines insuffisances qui sont discutes au
paragraphe 4.3, discussion qui amne proposer ici une nouvelle mthode de mesure de la position
du centre acoustique d'un transducteur acoustique permettant de palier certaines insuffisances de la
mthode de la rciprocit.
Les dveloppements analytiques, sont trs peu nombreux et relativement anciens (ils datent pour
les plus importants des annes 50-70). Deux auteurs [56,57] proposent des dveloppements
analytiques prcis de problmes relativement proches du problme rel, inspirs des travaux de D.
S. Jones [58] sur la diffraction d'une onde par une tige cylindrique semi infinie qui font usage de la
technique de Wiener-Hopf et des transformes de Laplace pour rsoudre le problme. Ces
dveloppements analytiques sont, dans les paragraphes qui suivent, repris et adapts pour dcrire de
faon plus raliste le problme pos.
4.2 Dtermination analytique de la position du centre acoustique d'un
transducteur lectrostatique
A notre connaissance, la premire tude analytique traitant du concept de centre acoustique a t
publie en 1970 par Y. Ando [56]. Cet article traite du rayonnement d'un tube semi-infini paroi
d'paisseur non nulle (en l'absence de microphone) : des valeurs thoriques des positions des centres
acoustiques y sont donnes ainsi que les calculs de coefficients de rflexion et de corrections
d'extrmits dont les rsultats sont en adquation avec ceux donns en 1948 par H. Levine et J.
Schwinger [59] pour des parois de tube d'paisseur nulle.
En 1970 galement, E. Matsui [57] tudie la diffraction d'une onde sur un microphone
lectrostatique plac dans une tige semi infinie, la cavit cylindrique frontale (cavit ferme une
extrmit par la membrane et ouverte l'autre extrmit) typique des microphones talons de
laboratoire y tant prise en compte. L'tude porte sur la diffraction d'une onde incidente plane sur le
microphone et donne accs aux corrections dites corrections champ libre (dues l'onde
diffracte), corrections qui permettent de calculer l'efficacit d'un microphone en champ libre
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4.2. Dtermination analytique de la position du centre acoustique d'un transducteur
lectrostatique
81
partir d'un talonnage en pression [40] (cf. paragraphe 3.4.2).
Ainsi le problme du calcul analytique de la position du centre acoustique d'un microphone
lectrostatique dont la membrane est situe prs de l'extrmit d'un tube paroi d'paisseur non
ngligeable, montage en usage pour l'talonnage en champ libre des microphones talons de
laboratoire par la mthode de la rciprocit, reste-t-il un problme ouvert. Il est discut dans la suite
en reprenant, comme E. Matsui [57] et Y. Ando [56], le formalisme de D. S. Jones [58] et en
compltant le modle du calcul de la position du centre acoustique de Y. Ando pour tenir compte de
la petite cavit l'avant de la membrane et de son couplage avec la membrane elle-mme.
Plus prcisment l'tude prsente ci-dessous traite le cas d'un microphone lectrostatique
fonctionnant en metteur mont sur une tige semi infinie de rayon extrieur
a
2 , paroi rigide. La
membrane de rayon
a
1 ferme en
z=l
une petite cavit cylindrique (frontale) paroi rigide
ouverte en z=0 sur un espace infini (figure 4.1). Dans cette tude, le champ extrieur (domaines
D
2 , z>0 et
D
3 ) est calcul suivant la mthode de D. S. Jones (technique de Wiener-Hopf [3,60]
dans le domaine de Laplace) ; le champ dans la cavit frontale (domaine
D
1 ) est calcul en faisant
usage de la formulation intgrale et son couplage avec le diaphragme du microphone est exprim de
faon adapt au problme considr dans lequel le microphone est metteur (situation diffrente de
celle considre par E. Matsui). Enfin le champ acoustique est exprim l'infini pour obtenir,
suivant la mthode de Y. Ando, la position du centre acoustique recherche.
Figure 4.1. Microphone lectrostatique mont dans une tige semi infinie, schma et notations utilises.
4.2.1 Les quations fondamentales du problme
Le problme est trait en coordonnes cylindriques ( w, z) et est suppos symtrie axiale. Le
domaine d'tude considr
D
est dcoup en trois domaines distincts dans lesquelles les champs de
pression acoustique sont nots :
p
1
(w , z)
, dans le domaine
D
1
,
w( 0, a
1
)
, z(l ,0) ,
p
2
(w , z )
, dans le domaine
D
2
,
w( 0, a
2
)
, z(0, ) ,
p
3
(w , z )
, dans le domaine
D
3
,
w( a
2
, )
, z(, ) .
(4.1)
i. Equation de la membrane
Le champ de dplacement normal (( w) de la membrane, compt positif dans le sens des z
croissants rpond au problme suivant [3] :
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lectrostatique
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(
T
m
A
w
c
s

2
t
2
)
(( w)=p
c
p
1
( w ,l )+p
s , (4.2)
o
T
m
est la tension de la membrane,
c
s
sa masse surfacique,
p
c
la pression acoustique dans la
cavit arrire,
p
1
( w ,l )
la pression acoustique sur l'avant de la membrane et
p
s
la force
lectrique par unit de surface (suppose uniforme) applique sur la membrane en rgime
harmonique e
i ot
. La pression acoustique
p
c
est crite en fonction du dplacement de la membrane
sous la forme,
p
c
=i oS
m
Z
c
(
, (4.3)
o S
m
=na
1
2
est la surface de la membrane et
Z
c
l'impdance acoustique de la charge acoustique
l'arrire de la membrane qui traduit l'action du film d'air entre l'lectrode arrire et la membrane,
compte tenu des trous de l'lectrode et du volume de la cavit arrire. L'impdance
Z
c ainsi que les
paramtres caractristiques de la membrane (tension
T
m , masse surfacique
c
s
) sont valus
partir d'un modle de microphone constantes localises [20] rappel en Annexe I.
Finalement, en reportant l'expression (4.3) dans l'quation (4.2), il vient,
(T
m
A
w
+o
2
c
s
i oS
m
Z
c
) ((w)=p
1
( w ,l )+p
s
, (4.4)
o l'impdance acoustique
Z
c est donne par l'expression (I.1).
ii. Equation de propagation dans le domaine D
1
, thorme de Green
Le mouvement de la membrane du microphone est source d'un champ acoustique suppos
axisymtrique l'intrieur de la cavit frontale. Sous forme diffrentielle, le problme dans le
domaine
D
1
s'crit :
(A+k
0
2
) p
1
( w, z)=0, ( w , z)D
1
,

z
p
1
=o
2
j
0
(, w(0, a
1
) , z=l ,
p
1
=p
2
,
z
p
1
=
z
p
2
,
w(0, a
1
) , z=0,
w
p
1
=0, w=a
1
, z(l , 0) ,
(4.5.a)
(4.5.b)
(4.5.c)
(4.5.d)
(4.5.e)
o
k
0
=o/c
0
dsigne le nombre d'onde, avec
o
la pulsation et
c
0 la clrit adiabatique.
Le champ de pression acoustique
p
1
(r)
dans le domaine
D
1
peut s'crire sous la forme intgrale
suivante [3] (le facteur e
i ot
est omis)
p
1
( r)=
D
1
G(r , r
0
) f ( r
0
) d D
1
+
S
|G(r , r
0
)
n
p
1
( r
0
)p
1
( r
0
)
n
G( r , r
0
)dS
, (4.6)
o
n reprsente la drive suivant la normale locale la surface S oriente vers l'extrieur du

domaine, o la fonction
f ( r
0
)
reprsente l'action de sources qui seraient rparties l'intrieur du
domaine
D
1
(dans le cas prsent
f ( r
0
)=0
), et o la fonction
G(r , r
0
)
est une fonction de Green
satisfaisant l'quation
(A+k
0
2
)G(r , r
0
)=6(r , r
0
) ,
r D
1
, (4.7)
o
6(r , r
0
)
reprsente la distribution de Dirac, satisfaisant des conditions aux limites a priori
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
83
quelconques sur la surface S . La fonction de Green est ici choisie de manire satisfaire les
conditions aux frontires suivantes :
n
G(r , r
0
)=
z
0
G(r , r
0
)=0, w(0, a
1
) , z=l ,
G(r , r
0
)=0, w(0, a
1
) , z=0,
n
G(r , r
0
)=
w
0
G(r , r
0
)=0, w=a
1
, z(l , 0) .
(4.8.a)
(4.8.b)
(4.8.c)
Ces conditions permettent d'exprimer l'intgrale de surface (4.6), soit la pression acoustique en
tout point du domaine
D
1
, de la manire suivante :
p
1
(r)=
S
m
G(r , r
m
)
z
m
p
1
( r
m
) dS
m
S
0
p
1
( r
0
)
z
0
G( r , r
0
) dS
0
, (4.9)
o S
m
=S
0
=na
1
2
dsignent respectivement les surfaces de la membrane et de l'interface avec le
milieu
D
2
.
iii. Equation de propagation dans le domaine D
2
, domaine de Laplace
La pression acoustique
p
2
(w , z )
dans le domaine
D
2
rpond au problme suivant :
(A+k
0
2
) p
2
( w , z)=0, w( 0, a
2
) , z(0, ) ,

z
p
2
=0, w( a
1
, a
2
) , z=0,
z
p
2
=
z
p
1,
p
2
=p
1
,
w( 0, a
1
) , z=0,
w
p
3
=
w
p
2,
p
3
=p
2
,
w=a
2
, z( 0, ) ,
p
2
borne , w=0,
condition de Sommerfeld.

(4.10.a)
(4.10.b)
(4.10.c)
(4.10.d)
(4.10.e)
(4.10.f)
(4.10.g)
(4.10.h)
En coordonnes cylindriques, l'quation de Helmholtz (4.10.a) s'crit
1
w

w
(
w
p
2
w
)
+
2
p
2
z
2
+k
0
2
p
2
=0 . (4.11)
En appliquant la transforme de Laplace dans le domaine z(0, ) considr (transforme de
Laplace unilatrale), dfinie par
P
2
(w , s)=
p
2
( w , z) e
sz
dz , (4.12)
o la notation majuscule, chapeau dsigne une fonction dans le domaine de Laplace, s la
variable de Laplace, et en utilisant la proprit gnrale
F
z
2
=
2
f
z
2
e
sz
dz=s
2
Fs f ( z -0
+
)
(
f
z
)
z-0
+
, (4.13)
o f est une fonction quelconque de z et
F sa transforme de Laplace, l'quation (4.11) prend la

forme
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
84
1
w

w
(
w

P
2
w
)
+X
2

P
2
=
(
p
2
z
)
( z -0
+
)
+s p
2
(w , z -0
+
) , (4.14)
avec
X
2
=s
2
+k
0
2
. (4.15)
iv. Equation de propagation dans le domaine D
3
, domaine de Laplace
p
3
( w, z)
dans le domaine
D
3
rpond au problme suivant :
(A+k
0
2
) p
3
( w , z)=0, w(a
2
, ) , z(, ) ,

w
p
3
=0, w=a
2
, z(,0) ,
w
p
3
=
w
p
2
,
p
3
=p
2
,
w=a
2
, z(0, ) ,
conditionde Sommerfeld .
(4.16.a)
(4.16.b)
(4.16.c)
(4.16.d)
(4.16.e)
En coordonnes cylindriques l'quation de Helmholtz (4.16.a) s'crit
1
w

w
(
w
p
3
w
)
+
2
p
3
z
2
+k
0
2
p
3
=0 . (4.17)
En appliquant la pression
p
3
(w , z )
la transforme de Laplace dans le domaine
z(, )

considr (transforme de Laplace bilatrale) dfinie par
P
3
( w , s)=
p
3
( w, z) e
sz
dz , (4.18)
et en utilisant la proprit,
F
z
2
=
2
f
z
2
e
sz
dz=s
2
F , (4.19)
f tant une fonction quelconque de z et
F sa transforme de Laplace, l'quation de propagation

(4.17) s'crit dans le domaine de Laplace
1
w

w
(
w

P
3
w
)
+X
2

P
3
=0 , (4.20)
o
X
est donn par la relation (4.15).
4.2.2 Solutions des quations fondamentales
Le problme rsoudre est constitu des quations (4.4), (4.9) et (4.5.b-e) compte tenu des
quations (4.7, 4.8.a-c), (4.10.a-h) compte tenu des quations (4.14) et (4.15), (4.16.a-e) compte
tenu de l'quation (4.20). Les solutions sont prsentes ci-dessous en deux tapes ; d'abord domaine
par domaine en laissant de cot les conditions d'interfaces entre les domaines, puis en imposant ces
conditions d'interfaces ( 4.2.3).
i. Champ de dplacement de la membrane
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
85
Le mouvement de la membrane est rgi par l'quation (4.4) qui peut tre crite sous la forme
T
m
(A
w
+k
w
2
)j=| p
1
( w ,l )p
1
(a
1
,l )+| p
e
p
1
( a
1
,l ) , (4.21)
avec
k
w
2
=(o
2
c
s
j oS
m
Z
c
)/T
m
. (4.22)
o le facteur
p
1
(a
1,
l )
a t ajout et retranch dans le second membre pour assurer la
compatibilit des champs de pression et de dplacement en
z=l
(cf. Eq. (2.59)).
La solution pour le dplacement de la membrane satisfaisant la condition de Dirichlet en
w=a
1

peut tre exprime de la manire suivante (somme de la solution gnrale de l'quation sans second
membre et d'une solution particulire de l'quation avec second membre) :
(( w)=B
0
(
1
J
0
( k
w
w)
J
0
(k
w
a
1
)
)
+
n=0
(
n
1
n
( w) , (4.23)
o
J
0
( x)
est la fonction de Bessel cylindrique de premire espce d'ordre 0,
1
n
(w)
les fonctions
propres orthonormes de la membrane
1
n
(w)=
1
.
na
1
J
1
( j
n
)
J
0
(
j
n
w
a
1
)
, (4.24)
j
n
reprsentant les zros de la fonction
J
0
( x)
(le premier tant not
j
0 ) et o les coefficients
B
0
et
(
n
sont donns par les expressions
B
0
=
p
e
p
1
(a
1
,l )
T k
w
2
,
(
n
=
p
1
( a
1
,l )p
1
(w ,l )1
n
( w)
T
m
( k
w
2
( j
n
/a
1
)
2
)
,
(4.25.a)
(4.25.b)
o le numrateur de l'expression du coefficient
(
n
reprsente le produit scalaire
p
1
( a
1
,l )p
1
( w,l )1
n
( w)=2n
0
a
1
| p
1
( a
1
,l )p
1
( w ,l )1
n
( w) wdw . (4.26)
ii. Champ de pression dans le domaine D
1
, fonction de Green, problme aux valeurs propres
La fonction de Green choisie (domaine
D
1
) est solution du problme dcrit par l'quation (4.7)
et des conditions aux frontires (4.8.a-c), savoir, en coordonnes cylindriques,
(
A
w
+
2
z
2
+k
0
2
)
G( w , z ;w
0,
z
0
)=6(ww
0
) 6( zz
0
) ( w , z)D
1,

n
G( w , z ; w
0,
z)=
z
0
G( w , z ;w
0,
z
0
)=0, w( 0, a
1
) , z=l ,
G(w , z ; w
0,
z )=0, w( 0, a
1
) , z=0,
n
G( w , z ; w
0,
z)=
w
0
G( w, z ; w
0,
z )=0, w=a
1
, z(l , 0).

(4.27.a)
(4.27.b)
(4.27.c)
(4.27.d)
o
A
w
=
1
w

w
(
w

w
)
.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
86
La solution de ce problme est recherche sous la forme d'un dveloppement sur la base des
fonctions propres orthonormes
E
n
(w)
du cylindre [3, 6.1.4], soit
G( w , z ;w
0,
z
0
)=
n=0
g
n
( z , z
0
) E
n
( w
0
) E
n
(w) , (4.28)
o les fonctions propres
E
n
(w)
s'crivent
E
n
(w)=
1
.
na
1
J
0
(
n
)
J
0
(
n
w
a
1
)
, (4.29)
les coefficients
n
dsignant les zros de la drive premire de la fonction de Bessel
J
0
(soit
J '
0
(
n
)=0
, le premier tant not
0
).
En reportant la solution (4.28) dans l'quation (4.27.a) et compte tenu des proprits des
fonctions propres
E
n
(w)
, les coefficients
g
n
( z , z
0
)
rpondent au problme suivant :
(

2
z
2
+k
zn
2
)
g
n
( z , z
0
)=6( zz
0
) , z(l ,0) ,

z
g
n
( z , z
0
)=0, z=l ,
g
n
( z , z
0
)=0, z=0.
(4.30.a)
(4.30.b)
(4.30.c)
Ces coefficients
g
n
( z , z
0
)
reprsentent une fonction de Green une dimension donne par
[3, 6.1.4]
g
n
( z , z
0
)=
cos| k
zn
( z
<
+l )+
l
cos|k
zn
z
>
k
zn
sin( k
zn
l +
l
+
0
)
, (4.31)
o
k
zn
2
=k
0
2
(
n
/a
1
)
2
, (4.32)
et o
l
=0
et
0
=n/ 2
(compte tenu des conditions 4.30.b et 4.30.c),
z
>
=z
et
z
<
=z
0
si
z>z
0 ,
et inversement si
zz
0
. Ainsi, les coefficients du dveloppement (4.28) peuvent tre crits
g
n
( z , z
0
)=
cos| k
zn
( z
0
+l ) sin( k
zn
z)
k
zn
cos( k
zn
l )
, z>z
0
,
g
n
( z , z
0
)=
cos| k
zn
( z+l )sin( k
zn
z
0
)
k
zn
cos( k
zn
l )
, zz
0
.
(4.33.a)
(4.33.b)
En reportant les quations (4.28), (4.33.a) ainsi que la drive selon
z
0 de l'quation (4.33.b)
dans la formulation intgrale (4.9), la pression
p
1
( w, z)
satisfaisant la condition (4.5.e) s'crit
p
1
(w , z )=
n=0
(
cos| k
zn
( z+l )
cos( k
zn
l )

S
0
p
1
( w
0
,0) E
n
( w
0
) dS
0
+
sin( k
zn
z )
k
zn
cos( k
zn
l )
S
m
z
m
p
1
( w
m
,l )E
n
( w
m
) dS
m
)
E
n
( w).
(4.34)
iii. Champ de pression dans le domaine D
2
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
87
p
2
(w , z )
dans le domaine
D
2
rpond au problme (4.10), l'quation de
propagation dans le domaine de Laplace tant donne par l'quation (4.14) savoir
1
w

w
(
w

P
2
w
)
+X
2
P
2
=
(
p
2
z
)
( z -0
+
)
+s p
2
(w , z -0
+
) .
Les termes du membre de droite ( z -0
+
) sont exprims sous la forme d'un dveloppement sur la
base des fonctions propres orthonormes
1
n
( w)=
1
.
na
2
J
0
(
n
)
J
0
(
n
w
a
2
)
, (4.35)
avec
J '
0
(
n
)=0
:
p
2
(w , z -0
+
)=
n=0
h
n
1
n
(w) , (4.36)
et
(
p
2
z
)
( z -0
+
)
=
n=0
f
n
1
n
( w) , (4.37)
h
n et
f
n tant des coefficients inconnus du problme.
La solution gnrale de l'quation diffrentielle (4.14) rappele ci-dessus, sans second membre,
finie l'origine w=0 , est de la forme
P
2
(w , s)=C
1
( s) J
0
( Xw) . (4.38)
La solution particulire avec second membre est de la forme
P
2
(w , s)=
n=0
f
n
+s h
n
X
2
(
n
/a
2
)
2
1
n
( w)
, (4.39)
o X
2
=s
2
+k
0
2
(relation 4.15).
La solution gnrale s'crit alors
P
2
(w , s)=C
1
( s) J
0
(Xw)+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
n
(w)
, (4.40)
o le coefficient X
n
2
est donn par
X
n
2
=(
n
/ a
2
)
2
k
0
2
. (4.41)
iv. Champ de pression dans le domaine D
3
p
3
(w , z )
dans le domaine
D
3
rpond au problme (4.16), l'quation de
propagation dans le domaine de Laplace tant donne par l'quation (4.20) savoir
1
w

w
(
w

P
3
w
)
+X
2

P
3
=0 .
La solution de l'quation (4.20) qui satisfait la condition de Sommerfeld (onde caractre
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
88
divergente) s'crit
P
3
( w , s)=C
2
( s) H
0
( 2)
(X w) , (4.42)
o H
0
( 2)
est la fonction de Hankel de deuxime espce d'ordre 0.
Le facteur
C
2
(s)
peut tre exprim en fonction du coefficient
P( s)=
(
p
3
w
)
(w=a
2
)
e
sz
dz , (4.43)
en crivant la relation gnrale
(

P
3
w
)
( w=a
2
)
=
0
(
p
3
w
)
(w=a
2
)
e
sz
dz+
(
p
3
w
)
(w=a
2
)
e
sz
dz , (4.44)
soit, compte tenu de la condition (Eq. (4.16.b),
w
p
3
=0
pour
z(,0)
et
w=a
2
),
(

P
3
w
)
( w=a
2
)
=
(
p
3
w
)
( w=a
2
)
e
sz
dz=P( s) . (4.45)
Il vient donc
C
2
(s)=
P( s)
XH
1
(2)
(Xa
2
)
, (4.46)
d'o l'expression retenue pour la solution (4.42) :
P
3
( w , s)=
P( s) H
0
(2)
( Xw)
X H
1
( 2)
(Xa
2
)
. (4.47)
4.2.3 Conditions aux interfaces
Les solutions donnes prcdemment ne prennent pas en compte les conditions d'interfaces entre
les diffrents domaines d'tudes. Ces conditions sont traites ci-dessous : elles conduisent un
systme d'quations dont les inconnues sont les constantes
B
0 ,
(
n
,
f
n et
h
n .
i. Expression de la pression dans le domaine D
1
En utilisant la condition de continuit des vitesses (4.5.b) (
z
p
1
=o
2
j
0
( pour
w(0, a
1
)
et
z=l
) et la condition de continuit des pressions (4.5.c) (
p
1
=p
2 pour
w(0, a
1
)
et z=0 ),
l'expression (4.34) exprimant la pression dans le domaine
D
1
prend la forme suivante
p
1
( w , z)=
n=0
(
cos| k
zn
( z+l )
cos( k
zn
l )
p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
+j
0
o
2
sin(k
zn
z)
k
zn
cos( k
zn
l )
(( w
0
)E
n
( w
0
)
)
E
n
(w) ,
(4.48)
o (d'aprs les quations (4.29), (4.36), (4.35) et (E.4 de l'Annexe E))
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
89
p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
) =2n
0
a
1
E
n
( w
0
) p
2
( w
0
,0) w
0
dw
0
=
a
1
a
2
6
n0
h
0
+
j=1
2
j
(a
1
/a
2
)
2
(
j
a
1
/ a
2
)
2
(
n
)
2
J
1
(
j
a
1
/ a
2
)
J
0
(
j
)
h
j
,
(4.49)
avec
6
n0
=1
si n=0 et
6
n0
=0
sinon,
et o (d'aprs les quations (4.23), (4.24), (4.29) et (E.4 de l'Annexe E))
((w
0
)E
n
( w
0
)=2n
0
a
1
E
n
( w
0
) j( w
0
) w
0
dw
0
=
(
.na
1
6
n0
J
1
( k
w
a
1
)
J
0
(k
w
a
1
)
2.nk
w
k
w
2
(
n
/a
1
)
2
)
B
0
+2
j=0
j
j
j
j
2
n
2
(
j
.
(4.50)
ii. Interface entre le domaine D
1
et la membrane, expression des constantes d'intgration B
0
et
n
En
z=l
, la pression acoustique s'crit d'aprs l'quation (4.48)
p
1
(w ,l )=
n=0
(
p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
cos( k
zn
l )
j
0
o
2
tan( k
zn
l ) j( w
0
)E
n
( w
0
)
k
zn
)
E
n
( w) . (4.51)
En reportant cette solution dans la relation (4.25.a), la constante
B
0 s'crit alors
B
0
=
p
e
T
m
k
w
2
1
.na
1
T
m
k
w
2
n=0
(
p
2
(w
0
,0)E
n
( w
0
)
cos( k
zn
l )
+j
0
o
2
tan( k
zn
l ) ((w
0
)E
n
( w
0
)
k
zn
)
. (4.52)
De mme, les coefficients
(
n
dfinis par l'quation (4.25.b) s'crivent, en faisant usage de
l'expression (4.51) (cf. Annexe J.1.i), sous la forme
(
n
=
2
T
m
( k
w
2
( j
n
/a
1
)
2
)
j=0
(
p
2
( w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos( k
z j
l)
j
0
o
2
tan( k
z j
l) (( w
0
)E
j
( w
0
)
k
z j
)
(
1
j
n
j
n
j
n
2
j
2
)
. (4.53)
Les quations (4.52) et (4.53) constituent les deux premires quations du problme faisant
intervenir les inconnues
B
0 ,
(
n
, et
h
n .
iii. Interface entre les domaines D
1
et D
2
, expression des constantes f
n
Il reste assurer la continuit des vitesses entre les domaines
D
1
et
D
2
, condition (4.5.d), soit
z
p
1
=
z
p
2 , pour
w(0, a
1
)
, z=0 .
En faisant usage de la relation (4.48), la drive suivant z de la pression dans le domaine
D
1

s'crit
z
p
1
( w , z)=
n=0
(
k
zn
sin|k
zn
( z+l )
cos( k
zn
l)
p
2
(w
0
,0)E
n
(w
0
)
+j
0
o
2
cos(k
zn
z)
cos( k
zn
l )
(( w
0
)E
n
( w
0
)
)
E
n
( w) .
(4.54)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
90
En utilisant les relations (4.37) et (4.54), la condition (4.5.d) s'crit alors
n=0
(
j
0
o
2
cos( k
zn
l )
(( w
0
)E
n
( w
0
)k
zn
tg( k
zn
l ) p
2
(w
0
,0)E
n
( w
0
)
)
E
n
(w)=
n=0
f
n
1
n
( w) , (4.55)
qui en projetant sur la base des fonctions propres orthonormes
1
j
( w)
devient (cf Annexe J.1.ii)
f
0
=
(
j
0
o
2
((w
0
)E
0
(w
0
)
cos(k
0
l )
k
0
tan( k
0
l ) p
2
( w
0
,0)E
0
( w
0
)
)
a
1
a
2
, j=0,
f
j
=
n=0
(
j
0
o
2
(( w
0
)E
n
( w
0
)
cos( k
zn
l)
k
zn
tan( k
zn
l) p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
)

.
2
j
(a
1
/a
2
)
2
(
j
a
1
/a
2
)
2
(
n
)
2
J
1
(
j
a
1
/ a
2
)
J
0
(
j
)
, j1.
(4.56)
L'quation (4.56) constitue ainsi la troisime quation du problme faisant apparatre les
inconnues
B
0 ,
(
n
,
f
n et
h
n .
iv. Interface entre les domaines D
2
et D
3
Les champs de pression dans les domaines
D
2
et
D
3
sont lis par l'intermdiaire des conditions
(4.10.e) et (4.10.f) exprimant la continuit des pressions et des vitesses l'interface, soit
w
p
3
=
w
p
2
,
p
3
=p
2
,
pour
w=a
2
, z (0, ).
Les expressions des pressions
P
2
(w , s) et
P
3
( w , s) dans le domaine de Laplace sont donnes
par les relations (4.40) et (4.47) rappeles ci dessous
P
2
(w , s)=C
1
( s) J
0
(Xw)+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
n
(w)
,
P
3
( w , s)=
P( s) H
0
(2)
( Xw)
X H
1
( 2)
(Xa
2
)
.
o les grandeurs
h
n ,
f
n et
P( s)
sont dfinies respectivement par les quations (4.36), (4.37) et
(4.43).
En utilisant la condition d'interface (4.10.e) et l'quation (4.43), il vient
(

P
2
w
)
w=a
2
=
(
p
2
w
)
w=a
2
e
sz
dz=
(
p
3
w
)
w=a
2
e
sz
dz=P( s) , (4.57)
relation qui permet le calcul de la fonction inconnue
C
1
( s)
qui apparat dans la solution
P
2
(w , s)
(en remarquant que
w
(1
n
( w))
w=a
2
=0
, n ). Ainsi, la pression dans le domaine de Laplace
P
2
(w , s) s'crit
P
2
(w , s)=
P( s) J
0
(Xw)
X J
1
( Xa
2
)
+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
n
(w)
. (4.58)
Cette expression de la transforme de Laplace de la pression dans le domaine
D
2
ncessite une
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
91
condition supplmentaire assurant que la fonction est analytique, soit parfaitement dfinie y
compris lorsque
s=X
n
(absence de ple). En multipliant la relation (4.58) par
J
1
(
Xa
2
) , en
utilisant les proprits des fonctions de Bessel et en considrant la limite
s-X
n
il est possible de
montrer que cette condition se traduit par la relation suivante (cf. Annexe J.1.iii)
2.nP(!X
n
)=f
n
!X
n
h
n
, n0 . (4.59)
Il reste prsent assurer la continuit des pressions en
w=a
2
, z>0 , (condition 4.10.f) soit
lim
w-a
2
-
p
2
( w , z)= lim
w-a
2
+
p
3
( w, z)
, z(0, ) . (4.60)
En effectuant une transformation de Laplace unilatrale de l'expression (4.60) il vient
lim
w-a
1
-
p
2
( w , z)e
sz
dz= lim
j-a
1
+
p
3
( w , z) e
sz
dz , (4.61)
soit d'aprs les relations (4.12) et (4.18)
lim
w-a
2
-

P
2
( w , s)= lim
w -a
2
+

P
3
( w , s)N (s)
, (4.62)
o
N ( s)= lim
w-a
2
+
0
p
3
( w , z) e
sz
dz , (4.63)
est une fonction analytique dans le demi plan complexe ngatif.
Le report des expressions (4.47) et (4.58) dans l'quation (4.62) conduit la relation
N ( s)
P( s) J
0
( Xa
2
)
X J
1
(Xa
2
)
+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
n
( a
2
)=
P( s) H
0
(2)
(Xa
2
)
XH
1
(2)
(Xa
2
)
, (4.64)
avec a
2
1
n
(a
2
)=1/ .n , soit en utilisant les proprits des fonctions de Bessel (E.7) et (E.8)
N ( s)+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
a
2
.
n
=
2 P( s)
X
2
a
2
K ( s)
, (4.65)
avec
K( s)=j nJ
1
(Xa
2
) H
1
( 2)
( Xa
2
) . (4.66)
Cette fonction peut tre dcompose sous la forme [58]
K( s)=
K
P
(s)
K
N
( s)
, (4.67)
avec
K
P
( s) K
N
(s)=1
s et
K
P
( s)1/ . s
quand
s- , la fonction
K
P
( s)
n'ayant ni zro
ni singularit dans le demi-plan complexe positif et la fonction
K
N
( s)
n'ayant ni zro ni singularit
dans le demi-plan complexe ngatif.
De manire pouvoir appliquer le thorme de Liouville, l'quation (4.65) est crite sous la
forme quivalente [56, 57 et 58],
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
92
( sjk) N ( s)
K
N
( s)
+
1
2
n=0
h
n
f
n
/X
n
s+X
n
1
a
2
.n
sjk
0
K
N
(s)
+
X
n
+jk
0
K
N
(X
n
)
+
sjk
0
2 K
N
( s)
n=0
h
n
+f
n
/X
n
sX
n
1
a
2
.n
=
2 P( s)
a
2
( s+jk
0
) K
P
( s)
+
1
2
n=0
X
n
+ jk
0
s+X
n
(
h
n
f
n
/X
n
)
1
a
2
.n
K
p
(X
n
).
(4.68)
D. S. Jones [58] a montr que les membres de gauche et de droite de cette quation sont
analytiques et tendent vers zro lorsque
s- , ceci respectivement dans les demis plans ngatif et
positif. Par suite ils s'annulent partout d'aprs le thorme de Liouville et, en crivant la nullit du
membre de droite, il vient :
2 P( s)
( s+jk
0
) K
P
( s)
+
1
2.n
n=0
jk
0
+X
n
s+X
n
( h
n
f
n
/X
n
) K
p
(X
n
)=0 , (4.69)
soit
j P( s)
k
0
( s+jk
0
) K
P
( s) K
P
( jk
0
)
=
n=0
o
n
n
s+X
n
, (4.70)
avec
o
n
=
jk
0
+X
n
4 jk
0
.n
K
P
( X
n
)
K
P
( jk
0
)
1
X
n
f
n
,
n
=
jk
0
+X
n
4 jk
0
.n
K
P
(X
n
)
K
P
( jk
0
)
h
n
.
(4.71.a)
(4.71.b)
En reportant les quations (4.71.a) et (4.71.b) dans l'quation (4.59) il vient la relation
P(X
n
)=
2 jk
0
jk
0
+X
n
K
P
( jk
0
)
K
P
( X
n
)
X
n
( o
n
+
n
) , (4.72)
qui reporte dans l'quation (4.70) lorsque
s-X
j
conduit la relation
n=0
nj
n
X
n
+X
j
+
|
1+
(2X
j
)
2
|( jk
0
+X
j
) K
P
(X
j
)
2

j
2X
j
=
n=0
nj
o
n
X
n
+X
j
+
|
1
(2X
j
)
2
|( jk
0
+X
j
)K
P
(X
j
)
2
o
j
2X
j
, (4.73)
dfinissant la quatrime quation ncessaire la rsolution du problme.
Les quations (4.52), (4.53), (4.56), (4.73) et (4.71.a et b) dfinissent ainsi un systme
d'quations dont les inconnues sont les constantes
B
0 ,
(
n
,
f
n et
h
n .
4.2.4 Pression acoustique en champ lointain
Le calcul du champ de pression dans tout l'espace ncessite l'inversion des transformes de
Laplace des expressions (4.58) dans le domaine
D
2
et (4.47) dans le domaine
D
3
. En utilisant la
mthode du col, Y. Ando montre [56] (cf. Annexe J.1.iv) que la transforme inverse de Laplace de
l'expression (4.47) (domaine
D
3
), soit l'opration
p
3
( w , z )=
1
2n j

cj
c+j
P( s) H
0
( 2)
(Xw)
XH
1
(2)
(Xa
2
)
e
s z
ds , (4.74)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
93
s'crit en effectuant les changements de variables
z=r cos 0 et w=r sin0 (4.75)
sous la forme asymptotique suivante :
p
3
(r , 0) -
k
0
( 1cos 0) K
P
(jk
0
cos0) K
P
( jk
0
)
j nsin0 H
1
( 2)
( a
2
k
0
sin 0)

n=0
o
n
n
X
n
jk
0
cos0
e
jk
0
r
r
, pour r - , (4.76)
o les coefficients
o
n
et
n
sont des inconnues du systme d'quations (4.52), (4.53), (4.56), (4.73)
et (4.71.a et b) rsolu en Annexe J.2 (ils sont lis aux constantes d'intgration
f
n et
h
n ).
4.2.5 Evaluation thorique de la position du centre acoustique d'un microphone
La forme asymptotique (4.76) obtenue pour le champ de pression
p
3
( r , 0)
ne permet pas une
estimation de la position du centre acoustique partir de la mthode classique utilisant le module du
champ de pression acoustique. En effet, l'expression (4.76) montre que le module du champ de
pression est proportionnel 1/ r ce qui conduirait une position du centre acoustique du
microphone en r=0 . Y. Ando [56] propose de calculer la position du centre acoustique d'un tube
semi-infini paroi d'paisseur non nulle (en l'absence de microphone) partir de la phase du champ
de pression
p
3
( r , 0)
. La mthode consiste calculer le rapport des pressions acoustiques en deux
points distincts, ici l'arrire et l'avant du microphone lorsque r -. La diffrence de chemins
acoustiques parcourus partir de la position du centre acoustique se traduit alors par une diffrence
de phase (
2k
0
d
c
) entre les pressions, soit
p
3
(r , 0-n
-
)
p
3
(r , 0-0
+
)
=(e
j2k
0
d
c
, (4.77)
o
d
c
est l'abscisse du centre acoustique du microphone et o ( est le module du rapport. A noter
que la position du centre acoustique
d
c
est ici donne par rapport z=0 contrairement l'usage
courant qui est de la donner par rapport la position de la membrane, ceci dans le but d'obtenir des
comparaisons objectives avec les rsultats donns par Y. Ando [56].
L'expression (4.76) peut tre crite de faon rduite sous la forme
p
3
(r , 0)D( 0) I( r , 0)
, (4.78)
o
D(0)=jk
0
(1cos0)
n=0
N
o
n
n
X
n
jk
0
cos0
=(o
0
0
)+jk
0
(1cos0)
n=1
N
o
n
n
X
n
jk
0
cos0
,
(4.79)
et
I( r , 0)=
a
2
K
P
(jk
0
cos 0) K
P
( jk
0
)
nsin0 H
1
( 2)
( a
2
k
0
sin 0)
e
jk
0
r
r
. (4.80)
En utilisant la proprit
K
P
(ik
0
)K
P
(ik
0
)=1
[58] l'quation (4.77) s'crit alors
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
lectrostatique
94
p
3
(r , 0-n
-
)
p
3
(r , 0-0
+
)
=
D(0-n
-
)
D(0-0
+
)
I( r , 0-n
-
)
I( r , 0-0
+
)
=
D(0-n
-
)
D(0-0
+
)
| K
P
( jk
0
)
2
=(=(e
j2k
0
d
c
,
(4.81)
ce qui permet d'obtenir la position du centre acoustique partir de l'quation
d
c
=
1
2k
0
arctan
(
Im(()
Re( ()
)
. (4.82)
La figure 4.2 prsente la position du centre acoustique d'un microphone '' Type 4180 calcule
selon la mthode dcrite prcdemment (Eq. (4.82), trait discontinu) o l'quation (4.79) est
calcule en considrant N=5 (cf. figure 4.3 montrant la convergence du calcul de la position du
centre acoustique). La comparaison avec le centre acoustique analytique propos par Y. Ando [56]
pour un tube semi-infini paroi d'paisseur non nulle (o
a
2
=6,6 mm
et
a
1
/ a
2
=0,7
tel un
microphone '' Type 4180, trait pointill) montre que la prise en compte du microphone dans la
modlisation n'apporte pas de correction majeure dans la dtermination de la position du centre
acoustique du microphone. A noter que les rsultats analytiques proposs par Y. Ando [56] sont en
adquations avec des rsultats exprimentaux obtenus partir de mesures de phase du champ de
pression acoustique des distances d'observations de 30 et 80 cm, rsultats publis par le mme
auteur dans la rfrence [61]. Par ailleurs, la comparaison des rsultats obtenus avec les donnes
normalises (position du centre acoustique relative z=0 , pour un microphone '' Type 4180
[26], trait continu) montre des divergences, notamment en hautes frquences. Ces divergences
s'expliquent certainement par la mthode d'valuation, soit : partir de la phase du champ de
pression acoustique pour le rsultat analytique et partir du module du champ de pression
acoustique pour les donnes normalises. Ces observations semblent tre en accord avec les
conclusions de certains auteurs [52] selon lesquelles la position du centre acoustique d'un
transducteur dpend de la mthode de dtermination. A notre connaissance, il n'existe pas de
donnes exprimentales de centre acoustique de microphones '' Type 4180 utilisant les signaux de
phase comme mthode d'valuation.
Figure 4.2. Position du centre acoustique d'un microphone '' B&K Type 4180 : mthode analytique utilisant la phase
du champ de pression acoustique l'infini (Eq. (4.82), trait discontinu), mthode exprimentale utilisant le module du
champ de pression acoustique (donnes normalises [26], position du centre acoustique relative z=0 , trait continu)
et position du centre acoustique d'un tube semi-infini paroi d'paisseur non nulle propose par Y. Ando [56] (o
a
2
=6,6mm et a
1
/ a
2
=0,7 tel un microphone '' Type 4180, trait pointill).
La figure 4.4 permet de comparer, pour un microphone 1'' Type 4160, la position du centre
t
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0
8
lectrostatique
95
acoustique calcule selon la mthode dcrite prcdemment (Eq. (4.82), trait discontinu) et celle
obtenue par Y. Ando pour un tube semi-infini paroi d'paisseur non nulle (o
a
2
=13,3 mm
et
a
1
/ a
2
=0,7
tel un microphone 1'' Type 4160, [56], trait pointill). Cette comparaison montre que les
modifications apportes au modle de Y. Ando conduisent des corrections mineures. Sur cette
mme figure 4.4 sont galement reportes les valeurs normalises, qui diffrent des prcdentes,
plus particulirement en hautes frquences ([26], trait continu) et les valeurs exprimentales
obtenues par Jacobsen partir de la phase de l'efficacit en champ libre du microphone ([52], points
toiles). Cette dernire dtermination est inspire de la rfrence [62] o les auteurs proposent de
dterminer le centre acoustique d'un microphone partir de la vitesse de groupe de la phase de son
efficacit en champ libre.
Figure 4.3. Etude de la convergence de l'quation (4.82) : position du centre acoustique d'un microphone '' Type
4180 en fonction de l'ordre N 1 kHz (trait continu) et 30 kHz (trait discontinu).
Figure 4.4. Position du centre acoustique d'un microphone 1'' B&K Type 4160 : mthode analytique utilisant la phase
du champ de pression acoustique l'infini (Eq. (4.82), trait discontinu), mthode exprimentale utilisant le module du
champ de pression acoustique (donnes normalises [26], position du centre acoustique relative z=0 , trait
continu), mthode exprimentale utilisant la phase de l'efficacit du microphone en champ libre ([52], points toiles) et
position du centre acoustique d'un tube semi-infini paroi d'paisseur non nulle propose par Y. Ando [56] (o
a
2
=13,3mm et a
1
/ a
2
=0,7 tel un microphone 1'' Type 4160, trait pointill).
Force est de constater que les diffrentes mthodes d'valuations de la position du centre
acoustique conduisent en gnral des rsultats diffrents. Dans le cadre de l'talonnage des
microphones en champ libre par la mthode de la rciprocit, une discussion du choix faire
concernant la mthode de dtermination de la position du centre acoustique est prsente dans la
rfrence [44] : l'auteur montre que l'utilisation de la position du centre acoustique obtenue en
considrant les proprits du module du champ de pression acoustique conduit des efficacits en
champ libre (en module) indpendantes de la distance entre l'metteur et le rcepteur lors de
l'talonnage (ce qui n'est pas le cas lorsque la position du centre acoustique utilise est obtenue en
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0
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lectrostatique
96
utilisant les proprits de la phase du champ de pression acoustique). Il s'agit d'un argument en
faveur d'une mthode utilisant le module du champ de pression acoustique pour dterminer la
position du centre acoustique d'un microphone. C'est l'objet du paragraphe suivant que de prsenter
une nouvelle mthode exprimentale fonde sur ce principe.
4.3 Dtermination exprimentale de la position du centre acoustique
d'un microphone lectrostatique
Dans la littrature du domaine [54,55], la position du centre acoustique d'un microphone
lectrostatique est obtenue exprimentalement partir des mesures de l'impdance lectrique de
transfert
Z
E
( f )
entre un microphone metteur et un rcepteur (telle qu'elle est prconise dans la
mthode d'talonnage par rciprocit, cf. 3.3.1), pour diffrentes distances entre les deux
transducteurs. Cette mthode ncessite trois couples de microphones et est caractrise par les
perturbations spcifiques la mthode de la rciprocit (diaphonie, chos, bruits lectrique et
acoustique, cf. 3.3.2).
La mthode prsente dans ce paragraphe a pour objectif la mesure du centre acoustique d'un
microphone lectrostatique l'aide d'un couple unique source-microphone . Cette mthode
permet de plus d'amliorer le rapport signal sur bruit. Elle s'appuie sur la procdure classique
[54,55], qui suppose une loi de dcroissance inversement proportionnelle la distance du module
du champ de pression acoustique.
4.3.1 Principe gnral
Figure 4.5. Dtermination de la position du centre acoustique d'un microphone lectrostatique : dispositif
exprimental.
Un microphone lectrostatique est plac dans une tige motorise suppose semi-infinie
permettant un dplacement suivant l'axe z . La source, de surface S
0
=na
2
est place dans un plan
suppos infini dlimitant le domaine
D
semi-infini. Le fluide, suppos continu, homogne et
isotrope, est caractris par sa masse volumique
j
0 et la clrit du son
c
0 (figure 4.5).
La source est suppose ponctuelle de sorte que le champ de pression rayonn est caractris par
t
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0
0
8
4.3. Dtermination exprimentale de la position du centre acoustique d'un microphone
lectrostatique
97
la relation
p(r )=
j k
0
j
0
c
0
Q
0
2n
e
j k
0rr
s
r r
s
e
zz
s
,
r D
, (4.83)
o
Q
0 est le dbit volumique de la source situe en son centre acoustique de coordonne r
s et
l'affaiblissement linique de propagation dans l'air. Sur l'axe z le module du champ de pression
rayonn s'crit
p( z )=
C
zz
s
e
z z
s
, z>0 , (4.84)
o
z
s dsigne l'abscisse du centre acoustique de la source sur l'axe z , et o
C=k
0
j
0
c
0
Q
0
/(2n)
.
Le microphone lectrostatique balayant l'axe z mesure en son centre acoustique, dont la position
par rapport la membrane est note
d
c
(positive devant la membrane), la pression acoustique
mise par la source. Pour une position z de la membrane du microphone rcepteur, le module de la
pression mesure en son centre acoustique s'crit sous la forme
p(zd
c
)=
C
zd
c
z
s
e
zd
c
z
s
, z>0 . (4.85)
En considrant les positions z du microphone trs grande devant
d
c
+z
s
, il vient
e
z
p(zd
c
)
1
C
( zd
c
z
s
) . (4.86)
L'estimation de la valeur de
d
c consiste mesurer l'inverse du module de la pression p( zd
c
)
diverses positions z . Le second membre de l'quation (4.86) est une droite dont le coefficient
directeur et l'ordonne l'origine conduisent la somme
d
c
+z
s
. La connaissance de l'abscisse du
centre acoustique de la source
z
s conduit alors la distance
d
c
entre le centre acoustique du
microphone rcepteur test et sa membrane.
L'abscisse du centre acoustique
z
s de la source est calculable pour une surface vibrante dans un
cran plan, lorsque le profil de vitesse
v ( w
0
)
(suppose symtrie axiale) de la membrane est
connu en tout point. L'intgrale de Rayleigh [63], dfinie par la relation
p(r )=
j k
0
j
0
c
0
2n

S
0
e
jk
0 r w
0
r w
0
v ( w
0
)dS
0 ,
r D
, (4.87)
permet de calculer le champ de pression en tout point
r D
. Sur l'axe z le champ de pression
s'crit
p( z )=j k
0
j
0
c
0
0
a
e
jk
0 .z
2
+w
0
2
.
( z
2
+w
0
2
)
v( w
0
) w
0
dw
0 , z>0 . (4.88)
En calculant sur un intervalle
z| z
min
, z
max
l'inverse du module du champ de pression p( z) ,

puis en effectuant une rgression linaire (en utilisant la mthode des moindres carrs) sur les points
obtenus, le coefficient directeur et l'ordonne l'origine de cette rgression linaire conduisent
l'abscisse du centre acoustique
z
s de la source.
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98
Figure 4.6. Position du centre acoustique d'une surface vibrante dans un cran plan infini en fonction de la frquence :
calcule pour z compris entre 20 et 40 cm (courbes bleues) et z - (courbes noires) pour un profil de vitesse
uniforme (traits discontinus) et pour un profil de vitesse dfini selon la forme (4.89) (traits continus).
L'abscisse du centre acoustique
z
s de la source est value numriquement (figure 4.6) partir
du calcul du champ de pression
p( z)
sur les intervalles z|20 cm; 40 cm (courbes bleues) et
l'infini (courbes noires) en considrant :
soit un profil de vitesse uniforme (traits discontinus, rsultats conformes avec ceux publis
dans la rfrence [52] pour la mme configuration),
soit un profil de vitesse crit sous la forme (traits continus) (cf. 4.2.2.i)
v (w)j oB
0
(
1
J
0
(
k
w
w
)
J
0
( k
w
a)
)
, (4.89)
o
B
0 est une constante (dont le calcul n'est pas indispensable) et o le nombre d'onde
k
w est
dfini par la relation
k
w
2
=(o
2
c
s
i oS
m
Z
c
)/T
m
, (4.90)
o
T
m
est la tension de la membrane,
c
s
sa masse surfacique et
Z
c l'impdance de la cavit
arrire (cf. Annexe I). Pour l'tude exprimentale prsente, la source utilise est un microphone
1'' Brel & Kjr de Type 4144, trs proche dans sa conception du microphone talon de
laboratoire Type 4160 (le microphone 4144 prsente l'avantage de possder un filetage en
priphrie permettant une adaptation plus simple un support). Les courbes de la figure 4.6
montrent que la valeur de l'abscisse
z
s du centre acoustique de la source n'est pas ngligeable
(par rapport
d
c ) en hautes frquences lorsque le profil de vitesse
v (w
0
)
est non uniforme.
A noter que l'abscisse du centre acoustique ainsi calcule est une approximation puisque le
profil de vitesse (4.89) est une forme approche. Plus prcisment, le modle du microphone
constantes localises dcrit en Annexe I n'est certainement pas adapt aux hautes frquences.
Pour une estimation correcte de la position du centre acoustique de la source, le profil de
vitesse
v (w
0
)
de la membrane pourrait tre mesur l'aide d'un vibromtre laser, puis, les
rsultats de mesures intgrs dans l'intgrale de Rayleigh (4.88) [64].
Compar la procdure classique de mesure de la position du centre acoustique d'un microphone
[55] (source dans une tige semi-infinie), l'utilisation d'une surface vibrante dans un cran plan
permet un rayonnement acoustique approximativement suprieur de 3 dB. De plus, en basses
frquences (infrieures 5 kHz), le rendement d'un microphone 1'' est suprieur celui d'un
microphone '' d'environ 12 dB. De ce fait, de meilleures performances sont attendues sur les
rsultats de mesures, plus particulirement en basses frquences lorsque le transducteur test est un
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microphone ''.
4.3.2 Dispositif exprimental, mesures
Le dispositif exprimental utilis est dcrit sur la figure 4.7. Le microphone rciproque '' test
(Brel & Kjr Type 4180) est reli un pramplificateur adapt (Type 2673-W) mont sur un bras
tlescopique motoris (diamtre gal celui du microphone et du pramplificateur). Les signaux
reus sont amplifis par un amplificateur de type Nexus (2690 Brel & Kjr, cf. Annexe F.2). La
source sonore est un microphone rciproque 1'' (Brel & Kjr Type 4144) reli un
pramplificateur (Type ZE 0796) et encastr dans le sol d'une salle semi-anchoque (volume utile
de 110 m
3
). Le signal gnrateur est fourni par le gnrateur interne de l'analyseur PULSE (Brel &
Kjr) et conditionn par la voie mettrice de l'appareil de rciprocit (5998 de Brel & Kjr, cf.
Annexe F.1). L'analyseur Pulse permet d'effectuer les mesures lectriques et est reli un
ordinateur pour le pilotage (bras tlescopique et analyseur Pulse) et le stockage des donnes.
Figure 4.7. Dtermination de la position du centre acoustique d'un microphone : dispositif exprimental.
Le dispositif exprimental permet la mesure de la fonction de transfert
H
m
( z , f )=u
r
/ u
g
(en
module et phase) dfinie par le rapport entre la tension
u
r mesure aux bornes du microphone test
et la tension
u
g aux bornes du gnrateur (tension constante) dans une large gamme de frquences
et pour plusieurs distances z sparant la source du microphone test (cf. figure 4.8, o
f | 400Hz; 30 kHz avec A f =50 Hz et z|20 cm; 40 cm , avec Az=1cm ). La fonction de
cohrence (figure 4.9) mesure entre les signaux
u
r et
u
g en basses frquences montre que la
mesure des fonctions de transfert
H
m
( z , f )
n'est pas valide aux frquences infrieures 400 Hz,
ces mesures peuvent nanmoins tre values si ncessaire (cf. ci-aprs).
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Figure 4.8. Module (amplitude normalise) des fonctions de transfert H
m
( z , f ) mesures en fonction de la frquence
f et de la distance z sparant la source du microphone test ; f | 400 Hz; 30 kHz avec A f =50 Hz et
z| 20cm; 40cm , avec Az =1 cm .
Figure 4.9. Fonction de cohrence des signaux u
r
et u
g
z=20cm (points * * *), z=40cm (points ).
4.3.3 Perturbations des mesures
L'identification des perturbations influant sur les fonctions de transfert
H
m
( z , f )
est ralise en
calculant la rponse impulsionnelle du systme en fonction de la position z dfinie par l'opration
h
m
( z , t )=TF
1
|
H
m
( z , f )
. Afin de visualiser toutes les perturbations, sans repliement, les fonctions
de transfert
H
m
( z , f )
sont mesures dans un premier temps un pas frquentiel A f =10 Hz , ce
qui conduit des rponses impulsionnelles de longueur
c
0
T 34,5 m
( T=1/ A f et c
0
345m.s
1
).
Les enveloppes de ces rponses impulsionnelles ont t calcules par Transforme de Hilbert
dans l'unique but d'liminer les oscillations qui n'apportent pas d'informations et compliquent
l'observation des courbes. Les figures 4.10.a, b, c et d reprsentent en fonction de l'espace
c
0
t
les
enveloppes des rponses impulsionnelles (en amplitudes normalises) obtenues partir des
fonctions de transfert
H
m
( z , f )
mesures en z=20 cm et z=40 cm dans la bande frquentielle
[400 Hz ; 30 kHz]. Les chelles verticale et horizontale sont dilates et tronques diffremment
selon la figure de manire identifier les diffrentes perturbations. Les pics principaux,
correspondant au champ direct entre la source et le microphone test, sont dcals d'un facteur
c
0
t

quivalent au chemin acoustique parcouru (figures 4.10.c ou d). Plusieurs chos sont visibles dans
le domaine
c
0
t (5m; 12m)
(figure 4.10.b) correspondant aux chos induits par la porte, les murs et
le plafond de la salle semi-anchoque. Les chos induits par le champ rflchi sur le microphone
test puis sur le sol sont dcals par rapport aux pics principaux d'un facteur
c
0
t
gal deux fois la
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101
distance entre la source et le microphone test (figure 4.10.c).
Figure 4.10. Enveloppes des rponses impulsionnelles h
m
( z , t )=TF
1
| H
m
( z , f ) o z=20 cm (courbe bleue) et
z=40 cm (courbe noire), H
m
( z , f ) tant mesure avec f | 400 Hz; 30kHz et A f =10 Hz .
Plusieurs chos plus ou moins loigns des pics principaux (figure 4.10.c) sont attribuables des
discontinuits du sol rpertories sur la figure 4.11. Enfin, la figure 4.10.d montre qu'une partie de
l'nergie acoustique est reue par le rcepteur avec un lger retard par rapport aux pics principaux.
L'origine de ces perturbations peut tre localise soit prs du microphone test, soit prs de la
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102
source. La premire hypothse peut facilement tre carte par comparaison avec les rponses
impulsionnelles obtenues dans le cadre de l'talonnage en champ libre par la mthode de la
rciprocit (figures 3.11 et 3.12). Il s'agit donc de perturbations localises prs de la source, trs
probablement des vibrations de la plaque supportant la source ayant pour origine des transmissions
mcaniques entre la source et la plaque et/ou par mise en vibration de la plaque par propagation
arienne. Le dcouplage de la source et de la plaque l'aide d'un joint silicone de 1 mm d'paisseur
semble apporter une lgre amlioration comme le laisse apparatre les enveloppes des rponses
impulsionnelles obtenues avec et sans dcouplage (figure 4.12). En revanche, le changement de
matriaux (remplacement de l'aluminium par l'acier) et l'alourdissement de la plaque (plus paisse
d'un facteur cinq) n'apporte aucune modification significative (figure 4.13).
Figure 4.11. Dispositif exprimental : discontinuits du sol.
m
( z , t )=TF
1
| H
m
( z , f ) o z=20 cm (courbes bleues) et
z=40 cm (courbes noires), sans (traits discontinus) et avec (traits continus) dcouplage de la source avec la plaque
support l'aide d'un joint silicone de 1 mm d'paisseur.
m
( z , t )=TF
1
| H
m
( z , f ) o z=20 cm (courbes bleues) et
z=40 cm (courbes noires), en utilisant une plaque support en aluminium (traits discontinus), une plaque support en
acier cinq fois plus paisse (traits continus).
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103
4.3.4 Filtrage des fonctions de transfert, centres acoustiques
L'identification des perturbations permet la synthse d'une fentre de filtrage adapte au
problme pos. Dans un premier temps, un pr-traitement est effectu sur les fonctions de transfert
mesures
H
m
( z , f )
. Ce pr-traitement cherche :
corriger l'effet de l'affaiblissement de propagation dans l'air, (facteur e
z
),
corriger l'effet des variations de temprature et de pression statiques au cours de l'acquisition
des donnes sur l'impdance caractristique de l'air (
(jc)
( z , f ) , dpendant du moment de
l'acquisition des donnes pour le couple distance-frquence
( z , f )
, la temprature et la
pression statiques tant releves rgulirement),
obtenir des quantits proportionnelles au produit de l'efficacit du microphone test avec le
rendement de la source (correction d'un facteur 1/ f
2
, par analogie avec le produit des
efficacits en champ libre de deux microphones, Eqs. (3.37) et (3.43)),
corriger l'effet des variations de temprature et de pression statiques sur l'efficacit en champ
libre du microphone test (facteurs 6
T
ff
et 6
P
ff
, cf. 3.4.2 [43]),
centrer les pics principaux (champ direct source-microphone test) des rponses
impulsionnelles
h
m
( z , t)
autour de
c
0
t =0
. (facteur e
j k z
, le nombre d'onde k =o/ c
dpendant de la temprature et de la pression statiques, donc du moment de l'acquisition des
donnes pour le couple distance-frquence
( z , f )
).
Il vient,
H (z , f )=
H
m
( z , f )
( jc)
( z , f )
f
2
e
j k z
e
z
6
T
ff
6
P
ff
. (4.91)
Les effets des variations de temprature et de pression statiques au cours de l'acquisition des
donnes sur le rendement de la source (microphone 1'' Type 4144) ne sont pas pris en compte, ces
donnes n'tant pas disponibles pour la gamme de frquences utilise. Le dispositif exprimental
permet un contrle de la temprature statique (salle semi-anchoque climatise) mais ne permet pas
celui de la pression statique. De ce fait, il est important de rduire la dure totale de l'acquisition de
manire limiter les effets indsirables des variations de la pression statique sur le rendement de la
source. Ainsi, les fonctions de transfert
H
m
( z , f )
sont mesures un pas frquentiel A f =172Hz
de manire rduire la dure d'acquisition tout en permettant un filtrage convenable malgr les
repliements de certains chos.
Figure 4.14. Enveloppes des rponses impulsionnelles h( z , t )=TF
1
| H ( z , f ) o z=20 cm (courbe bleue) et
z=40 cm (courbe noire) et o A f =10 Hz et zones se repliant sur le pic principal autour de zro (zones non
ombres) lorsque la fonction de transfert H
m
( z , f ) est mesure un pas frquentiel A f =172 Hz .
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104
La figure 4.14 permet de mettre en vidence les perturbations qui ne peuvent pas tre filtres
lorsque les fonctions de transfert sont mesures avec un pas frquentiel A f =172Hz , pas qui
conduit des rponses impulsionnelles de priode
c
0
T2 m
. Sur cette figure sont traces les
enveloppes des rponses impulsionnelles obtenues lorsque les fonctions de transfert sont mesures
avec un pas A f =10 Hz (
c
0
T 34,5 m
). Les zones non ombres sur cette figure sont celles qui par
repliement se trouveraient superposes au pic principal d'intrt (autour de
c
0
t =0
) pour des
fonctions de transfert mesures avec un pas A f =172Hz . Ainsi le pas (172 Hz) a t choisi pour
qu'aucun cho important ne se trouve dans ces zones non ombres car de tels chos ne seraient
limins par filtrage.
Les fonctions de transfert modifies
H ( z , f )
sont filtres par convolution :
H
c
( z , f )=H( z , f )W
i
( f )
, (4.92)
o
W
i
( f )
dsigne un filtre spectrale construit en utilisant la mthode d'optimisation prsente au
paragraphe 3.4.3. Les filtres utiliss dans ce paragraphe sont dfinis dans le tableau 4.1, les termes
utiliss tant prciss sur la figure 3.13. Les filtres spectraux obtenus sont reprsents sur la figure
4.15 et les filtres temporels
w
i
(t )
quivalents sur la figure 4.16 en fonction de l'espace
c
0
t
.
Compte tenu des ordres des filtres obtenus, le filtrage des fonctions de transfert ncessite leur
prolongement dans les frquences ngatives en considrant la proprit H ( z ,f )=H
*
( z , f ) . Par
ailleurs, la cohrence des signaux mesurs ne permettant pas la mesure des fonctions de transfert
H
m
( z , f )
aux frquences infrieures 400 Hz (cf. figure 4.9), elles sont values pour ces
frquences par simple prolongement des premiers points frquentiels mesurs. Cette opration se
justifie d'une part par le fait que les fonctions de transfert modifies (Eq. 4.91) sont proportionnelles
au produit de l'efficacit en champ libre du microphone test avec le rendement de la source et
d'autre part, par le fait que ces deux quantits sont constantes pour les frquences en question
(compte tenu des caractristiques des microphones Type 4180 et 4144). Ce prolongement introduit
galement l'hypothse que le centre acoustique du microphone test est inchang pour les points
frquentiels prolongs, hypothse qui pourrait tre vrifie en utilisant les mthodes numriques
connues [65].
Filtre
W
1
Filtre
W
2
c
0
T
(en m) 2 2
Demi largeur prserve
c
0
t
p
(en m) 0,03 0,01
c
0
t
tr
(en m) 0,07 0,05
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB) 0,05 0,05
Affaiblissement minimum dans la largeur attnue (en dB) -40 -40
Ordre
( N+1)
du filtre
W
i
( f
k
)
obtenu 66 94
Tableau 4.1. Paramtres utiliss pour la synthse des filtres destins au filtrage des fonctions de transfert H( z , f )
(algorithme de Parks-McClellan).
Le filtre
W
1
( f
k
)
(figures 4.15 et 4.16) est dfini de manire supprimer toutes les perturbations
rpertories dans le paragraphe 4.3.3 exceptes celles attribues aux vibrations de la plaque
supportant la source. La position du centre acoustique ainsi obtenu (figure 4.17) oscille en fonction
de la frquence autour des donnes normalises [26]. Les rsultats exprimentaux prsents sont ici
corrigs du centre acoustique de la source (microphone 1'' Type 4144) valu au paragraphe 4.3.1 et
report sur la figure 4.17 (trait pointill). La courbe (trait discontinu-pointill) reprsente quant
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lectrostatique
105
elle l'valuation du centre acoustique de la source (cf. mthode au 4.3.1) en considrant d'une part
le mouvement de la membrane (profil de vitesse selon la forme (4.89)) et d'autre part le mouvement
de la plaque autour du microphone sur un rayon R=7cm selon un profil de vitesse v (w)=Ae
jk
0
w
,
o
k
0 et le nombre d'onde adiabatique dans l'air et o l'amplitude A est calcule de sorte que
l'nergie rayonne par la plaque de rayon R=7cm reprsente approximativement 2% de l'nergie
rayonne par la membrane (le chiffre de 2% tant estim approximativement en comparant les
nergies contenues dans les pics principaux et dans les zones considres comme perturbatrices des
enveloppes des rponses impulsionnelles (figures 4.12, 4.13, 4.16)). Il est intressant de constater
que la position du centre acoustique de la source ainsi calcule (figure 4.17, trait discontinu-
pointill) prsente dans les basses frquences une forme trangement similaire la forme
lgrement ondulante de la position obtenue du centre acoustique du microphone test (figure 4.17,
trait discontinu). Compte tenu de cette observation, nous avons une forte prsomption pour retenir
l'interprtation qui rsulte de ces propos, interprtation selon laquelle les ondulations de la courbe
exprimentale (figure 4.17, trait discontinu) par rapport aux positions normalises (figure 4.17, trait
continu) seraient dues une onde acoustique rasante mise par le microphone metteur engendrant
des vibrations (trs faibles) du support de l'metteur qui par suite met dans tout l'espace une onde
acoustique qui se superpose l'onde directe mise par le microphone metteur. L'estimation d'une
correction pour remdier ce problme ne peut tre envisage que dans le cas o le profil de vitesse
de la plaque est connu avec prcision. Ces vibrations tant extrmement faibles, leurs estimations
ncessite un matriel de mesure d'une grande prcision, probablement accessible aux meilleurs
vibromtres laser disponibles dans le march.
Figure 4.15. Fentres spectrales W
1
( f
k
) (****) et W
2
( f
k
) () dfinies dans le tableau 4.1
( A f =172Hz ).
Figure 4.16. Fentres de filtrage temporelles w
1
( t ) (trait pointill) et w
2
( t ) (trait discontinu) construites partir
des paramtres dfinis dans le tableau 4.1 et enveloppe d'une rponse impulsionnelle h( z , t )=TF
1
| H ( z , f ) (trait
continu).
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lectrostatique
106
L'utilisation d'un filtre plus slectif (filtre
W
2
( f
k
)
, cf. tableau 4.1, figures 4.15 et 4.16) dont les
largeurs de transition et prserve sont dfinies de manire roder la zone perturbatrice (figure
4.16) permet une diminution des oscillations constates sur la position du centre acoustique
exprimentale du microphone test sans pour autant les supprimer totalement, notamment dans les
hautes frquences (figure 4.18, trait discontinu). Il est difficile de dfinir un filtre encore plus
slectif sans altrer les pics principaux des rponses impulsionnelles, le filtrage ne peut donc
apporter de meilleures solutions au problme rencontr. Les rsultats obtenus montrent nanmoins
de bonnes concordances avec les positions de centre acoustique normalises [26] ou celles
prsentes dans les principales rfrences du domaine [54,55] (figure 4.18).
Figure 4.17. Position value du centre acoustique de la source (microphone 1'' Type 4144) sans (trait pointill) et
avec (trait discontinu-pointill) prise en compte des vibrations de la plaque supportant la source. Position du centre
acoustique d'un microphone '' Type 4180 normalise [26] (trait plein) et exprimentale (les fonctions de transfert
H( z , f ) tant filtres avec le filtre W
1
( f
k
) et les donnes exprimentales tant corriges de la position du centre
acoustique de la source sans prise en compte des vibrations de la plaque support)(trait discontinu).
Figure 4.18. Position du centre acoustique d'un microphone '' Type 4180 : dtermination exprimentale (les fonctions
de transfert H( z , f ) tant filtres avec le filtre W
2
( f
k
) , trait discontinu), position normalise [26] (trait continu),
position obtenue exprimentalement par la mthode de la rciprocit, issue des rfrences [54] (points ***) et [55]
(points ).
4.4 Conclusion
Le concept de centre acoustique est important dans le cadre de l'talonnage des microphones en
champ libre par la mthode de la rciprocit du fait que la contribution de l'erreur sur cette position
l'erreur globale sur l'efficacit mesure par rciprocit en champ libre est trs grande. L'tude
prsente dans ce chapitre cherche apporter un clairage sur ce concept travers une tude
thorique et exprimentale.
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4.4. Conclusion 107
Les rsultats analytiques disponibles dans la littrature (obtenus partir de la phase du champ de
pression acoustique) ont t complts en prenant en compte les effets de la membrane et de la
petite cavit frontale caractristique des microphones talons de laboratoire. Les nouveaux rsultats
analytiques montrent peu de diffrences avec ceux proposs dans la littrature pour un tube semi-
infini paroi d'paisseur non nulle. Par ailleurs, ces nouveaux rsultats analytiques divergent en
hautes frquences des donnes disponibles dans la littrature [26,54,55] obtenues par une mthode
s'appuyant sur le module du champ de pression acoustique. A noter que pour un tube semi-infini
paroi d'paisseur non nulle, les rsultats exprimentaux obtenus partir de la phase du champ de
pression acoustique sont en adquation avec les rsultats analytiques proposs par Y. Ando [56,61].
Cependant, les rsultats exprimentaux qui en pratique sont retenus dans le cadre de l'talonnage
des microphones en champ libre utilisent les proprits du module du champ de pression acoustique
du fait que ces rsultats conduisent des efficacits en champ libre (en module) indpendantes de la
distance entre l'metteur et le rcepteur lors de l'talonnage [44] (ce qui n'est pas le cas lorsque la
position du centre acoustique utilise est obtenue en utilisant les proprits de la phase du champ de
pression acoustique).
De manire exprimentale, la position du centre acoustique d'un microphone se dduit en gnral
de la mesure de la dviation de l'amplitude du champ de pression acoustique par rapport sa loi de
dcroissance inversement proportionnelle la distance. Dans la littrature, les rsultats
exprimentaux pour des microphones '' ne sont disponibles que pour des frquences suprieures
2 kHz. Afin d'largir la gamme de frquences utile (en basses frquences, partir de 400 Hz au lieu
de 2 kHz) une nouvelle mthode optimise pour la mesure de la position du centre acoustique d'un
microphone est propose. Les rsultats obtenus montrent de bonnes concordances avec les donnes
disponibles dans les principales rfrences du domaine [26,54,55], mais laissent apparatre des
perturbations attribues aux vibrations du support de la source, perturbations dont le filtrage des
fonctions de transfert ne peut apporter une solution totalement satisfaisante pour les hautes
frquences. C'est ainsi qu'une solution hybride peut tre envisage pour la dtermination
exprimentale du centre acoustique d'un microphone : en utilisant la mthode propose dans cette
tude pour les basses frquences et en utilisant la mthode classique [54,55] pour les hautes
frquences. A noter galement que la source utilise dans ce travail (1'') est plus particulirement
adapte aux basses frquences et que l'utilisation d'une source plus petite ('' ou '') serait plus
approprie pour la dtermination de la position du centre acoustique d'un microphone aux
frquences leves.
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Conclusion gnrale 109
Conclusion gnrale
Le travail prsent dans ce mmoire s'inscrit dans le cadre de missions confies au LNE, savoir
le dveloppement et le maintien des rfrences mtrologiques, missions qui incluent la participation
du LNE aux comparaisons inter-laboratoires ( l'chelle internationale) des talons nationaux. En
acoustique, les thmes de recherches couvrent les domaines de l'audiomtrie et de l'talonnage
primaire des microphones en pression et en champ libre ; c'est ainsi que les sujets abords dans ce
travail de thse font appel la mthode de la rciprocit en cavit et en champ libre.
Dans le premier chapitre de ce travail de thse, l'objectif recherch est de mettre en uvre et de
valider une mthode de mesure d'impdances d'entre de petits lments acoustiques, tels que des
tubes, fentes, cavits et leurs associations, afin d'optimiser le comportement acoustique de certains
dispositifs telle que l'oreille artificielle, l'instar de l'tude propose trs rcemment (2008) dans la
rfrence [66]. Cette technique de mesure d'admittance repose sur la mthode de rciprocit en
cavit utilise pour l'talonnage des microphones talons de laboratoire. La validation de cette
technique, par comparaison directe avec les admittances dentre thoriques (calcules sur la base
des donnes gomtriques) a ncessit la ralisation de petits composants (fente mince et tubes)
laide de procdures spcifiques permettant une grande prcision sur les dimensions de ces lments
(de l'ordre du m sur les dimensions sensibles). Les rsultats exprimentaux prsents montrent que
la mthode de mesure propose est adapte pour caractriser le comportement acoustique de divers
petits lments avec une bonne prcision pour les frquences infrieures 5 kHz. Elle se substitue
donc avantageusement aux valuations thoriques qui souffrent d'incertitudes relativement
importantes en raison des incertitudes sur les donnes gomtriques sensibles. Cette technique de
mesure peut tre utilise pour optimiser le comportement acoustique de chaque lment constitutif
de l'oreille artificielle et ainsi proposer des modles thoriques conduisant des rsultats plus prcis
que ceux actuellement proposs dans la norme CEI 60318-1 [11]. Par ailleurs, cette technique de
mesure ouvre la voie la caractrisation des dispositifs qui dans le futur seront miniaturiss en
utilisant des techniques de type MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) et qui exigeront des
mesures appropries d'admittances d'entre d'lments miniaturiss du fait que la limite de validit
de la thorie classique pourrait tre atteinte si les dimensions des lments en question taient
rduites.
Nanmoins, pour les hautes frquences (au del de 5 kHz), les rsultats prsents ont mis en
vidence la ncessit dutiliser un modle dcrivant le comportement acoustique de la cavit de
couplage plus prcis que celui utilis actuellement (modle onde plane), prenant en compte les
modes radiaux. Ceci pose de manire plus gnrale le problme de l'influence des modes radiaux
dans la cavit de couplage sur les rsultats des talonnages en pression par la mthode de la
rciprocit. Dans la rfrence [15], K. Rasmussen propose de corriger les effets de cette non-
uniformit l'aide d'un facteur de pondration appliqu au champ de pression l'avant de la
membrane du microphone rcepteur, cette pondration conduisant alors une meilleure
reproductibilit des rsultats de l'talonnage. Le deuxime chapitre de ce mmoire cherche vrifier
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le bien fond de cette correction en prolongeant les tudes menes prcdemment au LNE sur la
modlisation hautes frquences du champ acoustique non uniforme dans la cavit de couplage
par une modlisation du microphone lui-mme qui prend en compte la dforme dynamique de la
membrane (cette dforme rsultant du couplage membrane/champs acoustiques paritaux). Les
rsultats obtenus semblent confirmer le choix formul par K. Rasmussen pour corriger les effets de
la non-uniformit du champ de pression sur l'efficacit du microphone. Pour autant, ces rsultats
doivent tre interprts avec prcaution en raison des imperfections du modle de microphone
propos, qui de surcroit limitent l'exactitude de la reprsentation obtenue du champ de pression dans
la cavit de couplage. Des modles plus prcis, voire des mthodes numriques, auront tre mis en
uvre pour affiner les rsultats prsents dans la premire partie de ce mmoire.
La deuxime partie de ce travail trouve son origine dans la comparaison cl CCAUV.A-K4, entre
plusieurs laboratoires l'chelle internationale, portant sur les techniques d'talonnage des
microphones LS2P ('') en champ libre par la mthode de la rciprocit. La comparaison cl sur
l'talonnage des microphones en champ libre a ncessit une refonte complte du dispositif
exprimental du LNE, des techniques d'acquisition et des mthodes de filtrages des perturbations
acoustiques et lectriques (chapitre 3). Des difficults de mesures ont t mises en vidence,
difficults lies aux faibles niveaux acoustiques mis en jeu qui se traduisent par des mesures
d'impdances lectriques de transfert entaches de perturbations, dont les causes ont t identifies.
La participation la comparaison cl a t mene bien en respectant le calendrier prvu
(septembre 2007 pour le LNE) ( l'heure actuelle, les rsultats officiels de cette comparaison cl ne
sont pas encore publis). Cependant, les rsultats obtenus semblent tre en accord avec les valeurs
attendues. La rvision du bilan des incertitudes conscutive ce nouveau dispositif montre une
nette diminution de ces incertitudes compares celles dposes par le LNE au BIPM en 2005, bien
que cette diminution doive tre considre avec prcaution dans l'attente de la publication des
rsultats dfinitifs de la comparaison cl. Par ailleurs, cette rvision du bilan des incertitudes a mis
en vidence la contribution majoritaire de la position du centre acoustique sur l'incertitude globale
et a montr la ncessit de mettre l'accent sur l'tude de ce concept aussi bien sur le plan analytique
que sur le plan exprimental.
La dtermination analytique de la position du centre acoustique d'un microphone a t propose
sur la base de travaux antrieurs (dbut du chapitre 4), en y ajoutant la gomtrie particulire des
microphones concerns. Cette mthode de dtermination s'appuie sur les proprits de la phase du
champ de pression acoustique. Les nouveaux rsultats analytiques obtenus montrent peu de
diffrences avec ceux proposs dans la littrature pour un tube semi-infini paroi d'paisseur non
nulle. Par ailleurs, en hautes frquences ils s'cartent des principales donnes disponibles dans la
littrature, ces dernires tant obtenues par une mthode utilisant les proprits du module du
champ de pression acoustique. Ces observations semblent tre en accord avec les conclusions de
certains auteurs [52] selon lesquelles la position du centre acoustique d'un transducteur dpend de la
mthode de dtermination.
En pratique, pour les rsultats exprimentaux retenus dans le cadre de l'talonnage des
microphones en champ libre, ce sont les proprits du module du champ de pression acoustique qui
sont utilises du fait qu'elles conduisent des efficacits en champ libre indpendantes de la
distance entre l'metteur et le rcepteur. Dans la littrature, ces rsultats exprimentaux, pour des
microphones '', ne sont connus que pour des frquences suprieures 2 kHz. Afin d'largir la
gamme de frquences utile vers les basses frquences (de 2 kHz 400 Hz) une nouvelle mthode
exprimentale pour la dtermination de la position du centre acoustique d'un microphone a t
propose (fin du chapitre 4). La faisabilit de la mthode a t dmontre malgr les difficults
rencontres ; ces difficults sont lies des problmes de vibrations du support de la source dont les
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effets sur la position du centre acoustique sont importants en hautes frquences. Ainsi une solution
hybride peut dsormais tre envisage pour la dtermination exprimentale du centre acoustique
d'un microphone en utilisant la mthode propose dans ce mmoire pour les basses frquences et en
utilisant la mthode classique pour les hautes frquences.
Certains rsultats des travaux prsents dans ce mmoire posent notre sens les bases de travaux
futurs qui devraient permettre de poursuivre la modlisation pour rduire encore certaines causes
d'incertitudes, mais galement bien au del pour prvoir la mise en uvre des mthodes adaptes
la mtrologie des capteurs du futur qui seront fabriqus par des procds relevant des
microtechnologies. De surcrot, les mthodes analytiques et exprimentales arrivent un seuil
partir duquel il convient notre sens de prvoir une modlisation purement numrique des
phnomnes (notamment pour valider les approximations retenues dans les modles actuels) et de
prvoir l'usage de techniques optiques, les deux faisant dj l'objet d'tudes rcentes.
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Annexes
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A. Equation de propagation en fluide thermo-visqueux, approximation onde quasi plane
: application aux tubes et fentes
115
Annexe A
Equation de propagation en fluide thermo-
visqueux, approximation onde quasi plane :
application aux tubes et fentes
A.1 Formulation gnrale
Les variables dcrivant l'tat dynamique et thermodynamique du fluide sont :
l'cart instantan de pression p ,
la vitesse particulaire v ,
l'cart instantan de masse volumique
j'
,
l'cart instantan de temprature t .
La notation v et t n'est utilise ici que pour des questions de simplifications ultrieures. Les
paramtres caractristiques des proprits du fluide sont les suivants :
la masse volumique
j
0
,
la pression statique
P
0 ,
les coefficients de viscosit de cisaillement
j
et de volume
j
,
le coefficient de conduction thermique
\
,
le coefficient de compressibilit isotherme
X
T
,
les chaleurs massiques par unit de masse pression constantes et volume constant
C
P et
C
V , et leur rapport
=C
P
/ C
V
,
le taux d'accroissement de pression par unit d'accroissement de temprature volume constant
=(P/ T )
V
.
Pour le problme pos, l'amplitude des mouvements acoustiques est suffisamment faibles pour
pouvoir en linariser les quations. Les quations linaires homognes du mouvement du fluide
sont au nombre de trois [3, 2.5.1].
L'quation de Navier-Stokes
1
c
0
v
t
+
1
j
0
c
0
grad( p)=l
v

grad( div( v))l '
v

rot

rot ( v)
, (A.1)
o
l
v et
l '
v sont les longueurs caractristiques dfinies par
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A.1. Formulation gnrale 116
l
v
=
1
j
0
c
0
(
4
3
j+j
)
et
l '
v
=
j
j
0
c
0
,
et o c
0
=
.
/(j
0
X
T
) est la clrit adiabatique du son.
L'quation de Fourier pour la conduction de la chaleur
|
1
c
0
t
l
h
A
t=
1
1
c
0
p
t
, (A.2)
o
l
h
=\/(j
0
c
0
C
P
)
dsigne une longueur caractristique de diffusion thermique.
L'quation de conservation de la masse exprime dans un volume
D
0
D
0
|
c
0
2

t
( p
t)+j
0
div(v)
d D
0
=
D
0
(j
0
q) d D
0 , (A.3)
o q dsigne le dbit volumique d'une source acoustique dans le domaine considr
D
0 .
Les surfaces dlimitant le domaine sont considres comme localement planes. Les coordonnes
du systme sont notes (u ;r ) o u est la coordonne normale aux frontires dirige vers l'intrieur
du domaine, avec u=s sur les frontires, et o
r=( r
1
;r
2
)
est le couple de coordonnes
tangentielles aux frontires.
Le champ de pression l'intrieur du domaine considr est rgi par le systme d'quations (A.1),
(A.2) et (A.3), il est fini au centre du domaine si celui-ci est cylindrique et est soumis aux
conditions aux frontires suivantes : les composantes normale et tangentielles de la vitesse
particulaire et l'cart instantan de temprature s'annulent aux frontires, soit
v
u
=v
r1
=v
r2
=0
, et t=0 pour u=s . (A.4)
Un certain nombre d'hypothses simplificatrices peut tre retenu. Ces hypothses peuvent tre
rsumes de la manire suivante :
la composante normale de la vitesse particulaire
v
u est trs grande devant les composantes
tangentielles
v
r1
et
v
r2
,
les variations de l'cart instantan de temprature t et de la composante
r
i
de la vitesse
particulaire
v
ri
selon la variable
r
i
sont trs infrieures leurs variations selon la composante
u .
Ces approximations permettent de simplifier l'quation de Navier-Stokes (A.1) et l'quation de
Fourier (A.2). L'quation de Navier-Stokes s'crit
|
1+
1
k
v
2

2
u
2
v
r
=
1
j oj
0
c
0
grad
r
p
,
(us)0
, r , (A.5)
avec
k
v
=
1j
.2
.k
0
/ l '
v
(A.6)
et l'quation de Fourier s'crit
|
1+
1
k
h
2

2
u
2
t=
1
p
,
(us)0
, r , (A.7)
t
e
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3
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0
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2
0
0
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avec
k
h
=
1 j
.2
.
k
0
/l
h . (A.8)
L'approximation onde plane suppose que le champ de pression acoustique ne varie pas
significativement selon la composante u dans les couches limites thermiques et visqueuses proches
des parois du domaine. D'autre part, du fait des couches limites visqueuses, la composante r de la
vitesse particulaire
v
r
dpend fortement de la composante u dans ces couches limites. Ainsi, le
membre de droite de l'quation (A.5) est suppos quasi indpendant de la composante u , ce qui
conduit la solution approche, satisfaisant aux conditions
v
u
=0
en u=s ,
v
r
=
1
j oj
0
grad
r
p
|
1
1
(
j k
v
u
)
1(j k
v
s)
, (A.9)
o
1
(
j k
v
u
) est la solution gnrale de l'quation homogne associe l'quation (A.6). De
mme, la solution de l'quation (A.7) satisfaisant la condition t=0 en u=s s'crit
t=
1
p
|
1
1
(
j k
h
u
)
1(j k
h
s)
. (A.10)
De plus, en considrant l'approximation onde plane, les effets des couches limites visco-
thermiques donns par ces solutions peuvent tre approches en considrant leur valeur moyenne
sur une section du domaine considr (section d'une cavit cylindrique, fente ou tube), en
considrant la pression uniforme sur cette section du domaine [10]. Ainsi, les solutions approches
pour la composante r de la vitesse particulaire moyenne (note
v
r
) et pour l'cart instantan
moyen de temprature (note t ) s'crivent
v
r
j
k
0
j
0
c
0
grad
r
p(u , r)
1
S
d
S
d
|
1
1
(
j k
v
u
)
1(j k
v
s)
dS
d
, (A.11.a)
soit
v
r
j
k
0
j
0
c
0
grad
r
p(u , r) |1K
v
, (A.11.b)
avec
K
v
=
1
(
j k
v
u
)
1(j k
v
s)
(A.12)
et
t=
1
p(u , r )| 1K
v
, (A.13)
avec
K
h
=
1
(
j k
h
u
)
1(j k
h
s)
. (A.14)
En reportant les quations (A.11.b) et (A.13) dans l'quation de conservation de la masse (A.3)
(avec q=0 ) et en supposant que la composante u de la vitesse particulaire
v
u est donne par
l'quation d'Euler
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
v
u
=
j
k
0
j
0
c
0
u
p( u , r )
, (A.15)
il vient,
|

2
u
2
+(1K
v
) A
r
+k
0
2
( 1+( 1) K
h
)
p=0 . (A.16)
A.2 Application aux tubes cylindriques (coupleurs et tubes troits) et
aux fentes annulaires
i. Cavits cylindriques et tubes troits
Pour une cavit cylindrique de rayon a , le systme de coordonnes s'crit
u=aw , r=(0, z) . (A.17)
En supposant la propagation d'ondes planes suivant l'axe z , le champ de pression ne dpend que
de la coordonne z , l'quation de propagation (A.16) est rduite l'expression
|

2
z
2
+k
z
2
p( z)=0 , (A.18)
o
k
z
2
=k
0
2
1+( 1) K
h
1K
v
, (A.19)
o
k
0
=o/ c
0 et
K
v, h
=
2
k
v, h
a
J
1 (
k
v , h
a
)
J
0
(
k
v , h
a
)
. (A.20)
De plus, en supposant le tube ou le cylindre comme large , soit k
v , h
a1
, le nombre d'onde
k
z peut tre crit sous sa forme classique
k
z
2
k
0
2
|
1+
1 j
.2
2
a
.
k
0
(.
l '
v
+( 1)
.
l
h )
. (A.21)
ii. Fentes annulaires
Pour une fente annulaire d'paisseur e , le systme de coordonnes s'crit
u=z
s
ou
u=ez
s , r=( w, 0) . (A.22)
En supposant le champ de pression radial, il ne dpend que de la coordonne w et l'quation de
propagation (A.16) est rduite l'expression
|

2
w
2
+
1
w

w
+X
2
p(w)=0 , (A.23)
o
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
A.2. Application aux tubes cylindriques (coupleurs et tubes troits) et aux fentes
annulaires
119
X
2
=k
0
2
1+( 1) K
h
1K
v
, Re(X)>0 et Im(X)0 , (A.24)
avec
K
v, h
=
tan( k
v , h
e /2)
k
v , h
e/ 2
. (A.25)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
B. Solution modale du champ de pression dans une cavit cylindrique 121
Annexe B
Solution modale du champ de pression dans une
cavit cylindrique
Dans certaines circonstances, le modle onde plane (Eq. A.18) utilis pour dcrire le
comportement du champ de pression dans une cavit cylindrique est insuffisant. Ce modle, nglige
les modes suprieurs (modes radiaux) qui peuvent avoir une influence non ngligeable sur le
rsultat d'un talonnage (cf. chapitre 2) o encore sur les mesures d'impdances de petits lments
acoustiques (cf. chapitre 1). C'est l'objet de cette Annexe que de prsenter un modle plus labor,
extrait de la rfrence [10] o les auteurs prsentent une solution reposant sur la formulation
intgrale et qui prend en compte la nature dissipative du fluide. L'expos traite du cas gnral pour
la mesure d'une impdance
Y
c localise en paroi d'une cavit de couplage mais s'adapte galement
au problme pos par l'talonnage en pression des microphones par la mthode de la rciprocit,
pour lequel
Y
c
=0
.
L'quation de propagation (A.16) s'crit de la manire suivante (en supposant que les variations
du champ de pression p suivant les coordonnes w et 0 sont trs petites devant les variations
suivant les coordonnes z ) :
|
1
w

w
w

w
+
1
w
2

2
0
2
+

2
z
2
+k
2
p( w , 0, z )=0 , (B.1)
o le nombre d'onde k qui tient compte des effets des couches limites thermovisqueuses latrales
est donn par le membre de droite de l'quation (A.19)
k
2
=k
0
2
1+( 1) K
h
1K
v
, (B.2)
les termes
K
v et
K
h tant donns par l'quation (A.20), ou, par la forme approche (A.21)
k
2
k
0
2
|
1+
1 j
.2
2
a
.
k
0
(.
l '
v
+( 1)
.
l
h )
. (B.3)
La propagation des ondes dans le cylindre est rgie par l'quation (B.1) associe aux conditions
aux frontires suivantes :
v
w
=0, w=a , 0(0,2n) , z ( 0, l ) ,
v
w
=
Y
c
c
c
p , w=a , 0(0,2n) , z=l
c
,
(B.4.a)
(B.4.b)
c
c dsignant la surface de l'ouverture de l'lment caractriser suppose trs petite devant la
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
surface latrale de la cavit de couplage,
jc
0
v
z
=jc
0
v
e
z0
p , w(0, a
e
) , 0(0,2n) , z=0,
jc
0
v
z
=jc
0
v
R
+
z l
p , w(0, a
r
) , 0(0,2n) , z=l ,
jc
0
v
z
=
z0
p , w(a
e
, a) , 0(0,2n) , z=0,
jc
0
v
z
=
z l
p , w(a
r
, a) , 0(0,2n) , z=l ,
(B.4.c)
(B.4.d)
(B.4.e)
(B.4.f)
o
z0 et
z l dsignent les admittances acoustiques spcifiques des parois respectivement en z=0

et
z=l
traduisant les effets des couches limites thermovisqueuses.
Les admittances
z0 et
z l restant petites, compte tenu des quations (A.11.b) et (A.20), les

conditions aux frontires (B.4.a-f) s'crivent (quelque soit 0(0,2n) )
p
n
=
p
w
=0, w=a , z(0, l ) ,
p
n
=
p
w
=j k
0
j
0
c
0
Y
c
c
c
p , w=a , z=l
c
,
p
n
=
p
z
=
j k
0
j
0
c
0
1K
v
v
z
j k
0
j
0
c
0
1K
v
v
e
j k
0
z0
p , w( 0, a
e
) , z=0,
p
n
=
p
z
=
j k
0
j
0
c
0
1K
v
v
z
j k
0
j
0
c
0
1K
v
v
R
j k
0
z l
p , w( 0, a
r
) , z=l ,
p
n
=
p
z
=j k
0
z0
p , w( a
e
, a), z=0,
p
n
=
p
z
=j k
0
z l
p , w( a
r
, a), z=l ,
(B.5.a)
(B.5.b)
(B.5.c)
(B.5.d)
(B.5.e)
(B.5.f)
Le champ de pression dans la cavit de couplage est rgi par l'quation (B.1) associe aux
conditions aux frontires (B.5.a-f). A l'instar de la rfrence [10, 2.3] traitant de la cavit
totalement close, le champ de pression p peut tre exprim l'aide de la formulation intgrale. La
fonction de Green est ici choisie de manire satisfaire aux mmes conditions aux frontires (B.5.a-
f) que la pression p soit (quelque soit
0(0,2n)
)
n
G( w , w
0
)=j k
0
z0
G( w, w
0
) , w( 0, a) , z=0,
n
G( w , w
0
)=j k
0
z l
G( w, w
0
) , w( 0, a) , z=l ,
n
G( w , w
0
)=0, w=0, z(0, l ).

(B.6.a)
(B.6.b)
(B.6.c)
Le champ de pression acoustique en tout point de la cavit s'crit alors de la manire suivante :
p( w)=
j k
0
j
0
c
0
1K
v
|
S
e
v
e
( w
0
) G( w , w
0
) dS
0
+
S
r
v
R
( w
0
)G( w, w
0
) dS
0
j k
0
j
0
c
0
c
c
y
c
( w
0
) p( w
0
) G( w , w
0
) dS
0
,
(B.7)
o
S
e et
S
r sont respectivement les surfaces des membranes des microphones metteur et
rcepteur, o
y
c
=Y
c
/c
c et o la fonction de Green est donne par l'expression [10]
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
G( w , w
0
)=

j, +=0,1... , d =c , s
g
j+
( z , z
0
) E
j+
d
( w
0,
0
0
) E
j +
d
( w, 0)
, (B.8)
o les fonctions propres E
j+
d
( d =c , s respectivement pour cosj0 et sinj0 ) satisfont la
condition de Neumann aux frontires. L'quation (B.7) prend la forme
p( w , 0, z)=
j , +, d
p
j+
d
( z) E
j+
d
( w , 0)
, (B.9)
avec
p
j+
d
( z)=
j k
0
j
0
c
0
1K
v
| g
j+
( z ,0) v
e
E
j+
d
e
+g
j+
d
( z , l ) v
R
E
j+
d
j k
0
j
0
c
0
g
j +
d
( z , l
c
)

j' , +' , d '
p
j' +'
d '
( l
c
) y
c
E
j' +'
d '
E
j +
d
c
c
,
(B.10)
o v
e
E
j +
d
e
est l'intgrale sur la surface
S
e du produit v
e
(w
0
, 0
0
)E
j+
d
( w
0
, 0
0
) et v
R
E
j+
d
r

l'intgrale sur la surface
S
r du produit v
R
(w
0
, 0
0
) E
j+
d
( w
0
, 0
0
) et o
E
j+
c
(w , 0)=
1
a
j
b
j+
cos( j0) J
j
(
k
wj+
w
)
,
E
j+
s
( w, 0)=
1
a
j
b
j+
sin( j0) J
j
( k
wj+
w) ,
(B.11.a)
(B.11.b)
o
1/ (a
j
b
j +
)
est le coefficient de normalisation des fonctions propres,
J
j
la fonction de Bessel
cylindrique de premire espce, et
k
wj+ les valeurs propres associes, dfinies par
k
wj+
a=
j+
, (B.12)
o
j+ reprsente le
(++1)
ime zro de la drive premire de la fonction de Bessel
J
j (
k
wj+
w
) .
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
C. Plans des coupleurs de haute prcision utiliss pour la mesure d'impdance d'entre
d'une fente annulaire et d'un rseau de quatre tubes
125
Annexe C
Plans des coupleurs de haute prcision utiliss
pour la mesure d'impdance d'entre d'une fente
annulaire et d'un rseau de quatre tubes
Cette Annexe regroupe les plans et procdures de fabrications de deux coupleurs de haute
prcision : un pourvu d'une fente annulaire et un autre pourvu d'un rseau de quatre tubes.
C.1 Coupleur pourvu d'une fente annulaire de haute prcision
Le coupleur raliser est dcrit par les plans N:
AF-01 : assemblage du coupleur fente,
F-01 : lment du coupleur,
F-02 : lment du coupleur,
G-01 : goupilles de centrage et de fixation.
A cela s'ajoute 3 rondelles souples de type ISO7089 5, 3 crous 6 pans M5 et plusieurs cales
talon ISO3650 de diffrentes paisseurs.
La conception du coupleur cherche respecter deux objectifs :
une incertitude sur lpaisseur de la fente de 1 m,
une incertitude sur sa longueur de 10 m.
Afin dy parvenir, le coupleur est constitu de deux pices principales (lments F-01 et F-02)
pourvues de trois bras de support en priphrie. La particularit de chacune de ces pices (F-01 et
F-02) est que la surface dlimitant la fente annulaire (surface A du plan N:F-01 ou N:F-02) et les
trois surfaces dappuis des supports (surfaces B, C et D du plan N:F-01 ou N:F-02) seront
confondues dans le mme plan. Cette opration est obtenue en rectifiant ces surfaces en mme
temps par rodage avec une excellente finition (Ra<0,05). La fente est alors cre en plaant entre
chaque support des cales talons ISO3650 mesures avec une incertitude de 1/100 m.
La procdure de fabrication (PF-01) prvoit de percer les trous de fixations et de centrage dans un
bloc cylindrique unique qui sera ensuite sci en deux mi-hauteur. Aprs reprage de chaque trou,
les deux blocs ainsi obtenus seront usins afin dobtenir les lments F-01 et F-02. Le centrage des
lments F-01 F-02 sera alors garanti 10 m en appariant les deux pices convenablement et en
utilisant des goupilles de prcision adaptes (G-01).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
C.1. Coupleur pourvu d'une fente annulaire de haute prcision 126
Enfin, la mthode de mesure impose que les deux microphones soient isols lectriquement. Le
matriau choisi pour lusinage des lments F-01, F-02 et G-01 est donc lalumine (AF997), connue
pour ses proprits disolant lectrique et qui de plus, offre des proprits mcaniques intressantes
en terme de rigidit.
N.B. : Les plans qui suivent sont prvus l'origine pour tre imprims sur un format A3, l'chelle
est ici divise par deux.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
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0
0
3
4
9
2
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6
,

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e
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n

1

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2
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8
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3
4
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2
0
6
,

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e
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n

1

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2
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2
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0
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0
0
3
4
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2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
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2
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0
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0
0
3
4
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,

v
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n

1

-

2
4

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c

2
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,

v
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n

1

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2
4

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e
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0
0
3
4
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6
,

v
e
r
s
i
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n

1

-

2
4

D
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c

2
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0
8
t
e
l
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0
0
3
4
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2
0
6
,

v
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r
s
i
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n

1

-

2
4

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2
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0
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e
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0
0
3
4
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2
0
6
,

v
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n

1

-

2
4

D
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c

2
0
0
8
C.2. Coupleur pourvu d'un rseau de quatre tubes de haute prcision 135
C.2 Coupleur pourvu d'un rseau de quatre tubes de haute prcision
Le coupleur raliser est dcrit par les plans N:
A1-01 : assemblage du coupleur,
T-01 : coupleur,
T-02 : tubes.
Les techniques de perage usuelles (foret, laser ou lectrorosion) ne permettent pas de percer
des trous avec le rapport rayon/longueur demand et avec la prcision requise. La solution retenue
consiste mouler des petits cylindres en alumine autour dun fil de diamtre connu au m prs.
Aprs dmoulage, les petits cylindres obtenus (T-02) sont ensuite adapts et encastrs dans le
coupleur (T-01). La forme concave lintrieur du coupleur est reproduite sur une extrmit des
cylindres (T-01) afin dexclure toute discontinuit importante.
Le matriau choisi pour lusinage des lments T-01 et T-02 est lalumine (AF997), connue pour
ses proprits disolant lectrique et qui de plus, offre des proprits mcaniques intressantes en
terme de rigidit.
Le coupleur obtenu est prsent sur la figure C.1.
Figure C.1. Coupleur de haute prcision pourvu d'un rseau de quatre tubes ouverts.
N.B. : Les plans qui suivent sont prvus l'origine pour tre imprims sur un format A3, l'chelle
est ici divise par deux.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
D. Calculs intermdiaires dans la rsolution des problmes poss dans le chapitre 2 139
Annexe D
Calculs intermdiaires dans la rsolution des
problmes poss dans le chapitre 2
Cette Annexe traite de la rsolution des problmes poss dans les paragraphes 2.3 et 2.4. Celui
pos dans le paragraphe 2.3 est un cas particulier du problme pos dans le paragraphe 2.4. Ainsi,
les propos qui suivent ne traitent que de la rsolution du problme gnral, les solutions du
problme pos dans le paragraphe 2.3 se dduisant aisment des quations de couplage donnes ci-
dessous.
Les coefficients inconnus du problme pos dans le paragraphe 2.4 forment six ensembles :
p
l ej
,
p
l r j
,
B
0 e
,
(
ej
,
B
0 r
et
(
r j
dfinis respectivement par les quations (2.82), (2.89), (2.85.a
et b) et (2.93.a et b) coupls au champ de pression dans la cavit de couplage (Eqs. (2.73), (2.74),
(2.75) et (2.76.a et b)). Compte tenu du nombre important d'quations couples, la rsolution du
problme est effectue en crivant ces quations sous forme matricielle. C'est l'objet de cette
Annexe que de prsenter ces calculs.
D.1 Calculs intermdiaires
i. Expression des constantes d'intgration p
(z)
p
j
( z )
sont donnes par l'expression (2.75) rappele ci-dessous
p
j
( z)=
o
2
j
0
1K
v
| g
j
( z ,0) (
e
( w
0
)E
j
( w
0
)
e
+g
j
( z , l ) (
r
( w
0
)E
j
( w
0
)
r
,
o les coefficients
g
j
( z , z
0
)
sont donns par les quations (2.76.a et b). Le produit scalaire
(
e
(w
0
)E
j
( w
0
)
e
=2n
0
a
e
(
e
( w
0
) E
j
( w
0
) w
0
dw
0
(D.1.a)
s'crit d'aprs les quations (2.74), (2.83) et (2.84) (en faisant usage de la proprit (E.4)) :
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
D.1. Calculs intermdiaires 140
(
e
(w
0
)E
0
( w
0
)
e
=
|
.na
e
2
a

J
1
( k
we
a
e
)
J
0
( k
we
a
e
)
2.na
e
/ a
k
we

B
0 e
+2
n=0
a
e
/a
j
n
(
en
, pour j=0
(
e
(w
0
)E
j
( w
0
)
e
=
|
2.na
e
j
J
1 (
j
a
e
/a
)
J
0
(
j
)

2.na
e
/ a
J
0
(
j
) J
0
(
k
we
a
e
)
1
(
j
/ a)
2
k
we
2

.
|
j
a
J
0
(
k
we
a
e
)
J
1
(
j
a
e
/ a
)
k
we
J
0
(
j
a
e
/a
)
J
1
(
k
we
a
e
)
B
0e
+2
J
0
(
j
a
e
/a)
J
0
(
j
)

n=0
j
n
a
e
/a
j
n
2
(
j
a
e
/ a)
2
(
en
,
pour j1,
(D.1.b)
et le produit scalaire
(
r
(w
0
)E
j
( w
0
)
r
=2n
0
a
r
(
r
( w
0
) E
j
( w
0
) w
0
dw
0
(D.2.a)
s'crit d'aprs les quations (2.74), (2.91) et (2.92) (en faisant usage de la proprit (E.4)) :
(
r
( w
0
)E
0
(w
0
)
r
=
|
.na
r
2
a

J
1
( k
we
a
r
)
J
0
( k
wr
a
r
)
2.na
r
/a
k
wr

B
0r
+2
n=0
a
r
/a
j
n
(
rn
, pour j=0
(
r
(w
0
)E
j
( w
0
)
r
=
|
2 .na
r
j
J
1 (
j
a
r
/a
)
J
0
(
j
)

2.na
r
/a
J
0
(
j
) J
0
(
k
wr
a
r
)
1
(
j
/ a)
2
k
wr
2

.
|
j
a
J
0
(
k
wr
a
r
)
J
1
(
j
a
r
/ a
)
k
wr
J
0
(
j
a
r
/a
)
J
1
(
k
we
a
r
)
B
0r
+2
J
0
(
j
a
r
/ a)
J
0
(
j
)

n=0
j
n
a
r
/ a
j
n
2
(
j
a
r
/a)
2
(
rn
,
pour j1.
(D.2.b)
ii. Expression des constantes d'intgration p
l
e
et p
l
r
Les coefficients
p
l ej
et
p
l r j
sont respectivement dfinis par les quations (2.82) et (2.89)
rappeles ci-dessous :
p
l e j
=
o
2
j
0
F
ve
c
e
(
e
( w
0
)1
l ej
(w
0
)
ele
X
e
2
( j
j
/ a
ele
)
2
,
p
l rj
=
o
2
j
0
F
vr
c
r
(
r
( w
0
)1
l r j
(w
0
)
elr
X
r
2
( j
j
/a
elr
)
2
.
Les produits scalaires
(
e
(w
0
)E
ej
( w
0
)
e
et
(
r
(w
0
)E
r j
( w
0
)
r
sont respectivement donns par les
solutions (D.1.b) et (D.2.b) avec
a=a
e pour le premier et
a=a
r pour le second. Les coefficients
p
l ej
et
p
l r j
s'crivent alors
p
l ej
=
o
2
j
0
/(F
ve
c
e
)
X
e
2
(
j
/ a
e
)
2
|
(
.na
e
6
j0
J
1
(
k
we
a
e
)
J
0 (
k
we
a
e)
2 .nk
we
k
we
2
(
j
/a
e
)
2
)
B
0e
+2
n=0
j
n
j
n
2
j
2
(
en
(D.3)
et
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
p
l r j
=
o
2
j
0
/( F
vr
c
r
)
X
r
2
(
j
/a
r
)
2
|
(
.na
r
6
j0
J
1
(
k
wr
a
r
)
J
0 (
k
wr
a
r )
2.nk
wr
k
wr
2
(
j
/ a
r
)
2
)
B
0r
+2
n=0
j
n
j
n
2
j
2
(
rn
(D.4)
o
6
j 0 est le symbole de Kronecker.
iii. Expression des constantes d'intgration B
0e
et
e
La constante
B
0 e
est dfinie par l'quation (2.85.a) rappele ci-dessous :
B
0 e
=
p( a
e
,0)p
l e
(a
e
)p
s
T
me
k
we
2
.
En utilisant les expressions (2.73) et (2.80) respectivement pour les champs de pression p( w , z)
et
p
l e
( w)
, il vient
B
0 e
=
j=0
p
j
( 0) E
j
( a
e
)
j=0
p
l ej
E
ej
( a
e
)p
s
T
me
k
we
2
. (D.5)
Les coefficients
(
ej
sont dfinis par l'quation (2.85.b) rappele ci-dessous :
(
ej
=
p( w
0
,0)p( a
e
,0)
1
ej
( w
0
)
p
l e
(w
0
)p
l e
( a
e
)
1
ej
(w
0
)
e
T
me
( k
we
2
( j
j
/ a
e
)
2
)
.
et
p
l e
( w)
, il vient
(
ej
=
n=0
p
n
(0)
E
n
( w
0
)E
n
( a
e
)
1
e j
( w
0
)
n=0
p
l en
E
en
( w
0
)E
e n
( a
e
)
1
ej
( w
0
)
e
T
me
( k
we
2
( j
j
/ a
e
)
2
)
(D.6)
o (d'aprs les quations (2.74), (2.84) et la proprit (E.4))
E
n
( w
0
)E
n
(a
e
)1
ej
(w
0
)
e
=2
J
0
(
n
a
e
/ a)
J
0
(
n
) (
j
j
a
e
/a
( j
j
)
2
(
n
a
e
/ a)
2
a
e
/ a
j
j
)
, (D.7)
et o (d'aprs les quations (2.81), (2.84) et la proprit (E.4))
E
en
( w
0
)E
e n
( a
e
)
1
ej
( w
0
)
e
=2
(
j
j
j
j
2
n
2
1
j
j
)
. (D.8)
iv. Expression des constantes d'intgration B
0r
et
r
La constante
B
0 r
est dfinie par l'quation (2.93.a) rappele ci-dessous :
B
0r
=
p(a
r
, l )p
l r
( a
r
)
T
mr
k
wr
2
.
et
p
l r
(w)
, il vient
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
B
0r
=
j=0
p
j
( l ) E
j
(a
r
)
j=0
p
l r j
E
r j
( a
r
)
T
mr
k
wr
2
. (D.9)
Les coefficients
(
r j
(
r j
=
p( w
0
, l )p( a
r
, l )
1
r j
(w
0
)
p
l r
( w
0
)p
l r
(a
r
)
1
r j
( w
0
)
r
T
mr
( k
wr
2
( j
j
/ a
r
)
2
)
.
et
p
l r
(w)
, il vient
(
r j
=
n=0
p
n
( l )
E
n
( w
0
)E
n
(a
r
)
1
rj
( w
0
)
n=0
p
l r n
E
r n
(w
0
)E
r n
( a
r
)
1
r j
( w
0
)
r
T
mr
( k
wr
2
( j
j
/a
r
)
2
)
, (D.10)
o (d'aprs les quations (2.74), (2.92) et la proprit (E.4))
E
n
( w
0
)E
n
(a
r
)1
r j
( w
0
)
r
=2
J
0
(
n
a
r
/a)
J
0
(
n
) (
j
j
a
r
/ a
( j
j
)
2
(
n
a
r
/ a)
2
a
r
/ a
j
j
)
, (D.11)
et o (d'aprs les quations (2.88), (2.92) et la proprit (E.4))
E
r n
( w
0
)E
r n
( a
r
)
1
r j
(w
0
)
r
=2
(
j
j
j
j
2
n
2
1
j
j
)
. (D.12)
D.2 Rsolution du problme coupl
Rappelons que les coefficients inconnus du problme coupl dfini au paragraphe 2.4 forment six
ensembles :
p
l ej
,
p
l r j
,
B
0 e
,
(
ej
,
B
0 r
et
(
r j
dfinis respectivement par les quations (2.82),
(2.89), (2.85.a et b) et (2.93.a et b) coupls au champ de pression dans la cavit de couplage (Eqs.
(2.73), (2.74), (2.75) et (2.76.a et b)).
D.2.1 Ecriture matricielle des quations du problme
i. Constantes d'intgration p
(z)
p
j
( z )
, dfinies par l'quation (2.75) s'crivent en fonction de
B
0 e ,
(
ej
,
B
0 r
et
(
r j
sous la forme matricielle suivante :
p
j
( z)=d
0
e
( z) B
0e
+D
0
e
( z) (
ej
+d
0
r
( z )B
0 r
+D
0
r
( z) (
r j
, (D.13)
o d
0
e
( z) et d
0
r
( z) sont des vecteurs colonnes dfinis par (Eqs. (2.75), (D.1.b) et (D.2.b))
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
D.2. Rsolution du problme coupl 143
|
d
0
e
( z )
0
=
o
2
j
0
1K
v
g
0
( z ,0)
|
.na
e
2
a

J
1
( k
we
a
e
)
J
0
( k
we
a
e
)
2 .na
e
/ a
k
we

, j=0,
|
d
0
e
( z )
j
=
o
2
j
0
1K
v
g
j
( z ,0)
|
2.na
e
j
J
1 (
j
a
e
/a
)
J
0
(
j
)

2.na
e
/ a
J
0
(
j
)
J
0
(
k
we
a
e
)
1
(
j
/ a)
2
k
we
2
.
|
j
a
J
0
(
k
we
a
e
)
J
1
(
j
a
e
/a
)
k
we
J
0
(
j
a
e
/ a
)
J
1
(
k
we
a
e
)
,
j1,
(D.14)
et
|
d
0
r
( z )
0
=
o
2
j
0
1K
v
g
0
( z , l )
|
.na
r
2
a

J
1
( k
wr
a
r
)
J
0
(k
wr
a
r
)
2.na
r
/ a
k
wr

, j=0,
|
d
0
r
( z )
j
=
o
2
j
0
1K
v
g
j
( z , l )
|
2 .na
r
j
J
1 (
j
a
r
/a
)
J
0
(
j
)

2.na
r
/ a
J
0
(
j
)
J
0
(
k
wr
a
r
)
1
(
j
/a)
2
k
wr
2
.
|
j
a
J
0
(
k
wr
a
r
)
J
1
(
j
a
r
/a
)
k
wr
J
0
(
j
a
r
/a
)
J
1
(
k
wr
a
r
)
,
j1,
(D.15)
et o D
0
e
( z) et D
0
r
( z) sont des matrices carres dfinies par (Eqs. (2.75), (D.1.b) et (D.2.b))
| D
0
e
( z)
i , j
=
2o
2
j
0
1K
v
g
j
( z ,0)
J
0
(
j
a
e
/ a)
J
0
(
j
)
j
i
a
e
/ a
j
i
2
(
j
a
e
/ a)
2
(D.16)
et
| D
0
r
( z)
i , j
=
2o
2
j
0
1K
v
g
j
( z , l )
J
0
(
j
a
r
/ a)
J
0
(
j
)
j
i
a
r
/ a
j
i
2
(
j
a
r
/a)
2
, (D.17)
les coefficients
g
j
( z , z
0
)
tant dfinies par l'quation (2.76).
ii. Constantes d'intgration p
l
e
et p
l
r
p
l ej et
p
l r j dfinies par les quations (D.3) et (D.4) s'crivent en
fonction de
B
0 e ,
(
ej
,
B
0 r
et
(
r j
sous les formes matricielles suivantes :
p
l ej
=d
1
e
B
0 e
+D
1
e
(
ej
(D.18)
et
p
l r j
=d
1
r
B
0r
D
1
r
(
r j
, (D.19)
o d
1
e
et d
1
r
sont des vecteurs colonnes dfinis par (Eq. (D.3))
| d
1
e
j
=
o
2
j
0
/(F
ve
c
e
)
X
e
2
(
j
/a
e
)
2
(
.na
e
6
j 0
J
1
(
k
we
a
e
)
J
0
( k
we
a
e
)
2.nk
we
k
we
2
(
j
/a
e
)
2
)
(D.20)
et (Eq. (D.4))
| d
1
r
j
=
o
2
j
0
/(F
vr
c
r
)
X
r
2
(
j
/a
r
)
2
(
.na
r
6
j 0
J
1
(
k
wr
a
r
)
J
0
( k
wr
a
r
)
2.nk
wr
k
wr
2
(
j
/a
r
)
2
)
, (D.21)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
et o D
1
e
et D
1
r
sont des matrices carres dfinies par (Eq. (D.3))
| D
1
e
i , j
=
2o
2
j
0
/( F
ve
c
e
)
X
e
2
(
j
/ a
e
)
2
j
i
j
i
2
j
2
(D.22)
et (Eq. (D.4))
| D
1
r
i , j
=
2o
2
j
0
/( F
vr
c
r
)
X
r
2
(
j
/ a
r
)
2
j
i
j
i
2
j
2
. (D.23)
iii. Constantes d'intgration B
0e
et
e
La constante d'intgration
B
0 e
dfinie par l'quation (D.5) s'crit en fonction de
p
j
( 0)
et
p
l e j

B
0 e
=C
e
|
( d
2
e
)
T
p
j
(0)+( d
3
e
)
T
p
l ej
p
s
, (D.24)
o
C
e
est une constante dfinie par (Eq. (D.5))
C
e
=
1
T
me
k
we
2 , (D.25)
et o d
2
e
et d
3
e
sont des vecteurs colonnes (l'exposant T dsignant leur transpos) dfinis par (Eqs.
(D.5) et (2.74))
| d
2
e
j
=
J
0 (
j
a
e
/ a
)
.na J
0
(
j
)
(D.26)
et (Eqs. (D.5) et (2.81))
| d
3
e
j
=
6
jj
.na
e
. (D.27)
(
ej
dfinies par l'quation (D.6) s'crivent en fonction de
p
j
( 0)
et
p
l e j
(
ej
=D
2
e
p
j
(0)D
3
e
p
l ej
, (D.28)
o D
2
e
et D
3
e
sont des matrices carres dfinies par (Eqs. (D.6) et (D.7))
| D
2
e
i , j
=
2
T
me
(k
we
2
( j
j
/a
e
)
2
)
J
0
(
i
a
e
/ a)
J
0
(
i
) (
j
j
a
e
/ a
( j
j
)
2
(
i
a
e
/a)
2
a
e
/a
j
j
)
(D.29)
et (Eqs. (D.6) et (D.8))
| D
3
e
i , j
=
2
T
me
(k
we
2
( j
j
/ a
e
)
2
)
(
j
j
j
j
2
i
2
1
j
j
)
(D.30)
iv. Constantes d'intgration B
0r
et
r
La constante d'intgration
B
0 r
dfinie par l'quation (D.9) s'crit en fonction de
p
j
( l )
et
p
l r j

B
0 r
=C
r
|
(d
2
r
)
T
p
j
( l )+( d
3
r
)
T
p
l r j
, (D.31)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
o
C
r
est une constante dfinie par (Eq. (D.9))
C
r
=
1
T
mr
k
wr
2 , (D.32)
et o d
2
r
et d
3
r
sont des vecteurs colonnes (l'exposant T dsignant leur transpos) dfinis par (Eq.
(D.9) et (2.74))
| d
2
r
j
=
J
0 (
j
a
r
/ a
)
.na J
0
(
j
)
(D.33)
et (Eq. (D.9) et (2.88))
| d
3
r
j
=
6
jj
.na
r
. (D.34)
(
r j
dfinies par l'quation (D.10) s'crivent en fonction de
p
j
( l )
et
p
l r j
(
r j
=D
2
r
p
j
(l )+D
3
r
p
l r j
, (D.35)
o D
2
r
et D
3
r
sont des matrices carres dfinies par (Eqs. (D.10) et (D.11))
| D
2
r
i , j
=
2
T
mr
(k
wr
2
( j
j
/ a
r
)
2
)
J
0
(
i
a
r
/a)
J
0
(
i
) (
j
j
a
r
/a
( j
j
)
2
(
i
a
r
/a)
2
a
r
/a
j
j
)
(D.36)
et (Eqs. (D.10) et (D.12))
| D
3
r
i , j
=
2
T
mr
( k
wr
2
( j
j
/a
r
)
2
)
(
j
j
j
j
2
i
2
1
j
j
)
. (D.37)
D.2.2 Calcul des coefficients inconnus du problme
Les quations (2.75), (2.82), (2.89), (2.85.a et b) et (2.93.a et b) rcrites respectivement sous les
formes matricielles (D.13), (D.18), (D.19), (D.24), (D.28), (D.31) et (D.35) dfinissent un systme
d'quations rappel ci-dessous dont les inconnues sont les constantes
p
j
( z )
,
p
l ej
,
p
l r j
,
B
0 e
,
(
ej
,
B
0 r
et
(
r j
.
p
j
( z)=d
0
e
( z) B
0 e
+D
0
e
( z )(
e j
+d
0
r
( z) B
0 r
+D
0
r
( z)(
rj
,
p
l ej
=d
1
e
B
0 e
+D
1
e
(
e j
,
p
l r j
=d
1
r
B
0r
D
1
r
(
r j
,
B
0e
=C
e
|
(d
2
e
)
T
p
j
( 0)+( d
3
e
)
T
p
l ej
p
s
,
(
ej
=D
2
e
p
j
(0)D
3
e
p
l ej
,
B
0r
=C
r |
( d
2
r
)
T
p
j
(l )+( d
3
r
)
T
p
l r j
,
(
r j
=D
2
r
p
j
( l )+D
3
r
p
l r j
.
(D.38.a)
(D.38.b)
(D.38.c)
(D.38.d)
(D.38.e)
(D.38.f)
(D.38.g)
En reportant d'une part les quations (D.38.a) et (D.38.b) dans (D.38.d) et (D.38.e) et d'autre part
les quations (D.38.a) et (D.38.c) dans (D.38.f) et (D.38.g), le systme se simplifie et s'crit :
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
C
0
B
0 e
+(h
0
)
T
(
ej
+C
1
B
0 r
+(h
1
)
T
(
r j
+C
e
p
s
=0,
h
4
B
0 e
+H
0
(
ej
+h
5
B
0r
+H
1
(
r j
=0,
C
2
B
0 e
+(h
2
)
T
(
ej
+C
3
B
0 r
+( h
3
)
T
(
r j
=0,
h
6
B
0e
+H
2
(
ej
+h
7
B
0r
+H
3
(
r j
=0,
(D.39.a)
(D.39.b)
(D.39.c)
(D.39.d)
o les constantes
C
i sont dfinies par les quations
C
0
=C
e
(( d
2
e
)
T
d
0
e
(0)+(d
3
e
)
T
d
1
e
)1,
C
1
=C
e
( d
2
e
)
T
d
0
r
(0) ,
C
2
=C
r
(d
2
r
)
T
d
0
e
( l ) ,
C
3
=C
r
(
( d
2
r
)
T
d
0
r
(l )( d
3
r
)
T
d
1
r
)
+1,
(D.40.a)
(D.40.b)
(D.40.c)
(D.40.d)
les vecteurs
h
i sont dfinis par les quations
( h
0
)
T
=C
e
(( d
2
e
)
T
D
0
e
( 0)+( d
3
e
)
T
D
1
e
) ,
( h
1
)
T
=C
e
(d
2
e
)
T
D
0
r
(0) ,
( h
2
)
T
=C
r
(d
2
r
)
T
D
0
e
(l ) ,
( h
3
)
T
=C
r
(( d
2
r
)
T
D
0
r
( l )(d
3
r
)
T
D
1
r
) ,
h
4
=D
2
e
d
0
e
(0)D
3
e
d
1
e
,
h
5
=D
2
e
d
0
r
( 0) ,
h
6
=D
2
r
d
0
e
(l ) ,
h
7
=D
2
r
d
0
r
(l )+D
3
r
d
1
r
,
(D.41.a)
(D.41.b)
(D.41.c)
(D.41.d)
(D.41.e)
(D.41.f)
(D.41.g)
(D.41.h)
et les matrices
H
i sont dfinis par les quations
H
0
=D
2
e
D
0
e
( 0)D
3
e
D
1
e
I ,
H
1
=D
2
e
D
0
r
(0) ,
H
2
=D
2
r
D
0
e
( l ) ,
H
3
=D
2
r
D
0
r
( l )+D
3
r
D
1
r
+I ,
(D.42.a)
(D.42.b)
(D.42.c)
(D.42.d)
o I est la matrice identit.
En combinant les quations (D.39.b) et (D.39.d) il vient
(
r j
=h
8
B
0 e
+h
9
B
0r
,
(
ej
=h
10
B
0e
+h
11
B
0r
,
(D.43.a)
(D.43.b)
o les vecteurs
h
811 sont dfinis par les quations
h
8
=| H
3
H
2
H
0
1
H
1
1
| h
6
H
2
H
0
1
h
4
, ,
h
9
=| H
3
H
2
H
0
1
H
1
1
| h
7
H
2
H
0
1
h
5
,
h
10
=H
0
1
|h
4
+H
1
h
8
,
h
11
=H
0
1
| h
5
+H
1
h
9
.
(D.44.a)
(D.44.b)
(D.44.c)
(D.44.d)
Puis, en reportant les quations (D.43.a et b) dans (D.39.c) il vient
B
0 r
=C
4
B
0 e
, (D.45)
o la constante
C
4 est dfinie par l'quation
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
C
4
=|C
3
+(h
2
)
T
h
11
+( h
3
)
T
h
9
1
|C
2
+( h
2
)
T
h
10
+(h
3
)
T
h
8
. (D.46)
Enfin, en reportant les quations (D.45) dans (D.43.a) et (D.43.b), puis les quations obtenues
dans (D.39.a) le coefficient
B
0 e s'crit
B
0 e
=| C
0
+( h
0
)
T
| h
10
+h
11
C
4
+C
1
C
4
+( h
1
)
T
| h
8
+h
9
C
4
1
C
e
p
s
. (D.47)
Les autres coefficients
B
0 r
,
(
ej
,
(
r j
,
p
l ej
et
p
l r j
se dduisent alors du rsultat obtenu l'aide
des quations (D.45), (D.43.a et b) et (D.38.b et c).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
E. Proprits utiles des fonctions de Bessel 149
Annexe E
Proprits utiles des fonctions de Bessel
Cette Annexe regroupe quelques proprits concernant les fonctions de Bessel modifies
cylindrique de premire espce.
i. Dfinition
La fonction
J
+
( z)
, avec z , est la fonction de Bessel cylindrique de premire espce d'ordre
+
, solution de l'quation
2
f
z
2
+
1
z
f
z
+
(
1
+
2
z
2
)
f =0 . (E.1)
ii. Relation d'intgrale
0
z
z
+
J
+1
( z) dz=z
+
J
+
( z ) . (E.2)
iii. Intgrales de Lommel :
0
z
z | J
+
(kz )
2
dz=
z
2
2 |
| J '
+
(kz )
2
+
(
1+
+
2
k
2
z
2
)
| J
+
( kz)
2
(E.3)
0
z
J
+
( kz) J
+
(qz ) z dz=
z
k
2
q
2
| k J
+
( qz) J
++1
(kz )q J
+
(kz ) J
++1
(qz) (E.4)
iv. Relations de rcurrence
2
n
z
J
n
( z)=J
n+1
( z )+J
n1
( z) (E.5)
v. Comportement asymptotique
Lorsque z -0 et n est entier, alors
J
n
( z)=
1
n!
(
z
2
)
n
, quand z -0 . (E.6)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
E. Proprits utiles des fonctions de Bessel 150
vi. Autres relations
H
n
( 2)
( z)=J
n
( z)i N
n
( z) . (E.7)
J
n+1
( z) N
n
( z)N
n+1
( z) J
n
( z)=
2
nz
. (E.8)
Pour tout n>0 et
k
les zros de
J
n
( z)
[67, 15.41],
J
n+1
( z)
J
n
( z)
=
k=1
1
z
k
+
1
k=1
1
z+
k
k=1
2z
z
2
k
2
(E.9)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
F. Fiches synoptiques 151
Annexe F
Fiches synoptiques
F.1 Fiche synoptique de l'appareil de rciprocit [68]
Figure F.1. Schma de l'appareil de rciprocit Brel & Kjr 5998.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
F.2. Fiche synoptique de l'amplificateur Nexus [69] 152
F.2 Fiche synoptique de l'amplificateur Nexus [69]
Figure F.2. Schma de l'amplificateur Nexus Brel & Kjr 2690.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
G. Fentre de filtrage : techniques de synthse, performances et paramtres d'influences 153
Annexe G
Fentre de filtrage : techniques de synthse,
performances et paramtres d'influences
G.1 Synthse d'une fentre de filtrage par la mthode de la fentre
La synthse d'un filtre pour le problme pos par l'talonnage en champ libre des microphones
par la mthode de la rciprocit en utilisant la mthode de la fentre consiste approcher la forme
du filtre temporel souhait par une fonction de priode T=1/A f , par exemple une fonction
rectangulaire dfinie de la manire suivante :
w
r
(t )=1, t| 0, t
0
,
w
r
(t )=0, t t
0
, T / 2 ,
(G.1)
o
t
0
|0, T / 2
dfinit la demi dure du palier unitaire de la fentre rectangulaire. Dans ce cas, la
fentre spectrale
W
r
( k)
peut tre obtenue par TF de
w
r
(t )
, soit
W
r
( f
k
)=A f

T/ 2
T / 2
w
r
( t )e
2 ink A f t
dt=
sin(2nk A f t
0
)
nk
. (G.2)
Il en rsulte que la suite
W
r
( k)
obtenue est infinie. Il est alors possible de tronquer cette suite en
ne conservant que les N+1 valeurs allant de N / 2 N / 2 . Nanmoins, la hauteur du premier
lobe secondaire de
W
r
( k)
(Eq. G.2) n'tant que de -13 dB, cette troncature ne peut intervenir qu'
un ordre N / 2 relativement lev de manire ne pas introduire d'ondulations (phnomne de
Gibbs) sur le palier unitaire du filtre temporel dfini initialement (Eq. G.1). D'autres fentres
peuvent tre utilises telle que la fentre de Hanning dfinie de la manire suivante
w
h
( t)=
1
2(
1+cos
(
n
t
t
0
)
)
, t| 0, t
0
,
w
h
( t)=0, t t
0
, T ,
(G.3)
o la hauteur du premier lobe secondaire de la fentre spectrale
W
h
( k )=TF
1
(
w
h
( t )
) est de -31,5 dB
ce qui permet une troncature de
W
h
( k )
un ordre N / 2 moins lev que la fentre rectangulaire.
Nanmoins, du fait de la forme en cosinus de la fentre temporelle
w
h
(t)
(palier unitaire rduit un
point), par multiplication, cette fentre introduit indniablement une dformation du pic principal de
la TF
-1
du produit des efficacits
M
ff j
M
ff +
.
Dans la rfrence [35], l'auteur propose un compromis en utilisant une fentre de Tukey qui n'est
autre qu'une convolution entre une fentre de Hanning et une fentre rectangulaire. La fentre de
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
G.1. Synthse d'une fentre de filtrage par la mthode de la fentre 154
Tukey est dfinie par la relation
w
T
( t )=1, t|0, ot
0
,
w
T
( t )=
1
2 (
1+cos
(
n
t ot
0
( 1o) t
0
))
, t|ot
0,
t
0
w
T
( t )=0, tt
0
, T ,
(G.4)
o o|0,1 est un paramtre fixant la dure du palier unitaire autour de t=0 . A noter que lorsque
o=0
la fentre de Tukey est quivalente une fentre de Hanning et lorsque
o=1
une fentre
rectangulaire. La figure G.1 illustre ces deux cas extrmes et un cas intermdiaire avec
o=0.5
pour
une fentre temporelle optimale filtrant tous les chos perturbateurs lists dans le paragraphe 3.3.2
lorsque les microphones sont espacs de 30 cm, soit une demi dure de la fentre temporelle
t
0
=0,3/ c
0 . La figure G.2 montre les coefficients des fentres spectrales obtenues par TF des
fentres de Tukey en question. Le passage d'une fentre rectangulaire (
o=1
) une fentre de
Hanning (
o=0
), s'accompagne d'une rduction des ondulations de la fentre spectrale en raison de
l'largissement de la dure de transition
|ot
0
; t
0
.
Figure G.1. TF
-1
(amplitude normalise) du produit d'efficacits M
ff j
M
ff +
(microphones LS2P ('') espacs de
30 cm, courbe noire) et diverses fentres temporelles de Tukey : o=1 (courbe rouge), o=0,5 (courbe bleue) et
o=0 (courbe mauve).
Figure G.2. Fentres spectrales W
T
(k ) tronques k=100 , obtenues par TF des fentres temporelles de Tukey
w
T
(t ) dfinies sur la figure G.1, o=1 (points rouges), o=0,5 (points bleus) et o=0 (points mauves).
La figure G.3 montre l'influence de la troncature des coefficients des fentres spectrales au del
de k=46
( N=46)
sur les fentres temporelles de filtrage dfinies prcdemment. Cette
troncature a pour consquence l'introduction d'oscillations sur le palier unitaire et sur le palier nul
des fentres temporelles, oscillations non constantes qui de plus ne peuvent tre contrles
sparment. Pour ces raisons, il est prfrable de synthtiser la fentre de filtrage avec une mthode
itrative, mthode d'optimisation qui ne prsente pas cet inconvnient.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
G.1. Synthse d'une fentre de filtrage par la mthode de la fentre 155
Figure G.3. Influence de la troncature k=46 des fentres spectrales reprsentes sur la figure G.2 sur les fentres
temporelles : fentres de Tukey, o=1 (courbe rouge), o=0,5 (courbe bleue) et o=0 (courbe mauve).
G.2 Mthode itrative : performance des fentres de filtrages et
paramtres d'influences
Les fonctions de transfert mesures lors de l'talonnage en champ libre des microphones par la
mthode de la rciprocit requirent un filtrage spcifique qu'il convient d'optimiser. La mthode
itrative telle que l'algorithme de Parks-McClellan rpond ces exigences. La fentre recherche
tant un compromis entre son ordre et sa performance, on se propose dans ce paragraphe d'tudier la
performance du filtre en fonction des caractristiques du filtre.
Le gabarit du filtre est dfini dans l'espace temporel, ses spcifications et les termes utiliss sont
dfinis dans la figure 3.13 en fonction de l'espace
c
0
t
pour des considrations pratiques. Les
spcifications dfinir sont les suivantes :
la largeur de la fentre
c
0
T
(non modifiable compte tenu de T=1/A f , o A f =50 Hz ),
le taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB).
l'affaiblissement minimum dans la largeur attnue (en dB),
la demi-largeur prserve
c
0
t
p
,
la largeur de transition
c
0
t
tr
,
Ces paramtres conduisent la synthse d'une fentre spectrale
W ( f
k
)
(o
f
k
=k A f
) filtrant
par convolution les produits des efficacits en champ libre de deux microphones ( (
M
ff j
M
ff +) , Eqs.
(3.53.a et b)). Le choix optimum de ces paramtres dpend du dispositif exprimental et plus
particulirement de la distance qui spare les deux microphones lors des mesures. L'tude prsente
ici traite plus particulirement du cas o les microphones sont espacs de 30 cm. Les paramtres
retenus ont t obtenus par essais de manire prsenter un filtre de performance visiblement
insuffisante, un filtre trs performant mais difficilement utilisable compte tenu de l'ordre qui lui
correspond et un filtre intermdiaire.
G.2.1 Paramtres d'influences sur la performance du filtrage
Les filtres synthtiss dans le cadre de cette tude ne sont pas parfaits et ont indniablement une
incidence sensible sur les produits d'efficacits filtrs |
M
ff j
M
ff +
c
. Cette incidence nomme
rosion dpend des paramtres choisis pour la synthse des filtres, principalement le taux
d'ondulation maximum accept dans la largeur prserve.
i. Erosion par filtrage des produits d'efficacits
M
ff j
M
ff +
, taux d'ondulation maximum
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
G.2. Mthode itrative : performance des fentres de filtrages et paramtres d'influences 156
accept dans la largeur prserve
L'rosion est value partir d'un produit d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) idal , fonction analytique
approchant celui issu d'exprimentations. Cette quantit idale peut tre construite partir d'un
modle simple de l'efficacit en pression
M
P d'un microphone.
En considrant un simple circuit rsonnant pour dcrire le comportement mcanique du
microphone [20,70], son efficacit en pression
M
P s'crit sous la forme
M
P
=
M
pbf
1
(
o/ o
0
)
2
i o/ (o
0
Q
0
)
, (G.5)
o
M
pbf ,
o
0
et
Q
0 sont respectivement l'efficacit en pression aux basses frquences, la pulsation
de rsonance et le facteur de qualit du microphone. Ces paramtres peuvent tre mesurs pour
chaque microphone, mais dans le cas prsent une simple approximation est suffisante. L'efficacit
en champ libre
M
ff d'un microphone est alors dduite de son efficacit en pression
M
P en
appliquant celle-ci la correction champ libre
A
ff
[40] (cf. 3.4.2), soit pour un produit de deux
efficacits en champ libre (en supposant deux microphones identiques)
( M
ff j
M
ff +
)
a
=
(
M
pbf
1
(
o/o
0
)
2
i o/(o
0
Q
0
)
A
ff
)
2
( M
ff j
M
ff +
)
. (G.6)
En utilisant les options avances d'approximations de courbes disponibles dans de nombreux
programmes de calcul tel que Matlab ou Scilab, un produit d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) issu
d'exprimentations peut tre approch par une fonction analytique (
M
ff j
M
ff +)
a
selon le modle
dfini par l'quation (G.6) (figure G.4).
Figure G.4. Produit d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) (module et phase, microphones LS2P ('')) : issu d'exprimentations
(courbe rouge) et son approximation (
M
ff j
M
ff +)
a
selon le modle dfini par l'quation (G.6) (courbe noire).
La fonction analytique (
M
ff j
M
ff +)
a
ainsi obtenue ne comporte aucune perturbation. En filtrant
cette fonction, il est alors possible de dterminer sa dformation
6
e (rosion) attribuable
l'opration de filtrage. La figure G.5 prsente plusieurs exemples d'rosion (dfinie par l'opration
6
e
=(( M
ff j
M
ff +
)
a
W
1,2,3
)/( M
ff j
M
ff +
)
a
) en fonction des filtres donns dans le tableau G.1.
Conformment aux attentes, l'rosion est d'autant plus importante que le taux d'ondulation
maximum accept dans la largeur prserve est grand. De cette faon, l'rosion
6
e peut tre estime
pour chaque produit d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) issu d'exprimentations et est utilise comme
correction (les rsultats qui suivent prennent en compte cette correction).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Filtre
W
1 Filtre
W
2 Filtre
W
3
c
0
T
(en m) 6,98 6,98 6,98
c
0
t
p
(en m) 0,07 0.07 0.07
c
0
t
tr
(en m) 0.23 0.23 0.23
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB) 0.01 0.03 0.05
Affaiblissement minimum dans la largeur attnue (en dB) -40 -40 -40
Ordre
( N+1)
du filtre
W ( f
k
)
obtenu 85 75 71
Tableau G.1. Paramtres utiliss pour la synthse de divers filtres et ordres des filtres obtenus (algorithme de Parks-
McClellan).
Figure G.5. Erosion 6
e
par filtrage (module et phase) d'un produit d'efficacits analytique (
M
ff j
M
ff +)
a

(microphones LS2P ('')), calcule partir des filtres dfinis dans le tableau G.1 : filtre W
1
(courbe rouge), filtre
W
2
(courbe bleue) et filtre W
3
(courbe noire).
ii. Demi-largeur prserve
c
0
t
p
La demi-largeur prserve est fixe partir d'observations exprimentales, soit lorsque la TF
-1
du
produit des efficacits (
M
ff j
M
ff +) semble atteindre le niveau de bruit global (figure G.6). Dans le
cas prsent la demi-largeur prserve est fixe
c
0
t
p
=0,07 m
.
Figure G.6. TF
-1
de trois produits d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) issus d'exprimentations (microphones LS2P ('') espacs
de 30 cm).
iii. Largeur de transition
c
0
t
tr
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Le choix de la largeur de transition est essentiel car il dtermine les perturbations limines par le
filtrage. Trois filtres sont crs avec les paramtres dfinis dans le tableau G.2. Trois largeurs de
transitions sont ici testes : une courte (
c
0
t
tr
=0,13 m
) filtrant un maximum de perturbations, une
moyenne (
c
0
t
tr
=0,23 m
) moins performante et une grande (
c
0
t
tr
=0,53 m
) encore moins
performante, notamment sur le filtrage de la diaphonie.
Filtre
W
1 Filtre
W
2 Filtre
W
3
c
0
T
(en m) 6,98 6,98 6,98
c
0
t
p
(en m) 0,07 0,07 0,07
c
0
t
tr
(en m) 0,13 0,23 0,53
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB) 0,03 0,03 0,03
Ordre
( N+1)
du filtre
W ( f
k
)
obtenu 133 75 33
McClellan).
Figure G.7. Perturbations filtres (module et phase) sur un produit d'efficacits en champ libre M
ff j
M
ff +
issu
d'exprimentations (microphones LS2P ('') espacs de 30 cm) : filtre W
1
(courbe rouge), filtre W
2
(courbe bleue)
et filtre W
3
(courbe noire), soit (
M
ff j
M
ff +)
W
1,2,3
/
(
M
ff j
M
ff +) (filtres dfinis dans le tableau G.2).
Figure G.8. Comparaisons (module et phase) entre les produits d'efficacits M
ff j
M
ff +
filtrs avec les filtres W
2

(courbe rouge) ou W
3
(courbe noire) et le produit d'efficacits M
ff j
M
ff +
filtr avec le filtre W
1
, soit
(
(M
ff j
M
ff +
)W
2, 3)
/
(
(M
ff j
M
ff +
)W
1) (microphones LS2P ('') espacs de 30 cm, filtres dfinis dans le tableau
G.2).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
La figure G.7 prsente les perturbations filtres (oprations (
M
ff j
M
ff +)
W
1,2,3
/
(
M
ff j
M
ff +) , les
filtres
W
1,2,3 tant dfinis dans le tableau G.2) sur un produit d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) issu
d'exprimentations. Il apparat que les deux filtres les plus slectifs (filtres
W
1 et
W
2 ) montrent
peu de diffrences quant la performance du filtrage, ce qui n'est pas le cas du troisime. Afin de
mieux visualiser ces diffrences, les produits d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) filtrs avec les filtres
W
2 ou
W
3 sont compars ceux filtrs avec le filtre le plus slectif, soit le filtre
W
1 . La figure G.8
reprsentant ces comparaisons (oprations dfinies par (
( M
ff j
M
ff +
)W
2, 3)
/
(
(M
ff j
M
ff +
)W
1 ) )
montre l'insuffisance du filtre
W
3 , notamment en basses frquences o les diffrences atteignent
0,1 dB en module. En revanche, les performances des filtres
W
2 et
W
1 sont semblables, l'ordre du
filtre
W
2 tant bien infrieur, les diffrences atteignent 0,01 dB en module.
iv. Affaiblissement minimum dans la largeur attnue
L'influence de l'affaiblissement minimum dans la largeur attnue est teste en construisant trois
filtres caractriss par les affaiblissements suivant : 60 , 40 et 20 dB (cf. tableau G.3).
Filtre
W
1 Filtre
W
2 Filtre
W
3
c
0
T
(en m) 6,98 6,98 6,98
c
0
t
p
(en m) 0,07 0,07 0,07
c
0
t
tr
(en m) 0,23 0,23 0,23
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB) 0,03 0,03 0,03
Ordre
( N+1)
du filtre
W ( f
k
)
obtenu 95 75 57
McClellan).
La figure G.9 prsente les perturbations filtres sur un produit d'efficacits
M
ff j
M
ff +
issu
d'exprimentations (oprations (
M
ff j
M
ff +)
W
1,2,3
/
(
M
ff j
M
ff +) , les filtres
W
1,2,3 tant dfinis dans
le tableau G.3). Les diffrences de performances entre filtres restent minimes comme le confirme la
figure G.10 prsentant les comparaisons (
( M
ff j
M
ff +
)W
2,3)
/
(
( M
ff j
M
ff +
)W
1 ) .
Figure G.9. Perturbations filtres (module et phase) sur un produit d'efficacits en champ libre M
ff j
M
ff +
issu
d'exprimentations (microphones LS2P ('') espacs de 30 cm) : filtre W
1
(courbe rouge), filtre W
2
(courbe bleue)
et filtre W
3
(courbe noire), soit (
M
ff j
M
ff +)
W
1,2,3
/
(
M
ff j
M
ff +) (filtres dfinis dans le tableau G.3).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Figure G.10. Comparaisons (module et phase) entre les produits d'efficacits M
ff j
M
ff +
filtrs avec les filtres W
2

(courbe rouge) ou W
3
(courbe noire) et le produit d'efficacits M
ff j
M
ff +
filtr avec le filtre W
1
, soit
(
(M
ff j
M
ff +
)W
2, 3)
/
(
(M
ff j
M
ff +
)W
1) (microphones LS2P ('') espacs de 30 cm, filtres dfinis dans le tableau
G.3).
G.2.2 Conclusion
Compte tenu des lments qui prcdent, un filtre est construit par compromis entre performance
et ordre du filtre (tableau G.4). La figure 3.15 prsente le filtre spectral W (k ) obtenu.
c
0
T
(en m) 6,98
Demi largeur prserve
c
0
t
p
(en m) 0,07
c
0
t
tr
(en m) 0,23
Taux d'ondulation maximum dans la largeur prserve (en dB) 0,03
Affaiblissement minimum dans la largeur attnue (en dB) -40
Ordre
( N+1)
du filtre
W ( f
k
)
obtenu 75
Tableau G.4. Paramtres utiliss pour la synthse d'un filtre destin au filtrage des produits d'efficacits (
M
ff j
M
ff +)
lorsque les microphones sont espacs de 30 cm (algorithme de Parks-McClellan).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
H. Etalonnage des microphones en champ libre par la mthode de rciprocit : bilan des
incertitudes
161
Annexe H
Etalonnage des microphones en champ libre par la
mthode de rciprocit : bilan des incertitudes
Cette Annexe traite de l'valuation des incertitudes sur les efficacits des microphones talonns
en champ libre selon la mthode de la rciprocit. Les calculs s'appuient sur la norme NF ENV
13005 [47].
H.1 Mesurande : efficacit en champ libre d'un microphone
Le produit des efficacits en champ libre de deux microphones (indics j et + ) obtenu
exprimentalement est donn par la relation (3.53.b) rappele ci-dessous
M
ff j
M
ff +
=
2( d
m
d
j
d
+
)
j j
j+
f
Z
Emj+
e
ik
j+
( d
m
d
j
d
+
)
e
j+
( d
m
d
j
d
+
)

. 6
T
ff
( f , f
0j
, AT
j+
) 6
P
ff
( f , f
0 j
, AP
j+
) 6
T
ff
( f , f
0+
, AT
j+
) 6
P
ff
( f , f
0+
, AP
j+
) ,
(H.1)
o
k
j +
=o/ c
j+
, les variables thermodynamiques
j
j+
,
c
j+
et
j +
sont values en fonction des
conditions d'environnement (pression statique
P
j+
, temprature statique
T
j+
et taux d'humidit
relatif
HR
j+
) selon la mthode dcrite dans la rfrence [42].
Le facteur 6
P
ff
corrigeant l'effet des variations de pression statique
AP
j+
=P
0
P
j+
sur
l'efficacit en champ libre
M
ff j , +
est donn par l'quation (3.49.b), savoir
6
P
ff
( f , f
0j , +
, AP
j +
)=6
P
P
( f , f
0j , +
, AP
j+
)=10
C
PM
( f , f
0 j ,+
)A P
j+
/20
e
j C
PP
( f , f
0j, +
)A P
j+
n/180
, (H.2)
o 6
P
P
est le facteur corrigeant l'effet des variations de pression statique
AP
j+
sur l'efficacit en
pression
M
Pj , +
donn sous forme de polynmes dans la rfrence [43], avec
C
PM le polynme
correctif en module (en dB ) et
C
PP celui en phase (en degr).
De mme, le facteur 6
T
ff
corrigeant l'effet des variations de temprature statique
AT
j+
=T
0
T
j+

sur l'efficacit en champ libre
M
ff j , +
est donn par l'quation (3.52), savoir
6
T
ff
( f , f
0j , +
, AT
j+
)=6
T
P
( f , f
0j , +
, AT
j+
)
A
ff
( f , T
0
)
A
ff
( f , T
j+
)
, (H.3)
o 6
T
P
est le facteur corrigeant l'effet des variations de temprature statique
AT
j+
sur l'efficacit en
pression
M
Pj , +
et o
A
ff
dsigne les corrections champ libre. En faisant intervenir les polynmes
caractrisant ces quantits, l'quation (H.3) s'crit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
H.1. Mesurande : efficacit en champ libre d'un microphone 162
6
T
ff
( f , f
0j , +
, AT
j+
)=10
C
TM
( f , f
0 j,+
)AT
j+
/ 20
e
j C
TP
( f , f
0j, +
)AT
j+
n/180 10
C
ffM
( f , T
0
)/ 20
10
C
ffM
( f , T
j+
)/ 20
, (H.4)
o
C
TM et
C
TP
dsignent les polynmes corrigeant l'effet des variations de temprature statique
AT
j+
sur l'efficacit en pression
M
P j , +
, respectivement en module et phase [43] et o
C
ff M
dsigne le polynme des corrections champ libre en module, fonction de la temprature statique
[40]. La phase des corrections champ libre
A
ff
n'est pas prise en compte dans le cas prsent en
raison de l'insuffisance des donnes disponibles. A notre connaissance, seul la rfrence [41]
prsente sous forme graphique cette correction de phase comme tant indpendante de la
temprature statique et par suite s'annulant dans le rapport
A
ff
( f , T
0
)/A
ff
( f , T
j +
)
de la
relation (H.4).
Z
Emj+
( f )
est mesure selon la mthode dcrite dans le
paragraphe 3.3 et est dduite de l'quation suivante :
Z
Emj+
( f )=
u
r0+
i
e j
=
1
j 2n f C
ref
R
T j +
( f ) R'
T j+
( f ) , (H.5)
o
R
T j+
( f )
et
R'
T j+
( f )
dsignent les deux rapports de tensions mesurs (Eq. 3.43) mais
considrs dans le cas prsent sans perturbations (cf. ci-dessous).
Afin de tenir compte des incertitudes induites par diverses imperfections de la mesure, plusieurs
facteurs de dviations sont introduits (la notation indice j+ signifie que le facteur de dviation
est dpendant du couple de microphones utilis) :
g
P
( f )
, li l'incertitude sur les polarisations des deux microphones,
g
m
( f )
, li aux variations induites par le manque de rptabilit des mesures abstraction faite
des bruits lectrique et acoustique (rptabilit de montage, distance entre microphones
principalement et angle d'incidence) sur les produits d'efficacits (
M
ff j
M
ff +) ,
g
b j+
( f )
, li aux variations induites par les bruits lectrique et acoustique sur les produits
d'efficacits aprs filtrage (
M
ff cj
M
ff c+) ,
g
e
( f )
, li aux variations induites par la diaphonie et les chos sur les produits d'efficacits
aprs filtrage (
M
ff cj
M
ff c+) ,
g
BF j+
( f )
, li l'incertitude du produit d'efficacits en basses frquences (
M
ff j
M
ff +)
BF
obtenu
partir d'un talonnage en pression par la mthode de la rciprocit
( (
M
ff j
M
ff +
)
BF
=M
Pj
M
P+
A
ff
2
, f 1kHz , cf. 3.4.2).
Ainsi, le produit des efficacits en champ libre de deux microphones prend la forme
M
ff j
M
ff +
=
2( d
m
d
j
d
+
)
j j
j+
f
Z
Emj+
e
ik
j+
( d
m
d
j
d
+
)
e
j+
( d
m
d
j
d
+
)
6
T
ff
( f
0j
, AT
j+
) 6
P
ff
( f
0j
, AP
j +
)
. 6
T
ff
( f
0+
, AT
j+
) 6
P
ff
( f
0+
, AP
j +
) g
P
( f ) g
m
( f ) g
b j+
( f ) g
e
( f ) g
BF12
( f ) .
(H.6)
L'efficacit d'un microphone est dduite de trois produits d'efficacits
P
e12
=M
ff 1
M
ff 2
,
P
e13
=M
ff 1
M
ff 3
,
P
e23
=M
ff 2
M
ff 3
,
(H.7)
valus selon l'expression (H.6). L'efficacit d'un microphone (le mesurande) s'crit alors par
exemple pour le microphone 1
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
H.1. Mesurande : efficacit en champ libre d'un microphone 163
M
ff 1
=
.
P
e12
P
e13
P
e23
(H.8)
L'incertitude compose
u
c associe au mesurande
M
ff est estime partir de la variance
compose u
c
2
donne par
u
c
2
=
n=1
N
(
M
ff
x
n
)
2
u
2
( x
n
) (H.9)
o
x
n est le n
ime
paramtre d'entre (cf. infra) caractris par son incertitude
u( x
n
)
.
H.2 Paramtres d'entre, incertitudes
Les paramtres d'entre intervenant dans le calcul de l'efficacit d'un microphone sont lists ci-
dessous ainsi que leurs incertitudes associes. Le tableau H.1 regroupe quelques grandeurs dont les
incertitudes
u( x
n
)
sont values partir de leurs incertitudes largies
U ( x
n
)=k u( x
n
)
(o k est le
facteur d'largissement dpendant de la loi de probabilit des observations, k =2 pour une loi
normale ou k =.3 pour une loi uniforme) obtenues directement par les instruments de mesures ou
par des certificats d'talonnages.
Unit
U k u
Distance entre microphones
d
m m 10
3
.3 0,58.10
3
Centres acoustiques
d
1,2,3 m 2.10
3
.3 1,16.10
3
Profondeur des microphones (membrane-bague) m 10
5
.3 0,58.10
5
Pression statique mesure
P
j+
hPa
0,1 2 0,05
Temprature statique mesure
T
j+
C
0,1 2 0,05
Taux d'humidit relatif mesure
HR
j+
%
1 2 0,5
Capacit
C
ref F 1,48.10
12
2
2,38.10
13
Frquence de rsonance
f
0 1,2,3 des microphones Hz
100
.3 28,87
Module rapport de tension
R
T j+
et
R'
T j+
dB
0,01
.3 0,58.10
4
Phase rapport de tension
R
T j+
et
R'
T j+
degr
0,01
.3 0,58.10
4
Tableau H.1. Paramtres d'entre, incertitudes largies U( x
n
) et incertitudes u( x
n
) .
i. Incertitudes lies aux approximations des polynmes
Les coefficients 6
P
P
, 6
T
P
, et
A
ff
intervenant dans le calcul des facteurs corrigeant les effets des
variations de temprature et pression statiques sur les efficacits en champ libre
M
ff (Eqs. H.2 et
H.4) sont calculs partir des polynmes
C
PM ,
C
PP ,
C
TM ,
C
TP
et
C
ffM dfinis dans les rfrences
[43,20,40]. Sauf pour le polynme
C
ffM , ces rfrences ne donnent pas les incertitudes associes
ces polynmes. Les lments graphiques donns dans la rfrence [20] permettent nanmoins
d'estimer approximativement (par majoration) les incertitudes associes aux polynmes
C
PM ,
C
PP ,
C
TP
et
C
TM ; soit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
H.2. Paramtres d'entre, incertitudes 164
u(C
PM
)0,0005/ .32,9.10
4
dB/ kPa ,
u(C
PP
)0,005/.32,9.10
3
/ kPa ,
u(C
PM
)0,0005/ .32,9.10
4
dB/ K ,
u(C
PM
)0,005/.32,9.10
3
/ K.

(H.10.a)
(H.10.b)
(H.10.c)
(H.10.d)
L'incertitude associe au polynme
C
ffM est d'aprs le document technique [40] la somme de
l'incertitude des donnes exprimentales d'origine (cf. tableau A.1 de la rfrence [40]) et d'une
incertitude de 0,05 dB, due l'approximation du polynme. Dans le cas prsent, le polynme
C
ffM
intervient dans l'quation (H.4) au numrateur et au dnominateur d'un rapport de coefficients
champs libres
A
ff
. Par consquent, la variation de ce rapport dues l'incertitude sur le polynme
C
ffM s'annule.
L'affaiblissement linique
j +
est calcul selon la mthode dcrite dans la rfrence [42] en
fonction de la temprature statique
T
j+
, de la pression statique
P
j+
et pour une composition de
l'air standard. La norme [26] prconise une incertitude relative largie de 10% sur
j +
, soit
u(
ij
)/
ij
=0,1/.35,8%
(H.11)
ii. Incertitude lie la polarisation des microphones
L'efficacit d'un microphone est lie sa polarisation. En ne considrant qu'une petite variation
de la polarisation d'un microphone, son impdance mcanique peut tre considre comme
constante. Dans ces conditions, l'efficacit du microphone est directement proportionnelle sa
tension de polarisation.
La polarisation des microphones est de 200 !0,2 V . Le facteur de dviation
g
P
( f )
s'crit pour
un couple de microphones
g
P
( f )=g
P
=
(
200!( 0,2/ .3)
200
)
2
1!0,12 %
(H.12)
iii. Incertitudes lies au processus de filtrage et au prolongement en basses frquences
Le produit des efficacits en champ libre (
M
ff j
M
ff +)
BF
en basses frquences ( f 1kHz ) est
obtenu partir des efficacits en pression
M
Pj
,
M
P+
des deux microphones et de leurs corrections
champ libre (cf. 3.4.2), soit
(
M
ff j
M
ff +
)
BF
=M
P j
M
P +
A
ff
2
, f 1 kHz . (H.13)
Les efficacits en pression sont obtenues par des talonnages indpendants, effectus par la
mthode de la rciprocit en pression. Elles sont donc connues avec une incertitude tout comme les
coefficients champ libre, incertitude qui se propage par filtrage aux points frquentiels
suprieurs 1 kHz . Cette propagation d'incertitude est value en considrant un produit
d'efficacit idal (fonction analytique non bruite, cf. Annexe G.2.1.i, Eq. (G.6)), la variance
compose est alors calcule en filtrant cette quantit idale et en considrant les variations possibles
de
M
Pj , +
et de
A
ff
aux frquences infrieures 1 kHz. L'incertitude largie ( k =2 ) associe aux
efficacits en pression
M
Pj , +
est de 0,04 dB en module et 0,4 en phase (incertitudes donnes au
LNE [48]). En ce qui concerne la correction champ libre, le document technique [40] ne donne pas
son incertitude aux frquences infrieures 1 kHz ; cependant, compte tenu des faibles valeurs de
ces corrections pour les frquences en question et des lments fournis dans la rfrence [40],
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
l'incertitude largie ( k =2 ) associe peut raisonnablement tre estime 0,1 dB en module et 0,5
en phase. La figure G.9 montre l'valuation de l'incertitude due la propagation de d'incertitude
du produit des efficacits en champ libre (
M
ff j
M
ff +)
BF
en basses frquences. Une fonction
approche en est dduite ce qui permet d'crire le facteur de dviation
g
BF
( f )
sous la forme
g
BF
( f )=(1!g
BF m
)e
!j g
BP p
( f )
(H.14)
o
g
BF m
( f )6 e
2,3.10
3
f
, en %,
g
BF p
( f )7,96.10
2
e
2,51 .10
3
f
, en radian .

(H.15.a)
(H.15.b)
Figure H.1. Incertitude due la propagation au del de 1 kHz par filtrage (filtre dfini dans le tableau 3.2) de
l'incertitude du produit des efficacits en champ libre (
M
ff j
M
ff +)
BF
en basses frquences (courbe rouge), forme
approche (courbe noire).
iv. Incertitude lie la diaphonie et aux perturbations acoustiques rsiduelles
Le processus de filtrage dvelopp dans le cadre de cette tude n'est pas totalement efficace.
Aprs filtrage, des perturbations rsiduelles b persistent, leurs amplitudes varient selon la
performance du filtre choisi. L'valuation de ces perturbations rsiduelles est assez dlicate et ne
peut tre faite de manire exacte ; elles sont prises en compte comme indiqu ci-dessous.
La performance du filtre est teste sur un produit d'efficacits en champ libre parfaitement connu
P
E b constitu d'une composante idale
P
Ei (fonction analytique non bruite, cf. Annexe
G.2.1.i, Eq. (G.6)) et de perturbations connues et ralistes
B
c , soit
P
Eb
=P
Ei
B
c . (H.16)
En filtrant ce produit d'efficacits bruit
P
Eb avec un filtre spectral W , il vient
P
E b
W=P
Ei
6
e
b
, (H.17)
o
6
e
est le facteur d'rosion (sur le produit d'efficacits idal
P
E i , cf. Annexe G.2.1.i) et o b
reprsente les perturbations rsiduelles restant aprs filtrage, lies aux perturbations totales
B
c
prsentes avant filtrage par la relation
B
c
=Bb
, (H.18)
o B dsigne les perturbations limines par le filtre W .
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
Figure H.2. Perturbations filtres (filtre dfini dans le tableau 3.2) en module et en phase sur trois produits
d'efficacits M
ff j
M
ff +
issus d'exprimentations (courbes rouge, bleue et verte).
La mthode consiste estimer les perturbations totales
B
c aussi proches que possible de celles
prsentes dans les produits des efficacits
M
ff j
M
ff +
issus d'exprimentations. La meilleure
approximation peut tre obtenue partir des perturbations B limines par le filtrage sur ces
produits d'efficacits (figure H.2). Cela sous entend que ces perturbations B sont reprsentatives
des perturbations rellement prsentes
B
c avant filtrage, ce qui peut tre considr comme vrai en
l'absence d'chos proches et en utilisant une fentre de filtrage trs slective. Ces perturbations B
restent nanmoins sous-estimes compares aux perturbations initialement prsentes
B
c car elles
ne contiennent pas les perturbations rsiduelles b (Eq. H.18). Une solution pour l'estimation
consiste appliquer un facteur de majoration
k
m
, soit
B
c
k
m
B
. (H.19)
Les perturbations rsiduelles sont alors estimes avec la relation
b
P
Eb
W
P
Ei
6
e
, (H.20)
soit
b
( P
Ei
k
m
B)W
P
E i
6
e
. (H.21)
La figure H.3 prsente les perturbations rsiduelles b (Eq. H.21) estimes pour un facteur
majorant
k
m
=1,2
, ce qui signifie que les perturbations B extraites par filtrage des produits des
efficacits
M
ff j
M
ff +
issus d'exprimentations (figure H.2) reprsentent au moins 80% des
perturbations totales
B
c prsentes avant filtrage. La comparaison des amplitudes des perturbations
filtres B (figure H.2) majores de 20% avec les amplitudes des perturbations rsiduelles b
calcules (figure H.3) permet de vrifier que le filtre utilis est efficace plus de 80% et donc de
valider le choix du facteur majorant
k
m
=1,2
. Une courbe majorante (courbe noire, figure H.3) est
obtenue partir des perturbations rsiduelles b calcules, de laquelle est dduit un cart type (en
considrant une loi de probabilit rectangulaire, soit un facteur 1/ .3 , trait noir discontinu)
permettant d'crire le facteur de dviation
g
e
( f )
sous la forme
g
e
( f )=(1!g
em
) e
!j g
e p
( f )
, (H.22)
o
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
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r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
g
e m
( f )0,17 e
5,6.10
4
f
+3,5.10
2
, en %,
g
e p
( f )4,5.10
3
e
3.10
4
f
+8,7.10
4
e
3,7.10
5
f +0,2
, en radian .
(H.23.a)
(H.23.b)
Figure H.3. Estimations des perturbations rsiduelles b en module et phase (courbes rouge, bleue et verte issues des
trois estimations de bruits B , cf. figure H.2), courbe majorante (courbe noire) et cart type (trait discontinu noir) ;
calcules avec le filtre dfini dans le tableau 3.2.
A noter que le choix de la fentre de filtrage est d'une grande importance dans la rduction de
l'cart type associ la part non filtre des chos et de la diaphonie. La figure H.2 prsente par
exemple l'estimation des perturbations rsiduelles b lorsque le filtre
W
3 dfini dans le tableau G.2
est utilis, filtre moins performant que celui prcdemment utilis (filtre
W
2 du tableau G.2 ou 1.2,
cf. figures G.6 et G.7). L'estimation des perturbations rsiduelles b atteignent alors en module
0,15 dB (figure H.2) en basses frquences au lieu de 0,01 dB prcdemment (figure H.1).
Figure H.4. Estimations des perturbations rsiduelles b en module et phase (courbes rouge, bleue et verte issues des
trois estimations de bruits B , cf. figure H.2) calcules avec le filtre W
3
dfini dans le tableau G.2.
v. Rptabilit des mesures
Le dfaut de rptabilit des mesures affecte la prcision sur les impdances lectriques de
transfert
Z
Emj+
( f )
mesures. Il dpend des paramtres variables du montage exprimental
(principalement la distance entre les microphones et l'angle d'incidence) mais galement des bruits
lectrique et acoustique qui sont en partie limins par le processus de filtrage. Ces deux types de
dfauts sont pris en compte de manire distincte par les facteurs de dviations
g
m
( f )
(rptabilit
lie au montage, abstraction faite des bruits lectrique et acoustique) et
g
b
( f )
(rptabilit lie aux
bruits lectrique et acoustique).
Les facteurs de dviations
g
m
( f )
et
g
b
( f )
sont valus partir d'observations statistiques.
Dans un premier temps, une srie de mesures est effectue en gardant le montage inchang : il en
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
rsulte un cart type qui renseigne sur la rptabilit des mesures lie aux bruits lectrique et
acoustique. Puis une autre srie de mesures est effectue en modifiant le montage chaque mesure :
il en rsulte un cart type qui renseigne sur la rptabilit lie la fois au montage et aux bruits
lectrique et acoustique. La figure H.5 prsente ces cart types obtenus avec une srie de cinq
mesures lorsque les microphones sont espacs de 30 cm. La rptabilit lie au montage est alors
dduite en soustrayant les deux carts types (figure H.5). Il en rsulte une rptabilit lie au
montage peu variable en frquence pour le module (de l'ordre de 0,02 dB soit environ 0,23%) et
proportionnelle la frquence pour la phase (coefficient directeur de l'ordre de 5.10
4
en / Hz )
s'expliquant principalement par l'incertitude du positionnement des microphones. Le facteur de
dviation
g
m
( f )
peut alors tre crit
g
m
( f )=( 1!g
mm
) e
!j g
mp
( f )
, (H.24)
o
g
mm
0,23 , en %,
g
mp
( f )8,73.10
6
f , en radian .
(H.25.a)
(H.24.b)
Figure H.5. Rptabilits des mesures (module et phase) : cart type li aux bruits lectrique et acoustique (trait plein)
et somme des carts types lis au montage, bruits lectrique et acoustique (trait discontinu).
Figure H.6. Ecart type en module et phase li aux bruits lectrique et acoustique (trait discontinu) et deux exemples de
bruit B calibrs par cet cart type selon une loi de probabilit normale (courbes bleue et rouge).
L'valuation de l'incertitude lie aux bruits lectrique et acoustique doit tenir compte du filtrage.
Elle est value partir d'un produit d'efficacits
P
Eb parfaitement connu constitu d'une
composante idale
P
E i (fonction analytique non bruite, cf. Annexe G.2.1.i, Eq. (G.6)) auquel
est ajout un bruit B caractris par une loi de probabilit normale dont l'cart type est celui
constat exprimentalement (figure H.5, trait plein), soit
P
Eb
=P
Ei
B
. (H.26)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
La figure H.6 prsente deux exemples de tels bruits (courbes en trait plein, bleu et rouge).
La somme des bruits lectrique et acoustique
B
r restant aprs filtrage est alors value en
effectuant l'opration
B
r
=
(
P
Eb
W
)
P
Ei
. (H.27)
Figure H.7. Bruit restant B
r
aprs filtrage (filtre dfini dans le tableau 3.2) en module et phase (courbes bleues),
cart type (courbe rouge) et cart type approch (courbe noire).
Afin d'obtenir suffisamment de donnes statistiques, l'opration est rpte plusieurs fois avec
plusieurs produits d'efficacits
P
Eb (figure H.7, courbes bleues). Il en rsulte un cart type (courbe
rouge), le facteur de dviation
g
b
( f )
est alors crit sous forme approche (courbe noire)
g
b
( f )( 1!g
bm
( f )) e
!j g
bp
( f )
(H.28)
o
g
bm
1.06 e
1,35 .10
3
f
+2.10
3
, en %,
g
bp
1,59.10
2
e
1,57.10
3
f
+2,78.10
5
, en radian .
(H.29.a)
(H.29.b)
A noter que l'instar du paragraphe prcdent G.2.1.iv, le bruit lectrique et acoustique
B
r
restant dpend du filtre utilis, par consquent, les carts types (H.29.a et b) ne peuvent tre utiliss
que pour le filtre utilis, soit le filtre dfini dans le tableau 3.2.
H.3 Incertitude compose largie
L'incertitude compose est value numriquement en faisant varier les paramtres d'entre lists
(tableau H.1, Eqs. (H.11), (H.12), (H.15), (H.23) et (H.29)) dans le paragraphe prcdent selon leurs
incertitudes constates et pour des variations maximums des conditions d'environnement autour des
valeurs de rfrence, soit une pression statique
P
0
=1013,25!30 hPa
, une temprature statique
T
0
=23!3C
et un taux d'humidit relatif
HR
0
=50!30 %
. Les rsultats obtenus sont prsents et
discuts dans le paragraphe 3.5.2.
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
I. Valeurs des paramtres d'un microphone lectrostatique dans un modle constantes
localises
171
Annexe I
Valeurs des paramtres d'un microphone
lectrostatique dans un modle constantes
localises
Dans la rfrence [20], l'auteur propose un modle de microphone lectrostatique constantes
localises (figure I.1) utilises ici au paragraphe 4.2.1. L'impdance acoustique
Z
c
=p
c
/ q
du
microphone, la tension
T
m et la masse surfacique
c
s
de la membrane peuvent tre calculs partir
des donnes publies par l'auteur pour des microphones de laboratoire de type B&K 4160 (LS1, 1'')
et B&K 4180 (LS2, ''), microphones utiliss comme rfrences actuellement pour l'talonnage des
microphones par la mthode de la rciprocit.
Figure I.1. Rseau constantes localises dcrivant un microphone lectrostatique [20].
Plus prcisment, l'impdance acoustique
Z
c
, la tension de la membrane
T
m
et sa masse
surfacique
c
s
sont obtenues en faisant usage des relations ci-dessous (I.1, I.2 et I.3) et des
diffrents paramtres rappeles dans le tableau I.1 [20] (inductances
m
x, y , capacits
c
x, y et
rsistances
r
x, y ), paramtres moyens calculs partir des dimensions gomtriques, du facteur de
qualit et du volume quivalent de ces microphones.
1
Z
c
=
(
j om
a , f
+r
a , f
+j om
a , h
+r
a , h
+
1
1/r
a , b
+j oC
a , b
+1/( j om
a , b
)
+
1
j oc
a , V
)
1
+j oc
a , f
, (I.1)
T
m
=
S
m
2
8 nc
a , d
, (I.2)
et
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
I. Valeurs des paramtres d'un microphone lectrostatique dans un modle constantes
localises
172
c
s
=
3
4
m
a , d
S
m
. (I.3)
Composant Unit B&K 4160 B&K 4180
m
a , d
kg.m
-4
225 660
c
a , d
10
-12
m
3
.Pa
-1
1,19 0,068
c
a , f
10
-12
m
3
.Pa
-1
0,05 0,01
m
a , f
kg.m
-4
52 190
r
a , f
10
6
Pa.s.m
-3
18 93
m
a , h
kg.m
-4
38 75
r
a , h
Pa.s.m
-3
1075 . f 2100 . f
m
a , b
kg.m
-4
115 115
c
a , b
10
-12
m3.Pa
-1
1,5 0,19
r
a , b
10
6
Pa.s.m
-3
26 74
c
a , V
10
-12
m
3
.Pa
-1
5,15 0,952
Tableau I.1. Constantes localises de la figure I.1 issues de la rfrence [20] pour des microphones de type B&K
4160 (1'') et B&K 4180 ('') ( f dsigne la frquence).
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
J. Centre acoustique des microphones lectrostatiques : calculs intermdiaires et
rsolution matricielle du problme
173
Annexe J
Centre acoustique des microphones
lectrostatiques : calculs intermdiaires et
rsolution matricielle du problme
Cette Annexe regroupe quelques calculs intermdiaires utiliss dans le paragraphe 4.2 ainsi que
la rsolution sous forme matricielle du problme pos par la dtermination analytique du centre
acoustique d'un microphone lectrostatique.
J.1 Calculs intermdiaires
i. Calcul de l'expression (4.53) des coefficients
n
Les coefficients
(
n
(
n
=
p
1
( a
1
,l )p
1
( w ,l )1
n
( w)
T
m
( k
w
2
( j
n
/ a
1
)
2
)
. (J.1)
En utilisant l'quation (4.51) l'intgrale
p
1
(a
1
,l )1
n
(w)=
2
a
1
2
0
a
1
j=0
(
p
2
( w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos( k
z j
l )
j
0
o
2
tan (k
z j
l ) ((w
0
)E
j
( w
0
)
k
z j
)
J
0
( j
n
w/ a
1
)
J
1
( j
n
)
wdw ,
(J.2)
s'crit (en utilisant la proprit (E.4))
p
1
( a
1
,l )1
n
(w)=2
j=0
(
p
2
( w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos( k
zj
l )
j
0
o
2
tan( k
zj
l ) (( w
0
)E
j
(w
0
)
k
z j
)
1
j
n
. (J.3)
De mme l'intgrale
p
1
(w ,l )1
n
( w)=
2
a
1
2
0
a
1
j=0
(
p
2
(w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos(k
zj
l )
j
0
o
2
tan (k
zj
l ) (( w
0
)E
j
( w
0
)
k
z j
)
J
0
(
j
w/ a
1
)
J
0
(
j
)
J
0
( j
n
w/a
1
)
J
1
( j
n
)
wdw,
(J.4)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
J.1. Calculs intermdiaires 174
s'crit (en utilisant la proprit (E.4))
p
1
(w ,l )1
n
( w)=2
j=0
(
p
2
(w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos( k
z j
l )
j
0
o
2
tan( k
z j
l ) ((w
0
)E
j
(w
0
)
k
zj
)
j
n
j
n
2
j
2
. (J.5)
En reportant les quations (J.3) et (J.5) dans la relation (J.1), les coefficients
(
n
s'crivent
(
n
=
2
T
m
( k
w
2
( j
n
/a
1
)
2
)
j=0
(
p
2
( w
0
,0)E
j
( w
0
)
cos( k
z j
l)
j
0
o
2
tan(k
z j
l) (( w
0
)E
j
(w
0
)
k
z j
)
(
1
j
n
j
n
j
n
2
j
2
)
(J.6)
ii. Continuit des vitesses entre les domaines D
1
et D
2
: calcul des expressions (4.56) des
contantes f
0
et f
n
La condition (4.5.d) traduisant la continuit des vitesses entre les domaines
D
1
et
D
2
, conduit
l'aide des relations (4.37) et (4.54) l'quation (4.55), savoir
n=0
(
j
0
o
2
(( w
0
)E
n
(w
0
)
cos( k
zn
l )
k
zn
tan( k
zn
l ) p
2
(w
0
,0)E
n
(w
0
)
)
E
n
( w)=
n=0
f
n
1
n
( w) (J.7)
En projetant cette relation sur la base des fonctions propres orthonormes
1
j
(w)
, il vient,
0
a
1
n=0
(
j
0
o
2
(( w
0
)E
n
(w
0
)
cos( k
zn
l )
k
zn
tan( k
zn
l ) p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
)
E
n
(w)1
j
( w) 2nwdw
=
0
a
2
n=0
f
n
1
n
(w)1
j
(w) 2nwdw,
(J.8)
soit
f
j
=
n=0
(
j
0
o
2
(( w
0
)E
n
( w
0
)
cos( k
zn
l )
k
zn
tan(k
zn
l ) p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
)
.
0
a
1
2
a
1
a
2
J
0
(
n
) J
0
(
j
)
J
0
(
n
w
a
1
)
J
0
(
j
w
a
2
)
wdw.
(J.9)
Dans le cas o
j=0
, cette quation s'crit l'aide de la proprit (E.2)
f
0
=
(
j
0
o
2
((w
0
)E
0
( w
0
)
cos( k
0
l )
k
0
tg (k
0
l ) p
2
( w
0
,0)E
0
( w
0
)
)
a
1
a
2
, (J.10)
et pour
j1
l'aide de la proprit (E.4)
f
j
=
n=0
(
j
0
o
2
(( w
0
)E
n
( w
0
)
cos( k
zn
l )
k
zn
tan(k
zn
l ) p
2
( w
0
,0)E
n
( w
0
)
)
2
j
( a
1
/ a
2
)
2
(
j
a
1
/a
2
)
2
(
n
)
2
J
1
(
j
a
1
/a
2
)
J
0
(
j
)
. (J.11)
iii. Condition (4.59) (dmonstration)
L'expression (4.58) rappele ci-dessous
P
2
(w , s)=
P( s) J
0
(Xw)
X J
1
( Xa
2
)
+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
1
n
(w)
, (J.12)
dfinissant la pression dans le domaine
D
2
impose une condition supplmentaire assurant que la
fonction est analytique, soit parfaitement dfinie y compris lorsque
s=!X
n
(absence de ple). En
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
multipliant la relation (J.12) par
J
1
(Xa
2
)
, il vient
P
2
(w , s) J
1
(Xa
2
)=
P(s) J
0
(Xw)
X
+
n=0
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
J
1
(Xa
2
) 1
n
( w)
. (J.13)
Lorsque
s-!X
n
, en utilisant les relations (4.15) X
2
=s
2
+k
0
2
, et (4.41) X
n
2
=(
n
/ a
2
)
2
k
0
2
alors
X-!
n
/a
2
, et
J
1
(!Xa
2
)-0
.
Ainsi, si
s-!X
n
, le membre de gauche de l'quation (J.13) est ncessairement nul puisque la
pression
P
2
(w , s) est obligatoirement analytique. Ceci implique
lim
s -!X
n
|
P( s) J
0
(w
.
s
2
+k
0
2
)
.s
2
+k
0
2

= lim
s-!X
n
|
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
J
1
(a
2 .
s
2
+k
0
2
) 1
n
( w)
. (J.14)
En faisant usage des quations (4.41) et (4.35), il vient
lim
s -!X
n
|
J
0
( w
.
s
2
+k
0
2
)
=J
0
(
w

n
a
2
)
=.na
2
J
0
(
n
)
1
n
(w)
. (J.15)
L'quation (J.14) s'crit alors
lim
s -!X
n
|
P( s) .na
2
J
0
(
n
)
.
s
2
+k
0
2

= lim
s -!X
n
|
f
n
+s h
n
s
2
X
n
2
J
1
(a
2
.
s
2
+k
0
2
)
. (J.16)
D'autre part, la proprit (E.9) permet d'crire l'quation
J
2
(a
2 .
s
2
+k
0
2
)
J
1
(a
2
.
s
2
+k
0
2
)
=
n=1
2 a
2 .
s
2
+k
0
2
a
2
2
( s
2
+k
0
2
)
n
2
, (J.17)
qui conduit en utilisant la relation de rcurrence (E.5) et l'quation (4.41) la relation
n=1
J
1
( a
2 .
s
2
+k
0
2
)
s
2
X
n
2
=
J
0
( a
2 .
s
2
+k
0
2
)
( 2/a
2
)
.
s
2
+k
0
2

J
1
( a
2 .
s
2
+k
0
2
)
s
2
+k
0
2
, (J.18)
soit en considrant la limite
s-!X
n
lim
s -!X
n
J
1
(a
2 .
s
2
+k
0
2
)
s
2
X
n
2
= lim
s -!X
n
J
0
( a
2 .
s
2
+k
0
2
)
( 2/ a
2
)
.
s
2
+k
0
2
= lim
s-!X
n
a
2
J
0 (
n )
2
.
s
2
+k
0
2
, pour n1 . (J.19)
En reportant cette dernire quation dans la relation (J.16), il vient
2.nP(!X
n
)=f
n
!X
n
h
n
, n1 . (J.20)
Dans le cas particulier o n=0 , en utilisant le comportement autour de l'origine des fonctions de
Bessel (E.6) lorsque
s-!X
0
=!jk
0
soit ( a
2 .
s
2
+k
0
2
)-0 , il vient
lim
s -!jk
0
J
1
( a
2 .
s
2
+k
0
2
)
s
2
+k
0
2
lim
s -!jk
0
a
2 .
s
2
+k
0
2
2( s
2
+k
0
2
)
= lim
s-!jk
0
a
2
2
.
s
2
+k
0
2
. (J.21)
En reportant cette dernire quation dans la relation (J.16) pour n=0 il vient
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
2.nP(!jk
0
)= f
0
!jk
0
h
0
. (J.22)
La condition ncessaire traduisant l'analycit de la fonction
P
2
(w , s) se traduit donc par la
condition suivante
2.nP(!X
n
)=f
n
!X
n
h
n
, n0 . (J.23)
iv. Pression acoustique en champ lointain (quation 4.76)
Le calcul du champ de pression dans l'espace
D
3
ncessite l'inversion de la transforme de
Laplace de l'expression (4.47). soit l'opration
p
3
( w , z )=
1
2n j

cj
c+j
P( s) H
0
( 2)
(Xw)
XH
1
(2)
(Xa
2
)
e
s z
ds . (J.24)
En effectuant le changement de variable
z=r cos 0
et
w=r sin0
, (J.25)
il vient,
p
3
(r , 0)=
1
2n j

c j
c+ j
P( s) H
0
(2)
(Xr sin0)
X H
1
(2)
(Xa
2
)
e
s rcos 0
ds . (J.26)
La complexit de cette expression ne permet pas un calcul exact de la pression acoustique
p
3
( r , 0)
. Une expression asymptotique ( r -) de cette intgrale peut tre calcule en utilisant la
mthode du col. Ainsi, en crivant l'intgrale (J.26) sous la forme quivalente,
p
3
(r , 0)=

cj
c+j
h( s) e
r u( s)
ds , (J.27)
o
h( s)=
1
2n j
P( s) H
0
(2)
(
.
s
2
+k
0
2
r sin0)
.
s
2
+k
0
2
H
1
(2)
(
.
s
2
+k
0
2
a
2
)
e
j .s
2
+k
0
2
rsin 0
(J.28)
et
u( s)=s cos0j sin0
.
s
2
+k
0
2
, (J.29)
le point col de
u( s)
, c'est dire le point pour lequel
u( s)/ s=0
, est donn par
s
c
=j k
0
cos 0
, et
l'intgrale (J.26) prsente la forme asymptotique
p
3
( r , 0) -h( s
c
) e
r u( s
c
)
.
2 n
r u' ' ( s
c
)
, pour r - , (J.30)
soit
p
3
(r , 0) -
1
2n j
P(j k
0
cos 0) H
0
( 2)
( r k
0
sin
2
0)
k
0
sin 0H
1
( 2)
( a
2
k
0
sin0) .
2nk
0
sin
2
0
j r
e
j r k
0
sin
2
0
e
j k
0
r
, pour r -. (J.31)
En utilisant la proprit
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
H
0
( 2)
( x) e
jx
-
.
2
nx
e
j n/4
=
.
2 j
nx
, lorsque
x-, (J.32)
il vient,
p
3
(r , 0) -
P(j k
0
cos0)
j nk
0
sin 0H
1
(2)
( a
2
k
0
sin0)
e
j k
0
r
r
, pour r -. (J.33)
Le facteur
P(j k
0
cos0)
dduit de l'quation (4.70), soit
P(j k
0
cos0)=k
0
2
(1cos0) K
P
(j k
0
cos0) K
P
( jk
0
)
n=0
o
n
n
X
n
j k
0
cos 0
, (J.34)
permet d'crire la solution asymptotique (J.33) sous la forme
p
3
(r , 0) -
k
0
( 1cos 0) K
P
(j k
0
cos 0) K
P
( jk
0
)
j nsin 0H
1
( 2)
( a
2
k
0
sin0)

n=0
o
n
n
X
n
j k
0
cos0
e
j k
0
r
r
, pour r -. (J.35)
o les coefficients
o
n et
n sont dfinis en fonction des inconnues

f
n et
h
n (Eqs. (4.71.a et b)) du
systme d'quations (4.52), (4.53), (4.56) et (4.73) rsolu ci-dessous.
J.2 Rsolution du problme coupl
Les quations (4.52), (4.53), (4.56) et (4.73) dfinissent un systme d'quations dont les
inconnues sont les constantes
B
0
,
(
n
,
f
n
,
h
n
. Ces quations sont crites sous forme matricielle de
manire simplifier la rsolution du systme d'quations.
J.2.1 Ecriture matricielle des quations du problme
i. Constante d'intgration B
0
(Eq. (4.52))
Le produit scalaire
(( w
0
)E( w
0
)
(Eq. (4.50)) intervenant dans l'quation (4.52) s'crit en
fonction de
B
0
et
(
n sous la forme matricielle suivante :
(( w
0
)E( w
0
)=d
0
B
0
+D
0
(
n
, (J.36)
o
d
0
est un vecteur colonne dfini par
|
d
0
j
=.na
1
6
j0
J
1
( k
w
a
1
)
J
0
( k
w
a
1
)
2.nk
w
k
w
2
(
j
/ a
1
)
2
, (J.37)
et
D
0
est une matrice carre dfinie par
| D
0
i , j
=2
j
i
j
i
2
j
2
. (J.38)
De mme, le produit scalaire
p
2
( w
0
,0)E(w
0
)
(Eq. (4.49)) intervenant dans l'quation (4.52)
s'crit en fonction de
h
p
2
( w
0
,0)E( w
0
)=D
1
h
n
, (J.39)
o
D
1
est une matrice carre dfinie par
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
J.2. Rsolution du problme coupl 178
|
D
1
i , j
=
a
1
a
2
, i=0, j=0,
|
D
1
i , j
=0, i=0, j1,
|
D
1
i , j
=
2
i
(a
1
/a
2
)
2
(
i
a
1
/ a
2
)
2
(
j
)
2
J
1
(
i
a
1
/a
2
)
J
0
(
i
)
, i1, j0.
(J.40)
En utilisant les notations matricielles dfinies par les quations (J.36) et (J.39), l'quation (4.52)
p
s ,
h
n ,
B
0 et
(
B
0
=C
0
p
s
( d
1
)
T
D
1
h
n
+( d
2
)
T
|d
0
B
0
+D
0
(
n
, (J.41)
soit
|1( d
2
)
T
d
0
B
0
(d
2
)
T
D
0
(
n
+( d
1
)
T
D
1
h
n
=C
0
p
s
, (J.42)
o
C
0 est une constante dfinie par
C
0
=
1
T
m
k
w
2 , (J.43)
o
d
1
et
d
2 sont des vecteurs colonnes (l'exposant T dsignant sa transpose) dfinis par
|d
1
j
=
1
T
m
k
w
2
.na
1
cos( k
z j
l )
, (J.44)
et
|
d
2
j
=
j
0
o
2
T
m
k
w
2
tan( k
zj
l )
.na
1
k
zj
. (J.45)
ii. Constantes d'intgration
n
(Eq. (4.53))
h
n ,
B
0 et
(
(
n
=D
2
D
1
h
n
D
3
|d
0
B
0
+D
0
(
n
, (J.46)
soit
D
2
D
1
h
n
D
3
d
0
B
0
| D
3
D
0
+I (
n
=0
, (J.47)
o
D
2
et
D
3
sont des matrices carres dfinies par
| D
2
i , j
=
2
T
m
cos( k
zi
l ) (k
w
2
( j
j
/a
1
)
2
)
|
1
j
j
j
j
( j
j
)
2
(
i
)
2
, (J.48)
et
|
D
3
i , j
=
2j
0
o
2
tan( k
zi
l )
T
m
k
zi
(k
w
2
( j
j
/a
1
)
2
)
|
1
j
j
j
j
( j
j
)
2
(
i
)
2
. (J.49)
et o I est la matrice unit.
iii. Constantes f
n
(Eq. (4.56))
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
f
n ,
B
0 ,
(
n et
h
f
n
=D
4
|d
0
B
0
+D
0
(
n
D
5
D
1
h
n
(J.50)
o
D
4
et
D
5 sont des matrices carres dfinies par
|
D
4
i , j
=
j
0
o
2
cos( k
0
l)
a
1
a
2
, i=0, j=0,
|
D
4
i , j
=0, i1, j=0,
|
D
4
i , j
=
j
0
o
2
cos( k
zi
l )
2
j
( a
1
/a
2
)
2
(
j
a
1
/ a
2
)
2
(
i
)
2
J
1
(
j
a
1
/a
2
)
J
0
(
j
)
, i0, j1,
(J.51)
et
|
D
5
i , j
=k
0
tan( k
0
l )
a
1
a
2,
i =0, j=0,
|
D
5
i , j
=0, i 1, j=0,
|
D
5
i , j
=k
zi
tan( k
zi
l)
2
j
( a
1
/ a
2
)
2
(
j
a
1
/a
2
)
2
(
i
)
2
J
1
(
j
a
1
/ a
2
)
J
0
(
j
)
, i 0, j1.
(J.52)
iv. Constantes
n
et
n
(Eqs. (4.73), ( 4.71.a et b))
L'quation (4.73) s'crit en fonction de
o
n et

D
6
n
=D
7
o
n
, (J.53)
o
D
6
et
D
7
sont des matrices carres dfinies par
|
D
6
i , j
=
|
1+
( 2X
j
)
2
|( ik
0
+X
j
) K
P
(X
j
)
2
1
2X
j
, i=j ,
|
D
6
i , j
=
1
X
i
+X
j
, ij ,
(J.54)
et
|
D
7
i , j
=
|
1
( 2X
j
)
2
|( ik
0
+X
j
) K
P
(X
j
)
2
1
2X
j
, i=j ,
|
D
7
i , j
=
1
X
i
+X
j
, ij ,
(J.55)
les vecteurs
o
n
et
n
tant lis aux constantes
f
n
et
h
n
par les relations (4.71.a et b), soit sous
forme matricielle
o
n
=D
8
f
n
,
n
=D
9
h
n
,
(J.56.a)
(J.56.b)
o
H
0
et
H
1
sont des matrices diagonales dfinies par
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
|
D
8
i , j
=
ik
0
+X
n
4ik
0
.n
K
P
(X
j
)
K
P
(ik
0
)
1
X
j
, i=j ,
|
D
8
i , j
=0, ij ,
(J.57)
et
|
D
9
i , j
=
ik
0
+X
n
4ik
0
.n
K
P
( X
j
)
K
P
( ik
0
)
, i=j ,
|
D
9
i , j
=0, ij.
(J.58)
J.2.2 Calcul des coefficients inconnus du problme
Les quations (4.52), (4.53), (4.56) et (4.73) rcrites sous les formes matricielles (J.42), (J.47),
(J.50), (J.53) et (J.56.a et b) dfinissent un systme d'quations rappeles ci-dessous dont les
inconnues sont les constantes
B
0 ,
(
n
,
f
n ,
h
n , les vecteurs
o
n
et
n
tant lis aux vecteurs
inconnus
f
n et
h
n (J.56.a et b).
|1( d
2
)
T
d
0
B
0
(d
2
)
T
D
0
(
n
+(d
1
)
T
D
1
h
n
=C
0
p
s
,
D
2
D
1
h
n
D
3
d
0
B
0
| D
3
D
0
+I (
n
=0,
f
n
=D
4
| d
0
B
0
+D
0
(
n
D
5
D
1
h
n
,
D
6
n
=D
7
o
n
,
o
n
=D
8
f
n
,
n
=D
9
h
n
.
En rcrivant l'quation (J.42) sous la forme
B
0
=|1( d
2
)
T
d
0
1
( d
2
)
T
D
0
(
n
|1( d
2
)
T
d
0
1
( d
1
)
T
D
1
h
n
+|1( d
2
)
T
d
0
1
C
0
p
s
, (J.59)
et en reportant cette relation dans l'quation (J.47) il vient
|
D
3
D
0
+I +D
3
d
0
|1( d
2
)
T
d
0
1
( d
2
)
T
D
0
(
n
=| D
2
D
1
+D
3
d
0
|1( d
2
)
T
d
0
1
( d
1
)
T
D
1
h
n
D
3
d
0
|1( d
2
)
T
d
0
1
C
0
p
s
,
(J.60)
soit de faon rduite
(
n
=D
10
| D
11
h
n
d
3
p
s
, (J.61)
avec
D
10
=
|
D
3
D
0
+I +D
3
d
0
|1( d
2
)
T
d
0
1
( d
2
)
T
D
0
1
,
D
11
=| D
2
D
1
+D
3
d
0
| 1(d
2
)
T
d
0
1
(d
1
)
T
D
1
,
d
3
=D
3
d
0
|1( d
2
)
T
d
0
1
C
0
.
(J.62.a)
(J.62.b)
(J.62.c)
En reportant la relation (J.61) dans l'quation (J.59) il vient
B
0
=| 1(d
2
)
T
d
0
1
| (d
2
)
T
D
0
D
10
D
11
(d
1
)
T
D
1
h
n
+|1( d
2
)
T
d
0
1
| C
0
( d
2
)
T
D
0
D
10
d
3
p
s
(J.63)
soit
B
0
=( d
4
)
T
h
n
+C
1
p
s
, (J.64)
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
avec
( d
4
)
T
=
|
1( d
2
)
T
d
0
1
|
(d
2
)
T
D
0
D
10
D
11
( d
1
)
T
D
1
,
C
1
=|1( d
2
)
T
d
0
1
| C
0
( d
2
)
T
D
0
D
10
d
3
.
(J.65.a)
(J.65.b)
D'autre part, en combinant les relations (J.50), (J.53) et (J.56.a), puis en reportant les quations
(J.61) et (J.64) dans l'expression obtenue il vient
D
6
n
=D
7
D
8
|
D
4
d
0
( d
4
)
T
+D
4
D
0
D
10
D
11
D
5
D
1
h
n
+D
7
D
8
D
4
|
d
0
C
1
D
0
D
10
d
3
p
s
, (J.66
soit
D
6
n
=D
12
h
n
+d
5
p
s
, (J.67)
avec
D
12
=D
7
D
8
|
D
4
d
0
( d
4
)
T
+D
4
D
0
D
10
D
11
D
5
D
1
,
d
5
=D
7
D
8
D
4
|
d
0
C
1
D
0
D
10
d
3
.
(J.68.a)
(J.68.b)
Enfin, en reportant la relation (J.56.b) dans l'quation (J.67) il vient
|
D
6
D
12
D
9
1
n
=d
5
p
s
. (J.69)
La rsolution de ce systme d'quations matricielles est effectue pour une force unitaire
(l'ensemble des rsultats recherchs tant proportionnel
p
s
, source d'nergie du systme). Ainsi,
l'quation (J.69) devient :
|
D
6
D
12
D
9
1
n
=d
5
. (J.70)
J.3 Fonctions Kp
Les fonctions
K
P
(X
n
)
o X
n
2
=(
n
/ a
2
)
2
k
0
2
sont ncessaires au calcul analytique de la position du
centre acoustique d'un microphone (Eqs. (4.76) et (4.73)). La mthode utilise ici pour calculer les
fonctions
K
P
(X
n
)
est dcrite dans la rfrence [71]. Le tableau prsente quelques valeurs de la
fonction
K
P
(X
n
)
ainsi calcules en fonction de
k
0
a
2
et n .
k
0
a
2
n=1 n=2 n=3 n=4 n=5 n=6 n=7 n=8 n=9 n=10
0 1 - 0i 0.4532 +
0i
0.3526 +
0i
0.2988 +
0i
0.264 + 0i 0.2391 +
0i
0.2201 +
0i
0.2051 +
0i
0.1927 +
0i
0.1824 +
0i
0.25 0.974 -
0.148i
0.4555 -
0.0003i
0.3535 -
0.0001i
0.2994 -
0.0001i
0.2644 -
0i
0.2394 -
0i
0.2203 -
0i
0.2052 -
0i
0.1929 -
0i
0.1825 -
0i
0.5 0.907 -
0.2716i
0.4618 -
0.0022i
0.3562 -
0.0009i
0.3009 -
0.0005i
0.2654 -
0.0004i
0.2401 -
0.0003i
0.2209 -
0.0002i
0.2057 -
0.0002i
0.1933 -
0.0001i
0.1828 -
0.0001i
0.75 0.8175 -
0.3618i
0.4714 -
0.0067i
0.3602 -
0.0028i
0.3032 -
0.0016i
0.267 -
0.0011i
0.2413 -
0.0008i
0.2218 -
0.0006i
0.2064 -
0.0005i
0.1938 -
0.0004i
0.1833 -
0.0003i
1 0.7204 -
0.4196i
0.4836 -
0.0148i
0.3652 -
0.006i
0.3061 -
0.0035i
0.2689 -
0.0023i
0.2427 -
0.0017i
0.2229 -
0.0013i
0.2073 -
0.0011i
0.1946 -
0.0009i
0.1839 -
0.0007i
t
e
l
-
0
0
3
4
9
2
0
6
,

v
e
r
s
i
o
n

1

-

2
4

D
e
c

2
0
0
8
J.3. Fonctions Kp 182
1.25 0.6254 -
0.4503i
0.4976 -
0.0274i
0.3708 -
0.0109i
0.3094 -
0.0062i
0.2711 -
0.0042i
0.2443 -
0.003i
0.2241 -
0.0023i
0.2083 -
0.0019i
0.1954 -
0.0015i
0.1846 -
0.0013i
1.5 0.5381 -
0.4596i
0.5125 -
0.0451i
0.3768 -
0.0175i
0.3128 -
0.0099i
0.2734 -
0.0066i
0.246 -
0.0048i
0.2254 -
0.0037i
0.2093 -
0.003i
0.1962 -
0.0024i
0.1853 -
0.0021i
1.75 0.4611 -
0.4532i
0.5271 -
0.069i
0.3826 -
0.026i
0.3162 -
0.0147i
0.2757 -
0.0097i
0.2476 -
0.0071i
0.2267 -
0.0054i
0.2103 -
0.0043i
0.1971 -
0.0036i
0.186 -
0.003i
2 0.3954 -
0.4357i
0.5396 -
0.0999i
0.3879 -
0.0366i
0.3193 -
0.0205i
0.2777 -
0.0135i
0.2491 -
0.0098i
0.2279 -
0.0075i
0.2113 -
0.006i
0.1979 -
0.0049i
0.1867 -
0.0042i
2.25 0.3408 -
0.4107i
0.5479 -
0.1388i
0.392 -
0.0493i
0.3218 -
0.0274i
0.2795 -
0.018i
0.2504 -
0.013i
0.2289 -
0.01i
0.2121 -
0.008i
0.1985 -
0.0065i
0.1873 -
0.0055i
2.5 0.2967 -
0.381i
0.5483 -
0.1862i
0.3943 -
0.0641i
0.3234 -
0.0354i
0.2807 -
0.0232i
0.2513 -
0.0168i
0.2296 -
0.0128i
0.2127 -
0.0102i
0.199 -
0.0084i
0.1877 -
0.0071i
2.75 0.2622 -
0.3483i
0.5359 -
0.2418i
0.3939 -
0.0808i
0.3237 -
0.0444i
0.281 -
0.0291i
0.2517 -
0.021i
0.2299 -
0.016i
0.213 -
0.0128i
0.1993 -
0.0105i
0.1879 -
0.0088i
3 0.2365 -
0.3137i
0.5031 -
0.3031i
0.3896 -
0.0991i
0.3221 -
0.0543i
0.2803 -
0.0355i
0.2512 -
0.0256i
0.2296 -
0.0196i
0.2127 -
0.0156i
0.1991 -
0.0128i
0.1878 -
0.0108i
3.25 0.219 -
0.2775i
0.438 -
0.3629i
0.3796 -
0.1181i
0.3178 -
0.0648i
0.2778 -
0.0425i
0.2496 -
0.0306i
0.2284 -
0.0234i
0.2118 -
0.0187i
0.1984 -
0.0153i
0.1872 -
0.0129i
3.5 0.2102 -
0.2381i
0.3207 -
0.3986i
0.3608 -
0.136i
0.3091 -
0.0752i
0.2725 -
0.0495i
0.2459 -
0.0358i
0.2258 -
0.0274i
0.2098 -
0.0219i
0.1967 -
0.018i
0.1858 -
0.0151i
3.75 0.2157 -
0.1863i
0.1101 -
0.3082i
0.3234 -
0.1467i
0.2902 -
0.0834i
0.2606 -
0.0556i
0.2376 -
0.0405i
0.2195 -
0.0312i
0.2048 -
0.025i
0.1927 -
0.0206i
0.1824 -
0.0173i
4 0.2879 -
0.1869i
0.3442 -
0.1146i
0.3109 -
0.0967i
0.2801 -
0.0576i
0.253 -
0.0391i
0.2316 -
0.0288i
0.2147 -
0.0223i
0.2008 -
0.0179i
0.1893 -
0.0148i
0.1796 -
0.0125i
4.25 0.2918 -
0.217i
0.3766 -
0.2047i
0.3295 -
0.0877i
0.2895 -
0.0519i
0.259 -
0.0351i
0.2359 -
0.0257i
0.2179 -
0.0199i
0.2034 -
0.016i
0.1914 -
0.0132i
0.1813 -
0.0111i
4.5 0.2813 -
0.2352i
0.3561 -
0.2525i
0.3454 -
0.0896i
0.2977 -
0.0522i
0.2642 -
0.0351i
0.2397 -
0.0256i
0.2208 -
0.0198i
0.2057 -
0.0158i
0.1933 -
0.0131i
0.1829 -
0.011i
4.75 0.2652 -
0.2454i
0.3233 -
0.2761i
0.3596 -
0.0983i
0.305 -
0.0559i
0.269 -
0.0372i
0.2431 -
0.0271i
0.2234 -
0.0208i
0.2078 -
0.0167i
0.195 -
0.0137i
0.1844 -
0.0116i
5 0.247 -
0.2492i
0.2893 -
0.2843i
0.3719 -
0.1131i
0.3113 -
0.0622i
0.2731 -
0.041i
0.2461 -
0.0297i
0.2257 -
0.0227i
0.2097 -
0.0182i
0.1966 -
0.0149i
0.1857 -
0.0126i
Tableau J.1. Fonctions K
P
(X
n
) en fonction de k
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a
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et n .
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METHODE DE RECIPROCITE : CARACTERISATION DE PETITS COMPOSANTS ACOUSTIQUES,
ETALONNAGE DES MICROPHONES EN PRESSION ET EN CHAMP LIBRE
L'talonnage absolu des microphones de mesure en acoustique repose sur l'obtention d'talons primaires, eux-mmes
talonns suivant un protocole sophistiqu (mthode de rciprocit) et conformment aux normes en vigueur ; ces
normes ont fait l'objet d'amliorations au cours des dernires dcennies mais laissent toujours des zones d'ombre.
Paralllement, la caractrisation approprie des oreilles artificielles, ncessaire au rglage des audiomtres et par suite
leur talonnage, fait aujourd'hui dfaut.
Ce propos met en cause la prcision de l'talonnage des talons de mesure de pressions acoustiques et l'insuffisance
des rglages d'appareils mdicaux largement utiliss. Les enjeux pratiques, techniques et scientifiques ont donc leur
importance et les tudes mener comportent des exigences qui ncessitent des recherches approfondies. C'est ainsi que
les thmes abords font appel ici la mthode de la rciprocit en cavit et en champ libre.
Dans la premire partie du travail, l'objectif recherch est d'adapter et d'amliorer la mthode de rciprocit en cavit.
L'adaptation de cette mthode conduit une technique de mesure d'impdances d'entre de petits lments acoustiques,
tels que des tubes, fentes, cavits (utiliss dans l'oreille artificielle). L'amlioration des incertitudes de mesure des
efficacits recherche pour les hautes frquences a conduit proposer une modlisation amliore d'un microphone
ainsi que du dispositif d'talonnage dans sa globalit de manire tudier l'influence des modes radiaux dans la cavit
sur les rsultats de l'talonnage.
La deuxime partie de ce travail trouve son origine dans une comparaison cl l'chelle internationale portant sur les
techniques d'talonnage des microphones en champ libre. Cette comparaison cl a ncessit une refonte complte du
dispositif exprimental du LNE, des techniques d'acquisitions et des mthodes de filtrage des perturbations lies aux
faibles niveaux acoustiques mis en jeu. Ce travail a conduit entreprendre des tudes plus approfondies sur les plans
analytique et exprimental du concept de centre acoustique d'un microphone.
Certains rsultats obtenus posent les bases des travaux futurs qui devraient permettre de poursuivre la modlisation
pour rduire les incertitudes mais galement pour prvoir la mise en uvre des mthodes adaptes la mtrologie des
capteurs du futur qui seront fabriqus par des procds relevant des microtechnologies.
Mots clefs : acoustique, microphone, mesure d'impdance, talonnage, rciprocit, cavit acoustique, champ libre
RECIPROCITY METHOD: CHARACTERIZATION OF SMALL ACOUSTIC COMPONENTS,
PRESSURE AND FREE-FIELD RECIPROCITY CALIBRATION OF MICROPHONES
The absolute calibration of the microphones for acoustic measurements requires primary standard microphones.
These standard microphones are themselves calibrated using sophisticated protocol (reciprocity calibration) according
to the current standards. These standards have been improved all-over the past ten years but some questions remain
unclear. In the same way, the appropriate characterization of the artificial ears, required for the calibration of the
audiometers, has not been developed yet.
This outlines the lacks in the calibration of standard microphones (in terms of precision) and in the settings of the
widely used medical devices. The practical, technical and scientific stakes are therefore of great importance and the
studies to be carried out require deepened investigations. Therefore the purpose of this work deals with the reciprocity
method for both the free-field calibration and the pressure calibration.
The aim of the first part of this work is to adapt and improve the pressure reciprocity method. The adaptation of this
method leads to a technique for characterizing the input behavior of small acoustic components such as small tubes,
slits, and cavities (used in the artificial ear). Improving the measurement uncertainties on the microphone efficiency in
the highest frequency range led to suggest both an improved model for the microphone and a global modeling for the
calibration device in order to study the influence of the radial modes in the cavity on the calibration results.
The second part of this work arises from a key comparison, at an international level, dealing with free-field
microphone calibration techniques. This key comparison has required a complete revision of the experimental
calibration device at LNE, of the acquisition processes, and of the signal filtering methods required by the extremely
low acoustic levels. This work led to undertake more advanced works on both analytical and experimental studies on
the concept of acoustic center for microphones.
Some of the results obtained here lay the basis for future works which should enable to improve the modeling for
reducing the uncertainties and also for foreseeing the implementation of methods dedicated to the metrology of future
MEMS sensors.
Keywords: acoustics, microphone, impedance measurement, calibration, reciprocity, acoustic cavity, free-field.
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Acadmie de Nantes

ECOLE DOCTORALE DE l'UNIVERSITE DU MAINE

v (w) , Eq. (2.69), trait plein)

n reprsente la drive suivant la normale locale la surface S oriente vers l'extrieur du

par des donnes idales extrapoles ou pouvant tre extraites d'talonnages en

j+ dsignent respectivement la masse volumique, le nombre d'onde et

n reprsente la drive suivant la normale locale la surface S oriente vers l'extrieur du

F sa transforme de Laplace, l'quation (4.11) prend la

F sa transforme de Laplace, l'quation de propagation

l'inverse du module du champ de pression p( z) ,

z l dsignent les admittances acoustiques spcifiques des parois respectivement en z=0

z l restant petites, compte tenu des quations (A.11.b) et (A.20), les

n sont dfinis en fonction des inconnues

n sous la forme matricielle suivante :

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