Cristalografa de Rayos

X
Espectros de Rayos X
7.1.
Efecto de Difraccin y ecuacin de
Bragg
7.2.
Mtodo de Laue
7.2.1.
Otros mtodos con monocristales
7.2.2.
Mtodo del Polvo
7.3.
Difractmetro de Polvo de Rayos X
7.3.1.
Cristalografia de Rayos X
Tcnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al
entrar en contacto con el cristal, el haz se divide en varias
direcciones debido a la simetra y agrupacin de los tomos y, por
difraccin, da lugar a un patrn de intensidades que puede
interpretarse segn la ubicacin de los tomos de los cristales,
aplicando la ley de Bragg.
Espectros de Rayos X
Rayos X
Los Rayos X forman parte del espectro
electromagntico.

Se clasifican en duros o blandos.

La unidad empleada para los rayos X es el .

Tienen la propiedad de atravesar los cuerpos
opacos.

Se propaga en lnea recta.

Excitan la fluorescencia y fosforescencia de
ciertas sustancias.

No presentan alteracin bajo la accin de
campos elctricos o magnticos.

Presenta efectos de polarizacin.
Entre el ctodo y el
nodo se aplica una
diferencia de
potencial grande con
el objeto de acelerar
los electrones
producidos por el
filamento y que
choquen contra el
nodo, y as se
emiten rayos x en
todas direcciones

Produccin de Rayos X
El tubo de rayos x es
el instrumento
empleado para
producir rayos x.
Los rayos x se originan
siempre que los
electrones con suficiente
energa cintica chocan
con la materia
.
Efectos de difraccion y ecuacion de
bragg
Difraccin
Tcnica utilizada para
determinar la estructura
detalladla de un material,
permite conocer la posicin
que ocupan los tomos,
iones o molculas que lo
forman.
Si incide un RX sobre un cristal, ste
choca con los tomos haciendo que los
e- que se encuentren a su paso vibren
con una frecuencia idntica a la de
radiacin incidente y actan como
fuentes secundarias de nuevos frentes de
onda de los RX con la misma longitud de
onda y frecuencia.
n = 2d sin
Ley de Bragg
n es un nmero entero,
es la longitud de onda de los rayos X,
d es la distancia entre los planos de la red cristalina
es el ngulo entre los rayos incidentes y los planos de dispersin.
La condicin de mxima intensidad contenida en
la ley de Bragg, nos permite calcular detalles
sobre la estructura cristalina, o si se conoce la
estructura cristalina, determinar la longitud de
onda del rayos X incidente sobre el cristal.
La ley de Bragg permite estudiar las
direcciones en las que
la difraccin de RX sobre la superficie de
un cristal produce interferencias
constructivas.
Metodo de laue
El diagrama de
Laue es
simplemente una
proyeccin
estereogrfica de
los planos del
Cristal.
Se utiliza un Policromatico de RX
que incide sobre un cristal fijo y
perpendicularmente a este se
sita una placa fotogrfica plana
encerrada en un sobre a prueba
de luz. El haz directo produce un
ennegrecimiento en el centro
de la pelcula y por lo tanto, se
pone un pequeo disco de plomo
delante de la pelcula para
interceptarlo y absorberlo.
Hay dos geometras diferentes
en los diagramas de Laue,
dependiendo de la posicin del
cristal respecto de la placa
fotogrfica, transmisin o
reflexin.
Otros metodos con monocristales
Mtodo de rotacin o cristal giratorio
Se hace incidir un haz
de rayos X monocromticos
sobre un cristal, que rota a
una velocidad constante
alrededor de un eje
perpendicular a los rayos X.
La rotacin del cristal causa
que todos los puntos de la red
recproca atraviesen
consecutivamente la esfera
de Ewald, logrando as medir
las reflexiones necesarias.
Metodo del polvo
En ste mtodo la
muestra se
pulveriza lo ms
finamente posible
En la cmara de polvo un haz
monocromtico de rayos X pasa a
travs de un colimador dentro de
un cilindro de metal en el centro del
cual se encuentra la muestra de
polvo. Los haces difractados al
incidir sobre la muestra se registran
en una delgada pelcula fotogrfica
localizada en el interior de la pared
del cilindro. Cuando el haz
monocromtico incide sobre la
muestra se producen al mismo
tiempo todas las difracciones
posibles.
Cuando la pelcula se despliega
se observa una serie de arcos
concntricos y simtricos con
respecto a los dos orificios. Con
la cmara de polvo es posible
registrar reflexiones de ngulos
de hasta 180.
Difractometro de polvo de rayos x
Utiliza la radiacin monocromtica y una
muestra en polvo y registra la informacin
de las reflexiones mediante una traza de
tinta sobre una cinta de papel o mediante
recuento electrnico que puede ser
almacenado en un ordenador. La muestra
finamente pulverizada se extiende sobre un
porta de vidrio y se aglomera. El porta gira
segn la trayectoria del haz de rayos X al
mismo tiempo que el detector gira a su
alrededor para captar las seales de los
haces difractados. El detector no registra
todas las reflexiones a la vez en una
pelcula sino que mantiene un orden para
recibir por separado cada mximo de
difraccin.