2.corrección de Interferencias Espectrales y No Espectrales en ICP-MS

Correccin de interferencias espectrales y no espectrales en ICP-MS
Rubn Garca ICP-MS Specialist Spain Agilent Technologies
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Interferencias en ICP-MS Espectrales

Solapamiento de pico con el analito de inters Pueden afectar al anlisis por ICP-MS originando:
--Resultados inexactos (analito-dependientes). --Usualmente errores por exceso en los resultados.
No-Espectrales
Debidas a la muestra (matriz) Pueden afectar al anlisis por ICP-MS originando:
--Prdida/aumento de sensibilidad. --Resultados inexactos (malas recuperaciones) --Pobre precisin y deriva en los resultados. --Incremento de las tareas de mantenimiento
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Workshop ICP-MS Madrid
Interferencias espectrales
Existen dos fuentes principales:
Presencia de otros elementos Solapamiento isobrico de ms de un elemento compartiendo la misma masa nominal. Especies doblemente cargadas (menos frecuente e importante).
CO2 SO, SOH ArC ClO ArO, CaO ClO SO2, S2, Ar2, Ca2, ArCa, S2O, SO3
Especies moleculares Especies poliatmicas
ArN
ArCl
Una matriz sinttica con alto TDS (C, Ca, Br, Cl, Na, S) origina un gran nmero de seales en la zona 2485 m/z. Esa zona afecta a la mayor parte de los elementos de transicin. Se necesita un tratamiento adecuado de estas seales de fondo.
CO2H ArC S2, SO2 Cl2
ArOH, CaOH ArCO, ArCN CaO, NaCl SN ClO, NaS 50 55 CaO CaO, NaCl 60 Mass
ArS, Cl2 Ar2
Br, Br, Ar2H Ar2H
ArCl
Cl2H 65 70
ArS 75 80
45
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Interferencias espectrales. Estrategias

Distintas estrategias para reducir los problemas de interferencias:
Simplemente elegir el mejor istopo para la muestra en cuestin. Ejemplo: Si la muestra contiene cloro, evitar 53Cr (37Cl16O). Si C, evitar 52Cr (40Ar16O) Cambiar etapa de preparacin de la muestra. Ejemplo: Para evitar interferencia 75As (40Ar37Cl) evitar digestiones con HCl. Cambiar algn componente del sistema. Ejemplo: Si el material de vidrio limita la medida de Si, instalar un sistema de introduccin de muestra Si-free o inerte. Utilizar ecuaciones de correccin matemticas. Ejemplo: Usar ecuaciones EPA para ArCl en 75As. O, eliminar la interferencia con la tecnologa de la celda de colisin/ reaccin
Cuadrupolo, hexapolo, octopolo Procesos reactivos, mecanismos fsicos inertes

Page 4 Workshop ICP-MS Madrid
Agilent 7700x ICP-MS con Octopole Reaction System (ORS3)

Lentes inicas Off-axis Entrada de gas de dilucin del kit HMI Entrada del gas de celda 3 generacin Octopole Reaction System (ORS3) Detector simultneo dual rpido (109 intervalo dinmico lineal)
Sistema de introduccin de muestra de bajo flujo Cmara de nebulizacin refrigerada por Peltier
35 unidades vendidas
Cuadrupolo hiperblico de alta frecuencia (3MHz)
Generador de RF de 27MHz de frecuencia variable
Sistema de vaco de alto rendimiento Interfase de extraccin (alta transmisin, tolerancia a matriz)
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Qu es una Celda de Colisin/Reaccin?

Una celda presurizada colocada entre la interfase del ICP-MS y el analizador de cuadrupolo del espectrmetro de masas La celda contiene una gua de iones multipolar
cuadrupolo - 2 orden - 4 barras (similar al analizador de cuadrupolo) hexapolo - 3 orden - 6 barras octopolo - 4 orden - 8 barras
Los voltajes RF en las barras focalizan y guan los iones
Cuando no est presurizada acta como una gua de iones Cuando est presurizada los iones interaccionan con el gas de la celda Analito, matriz e iones interferentes entran en la celda - las condiciones de la celda deben eliminar de forma efectiva las interferencias sin reducir excesivamente la transmisin del analito
Nuevo sistema de colisin octopolar (ORS3) para la eliminacin de interferencias

El 7700 lleva una nueva celda de colisin/reaccin, con: Barras 18% ms largas ID 15% menor y trabaja a 16% mayor presin 20% mayor frecuencia para trabajar con una mayor discriminacin de energas cinticas (KED) y obtener una ms alta eficacia de eliminacin de interferencias en modo He
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Interferencias poliatmicas en matrices complejas/ desconocidas

Isotope 45 Sc
47
Principal Interfering Species (mixed matrix) 13 16 C O2, 12C16O2H, 44CaH, 32S 12CH, 32S 13C, 33S 12C
31 31
Plasma-based derivados de combinaciones de elementos presentes en el plasma y en el agua/ntrico de las muestras. e.g. ArO+, ArH+, Ar2+, CO2+ Matrix-based provienen de la matriz de la muestra en combinacin con elementos presentes en el plasma y en el agua. e.g. Derivados de S (S2+, SO2+), poliatmicos con Cl (ClO+, ArCl+),
Ti Ti 50 Ti 51 V 52 Cr 53 Cr 54 Fe 55 Mn 56 Fe 57 Fe 58 Ni 59 Co 60 Ni 61 Ni 63 Cu
49 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73
P 16O, 46CaH, 35Cl12C, 32S 14NH, 33S 14N P 18O, 48CaH, 35Cl14N, 37Cl12C, 32S 16OH, 33S 16O 34 16 S O, 32S 18O, 35Cl14NH, 37Cl12CH 35 Cl16O, 37Cl14N, 34S 16OH 36 Ar16O, 40Ar12C, 35Cl16OH, 37Cl14NH, 34S18O 36 Ar16OH, 40Ar13C, 37Cl16O, 35Cl18O, 40Ar12CH 40 Ar14N, 40Ca14N, 23Na31P 37 Cl18O, 23Na32S, 23Na31PH 40 Ar16O, 40Ca16O 40 Ar16OH, 40Ca16OH 40 Ar18O, 40Ca18O, 23Na35Cl 40 Ar18OH, 43Ca16O, 23Na35ClH 44 Ca16O, 23Na37Cl 44 Ca16OH, 38Ar23Na, 23Na37ClH 40 Ar23Na, 12C16O35Cl, 12C14N37Cl, 31P 32S, 31P 16O2
32 32 34 32 32 32 34 34 40 40 40 40 40 40
Zn Cu Zn Zn Zn Ga Zn Ga Ge Ge Ge As
S 16O2,
16 16
32
S O2H, S O2, S 34SH, S 18O2,

18
S 2, 32
36
Ar12C16O, 38Ar12C14N,
14 33 48
48
Ca16O
S 2H,
34
N O Cl,
48 18 14
16
35
48
Ca OH
16
32
S S, S 2H,
S 2,
Ca O N16O37Cl, 16O235Cl
33 34
Ca18OH, O237Cl Ar31P
con P (PO2+, ArP+), derivados de C (ArC+, C2+) Pueden ser variables en intensidad (en funcin de la matriz de la muestra), impredecibles si la matriz de la muestra es desconocida.
S O2H, S 18O2,
18
S2 34
S 2H, Cl2H,
33
16
35
Cl2
40 40
S O2H, Ar32S,
32 35
35
Cl37Cl, Cl2
Ar16O2 Cl37ClH,
40
Ar SH, Ar34S,
34 37
40
Ar S,
35
Ar16O2H Cl2H
74 75 77 78
37
Ar SH,
40 40
Ar 35Cl,
37
40
Ca 35Cl,
37
Se Se 80 Se
Ar Cl, Ca Cl Ar 38Ar 40 Ar2, 40Ca2, 40Ar40Ca,
32
S 2 16O,
32
S 16O3
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Tecnologa de celda Colisin/ Reaccin: tres diferentes mecanismos de operacin

Proceso de reaccin gas reactivo (H2, CH4, NH3, He/H2, O2) en la celda
El mecanismo principal de eliminacin del interferente es una reaccin El poliatmico interferente es ms reactivo que el analito con el gas reactivo elegido, permitiendo la eliminacin preferente del interferente. En otras ocasiones (menos comn) el analito es ms reactivo y se transforma en una nueva especie a una masa diferente.
Proceso de colisin gas inerte (He) en la celda

La eliminacin del interferente es mediante un mecanismo No-reactivo CID- sin conversin de especies pudiendo ser aplicado a muchos poliatmicos sin crear nuevos iones (interferentes potenciales).
Discriminacin de Energas Cinticas (KED)

Proceso de enorme importancia para la eliminacin de interferencias en modo He. Solo es efectivo si existe un control preciso sobre la energa de los iones Establecido por las condiciones (voltaje) de las lentes en el tuning.
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ICP-MS en modo Reaccin para muestras con alto contenido en matriz y desconocidas(1)
Todas las CRCs pueden trabajar en modo reaccin. Este modo es muy eficaz para las interferencias poliatmicas tipo plasma-based, especialmente en semiconductores, donde la matriz de la muestra es perfectamente conocida, constante, y muy sencilla, PERO
Para matrices complejas o de alta variabilidad (enviro, clnica, food, geo, petro, etc), gases de celda reactivos (NH3, H2, H2/Ar, NH3/He, H2/He, CH3, O2) tienen ciertas limitaciones: El usuario ha de saber que interferencias estn presentes, para elegir un gas de reaccin apropiado. Debe conocer de forma previa la matriz de la muestra no adecuado para matrices desconocidas Muchos analitos tienen mltiples interferencias; todas no reaccionarn con el mismo gas. Pueden permanecer interferencias residuales, que dependern de la matriz no adecuado para matrices complejas
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ICP-MS en modo Reaccin para muestras con alto contenido en matriz y desconocidas(2)
Un solo gas reactivo no elimina todas las interferencias mltiples gases para mltiples analitos. Gases reactivos se usan tipicamente para V, Cr, Fe, As y Se no adecuado para anlisis multielemental en matrices complejas El gas reactivo reacciona con la matriz de la muestra para formar nuevos iones poliatmicos origina nuevas e impredecibles interferencias, las cuales pueden variar con la matriz Gases reactivos reaccionan con algunos analitos y estndares internos; la velocidad de la reaccin vara con la matriz origina prdidas de sensibilidad
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Blanco de cidos e IPA en modo H2 (Reaccin)

Color del espectro indica que matriz origina cada interferente
2E5 cps
Matriz mezcla de cidos (5% HNO3, 5% HCl, 1% IPA, 1% H2SO4) Muchos poliatmicos aun pueden verse en el espectro en modo H2 En modo H2 (reaccin) muchos poliatmicos permanecen (o se forman nuevos). Diferentes interferencias para cada matriz!
SO, SOH
CO2H
ClO, ClOH
S2, SO2, S2H, SO2H
Cl2
45 Modo H2
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50
55
60 Mass 65
70
75
80
Formacin de hidruros observada en la medida de relaciones isotpicas de Se por LC-ICP-MS

Datos courtesa de J Darrouzes
3000
Signal (cts)
Se (76, 77, 78, 80, 82) As
SeH
SeH Br
79BrH
2500 2000 1500 1000 500 0
Br
75AsH
SeH
81BrH
75
76
77
78
79
80
81
82
83
m/z ratio
Formacin MH+ (MH+/M+): Se:(3.80,4)% Br:(7.00,9)% As:(1.80,4)%
Cada elemento estudiado forma interferencia MH+
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Como es un mtodo en DRC-ICP-MS.

Reaction Cell Parameter Analyte B Na Mg Al K Ca Ti V Cr Mn m/z 11 23 34 27 39 40 48 51 52 55 Gas NH3 NH3 NH3 NH3 NH3 NH3 NH3 Flow (mL/min) 0.6 1.2 1.2 0.3 0.7 0.7 0.7 RPq 0.25 0.25 0.25 0.50 0.50 0.50 0.50 0.65 0.65 0.50 Analyte Fe Ni Cu Zn Ga AsO SeO Sb Au Pb m/z 56 60 63 64 69 91 96 121 197 208 Gas NH3 NH3 NH3 NH3 NH3 O2 O2 Flow (mL/min) 0.7 0.3 0.3 0.3 0.7 0.6 RPq 0.50 0.50 0.50 0.50 0.65 0.45 0.65 0.25 0.25 0.25
Atomic Spectroscopy Vol 23(5), Sept/Oct 2002
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Principios del modo colisin con He y KED

Un gas de celda inerte (He) colisiona con el ion en la celda
iones poliatmicos iones poliatmicos
iones analito
Distribucin de energas de analito e ion poliatmico interferente con la misma masa
Voltaje discriminacin Elimina iones con baja energa (poliatmicos)

iones analito
Energa
Energy
A la entrada de la celda , analito y poliatmico tienen la misma energa. La dispersin de energas de ambos grupos de iones es estrecha, debido al sistema ShieldTorch
La prdida de energa en cada colisin con un tomo de He es la misma para analito y poliatmico, pero poliatmicos tienen mayor tamao y sufren ms colisiones.
A la salida de la celda, energas de los iones son distintas. Los poliatmicos son eliminados usando un voltaje de discriminacin barrera. Iones analito tienen suficiente energa residual para superar el escaln de potencial; poliatmicos no (discriminacin de energas)
Cell Entrance
Cell Exit
*KED = Kinetic Energy Discrimination
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Discriminacin de Energas Cinticas
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Blanco de cidos e IPA en modo No Gas

Color del espectro indica que matriz origina cada interferente
2E5 cps
Matriz mezcla de cidos (5% HNO3, 5% HCl, 1% IPA, 1% H2SO4) Todos los picos en modo NoGas son debidos a interferencias poliatmicas Mltiples poliatmicos afectan a casi todas las masas Interferencias son matriz-dependientes
45
50
55
60
Mass
65
70
75
80
Modo No Gas
Blanco de cidos e IPA en modo He (Colisin)

Color del espectro indica que matriz origina cada interferente 2E5 cps
Matriz mezcla de cidos (5% HNO3, 5% HCl, 1% IPA, 1% H2SO4) TODAS las interferencias poliatmicas son eliminadas en modo He (mismas condiciones de celda)
Todas las interferencias poliatmicas son eliminadas en modo He

Y la sensibilidad?
45
50
55
60
Mass 65
70
75
80
Modo He
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Mezcla de cidos adicionada (10ppb) en modo He

Buena sensibilidad y pattern isotpico perfecto para todos los elementos
2E5 cps
Adicin de 10 ppbs en 5% HNO3, 5% HCl, 1% IPA, 1% H2SO4 Alta sensibilidad para todos los istopos de todos los elementos en modo He
45
50
55
60
Mass
65
70
75
80
Modo He
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Beneficios prcticos del modo He (1)

El modo He elimina TODOS los poliatmicos para todas las masas de un analito, no solo los reactivos. Background Equivalent Concentration (BEC) para 51V en varios blancos de matriz
51V
ClO no se elimina completamente en modo H2 interfrencias residuales
51V
en modo NoGas sufre la interferencia ClO, que no se elimina completamente en modo H2 (no es muy reactivo con este gas). El usuario debe identificar la interferencia antes de elegir el gas a emplear (i.e. debe conocer la matriz previamente) En modo He se eliminan todos los poliatmicos en mltiples masas, en las mismas condiciones, sin necesidad de conocer la matriz.
ClO
SOH
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He es inerte y no puede crear nuevas interferencias poliatmicas Background Equivalent Concentration (BEC) para 52Cr en varios blancos de matriz
52Cr
ArC se elimina en ambos modos de celda. Un gas reactivo aumenta la interferencia en 52Cr (p.e en matriz HCl ) por formacin de ClOH
Interferencias de C son eliminadas eficazmente en ambos modos (colisin y reaccin) PERO, interferencias de Cl son mayores en modo reaccin que en modo NoGas, debido a ClO ClOH (creacin de un nuevo poliatmico).
ClO, ClOH
ArC
He no crea ninguna nueva interferencia con los elementos de la matriz
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He es inerte y no reacciona con analitos originando prdidas de seal todos los gases reactivos originan prdidas de sensibilidad en algunos analitos
Modo He sensibilidad homognea perfecto pattern isotpico
He Mode - 10ppb en HNO3
Modo H2 prdida de sensibilidad significativa para V, Cr, Co, Ni, Cu y As diferente perfil isotpico para algunos analitos
Modo H2 - 10ppb en HNO3
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El modo He es independiente de la matriz a analizar
Modo He - MeOH (1%) + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias
Modo He - HCl (5%) + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias
Modo He - H2SO4 (1%) + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias
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El modo He es independiente de la matriz a analizar
Modo He - Na (200ppm) + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias
Modo He Ca (200ppm) + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias (seales 44, 46, 48 istopos de Ca)
Modo He Mix + 10ppb Spike Se mantiene el perfil isotpico, confirmando la eliminacin de todas las interferencias (seales 44, 46, 48 istopos de Ca)
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ORS3 en modo He incluso para Se

Calibracin para 78Se a 0, 0.5, 1, 10ppb en 2% HCl + 100ppm Ca
Rendimiento mejorado para Se con ORS3 en modo He

LOD shows 0ppb Blank was 2cps +/- 0cps Probably <5ppt LOD
Eliminacin de las interferencias en todos los istopos de Se esencial para medida de relaciones isotpicas o anlisis por dilucin isotpica
Isotope 78 BEC (ppt) 7.95 DL (ppt) (<5)
No se observan SeH o BrH
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Como es un mtodo de colisin en Agilent 7700
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Desarrollo del mtodo para cada elemento potencialmente interferido en matriz compleja/desconocida
Celda de Reaccin (1) Celda de colisin
Use He Collision Mode
Report results
Las condiciones en modo He son idnticas para todos los elementos interferidos en cualquier matriz
(1) Strategies to develop methods using ion-molecule reactions in a quadrupole reaction cell to overcome spectral overlaps in ICP-MS. Olesik, J. and Jones, D., JAAS, 2006, 21, 141-159
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Calibracin 75As en HNO3 1% HCl 0.5%
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Calibracin 202Hg en HNO3 1% HCl 0.5%
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Iones cualificadores (Istopos) en ICP-MS

Si todas las interferencias poliatmicas pueden ser eliminadas (modo He), se podran usar iones cualificadores (istopos) para confirmar la concentracin medida con el istopo preferente. Da mayor confianza en el resultado obtenido y confirma que han sido eliminadas todas las interferencias Algunas normativas requieren que se use informacin de un istopo secuandario, si fuera posible (Dutch accreditation program AP-04 regulated methods for soils and other materials) Istopo principal
cps a 63Cu cps a 65Cu
Istopo cualificador
Cu calib para 63Cu
Cu calib para 65Cu
Cu en muestra (con calib 63Cu)
Comparacin
Cu en muestra (con calib 65Cu)

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Clculo de la Diferencia porcentual Relativa (RPD)

Cada elemento se calibra separadamente usando dos istopos y se comparan los resultados dando un valor de diferencia % relativa (RPD):
(Res. del istopo cualificador Res. del istopo preferente) Relative % Difference = Res. Istopo preferente e.j.: (conc. 65Cu conc. 63Cu)
65Cu/63Cu
x 100
RPD = conc. 63Cu
x 100
RPD = 0% indica que ambos istopos dan la misma concentracin RPD > 0% indica interferencia en el cualificador RPD < 0% indica interferencia en el istopo preferente
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Cr en muestras con alto contenido en Cl Modo No gas

52Cr
Perfil isotpico terico (referencia 52Cr)
sample
53Cr
% Recuperacin (10ppb en 5% HCl) y RPD

Isotope Interference Measured % Recovery
52Cr 53Cr
RPD (53Cr/52Cr)
ArC 9.92 ppb 99.2%
ClO 58.8 ppb 588% 493%
sample
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Cr en muestras con alto contenido en C No gas

52Cr
sample 10 ppb
10 ppb
53Cr
%recuperacin (10ppb en 1% MeOH) y RPD

52Cr 53Cr
RPD (53Cr/52Cr)
ArC 18.96 ppb 190%
ClO 9.33 ppb 93.3% -50.79%
sample
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Cr en muestras con alto contenido en Cl y C Modo He

52Cr
sample
53Cr
%recuperacin (10ppb en 1% HCl/MeOH) y RPD

52Cr 53Cr
RPD (53Cr/52Cr)
ArC 10.01 ppb 100%
ClO 10.44 ppb 104% 4.30%
sample
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Muestras reales Cr en CRM Seawater

Modo Helio (calibracin in 1% HNO3 / 0.5% HCl)
52Cr
sample
53Cr
%recuperacin y RPD 53Cr confirma el resultado a 52Cr

Isotope Interference Measured
52Cr 53Cr
RPD (53Cr/52Cr)
ArC 8.00 ppb
ClO 7.93 ppb -0.875%
sample
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Anlisis por Dilucin Isotpica en rutina

La eliminacin completa e inespecfica de interferencias del modo He permite trabajar de manera sencilla con IDMS en rutina
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Interferencias no- espectrales o de matriz

Efectos espacio carga
Alta concentracin de iones con la misma carga M+. Efecto de repulsin reduce la eficacia de transmisin en la regin de las lentes.
Cargas del mismo signo se repelen. Efectos de masa afectaran en mayor medida a los iones ms ligeros.
Simulacin del haz de iones en la zona de las lentes. Poca interaccin electrosttica entre los iones siendo el campo elctrico controlado por las lentes.
Haz de iones con una alta densidade.j. una sal de U. Los iones son afectados por el campo de las lentes y por efectos espacio carga entre ellos. Iones ms ligeros tienen ms probabilidad de ser repulsados y perdidos.
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Interferencias no- espectrales o de matriz

Efectos en la ionizacin: Alta concentracin de sales
Muchas muestras tienen alto contenido en sales de elementos alcalinos y alcalinoterreos. Su bajo I.P., hacen que se encuentren altamente ionizados en el plasma.
Alta concentracin de e- en el plasma puede afectar a elementos de alto IP
Na I.P=5.14eV Zn I.P.=9.39eV (Zn+ tiene mayor afinidad por los e- que el Na+ En un plasma denso en Na+, un pequeo nmero de Zn+ pueden captar e-, neutralizando su carga, no siendo as detectable. El resultado ser una disminucin de la seal del Zn debido al Na
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Efectos en la ionizacin.
Sales alcalinas a elevada concentracin
La presencia de elementos facilmente ionizables afectan a elementos de mayor potencial de ionizacin (IP).
Supresin en ICP-MS es generalmente <10%. Dilucin de muestras con altos TDS reducira este efecto.
En ICP-MS convencional (sin HMI) se recomienda una concentracin de TDS en el rango de 2000-3000 ppm (0.2 0.3%).
Contenido orgnico (muestras con approx >5000ppm (0.5%) en composicin orgnica).

Incremento de la seal para ciertos elementos.
Algunos con altos IP, e.j. As, Se y Fe. Aumento de la sensibilidad del orden del 10-30%. Puede solucionarse con (matrix matching de C, dilucin isotpica)
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Interferencias de matriz. Que debemos hacer

Mayor potencia RF (>1300) para un plasma de mayor temperatura.
Habitualmente 1500W
Trabajar con una mayor distancia de muestreo.

Maximiza el tiempo de residencia de la matriz en el plasma.
Usar antorcha 2.5mm dimetro interno Trabajar con flujos bajos de carrier y muestra.
Crear condiciones de ionizacin ms robustas
Diluir muestras con muy alto contenido en matriz.
Usar siempre un Estandar Interno.

Estndares internos (ISTD) son la herramienta principal para compensar los posibles efectos de matriz en ICP-MS. Suelen cubrir todo el rango de masas 6Li, Sc, Ge, Y, Rh, In, Tb, Ho, Lu, Bi (Be, Te, Au para altos IP).
Inferfase HMI. Anlisis por Adiciones Estndar o Dilucin Isotpica

Importancia de la temperatura del plasma

Zona ms caliente del plasma ~ 8000K Canal de muestra ~6700K Tiempo de residencia de unos pocos milisegundos En la zona del cono de muestro , analitos presentes como iones M+ +
El plasma del ICP-MS debe producir iones tomos neutros no pueden ser medidos . La introduccin de la muestra debe permitir mantener una temperatura del plasma lo ms alta posible esto se monitoriza usando la relacin CeO+/Ce+
Secado del aerosol
La mayor poblacin de M+ debera correspondrese con la menor poblacin de iones poliatmicos
Decomposicin y disociacin
Atomizacin e ionizacin
ICP-MS convencional
0.4 0.8mL/min, inyector 1.8 2.0 mm, pobre eliminacin del solvente baja T en el canal central de la antorcha
ICP-MS optimizado
0.10 - 0.25mL/min, inyector 2.5mm, eliminacin del solvente alta T en el canal central de la antorcha
+ + + + + + + + +
Alta entrada de muestra, canal central estrecho Pobre descomposicin de la matriz
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+ +
Baja entrada de muestra, canal central ancho Buena descomposicin de la matriz
CeO/Ce Ratio Efecto en la supresin por la matriz

Mayor temperatura del plasma (menor CeO/Ce) mejor tolerancia a matriz (menos supresiones de seal en matrices complejas.
Signal Suppression in 0.3% NaCl

100.0 90.0 80.0
% Recovery
Agua de mar dil 1/10
70.0 60.0 50.0 40.0 30.0 20.0 10.0 0.0 Sc-45 Cr-52 Fe-56 Zn-66 Mo-95 In -115 Elements 1% CeO/Ce 1.7 % CeO/Ce
Mejores recuperaciones en muestras con alto contenido en matriz con plasma robusto Ceo/Ce es una medida de la robustez del plasma.
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High Matrix Introduction Kit (HMI) Como funciona
HMI es un sistema de dilucin del aerosol Diluye la muestra utilizando un flujo de argon, aadido despus de la cmara de nebulizacin Aumenta tolerancia a matriz 10x
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7700x + HMI para mayor tolerancia a matriz

HMI permite analizar en rutina muestras con muy alto contenido en matriz
HMI reduce la supresin por matriz datos ms exactos en matrices complejas y de alta variabilidad
HMI tambin reduce el mantenimiento, simplifica el anlisis y mejora la productividad reduce la necesidad de diluciones, repeticin de medidas, etc
Supresin ~10% o menor con HMI
Adems de diluir la densidad del aerosol, HMI reduce la entrada de vapor de agua y matriz. Mayor robustez del plasma (hasta 0.2 %CeO/Ce)
Supresin ~80% o mayor con otro ICP-MS
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Adicin de estndares internos

ISTDs pueden ser aadidos de dos formas: 1) En continuo usando una bomba peristltica y una T de mezcla. 2) Manualmente como una adicin a cada estndar, blanco y muestra
Ratio seal de analito/seal E.I. vs concentracin Cuando se use una T de mezcla, un control de la estabilidad del flujo es de enorme importancia. Esto puede realizarse facilmente desde la ventana de sintonizado (tuning) monitorizando en continuo la seal de alguno de los E.I., e.j. 89Y para la sensibilidad y 115In como ISTD.
La solucin de ISTD se introduce a travs de un tubo estrecho (0.19 mm i.d.) y se mezcla con la muestra en la T de conexin. El factor de dilucin del ISTD con respecto a la muestra es 1/20. As, 1000ppb ISTD es aprox. 50ppb en cada muestra en el nebulizador.
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Estabilidad del E.I. como control de calidad

Controlar la estabilidad de la seal de los E.I.s permite.
Verificar el correcto funcionamiento del sistema de introduccin de muestra.
Controlar los posibles efectos de matriz en muestras desconocidas.
Una disminucin mayor del 30% en la seal del E.I. no asegura que est haciendo su funcin correctamente (compensar el efecto de matriz)
Normalmente se compara la respuesta (cps) de cada muestra frente a la respuesta del blanco de calibracin expresado como Recuperacin ISTD
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Conclusiones
El uso de un gas de colisin (He) permite el anlisis por ICP-MS libre de interferencias en CUALQUIER matriz. No se requiere conocimiento previo de la matriz de la muestra. Todos los analitos disponibles en modo celda en TODO tipo de muestras. Facilidad de uso. Mayor integridad de los datos en matrices desconocidas. Posibilidad de iones de confirmacin. Una alta temperatura del plasma minimiza los efectos de matriz cuando se analizan muestras con alto contenido salino. Un estndar interno adecuado y controlado sigue siendo la herramienta principal para compensar los posibles efectos de matriz en ICP-MS
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2.corrección de Interferencias Espectrales y No Espectrales en ICP-MS

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2.corrección de Interferencias Espectrales y No Espectrales en ICP-MS

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Correccin de interferencias espectrales y no espectrales en ICP-MS

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Beneficios prcticos del modo He (2)

He no crea ninguna nueva interferencia con los elementos de la matriz

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Beneficios prcticos del modo He (3)

Modo H2 - 10ppb en HNO3

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Beneficios prcticos del modo He (4)