Sunteți pe pagina 1din 20

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

INTRODUCCIN A LAS TCNICAS DE CARACTERIZACIN


1.- Introduccin Desarrollo de nuevos materiales caracterizacin. desarrollo de tcnicas de preparacin y

1.1.- Qu es la caracterizacin de Materiales?


Obtencin de informacin a partir de la respuesta de un material al ser perturbado por una seal. (Caracterizacin anlisis instrumental) Lugar que ocupa la caracterizacin en la Ciencia e Ing. de Materiales

1.2.- Por qu es necesaria la caracterizacin de materiales?


Conocer o predecir las propiedades de un material y as valorar su utilidad en diversas aplicaciones.

1.3.- Qu informacin ofrecen las tcnicas de caracterizacin y cmo se utiliza?


Composicin, estructura, topologa, topografa, morfologa, propiedades (Color, Tm, etc.)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

2.- Definiciones previas

2.1.- Tcnica instrumental o de anlisis


Proceso cientfico fundamental que ha demostrado ser til para proporcionar informacin acerca de la caracterizacin de sustancias y/o materiales (ej. IR).

2.2.- Mtodo instrumental o de anlisis


Aplicacin especfica de una tcnica instrumental para resolver un problema determinado. a) Procedimiento.- Son las instrucciones (no detalle) escritas para llevar a cabo un mtodo (Normas ASTM, American Society for Testing and Materials, son procedimientos normalizados) b) Protocolo.- Es un procedimiento detallado (receta) Resultados comparables (Reproducibilidad)

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

3.- Clasificacin de las Tcnicas y Mtodos de caracterizacin y anlisis

3.1.- Tcnicas Clsicas


a) Separacin.- Destilacin, precipitacin, extraccin. b) Reacciones qumicas productos con caractersticas fcilmente observables o medibles c) Anlisis cualitativo.- color, olor, pto. Fusin, etc. Identificacin d) Anlisis cuantitativo.- Gravimetras, volumetras. Cantidad de

3.2.- Tcnicas instrumentales


Se basan en la medida de una propiedad fsica de la sustancia a analizar a) Separacin.- Cromatografa b) Tipos de Tcnicas instrumentales

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin


Perturbacin Tcnica Respuesta

Espectrometra de masas de iones secundarios (Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS) Iones, Iones Espectrometra de iones retrodispersados (Rutherford Backscattering Spectrometry, RBS). Iones, Iones Emisin de Rayos X inducida por protones (Proton-Induced X-Ray Emisin, PIXE). Iones, Fotones Espectrometra de Electrones Auger (Auger Electrn Spectrometry, AES). Electrones, Electrones Microscopa Electrnica Analtica (Analytical Electrn Microscopy, AEM). Electrones, Electrones Microscopa Electrnica de Barrido (Scanning Electrn Microscopy, SEM). Electrones, Electrones Microanlisis de Rayos X (Electrn Probe Microanalyzer, EPM). Electrones, Fotones Difraccin de electrones de baja energa (Low-Energy Electrn Diffraction, LEED). Electrones, Fotones Espectrometra fotoelectrnica de rayos X (X-Ray Photoelectron Spectrometry, XPS y ESCA). Fotones, Electrones Difraccin de rayos X (X-Ray Diffraction, XRD). Fotones, Fotones Fluorescencia de Rayos X (X-Ray Fluorescence, XRF). Fotones, Fotones Espectroscopia Infrarroja (Infrarred Spectrometry, IR). Fotones, Fotones Microscopa ptica (Optical Microscopy, OM). Fotones, Fotones

Perturbacin Iones Fotones Electrones

Respuesta Iones Fotones Electrones

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

Seales analticas y tcnicas instrumentales asociadas


Seal Emisin de radiacin Tcnicas Instrumentales Espectroscopa de emisin (rayos X, UV, visible, de electrones), fluorescencia, fosoforescencia (rayos X, UV, visible e IR) Espectrofotometra y fotometra (rayos X, UV, visible, IR); espectroscopa fotoacstica; resonancia magntica nuclear y resonancia de espn electrnico Turbidimetra, espectroscopa Raman Refractometra, interferometra Rayos X, electrones, neutrones Potenciometra Polarografa, amperometra Conductimetra Espectrometra de masas

Absorcin de radiacin

Dispersin de radiacin Refraccin de radiacin Difraccin de radiacin Potencial elctrico Corriente elctrica Resistencia elctrica Relacin masa a carga

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

4.- Instrumentos (equipos) para la caracterizacin y anlisis Convierten una seal analtica a un formato entendible por el ser humano.

4.1.- Componentes de un instrumento de anlisis


a) Generadores de seal - La seal procede de la muestra (ej. espectroscopa de emisin atmica) - La seal no procede de la muestra (ej. espectroscopa de absorcin atmica) b) Transductores de entrada (Termopar, fotoclula, brazo balanza, etc.) c) Procesadores de seal (amplificador, filtros, atenuadores, integradores, rectificadores) d) Dispositivo de lectura (medidor de escala, registro, microprocesadores)
Medidor de escala

Transductores de salida

Generador de seal

Seal analtica

Transductor de entrada o detector

Seal de entrada mecnica o elctrica

Procesador de seales
Registrador Display digital

0.213

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

4.1.- Componentes de un instrumento de anlisis

Instrumento

Generador de seal

Seal analtica

Transductor de entrada

Seal transducida

Procesador de seal

Lectura

Fotmetro

Lmpara de wolframio, filtro de vidrio, muestra

Haz de luz atenuado

Fotoclula

Corriente elctrica

Ninguno

Medidor de corriente

Espectrmetro de emisin atmica

Llama, monocromador, muestra

Radiacin UV-VIS

Tubo fotomultiplicador

Potencial elctrico

Amplificador, desmodulador

Registrador sobre papel. Computador

Difractmetro de rayos X

Tubo de rayos X, muestra

Radiacin difractada

Pelcula fotogrfica, contador de fotones de rayos X

Imagen latente. Potencial elctrico

Revelador qumico. Amplificador, desmodulador

Imgenes ennegrecidas en una pelcula. Computador

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

5.- Evaluacin de un mtodo instrumental a) b) c) d) Conocer en qu se basa la tcnica y en qu consiste el mtodo (teora general) Ventajas y limitaciones del mtodo (tipo de muestra a utilizar, precisin , etc.) Instrumentacin ilustrativa y aspectos bsicos del mtodo (dificultad, costo, etc.) Aplicaciones (ejemplos de utilizacin)

5.1.- Seleccin de una Tcnica y/o mtodo instrumental


a) Definicin del problema Qu exactitud y precisin se necesitan? (Perfilmetro, AFM) De cunta muestra se dispone? (DSC, DMTA) Cul es el intervalo de deteccin que se precisa? (Balanzas) Qu componentes de la muestra interferirn? (FT-MIR, FT-NIR) Cuntas muestras deben analizarse?

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):
Criterio cuantitativo 1. Precisin Parmetro de calidad Desviacin estndar absoluta, desviacin estndar relativa, coeficiente de variacin, varianza Error absoluto sistemtico, relativo sistemtico Sensibilidad de sensibilidad analtica error

2. Exactitud

3. Sensibilidad

calibracin,

4. Lmite de deteccin

Blanco ms tres veces la desviacin estndar del blanco Concentracin entre el lmite de cuantificacin (LOQ) y el lmite de linealidad (LOL) Coeficiente de selectividad

5. Intervalo de concentracin

6. Selectividad

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cualitativos: - Velocidad - Facilidad y comodidad - Habilidad del operador - Coste y disponibilidad del equipo - Coste por muestra

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):
Trminos Definicin*

Desviacin estndar absoluta, s


s=

(x
i =1

x)2

i) Precisin
Grado de cuidado con que se realiza una medida Error aleatorio

N 1

Desviacin estndar relativa (RSD)

RSD =

s x

Desviacin estndar de la media, sm Coeficiente de variacin, CV

sm =
CV =

s N

s 100% x

Varianza

s2

*x i

= valor numrico de la isima medida

x = media de N medidas =

x
i =1

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

ii) Exactitud
Aproximacin al valor verdadero (error sistemtico o determinado) Blancos y calibracin (eliminacin de error) Exactitud = - xt

iii) Sensibilidad
Capacidad de discriminar entre pequeas diferencias en el valor de un parmetro de anlisis. Factores de los que depende: -Pendiente de la curva de calibracin -Precisin IUPAC(International Union of Pure Applied Chemists) Sensibilidad Pendiente en curva de calibracin S = Sbl + mC (S=seal, Sbl=blanco, m=pendiente y C=concentracin)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

iv) Lmite de deteccin


Menor valor detectable para un nivel de confianza dado Seal mnima detectable = Sm =< Sbl> + kbl

Lmite de deteccin =

S m < Sbl > cm = m

v) Relacin Seal Ruido


S/N = Amplitud media de la seal/Amplitud media del ruido Mejora de S/N dispositivos electrnicos (filtros, amplificadores, etc.) o algoritmos programados (promediado de conjunto, promediado por grupos, transformadas de Fourier, etc.)
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

b) Caractersticas de funcionamiento de los instrumentos. Parmetros de calidad Criterios cuantitativos (parmetros de calidad):

vi) Intervalo de medida aplicable


Lmite de cuantificacin, LOQ Lmite de linealidad Mtodo aplicable intervalo 102

vii) Selectividad
Grado con que se evitan interferencias de especies sin inters analtico

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.- Evaluacin de resultados. Errores Los datos de fiabilidad desconocida son, en el mejor de los casos, intiles y en el peor, pueden conducir a una respuesta incorrecta. 6.1.- Tipos de errores a) Aleatorios (indeterminados)
Distribucin gaussiana de valores Errores instrumentales Errores de mtodo Errores personales

b) Sistemtico (determinado o de procedimiento) c) Errores grandes 6.2.- Expresin del error a) Error absoluto Ea = - x b) Error relativo Er = Ea/

6.3.- Precisin y Exactitud 6.4.- Precisin y cifras significativas

Preciso y exacto

Preciso y no exacto
Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales Desviacin estndar -Desviacin estndar muestral, s
s=

(x
i =1

x) 2

N 1

-Desviacin estndar poblacional,

(x
i =1

x) 2

Desviacin estndar relativa

s RSD = x

s CV = 100 x

Varianza, s2 2

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales Lmites de confianza a) La prueba Q


N de medidas 3 Rechazo con 90% de confianza 0.941 0.765 0.642 0.560 0.507 0.468 0.437 0.412 Rechazo con 95% de confianza 0.970 0.829 0.710 0.625 0.568 0.526 0.493 0.466 Rechazo con 99% de confianza 0.994 0.926 0.821 0.740 0.680 0.634 0.598 0.568

Qexp =

d = w x h xl

xq xn

4 5 6 7 8 9 10

b) La prueba T

Tn

(x =

xn s

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.5.- Cuantificacin de los errores experimentales Lmites de confianza Los lmites de confianza definen un intervalo de valores a cada lado de la media calculada que describe la probabilidad de encontrar all la media verdadera.

CL = x

t s N

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

6.6.- Sistemas de control y aseguramiento de calidad Control de calidad Regulacin de la calidad y el mecanismo con el que se alcanza Sistema de aseguramiento de la calidad Conjunto de procedimientos vigentes para asegurar que se lleven a cabo las actividades del control de calidad. Acreditaciones. Materiales de referencia certificados (patrones) 6.7.- Grficos de control de calidad

Fco. Javier Gonzlez Benito

Caracterizacin de Materiales y Defectos

Introduccin a las Tcnicas de Caracterizacin

7.- Bibliografa
a) D.A. Skoog, J.J. Leary, Anlisis Instrumental, McGraw-Hill, Madrid (1996). Samus P.J. Higson. Qumica analtica. McGraw-Hill, Madrid (2004). H.H. Willard, L.L. Merritt Jr.,J.A. Dean, F.A. Settle Jr., Mtodos Instrumentales de anlisis, Grupo Editorial Iberoamericana S.A. de C.V., Mxico (1991). Concise Enciclopedia of Materials Characterization. Editors: R.W. Cahn FRS & E. Lifshin. Pergamon Pres (1993). Teora de errores: http://vppx134.vp.ehu.es/fisica/agustin/errores/error_p.html

b) a)

b)

c)

Fco. Javier Gonzlez Benito

S-ar putea să vă placă și