MICROSCOPÍA DE FUERZA

ATÓMICA (AFM)

TECNOLOGÍA DE MATERIALES
MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA

Uno de los principales métodos de

caracterización de superficies y películas
delgadas es el de la microscopía de fuerza
atómica, el cual permite obtener la
morfología de la superficie desde el rango de
los micrómetros y Armstrong donde pueden
hacerse medidas de tamaño de grano y
rugosidad de la superficie, aún bajo ciertas
condiciones especiales
MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA

El AFM es uno de las varios técnicas llamadas

SPM (Scanning Probe Microscopes) El primero
de la familia fue el STM (Microscopio de
tuneleo) inventado en los 80´por Binning &
Rohrer (Nobel Física 1986).
Los SPM generan imágenes
¨sintiendo/tocando¨ más que ¨mirando¨ la
muestra. Se basan en medir cambios en la
magnitud de la interacción entre una punta
(probe) y la superficie de la muestra.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA

El Microscopio de Fuerza Atómica sirve para caracterizar la superficie de

muestras sólidas y semisólidas, relativamente planas. Obtiene información
morfológica en 3D, a partir de imágenes topográficas de las mismas, así
como parámetros superficiales tales como valores de rugosidad, tamaño y
límites de grano, distribución (homogeneidad) de partículas en pinturas o
películas delgadas, entre otras.
También se emplea en la determinación de propiedades mecánicas de
los materiales, tales como fuerzas de atracción, repulsión, viscosidad,
elasticidad y dureza.
 TIPOS DE MEDIDAS DE AFM

El AFM, puede realizar dos tipos de medidas:

 Imagen y
 Fuerza. FUERZA: La fuerza
IMAGEN: En esta modalidad, la superficie es interatómica se puede
barrida en el plano de la superficie por la punta. detectar cuando la
Durante el barrido la fuerza interatómica entre los punta está muy próxima
átomos de la punta y de los de la superficie de la a la superficie de la
muestra, provoca una flexión del listón. Esta flexión muestra. En medidas de
es registrada por un sensor adecuado fuerza la punta se hace
(normalmente balanza óptica) y la señal obtenida oscilar verticalmente
se introduce en un circuito o lazo de mientras se registra la
realimentación. flexión del listón.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA
FUNCIONAMIENTO DEL AFM

Al analizar una muestra, es capaz de registrar continuamente la altura sobre la

superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. La sonda va acoplada a
un listón microscópico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de sólo unos 200 µm de
longitud (cantilever)
La fuerza atómica se puede detectar cuando la punta está muy próxima a la superficie
de la muestra. Es posible entonces registrar la pequeña flexión del listón mediante un
haz laser reflejado en su parte posterior. Un sistema auxiliar piezoeléctrico desplaza la
muestra tridimensionalmente, mientras que la punta recorre ordenadamente la
superficie. Todos los movimientos son controlados por una computadora.
La resolución del instrumento es de menos de 1 nm, y la pantalla de visualización
permite distinguir detalles en la superficie de la muestra con una amplificación de varios
millones de veces.
COMPONENTES DE UN MICROSCOPIO
DE FUERZA ATÓMICA

 Diodo láser
 Micropalanca
 Fotodiodo
 Tubo piezoeléctrico
 Punta
COMPONENTES DE UN MICROSCOPIO
DE FUERZA ATÓMICA

PUNTA
La punta se selecciona de
acuerdo al tipo de muestra y a
las propiedades que se desean
obtener; ésta puede ser de
diferentes materiales, las más
comunes son de Nitruro de
Silicio o de Silicio.
COMPONENTES DE UN MICROSCOPIO
DE FUERZA ATÓMICA

ESCANER
El diseño del escáner tiene forma de tubo y es de un material
cerámico piezoeléctrico que cambia de dimensiones como
respuesta a un voltaje aplicado. Estos escáneres se caracterizan por
tener tres grados de libertad, expandiéndose en una dirección y
contrayéndose en otra como resultado del voltaje aplicado a sus
electrodos. El mayor intervalo de operación de un escáner es de
≈100 micras en movimiento lateral y ≈10 micras en movimiento
vertical.
MODOS DE TRABAJO DE UN AFM

En un Microscopio de Fuerza Atómica, se distinguen tres modos de

operación básicos que son:

 Modo de contacto,
 Modo de contacto intermitente o “tapping” y
 Modo de no-contacto.
AFM DE CONTACTO

Mide la topografía deslizando la punta sobre la superficie

de la muestra. Se puede realizar en aire y en medio
líquido.
En el modo de contacto, la punta barre la superficie de
la muestra, aplicando una fuerza constante (F =
constante) y sin levantar la punta de la superficie. La
fuerza aplicada está relacionada con la deflexión que
experimenta la punta mediante la constante de fuerza
del cantilever; así F = - k · D, donde F es la fuerza
aplicada, k es la constante de fuerza del cantilever y D la
deflexión.
AFM DE CONTACTO
VENTAJAS
Amplia gama de muestras a
analizar; se pueden realizar
medidas de elasticidad;
medidas en una celda líquida o
en una celda electroquímica;
las resoluciones verticales y
horizontales son muy elevadas.
DESVENTAJAS
La punta está en contacto con la
superficie; problemas de destrucción
de la punta o modificación de la
superficie, arrastre de partículas, las
capas de agua absorbida generan
problemas de importantes fuerzas de
capilaridad; cargas electrostáticas
de superficie.
AFM DE CONTACTO INTERMITENTE

Mide la topografía tocando intermitentemente la

superficie de la muestra con una punta oscilante.
Se eliminan las fuerzas laterales y de presión que
pueden dañar las muestras blandas y reducir la
resolución de la imagen. Se puede realizar en
aire y en medio líquido.
En el modo de contacto intermitente se aplica
una señal sinusoidal, haciendo oscilar a la punta
a su frecuencia de resonancia.
AFM DE CONTACTO INTERMITENTE

VENTAJAS DESVENTAJAS
Medida muy estable; fuerza de No puede trabajar en medio
presión muy débil; resolución líquido; no se llega a resolución
elevada; proporciona las mejores atómica; barridos más lentos.
prestaciones para la medida
topográfica de alta resolución;
evita imágenes artificiales que
ocurren en AFM.
AFM DE NO-CONTACTO

Se aplica una onda sinusoidal, pero sin llegar a tocar la

superficie de la muestra. Es más complejo, ya que debido a
la capa de contaminación de agua que recubre a todas las
muestras, podría en cualquier momento pasar a tocar la
muestra. Sus aplicaciones se limitan al caso de muestras muy
planas. La técnica NC-AFM se utiliza cuando no se quiere
deteriorar la superficie a medir.
La fuerza que ejerce la punta sobre la muestra es muy baja,
10-12 N. El trabajo con fuerzas tan débiles hace imposible
usar el modo de fuerza constante, y además estas son
difíciles de medir.
AFM DE NO-CONTACTO

VENTAJAS DESVENTAJAS
No existe modificación ni Resoluciones altas requieren que la punta
contaminación de la se sitúe muy cerca de la superficie; el
superficie de la muestra; barrido ha de ser muy lento para no perder
el “contacto” con la superficie; la
se pueden medir
oscilación de la punta se puede ver
diferentes gradientes de frenada por la existencia de capas de
fuerza (magnética, agua/contaminación; las gotas de agua
electrostática, etc.). se confunden con la topografía de la
muestra.
BENEFICIOS DEL AFM

 Esta técnica es ampliamente utilizada en el análisis de nano-materiales, ya que,

a diferencia de un microscopio electrónico no requiere trabajar en condiciones
de vacío, la muestra no requiere una preparación sofisticada y tampoco es
necesario que la muestra a analizar sea conductora o se encuentre recubierta,
estas características amplían el rango de muestras que es posible analizar.
 Se utiliza en campos como biología, materiales, ciencias ambientales, etc.
 Se pueden llevar a cabo análisis sobre muestras sólidas, polvos, películas
delgadas, muestras biológicas, etc, sin embargo, la muestra debe ser lo más
plana y homogénea posible, sin importar si es conductora. No es posible hacer
análisis de gases y/o líquidos.