Dra.

Sara Aguilera Morales

Prof. Logan Vsquez Rivas
Uni ve r s i dad C at l i c a de l No r t e
De par t ame nt o de E ns e anz a
De L as C i e nc i as Bs i c as
DISFRACCIN
La difraccin de las ondas es una desviacin de la direccin de los rayos en un
medio homogneo al pasar en las proximidades de un obstculo. Este fenmeno
es posible apreciarlo slo en los casos en que la longitud de onda utilizada tenga
un valor comparable (del mismo orden) con las dimensiones del obstculo
interpuesto.

Principio de Huygens Fresnel

l permiti resolver solamente los problemas acerca de la direccin de
propagacin del frente luminoso y en esencia no consideraba el problema de la
intensidad de las ondas que iban en diferentes direcciones. Fresnel elimin esta
insuficiencia al introducir un sentido fsico en el principio de Huygens al
completarlo con la idea de interferencia de ondas. De este modo la superficie
envolvente de las ondas secundarias adquiri un claro contenido fsico al
considerarla como la superficie donde, debido a la interferencia mutua de las
ondas elementales, la onda resultante tiene una intensidad apreciable.

Principio de Huggens Fresnel
El Principio de Huggens Fresnel es el principio fundamental de la ptica
ondulatoria y permite investigar los problemas relacionados con la intensidad de
la onda resultante en diferentes direcciones, es decir resolver el problema de la
difraccin de la luz. Este Principio tambin permiti resolver el problema acerca
de los lmites de aplicacin de la ley de propagacin rectilnea de la luz y
permiti aclarar la Ley de Propagacin de Ondas de cualquier longitud.

Difraccin de Fresnel y Difraccin de Fraunhofer

En la difraccin de Fresnel los rayos que se difractan son divergentes, ya que
proceden de una fuente cercana a los obstculos.(Fig. 1)
O
M
S
Fig. 1
Difraccin de Fresnel y Difraccin de Fraunhofer
Fraunhofer examin un caso especial de difraccin: La difraccin de rayos
paralelos, cuando el cuadro de difraccin se obtiene en el plano focal de una
lente convergente. Es decir, la difraccin de Fraunhofer se produce cuando tanto
el foco luminoso, como la pantalla que recoge el patrn de difraccin se
encuentran a una distancia infinita de la pantalla que contiene la rendija. (Fig. 2)
Fig. 2
Hasta ahora hemos supuesto que las rendijas son fuentes puntuales de luz.
Ahora abandonamos esta suposicin y vemos como el ancho finito de las
rendijas es la base para la comprensin de la difraccin de Fraunhofer. Podemos
deducir algunas caractersticas de importancia a partir de estos fenmenos si
examinamos las ondas que llegan desde varias partes de la rendija, como se
observa en la figura 3. De acuerdo con el principio de Huygens, cada parte de la
rendija acta como una fuente de ondas luminosas.(Fig. 3)
Difraccin por una rendija. Patrn de difraccin.
Para este anlisis se divide la rendija en dos mitades.
Recordando que todas las ondas estarn en fase
cuando salgan de la rendija, consideremos los rayos 1
y 3.
Fig. 3
Difraccin por una rendija. Patrn de difraccin.
Conforme esos dos rayos se desplazan a la derecha de la figura hacia una pantalla de
observacin lejana, el rayo 1 se desplaza ms lejos que el rayo 3 en una cantidad igual
a la diferencia de trayectoria (a/2)sen , siendo a el ancho de la rendija. De
manera similar, la diferencia en trayectoria entre los rayos 3 y 5 es tambin
(a/2)sen. Si esta diferencia de trayectoria es exactamente igual a la mitad de una
longitud de onda (es decir la diferencia de fase es ); entonces las dos ondas se
cancelan entre s, lo que da como resultado una interferencia destructiva. Si esto
es vlido para dos rayos de este tipo, entonces tambin es vlido para dos rayos
cualesquiera que se originen en puntos separados a la mitad del ancho de la rendija,
ya que la diferencia de fase entre esos dos puntos es de 180. Por lo tanto, las ondas
provenientes de la mitad superior de la rendija interfieren destructivamente con
ondas provenientes de la mitad inferior cuando:

(a/2 )sen = +/2 sen = +/a

De igual manera, podemos dividir la rendija en seis partes iguales y demostrar que
se obtienen franjas oscuras, cuando:
asen = m (m= +1, +2, +3)
La condicin general de mnimo de difraccin ser:
asen = m (m= +1, +2, +3) (1)
Se podra demostrar que la condicin de mximos de difraccin es tambin:
asen = m pero m= 0, +1.43, +2.46 (2)
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
Para determinar la distribucin de la intensidad de la luz para un patrn de
difraccin proveniente de una sola rendija, se pueden usar fasores.
Imaginemos una rendija dividida en un nmero de pequeas zonas de ancho
y, como se muestra en la figura 4.












Cada zona acta como una fuente de radiacin coherente y contribuye con un
incremento de campo elctrico de magnitud E en algn punto de la pantalla.
La intensidad luminosa en dicho punto es proporcional al cuadrado de la
magnitud del campo elctrico.

Fig. 4
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
Las magnitudes de los incrementos de campo elctrico entre zonas adyacentes
estn fuera de fase, una respecto de la otra en una cantidad , la cual est
relacionada con la diferencia en trayectoria y sen entre zonas adyacentes.

Recordemos que:


= (2/)y sen (3)
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
Para pequeos valores de podemos suponer que todos los valores E son iguales.

Cuando =0 todos los fasores estn alineados, como se muestra en la figura 5a,
porque todas las ondas provenientes de las diversas zonas estn en fase. En este
caso, el campo elctrico total en el centro de la pantalla es E
0
= NE, donde N es el
nmero de zonas. La magnitud E
R
resultante en algn ngulo pequeo se muestra
en la figura 5.b.
Donde cada uno de los
fasores difiere en fase en
relacin con el adyacente en
una cantidad . En este
caso E
R
es la suma vectorial
de las magnitudes de los
incrementos y ello est dado
por la longitud de la cuerda,
por lo que E
R
< E
0
.
Fig. 5
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
La diferencia de fase total entre ondas provenientes de la porcin superior e
inferior de la rendija es:


Donde a = Ny es el ancho de la rendija.

Conforme aumenta, la cadena de fasores poco a poco va formando la trayectoria
cerrada que se muestra en la figura 5c.




En este punto la suma vectorial es igual a cero, luego E
R
=0, lo que corresponde al
primer mnimo de la pantalla. En este caso = N = 2,
Luego sen = /a

Es posible obtener la magnitud total del campo elctrico E
R
, as como la intensidad
de la luz I en cualquier punto de la pantalla de la figura 5.c al considerar el caso
limite en el cual y se convierte en infinitesimal (dy) y N se acerca a .
Fig. 5.c
En este lmite la cadena de fasores de la figura 5, se convierten en la figura 6.
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
Del tringulo que contiene al ngulo /2 vemos que:



Siendo R el radio de curvatura. Pero la longitud del arco
E
0
es igual al producto R , donde est en radianes.
Fig. 6
(Fig. 5)
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
(

=
|
|
.
|

\
|
= =
2 /
) 2 / (
2
2
2
2
0
0
|
| |
|
| sen
E sen
E
Rsen E
R
2
max
2 /
) 2 / (
(

=
|
| sen
I I
2
max
/
) / (
(

=
u t
u t
asen
asen sen
I I
Intensidad de los patrones de difraccin provenientes de una
sola rendija
De este resultado vemos en la Fig. 7, donde se presentan mnimos cuando:


m= +1, +2, +3,

t

u t
m
asen
=
Fig. 7
Red de Difraccin
Si en lugar de una pantalla con una rendija colocamos en la trayectoria del haz
luminoso una pantalla con una serie de rendijas paralelas entre si y del mismo ancho
a, como se muestra en la figura 8, tendremos que los cuadros de difraccin de todas
las rendijas van a coincidir.

O
M
Fig. 8
Red de Difraccin
En este caso, al tener ms de una rendija, es necesario considerar no slo patrones de
difraccin provenientes de las rendijas individuales, sino tambin los patrones de
interferencia debidos a las ondas que provienen de rendijas diferentes.




En esta figura 9, las lneas punteadas indican una disminucin
en la intensidad de los mximos de interferencia, conforme
se incrementa. Esta disminucin se debe a la presencia
de un patrn de difraccin. A fin de determinar los
efectos que produce cada rendija en el patrn de
interferencia de dos rendijas y en el patrn de difraccin
proveniente de una sola rendija se combinan las siguientes
ecuaciones:

Interferencia


Difraccin
|
.
|

\
|
=

u tdsen
I I
2
max
cos
u t
u t
/
) / (
max
asen
asen sen
I I =
Fig. 9
Red de Difraccin
Luego:
(7)






A pesar que esta expresin parece
complicada, simplemente representa el
patrn de difraccin de una sola rendija (el
factor incluido en parntesis cuadrado)
que acta como una envoltura para un
patrn de interferencia de dos rendijas (el
factor de coseno al cuadrado), como se
puede observar en la figura 10. La curva
punteada representa el factor entre
parntesis cuadrado. El factor que incluye
coseno al cuadrado dara por s mismo una
serie de pik, todos de la misma altura.
Pero el efecto de la difraccin impide que
ellas tengan la misma altura, como se
puede apreciar en la figura 10.
2
2
max
/
) / (
cos
(

|
.
|

\
|
=
u t
u t

u t
asen
asen sen dsen
I I
Fig. 10
Red de Difraccin
La distancia entre los puntos medios de aberturas adyacentes de la red se llama
constante o periodo de la red, d.

La diferencia de camino ptico de los haces contiguos es = d sen ( 8)

A esta diferencia de marcha (o camino ptico) le corresponde una diferencia de fase

= (2/) (9)

Para determinar la amplitud resultante de las oscilaciones en distintos puntos de la
pantalla, podemos utilizar la suma de vectores, Fig. 11.






0 a
1
a
2
a
3
a
n
x

. mx
a

Fig. 11
Red de Difraccin
Se producir un mx. para
= 2m (m= 0,1,2.) (10)

En estos puntos




Introduciendo 8 y 9 en 10, se tiene:



(11)


La expresin 11 representa la condicin de mximos principales de interferencia en
una red.
2 2
.
1
.
i mx
i
N
i
i mx
a KN I
a N a a
=
= =

=

d
m sen
m dsen

u
t u

t
=
= 2
2
Red de Difraccin
Los mnimos de intensidad del cuadro de difraccin se obtienen en los puntos de
la pantalla para los cuales la amplitud resultante es nula. Ello ocurre cuando el
polgono compuesto por los vectores est cerrado, es decir cuando el ngulo N
es igual a un numero par de .

m=1, 2, 3,

m 0, N, 2N,

(12)

La expresin 12 representa las condiciones de mnimos de interferencia en una
red.

La ecuacin: a sen= m representa las condiciones de mnimo de difraccin.
Si m = 1 (primer mnimo de difraccin).

a sen= (13)

Si dividimos la expresin 11 por la 13
(14)
Nd
m
sen
m dsen N
m N

u
t u

t
t |
=
=
=
2
2
2
a
d
m
m
asen
dsen
=
=

u
u
a

i
a

Red de Difraccin
Esta expresin permite determinar qu mximo de interferencia coincide con el
primer mnimo de difraccin.

En el patrn de una red de difraccin se producen N-1 mnimos de interferencia
entre dos mximos principales adyacentes.

En el patrn de una red de difraccin se puede observar que entre dos mximos
principales adyacentes hay N 2 mximos secundarios.

Las figuras 12 y 13 muestran la distribucin I de intensidades para redes de
difraccin que tienen diferentes nmeros de rendijas.

Fig. 12
Fig. 13
Resolucin de aperturas de una sola rendija y circulares
La capacidad que tienen los sistemas pticos para distinguir objetos muy cercanos
entre s, est limitada debido a la naturaleza ondulatoria de la luz.

La figura 14, muestra dos fuentes de luz alejadas de una rendija de ancho a. Las
fuentes pueden ser dos fuentes puntuales no coherentes S
1
y S
2
, por ejemplo podra
tratarse de dos estrellas lejanas. En la pantalla se observa la suma de dos patrones
de difraccin provenientes de S
1
y S
2
.

Si las fuentes estn muy cercanas entre s (figura 14.b)
Fig. 14
Criterio de Rayleigh:
Cuando el mximo central de una imagen coincide con el mnimo de otra imagen
adyacente, se dice que las imgenes estn casi resueltas.

Partiendo de este criterio, es posible determinar la separacin angular mnima
min

subtendida por las fuentes en la rendija de la figura 15, para la cual las imgenes casi
quedan resueltas. De la condicin de mnimo de difraccin para el primer mnimo
tenemos:

sen = /a

Debido a que en la mayora de los casos << a , sen es muy pequeo y es posible
utilizar la aproximacin sen . Por lo tanto, el ngulo de resolucin limite para
una rendija de ancho a es:

min
= /a ( 15)

Estando
min
expresado en radianes.



Criterio de Rayleigh:
Muchos sistemas pticos utilizan aperturas circulares en vez de rendijas.
Ver figura 15, que muestra patrones de difraccin para tres situaciones diferentes, en
las cuales pasa luz proveniente de dos fuentes puntuales a travs de una apertura
circular.

El anlisis muestra que el ngulo
de resolucin lmite para una
apertura circular es:

min
= 1.22 /D

Donde D es el dimetro de la
apertura.
Fig. 15
Caractersticas de una red de difraccin
Para tener posibilidades de comparar el funcionamiento de los dispositivos
espectrales y elegir cul de ellos es el ms efectivo para solucionar tal o cual
problema fsico, es necesario establecer ciertas caractersticas de dichos dispositivos.

Dispersin angular
El papel fundamental de los dispositivos espectrales consiste en la determinacin de
la longitud de onda de la radiacin que se estudia, problema que en la mayora de
los casos se reduce a la medicin de la diferencia en las longitudes de onda de dos
lneas espectrales cercanas. Generalmente la posicin de la lnea espectral se da por
el ngulo definido por la direccin de la normal respecto al frente ondulatorio
despus de pasar por el elemento dispersante. De aqu, que la dispersin angular
se define como la distancia angular entre las direcciones para dos lneas
espectrales por su longitud de onda en 1.

D = d / d (17)

Si la distancia focal de la lente que proyecta el espectro sobre la pantalla es igual a f,
entonces la separacin lineal dx = f d, de manera que la dispersin lineal es:



(18)
fD D
d
d
f
d
dx
D
=
= =
*
*

Dispersin angular
La diferencia d entre los mximos para
1
y
2
, se hallar de las condiciones que
define la posicin de los mximos de interferencia:

d sen= m

Al diferenciar se tiene:

dcosd = md

( 19)


u
u
cos d
m
d
d
D = =
Poder separador o poder de resolucin
La posibilidad de diferenciacin de dos mximos depende de la sensibilidad al
contraste del mtodo (visual o fotomtrico), con el cual se investiga la distribucin
de la intensidad a lo largo del espectro. Por lo tanto, la posibilidad de separacin de
dos lneas es un tanto indeterminada. Apliquemos el criterio de Rayleigh. Si dos
lneas contiguas poseen igual intensidad y forma, entonces la intensidad de las
lneas espectrales que se observa es equivalente al 80% de la intensidad de los
mximos vecinos.

Para dos longitudes de onda dadas
1
y
2
el poder de resolucin R de la rejilla
se define como:
(Fig. 16).




(20)

Donde n es la densidad de lneas.

N = nl [ l ancho de la red]

n
l
d
mN R
=
=
A
=

Poder separador o poder de resolucin

Fig.16
Regin de dispersin G
En las condiciones reales del experimento se trabaja no con ondas monocromticas
con longitud de onda , sino con cierto intervalo espectral que abarca las longitudes
de onda desde hasta + . La presencia de este conjunto de introduce una
complicacin considerable en el buen funcionamiento de los aparatos espectrales,
especialmente en aquellos en los que se observan espectros de altos ordenes, los
cuales son capaces de sobreponerse el uno sobre el otro si se trabaja con un intervalo
espectral bastante ancho. As para cada dispositivo existe un ancho limite
del intervalo espectral, con el cual es posible la obtencin de mximos y
mnimos discretos. Este intervalo recibe el nombre de regin de dispersin G del
dispositivo espectral. (Fig. 17).


A +

I
Fig. 17
Regin de dispersin G
El lugar del mximo de orden m para el borde derecho del intervalo ( + ) se
determina de la condicin:
d sen
*
m
= m ( + ) (21)

El lugar del mximo de orden (m + 1) para el borde izquierdo del intervalo se da
por la expresin:
d sen
m + 1
= (m + 1) ( 22)

El cuadro de interferencia se torna impreciso bajo la condicin:
*
m
=
m + 1


Luego m( + ) = (m + 1)
o bien G = = /m ( 23)

De esta manera G del dispositivo espectral depende del orden de interferencia
observado en el dispositivo dado.

Para la red de difraccin generalmente se observan espectros de segundo y tercer
orden, es decir m = 2 o m = 3. De acuerdo con esto la regin de dispersin = /2
o = /3 es muy grande. En esto consiste la gran ventaja de la red, la cual incluso
permite analizar luz blanca, es decir un intervalo espectral muy amplio.
Aplicaciones
Holografa: Es una de las aplicaciones de la red de difraccin, que permite la
obtencin de imgenes tridimensionales de los objetos. La fsica de la holografa
fue desarrollada por Dennis Gabor en el ao 1948, lo que le vali la obtencin del
Premio Nbel de Fsica en 1971.
La figura 18, muestra un holograma, as como el carcter tridimensional de su
imagen.

Fig. 18
Aplicaciones
La figura 19 muestra como se hace un holograma. La radiacin lser se divide en dos
partes mediante un espejo semiplateado en B. Una parte del rayo es reflejada del
objeto a fotografiar e incide en una pelcula fotogrfica normal. La otra parte del
haz se hace diverger por la lente L
2
, se refleja en los espejos M
1
y M
2
y finalmente
llega a la pelcula. Los dos haces se superponen para formar un patrn de
interferencia extremadamente complicado sobre la pelcula.

Fig. 19
Aplicaciones
El holograma no slo registra la intensidad de la luz dispersa por el objeto (igual que
un una fotografa convencional), sino tambin la diferencia de fases entre el haz de
referencia y el haz disperso por el objeto. Gracias a esta diferencia de fase se forma
un patrn de interferencia que produce una imagen en la que se conserva toda la
informacin tridimensional disponible de la perspectiva de cualquiera de los puntos
sobre el objeto.

El patrn de interferencia existente sobre la pelcula acta como una rejilla de
difraccin. La figura 20, muestra dos rayos de luz incidiendo sobre la pelcula y
pasando a travs de ella.
Fig. 20
Difraccin de los rayos X mediante cristales
Si se dispone de una rejilla con un espaciamiento entre rendijas adecuadas,
(del orden de ) es posible determinar la longitud de onda de cualquier
onda electromagntica. Los rayos X fueron descubiertos en el ao 1895 por
Wilhem Roentgen (1845-1923). Ellos son ondas electromagnticas de una
longitud de onda muy reducida (del orden de 0,1nm). Sera imposible
construir una rejilla con un espaciamiento tan pequeo. Sin embargo el
espaciamiento atmico es de aproximadamente 0,1nm. En el ao 1913,
Mximo Von Laue (1879-1960), sugiri que la organizacin normal de los
tomos en un cristal pudiera funcionar como una rejilla de difraccin
tridimensional para los rayos X. Los patrones o figuras de difraccin
provenientes de cristales son complejos dada la naturaleza tridimensional
de la estructura cristalina.
Difraccin de los rayos X mediante cristales
La figura 21, muestra un arreglo experimental para la observacin de la difraccin de
los rayos X mediante un cristal. Sobre el cristal incide un haz colimado de rayos X
monocromticos. Los rayos difractados son muy intensos en ciertas direcciones,
que corresponden a la interferencia constructiva de ondas reflejadas de las capas de
tomos del cristal. Los rayos difractados, que pueden ser detectados sobre una
pelcula fotogrfica, forman un arreglo de puntos conocidos como patrn de Laue.
Ver figura 22a. Es posible deducir la estructura cristalina analizando las posiciones
relativas y las intensidades de los diversos puntos en el patrn. La figura 22b
muestra un patrn de Laue correspondiente a una enzima cristalina, utilizando una
amplia gama de longitudes de onda, de manera que el resultado es un patrn en
remolino.
Fig. 21
Fig. 22
Difraccin de los rayos X mediante cristales
En la figura 23 se muestra la organizacin de los tomos en un cristal de cloruro de
sodio (Na Cl). Cada celda unitaria (el slido geomtrico que se repite a travs de
todo el cristal), es un cubo de arista a. Un examen cuidadoso de la estructura del
NaCl muestra que los iones yacen en planos discretos ..

Fig. 23 Estructura cristalina del Cloruro de Sodio (NaCl). Las
esferas celestes representan los iones Cl

y las esferas rojas
representan los iones Na
+
. La longitud del cubo de arista a es igual
0,562737 nm.
Fig. 24
Ahora supongamos que un rayo X incidente forma un ngulo con uno de los
planos, como en la figura 24. El rayo puede reflejarse tanto del plano superior,
como del inferior. El rayo del plano inferior se desplaza ms que el rayo reflejado
desde el plano superior.
Difraccin de los rayos X mediante cristales
La diferencia en la trayectoria efectiva es igual a 2dsen cuando esta diferencia de
trayectoria es igual a algn mltiplo entero . Los dos haces se refuerzan
(interferencia constructiva). De aqu la condicin de mximo es:

2d sen = m m = 1,2,3

Esta condicin se conoce como ley de Bragg en honor a William Bragg (1890-1971),
quien fue el primero en deducir esta relacin. Si se mide la longitud de onda y el
ngulo de difraccin es posible usar esta expresin para calcular el espaciamiento de
los planos atmicos.