CAPITOLUL 7 FIABILITATE 7.1.

Indicatori de fiabilitate Fiabilitatea reprezint, calitativ vorbind, proprietatea unui produs de a-i conserva performanele n limite stabilite, ntr-un anumit interval de timp i n condiii determinate. Cantitativ, fiabilitatea este descris de un ansamblu de indicatori, cu ajutorul crora se poate prevedea comportarea produsului n condiii specificate, respectiv se poate anticipa momentul defectrii sale. Defectarea este neleas ca o depire a limitelor prescrise de ctre cel puin una din caracteristicile produsului. Limitele prescrise, constituind criterii de defectare, difer de la un exemplar la altul n funcie de misiunea atribuit i de sistemul n care urmeaz s fie integrat. n particular, fiabilitatea metrologic reprezint probabilitatea ca mijloacele de msurare s furnizeze informaia de msurare cu erori mai mici dect erorile tolerate. Previziunile date de teoria fiabilitii nu pot fi deterministe deoarece procesele de degradare sunt influenate de o multitudine de factori incomplet cunoscui. De aceea, modelul matematic al fiabilitii se ntemeiaz pe teoria probabilitilor i statistica matematic. Pentru construirea acestui model matematic, respectiv pentru definirea indicatorilor de fiabilitate, se consider timpul de funcionare al unui produs, de la punerea sa n funciune pn la defectare, ca variabil aleatoare continu. Aceasta nseamn c dintr-o colectivitate mare de produse principial identice, funcionnd simultan n aceleai condiii, nu vor exista dou exemplare care s se defecteze la acelai moment de timp. Astfel, o producie poate fi uniform din punctul de vedere al performanelor realizate, fiind variabil n privina capacitii de conservare a acestora. Fie T durata de funcionare pn la defectare a unui produs i F(t) funcia de repartiie a acestei variabile aleatoare continue. Funciile i caracteristicile numerice asociate unei variabile aleatoare continue au o interpretare particular n domeniul teoriei fiabilitii, putnd fi considerate deci ca indicatori de fiabilitate. Astfel, funcia de repartiie F(t), adic probabilitatea ca variabila aleatoare T s ia valori mai mici dect t, reprezint probabilitatea de defectare a produsului n intervalul (0, t) :

F (t ) = P(T t ) .

(7.1)

7-2 Funcia de repartiie (7.1) caracterizeaz produsul n orice interval de timp avnd drept origine momentul punerii n funciune (t=0). ntr-un interval de timp oarecare (t, t+x) probabilitatea de defectare este

P(t T t + x) = F (t + x) F (t ) .

(7.2)

Probabilitatea (7.2) este o probabilitate total de defectare. n analiza fiabilitii ns intereseaz probabilitatea de defectare F(t, t+x) ntr-un interval de timp (t, t+x) a unui produs despre care se tie c este bun la momentul iniial t al intervalului. Conform definiiei probabilitilor condiionate se poate scrie:

F (t , t + x) =

P (t T t + x) F (t + x) F (t ) = . P(T t ) 1 F (t )

(7.3)

Se observ c pentru t=0, (7.3) se reduce la (7.1). n teoria fiabilitii se prefer caracterizarea comportrii produselor n intervale finite de timp prin probabilitatea de bun funcionare n interval, n locul probabilitii de defectare. De aceea, se definete funcia de fiabilitate R(t) ca probabilitatea de bun funcionare a produsului ntr-un anumit interval de timp, condiionat de buna sa funcionare la momentul iniial al intervalului. Considernd complementarele expresiilor (7.1) i (7.3) se poate scrie funcia de fiabilitate R(t) a unui sistem n intervalul (0, t), respectiv R(t, t+x) n intervalul (t, t+x):

R(t ) = P(T t ) = 1 F (t )
R(t , t + x) = 1 F (t , t + x) = R(t + x) . R (t )

(7.4) (7.5)

Funciile definite pn acum descriu fiabilitatea sistemului n diferite intervale de timp. Variaia lor tipic este prezentat n fig. 7.1.
R(t),F(t) 1 R(t) F(t)

0,5

Fig. 7.1. Exemplu de funcii de fiabilitate i de repartiie. t 0

7-3 Comportarea produsului n jurul unui moment dat este descris cu ajutorul densitii de probabilitate a timpului de funcionare pn la defectare, definit conform relaiei
f (t ) = lim F (t + t ) F (t ) dF (t ) = . t dt t 0 (7.6)

Densitatea de probabilitate caracterizeaz legea de repartiie a timpului de funcionare pn la defectare, avnd semnificaia unei probabiliti totale de defectare n jurul momentului t, indiferent de comportarea anterioar a produsului. Pentru a descrie pericolul de defectare instantanee a unui produs aflat n stare bun, se definete un alt indicator care descrie comportarea local a produsului, anume rata de defectare. Rata de defectare z(t) este probabilitatea de defectare n jurul unui moment dat, condiionat de buna funcionare a produsului pn n acel moment. Ea se obine raportnd expresia (7.3) a probabilitii de defectare la mrimea intervalului i trecnd la limit cnd aceasta tinde ctre zero:
z (t ) = lim F (t + t ) F (t ) f (t ) . = R(t )t R (t ) t 0

(7.7)

Din relaiile (7.6) i (7.7) rezult

z (t ) = 1 dR(t ) . R(t ) dt (7.8)

Integrnd ecuaia diferenial (7.8) cu condiia iniial R(0)=1, se obine:

R(t ) = exp[ z (u )du ]

0

(7.9)

i introducnd n (7.5) R(t , t + x) = exp[

t+x t

z (u )du ]

(7.10)

Media timpului de funcionare este, conform definiiei valorii medii a unei variabile aleatoare

7-4 m = tf (t )dt
0

(7.11)

care, integrat prin pri conduce la m = R(t )dt .

0

(7.12)

Pentru valoarea medie m a timpului de funcionare se utilizeaz dou notaii consacrate n fiabilitate, i anume:
MTBF (Mean Time Between Failures) n cazul produselor reparabile i MTTF (Mean Time To Failure) n cazul produselor nereparabile.

n practic, uneori nu se face distincie ntre cele dou situaii, folosindu-se aceeai notaie (MTBF). O generalizare a expresiei (7.12) se poate obine considernd funcia de fiabilitate ntr-un interval oarecare (t, t+x):
1 m(t ) = R (t , t + x)dx = R(u )du. R (t ) t 0

(7.13)

Expresia (7.13) reprezint media timpului de funcionare rmas pn la defectare ncepnd de la un moment arbitrar t. Evident, pentru t=0, (7.13) se reduce la (7.12). Cele dou valori medii sunt interpretate n fig. 7.2.
R(t) 1 m m(t)-R(t)

Fig. 7.2. Explicativ pentru mediile m i m(t). Indicatorii de fiabilitate definii pn acum sunt legai ntre ei prin relaii uor de dedus, care sunt prezentate n tabelul 7.1.

7-5

Tabelul 7.1. Relaii ntre indicatorii de fiabilitate

Indicator F(t) F(t)

--

Exprimat n funcie de indicatorul f(t) R(t)

z(t)
1 exp[ z (u )du ]
0 t

f (u )du
0

1-R(t)

f(t)

dF (t ) dt

--

dR (t ) dt
--

z (t ) exp[ z (u )du ]
0

R(t)

1-F(t)

f (u )du
t

exp[ z (u )du ]
0

z(t)

1 dF (t ) 1 F (t ) dt

f (t )
t

f (u )du

1 dR(t ) R(t ) dt

--

[1 F (t )]dt
0

tf (t )dt

R(t )dt

exp[ z (u )du ]dt

0

7-6 n afara indicatorilor enumerai, fiabilitatea unui produs poate fi descris prin caracteristici numerice ca: abaterea medie ptratic, dispersia i cuantila timpului de funcionare. Dispersia D i abaterea medie ptratic indic gradul de uniformitate al unei colectiviti de produse din punctul de vedere al fiabilitii. Dac procesul tehnologic este bine controlat, D i vor fi mici. Un alt indicator de fiabilitate este cuantila t de ordinul a timpului de funcionare, definit ca rdcin a ecuaiei F(t)=. (7.14)

Din aceast relaie rezult posibila interpretare a cuantilei ca timp de garanie, adic timp n care proporia de elemente defectate dintr-o anumit colectivitate nu depete o valoare prestabilit .
7.2. Legi de repartiie asociate timpului de funcionare

Descrierea complet a fiabilitii unui produs necesit cunoaterea legii de repartiie a timpului de funcionare, respectiv a indicatorilor de fiabilitate ca funcii de timp. Exist dou direcii de abordare a problemei stabilirii legii de repartiie a timpului de funcionare pn la defectare pentru un anumit produs. Prima se bazeaz pe cunoaterea mecanismelor fizico-chimice ale defectrii, n scopul deducerii pe cale teoretic a legii de repartiie. A doua direcie const n alegerea, pe baza concordanei cu rezultatele experimentale, a celei mai adecvate legi de repartiie dintre cele studiate n statistica matematic: normal, log-normal, exponenial, Weibull etc. n practic se constat o combinare a celor dou direcii, raionamentele de ordin fizic fiind coroborate cu rezultatele experimentale obinute n ncercrile de fiabilitate sau n exploatarea produselor. Pe baza experienei anterioare se adopt iniial un grup de legi de repartiie din care se elimin cele ce nu concord cu rezultatele experimentale. Alegerea final ntre legile de repartiie rmase se face din considerente de ordin fizic, legate n primul rnd de caracterul uzurii produsului. n ce privete uzura, se spune c un produs este cu uzur pozitiv dac rata sa de defectare este cresctoare n timp, cu uzur negativ dac rata de defectare este descresctoare i fr uzur, dac rata de defectare este constant. Practica arat c, n general, orice produs trece prin trei faze de evoluie, caracterizate printr-o uzur negativ, nul i respectiv pozitiv (fig. 7.3).

7-7
z(t) A I II III

t1

t2

Fig.7.3. Forma tipic de variaie a ratei de defectare. Prima faz, a defectrilor timpurii, corespunde rodajului, prin care se mbuntesc caracteristicile de fiabilitate ale produsului, rata de defectare a acestuia micorndu-se. n a doua faz, numit perioada util de funcionare, nu se manifest fenomene de uzur, rata de defectare rmnnd constant. n ultima faz, de mbtrnire, rata de defectare crete accentuat datorit fenomenelor de mbtrnire. Duratele celor trei faze difer mult de la un produs la altul. Produsele electronice sunt caracterizate de o durat extins a perioadei utile de funcionare i de o pondere nsemnat a perioadei defectrilor timpurii. Perioada uzurii nule poate fi modelat cu ajutorul legii de repartiie exponeniale, aceasta fiind singura lege cu o rat de defectare constant. Perioadele de rodaj i de mbtrnire pot fi modelate cu ajutorul celorlalte legi, alegnd convenabil valorile parametrilor lor.
7.2.1. Repartiia exponenial

n cazul repartiiei exponeniale densitatea de probabilitate f(t), probabilitatea de defectare F(t) i funcia de fiabilitate R(t) au expresiile: f (t ) = e t (7.15)

F (t ) = 1 e t R (t ) = e t innd cont de relaia (7.7), rata de defectare z(t) devine

f (t ) e t z (t ) = = = = constant. R(t ) e t

(7.16) (7.17)

(7.18)

Media m (sau MTBF) i abaterea medie ptratic au valori egale

7-8

MTBF = =
Observaii

1 .

(7.19)

1). Dup scurgerea unui interval de timp egal cu MTBF, valoarea funciei de fiabilitate este R( MTBF ) = e
1 = e 1 0,37 ,

(7.20)

ceea ce nseamn c exist doar 37% anse ca produsul s funcioneze un timp mai lung dect MTBF. 2). Dispersia valorilor timpilor de bun funcionare este extrem de mare (ca o consecin a faptului c z(t)=constant), neputndu-se practic vorbi de o grupare a timpilor de funcionare n jurul valorii medii MTBF. 3). Distribuia exponenial se caracterizeaz printr-o rat constant de defectare, adic dac un sistem a funcionat pn la momentul t, probabilitatea ca el s funcioneze n momentul urmtor este aceeai ca i cum sistemul tocmai atunci ar fi fost pus n funciune. Aceast presupunere neglijeaz defectele datorate dereglrii i uzurii. Pentru un produs oarecare este normal ca n timp, din cauza uzurii, rata de defectare s creasc. O rat de defectare constant pune n eviden faptul c, pentru un produs care se afl n funcionare la un moment dat, nu are nici o importan vrsta lui, adic timpul ct a funcionat anterior. Cu alte cuvinte, probabilitatea ca un produs s se afle n stare de funcionare la momentul t+t atunci cnd el se afl n funcionare la momentul t va fi dat de expresia p = exp(t ) . (7.21)

Acelai lucru rezult mai clar din urmtorul exemplu: dac la t=0 se pune n funciune un lot de N0 produse, la momentul t vor mai fi n funciune N(t)=N0exp(-t) produse, iar la momentul t+t vor fi N(t+t)=N0exp[-(t+t)]= N(t)exp(-t), adic pentru un produs care se afl n stare de funcionare la momentul t, probabilitatea de funcionare la t+t va fi
N (t + t ) N (t )e t p= = = e t . N (t ) N (t ) (7.22)

7-9 Acest lucru este foarte important deoarece simplific calculul fiabilitii sistemelor reparabile. Astfel, un sistem n care a fost nlocuit un bloc defect cu unul nou, va avea o funcie de fiabilitate R(t)=exp(-t), unde originea timpului coincide cu momentul repunerii n stare de funcionare, dei blocurile care nu au fost nlocuite pot avea o vrst apreciabil. Distribuia exponenial se folosete n cazul mecanismelor de defectare complexe, cnd defectrile elementelor componente se produc cu rate diferite, astfel nct rata global de defectare este constant. Dac elementele componente au o repartiie exponenial a timpului de funcionare, atunci echipamentul care conine aceste elemente va avea de asemenea o repartiie exponenial, iar rata de defectare rezultant va fi suma ratelor de defectare ale componentelor, cu condiia ca defectele componentelor s fie independente.
7.2.2. Repartiia Weibull

Repartiia Weibull este caracterizat de densitatea de probabilitate

f (t ) = t 1e t ,

(7.23)

unde este un parametru de scar iar un parametru de form (fig. 7.4).

f(t)

>1

Fig. 7.4. Densitatea de probabilitate a repartiiei Weibull. Funcia de repartiie i funcia de fiabilitate sunt date de relaiile:
F (t ) = 1 e t ,

(7.24) (7.25)

R(t ) = e t . Rata de defectare, calculat pe baza relaiei (7.7), este

7-10 z (t ) = t 1 . Media, calculat conform relaiei (7.12), este

1 1 m = ( + 1) ,

(7.26)

(7.27)

unde (z) este funcia Euler de spea I ( z ) = t z 1e t dt .

0

(7.28)

Dispersia are expresia

2 2 1 = [(1 + ) 2 (1 + )] . 2

(7.29)

Alura curbei z(t) depinde de valoarea parametrului de form (fig. 7.5).

z(t) >2 1< <2

=1

<1 0 t

Fig. 7.5. Rata de defectare n cazul repartiiei Weibull.

Astfel: -pentru >1 rata de defectare este monoton cresctoare de la zero (cazul defectelor datorate mbtrnirii); -pentru =1 rata de defectare este constant; se obine relaia (7.18), valabil pentru repartiia exponenial, care apare ca un caz particular al repartiiei Weibull;

7-11 -pentru <1 rata de defectare este monoton descresctoare, tinznd ctre zero; acesta este cazul defectelor ascunse, pericolul de defectare fiind mare la nceput. Repartiia Weibull este utilizat adesea n studiul fiabilitii datorit faptului c rata de defectare prezint multiple forme.
Exemple n scopul mai bunei nelegeri a noiunilor prezentate i a modului n care pot fi aplicate n practic, se dau n continuare cteva exemple rezultate din activitatea experimental. Se va admite c rata de defectare este constant. Ea se poate calcula cu relaia:
= numar de defecte . timp total de functionare (test)

(7.30)

1. Dintr-un eantion de 10 componente supuse unui test de fiabilitate 2 au clacat dup 250 ore de funcionare iar restul de 8 au funcionat fr defeciuni pn la sfritul testului, care a durat 2000 ore. Rata de defectare va fi

2 2 = 12 * 10 5 h 1 (def/ora ) . 2 * 250 + 8 * 2000 16500

2. Un numr de televizoare au totalizat 20000 ore de funcionare i au necesitat 8 reparaii. Rata de defectare este

8 = 4 * 10 4 h 1 . 20000

Timpul mediu de fun funcionare (ntre defectri) va fi MTBF = 1 20000 = = 2500h . 8

3. Se testeaz pn la defectare un lot de 15 produse, duratele de funcionare fiind urmtoarele: 410, 500, 280, 550, 600, 1000, 700, 530, 615, 690, 580, 290, 350, 450, 720 ore. Timpul total de test este 8265 ore. Media timpului de funcionare pn la defectare va fi

7-12 MTTF = 8265h = 551h . 15

4. O component prezint o rat de defectare =10-4h-1. Care va fi valoarea funciei de fiabilitate pentru t=150 h?
R (150) = e 150*10
4

= e 0,015 = 0,985 ,

adic 98,5%. Aceasta nseamn c dintr-un lot de 1000 buci, este probabil ca dup 150 ore s existe 985 componente bune i 15 componente defecte.
7.3. Fiabilitatea sistemelor electronice fr restabilire. Calculul fiabilitii pe baza modelului structural

Prin sistem fr restabilire se nelege sistemul a crui capacitate de funcionare nu se restabilete dup apariia defeciunii (sistemul nu este reparat). Un sistem electronic este alctuit din mai multe blocuri componente, dispuse ntr-o anumit configuraie i care asigur o anumit funcie. Cunoscnd fiabilitatea componentelor, se pune problema determinrii fiabilitii sistemului. Aceasta se poate face pe mai multe ci, utiliznd pentru sistem diferite modele. n cele ce urmeaz se va utiliza aa numitul model structural. Calculul fiabilitii sistemelor cu ajutorul modelului structural are la baz fie simplificri sau transfigurri succesive ale schemei prin nlocuirea unor grupuri de blocuri cu blocuri echivalente din punct de vedere fiabilistic, fie aplicarea formulei probabilitii totale. Pentru prezentarea acestora se vor folosi notaiile: R sau R(t), respectiv Ri sau Ri(t) pentru probabilitatea de funcionare a sistemului, respectiv a blocului i, iar cu F sau F(t), respectiv Fi sau Fi(t) probabilitile de defectare corespunztoare.

7-13
7.3.1. Modelul structural

Prin model structural sau schem structural a unui sistem se nelege o schem logic echivalent, care descrie funcionarea sistemului din punct de vedere fiabilistic. n schema structural, elementele componente ale sistemului se reprezint prin blocuri conectate fiabilistic ntre ele. Din punct de vedere funcional (electric, mecanic etc) blocurile pot fi conectate complet diferit de ceea ce indic schema structural. Dac sistemul este alctuit din n blocuri i dac pentru funcionarea sistemului este necesar ca toate blocurile s funcioneze corect, atunci n schema structural toate cele n blocuri vor aprea conectate n serie (fig. 7.6).
1 2 . n

Fig. 7.6. Schem structural serie. Acesta este cazul sistemelor simple, fr rezervare, la care defectarea unei componente atrage dup sine ieirea din funciune a ntregului sistem. Exemple: aparatura curent de laborator, televizoarele, calculatoarele uzuale. Dac sistemul este alctuit din n blocuri i dac pentru funcionarea corect este necesar s funcioneze cel puin un bloc, atunci n schema structural cele n blocuri vor aprea conectate n paralel (fig. 7.7). Acesta este cazul sistemelor cu rezervare global, la care, n caz de defectare, intr automat n funciune o rezerv. n cazul unui sistem complex schema structural va fi i ea complex, n ea putnd s apar structuri serie-paralel, n punte, n triunghi, n stea etc.

Fig. 7.7. Schem structural paralel. Citirea schemelor structurale se face relativ simplu, observnd c o conexiune serie arat c pentru funcionarea sistemului este necesar s funcioneze toate componentele conexiunii (SI componenta 1 SI componenta 2 SI... componenta n), n timp ce o conexiune paralel arat c pentru funcionarea sistemului este necesar s funcioneze cel puin o component (SAU componenta 1 SAU componenta 2 SAU ... SAU componenta n). Pentru fixarea noiunilor introduse, se va considera ca exemplu un sistem compus din nou componente: A, B, C, D, E, F, G, H, I, J. Dac se admite c

7-14 pentru funcionarea corect a sistemului trebuie s funcioneze grupul [A SI (B SAU C) SI D SI E] sau grupul [F SI (G SAU H) SI J SI E] atunci schema structural va fi cea din fig. 7.8.
B A C E G F H J D

Fig. 7.8. Schema structural corespunztoare exemplului considerat. Este uor de remarcat c n schema structural legtura serie corespunde cuvntului SI iar legtura paralel, cuvntului SAU din expresia care descrie funcionarea sistemului. De obicei, pentru a simplifica ntocmirea schemei structurale, se prefer ca posibilitile de funcionare ale sistemului s se prezinte sub form de tabel. Astfel, pentru sistemul considerat, posibilitile de funcionare pot fi prezentate ca n tabelul 7.2, pe baza lui rezultnd schema structural din fig. 7.8. Tabelul 7.2. Posibilitile de funcionare ale sistemului din exemplul considerat Nr.crt Posibiliti de funcionare (blocuri care asigur funcionarea) 1 A,B,D,E 2 A,C,D,E 3 F,G,J,E 4 F,H,J,E Trebuie precizat c ntotdeauna blocurile care apar ntr-o schem structural trebuie s fie complet independente din punct de vedere fiabilistic. n acest scop, la ntocmirea schemei structurale a unui sistem, este necesar s se studieze atent funcionarea fiecrui bloc, precum i influena defectrii fiecrui bloc asupra sistemului i s se stabileasc coninutul noiunii de funcionare fr defeciuni a sistemului. Pe baza acestora se ntocmete tabelul combinaiilor de funcionare, din care rezult apoi schema structural. Folosirea unor scheme structurale cu blocuri care nu sunt independente conduce la rezultate eronate. Pentru a nu nelege n mod greit noiunile de legare n serie i n paralel n fiabilitate, se consider urmtorul exemplu.

7-15 Dou condensatoare C1 i C2 sunt legate electric n paralel (fig. 7.9 a). Cum sunt ele conectate din punct de vedere fiabilistic?
C1 C1 C1 C2 C2 C2

a)

b)

c)

Fig. 7.9. Exemplu de circuit electric (a) i schemele structurale asociate (b i c). Dac se consider ca defect ntreruperea circuitului, atunci funcionarea corect presupune ca cel puin un condensator s nu fie ntrerupt. Prin urmare, conexiunea fiabilistic este paralel (fig. 7.9 b). Dac ns se consider ca defect scurtcircuitarea ansamblului, atunci funcionarea corect presupune ca i C1 s funcioneze (s nu fie scurtcircuitat) i C2 s funcioneze. Prin urmare, conexiunea fiabilistic este serie (fig. 7.9 c).
7.3.2. Dualitatea schemelor structurale

n paragraful precedent schema structural a fost definit referitor la funcionarea sistemului. Se pot construi ns scheme structurale i pentru defectarea lui. Astfel, dac pentru defectarea sistemului este necesar s se defecteze SI componenta 1 SI componenta 2 SI... componenta n, atunci n schema structural D (pentru defectare), componentele apar n serie. Dac pentru defectarea sistemului este necesar s se defecteze SAU componenta 1 SAU componenta 2 SAU... componenta n, atunci n schema structural D componentele apar n paralel. Tinnd cont de faptul c formularea "funcionarea SI a componentei 1 SI a componentei 2 SI... a componentei n" este echivalent cu formularea "defectarea SAU a componentei 1 SAU a componentei 2 SAU... a componentei n", rezult c schema structural serie (pentru funcionare) are ca echivalent schema structural D paralel (fig. 7.10).

7-16
Funcionare Defectare

Defectare

Funcionare

Fig. 7.10. Dualitatea schemelor structurale. n mod asemntor se ajunge la concluzia c o schem structural paralel (pentru funcionare) are o schem structural D serie (fig. 7.10). Schemele structurale pentru funcionare se pot transforma simplu n scheme structurale prentru defectare i invers prin nlocuirea conexiunii serie cu conexiunea paralel, respectiv a conexiunii paralel cu conexiunea serie. Se recomand, ca exerciiu, desenarea schemelor structurale D pentru exemplul cu cele dou condensatoare din paragraful 7.3.1. (fig. 7.9).
7.3.3. Calculul fiabilitii structurilor decompozabile

Structuri decompozabile sunt structurile serie, paralel, precum i combinaii ale acestora. n cele ce urmeaz, se prezint calculul fiabilitii numai pentru primele dou structuri, rezultatele putnd fi uor aplicate pentru structuri din a treia categorie.
Structura serie

Deoarece defectrile celor n blocuri sunt evenimente independente, i deoarece pentru buna funcionare a sistemului este necesar ca i blocul 1 i blocul 2 i blocul n s funcioneze, rezult c probabilitatea de bun funcionare a sistemului va fi egal cu produsul probabilitilor de bun funcionare ale blocurilor componente R(t ) = Ri (t )
i =1 n

(7.31)

iar probabilitatea de defectare a sistemului va fi F (t ) = 1 R (t ) = 1 Ri (t ) = 1 [1 Fi (t )] .

i =1 i =1 n n

(7.32)

7-17

innd cont de relaia (7.9), expresia lui R(t) devine:

R(t ) = exp[ zi (t )] = exp[ zi (t )] ,
i =1 0 0 i =1 n t t n

(7.33)

ceea ce arat c pentru orice sistem cu structura fiabilistic n serie, rata de defectare zs(t) este egal cu suma ratelor de defectare ale blocurilor componente, adic z s (t ) =
Structura paralel
i =1

zi (t ) .

(7.34)

Deoarece pentru defectarea sistemului este necesar s se defecteze i blocul 1 i blocul 2..., i blocul n, defectrile fiind independente, rezult c probabilitatea de defectare a sistemului este produsul probabilitilor de defectare individuale F (t ) = Fi (t )
i =1 n

(7.35)

iar funcia de fiabilitate a sistemului va fi R(t ) = 1 F (t ) = 1 Fi (t ) = 1 [1 Ri (t )] .

i =1 i =1 n n

(7.36)

Aplicaii 1. S se calculeze fiabilitatea sistemului care admite schema structural din fig. 7.8.

Pentru ramura A,B,C,D avem R1 = R A RD [1 (1 RB )(1 RC )] = R A RD ( RB + RC RB RC ) , iar pentru ramura F,G,H,J avem R2 = RF RJ [1 (1 RG )(1 RH )] = RF RJ ( RG + RH RG RH ) . (7.38) (7.37)

7-18

Fiabilitatea ntregului sistem va fi R = RE [1 (1 R1 )(1 R2 )] = RE ( R1 + R2 R1R2 ) . (7.39)

2. S se calculeze fiabilitatea unui sistem a crui schem structural conine dou blocuri n serie, prezentnd fiabilitile R1=0,8 i R2=0,9. Aplicnd relaia (7.31), se obine:

R=R1*R2=0,8*0,9=0,72.
3. Aceeai problem pentru cazul conexiunii paralel. Aplicnd relaia (7.36), se obine

R=1-(1-R1)(1-R2) =1-0,2*0,1=1-0,02 = 0,98. Din ultimele dou aplicaii se desprind urmtoarele concluzii: a). Fiabilitatea unei conexiuni serie este mai mic dect cea mai mic fiabilitate individual. b). Fiabilitatea unei conexiuni paralel este mai mare dect cea mai mare fiabilitate individual. Relaiile stabilite mai sus - (7.31) i (7.36) - permit att determinarea fiabilitii ca funcie de timp, ct i determinarea unor valori numerice pentru valori particulare ale timpului. Relaiile sunt valabile indiferent de expresiile fiabilitilor individuale Ri(t). n particular, n cazul legii exponeniale de repartiie a timpului de funcionare, pentru conexiunea paralel a dou blocuri, avem R(t)=1-[1-R1(t)][1-R2(t)]=R1(t)+R2(t)-R1(t)R2(t), adic R(t ) = e 1t + e 2t e (1 + 2 )t . Media timpului de bun funcionare va fi MTBF = m = R(t )dt =
0

(7.40)

(7.41)

1 1 1 . + 1 2 1 + 2

(7.42)

Dac 1=2=, se obine

7-19 MTBF = 3 . 2 (7.43)

Se observ c prin conectarea n paralel (din punct de vedere fiabilistic) a dou blocuri identice, MTBF al ansamblului crete de numai 1,5 ori i nu de 2 ori, aa cum poate prea la prima vedere.
7.3.4. Calculul fiabilitii structurilor nedecompozabile

n afara structurilor simple (serie, paralel) prezentate pn acum, numite i structuri decompozabile, exist aa numitele structuri nedecompozabile din categoria crora fac parte conexiunea n punte, conexiunea n stea i conexiunea n triunghi. Calculul fiabilitii acestor structuri nedecompozabile se realizeaz de regul prin metoda probabilitii totale. Metoda are la baz formula probabilitii totale, conform creia dac evenimentele H1, H2,..., Hn formeaz un sistem complet de evenimente (ipoteze) cu probabilitile P(H1), P(H2),..., P(Hn), atunci probabilitatea unui eveniment S care face parte din cmpul de evenimente definit de H1, H2,..., Hn este P( S ) =

i =1

P( S / H i ) P( H i ) ,

(7.44)

unde P(S/Hi) este probabilitatea realizrii evenimentului S condiionat de realizarea evenimentului (ipotezei) Hi. Not. Sistem complet de evenimente este un ansamblu de evenimente H1, H2,..., Hn, pentru care
i =1

P( H i ) = 1 .

(7.45)

n calculul fiabilitii sistemelor pe baza schemelor structurale, cu metoda probabilitii totale, se folosete de obicei un sistem complet de evenimente format din numai dou evenimente H1 i H2 cu semnificaiile: H1 este ipoteza care const n funcionarea corect a unui bloc i oarecare din schema structural, n intervalul de timp avut n vedere. Rezult P(H1) = Ri(t) (7.46) H2= H1 este ipoteza care const n defectarea blocului i. Rezult P(H2)=Fi(t)=1- Ri(t)

(7.47)

7-20

n aceste condiii, prin aplicarea relaiei (7.44), probabilitatea ca sistemul s funcioneze corect rezult P( S ) = R (t ) + P( S/i ) Ri (t ) + P( S / i )[1 Ri (t )] , (7.48)

unde P(S/i) este posibilitatea ca sistemul s funcioneze n ipoteza c blocul i funcioneaz sigur (ipoteza H1), iar P(S/i ) este probabilitatea ca sistemul s funcioneze corect n ipoteza c blocul i s-a defectat (ipoteza H2). Expresia (7.48) se mai numete i probabilitatea sistemului dezvoltat dup blocul i. Probabilitile P(S/i) i P(S/i ) se calculeaz simplu, observnd c n schema structural blocul cu funcionare sigur se poate nlocui cu un scurtcircuit, iar blocul defect se poate nlocui cu o ntrerupere. Exemplu. S se calculeze fiabilitatea schemei structurale n punte, reprezentat n figura 7.11 i descris de tabelul 7.3.
A B

Fig. 7.11. Schem structural n punte.

Tabelul 7.3 Nr.crt. 1 2 3 4

Blocuri ce asigur funcionarea A,B A,E,D C,E,B C,D

Alegnd blocul E drept bloc i, ipotezele H1 i H2 vor consta n funcionarea corect (sigur) a blocului E i respectiv n defectarea blocului E. nlocuind n relaia (7.48) rezult:

R(t ) = P( S / E ) RE + P( S / E )(1 RE ) ,

(7.49)

7-21 unde RE este fiabilitatea blocului E. P(S/E) i P(S/ E ) se calculeaz n modul artat mai sus. Astfel, pentru P(S/E) se scurtcircuiteaz blocul E, rezultnd schema structural echivalent din fig. 7.12 a, a crei fiabilitate este
P( S / E ) = ( R A + RC R A RC )( RB + RD RB RD ) .

(7.50)

Pentru P(S/ E ) se ntrerupe blocul E, rezultnd schema structural echivalent din fig. 7.12.b, a crei fiabilitate este
P( S / E ) = R A RB + RC RD R A RB RC RD .
A B A B

(7.51)

a)

b)

Fig. 7.12. Scheme structurale echivalente: a). pentru calculul lui P(S/E); b). pentru calculul lui P(S/E).

Fiabilitatea sistemului rezult (7.52) + (1 RE )( R A RB + RC RD R A RB RC RD ) La acelai rezultat trebuie s se ajung indiferent care bloc se consider bloc i. Metoda probabilitaii totale este avantajoas n cazul structurilor nedecompozabile, deoarece n cazul structurilor decompozabile calculul este mai simplu dac se aplic direct relaiile (7.31) i (7.36).
7.4. Fiabilitatea sistemelor cu restabilire. Disponibilitatea
R = RE ( R A + RC R A RC )( RB + RD RB RD ) +

S considerm un sistem care ndeplinete anumite funcii i care la un moment dat se defecteaz. Defectarea sa poate fi total sau parial. Prin defectare total se nelege apariia unei stri de defect care face ca sistemul s nu-i mai ndeplineasc funciile (s nu mai funcioneze corect), iar prin defectare parial se nelege apariia unei stri de defect n urma creia sistemul continu s funcioneze corect, dar cu o probabilitate de defectare total mai mare. Astfel, de exemplu, pentru sistemul a crui schem structural

7-22 este reprezentat n fig. 7.13, defectarea blocului A sau defectarea blocului B, cnd celelalte blocuri sunt bune, reprezint defectri pariale deoarece sistemul continu s funcioneze normal, n timp ce defectarea blocului C constituie o defectare total.
A C B

Fig. 7.13. Explicativ pentru defectri pariale i totale.

n cazul defectrii totale a unui sistem, pentru ndeplinirea n continuare a funciilor acestuia, este absolut necesar restabilirea strii de bun funcionare, fie prin repararea sistemului, fie prin nlocuirea lui cu unul nou. Sistemele a cror funcionare poate fi restabilit fie prin reparare, fie prin nlocuire se numesc sisteme cu restabilire. Activitile legate de restabilirea unui sistem se numesc restabiliri. Ele pot fi totale sau pariale, dup defeciunea nlturat. n general, n categoria restabilirilor trebuie incluse i activitile de prevenire a defeciunilor (ntreinere curent) i, ca urmare, se poate spune c restabilirile sunt activiti de prevenire i nlturare a defeciunilor, avnd drept scop readucerea parametrilor sistemului la valorile iniiale, corespunztoare sistemului nou. Datorit acestui scop, ct i pentru a simplifica ncadrarea matematic a fiabilitii sistemelor cu restabilire, teoretic se consider c dup restabilire orice sistem i recapt complet toate proprietile iniiale, devenind ca nou. Aceast ipotez, corect doar n cazul cnd restabilirea se face prin nlocuirea sistemului cu unul nou, este acceptat n cazul sistemelor electronice cu semiconductoare deoarece aici practic nu exist uzur fizic, iar restabilirea se face nlocuind componentele defecte cu unele noi. Se poate observa uor c viaa sistemelor cu restabilire este, datorit posibilitilor de restabilire, mai mare dect timpul mediu de bun funcionare. n legtur cu aceasta trebuie precizat c n cazul sistemelor cu restabilire, prin MTBF se nelege timpul mediu de bun funcionare n ipoteza c nu se fac restabiliri. Timpul Tr necesar pentru restabilirea unui sistem este, n general, o variabil aleatoare, ale crei valori depind de tipul defeciunii ivite, de experiena i calificarea depanatorilor, de soluiile constructive utilizate la realizarea sistemului (acces la piese), de stocul de piese de rezerv existent, de nzestrarea tehnic a atelierului de reparaii. Proprietatea unui sistem de a fi restabilit uor, ntr-un timp ct mai scurt, se numete mentenabilitate. O mentenabilitate mare nseamn un Tr mic. Pentru a caracteriza utilitatea sistemelor cu restabilire i dup ce s-au defectat i au fost restabilite, se folosete probabilitatea A(t) de bun

7-23 funcionare la un moment oarecare t, denumit funcie de disponibilitate sau, pe scurt, disponibilitate. Ea exprim eficiena sistemului i depinde att de R(t) ct i de mentenabilitatea sistemului. Se observ c datorit posibilitilor de restabilire A(t)>R(t) i aceasta cu att mai mult cu ct mentenabilitatea este mai ridicat. Disponibilitatea A(t) este o probabilitate necondiionat de bun funcionare, numrul de defectri i de restabiliri anterioare momentului t neavnd importan. Se arat c, dup un timp suficient de lung A(t) tinde spre o valoare staionar A, numit coeficient de disponibilitate:
A = lim A(t ) =
t

m , m + mr

(7.53)

n care -m este media timpului de funcionare -mr este media timpului de reparare. Analiznd aceast relaie constatm c se poate obine o disponibilitate ridicat chiar la aparatura nefiabil (m mic) dac durata reparaiilor este mic i dac, bineneles, exist suficiente piese sau aparate de rezerv, iar costurile deselor reparaii nu sunt prohibitive. Aceast constatare este important deoarece, n majoritatea cazurilor, pentru obinerea unei anumite disponibiliti, creterea mentenabilitii se face mai uor dect creterea fiabilitii, mai ales c i cheltuielile corespunztoare sunt mai mici. Fiabilitatea nu trebuie s fie totui prea mic, deoarece o fiabilitate mic nseamn defectri frecvente, ceea ce implic cheltuieli mari de reparaii-ntreinere, precum i necesitatea existenei unui stoc mare de piese de rezerv. De aceea, proiectantul de sistem trebuie s adopte soluii care s asigure n primul rnd o mentenabilitate ridicat i n al doilea rnd o fiabilitate mare. Se precizeaz totui c problema astfel pus este valabil numai pentru sistemele de folosin ndelungat. Pentru celelalte trebuie asigurat n primul rnd o fiabilitate mare deoarece, n general, pe durata misiunii nu se admit ntreruperi. Se mai observ din relaia (7.53) c o fiabilitate foarte mare nseamn ntotdeauna o disponibilitate mare, n timp ce o disponibilitate mare nu implic ntotdeauna o fiabilitate mare.
7.5. Fiabilitatea componentelor electronice 7.5.1. Influena regimurilor de funcionare asupra ratei de defectare

Componentele electronice sunt supuse att solicitrilor electrice (curent, tensiune, frecven, putere disipat) ct i solicitrilor mecanice (ocuri i vibraii) i climatice (umiditate, temperatur, presiune atmosferic etc.). Toate

7-24 aceste solicitri au ca efect reducerea duratei de funcionare, adic creterea ratei de defectare. Aa de exemplu, este normal ca rata de defectare stabilit pentru un lot de rezistoare care lucreaz ntr-un mediu cu vibraii i pe care se disip puterea nominal, s fie mult superioar ratei de defectare a unui lot identic care lucreaz n condiii de laborator, la o putere disipat sub 50% din cea nominal. Se definete coeficientul de ncrcare k, pentru o anumit solicitare, ca raport ntre solicitarea real i solicitarea maxim admisibil. Evident, pentru fiecare solicitare avem un coeficient de ncrcare. De exemplu, pentru coeficienii de ncrcare n putere, n tensiune i n curent avem respectiv relaiile: P kP = , (7.54) Pn U kU = , (7.55) Un I , (7.56) kI = In unde indicele n se refer la valoare nominal (maxim admis). Stabilirea unei expresii matematice riguroase pentru rata de defectare, care s in cont i de solicitrile reale, este n general foarte dificil. Se recunoate ns unanim c defectarea unei componente survine n urma unor modificri fizico-chimice ireversibile, care se produc n structura componentei. n lipsa solicitrilor, aceste modificri se produc lent i, ca urmare, durata de via este mare. n prezena solicitrilor, viteza de reacie crete rapid, iar durata de via se reduce corespunztor. O influen deosebit asupra vitezei de reacie o are temperatura, influen exprimat cantitativ, pe baza modelului Arrhenius, sub forma
B r = Ae T ,

(7.57)

n care r este viteza de reacie, A o constant care depinde de material i de tipul reaciei, B o constant care depinde de energia de activare a reaciei iar T temperatura termodinamic. Pornind de la legea lui Arrhenius a fost stabilit o relaie general care aproximeaz suficient de bine legtura dintre rata de defectare a unei componente i nivelul solicitrilor aplicate ei:
B = r + ( Ai )e T , i =0 m

(7.58)

7-25 n care -r este rata de defectare care nu este sensibil la temperatur sau alte solicitri i corespunde defectelor ce apar n perioada de stocare la temperaturi coborte; -Ai sunt coeficieni de tip Arrhenius care evideniaz suprapunerea efectelor temperaturii i altor solicitri. n cazul elementelor sensibile la temperatur i solicitri electrice se obine o bun concordan cu rezultatele experimentale lund m =2 i

i =0

Ai = 0 + 1k + 2k n ,

(7.59)

unde -0 este rata de defectare care depinde de temperatur dar nu i de alte solicitri; ea corespunde defectelor care apar n perioada de stocare; -1, 2 - coeficieni care evideniaz contribuia solicitrii electrice ; -k - raportul dintre solicitarea electric de lucru i solicitarea electric maxim admis (coeficientul de ncrcare). Observaie. n cele de mai sus s-a considerat, pe lng temperatur, contribuia unei singure solicitri electrice. Evident, suma trebuie extins dac apar mai multe solicitri electrice importante. Pe lng solicitrile electrice mai apar i alte solicitri, motiv pentru care suma (7.59) ar trebui extins n continuare, incluznd o serie de coeficieni i a cror determinare este foarte complicat. Pentru simplificare se iau n considerare numai solicitrile electrice i se determin rata de defectare de baz b, pentru aa numitele condiii de laborator (solicitri mecanice nule sau foarte mici, umiditate sczut i constant, presiune atmosferic normal). n continuare, pentru aflarea valorilor lui n condiii reale (n prezena solicitrilor mecanice i climatice), valorile stabilite n condiii de laborator se multiplic cu nite coeficieni de corecie care depind de diferii factori. n cele ce urmeaz se prezint o parte din aceti coeficieni de corecie, mpreun cu factorii de care depind: -KM - Mediu ambiant; -KCF - Calificare; -KE - Numr de pini (la circuite integrate) sau coeficient de tensiune (la tranzistoare i diode); -Kt - Factor de acceleraie (temperatur) n funcie de tehno-logie (la circuite integrate); - KT -Tehnologie sau construcie (poteniometre); - KR - Valori (la rezistene); - KIN- Incapsulare; - KCM - Complexitate.

7-26 Valorile acestor coeficieni, precum i valorile ratelor de defectare sunt cuprinse n diferite culegeri de date de fiabilitate. O alt solicitare de care trebuie s se in cont n unele cazuri, este cea datorat funcionrii ciclice sau intermitente. n general se consider c funcionarea intermitent determin o cretere a ratei de defectare, exprimat prin relaia
c = (1+cf) ,

(7.60)

unde f este frecvena ciclurilor iar c depinde att de component ct i de frecvena f. Relaia este adevrat pentru tuburi electronice, pentru becuri i n general pentru produse cu disipare mare de cldur. Creterea ratei de defectare la funcionarea intermitent s-ar putea explica pe baza modificrilor ce survin n structura materialelor ca urmare a variaiilor mari de temperatur. Acestea sunt cu att mai periculoase cu ct se repet la intervale mai scurte. Din acest motiv, dac de exemplu ntr-o experien care dureaz aproximativ o or avem nevoie de 5 ori cte 5 minute de un osciloscop, cu pauze de 10 minute, din punct de vedere fiabilistic este mult mai indicat ca osciloscopul s funcioneze continuu pe toat durata experienei.

7.5.2. Fiabilitatea rezistoarelor

Rezultatele din exploatare au evideniat faptul c dei legea lui Arrhenius este aplicabil, se obin rezultate mult mai satisfctoare dac se utilizeaz un model ce aproximeaz log-liniar aceast lege. Conform acestui model rata de defectare a rezistoarelor se dubleaz pentru fiecare cretere a temperaturii mediului ambiant cu o anumit valoare tR, caracteristic fiecrui tip de rezistor. S-a constatat experimental c poate fi utilizat o relaie de forma
2
t A 30 t R

b = r + ( Ai ) * 2
i =0

(7.61)

n care -tA este temperatura mediului ambiant; -tR - creterea temperaturii care duce la dublarea ratei de defectare;

7-27 Valorile Ai (0, 1, 2) i tR depind de tipul rezistorului, materialele i tehnologia utilizat. Pe baza relaiei de mai sus se poate trasa o familie de curbe, n funcie de coeficientul de ncrcare k, ca n fig. 7.14. Din acest grafic se poate determina b pentru un anumit k i o anumit temperatur ambiant tA.
b[u] 1 0,8 0,6 0,4 0,2 100 0 Limita conditiilor maxime de utilizare

10 k= 1 40 60 80 100

P Pn

120

tA [C]

Fig. 7.14. Rata de defectare pentru rezistoare. Exemplu.

Observaie. Dac se d tA=tmin... tmax, se ia ntotdeauna cazul cel mai defavorabil, tA = tmax. Rata de defectare n condiii reale se stabilete cu relaia: = bKRKMKCF, (7.62)

n care -b - este rata de defectare de baz; -KR - coeficient de corecie n funcie de valoarea rezistenei; -KM - coeficient de corecie n funcie de mediu; -KCF- coeficient de corecie n funcie de calificarea componentei. De exemplu, pentru rezistoare fixe, peliculare, cu utilizri profesionale, diferiii coeficieni de corecie sunt dai n tabelele 7.4, 7.5 i 7.6. Tabelul 7.4 Valori R<100k 100k<R<1M 1M<R<10M R>10M Tabelul 7.5 Calificare Nivel spaial (produs aprobat SCC) Produs aprobat PTT i CCQ Produs aprobat PTT sau CCQ Produs omologat conform UTE Produs fr calificare

KR 1 1,1 1,6 2,5

KCF 0,1 1 2 5 15

7-28
Not. SCC, PTT, CCQ, UTE sunt diferite organizaii de nivel naional ce manifest exigen diferit n aprobarea componentelor.

Tabelul 7.6 Mediu Pe sol (condiii favorabile) Pe sol (echipamente fixe) Pe sol (echipamente mobile) Proiectil teleghidat (lansare) Avion (zone locuibile) Avion (zone nelocuibile) Vapor (zone protejate) Vapor (zone neprotejate)
Aplicaii.

KM 1 5 12 35 6,5 15 8 14

1). S se determine rata de defectare a unui rezistor RPM-3050 de 1,8 M utilizat pe un echipament mobil (pe sol). Puterea disipat este de 0,1 W, temperatura ambiant tA=-10...+40C iar produsul este fr calificare. Soluie. Pentru RPM 3050 avem Pn = 0,5W, deci
k =0,1/0,5=0,2. Din fig. 7.14, pentru tA=40C, rezult b=2 fit. Din tabelul 7.4, pentru R=1,8M, rezult KR=1,6. Din tabelul 7.5, pentru produse fr calificare, rezult KCF=15 iar din tabelul 7.6, pentru echipamente mobile pe sol, rezult KM=12. Prin urmare, prin aplicarea relaiei (7.62), se obine pentru rata de defectare valoarea: =2*1,6*15*12 =576 fit = 576*10-9 h-1.

2). Aceeai problem, cu singura deosebire c rezistorul este cu calificare spaial (calificarea spaial se refer la calificare pentru spaiul cosmic). Soluie. Procednd n mod analog, se gsete pentru valoarea:
=2*1,6*12*0,1 =4 fit = 4*10-9 h-1.

Observaie. Rata de defectare n acest caz este mult mai mic, lucru absolut necesar pentru ndeplinirea cu succes a misiunii. Coeficientul de ncrcare definit ca mai sus nu oglindete perfect solicitrile electrice la care este supus rezistorul. ntr-adevr, pentru orice rezistor exist o tensiune efectiv maxim UM admis la borne (corespunztoare puterii nominale) i o tensiune instantanee maxim, uM

7-29 limitat de pericolul apariiei strpungerilor. La funcionarea n impulsuri cu factor de umplere mic, se poate ntmpla ca tensiunea instantanee s depeasc valoarea uM fr s fie ns depit valoarea UM (adic fr s fie depit puterea maxim admis). n aceast situaie, fiabilitatea va fi mult nrutit. Pentru asigurarea unei fiabiliti ridicate, la rezistoare se recomand urmtoarele: 1. Subncrcarea electric i termic (k mic, tA mic); 2. Tensiunea instantanee s nu depeasc valoarea maxim admis; 3. n situaia unei ncrcri n putere apropiat de puterea maxim admis, terminalele nu se vor scurta sub 15 mm, pentru a asigura evacuarea cldurii.
7.5.3. Fiabilitatea condensatoarelor

n cazul condensatoarelor, pornind de la modelul lui Arrhenius a fost determinat empiric o dependen de temperatur a ratei de defectare avnd urmtoarea form general
k t b = a[( ) c + 1] exp[d ( ) f ] b t0

(7.63)

n care a, b, c, d, f, t0 sunt nite constante care depind de tipul condensatorului t temperatura ambiant, iar k este coeficientul de ncrcare, definit ca raport ntre tensiunea maxim aplicat i tensiunea nominal:
U + 2U e k= c , Un (7.64)

unde Uc este valoarea tensiunii continue iar 2Ue - valoarea de vrf a tensiunii alternative aplicate condensatorului. De exemplu, pentru condensatoarele ceramice cu coeficient de temperatur definit avem b = 3,6 *10 6 [( k 3 t ) + 1] exp( ) 0,3 25 (7.65)

n general, pentru fiecare tip de condensator se d o familie de curbe b=f(tA) avnd coeficientul de ncrcare ca parametru. Din aceste curbe se poate determina b cunoscnd t i k. Pentru stabilirea valorii lui n condiii reale, se folosete o relaie de forma =bKMKCFKIN, (7.65)

7-30 n care b este rata de defectare de baz iar KM, KCF i KIN sunt coeficieni de corecie definii n paragraful 7.5.1. n funcie de tipul condensatorului KIN poate lipsi sau este nlocuit cu ali coeficieni (de exemplu, KT - tehnologie). Pentru condensatoarele electrolitice neutilizate sau utilizate la o tensiune mult inferioar tensiunii nominale, stratul de dielectric (oxid de aluminiu n particular) i pierde proprietile, capacitatea reducndu-se considerabil, iar curentul de fug crescnd destul de mult. Pentru a putea utiliza un astfel de condensator este obligatorie regenerarea lui, adic refacerea stratului de dielectric prin aplicarea, pentru un anumit timp, a unei tensiuni continue (cu limitarea curentului), apropiat de valoarea nominal. Regenerarea de scurt durat, prin ncrcarea la o tensiune nominal i descrcarea brusc prin scurtcircuitarea terminalelor este interzis deoarece sub influena curentului mare de descrcare stratul de dielectric se distruge i armturile se scurtcircuiteaz definitiv. Pentru ca stratul de dielectric s-i pstreze calitile iniiale este necesar ca n montaj condensatorul s nu fie ncrcat sub 30-50% din tensiunea nominal. Ca i n cazul rezistoarelor, coeficientul de ncrcare nu reflect suficient de bine solicitrile electrice la care sunt supuse condensatoarele. De exemplu, la condensatoarele cu pierderi mari (tg mare) strbtute de cureni alternativi inteni, datorit pierderilor, puterea activ disipat este mare, ceea ce duce la nclzirea condensatorului. Pentru a limita nclzirea excesiv a condensatorului, n general se indic de ctre fabricant valoarea maxim admis Ief a curentului i frecvena de lucru. Nerespectarea acestor prescripii atrage dup sine reducerea fiabilitii. Pentru asigurarea unei fiabiliti ridicate se recomand urmtoarele: 1. Subncrcarea electric i termic; 2. Amplitudinea tensiunii alternative la bornele condensatoarelor electrolitice s nu depeasc 90% din tensiunea continu aplicat la borne; 3. S nu se depeasc valorile maxime admise pentru frecvena i curentul efectiv prin condensator.
7.5.4. Fiabilitatea dispozitivelor semiconductoare Deoarece n majoritatea cazurilor solicitrile electrice (curent, tensiune, putere) determin creterea temperaturii structurii semiconductoare, se admite c rata de defectare de baz a dispozitivelor semiconductoare respect o lege Arrhenius de tipul

b = r + A0 exp(

B ), Ts

(7.67)

7-31 unde Ts este temperatura n structura componentei iar B, r i A0 sunt constante. Rezult c n ultim instan rata de defectare depinde de temperatura structurii. Coeficientul de ncrcare se definete ca raport ntre puterea disipat Pd i puterea nominal Pn (relaia 7.54). Pentru simplificarea calculelor de fiabilitate nu se dau ns familii de curbe b=b(tA) de parametru k ci se d o singur curb b=b(ts) (fig. 7.15). Din aceasta se citete valoarea lui b pentru temperatura real ts a structurii, temperatur care se calculeaz, pe baza modelului termic, cu relaia ts=tA + PdRth (7.68)

n care tA este temperatura ambiant, Pd puterea disipat, iar Rth rezistena termic structur-ambiant. Rata de defectare n condiii reale rezult prin nmulirea ratei de defectare de baz cu o serie de coeficieni de corecie, ale cror valori rezult din culegerile de date de fiabilitate.
b

tsmax

ts

Fig. 7.15. Rata de defectare de baz pentru dispozitive semiconductoare. Pentru a asigura o fiabilitate ridicat se recomand urmtoarele: -dispozitivele semiconductoare vor fi plasate ct mai departe de sursele de cldur; -ncrcarea n putere s nu depeasc 80% din puterea maxim admis la temperatura ambiant maxim; -temperatura structurii s nu depeasc 150C la dispozitivele cu siliciu n capsul metalic, 120C la cele cu capsul din plastic i 75C la dispozitivele cu germaniu; eventual se va folosi rcire forat; -puterea instantanee s nu depeasc puterea maxim admis; -contactul termic cu radiatorul extern s fie bun; -terminalele dispozitivelor s nu fie scurtate deoarece contribuie la evacuarea cldurii; eventual se vor rsuci n form de bucl; (scurtarea poate duce la distrugere prin oc termic la lipire); -evitarea ndoirii terminalelor imediat lng capsul deoarece exist pericolul fisurrii capsulei i deteriorrii structurii.

7-32
7.5.5. Fiabilitatea circuitelor integrate Progresele rapide ale tehnologiei circuitelor integrate precum i complexitatea crescnd a acestora fac ca modelele de evaluare a ratei de defectare bazate pe legea Arrhenius s devin insuficiente n acest caz. De aceea, au fost dezvoltate modele care permit evaluarea ratei de defectare a circuitelor integrate n funcie de caracteristicile i complexitatea acestora, tehnologia utilizat, temperatura ambiant sau a jonciunii etc. De exemplu, rata de defectare pentru circuitele integrate logice se determin cu relaia

=(C1Kt + C2KINKM)KEKCF, (7.69) n care C1 i C2 depind de numrul de tranzistoare (pori) ale circuitului iar Kt, KIN, KM, KE i KCF sunt coeficieni de corecie Figurile 7.16 i 7.17 exemplific forme de variaie pentru C1, C2 i Kt.
C1,C2 [u] 20000 C1 2000 200 20 100 1000 Nr. de pori C2 1 Kt 10

0,1 20 tsmax ts [C]

Fig. 7.16. Forme de variaie pentru C1 i C2.

Fig. 7.17. Form de variaie pentru Kt.

7.5.6. Fiabilitatea conexiunilor i a elementelor mecanice

Conexiunile se pot realiza prin: -sudur electric; -wrapare (nfurare); -lipire cu aliaje pe baz de plumb i staniu. Rata de defectare este cresctoare pentru ordinea prezentat, cea mai mic obinndu-se pentru conexiunea prin sudur; ea se folosete numai acolo unde se cere o fiabilitate deosebit. Conexiunea prin wrapare are i ea o rat de defectare mic, de aproximativ 40 ori mai mic dect conexiunea prin lipire. Trebuie precizat ns c dei rata de defectare a unei conexiuni este foarte mic, din cauza numrului mare de conexiuni din sistemele electronice

7-33 ponderea defectelor cauzate de conexiuni este foarte mare, lucru care se verific foarte bine n practic. Prin elemente mecanice folosite n aparatura electronic se neleg comutatoarele de pornire-oprire, de schimbare a domeniilor, conectoarele, mufele de interconectare, poteniometrele etc. Fiabilitatea acestora este mult afectat de solicitrile electrice, mecanice i climatice. De obicei fiabilitatea acestor elemente se exprim prin numr mediu de acionri (uzual ntre 104 i 105). 7.6. Calculul previzional al fiabilitii n etapa de proiectare Documentaia tehnic a fiecrui produs nou trebuie nsoit de un calcul de fiabilitate. Deoarece acest calcul se bazeaz pe estimri ale ratelor de defectare i nu pe date experimentale reale, calculul se numete previzional, iar fiabilitatea astfel calculat este denumit fiabilitate previzional sau preliminat. n marea majoritate a cazurilor produsele electronice au scheme simple (n nelesul de fr rezervare) care, prin urmare, admit o schem structural serie. n astfel de situaii rata de defectare a produsului se calculeaz cu o relaie de tipul
= Nii ,
i

(7.70)

n care Ni este numrul de componente care prezint rata de defectare i. Pentru simplificare s-a presupus c rata de defectare este constant, fapt confirmat n practic pentru perioada de maturitate a produsului. Valorile ratelor de defectare i se obin n funcie de valorile b (specificate n cataloagele de componente), coeficientul de ncrcare k (calculat de proiectant pentru fiecare component), temperatura ambiant, precum i de diferiii coeficieni de corecie). Se folosesc n acest scop tabele i diagrame din culegerile de date de fiabilitate. Cu relaia R=exp(-t) se poate prelimina fiabilitatea produsului pentru un anumit numr de ore de funcionare. Observaie referitoare la termenii Nii. Dou componente identice trebuie considerate separat dac funcioneaz n regimuri diferite. De exemplu dou rezistoare RPM 3050 de 1 k, unul avnd Pd=0,3W i altul Pd=0,1W sau dou tranzistoare 2N 3055, unul avnd Pd=15W iar cellalt avnd Pd=5W. Verificarea fiabilitii unui produs se face prin ncercri de fiabilitate.
7.7. ncercri de fiabilitate

ncercrile de fiabilitate sunt experiene organizate asupra unuia sau a mai multor produse identice (eantion) dintr-un lot (populaie) n vederea obinerii datelor necesare pentru studiul fiabilitii produsului respectiv.

7-34 Informaiile obinute n urma experienelor efectuate asupra eantionului se prelucreaz prin metode statistice i se generalizeaz asupra ntregii populaii. Pentru efectuarea ncercrilor de fiabilitate este necesar ca proiectantul produsului s defineasc corect noiunile de produs defect i produs n stare de funcionare. Aceasta presupune cunoaterea defectelor posibile i a mecanismelor de defectare. Din categoria ncercrilor de fiabilitate se prezint n continuare numai cele de control al fiabilitii care au ca scop atestarea unui anumit nivel de fiabilitate i nu localizarea (determinarea) lui ct mai exact. n principiu ncercarea de fiabilitate const n detectarea elementelor defecte i a momentelor de timp corespunztoare. Rata de defectare se calculeaz apoi cu relaia (7.30). n cazul funcionrii n condiii normale, pentru componentele actuale, care au o fiabilitate ridicat, determinarea lui reclam fie un numr mare de produse n eantion, fie un timp de test foarte lung. De exemplu, pentru =7*10-6 h-1 este necesar fie testarea unui lot de 200 produse 5000 ore (7 luni), fie testarea a 10 produse 100000 ore (10 ani). Nici una dintre soluii nu este economic. Din acest motiv se recurge la ncercrile accelerate, al cror efect principal este reducerea timpului de testare. O ncercare de fiabilitate este o ncercare accelerat atunci cnd nivelul solicitrilor aplicate este superior celui din cazul ncercrilor normale. Solicitrile cel mai frecvent utilizate sunt temperatura, puterea disipat, tensiunea. Datele de fiabilitate obinute din prelucrarea rezultatelor acestor ncercri se extrapoleaz pentru condiiile normale de lucru. Aceast extrapolare cere ns ca mecanismul de defectare a componentei s nu difere n cazul ncercrilor accelerate fa de ncercrile normale.
7.8. Defecte

Prin produs defect se nelege un produs care nu corespunde unei specificaii sau, cu alte cuvinte, un produs care nu i mai ndeplinete misiunea pentru care a fost creat. Defectele pot fi clasificate dup mai multe criterii. a). Din punct de vedere al consecinelor avem defecte majore, minore i critice. De exemplu, n cazul unui avion, defecte minore sunt defectele care nu afecteaz confortul sau ora de decolare iar defecte critice sunt defectele care pericliteaz securitatea pasagerilor i a echipajului. b). Din punct de vedere al vitezei de apariie distingem defectri brute i defectri progresive. Defectarea brusc este defectarea care nu ar fi putut fi prevzut la un examen anterior al produsului. Defectarea progresiv este defectarea care ar fi putut fi prevzut la un examen anterior al produsului.

7-35
Exemplu: la un tranzistor ntreruperea baz-emitor este o defectare brusc, iar micorarea n timp a lui h21e este o defectare progresiv (poate fi prevzut). c). Din punct de vedere al tipului defectului distingem defectri pariale i defectri totale. Defectarea total este defectarea care atrage dup sine dispariia complet a funciei cerute produsului. Defectarea parial este defectarea care atrage dup sine modificarea unor caracteristici ale produsului, dar nu i dispariia complet a funciei cerute. Exemplu: ntreruperea unei rezistene este o defectare total, pe cnd modificarea valorii de la 1010 la 1020 este o defectare parial. Prin combinarea ultimelor dou clasificri definim: -defectarea catalectic (catastrofal): brusc i complet; -defectarea parametric (prin deriv): progresiv i parial. 7.9. Moduri i mecanisme de defectare ale componentelor electronice

Prin mod de defectare al unei componente se nelege condiia sau parametrul de stare observabil sau msurabil al acesteia care explic nefuncionarea componentei. De exemplu: scurtcircuit, ntrerupere, deriva unor parametri n afara limitelor admise etc. Prin mecanism de defectare se nelege modificarea fizic, chimic i mecanic sau condiia care produse modul de defectare observat. De exemplu, pentru un condensator putem avea: mod de defectarescurtcircuit, mecanism de defectare-strpungerea dielectricului, cauzat de tensiune excesiv. Tabelele 7.7 i 7.8 rezum modurile i mecanismele de defectare ale rezistoarelor i condensatoarelor. Tabelul 7.7. Moduri i mecanisme de defectare la rezistoare Mod de defectare Mecanism de defectare ntrerupere deteriorarea elementului rezistiv sau a sistemului de fixare, coroziune scurtcircuit deteriorarea elementului rezistiv rezistena modificat deteriorarea elementului rezistiv, scurgeri de suprafa Mecanismele de defectare sunt determinate de solicitrile la care sunt supuse componentele. De exemplu, deteriorarea elementului rezistiv poate fi cauzat de: -solicitri electrice: tensiune, putere disipat;

7-36 -solicitri climatice i de mediu: temperatur nalt, umiditate ridicat, atmosfer coroziv, radiaii, ocuri i vibraii. Tabelul 7.8. Moduri i mecanisme de defectare la condensatoare Mod de defectare Mecanism de defectare ntrerupere deteriorarea sistemului de fixare scurtcircuit deteriorarea dielectricului, supranclzire, deteriorarea izolaiei, scurgeri interne capacitatea modificat deteriorarea dielectricului, deteriorarea izolaiei, modificarea permitivitii rezisten paralel mic scurgeri la suprafa, deteriorarea izolaiei Pentru tranzistoare avem urmtoarele moduri de defectare: -ntrerupere emitor-baz; -ntrerupere colector-baz; -ntrerupere emitor-baz i colector-baz; -scurtcircuit emitor-baz; -scurtcircuit colector-baz; -scurtcircuit emitor-baz i colector-baz; -strpungere prematur (la tensiune mai mic); nu se observ la controlul ohmmetric; -ctig mic; -cureni reziduali mari. Ca i la celelalte componente, mecanismele de defectare sunt determinate de solicitrile la care sunt supuse tranzistoarele.
7.10. Analiza defeciunilor pe baza arborilor de defectare

Un arbore de defectare este un tip particular de schem logic a unor evenimente, utilizat pentru a reprezenta un anumit mod de defectare a unui sistem i pentru a studia influena elementelor respective asupra defectrii sistemului. Dac pentru un sistem cu structur serie notm cu xi evenimentul care const n buna funcionare a blocului i (i=1, 2,..., n) i cu X evenimentul care const n buna funcionare a sistemului, putem descrie funcionarea sa, din punct de vedere fiabilistic, printr-o schem logic cu circuit SI (fig. 7.18 a) deoarece pentru buna funcionare a sistemului trebuie s funcioneze i blocul 1 i blocul 2 i ... i blocul n. Dac se utilizeaz negatele (complementarele) evenimentelor xi i X, adic evenimentele x i i X care constau n defectarea blocului i, respectiv n defectarea sistemului, atunci se poate descrie defectarea printr-un circuit SAU (fig. 7.18 b) deoarece pentru defectarea sistemului trebuie s se defecteze sau

7-37

x1 sau x 2 sau ... x n , adic evenimentul X se realizeaz dac se realizeaz sau evenimentul x1 sau evenimentul x 2 sau ... evenimentul x n .
x1 x2 X xn . xn a) x1 x2 X . b)

Fig. 7.18. Scheme logice care descriu funcionarea (a) i defectarea (b) unei scheme structurale serie.
Schemele logice prezentate se numesc arbori de evenimente. Arborii care utilizeaz evenimente referitoare la buna funcionare a componentelor se numesc arbori de bun funcionare sau arbori n logic direct, iar cei ce utilizeaz evenimente referitoare la defectarea componentelor se numesc arbori de defectare sau arbori n logic negat. Trecerea de la o schem logic la cealalt se realizeaz prin nlocuirea evenimentelor cu negatele lor i nlocuirea circuitelor SI cu circuite SAU i invers. n practic se utilizeaz numai arbori de defectare, dar nu sub forma general prezentat, ci sub forme particulare n care defectele care apar sunt defecte concrete, bine definite. Dup cum rezult din cele expuse mai sus, pentru elaborarea arborilor de evenimente trebuie cunoscut schema structural a sistemului, ceea ce nseamn c utilizarea arborilor de evenimente la calculul fiabilitii R nu aduce nimic nou i nici o simplificare fa de utilizarea schemei structurale. Practic, utilizarea lor la calculul lui R este mai laborioas i chiar mai complicat n cazul structurilor nedecompozabile. De aceea, arborii de evenimente se utilizeaz doar pentru a analiza i caracteriza ct mai exact strile de defect, modurile de defectare i cauzele defeciunilor ntr-un sistem. Defectarea unui sistem se poate produce n mai multe moduri. Pornind de la cauzele sau evenimentele care pot determina apariia fiecrui mod de defectare i, respectnd nlnuirea lor logic, se obine cte un arbore de defectare pentru fiecare mod de defectare. Este evident c fiecare arbore de acest tip va fi un arbore de defectare particular. Exemplu. Se consider sistemul din fig. 7.19 a n care M reprezint motorul unui casetofon. Considernd ca defect evenimentul Y care const n supranclzirea motorului, arborele de defectare va fi cel din fig. 7.19 b, n care evenimentele cauz au urmtoarele semnificaii: -yS-utilizarea unei sigurane supradimensionate; -yE-apariia unei supratensiuni de durat mare la bornele sursei E; -yR-scderea valorii lui R; -yM-defect intern al motorului (spire n scurtcircuit, rulmeni neuni etc.) -yX-suprasarcin exterioar (volantul blocat).

7-38
R S

yS Y yE

yR yM yX

a)

b)

Fig. 7.19. Referitoare la exemplul considerat.

ntr-adevr, oricare din evenimentele yE, yR, yM i yX determin supranclzirea motorului dac se utilizeaz o siguran supradimensionat. Defectarea nu apare dac sigurana este corespunztoare. Din punct de vedere fiabilistic, utilizarea arborilor de defectare prezint interes practic n urmtoarele 2 cazuri: -atunci cnd un sistem ndeplinete o singur funcie i se dorete s se cunoasc modul cel mai probabil de defectare; -atunci cnd un sistem ndeplinete mai multe funcii de importan diferit i se dorete s se cunoasc probabilitatea de nendeplinire pentru fiecare funcie n parte. Arborii de defectare sunt utilizai i n depanarea sistemelor, la stabilirea cauzelor care provoac un anumit defect. De regul, arborii de defectare sunt materializai n crile tehnice ale produselor sub forma unor tabele cauz-efect.
7.11. Metode de cretere a fiabilitii sistemelor electronice

Exist dou direcii principial diferite n abordarea acestei probleme. O prim direcie se refer la mbuntirea fiabilitii intrinseci a sistemelor. A doua direcie se refer la rezervarea acestora. Avnd un sistem cu o fiabilitate dat, creterea fiabilitii sale, respectiv a MTBF, se poate face cu ajutorul unor elemente (blocuri) de rezerv. Exemplu. Sistemul din fig. 7.20 a, n care R1=0,95 i R2=0,72, are fiabilitatea R=0,95*0,72=0,684. Dac blocul cu fiabilitatea mai redus este dublat de un bloc identic, ca n fig 7.20 b, atunci fiabilitatea sistemului devine:

R=0,95*(0,72+0,72-0,72*0,72)=0,95*0,921=0,875.

7-39

2 1 2 1 3

a)

b)

Fig. 7.20. Referitoare la exemplul considerat.

7.11.1. mbuntirea fiabilitii intrinseci a sistemelor

Pornind de la analiza relaiei (7.70), rezult cile prin care se poate obine o rat de defectare sczut. O prim cale const n asigurarea unui numr mic de componente, ceea ce presupune proiectarea unor scheme ct mai simple. O a doua cale const n asigurarea unor rate de defectare individuale i mici. Aceasta se poate realiza prin reducerea coeficientului de ncrcare k (prin alegerea corespunztoare a regimului de lucru i/sau a componentelor), ncercri de selecie i ncercri de rodaj efectuate asupra componentelor. ncercrile de selecie constau n aplicarea asupra componentelor unui ntreg lot a unei solicitri (temperatur, tensiune, putere) de nivel suficient de mare, astfel nct s se produc defectarea componentelor potenial slabe dar s nu fie afectate celelalte componente ale lotului. ncercrile de rodaj au ca scop stabilizarea ratei de defectare a componentelor, prin eliminarea celor cu defecte infantile. Aceste ncercri se execut n condiii de solicitare normale, nedepindu-se valorile nominale. Dup efectuarea acestor ncercri componentele se vor afla n perioada de via util, avnd o rat de defectare constant. O problem esenial privind acest tip de ncercri este aceea a determinrii perioadei optime de rodaj, avnd n vedere c o durat prea mic a acesteia nu va asigura stabilizarea parametrilor iar o durat prea mare este inutil i costisitoare.
7.11.2. Rezervarea sistemelor

Sistemele rezervate sunt sisteme care utilizeaz elemente de rezerv n scopul creterii fiabilitii. Ele se mai numesc i sisteme redondante. Un sistem rezervat se compune din elemente de baz, elemente de rezerv i elemente de comutare a rezervelor. Elementele de rezerv au rolul de a prelua funciile elementelor de baz atunci cnd acestea s-au defectat i s asigure astfel funcionarea corect i continu (sau aproape continu) a sistemului. Elementele de comutare au rolul de a asigura, teoretic instantaneu, practic

7-40 ntr-un timp ct mai scurt, introducerea rezervelor n sistem atunci cnd elementele de baz s-au defectat. n anumite cazuri elementele de comutare pot lipsi, n sensul c introducerea rezervelor n sistem poate fi fcut de un operator uman, dac n funcionarea sistemului se admit ntreruperi, sau n sensul c rezervele pot lucra tot timpul n paralel (din punct de vedere fiabilistic) pe elementele de baz, dac n funcionarea sistemului nu se admit ntreruperi. Diversele tipuri de rezervare se clasific dup mai multe criterii. Din punct de vedere al modului de conectare a rezervelor n sistem, deosebim rezervare cu conectare permenent i rezervare cu conectare de nlocuire. Din punct de vedere al condiiilor n care rezervele ateapt intrarea n sistem (condiiile de funcionare ale rezervelor pn la apariia defeciunii elementului de baz), deosebim rezervare ncrcat, rezervare uurat i rezervare nencrcat. Din punct de vedere al condiiilor de funcionare ale rezervelor dup defectarea elementului de baz, deosebim rezervare cu sarcin constant i rezervare cu redistribuirea sarcinii. Din punct de vedere al nivelului funcional la care se face rezervarea, deosebim rezervare la nivel de component, rezervare la nivel de bloc sau rezervare la nivel de sistem). Cea mai util clasificare este cea dup condiiile n care rezervele ateapt intrarea n sistem. Rezervarea ncrcat, numit i rezervare cald, este rezervarea la care rezervele ateapt intrarea n sistem funcionnd n condiii i la solicitri identice cu elementul de baz. Practic, din punct de vedere fiabilistic rezervele sunt conectate n paralel pe elementul de baz. Exemplu. Un avion care are patru motoare i care, pentru a ajunge la destinaie, are nevoie doar de dou n funciune, poate fi considerat un sistem cu rezervare ncrcat, deoarece pentru a elimina timpii mori de punere n funciune a rezervelor, avionul folosete n permanen cele patru motoare, mrind astfel sigurana zborului. Se observ c, n general, la rezervarea ncrcat deosebirea dintre elementul de baz i cele de rezerv este pur formal, oricare element putnd fi considerat de baz sau de rezerv. Rezervarea uurat este acea rezervare la care pn la intrarea n sistem rezervele lucreaz n condiii mai uoare dect elementul de baz. Exemplu. Roata de rezerv a unui autoturism, tuburile electronice dintr-un emitor de mare putere (cu catodul cald, cu tensiune de gril dar fr tensiune anodic). Rezervarea nencrcat numit i rezervare rece este acea rezervare la care rezervele ateapt intrarea n sistem n stare de repaus, nefiind supuse unor solicitri comparabile cu cele ale elementului de baz. Ca urmare n starea de

7-41 ateptare probabilitatea de defectare a rezervelor este foarte mic i poate fi considerat nul. Metodele de rezervare cunoscute sunt urmtoarele: rezervarea total, rezervarea separat, rezervarea combinat, rezervarea alunectoare, rezervarea majoritar i rezervarea cu multiplicitate. Rezervarea total const n rezervarea ntregului sistem, fie prin utilizarea unor sisteme de rezerv (rezervare global, ca n fig. 7.21 a), fie prin rezervarea fiecrui bloc (rezervare la nivel de bloc, ca n fig. 7.21 b) astfel ca numrul de rezerve s fie acelai pentru fiecare bloc.
1 1 2 n 1 1 2 n

2 a)

2 b)

Fig. 7.21. Rezervarea total: a). global; b). la nivel de bloc.

Se observ uor c n cazul rezervrii globale defectarea unui bloc oarecare scoate automat din funciune cele n-1 blocuri cu care este nseriat, lucru care nu se ntmpl n cazul rezervrii la nivel de bloc. Ca urmare, rezult c pentru acelai numr de rezerve, ansele de bun funcionare ale sistemului cu rezervare global sunt mai reduse dect cele ale sistemului cu rezervare la nivel de bloc. Cu alte cuvinte, rezervarea la nivel de bloc este mai eficient dect rezervarea global. Afirmaia este adevrat ns numai n situaia n care rezervarea la nivel de bloc nu necesit un numr mare de conexiuni, care nrutesc fiabilitatea. Rezervarea separat sau individual const n rezervarea fiecrui bloc din sistem prin alocarea unui numr de rezerve n general diferit de la un bloc la altul (caz mai general dect rezervarea la nivel de bloc). Rezervarea combinat este o combinaie ntre rezervarea global, aplicat unor grupuri de blocuri i rezervarea separat, aplicat celorlalte blocuri. Rezervarea alunectoare sau glisant este o variant a rezervrii separate, care se utilizeaz pentru rezervarea blocurilor identice dintr-un sistem. Pentru aceste blocuri nu este absolut necesar rezervarea separat deoarece ele fiind identice, este suficient s se utilizeze un numr relativ redus de rezerve care se vor conecta, la nevoie, n locul oricrui bloc care se defecteaz. Exemple: roata de rezerv, canalele de rezerv dintr-un sistem de

7-42 telecomunicaii. Acest tip de rezervare este foarte convenabil din punct de vedere al costurilor. Aplicaie. S se compare valorile MTBF n cazul dublrii paralel prin a) rezervare ncrcat i b) rezervare nencrcat. Se va considera o lege exponenial de repartiie a timpului de bun funcionare i se va neglija probabilitatea de defectare a comutatorului. a).n cazul rezervrii ncrcate avem dou blocuri conectate n paralel din punct de vedere fiabilistic i, prin urmare, MTBF va fi de 1,5 ori mai mare dect n cazul unui singur bloc; b). n cazul rezervrii nencrcate, blocul de rezerv nu este ncrcat pn la intrarea n funciune (defectarea blocului de baz) astfel nct media timpului de bun funcionare se obine nsumnd valorile individuale m1 i m2, adic va fi de dou ori mai mare dect n cazul unui singur bloc.
7.11.3. Rezervarea elementelor cu dou tipuri de defeciuni

Defectarea multor componente electronice se manifest doar n dou moduri: scurtcircuit sau ntrerupere. Pentru astfel de elemente se va nota qs(t) probabilitatea de defectare prin scurtcircuitare i cu qo(t) probabilitatea de defectare prin ntrerupere. Probabilitatea total de defectare va fi

q(t) = qs(t) + qo(t).

(7.71)

Rezervarea unor astfel de elemente se realizeaz legnd mai multe elemente de acelai tip n diferite moduri: n serie, n paralel sau combinat. Legarea n serie se folosete atunci cnd qs>>qo iar legarea n paralel cnd qo>>qs. Legarea combinat serie-paralel sau paralel-serie se folosete atunci cnd qs i qo au valori comparabile. Cele mai utilizate scheme de rezervare pentru elementele cu dou tipuri de defeciuni sunt: rezervarea cu dublare serie, rezervarea cu dublare paralel, rezervarea n cuadratur serie-paralel i rezervarea n cuadratur paralel-serie. Aceste scheme sunt prezentate n fig. 7.22 a, b, c respectiv d, unde s-a considerat ca exemplu rezervarea unei diode semiconductoare.

7-43

D1 D1 a) D2 D3 c)

D2

D4

D1

D1

D3

D2 b)

D2 d)

D4

Fig. 7.22. Rezervarea unei diode semiconductoare: a).dublare serie; b).dublare paralel; c).cuadratur serie-paralel; d).cuadratur paralel-serie.
Probabilitile de defectare Qs i Qo ale ansamblului se pot calcula cu regulile cunoscute. Astfel, pentru elementul rezervat prin dublare serie (fig. 7.22 a), defectarea prin scurtcircuit va aprea numai dac i dioda 1 i dioda 2 se defecteaz prin scurtcircuit, iar defectarea prin ntrerupere se va produce dac sau dioda 1 sau dioda 2 se defecteaz prin ntrerupere. Ca urmare, rezult
2 Qs = qs1 * qs 2 = qs 2 Qo = qo1 + qo 2 qo1qo 2 = 2qo qo .

(7.72) (7.73)

Rezult
2 2 Q = Qs + Qo = qs + 2qo qo .

(7.74)

Eficiena rezervrii, , definit ca raport ntre probabilitile de defectare ale sistemului nerezervat i rezervat, are expresia
=

qs + qo q = . 2 2 Q qs + 2qo qo

(7.75)

Rezervarea este eficient dac >1. Pentru deducerea relaiei de ordine necesare ntre qs i qo se va proceda n felul urmtor: se scrie c inversul lui este mai mic dect 1, inegalitatea obinut se nmulete cu qs+qo (cantitate pozitiv, care nu schimb sensul inegalitii), rezultnd relaia:

7-44
2 2 q s + 2 qo qo q s + qo ,

(7.76)

din care se obine

(q s qo )(q s + qo 1) 0 .

(7.77)

Deoarece probabilitile de defectare qs i qo sunt mult mai mici dect 1, termenul din paranteza a doua este negativ, astfel nct condiia (7.77) este ndeplinit dac q s qo . (7.78) n mod similar, se pot calcula probabilitile de defectare pentru oricare dintre schemele prezentate. Se poate demonstra c rezervrile n cuadratur sunt aproape ntotdeauna eficiente, indiferent de relaia de ordonare dintre qo i qs. Aceasta din urm determin ns tipul de cuadratur care asigur o eficien mai mare. Aplicaie. S se calculeze probabilitatea de defectare Q n cazul rezervrii prin cuadratur paralel-serie (fig. 7.22 d), cunoscnd probabilitile individuale de defectare qs i qo. Defectarea prin scurtcircuit presupune defectarea lui D1 sau D2 i a lui D3 sau D4. Schema structural este prezentat n fig. 7.23 a. Defectarea prin ntrerupere presupune defectarea lui D1 i D2 sau D3 i D4. Ca urmare, schema structural este cea din fig. 7.23 b.
D1 D3 D1 D2

D2

D4

D3

D4

a)

b)

Fig. 7.23. Referitoare la aplicaia prezentat.

Probabilitatea de defectare prin scurtcircuit este dat de relaia:
2 2 2 Qs = (qs + qs qs )(qs + qs qs ) = (2qs qs ) 2 .

(7.79)

Probabilitatea de defectare prin ntrerupere este dat de relaia:

2 2 4 2 4 Qo = qo + qo qo = 2qo qo .

(7.80)

Probabilitatea total de defectare se obine nsumnd Qo i Qs.