ESPECTROMETRIA DE FLUORESCNCIA RAIOS-X

Fellipe Valado Maria Caldas Thaline Paiva

Introduo
Anlise por fluorescncia de raios X (XRF) baseada na medida das intensidades dos raios X caractersticos emitidos pelos elementos qumicos componentes da amostra, quando devidamente excitada, At 1966 a XRF era realizada unicamente por espectrmetros por disperso por comprimento de onda (WD-XRF). Detector semi-condutor de Si(Li), capaz de discriminar raios X de energias prximas, foi possvel o surgimento da fluorescncia de raios X por disperso de energia (ED-XRF) Uma variante da fluorescncia de raios X por disperso de energia, denominada de Reflexo Total (TXRF), vem sendo bastante desenvolvida nos ltimos anos.

Fundamentos da Fluorencncia de Raios x

um mtodo quali-quantitativo baseado na medida das intensidades (nmero de raios X detectados por unidade de tempo) dos raios X caractersticos emitidos pelos elementos que constituem a amostra; Um elemento excitado, este tende a ejetar os eltrons do interior dos nveis dos tomos, assim, eltrons dos nveis mais afastados realizam um salto quntico para preencher a vacncia.

Fundamentos da Fluorescncia de Raios x

A anlise por fluorescncia de raios X consiste de trs fases: Excitao dos elementos que constituem a amostra, Disperso dos raios X caractersticos emitidos pela amostra , Deteco desses raios X.

Fundamentos da Fluorescncia de Raios x

Excitao dos elementos: A excitao pode ser feita de vrias maneiras: excitao por partculas aceleradas como eltrons, prtons ou ons; excitao por raios X, partculas alfa, partculas beta negativas ou raios gama. E o processo mais utilizado at recentemente, que atravs raios X gerados em tubos.

Fundamentos da Fluorescncia de Raios x

Para haver produo de raios X caractersticos h necessidade de se retirar eltrons localizados nas camadas mais internas dos tomos, por exemplo camada K, e para isto a energia mnima deve ser superior a energia de ligao do eltron nessa camada;

 Disperso dos raios X

Disperso por comprimento de onda (WD-XRF)
Disperso de energia (ED-XRF), tambm chamado de no dispersivo, ilustrados esquematicamente na Figura

 Deteco e medida dos raios X Anlise por disperso por comprimento de onda (WDXRF) so normalmente empregados os detectores proporcional e o cristal cintilador slido NaI(Tl) para a deteco dos raios X caractersticos; disperso de energia (ED-XRF), emprega-se um detector de alta resoluo, capaz de produzir pulsos eletrnicos proporcionais s energias dos raios X.

WD XRF
Melhor resoluo; Intensidades individuais mais elevadas podem ser medidas; Menores limites de deteo so possveis; Sensibilidades melhores em elementos leves;

vs.

ED - XRF

Instrumento mais simples Registro simultneo de todo o espectro de raios-X Medies podem ser realizadas em pequenos tempos ( 40 s) Baixa potncia de raios-X( 25W) Menor preo

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Espectro Eletromagntico

Descoberta do Raio X
Foi o fsico alemo Wilhelm Conrad Rntgen quem detectou pela primeira vez os raios X. A descoberta ocorreu quando Rentgen estudava o fenmeno da luminescncia produzida por raios catdicos num tubo de Crookes. Aps exaustivas experincias com objetos inanimados, Rntgen pediu sua esposa que posicionasse sua mo entre o dispositivo e o papel fotogrfico, e o resultado foi uma foto que revelou a estrutura ssea interna da mo humana. Essa foi a primeira radiografia, nome dado pelo cientista sua descoberta em 8 de novembro de 1895; Em 1901, Rntgen recebeu o Nobel da Fsica;

PRODUO DE RAIOS-X

I Emisso de eltron de alta energia pelo catodo; II Eltron atinge o anodo e h a liberao do fotoeltron; III Eltron de camada mais energtica ocupa o lugar vago e emite um fton de raios-x; IV tomo retorna para um estado inerte.

PROPRIEDADES DOS RAIOS-X

Propagam-se com a velocidade da luz; Propagam-se sem transferncia de massa; So invisveis e no detectveis pelos sentidos humanos; Sofrem disperso pela matria e difrao pelos cristais; Produzem luminescncia visvel e ultra violeta em certos tipos de materiais; Produzem espectro com linhas caractersticas de raios-x quando interagem com a matria; Interagindo com a matria podem produzir fotoeltrons, eltrons Auger e eltrons de Compton-recuo.

EFEITO FOTOELTRICO

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EFEITO DE COMPTON

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PRODUO DE PARES

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Componentes
Emissor (Tubo de raios-X); Colimador; Filtros; Cristal analisador; Detectores;

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Emissor (Tubo de raios-X)

Componente que emite os raios-x que entraro em contato com a amostra;

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Colimador
Componente que composto de um material com capacidade para absorver radiao; Componente utilizado para direcionar e suavizar feixes de radiao;

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Filtro

Componente utilizado para obteno de uma radiao que seja monocromtica;

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Cristal analisador

Componente utilizado para difratar a radiao fluorescente emitida pela amostra;

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Detector
Componente utilizado para converter a energia irradiante resultante da amostra em impulsos eltricos que permitem a vizualizao dos resultados;

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PREPARAO DAS AMOSTRAS

As amostras podem ser slidas ou lquidas;

Amostras Slidas:
- A representatividade da amostra um parmetro a ser controlado;
-O objetivo da preparao de amostras slidas alisar a superfcie visando eliminar qualquer rebarba na amostra. - Para atender este objetivo dois mtodos de polimento so aplicados: Lixamento e fresagem de amostra: para metais macios;

Pulverizao da amostra: para as ligas duras e materiais quebradios, como cermicas.

PREPARAO DAS AMOSTRAS

- Amostras em P:
1) Reduo da amostra em pequenas pores( quarteamento manual ou mecnico) ;
2) Homogeneizao e diminuio dos tamanhos dos gros(Moagem); 3) Preparao de pastilhas prensadas(compactas e homogneas); 4) Preparao de amostras fundidas (restrito alguns materiais).

PREPARAO DAS AMOSTRAS

Amostras lquidas: - Amostra lquida analisada diretamente; - Amostra lquida com pr concentrao qumica;

PREPARAO DAS AMOSTRAS

Cuidados:
- Com a contaminao da amostra; - Faixa granulomtrica das partculas (se as partculas forem grandes podem existir elementos, que em menor quantidade no sero analisados)

Espectrometria de fluorescncia de raios X por disperso

WDXRF
Resoluo Sensibilidade Portabilidade Custo Anlise simultnea X X XXX XXX

EDXRF
XX XX XXX XX XXX

VANTAGENS
Espectros simples e fceis de interpretar; No destrutivo(para objetos de alto valor);

Estudo de amostras com caractersticas diversas;

Anlise rpida e completa; Elevada preciso e exatido; Mtodo que permite anlises qualitativas e quantitativas.

DESVANTAGENS
Seu limite de deteco de 10 a 20 ppm; limitada a anlise de elementos cujos efeitos de absoro e fluorescncias so conhecidas; A anlise multielementar pode causar a sobreposio das linhas espectrais dos elementos; No aplicvel em elementos leves(dificuldades de deteco de elementos de n atmico<23);

Elevado custo(5000-15000 euros).

CUSTO
- Tcnica

de EDXRF + TXRF

Bibliografia
http://www.cetem.gov.br/publicacao/serie_anais_XVI_jic_2008/Daisiana%20Fro zi%20Brisola.pdf