TECNICAS DE

CARACTERIZAC
ION MINERA Y
SU APLICACIN
EN LA
EXPLORACION

Resumen
En este trabajo se presenta una sntesis de las tcnicas
analticas ms utilizadas en la caracterizacin mineral, y
su aplicacin a la exploracin y explotacin minera. Las
tcnicas han sido clasificadas en 2 grupos. El primer
grupo incluye a las tcnicas de mayor uso ("tcnicas
convencionales"): (I) difraccin de polvo de rayos X y
difraccin cuantitativa de rayos X, (II) Microscopio
electrnico de barrido con analizador de energas (SEM
EDS), (III) catodoluminiscencia, y IV) microsonda
electrnica (EMPA). El segundo grupo abarca un grupo de
tcnicas menos accesible, y mucho ms caras, ("tcnicas
no convencionales"): (I)Particle Induced XRay Emission
(MicroPIXE), (II) Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS,
(III) LaserAblationInductively Coupled PlasmaMass
Spectrometry(LAICPMS).La
mayor
parte
de
la
compilacin esta dedicada a las tcnicas convencionales
(DRX, SEMEDS y EMP), las cuales pueden ser de mayor
impacto en el campo de la pequea minera.

1. Introduccin
Con frecuencia, el estudio que se realiza para la valoracin
de un depsito mineral implica tan slo el estudio genrico
de las leyes de los elementos que se espera puedan ser
interesantes en el tipo de depsito, obviando el estudio
mineralgico detallado de las asociaciones minerales. No
obstante, un estudio detallado de la mineraloga no tiene
tan slo connotaciones acadmicas como a veces se cree,
sino que puede ayudar a incrementar el valor aadido de la
explotacin, e incluso por s slo puede ayudar a descartar
o confirmar el inters del yacimiento. Teniendo en cuenta el
bajo costo de los anlisis mineralgicos, cuando se
comparan con otros mtodos, no deja de ser sorprendente
este comportamiento errneo de muchas empresas.

El objetivo de este trabajo es el de ofrecer una revisin de las

tcnicas de caracterizacin mineral ms usuales, as como
valorar la incidencia de los estudios mineralgicos en la
exploracin, valoracin y explotacin de yacimientos
minerales. Las tcnicas han sido clasificadas en 2 grupos. El
primer grupo incluye a las tcnicas de mayor uso, de un
coste econmico relativamente bajo, las cuales podemos
denominar "tcnicas convencionales":
(I) Difraccin de polvo de rayos X y difraccin cuantitativa de
rayos X
(I) Microscopio electrnico de barrido con analizador de
energas (SEMEDS)
(I) Catodoluminiscencia
(IV) Microsonda electrnica (EMP)

El segundo grupo abarca un grupo de tcnicas menos

accesibles, y mucho ms caras, las cuales denominamos en
este trabajo "tcnicas no convencionales":
(I)Particle Induced XRay Emission (MicroPIXE)
(II)Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
(III)LaserAblation
Inductively
Spectrometry(LAICPMS)

Coupled

PlasmaMass

La mayor parte de esta compilacin est dedicada a las

tcnicas convencionales (DRX, SEMEDS y EMP), las cuales
pueden ser de mayor impacto en el campo de la pequea
minera.

2. Difraccin de polvo cristalino

La difraccin de polvo es un mtodo de anlisis
estructural, que permite identificar los minerales por su
estructura cristalina. No se trata pues de un mtodo
analtico qumico, pero, como veremos, permite
indirectamente estimar la composicin de la muestra
analizada con una buena aproximacin del contenido en
elementos mayoritarios. Existe mucha documentacin
sobre el mtodo; entre las compilaciones clsicas merecen
citarse las de Klug y Alexander (1954), Bish y Post (1989)
y Cullity y Stock (2001).
Prcticamente todos los minerales son cristalinos, es decir,
disponen sus componentes qumicos (tomos, iones,
molculas) de forma regular, llenando el espacio.
Eventualmente, todos los cristales pueden desarrollar
formas exteriores polidricas, aunque gran parte de la
masa
mineral
no
manifiesta
esta
propiedad
necesariamente. La distribucin regular en el espacio de
los componentes del mineral se describe mediante las
redes cristalinas, que ponen de manifiesto la repeticin
peridica de la celda del mineral.

La celda es pues una unidad, en forma de paraleleppedo,

que repetida idnticamente llena todo el espacio del cristal.
La descripcin de la celda proporciona toda la informacin
sobre la estructura cristalina del mineral. Existen dos
niveles de descripcin de la celda: a) los parmetros del
paraleleppedo, tres aristas y tres ngulos que
denominamos a, b, c, , , ; b) la disposicin de los
tomos en la celda. Cada mineral se caracteriza, en primer
lugar, por sus parmetros de celda. Puede ocurrir que dos
minerales distintos tengan parmetros de celda casi
idnticos. En estos casos, para distinguirlos, hay que tener
en cuenta el segundo nivel, es decir, qu tomos
(composicin) hay en la celda y cmo se disponen
(estructura). Como veremos, la difraccin de polvo
cristalino nos informa sobre estos dos niveles y, por tanto,
nos permite distinguir perfectamente minerales con redes
similares. A continuacin damos algunas nociones sobre el
fenmeno de la difraccin.

Las redes peridicas cristalinas estn formadas por planos

reticulares regularmente espaciados, de la misma forma
que una red de dos dimensiones est formada por hileras
de puntos regularmente espaciadas. Una red cristalina
contiene planos reticulares en orientaciones diversas, que
se notan mediante tres enteros "h, k, l". El espaciado que
corresponde a cada sucesin de planos paralelos hkl se
indica mediante el smbolo dhkl. La ley de Bragg de la
difraccin permite obtener para cada mineral los valores de
sus espaciados (por ejemplo d100, d200, d001,......d573...etc) y de
este modo permitir su identificacin. La ley de Bragg
establece que los rayos X se reflejan sobre los planos
reticulares de los cristales segn un ngulo (ngulo ) que
depende del espaciado dhkl: Ley de Bragg: =2dhklsin
Donde es la longitud de onda de los rayos X.

Cada mineral est caracterizado por una serie de valores

de dhkl. Estos valores son conocidos y tabulados en una
base de datos. De este modo, mediante los valores
obtenidos en la experiencia de difraccin, y consultando la
base de datos, podemos identificar el mineral. Puede
ocurrir que dos minerales distintos posean parmetros de
celda casi idnticos, en cuyo caso los espaciados d hklsern
casi iguales. En estos casos, hay que tener en cuenta otro
resultado de la difraccin: la intensidad con la que cada
plano reticular refleja los rayos X. La intensidad depende
de los tomos de la celda, y de su distribucin. En
resumen, los espaciados reticulares de los minerales
dependen de los parmetros de la red, mientras que la
intensidad de los rayos X reflejados por los planos
reticulares depende de la estructura. La identificacin de
minerales mediante difraccin utiliza, en primera
instancia, los valores de los espaciados y, en segunda
instancia, las intensidades reflejadas.

As, en teora, sin entrar todava en la descripcin de los

dispositivos instrumentales, el mtodo de identificacin
consiste en: a) Obtener los ngulos de reflexiones; b)
Medir la intensidad reflejada y c) calcular, mediante la ley
de Bragg, los espaciados reticulares. La lista de los
espaciados, ordenados en orden decreciente (por lo tanto en
orden creciente del ngulo ), con la correspondiente
intensidad reflejada es la base de la identificacin de
minerales mediante difraccin.
El mtodo de polvo cristalino permite obtener una lista de
espaciados e intensidades (en adelante datos de difraccin)
de la forma ms rpida y sencilla. La muestra de mineral o
de roca a identificar se pulveriza cuidadosamente, y el polvo
se dispone en un portamuestras (Figura 1). En general,
algunos mm3son suficientes. El resultado de la pulverizacin
es la obtencin de un nmero muy elevado de pequeos
cristalitos, por ejemplo 109cristalitos. Cada cristalito puede
reflejar los rayos X si est en la orientacin adecuada
respecto del haz de rayos X.

El nmero tan elevado de

cristalitos en la muestra
garantiza que todos los
planos reticulares tendrn
ocasin
de
producir
reflexiones
de
Bragg,
porque, para cada plano
reticular dhklsiempre habr
un
cierto
nmero
de
cristalitos en la orientacin
adecuada respecto del haz
de rayos X. Tpicamente, el
polvo puede disponerse
formando una superficie
plana de 12 cm2, o
alternativamente, llenando
un capilar de vidrio no
absorbente,
con
un
dimetro interior de unos
0.5 mm.

El instrumento para la medida del difractograma es el

difractmetro de polvo. Consiste en una fuente productora
de rayos X, un portamuestras montado sobre un gonimetro
giratorio y un detector (Figura 2). El difractograma es un
grfico que en abscisas indica el ngulo de difraccin y en
ordenadas la intensidad correspondiente. Los mximos o
picos de intensidad corresponden a reflexiones de Bragg.
Obtenido el difractograma, y extrados los datos de
difraccin de la muestra problema, la identificacin consiste
en hallar en la base de datos el mineral cuyo difractograma
corresponde con el problema. Puesto que la base de datos de
difraccin de polvo consta de muchos miles de entradas, es
preciso utilizar un mtodo sistemtico que conduzca con
seguridad a la solucin del problema. Desde 1936 existe un
mtodo manual de identificacin (Mtodo Hanawalt), muy
eficiente. Sin embargo, actualmente, la mayora de
laboratorios utilizan la identificacin automtica mediante
potentes productos de software que son proporcionados por
los mismos proveedores de equipos de difraccin.

Sea
la
identificacin
manual o automtica, es
necesario disponer de
una base de datos de
difraccin. Aunque cada
operador puede construir
su propia base de datos,
es
ms
sencillo
suscribirse a la base de
datos del International
Center
for
Diffraction
Data
(ICDD)
que
proporciona la base de
datos en soporte digital o
en papel (por ejemplo:
Hanawalt Search Manual,
Inorganic
Phases;
Figura 3).

Es evidente que la muestra problema puede ser una mezcla

de dos, tres o muchos minerales. En estos casos, el
difractograma experimental (difractograma multifsico) es
la superposicin de los difractogramas individuales de cada
mineral por separado (Figura 4). Por lo tanto, en una mezcla
compleja de muchos minerales, el difractograma presentar
igualmente una complejidad grande. La identificacin, en
estos casos, requerir del buen sentido y la experiencia del
usuario del mtodo. En el difractograma multifsico existe la
posibilidad de cuantificar el porcentaje de cada mineral en la
mezcla: en efecto, el mineral ms abundante producir
intensidades de difraccin mayores y la altura relativa de los
picos de difraccin permite obtener la cantidad de cada
fase. En este mtodo se pueden detectar minerales con
menos de 1% en peso, pero en algunos casos especiales que
permiten
separacin
(minerales
densos,
minerales
magnticos) el lmite de deteccin sobre la mezcla original
(antes de proceder a la separacin) puede ser mucho menor
(por ejemplo 0.01%).

El tiempo total en un anlisis de rutina, usando equipos

modernos e identificacin automtica es inferior a los 30
minutos. Adems, los equipos modernos realizan las
medidas en serie de forma automtica, usando un
portamuestras de 15, 20 o ms muestras.

La difraccin de polvo ha sido ampliamente utilizada, a nivel

cualitativo, para identificar minerales en una mezcla. No
obstante,
en
los
ltimos
aos
se
han
mejorado
sustancialmente las aplicaciones cuantitativas a partir del
mtodo de Rietveld (vase para una revisin del mtodo, por
ejemplo, Esteve, 2006). Esta poderosa herramienta, con el
apoyo de software adecuado, posibilita el refinamiento de
estructuras cristalinas a partir del diagrama de polvo. Pero,
adems, si se conocen los datos estructurales de los minerales
de una mezcla, se pueden llegar a establecer las
composiciones qumicas de los componentes (en el caso de
que cada uno de ellos forme parte de una serie isomrfica) y
las proporciones de cada uno de los minerales en la mezcla.
Este mtodo, por consiguiente, ofrece unas posibilidades
enormes para la caracterizacin de fases en mezclas
criptocristalinas. Evidentemente, ello incluye suelos, lateritas,
arenas, concentrados de batea, escombreras de minas,
material extrado de sondeos, etc.

Desafortunadamente, el mtodo no es todava muy aplicado

en minera, siendo por tanto un mtodo con enormes
capacidades de expansin a la resolucin de problemas en
este campo.
Como conclusin, podemos afirmar que el mtodo de
difraccin de polvo es un mtodo muy eficiente de
identificacin de minerales, individuales o mezclados.
3. Microscopio electrnico de barrido con analizador de
energas (SEM/ESEMEDS)
El microscopio electrnico de barrido (scanning electron
microscope, SEM) se basa en la obtencin de una imagen de la
muestra a partir del barrido de la misma con un haz de
electrones, como resultado de las interacciones entre los
electrones incidentes y la muestra.

El SEM se compone de varios elementos bsicos: un can

de electrones con un filamento emisor de electrones, lentes
magnticas que dirigen y focalizan el haz de electrones sobre
la muestra, sistema de barrido, portamuestras mvil y con
giro universal, sistemas de obtencin de la imagen y de
anlisis (Figura 5). Para analizar una muestra en el SEM se
requieren generalmente condiciones estrictas de vaco en el
interior del microscopio, ya que de lo contrario los electrones
pueden ser dispersados por las molculas de aire. Adems,
los mejores resultados se obtienen con muestras
conductoras o convertidas en conductoras mediante un
recubrimiento pelicular con un material conductor
(generalmente, grafito; pueden emplearse tambin oro o
aluminio). No obstante, actualmente existen microscopios
electrnicos que no precisan ni recubrimiento de la muestra
ni alto vaco en la cmara. Son los denominados
microscopios
electrnicos
ambientales
(Environmental
Scanning Electron Microscope, ESEM).

Las interacciones entre los electrones incidentes y la

muestra originan la emisin de electrones secundarios, de
electrones retrodispersados (Figura 6) y de rayos X
caractersticos de los elementos presentes en la muestra
(para el anlisis qumico cualitativo y, en algunos casos,
semicuantitativo). En el SEM, diferentes detectores
amplifican la seal emitida por la superficie de la muestra
cuando es barrida por un delgado haz de electrones. La
intensidad de la seal amplificada es visualizada en una
pantalla de televisin convencional.

Las interacciones entre los electrones incidentes y los tomos

de la muestra se clasifican en elsticas, inelsticas y emisin
de radiacin de frenado. Las colisiones elsticas modifican la
trayectoria de los electrones incidentes, mientras que las
colisiones inelsticas provocan una prdida de energa. Los
electrones secundarios (secondary electrons, SE) son
electrones de la muestra que son emitidos durante las
colisiones inelsticas (Figura 6). En cambio, los electrones
retrodispersados (backscattered electrons, BSE) son aquellos
electrones del haz incidente que son reflejados por la muestra
Los electrones secundarios tienen, por convenio, una energa
tras sufrir mltiples colisiones elsticas e inelsticas (Figura 6
menor de 50 e V. El nmero de electrones secundarios que se
).
produce durante el bombardeo de la muestra vara con el
ngulo de incidencia del haz sobre la muestra, pero, en
cambio, el nmero atmico promedio de los elementos
presentes en la muestra tiene poca influencia (Figura 7). En
cambio, el nmero de electrones retrodispersados aumenta
casi linealmente con el nmero atmico Z (Figura 7).

Por consiguiente, si la muestra es rugosa, cada sector de la

muestra enviar hacia los detectores una diferente
cantidad de electrones secundarios dependiendo de la
inclinacin de cada sector; en la pantalla, se apreciarn
unas zonas iluminadas (correspondientes a zonas que
producen muchos electrones secundarios), otras zonas de
sombra
(zonas
que
producen
pocos
electrones
secundarios) y zonas con diferentes claroscuros (con
diversas
producciones
intermedias
de
electrones
secundarios). Es precisamente esta asociacin de zonas
iluminadas, oscuras y claroscuras lo que da una sensacin
de relieve (figura 8). Por consiguiente, los electrones
secundarios son ideales para el estudio morfolgico de las
muestras, alcanzando una resolucin que puede ser
inferior a 1 nm. Todo ello encuentra aplicacin, por
ejemplo, en el estudio de detalle de la morfologa de
granos de arena en un concentrado de batea o el de
microcristales en suelos o zonas de alteracin, y en el de
minerales de las arcillas.

El nmero de electrones del haz incidente que son

retrodispersados depende de la composicin qumica
promedio del mineral excitado. De este modo, cuanto ms
alto sea el promedio de los nmeros atmicos de los
elementos que componen el mineral, tanto mayor ser el
nmero de electrones retrodispersados.
Por consiguiente, los minerales pesados emiten ms
electrones retrodispersados que los ligeros, de modo que
los detectores captan mucha ms intensidad y, por tanto,
transmiten a la pantalla una imagen brillante. As pues, las
reas donde existan ms elementos pesados se ven ms
brillantes y donde aparezcan elementos ms ligeros, ms
oscuras. Por tanto, los detectores de electrones
retrodispersados son muy tiles para obtener imgenes de
los cambios composicionales (mapas de contraste de Z),
obtenindose los mejores resultados sobre muestras
pulidas.

Como aplicaciones de estos principios, por ejemplo, destaca

la posibilidad de poner de manifiesto zonaciones
intracristalinas, incluso aqullas que puedan ser progresivas;
tambin son muy tiles para obtener secuencias de
cristalizacin a microescala (Figura 9). Pero, sobre todo, las
imgenes de electrones retrodispersados sern muy tiles
para localizar minerales con elementos pesados, tanto en
concentrados de batea como en muestras pulidas (Figura 10
).
Por otra parte, durante las colisiones inelsticas, los
electrones incidentes pueden arrancar electrones de las
capas ms profundas de los tomos, siempre y cuando la
energa del electrn incidente sea superior al umbral de
ionizacin de la capa atmica en cuestin. Cuando un tomo
tiene una vacante en una capa interna, se produce un salto
de un electrn de una capa superior para llenar dicha
vacante, que dejar otra vacante en la capa superior.

sta se llenar a su vez mediante un salto electrnico de

una capa superior y as sucesivamente. Durante cada salto,
el tomo puede emitir rayos X caractersticos, que se
denominan as ya que su energa es "caracterstica" de cada
elemento qumico (la energa de un rayo X es igual a la
diferencia de energas de los niveles atmicos involucrados).
Como resultado del impacto electrnico, el tomo emite una
familia de rayos X caractersticos.
Los microscopios electrnicos de barrido pueden incorporar
un detector de de rayos X del tipo "dispersivo" en energa
(Energy Dispersive Spectrometer, EDS) que permite
identificar cules son las energas de los rayos X emitidos
por la muestra y, por lo tanto, saber qu elementos
qumicos existen en la muestra. De este modo, al espectro
continuo de rayos X, originado por la radiacin de frenado,
se le superpone una serie de picos que se corresponden con
las radiaciones caractersticas de cada uno de los elementos
presentes en la muestra (Figura 11).

Este espectro se genera en muy pocos segundos y la

identificacin del elemento que genera cada uno de los
picos es inmediata, de modo que el anlisis cualitativo de
todos los elementos qumicos (a partir del berilio)
presentes en la muestra por encima del lmite de
deteccin del mtodo puede realizarse en escasos
segundos. Por tanto, este mtodo es prctico (en tiempo y
costo) para realizar anlisis cualitativos puntuales. Puesto
que el haz de electrones que excita la muestra puede ser
muy fino (menos de 1 m), el uso del EDS en el SEM
permite identificar los elementos presentes en volmenes
de muestra inferiores a 1 m3; adems, como se puede
trabajar con corrientes de sonda muy bajas, el dao
debido a la radiacin es bajo y por tanto es un mtodo
poco destructivo y puede aplicarse al estudio de minerales
lbiles, en particular, algunos minerales hidratados que
aparecen como productos de alteracin de balsas de
residuos y que tienen implicaciones medioambientales.

Por otra parte, la intensidad de los rayos X producidos por

cada elemento depende de la cantidad del mismo que haya
en la muestra, de modo que el espectro en energa de los
rayos X emitidos (intensidad versus energa) contiene dos
niveles de informacin: por una parte, al espectro continuo
se le superpone el espectro caracterstico, en el que la
posicin de cada pico indica la energa de una radiacin X
caracterstica de un elemento; por otra parte, la intensidad
de cada pico (o lo que es lo mismo, la altura del mismo), es
directamente proporcional a la cantidad de este elemento
en la muestra. Por tanto, puede utilizarse este mtodo para
determinar la composicin qumica de un volumen de
muestra que, si lo deseamos, puede ser puntual, del orden
de 1 m3.

Naturalmente, si se dispone de patrones adecuados con

composicin conocida, este anlisis cualitativo se puede
transformar en cuantitativo, de forma anloga a como se
trabaja en cuantificacin con la microsonda electrnica
(vase apartado siguiente). Tambin se puede utilizar un
mtodo sin patrones (denominado anlisis "standardless").
Desgraciadamente, muchos elementos producen rayos X con
energas prximas a las de otros elementos y debido a la
baja resolucin espectral de los espectrmetros EDS, los
anlisis obtenidos no siempre son muy precisos, pese al
desarrollo reciente de software que ha mejorado los
resultados. No obstante, debido a que puede trabajar con
bajas corrientes de sonda, es un mtodo muy poco
destructivo, que lo convierte en imprescindible para el
anlisis semicuantitativo de cristales de tamao de grano
muy fino (menos de 1 m), incluso hidratados, y en muestra
rugosa. Por consiguiente, el microanlisis semicuantitativo
mediante SEMEDS es una herramienta potencialmente muy
poderosa y posiblemente infrautilizada actualmente en el
campo de las Ciencias de la Tierra.

4. Anlisis mediante catodoluminiscencia (CL)

Aunque la catodoluminiscencia es una herramienta muchsimo
ms utilizada en exploracin de cuencas petrolferas, su
potencial en la exploracin minera es importante y no debe ser
pasado por alto.
4.1. Fundamentos del mtodo de la catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia es un caso particular de luminiscencia
en que la fuente de excitacin son electrones. La
catodoluminiscencia se produce slo en el caso de que la
estructura cristalina afectada presente algn tipo de defecto,
entre los que cabe citar alguno de los siguientes: a) no
estequiometra, b) imperfecciones estructurales (desorden,
destruccin por radiacin, destruccin por impacto), c)
impurezas substitucionales o intersticiales que distorsionen la
red cristalina. Es comn que los cristales naturales presenten
defectos, que actuarn como zonas en que se absorbe de
forma preferente la energa del haz de electrones. De este
modo, los dominios de imperfeccin se convierten en centros
de luminiscencia.

La intensidad de la catodoluminiscencia es funcin de la

densidad de corriente sobre la muestra y el voltaje
(potencial de aceleracin) de la corriente de sonda aplicada.
CoyYII (1970) demostr que la intensidad de la
catodoluminiscencia vara en funcin de la corriente
electrnica aplicada y del mineral: a) la catodoluminiscencia
aumenta de forma no lineal con la intensidad de corriente,
pero cuando se alcanza una determinada intensidad de
corriente electrnica (nivel de saturacin), tpica de cada
mineral, deja de incrementar la intensidad de la
catodoluminiscencia; b) el aumento de la intensidad por
encima de este nivel conlleva la disminucin de la
El
equipo de catodoluminiscencia
(Figura 12a) puede ser
catodoluminiscencia
(fase de inhibicin).
montado en un microscopio electrnico o en un microscopio
ptico (Figura 12b). En este caso, se pueden complementar
los datos texturales obtenidos con microscopa ptica de luz
transmitida y/o reflejada con los de catodoluminiscencia.

Hay dos tipos de equipo de catodoluminiscencia : de ctodo

"fro" (1020 keV) y de ctodo "caliente" (2530 keV). Las
catodoluminiscencias trabajan normalmente a 1020 keV y a
15 mA de corriente. No obstante, la catodoluminiscencia de
algunos minerales significativos, como el cuarzo, slo es
apreciable con ctodo "caliente". Es preciso respetar las
normas de trabajo para cada equipo, pues se corre el riesgo
de que en condiciones extremas se generen rayosX que
pueden ser peligrosos para la salud de los investigadores.
Como en todos estos casos, se trabaja con lminas no
cubiertas. Es preciso evitar los cementos tipo blsamo del
Canad y Lakeside, que pueden evaporar y, por tanto,
romper la muestra y contaminar el equipo de vaco. Algunas
resinas epoxy dan catodoluminiscencia amarillenta. Aunque
no es un requisito pulir la muestra, se obtienen mejores
resultados con muestras pulidas.

En el caso de que el equipo trabaje con ctodo fro no se

requiere ningn tratamiento previo de la muestra, aunque en
caso de que se estudien carbonatos Ebers y Kopp (1979)
proponen teir primero la muestra con solucin de ferrocianuro
potsico. La catodoluminiscencia caliente, en cambio, precisa
recubrimiento de la muestra. La muestra puede ser estudiada
en una lmina delgada pulida.
4.2. Aplicaciones de la catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia tiene sus principales aplicaciones en el
estudio textural de la lmina, y puede reforzar las
observaciones realizadas con microscopa ptica convencional.
Los casos ms tpicos son los siguientes (Marshall, 1988):
I) Distribucin de minerales en una muestra, en base a que
cada mineral presenta una catodoluminiscencia diferente. El
caso ms utilizado es la discriminacin de carbonatos, pero
puede ser aplicado a la discriminacin de otros minerales, entre
ellos, los ricos en tierras raras.

II) Apoyo para reconocer volmenes pequeos de una fase

mineral, como por ejemplo vetas fnas, inclusiones, pelculas,
etc. Este aspecto es muy importante a la hora de estudiar
las propiedades mecnicas de una roca o agregado.
III) Si existe en un mismo grano mineral una variacin
qumica en el elemento activador a lo largo del proceso de
cristalizacin se pueden producir importantes variaciones en
la
catodoluminiscencia
que
ayudan
a
remarcar
inhomogeneidades
en
el
grano:
zonaciones,
sobrecrecimientos, reemplazamientos, exsoluciones, etc.
Este aspecto es crtico para mostrar cambios en el ambiente
deposicional del mineral, con todo lo que ello implica para la
modelacin
del
depsito.
Por
consiguiente,
la
catodoluminiscencia debera realizarse anteriormente a
cualquier estudio geoqumico de detalle.

IV) El color de la catodoluminiscencia da una idea de la

composicin qumica del mineral. Aunque este aspecto no
es cuantitativo, el elemento presente puede ser un
indicador de un determinado proceso mineral y, por
consiguiente, una gua para la exploracin minera.
V) En agregados minerales, la existencia de diferentes
generaciones de un mismo mineral puede ser diferenciada
con ayuda de la catodoluminiscencia. Este aspecto es
importantsimo para diferenciar diferentes generaciones de
carbonatos (Figura 12c), un trabajo crtico en la exploracin
petrolera. Este aspecto puede ser tambin interesante en la
modelacin de procesos genticos de gangas o menas de
yacimientos minerales, en particular, en el estudio
geoqumico.

5. Microanlisis
(EMPA)

mediante

microsonda

electrnica

La microsonda electrnica es el mtodo ms utilizado

actualmente para el anlisis qumico puntual rutinario de
minerales. La idea original del microanlisis utilizando los
rayos X secundarios, generados por un haz de electrones
focalizados sobre una muestra slida pulida, fue de Rai
mond Castaing (Castaing y Guinier, 1950; McGee y Keil,
2001). Indiscutiblemente, la comunidad geolgica est en
una eterna deuda de gratitud con Raimon Castaing (vase
revisin de McGee y Keil, 2001).

5.1. Fundamentos de la microsonda electrnica

En una primera aproximacin, la microsonda electrnica
(electronmicroprobe analyzer, EMPA) se puede considerar
como un microscopio electrnico de barrido que incluye
unas unidades analizadoras adicionales, los espectrmetros
dispersivos en longitud de onda (WDS,wavelength
dispersive spectrometer;Figura 13). La principal diferencia
es que la EMPA est especialmente diseada para el anlisis
cuantitativo, mientras que el SEM est diseado para
obtener imgenes de la muestra. Los espectrmetros WDS
separan las radiaciones X caractersticas por su longitud de
onda. Para ello, se utilizan cristales analizadores para
separar las radiaciones X por medio de la ley de Bragg,
detectores de radiacin para medir los rayos X dispersados
por los cristales, y se comparan las intensidades de rayos X
emitidas por la muestra con las de patrones de composicin
conocida.

Como en el microscopio electrnico, la muestra que se va a

analizar (probeta o lmina delgada, que debe estar muy
bien pulida y extremadamente limpia y seca) es
previamente convertida en elctricamente conductora,
mediante un recubrimiento fino de algn material conductor.
El material conductor es mayoritariamente grafito, pero
tambin puede ser aluminio u oro. La muestra
elctricamente conductora es introducida en la cmara
mediante un portamuestras, al vaco, y se busca la zona que
se quiere analizar con la ayuda del microscopio ptico y de
las imgenes de electrones secundarios y retrodispersados.
Para ahorrar tiempo y dinero, las zonas en que se quiere
obtener anlisis cuantitativo deben estar adecuadamente
marcadas y fotografiadas (a fn de localizar rpidamente los
puntos deseados) y analizadas cualitativamente (a fn de
programar la microsonda directamente para analizar los
elementos necesarios).

De este modo, cuando tenemos localizado el punto donde

queremos realizar el anlisis, enfocamos el haz de
electrones en el punto de inters y comienza el anlisis
propiamente dicho. A partir de este momento cada uno de
los elementos que constituyen la sustancia que se
encuentra en la superficie (hasta unas pocas micras de
profundidad) responden emitiendo una familia de rayos X
caractersticos. Esto implica que, mientras dura el impacto
electrnico, la muestra emite continuamente diversas
radiaciones X en todas las direcciones, cada una de las
cuales tiene una energa (y por tanto una longitud de onda)
caracterstica de un elemento.
El problema que se plantea en este momento es el de
analizar por separado las radiaciones X en un detector.
Habitualmente se usan contadores proporcionales de rayos
X, que pueden determinar con mucha precisin la
intensidad de rayos X, y esta magnitud es proporcional a la
cantidad de la substancia que est produciendo la
radiacin.

El problema es que estos detectores no pueden discriminar

entre las radiaciones de cada uno de los elementos. Por
esto, se requiere separar las radiaciones de cada uno de los
elementos de manera secuencial. Esta separacin se realiza
por medio de los cristales analizadores.
Los espectrmetros WDS se acoplan alrededor de la
cmara. La microsonda puede contar con diversos
espectrmetros, entre 1 y 5. A grandes rasgos, cada
espectrmetro consta de:
a) Una ventana estrecha que permite el paso al interior del
espectrmetro de las radiaciones X que tienen el mismo
ngulo de salida (takeof); por tanto, las radiaciones X de
todos los elementos que estn presentes en la muestra
entran en el espectrmetro siguiendo todas ellas la misma
trayectoria, pero cada una de ellas con su propia energa (o
longitud de onda).

b) Uno o diversos cristales analizadores giratorios situados

en la trayectoria de las radiaciones X y que utilizaremos para
la separacin de las radiaciones; de este cristal conocemos
su estructura.
c) Uno o diversos contadores proporcionales que analizan y
realizan el conteo de cada una de las radiaciones separadas
por los cristales.
La separacin de las diferentes radiaciones X se realiza de
forma secuencial, aprovechando que cada una de ellas tiene
una longitud de onda caracterstica, a partir del fenmeno de
la difraccin de rayos X por redes cristalinas. Recordemos la
ecuacin de Bragg:

n=2dhklsin

donde n representa el orden de difraccin, la longitud de

onda de una radiacin determinada, dhklel espaciado
reticular de un plano {hkl} de un cristal y el ngulo de
incidencia.
sta es una ecuacin con una sola solucin para , en caso
que consideremos n=1, posicionemos el cristal en un ngulo
determinado y dispongamos de un cristal con un plano
dhkldeterminado.
Por tanto, si queremos separar una radiacin X determinada
(R1) del resto, como en nuestro caso, se puede utilizar el
fenmeno de la difraccin por redes cristalinas (redes de
difraccin): podemos intercalar un cristal de espaciado
reticular conocido en la trayectoria de los rayos X que
emergen de la ventana. El ngulo que forma el plano d hkldel
cristal con la radiacin lo podemos variar a nuestra
conveniencia, de manera que podemos controlar qu
radiacin difracta y cul no.

Este cristal se dispone de manera que la radiacin que

interese seleccionar incida con un ngulo . De esta
manera, de todas las radiaciones X recibidas en el cristal
analizador, el cristal slo difracta hacia el detector la
radiacin cuya cumple la ley de Bragg. El resto puede ir
hacia otros posibles cristales analizadores que pueden
estar posicionados para enviar cada una de las radiaciones
seleccionadas hacia un detector.
El detector realiza el conteo de la radiacin X que le llega
de cada elemento en un tiempo determinado. Una vez
cuantificada esta intensidad de la radiacin recibida, la
medicin de este elemento queda terminada. A partir de
este momento, se repite la operacin para otro elemento,
cambiando la orientacin del cristal, el tipo de cristal, o
ambas cosas. Esta operacin se repite hasta que se han
analizado todos los elementos de la muestra (Figura 14).

Cada detector mide las cuentas de radiacin X que recibe en

cada tanda. La intensidad de una determinada radiacin X
depende de la cantidad del elemento correspondiente que
haya en la muestra. Para determinar la cantidad de un
elemento determinado, se compara la intensidad producida
por el mineral con la que generan un patrn de composicin
conocida, de acuerdo con la siguiente ecuacin:

Im/Ip= Cm/Cp[ZAF(Cm)]
donde Imes la intensidad de la radiacin X generada por la
muestra, Ipes la intensidad de la radiacin X generada por el
patrn de composicin conocida, Cmes la concentracin del
elemento problema en la muestra, Cpes la concentracin del
mismo elemento en el patrn y ZAF es la denominada
correccin por efecto de matriz. sta correccin no sera
necesaria si muestra y patrn se comportaran de manera
similar frente al haz de electrones.

Como en la prctica no es as, es necesario corregir con

factores que tengan en cuenta las diferencias de nmero
atmico (Z), absorcin de rayos X (A) y fluorescencia (F) entre
muestra y patrn. En sta ecuacin conocemos Ime Ip(puesto
que es la lectura que nos da el detector en cada caso) y C py,
por tanto, podemos obtener Cm, es decir, la concentracin del
elemento de inters. Ya que las correcciones ZAF dependen
de la propia concentracin Cm,sta se debe obtener mediante
un proceso iterativo. Obviamente, si se utiliza un patrn de
composicin similar a la de la muestra las correcciones ZAF
sern mnimas.

5.2. Aplicaciones de la microsonda electrnica

Excelentes revisiones sobre la aplicacin de EMPA a las
ciencias geolgicas se pueden encontrar en McGee y Keil
(2001), Bowles (2002) y Reed (2005). La posibilidad de
obtener anlisis qumicos cuantitativos de minerales permite
el estudio de muchos problemas geolgicos. Por ejemplo,
establecer las condiciones de temperatura y presin de los
minerales, o de las rocas en que ellos se encuentran. Las
principales aplicaciones de EMPA a las ciencias geolgicas
5.2.1.
Anlisis qumico cuantitativo puntual de
son:
elementos mayores
La microsonda electrnica permite el anlisis qumico
cuantitativo de volmenes muy pequeos (del orden de 1
m3), lo que posibilita el anlisis puntual sistemtico de
granos heterogneos (zonados, exsoluciones). Los elementos
que podemos analizar con este proceso son los de nmero
atmico mayor que 3 (a partir del berilio, inclusive) hasta el
uranio (con microsondas blindadas podemos analizar tambin
elementos actnidos con Z mayor que el uranio).

Por desgracia, no se pueden analizar litio o helio, y mucho

menos an, hidrgeno, cosa que implica que el anlisis de
minerales hidratados tiene ms dificultades. En cuanto a los
lmites de deteccin, dependen de cada elemento y
especialmente de las condiciones de anlisis (energa y
corriente del haz de electrones, tiempo de conteo, etc.), pero
de forma rutinaria se trabaja bien hasta las centsimas de %;
llegar al nivel de partes por milln (ppm, 1/1000.000) es
posible, pero complicado, y no es una cosa rutinaria.
En cualquier caso, la microsonda permite conocer la
composicin qumica de un mineral, generalmente con una
precisin relativa del 2%, y por tanto identificarlo. Ello es
imprescindible en la caracterizacin de nuevos minerales y
muy til para la identificacin de minerales de tamao
pequeo (de pocas micras), como es el caso de los minerales
del grupo del platino. Pero evidentemente tambin es
imprescindible el mtodo para determinar la concentracin de
elementos valiosos en la estructura de un mineral, as como
tambin la concentracin de los elementos penalizantes.

A efectos de rutina de trabajo, durante el anlisis qumico de

un mineral se pueden presentar diversos casos:
a) Se conoce el grupo mineral al que pertenece el mineral que
hemos de analizar y necesitamos saber su composicin
qumica (por ejemplo, sabemos que es una plagioclasa y
queremos saber la proporcin de sus trminos extremos albita
y anortita). Este es el caso ms sencillo, y tambin el ms
rutinario. En este caso tenemos tres grandes posibilidades:
a1) El mineral no tiene oxgeno en su composicin. En este
caso, analizamos directamente los elementos posicionando los
cristales donde difracten la radiacin que interesa, obteniendo
con ello la composicin en % en peso y a partir de ello la
frmula estructural. El resultado se puede dar en forma de %
en peso y de proporcin atmica de cada elemento. En
minerales de uso rutinario, la suma de los % en peso debera
estar comprendida entre 99.5 y 100.5 para que el anlisis se
considere aceptable; en caso de minerales de composicin
ms compleja este criterio puede variar ampliamente.

a2) El mineral tiene oxgeno en su estructura. En este caso,

el oxgeno no se analiza, porque cualquier sal oxigenada se
puede descomponer en la suma de sus xidos, por ejemplo:
CaSiO3= SiO2+CaO
Por tanto, en el caso del mineral anterior, slo sera preciso
analizar Si y Ca, posicionando el cristal analizador a las
posiciones en que difracte la radiacin del Si y
posteriormente la del Ca. Una vez conocida la proporcin en
% en peso, se puede calcular la proporcin de tomos de
cada elemento analizado, y con ello asignar los oxgenos
necesarios para completar la estequiometra. El resultado se
da en forma de % en peso de los xidos correspondientes y
de proporcin atmica de cada elemento. Nuevamente, la
suma de los % en peso debe estar comprendida entre 99.5 y
100.5 para que el anlisis se considere vlido.

a3) El mineral tiene en su estructura oxgeno y agua (o bien

otros elementos como el litio, que no se pueden analizar). Si
conocemos su frmula ideal, con el anlisis podremos
extrapolar el contenido de agua y de litio por
estequiometra. El resultado se da nuevamente en forma de
% en peso de los xidos correspondientes y de proporcin
atmica de cada elemento. Los hidrgenos se calculan en
forma de agua.
a4) El mineral tiene elementos con diferentes estados de
valencia. Pese a que hay programas que permiten
tericamente analizar para un mismo elemento la
proporcin de cada uno de sus estadios de valencia (cosa
que es especialmente importante en el caso del Fe, que
generalmente est en forma de Fe2+y Fe3+), en la prctica
este clculo se puede realizar, si se conoce la frmula
estructural del mineral, por estequiometra y balance de
cargas. El resultado se da en forma de % en peso de los
xidos
correspondientes
(desglosando
los
xidos
correspondientes a los diferentes estados de valencia) y de
proporcin atmica de cada elemento.

b) Se conocen los elementos que hay en un mineral con

oxgenos, pero no el tipo de mineral. En este caso podemos
obtener la proporcin en peso (% en peso) de todos los
elementos presentes en la muestra. Si el anlisis de los
xidos suma 100, seguramente se trata de un mineral
anhidro y podremos calcular su formula estructural por
estequiometra. Si se desconoce el tipo de mineral que se
tiene, el clculo de la frmula estructural ser ms
complicado en caso de que haya agua o elementos con
diferentes estados de valencia. El resultado se da en forma
de % en peso de los xidos correspondientes y de
proporcin atmica de cada elemento.

c) Se desconoce qu elementos hay en la muestra y de qu

mineral se trata. Esta situacin es complicada y debe ser
evitada en lo posible, porque necesitamos saber en qu
posicin colocaremos el cristal y el detector y qu patrones
deberemos calibrar (ecuacin 2). En este caso, se requiere
efectuar previamente un anlisis cualitativo con SEMEDS o
con la propia microsonda. El anlisis de SEMEDS es rpido,
pues en pocos segundos tenemos el anlisis cualitativo de la
muestra (listado de elementos que la forman). El anlisis
cualitativo por dispersin de longitudes de onda es ms
lento, ya que se precisa girar los cristales (y
simultneamente los detectores) muy lentamente a fn de
ver si el detector capta seal. Todo ello puede aumentar el
tiempo de anlisis y encarecerlo extraordinariamente.

5.2.2. Determinacin de elementos trazas

Tambin el EMPA permite la cuantificacin de elementos
menores y trazas, con un lmite de deteccin entre 10 y 50
ppm. Sin embargo, bajo condiciones de anlisis
extraordinarias (p.e. corrientes de 8 mA y tiempos de
conteo de 2000 s) para algunos elementos (Cr, Ti, Si) se
han llegado a alcanzar lmites de deteccin a niveles de
subppm (Robinsonet al., 1998). Ejemplos de esta
aplicacin son la determinacin de elementos traza del
grupo del platino en sulfuros (Gervillaet al., 2004) y la de
U, Th y Pb en monacita para investigaciones
geocronolgicas (Cocherieet al., 1998; Williamset al.,
1999).

5.2.3. Mapas de distribucin de elementos

Se puede realizar un mapa de la distribucin de un
elemento en un grano, mediante el barrido del haz
electrnico por todo el grano, manteniendo constante la
posicin angular del cristal analizador, de forma que slo se
registra la variacin del contenido de un elemento a lo largo
y ancho del grano. Esta operacin puede realizarse
simultneamente para otros elementos utilizando otros
espectrmetros
disponibles
microsonda.
Una vez realizado
el mapa en
delauno
o varios elementos, un
nuevo barrido del grano nos puede dar el mapa de uno o
varios elementos simultneamente, y se procedera del
mismo modo hasta completar el nmero de elementos que
se considere necesario.

Estos anlisis pueden ser complementados por micro

fotografa y pueden ser un argumento muy valioso para
localizar a escala de grano elementos qumicos de inters
econmico, o bien poner de manifiesto qu tipos de
substituciones se dan en la estructura del cristal. En efecto,
cuando aumenta la concentracin de un elemento mientras
que baja la de otro en paralelo, este fenmeno indica que
los dos elementos se substituyen en la estructura del
mineral; en otros casos, se pueden dar substituciones
simultneas de un elemento por la suma de otros (Figura 15
).
5.2.4. Perfiles de distribucin de elementos
Otra posibilidad es la de realizar un perfil de distribucin de
un elemento a lo largo de un grano o de una muestra. En
este caso, el haz electrnico o alternativamente el
portamuestras, hacen un recorrido en la direccin que se
les indique y se posiciona el cristal analizador de forma que
difracte hacia el detector slo este elemento.

Como resultado, en la imagen de microscopa electrnica

se puede hacer superponer una grfica que refleje la
intensidad de la radiacin emitida por el elemento en cada
punto del perfil. Por tanto, si el cristal es homogneo, la
grfica ser plana, pero si presenta inhomogeneneidades
presentar mximos (puntos con mayor proporcin del
elemento) y mnimos (puntos ms pobres en este
elemento). Se puede obtener un perfil cuantitativo,
analizando puntos de la muestra sobre la lnea, a intervalos
regulares entre cada uno de los puntos. Evidentemente, si
en la misma grfica se comparan los datos de dos
elementos que se sustituyen mutuamente en la estructura
del mineral, en este caso los mximos de un elemento
coincidirn con los mnimos del otro.

Un aspecto muy interesante es ver el comportamiento de

algunos elementos en el contacto entre dos granos de
minerales diferentes pero que tienen algunos elementos en
comn: la reparticin de los elementos entre estos dos
minerales se realizar en funcin de las condiciones del
medio en que cristalizan, de manera que los anlisis de
microsonda nos podrn dar informacin sobre la
petrognesis de la roca. Una informacin similar se puede
obtener en el caso de perfiles a travs del contacto entre
dos cuerpos geolgicos (Figura 16).

5.3. Limitaciones de la microsonda

El pulido de la muestra es crtico, y los mejores resultados
se obtienen en muestras muy bien pulidas. Las muestras
con relieve y los bordes de granos pueden dar resultados
muy bajos o muy altos. Esto es debido a que el algoritmo
de
correccin
ZAF
asume
que
el
haz
incide
perpendicularmente a la superficie de la muestra y que sta
es perfectamente plana.

Es un mtodo relativamente lento, ya que muchas veces se

requieren anlisis cualitativos previos para conocer cules
son las longitudes de onda que tenemos que discriminar.
Evidentemente, los mejores resultados analticos se obtienen
generalmente en muestras de las que ya conocemos el grupo
mineral al que pertenecen.
Por otra parte, y como hemos comentado anteriormente, los
elementos ligeros (H, He, Li) no se pueden analizar con la
microsonda. Otros elementos ligeros (Be, B, C, O, N, F) son
tambin difciles de analizar debido a que se absorben
fuertemente en la muestra. Otros elementos como el Na o la
Ag son tambin difciles de analizar con precisin debido a
que pueden migrar durante la excitacin del haz de
electrones, obtenindose un resultado ms bajo. Para
evitarlo, es necesario disminuir la corriente o desenfocar el
haz (en fases homogneas tambin se puede mover el haz
durante el anlisis). En algunos casos, la presencia de agua
abundante en la muestra, o de elementos voltiles, puede
provocar que se pierdan algunos de estos elementos, por lo
que es conveniente analizarlos primero.

Otro problema es que el haz electrnico tiene una cierta

penetracin. Por tanto, existe la posibilidad de que una
parte de haz atraviese el cristal y excite el mineral
subyacente, y en este caso el resultado sera la suma de las
radiaciones emitidas por el cristal superior y el inferior y el
anlisis puede dar un valor muy superior a 100. Esto
conlleva a una meticulosa seleccin previa de los puntos de
anlisis mediante mtodos pticos.
Finalmente, existen algunas interferencias entre las lneas
de algunos elementos, aspecto que debe tenerse en cuenta
si dichos elementos coexisten en el mismo mineral. Por
ejemplo, es bien conocida la interferencia de la lneaK del
Ti con laK del V, de modo que si ambos elementos
coexisten en la misma muestra el valor de concentracin
obtenido para el V estar sobreestimado. Existen diferentes
procedimientos
para
minimizar
el
efecto
de
las
interferencias espectrales, que incluyen la eleccin de otra
lnea analtica, en este caso por ejemplo la lneaK del V, o
bien la aplicacin de correcciones basadas en mediciones
secundarias.

6. Microprotoninduced xray emission (MicroPIXE)

El microPIXE es una microsonda protnica. Se analizan los
rayos X producidos al bombardear una muestra mediante un
haz de protones que puede ser focalizado a escala
micromtrica (Campbellet al., 1995). La tcnica consiste
bsicamente en un acelerador que produce un haz de
protones con una energa de 3 MeV (aunque puede ser
variable) y un sistema de focalizacin magntico que
direcciona el haz a travs de un tubo horizontal hasta la
cmara donde se encuentra la muestra que va ser analizada.
Unas estrictas condiciones de vaco son necesarias para evitar
desenfoque del haz de protones. Las muestras se preparan en
forma de probetas pulidas con un dimetro de 2,5 cm, deben
tener un espesor mnimo de 50 m y estar metalizadas
(generalmente con grafito). El equipo cuenta con un
microscopio ptico convencional y con una cmara CCTV
integrada que permite la orientacin y seleccin de los granos
que se deben analizar. El haz incide sobre la muestra con un
ngulo de 45, tiene un tamao de 3x6 m, profundiza hasta
aproximadamente 20 m y el tiempo de medida est
generalmente comprendido entre 120 y 190 segundos.

Para algunos elementos, el microPIXE alcanza el nivel de

trazas, posibilitando mapas muy detallados de distribucin
de elementos en un grano. La tcnica tiene una gran
aplicacin al estudio de menas metlicas (Campbellet al.,
1987; Remondet al., 1987; Cabri y Campbell, 1998).
Particularmente,
es
muy
til
para
analizar
cuantitativamente los elementos trazas en sulfuros
(Cabriet al., 1984; Harriset al., 1984). Por ejemplo, se han
obtenido muy buenos resultados en el estudio de
mineralizaciones
de
NiCu(EGP),
en
especial
la
cuantificacin de Pd, Rh y Ru en sulfuros, arseniuros y
sulfoarseniuros (Paktuncet al., 1990; Gervillaet al., 2004).
En contrapartida, debe tenerse un cuidado especial en la
seleccin de los puntos, mayor que en el caso de la
microsonda, pues el haz es ms grueso y se produce una
mayor penetracin.

7. Secondaryion mass spectrometry (SIMS)

La tcnica se basa en bombardear la muestra con un haz de
partculas cargadas (iones primarios); los iones arrancados
de la muestra (iones secundarios) son analizados mediante
un espectrmetro de masas. El mtodo permite enfocar el
haz hasta unas 10 micras de dimetro, por lo que es usado
para analizar elementos traza o istopos en minerales
zonados, granos individuales de pequeo tamao, etc. Por
ejemplo, se ha comprobado en varios depsitos que el Au se
halla en la estructura de pirita arsenical y, cuando sta es
corroda para formar arsenopirita y pirita, el oro queda libre
en forma de micropartculas. Ejemplos de estudios de Au en
sulfuros utilizando SIMS se pueden encontrar en McMahon y
Cabri (1998), Cabriet al. (2000), Steeleet al. (2000),
Chouinardet
al.
(2005),
Paktuncet
al.
(2006)
y
Benzaazouaet al. (2007).

8. Laser ablation microprobe + inductively coupled

plasmamass spectrometry (LAICPMS)
Se basa en usar un lser para arrancar por ablacin
(sublimacin) los elementos de la muestra. El haz puede ser
diafragmado hasta excitar superficies muy pequeas (del
orden de pocas decenas de micras, ~10 m). El plasma as
obtenido es analizado en un ICP, que disocia e ioniza el
material arrancado de la muestra y transportado por una
corriente de Ar, y un espectrmetro de masas (MS), que
analiza las diferencias de masas de los iones producidos (
Figura 17). La LAICPMS es una tcnica de muy alta
precisin, bajos lmites de deteccin (nivel de ppb) y sobre
todo de un coste econmico relativamente bajo si la
comparamos con las tcnicas de microPIXE y SIMS. El
proceso de preparacin de la muestra y de adquisicin de
los datos se realiza en un corto periodo de tiempo.

Una excelente revisin de la aplicacin de la tcnica de LA

ICPMS a la resolucin de problemas geolgicos puede ser
encontrada en Sylvester (2001). Aplicaciones concretas al
estudio de depsitos minerales se pueden encontrar en
Watlinget al. (1995), Cheneryet al., 1995, Wagneret al.
(2007), Largeet al. (2007), Hutchinson y McDonald (2008).
El microanlisis lserICPMS tiene un enorme potencial
principalmente para la determinacin de elementos trazas
en minerales. Desde el punto de vista de la exploracin o
explotacin minera, esta tcnica puede aplicarse fcilmente
en tres grandes campos: a) anlisis a microescala de
elementos preciosos presentes como trazas en la estructura
del mineral (oro invisible en la estructura de pirita o
arsenopirita; EGP en arseniuros, etc.); b) anlisis a
microescala de elementos significativos en minerales
indicadores (por ejemplo, anlisis de Ni en granate de
procedencia kimberltica, para conocer la temperatura del
manto subyacente, etc.),

c) anlisis de la distribucin a microescala de elementos

traza que pueden ser penalizantes desde el punto de vista
De
este modo,
Wagneret al. (2007) han estudiado mediante
metalrgico
o medioambiental.
LAICPMS la distribucin de Au en menas de pirita y
arsenopirita procedentes del depsito Boliden (Suecia).
Estas menas llegan a tener hasta 600 g/t de Au. Las
concentraciones promedio de Au en la arsenopirita varan
entre 30 y 50 ppm y decrecen sistemticamente con el
incremento del grado de recristalizacin. En cambio, el
contenido de Au en la pirita sistemticamente es inferior a
0.2 ppm. Los datos de LAICPMS, junto con el estudio
textural, indican que el oro es liberado progresivamente de
los sulfuros masivos durante el metamorfsmo y
reprecipitado en venas. Por otra parte, Largeet al. (2007)
han determinado, mediante LAICPMS, en piritas
sinsedimentarias (Sukhoi, Siberia) altos contenidos de "Au
invisible" (hasta 12,2 ppm, con un valor promedio de 3.2
ppm) y de arsnico (1900 ppm).

Hutchinson y McDonald (2008) realizan un estudio detallado

mediante LAICPMS de los elementos del grupo del platino
en sulfuros de la unidad Platreef (norte del complejo
Bushveld). Estos autores documentan que una porcin
significante del Pd, Os e Ir se encuentra en sulfuros de
metales bases. El Pd est asociado principalmente a la
pentlandita y la calcopirita. El Os se encuentra en solucin
slida en la pirrotina y en menor medida en la pentlandita.
El Ru es ms abundante en la pentlandita, pero tambin fue
detectado en la calcopirita y en la pirrotina.
La LAICPMS es una tcnica rpida y precisa, cada vez ms
comn y rutinaria en diversos laboratorios de mineraloga y
petrologa. Como se desprende de los ejemplos de
aplicaciones indicadas, su xito se basa en su capacidad de
obtencin de anlisis qumicos casi puntuales en lmina
delgada pulida o probeta. Las limitaciones que pueden
apuntarse son escasas pero deben tenerse en cuenta.

En primer lugar la resolucin lateral del haz de lser en la

mayor parte de equipos no baja de las 10 m. En segundo
lugar, se debe tener calibrado el equipo para los elementos
deseados (lo cual no est siempre disponible de forma
universal) y, en tercer lugar, hace falta disponer de por lo
menos anlisis de microsonda electrnica de uno o dos
elementos presentes en el mineral.

9. El estudio mineralgico durante las fases de

exploracin y explotacin de depsitos minerales
En primer lugar, desde siempre se han utilizado los
concentrados minerales o de suelos durante la prospeccin
estratgica o tctica de yacimientos minerales. El problema
que se puede plantear en todos estos casos es el
reconocimiento de fases con tamao de grano muy fino,
dispersas en un concentrado mineral entre otras fases mucho
ms abundantes. En este caso, un simple anlisis visual con
una lupa binocular puede no ser suficiente, perdindose al
menos gran parte de la informacin.

Por el contrario, en este estadio puede ser muy til la

microscopa electrnica de barrido con anlisis de energas
de rayos X, especialmente cuando se dispone de un sistema
de anlisis de electrones retrodispersados acoplado (SEM
BSEEDS). Este sistema puede ayudar a la localizacin
rapidsima de granos detrticos de minerales con elementos
de elevado nmero atmico (a efectos de inters minero
directo, principalmente minerales con U, Th, Ta, Au y PtPGE).
En este mismo estadio, puede ser interesante determinar la
proporcin de un determinado mineral en el concentrado.
Aunque este proceso se puede realizar de modo manual, a
partir del conteo de granos bajo la lupa binocular, este
mecanismo conlleva un alto grado de error, tanto mayor
cuanto ms complejas sean las asociaciones y cuanto ms
fino sea el tamao de grano.

Por otra parte, el anlisis qumico del conjunto del

sedimento, suelo o concentrado dar una idea de la
proporcin de algunos elementos en el mismo, pero no del
tipo de minerales en que cada elemento puede estar
disperso. De ser preciso ste ltimo dato, se podran aplicar
las tcnicas de difraccin cuantitativa de rayos X. Esta
tcnica puede ser una herramienta muy poderosa si es
complementada eficazmente con estudios texturales con
microscopa ptica de luz transmitidareflejada, microscopa
electrnica de barrido con anlisis de energas y microsonda
electrnica. De este modo, si conocemos la composicin
qumica de cada una de las fases minerales presentes en una
mezcla, con ayuda de programas adecuados de tratamiento
de los diagramas de polvo de rayos X pueden obtenerse con
mucha precisin las proporciones en que se encuentre cada
uno de estos minerales en la roca.

Por otra parte, la exploracin minera de un determinado

recurso se basa muchas veces en la informacin
suministrada por ciertos minerales significativos, que se
llaman "indicadores". En algunos casos, la sola presencia del
mineral puede ser indicativa de la existencia de un depsito;
en otros casos, es su geoqumica peculiar el dato que puede
apoyar la investigacin. Un ejemplo tpico lo ofrece la
exploracin de chimeneas kimberlticas diamantferas. En
stas, las kimberlitas contienen, adems del diamante, toda
una suerte de minerales accesorios muy caractersticos de
este tipo de asociacin diamantfera, entre ellos, ilmenita
magnesiana, magnesiocromita, piropo crmico, dipsido
crmico. En la exploracin diamantfera se concentran estos
minerales y se analiza su qumica mineral para determinar
las caractersticas geoqumicas del manto a partir del cual
pueden proceder. La composicin de los elementos mayores
de estos minerales es obtenida rutinariamente mediante
microsonda electrnica y las tcnicas de caracterizacin de
trazas son utilizadas.

Por otra parte, la determinacin precisa de la composicin

qumica de la mena es fundamental para la evaluacin
econmica y viabilidad de un proyecto minero. Por ejemplo,
conocer
la
presencia
de
elementos
minoritarios
potencialmente recuperables que le otorguen valor aadido
al producto: Au en arsenopirita, (Hincheyet al., 2003;
Zachariaset al., 2004), oro en pirita (Fosteret al., 2007),
PGE en arseniuros (PtPd en pentlandita, V en magnetita, Ni
en goethita) o la existencia de elementos nocivos que
puedan penalizar la mena en el proceso de beneficio (Miel
czarski, 1999) o que generen problemas medioambientales
(Subramanianet al., 2005).

10. Conclusiones
El estudio de las asociaciones minerales mediante tcnicas
cuantitativas aporta elementos valiosos para la valorizacin
de los depsitos minerales, desde la fase de exploracin a la
de estudio de viabilidad del depsito.
En la fase de prospeccin estratgica (a nivel regional) las
tcnicas que pueden ser ms tiles dependen del tipo de
depsito. No obstante, como norma general, para la
identificacin de minerales en concentrados de batea puede
ser muy til la microscopa electrnica de barrido,
especialmente en el modo de electrones retrodispersados y
acompaada de microanlisis por dispersin de energas.
Este mtodo permitir la localizacin e identificacin rpida
de partculas de minerales pesados en el concentrado. En
este estadio la microsonda electrnica u otras tcnicas de
microanlisis cuantitativo (LAICPMS, SIMS, MicroPIXE u
otras) slo pueden ser viables en el caso de que el tipo de
depsito que se trata de localizar presente un fuerte valor
aadido, como es en la exploracin de depsitos de
diamante a partir de la composicin de minerales
indicadores.

Por lo comn, el estudio del depsito en la fase tctica (ya a

nivel local o del depsito) precisar de herramientas aplicadas
a un espacio mucho ms concreto y, por tanto, que deben ser
precisas. En este estadio la difraccin de polvo de rayos X
cuantitativa puede ser una alternativa o un complemento a
otros mtodos (PIMA, p. ej.) enfocados a caracterizar la
distribucin de las zonas de alteracin hidrotermal o meterica,
o a caracterizar la mineraloga de suelos. Nuevamente la
microscopa electrnica de barrido puede ser un complemento
eficaz para identificar los minerales de inters econmico.
En la fase de valoracin del depsito pueden emplearse las dos
tcnicas citadas, pero en este estadio puede ser ya imperativo
trabajar con tcnicas cuantitativas ms detalladas, incluyendo
las microsondas electrnicas, inicas o protnicas, as como la
LAICPMS. Debido a su elevado coste, es posible que las tres
ltimas tcnicas slo sean rentables en el caso de que el
mineral explotable tenga un alto valor aadido. En el caso de la
exploracin de diamante, no obstante, estas tcnicas son
esenciales para poder definir el potencial diamantfero de una
kimberlita.

Las tcnicas mineralgicas reseadas pueden ser,

finalmente, aplicadas al diseo de la explotacin del
depsito, e incluso al control de seguimiento del mismo. En
particular, el estudio de la textura de las menas
(especialmente, el tamao de grano y los tipos de
intercrecimientos) es esencial en el diseo de la trituracin
de las mismas. Este aspecto puede ser estudiado con mucho
provecho en microscopa electrnica de barrido con anlisis
de energas.
A efectos tambin de mecanismos de beneficio, as como de
control del posible impacto medioambiental, el tipo de mena
y su distribucin han de ser caracterizados de manera
segura y detallada, aspecto que puede ser realizado con
ayuda del conjunto de las tcnicas citadas. As, la difraccin
de polvo cuantitativa puede ser una herramienta poderosa
para controlar la distribucin del mineral en el depsito. Ello
implica, indirectamente, conocer la distribucin de los
elementos qumicos mayores.

Esta tcnica no aporta el mismo tipo de datos que el que

ofrece un tpico anlisis geoqumico como los comnmente
usados por las empresas para la determinacin de la ley de
un elemento en el depsito (fluorescencia de rayos X,
activacin neutrnica, ICPMS, etc.), pero presenta la
ventaja de ofrecer en su lugar la ley de mineral en el mismo
depsito. Ello tiene algunas ventajas importantes, pues un
cierto elemento puede estar distribuido entre diversos
minerales y si en alguno de los minerales no fuera
econmica la extraccin del elemento el anlisis qumico
clsico falseara el planteamiento de las tcnicas
mineralotcnicas y metalrgicas que deben ser empleadas,
e incluso la viabilidad de la explotacin. El mismo
razonamiento puede ser aplicado para demostrar la validez
de aplicar el SEMEDS al diseo de la planta de beneficio de
un depsito. En particular, los elementos preciosos y otros
con alto valor aadido (U, Nb, Ta...) pueden ser explotables
a leyes muy bajas, pero siempre que las menas tengan
unas caractersticas mineralgicas favorables.

En particular, debe conocerse con precisin cul es la

distribucin del elemento o elementos beneficiables entre
las diferentes especies minerales del depsito. Para ello
pueden ser imprescindibles anlisis con microsonda
electrnica e incluso microPIXE, SIMS o LAICPMS.
Para
el
diseo
de
los
mecanismos
de
control
medioambiental deben tenerse tambin en cuenta las
caractersticas qumicas y fsicas de las menas, en
particular, aqullas que puedan favorecer su alterabilidad.
Adems, es importante conocer la distribucin de algunos
elementos traza txicos (Cd, Cr, Bi, Se, Tl, etc.) entre los
diferentes minerales del depsito, no en el conjunto del
depsito (con los mtodos qumicos tradicionales).
Nuevamente, tambin en este caso las tcnicas de
microanlisis puntual mineralgico (EMP, microPIXE, SIMS,
LAICPMS) pueden ser extremadamente seguras y eficaces.