ESPECTROMETRIA DE

FLUORESCENCIA DE RAYOS X
(FRX)
RAYOS X
DESCUBIERTOS POR ROENGTEN EN 1895
FLUORESCENCIA RAYOS X CON LONGITUD DE
ONDA DISPERSIVA (FRX-WD)
FLUORESCENCIA DE RAYOS X CON ENERGA
DISPERSIVA (FRX-ED)

ESPECTROMETRA DE FLUORESCENCIA
DE RAYOS X
GLOCKER Y SCHREIBER( 1928) FUERON LOS PRIMEROS EN
OBTENER ESPECTROS DE RAYOS X IRRADIANDO MUESTRAS CON
FLUJOS DE RAYOS X

Coster y Hevesy descubrieron el hafnio (Hf, Z=72) en zircones, tambien

Noddack, Tacke y Berg descubrieron el renio (Re,Z=75) en la columbita.

Determinacin de tierras raras : La, Ce, Pr, Nd,Pm,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,

Tm,Yb,Lu ; Sc, Y .

ANLISIS DE ROCAS
Elementos

Factor

Si

2,1404

SiO 2

Al

1,8900

Al 2O3

Fe

1,4298

Fe 2O3

Mg

1,6578

MgO

Ca

1,3992

CaO

Na

1,3479

Na 2O

1,2047

K 2O

Ti

1,6681

TiO 2

Mn

1,2913

MnO

2,2914

P 2O5

La norma C.I.P.W. es un mtodo de clculo para reconstituir una

composicin mineralgica a partir del anlisis qumico.
Los coeficientes moleculares son obtenidos dividiendo el porcentaje de
cada xido por el peso molecular.

ESPECTRO DE RAYOS X
The electromagnetic
spectrum
Espectro Electromagntico
103
long

wavelength (meters)
10-3
10-6
10-9

1
medium

Radio waves
103

106

10-9

10A

short

109

10-6

IR

UV

1012
1015
fr equency (Hertz)
10-3
1
ener gy (eV)

10-12

0.01A

X-rays
1018

103

-rays
1021

106

Produccin de Fluorescencia Rayos X

ATOMO DE MUESTRA

Flujo
RX
FRX - K

Un FLUJO de rayos X
colisiona con un electrn de
un orbital cercano al ncleo
atmico sobre el lmite de
absorcin del elemento,
siendo expulsado del tomo.
Los electrones de mayor
energa caen para llenar este
orbital , liberando una
FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Caracterstica del tomo
que lo produce
Para anlisis elemental desde
Na hasta U.

Moseley (1913)
Relacin entre K y NAtmico

Lneas Espectrales K y L
L

Lneas K : Transicin de
electrones de la capa L para
llenar la vacancia en la capa
K. Transicin ms frecuente,
CON UN PICO MUY
INTENSO.
Lneas K : Transicin
de electrones de la capa M
para llenara la vacancia en
la capa K.
Lneas L: Transicin de
electrones de la capa M para
llenar la vacancia en la capa L.

L
K
K

Capa K
Capa L
Capa M
Capa N

Lneas L : Transicin de

electrones de la capa N para llenar

la vacancia en la capa L.

FUNDAMENTO DE LA FRX

De la ley de Bragg:

= 2dsen
d= distancia interatmica de planos Atmicos de cristal dispersor.
= longitud de onda de la fluorescencia de rayos X dispersados de
los tomos de la muestra
= ngulo de dispersin.

LEY DE BRAGG

= 2dsen

ESPECTRMETRO DE FRX
Fluorescencia RX

Cristal dispersor
Tubo RX
Detector SC, P

Muestra

IR

Espectro FRX con longitud de

onda dispersiva

RELACIN ENTRE LA LONGITUD DE ONDA DE LA

FLUORESCENCIA CON EL NMERO ATMICO
Ley de Moseley

(1/)1/2 = c (z-)
z = Nmero atmico
c y son constantes

TUBO DE RAYOS X

Lneas Espectrales K y L
Tubo de Rayos X-Rh

Lneas K
Lneas L

RELACIN ENTRE LA LONGITUD DE ONDA DE LA

FLUORESCENCIA CON EL NMERO ATMICO
Ley de Moseley

(1/)1/2 = c (z-)
z = Nmero atmico
c y son constantes

Extremo del Tubo de

Rayos X - Ventana Be
Tubos de Rayos X
Voltaje
determina cules
elementos
pueden ser
excitados.
Ms energa =
menores lmites
de deteccin
La seleccin del
Anode determina
la optima fuente
de excitacin
(aplicacin
especfica).

Detector de Energa Dispersiva

La fluorescencia genera una corriente en el detector , de tal
manera que la altura del pulso producido es proporcional a
la energa a los respectivos rayos X ingresante s. En un
detector pensado para energa dispersiva XRF

Elemento Elemento
B
C
Elemento

Elemento
A

Seales Electrnicas

DETECTOR
Monocromadordetector

Analizador Multicanal

Los pulso de corriente en el Detector son traducidos

en cuentas (cuentas por segundo, CPS).
Los Pulsos son segregados dentro de los canales de
acuerdo a la energa va el MCA (Analizador
Multicanal).

Intensidad
(# of CPS
por Canal)

Seal del Detector

Canales, Energa

Detector de Diodo PIN

Enfriamiento: Termoelctricamente enfriado (Peltier)

Ventana: Berilio
Ratio de Cuentas: 3,000 40,000 cps
Resolucin: 150-250 eV a Mn k-alfa

Diodo PIN

Es una estructura de tres capas, siendo la

intermedia semiconductor intrnseco, y las
externas, una de tipo P y la otra tipo N
(estructura P-I-N que da nombre al diodo).

El DIODO PIN es un fotodetector , debido a

que la capa intrnseca se puede modificar para
optimizar su eficiencia cuntica y margen de
frecuencia

Configuracin Espectrmetro FRX-ED

Configuracin ms comunmente usada en

instrumentos FRX-ED

Preparacin de la Muestra
Polvo:
Molienda (< Malla 400 si es posible) para minimizar los efectos de
dispersin debido al tamao de partcula. Adicionalmente, la
molienda asegura que la medicin sea ms representativa de la
muestra completa, vs. la superficie de la muestra.
Presionando (hidrulicamente o manualmente) compacta ms de la
muestra dentro del rea de anlisis, y asegura densidad uniforme y
mejor reproducibilidad.

Solidos:
Orientar la superficie patrn en el mismo modo surface para minimzar
los efectos de dispersin.
El pulimiento de las superficies minimizar los efectos de dispersin.
Las muestras planas son ptimas para los anlisis cuantitativos.

Lquidos:
Las muestrad debern ser frescas al momento del anlisis y ser
analizadas en corto tiempo..
Las muestras no debern sedimentarse durante el anlisis.

PRENSA PARA BRIQUETEAR MUESTRAS

PORTAMUESTRA

Tipos de Anlisis

Anlisis Cualitativo multielemental

Identificacin de elementos de la muestra

Anlisis Semi-Cuantitativo
multielemental.- Con estndares
Referenciales

Anlisis Cuantitativo multielemental .en base a Estndares multielementales

Anlisis Cualitativo Multielemental

Los programas para identificacin automtica del pico son una
herramienta til en el exmen cualitativo multielemental

Etiquetas de
Elementos

Este espectro tambin contrasta la resolucin de un diodo detector

PIN con un contador proporcional para ilustrar la importancia de la
resolucin del detector en referencia al anlisis cualitativo.

Anlisis Cuantitativo
XRF es un mtodo de referencia,
los estndares son requeridos
para resultados cuantitativos.
Concentracin

Los estndares son analizados, las

intensidades obtenidas, y un
ploteo de calibracin es generado
(intensidades vs.
concentracin).

Intensidad

Los instrumentos XRF comparan

las intensidades espectrales de
muestras desconocidas con
aquellas de estndares
conociddos.

IDENTIFICACIN DE ELEMENTOS POR FRX

2d

sen

Elemento

4,027

57,4

28,7

0,48022452

1,93

Fe

26

4,027

48,8

24,4

0,41310534

1,66

Ni

28

4,027

45,0

22,5

0,38268428

1,54

Cu

29

4,027

41,8

20,9

0,3567388

1,44

Zn

30

Materiales de Referencia
Certificados (CRMs)

Los Materiales de Referencia Certificados

son materiales analizados y certificados
para tener montos exactos de un elemento.
Materiales estn disponibles de muchos
proveedores dependiendo de la matriz y
aplicacin. Ejemplos de proveedores::
NIST
VHG Labs
MBH
ARMI Brammer Standard

Estndares

Los estndares (tales como los materiales de referencia

certificados) son requeridos para el anlisis Cuantitativo.
Las concentraciones del estndar deben ser conocidas
con un mejor grado de precisin y exactitud que aquellas
requeridas para el anlisis.
Los estndares deben ser de la misma matriz que las
muestras a ser analizadas.
Los estndares deberan variar independiemente en
concentracin cuando las correcciones de absorcin son
usadas.

Anlisis Semi-Quantitativo

SLFP
Parmetros Fundamentales sin
Estndar

FP (con Estndares)
NBS-GSC, NRLXRF, Uni-Quant,
TurboQuant, etc

El algoritmo computa la
intensidad relacionada con la
concentracin y los efectos de
absorcin
Los Resultados estn
tpicamente dentro del 10 - 20
% de los actuales valores.

La concentracin relacionada a
la intensidad es determinada
con los estndares, mientras que
el FP maneja los efectos de
absorcin
Los Resultados estn
usualmente dentro del 5 - 10 %
de los actuales valores

USOS DEL FRX

Anlisis de rocas y suelos
Aleaciones ferrosas y no ferrosas
Industria del cemento
Materia prima y combustibles
nucleares
Aceites e industria qumica