INTEGRANTES:

Calvache Damián
Moreno Hugo
Sarango Juan
 Fase: Se refiere al retardo entre la señal de excitación y de respuesta
del oscilador.

 Microscopia: Conjunto de métodos empleados en las investigaciones

por medio de un microscopio,

 Disipación: Porción de energía que se pierde durante la interacción

punta-muestra en el experimento

 Reflexión: Distancia que se dobla la micro palanca durante la

operación, es similar a la distancia de compresión o estiramiento de
un resorte.
1981: Ocurre la invención del microscopio de efecto túnel,
antecesor del AFM

1986: Invención del AFM por los científicos Binnig y Quate

1987: Martin y colaboradores iniciaron el uso del AFM

operando en forma oscilatoria.

1991: Albercht y colaboradores propusieron el método de

modulación de amplitud
1993: Zhong y colaboradores propusieron el
método de modulación de frecuencia.

2002: Invención de métodos para

obtención de armónicos.

2004: Introducción de AFM bimodal por García y

Rodríguez

2010: Introducción de AFM por solares y

Chawla.
El principio de operación para dicho
fenómeno es la reflexión de una sonda
mientras ésta interacciona con una
superficie de la muestra, el instrumento
es conformado por una punta muy fina
adjunta a una micro palanca. Siendo
capaz de generar imágenes
tridimensionales con alta resolución
espacial en el orden de los nanómetros.
 En el modo de contacto lo materiales a los que se aplica
son metales, óxidos de metales, grafito altamente orientado
y algunas muestras rígidas inorgánicas.

 Por el modo dinámico se puede analizar biomoléculas

como el ADN, proteínas o membranas celulares además
también se pude aplicar a polímeros.
 Es un método excelente para evaluar las
propiedades de conductividad eléctrica.

 Se puede obtener información complementaria

acerca de la propiedades de la superficie de los
materiales, cabe recalcar que no existe una forma
directa de obtener información cuantitativa de las
mismas, los resultados están sujetos a
aproximaciones de oscilación armónica.
El resultado es una imagen
tridimensional de la fotografía de la
muestra o de las fuerzas entre la sonda y
la superficie que puede ser generada.
CONTROLADOR:
- Tres convertidores analógico-digital por eje x,y,z para un total de
nueve.

SOFTWARE:
-Control propio del instrumento
- Presentación de imágenes en 3D.
- Distribución y comparación de alturas.
- Distribución y comparación de profundidad de superficies. Tamaño de
grano.

CABEZA DEL AFM:

- Porta muestras - Electroquímica AFM.
- Modo torsional resonante. - Barrido de capacitancia SCM.
- Barrido de fuerza eléctrica. - AFM conductivo.
- Pruebas de modulación de fuerza.
- Contacto intermitente en fluidos.
- Electroquímica STM.

Otras características:
- Cabeza AFM compatible con microscopio óptico.
- Porta muestras con un rango de movimiento mínimo de 2x2 mm en x,y.
RASTREADOR:
- Piezoeléctrico de diseño tipo tubo, con tres puntos de apoyo.

CONTROL DE RUIDO EN SEÑAL:

- Módulo electrónico QUADREX con lock-in de 10 Hz a 2 MHz para procesamiento
de señales con corrección de fase y amplitud.

CONTROL ANTIVIBRATORIO:
- Posee un soporte, base y mesa que asegura el aislamiento acústico o por
vibración.

MICROSCOPIO ÓPTICO:
- Incluye un sistema de alineamiento de la muestra
- Microscopio óptico de alta calidad
- Rango vertical mínimo de 400 mm
- Base de granito.
-Cámara CCD alta resolución

NANOINDENTADOR:
- Portador de cantiléver.
- Punta de prueba de diamante.
- Sensor
- Software de control
Los principales modos de operación del MFA son:
Modo Contacto, Modo Contacto intermitente
(Tapping) y No-Contacto que se combinan para
obtener imágenes de la topografía de la superficie
de la muestra. La elección de los diferentes modos
de operación y de la punta dependen del tipo de
muestra que se analiza. El MFA también determina
las propiedades mecánicas de los materiales como
son la elasticidad, las fuerza de adhesión, las fuerzas
eléctricas y fuerzas magnéticas.
 http://www.iibce.edu.uy/microscopiofuerzaatomica.htm
 http://www.uvg.edu.gt/publicaciones/revista/volumenes/numero-28/ART-2-pags-
14-23.pdf
 http://www.tandar.cnea.gov.ar/eventos/Nano2010/Levy.pdf
 http://www.sld.cu/galerias/pdf/sitios/histologia/el_microscopio_de_fuerza_atomi
ca.pdf
 http://www.ictp.csic.es/ICTP2/sites/default/files/Gema_23072013.pdf
 http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/microscopia-de-fuerza-atomica/ejercicios-y-
proyectos/Practica_1_OCW.pdf
 http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema9.pdf
 http://www.usfx.bo/nueva/vicerrectorado/citas/TECNOLOGICAS_20/Topografia/2
.pdf