Testarea echipamentelor

electronice si de telecomunicatii

2. Testarea la nivel de circuit integrat

2.2. Testarea functionala
2.2.2. Testarea functionala a
microprocesoarelor, microcontrolerelor,
procesoarelor de semnal

2.2.2. Testarea functionala a procesoarelor

Un testor automat pentru procesoare trebuie sa contina
structura minimala a unui microsistem
Diversitatea procesoarelor face imposibila realizarea unui
testor pentru toate procesoarele: numar de pini, tensiune de
alimentare, functii, etc
Defectari posibile:
Functionarea incorecta la nivelul instructiunilor
Defecte la nivelul registrelor
Sensibilitatea la sir de instructii (instruction pattern
sensitivity)
Primele doua pot fi verificate prin rularea tuturor instructiunilor
A treia se poate detecta doar prn cunoasterea schemei interne
de detaliu, disponibila doar la nivelul producatorului de
procesoare.
Utilizatorul poate verifica daca un asemenea defect nu apare in
programul tipica de aplicatie.

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
Metode de testare:
1. Utilizeaza procesor etalon (cunoscut ca fiind
functional corect)
- Metoda comparatiei
- Metoda recunoasterii modelelor de bit
2. Nu utilizeaza procesoare etalon
- Metoda simularii
- Metoda activarii modulare

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
Metoda comparatiei
- Activarea simultana a unui procesor etalon si a
celui testat, utilizand acelasi program de test
Avantaje: foarte simpla
Dezavantaje:
- Dependenta mare de capacitatea de functionare
corecta a procesorului etalon
- Flexibilitatea redusa

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
Metoda recunoasterii modelelor de bit

Minimizeaza dependenta de capacitatea de

functionare corecta a etalonului

Programul de test ruleaza o singura data pe

procesorul etalon, rezultatul este memorat, iar
rezultatele obtinute pe procesorul testat sunt
comparate cu cele memorate

2 pasi:
- Generarea modelelor de bit
- Recunoasterea modelelor de bit

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
Generarea modelelor de bit
UC

MC

MD
UC Unitatea de control
MC Matricea de conectare
PEt Procesorul etalon
MD Memoria de date

PEt
E-P
PROM

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
Recunoasterea modelelor de bit
UC

MC

PT
PT

BER

MD
PT Procesor testat
BER Bloc de evaluare a raspunsurilor

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
-

Metoda simularii
Presupune cunoasterea schemei interne de detaliu
a procesorului, la nivel de tranzistor
Simuleaza toate defectele interne posibile, precum
si combinatiile de defecte
Determina comportarea procesorului la fiecare
defect / combinatie de defecte
Poate fi aplicata doar la nivelul producatorului

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
-

Metoda activarii modulare

Structura procesorului este divizata pe niveluri ierarhice (atat
din pdv functional cat si ca hardware intern)
Testarea se face pe baza unui program de auto-test
Programul incepe cu activarea nivelului ierarhic de baza
Fiecare nivel testat poate fi utilizat pentru testarea nivelurilor
superioare
Pentru a putea demara, este necesar ca un numar minim de
componente si de functii sa fie functional corecte KERNEL
Kernel-ul trebuie sa includa: circuitele de initializare,
numaratorul de program, magistrala de adrese, magistrala de
date, decodificatorul de instructii, circuitele de tact

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor
O posibila strategie de testare:
Test CARRY
Test registre
Test ACCU
Test ALU
Test lucru subrutine
Test lucru cu stiva

2.2.2. Testarea functinala a

procesoarelor
Testarea kernelului:
Cod
NOR
Data bus

Numarator

8/16 bit

16/20 bits

CLOCK

Address
bus

Comparator
10/20 bits
LED

2.2.2. Testarea functionala a

procesoarelor

Daca testul kernel-ului este trecut, atunci

urmatoarele circuite sunt functional corecte:
Circuitul de tact
Circuitele de initializare
Numaratorul program
Magistrala de adrese
Magistrala de date partial
Decodificatorul de instructii partial
Registrul de instructii partial