FISICA MODERNA DIFACCION DE LOS RAYOS X

Ernesto Valarezo
Jaime Muoz

1. Historia y concepto
2. Metodos y ley de Bragg
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RAYOS X
Descubiertos por el fsico alemn W.K Rntgen, quien los denomino as, debido a
su naturaleza desconocida.
Caracteriza: propiedad de ser invisible, viajar en lnea recta, mas penetrante que la
luz y con la propiedad de poder atravesar el cuerpo humano, la madera, algunas
piezas de metal entre otros.

Fsico alemn, quien en 1912, formul teora de Difraccin de rayos X en cristales,

permiti probar que eran radiacin electromagntica de longitud de onda corta y
frecuencia elevada, proporcionando un mtodo para investigar la estructura de la
materia.

Los Bragg, padre e hijo, en 1914 lograron demostrar que los rayos x difractados por
los cristales, podan considerarse como reflexiones desde los planos atmicos de la
estructura cristalina, dependiendo as del ngulo de difraccin para una determinada
longitud de onda.
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RAYOS X

L a difraccin de rayos X es una tcnica analtica usada principalmente para la

identificacin y cuantificacin de fases cristalinas, basada en el fenmeno caracterstico de
las ondas, el cual consiste en la dispersin de ondas cuando estas interactan con un
objeto de propiedades ordenadas.
Los rayos X se producen cuando una
partcula cargada elctricamente con
suficiente energa cintica es frenada
rpidamente. Los electrones son las
partculas utilizadas habitualmente y la
radiacin se obtiene en un dispositivo
conocido como tubo de rayos x que
contiene una fuente de electrones y dos
electrodos metlicos. El alto voltaje entre
los electrodos dirige los electrones hacia
el nodo, y al golpear sobre l con una
elevada velocidad producen rayos x en el
punto de impacto que se irradian en
todas direcciones.
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RAYOS X

E l tubo de rayos X convencional, consta de un ctodo con un filamento de

Tungsteno, el cual al calentarse emite electrones, los cuales inciden en un blanco o
nodo (GMAS cuenta con nodos de Co, Cr y Cu), generando el espectro de rayos
x. La radiacin se emite en todas las direcciones, pero la que realmente es
aprovechada es la que logra salir del tubo por las ventanas de Berilio.
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RAYOS X

Algunos casos de difraccin.

Uno de los ejemplos mas comunes donde se aplica una concisa
caracterizacin de los materiales son las dos cristalizacin del carbono: el
grafito y el diamante, los cuales poseen propiedades totalmente distintas
pero tienen la misma composicin qumica.
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RAYOS X

Mtodos de difraccin
Ley de Bragg
Mtodo de Laue
Mtodo de polvo o Debye-Scherrer
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RAYOS X
Maneja la difraccin como una reflexin de los
rayos X formados de planos de tomos de red
cristalina por la naturaleza repetitiva del cristal.
Los haces de rayos X, de longitud inciden en
fase sobre los planos imaginarios, con un
ngulo , formando asi un frente de onda.
Los haces deben estar en fase, por eso, OF y
OH es un numero entero de longitud. Por lo
anterior, los segmentos FG y GH corresponden
a un numero entero de N veces la longitud de
onda :
FG + GH = N*
FG=GH y sen=FG/d => FG=d*sen

Ley de Bragg: 2d sen = N*

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RAYOS X
Metodo de Laue
Utiliza un monocristal estacionario y una placa fotogrfica. Se hace incidir un
haz de rayos X al monocristal, el haz directo produce un tono oscuro al tocar la
placa, la cual determina la informacin del material que se esta investigando

En este mtodo la Aqu se coloca la placa

pelcula se pone delante del cristal con
detrs del cristal y un pequeo agujero,
pasan los rayos X. el cuando las ondas
efecto de las ondas atraviesan el cristal se
dar como resultado reflejan hacia arriba y
una elipse generan un parbola
proyectada en la en la placa
placa
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RAYOS X
Metodo de polvo o Debye-Scherrer
Se pulveriza los cristales mezclndose con un material
amorfo para compactarlo y obtener buena reflexin.
Consta de tener la placa y en el centro la muestra de
polvo, al incidir el haz en el polvo, los rayos se reflejan
sobre la placa.
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RAYOS X
Aplicacin de los rayos x
Identificacin de sustancias cristalinas
Anlisis cualitativos y cuantitativos de fases cristalinas
Caracterizacin y desarrollo de nuevos materiales
Control de calidad de materias primas y producto final
Especificacin de arcillas
Determinacin de transformaciones de fase.
Determinacin de parmetros estructurales
Determinacin de frado de estructura
Deteccin de imperfecciones cristalinas