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6

Resultados de Medições
Diretas
Fundamentos da Metrologia
Científica e Industrial

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 2/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 3/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 4/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 5 - (slide 5/40)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 6/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 7/124)
Nas medições acima: falta alguma coisa?

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 8/124)


definição do procedimento
mensurando de medição

resultado da
medição

condições operador sistema de


ambientais medição

Como usar as informações disponíveis sobre o


processo de medição e escrever corretamente
o resultado da medição?

RM = (RB ± IM) unidade


Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 9/124)
6.1
Medições Diretas e Indiretas

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Medições diretas
 O sistema de medição já indica
naturalmente o valor do mensurando.
 Exemplos:
 Medição do diâmetro de um eixo com um
paquímetro.
 Medição da tensão elétrica de uma pilha com
um voltímetro.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 11/124)


Processo de medição

definição do procedimento
mensurando de medição

resultado da
medição

condições operador sistema de


ambientais medição

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 12/124)


Incertezas combinadas
 A repetitividade combinada (ReC)
corresponde à contribuição resultante de
todas as fontes de erros aleatórios que
agem simultaneamente no processo de
medição.
 A correção combinada (CC) compensa os
erros sistemáticos de todas as fontes de
erros sistemáticos que agem
simultaneamente no processo de medição.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 13/124)
A Variabilidade do Mensurando

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O Mensurando é considerado
 Invariável:
 se seu valor permanece constante durante o
período em que a medição é efetuada.
 Exemplo: a massa de uma jóia.
 Variável:
 quando o seu valor não é único ou bem
definido. Seu valor pode variar em função da
posição, do tempo ou de outros fatores.
 Exemplo: a temperatura ambiente.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 15/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 16/124)
Em termos práticos
 Mensurando Invariável:
 As variações do mensurando são inferiores a
à resolução do SM.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 17/124)


Mensurando Variável:
As variações do mensurando são iguais ou
superiores à resolução do SM.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 18/124)


O resultado da medição de um
mensurando invariável quando a
incerteza e correção combinadas
são conhecidas
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Três casos

Caso Caso Caso


1 2 3

Número de medições repetidas: n=1 n>1 n≥1

Compensa erros sistemáticos: sim sim não

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 20/124)


Caso 1 - Exemplo
(1000,00 ± 0,01) g

1 RM = I + Cc ± Rec

1014 RM = 1014 + (-15,0) ± 3,72


1014
0g
g

RM = 999,0 ± 3,72

Cc = -15,0 g
RM = (999,0 ± 3,7) g
Rec = 3,72 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 21/124)


Caso 1

indicação

+C

- Re + Re

RM = I + C ± Re

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 22/124)


Caso 2 - Exemplo
1014 g
(1000,00
(1000,00
(1000,00
± 0,01)
± 0,01)
± 0,01)
g g g
1015 g
1017 g RM = I + Cc ± Rec/n
1012 g
111 1015 g RM = 1015 -15,0 ± 3,72 /12
1018 g
1014 g RM = 1000,0 ± 1,07
1014

1014
1015
1017
0g
g
1015 g
1016 g RM = (1000,0 ± 1,1) g
1013 g
Cc = -15,0 g 1016 g
1015 g
Rec = 3,72 g I = 1015 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 23/124)


Caso 2

indicação média

+C

- Re /n + Re/n

RM = I + C ± Re /n

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 24/124)


Caso 3 - Exemplo
(1000,00 ± 0,01) g

1 RM = I ± Emáx

1014 RM = 1014 ± 18
1014
0g
g

RM = (1014 ± 18) g
Emáx = 18 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 25/124)


Caso 3 - Erro máximo conhecido -
mensurando invariável
Indicação ou média

- Emáx + Emáx

RM = I ± Emáx

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 26/124)


Representação gráfica dos três
resultados

RM = (999,0 ± 3,7) g

RM = (1000,0 ± 1,1) g

RM = (1014 ± 18) g

960 980 1000 1020 1040


mensurando [g]
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 27/124)
6.5
A Grafia Correta do Resultado da
Medição

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 29/124)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 30/124)
Algarismos Significativos (AS)
 Exemplos:
 12 tem dois AS
 1,2 tem dois AS
 0,012 tem dois AS
 0,000012 tem dois AS
 0,01200 tem quatro AS
 45,300 tem cinco AS
 Número de AS:
 conta-se da esquerda para a direita a partir
do primeiro algarismo não nulo
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 31/124)
Regras de Grafia

 Regra 1:
 A incerteza da medição é escrita com até
dois algarismos significativos.
 Regra 2:
 O resultado base é escrito com o mesmo
número de casas decimais com que é
escrita a incerteza da medição.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 32/124)


A grafia do resultado da
medição
Exemplo 1:
RM = (319,213 ± 11,4) mm
REGRA 1

RM = (319,213 ± 11) mm
REGRA 2

RM = (319 ± 11) mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 33/124)


A grafia do resultado da
medição
Exemplo 2:
RM = (18,4217423 ± 0,04280437) mm
REGRA 1

RM = (18,4217423 ± 0,043) mm
REGRA 2

RM = (18,422 ± 0,043) mm

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 34/124)


6.6
O resultado da medição de um
mensurando variável quando a
incerteza e correção combinadas são
conhecidas

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Qual é a temperatura na
geladeira?

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 36/124)


Medição de mensurando
variável
 Deve sempre ser medido muitas vezes,
em locais e/ou momentos distintos, para
que aumentem as chances de que toda a
sua faixa de variação seja varrida.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 37/124)


Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 38/124)
Caso 4
Mensurando variável
n>1
Corrigindo erros sistemáticos

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Caso 4 - Exemplo
Temperatura no refrigerador
As temperaturas foram medidas
durante duas horas, uma vez por
minuto, por cada sensor.
A
Dos 480 pontos medidos, foi calculada
B a média e incerteza padrão:
C I = 5,82°C u = 1,90°C
Da curva de calibração dos sensores
D determina-se a correção a ser aplicada:
C = - 0,80°C
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 40/124)
Caso 4 - Exemplo
Temperatura no refrigerador
RM = I + C ± t . u
RM = 5,82 + (-0,80) ± 2,00 . 1,90
RM = 5,02 ± 3,80
RM = (5,0 ± 3,8)°C

0 2 4 6 8
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 41/124)
Caso 4

indicação média

+C

u = incerteza padrão
-t.u +t.u determinada a partir
das várias indicações

RM = I + C ± t . u

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 42/124)


Caso 5
Mensurando variável
n>1
Não corrigindo erros sistemáticos

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Caso 5 - Exemplo
Velocidade do vento
A velocidade do vento foi
medida durante 10 minutos
uma vez a cada 10 segundos.
Dos 60 pontos medidos, foi
calculada a média e a
incerteza padrão:

I = 15,8 m/s u = 1,9 m/s


Emáx = 0,20 m/s

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 44/124)


Caso 5 - Exemplo
Velocidade do vento
RM = I ± (Emáx + t . u)
RM = 15,8 ± (0,2 + 2,0*1,9)

RM = (15,8 ± 4,0) m/s

11 13 15 17 19
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 45/124)
Caso 5 - Erro máximo conhecido e
mensurando variável
indicação média

- Emáx + Emáx

-t.u +t.u

RM = I ± (Emáx + t . u)
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 46/124)
6.7
O resultado da medição na
presença de várias fontes de
incertezas

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Processo de medição

definição do procedimento
mensurando de medição

resultado da
medição

condições operador sistema de


ambientais medição

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 48/124)


Determinação da incerteza de medição
em oito passos
P1 – Analise o processo de medição
P2 – Identifique as fontes de incertezas
P3 – Estime a correção de cada fonte de incerteza
P4 – Calcule a correção combinada
P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de
incertezas
P6 – Calcule a incerteza padrão combinada e o número
de graus de liberdade efetivos
P7 – Calcule a incerteza expandida
P8 – Exprima o resultado da medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 49/124)
P1 – Analise o processo de medição

1. Compreenda todos os fenômenos


envolvidos no processo de medição.
2. Busque informações complementares
na bibliografia técnica, catálogos,
manuais, etc.
3. Se necessário, faça experimentos
auxiliares.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 50/124)


P2 – Identifique as fontes de incerteza

definição do procedimento
mensurando de medição

incertezas
no resultado
da medição

condições operador sistema de


ambientais medição

 Atribua um símbolo para cada fonte de


incertezas considerada
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 51/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν

Cc correção combinada
uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 52/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1
S2 descrição 2
S3 descrição 3
S4 descrição 4
S5 descrição 5

Cc correção combinada
uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 53/124)
P3 – Estime a correção de cada fonte
de incertezas
1. Analise o fenômeno associado
2. Reúna informações pré-existentes
3. Se necessários realize experimentos
4. Pode ser conveniente estimar a correção para
um bloco de fontes de incertezas cuja
separação seria difícil ou inconveniente.
5. Estime o valor da correção a ser aplicada para
as condições de medição e expresse-o na
unidade do mensurando.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 54/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1 C1
S2 descrição 2 C2
S3 descrição 3 C3
S4 descrição 4 C4
S5 descrição 5 C5

Cc correção combinada
uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 55/124)
P4 – Calcule a correção combinada

 A correção combinada é calculada pela


soma algébrica das correções
individualmente estimadas para cada fonte
de incertezas:

Cc  C1  C2  C3  ...  Cn

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 56/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1 C1
S2 descrição 2 C2
S3 descrição 3 C3
S4 descrição 4 C4
S5 descrição 5 C5

Cc correção combinada Ccomb


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 57/124)
P5 – Estime a incerteza padrão de
cada fonte de incertezas
1. Determinação através de procedimentos
estatísticos (tipo A):

A incerteza padrão pode ser estimada a partir


de um conjunto de “n” medições repetidas por:
n

 k
( I  I ) 2

u(I )  k 1
  n 1
v

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 58/124)


P5 – Estime a incerteza padrão de
cada fonte de incertezas
1. Determinação através de procedimentos
estatísticos (tipo A):
Quando o mensurando é invariável e é
determinado pela média de “m” medições
repetidas, a incerteza padrão da média é
estimada por:

u(I ) 
u(I )   n 1
m
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 59/124)
P5 – Estime a incerteza padrão de
cada fonte de incertezas
1. Determinação através de procedimentos
estatísticos (tipo A):
Quando o mensurando é variável e é
determinado a partir da média de “m” medições
repetidas, sua incerteza padrão é estimada por:

  n 1
u( I )  u( I )

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 60/124)


P5 – Estime a incerteza padrão de
cada fonte de incertezas
2. Determinação através de procedimentos
não estatísticos (tipo B):
 Dedução através da análise do fenômeno
 Informações históricas e pre-existentes
 Experiência de especialistas
 Informações extraídas de catálogos técnicos
e relatórios de calibrações

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 61/124)


P5 – Estime a incerteza padrão de
cada fonte de incertezas
2. Determinação através de procedimentos
não estatísticos (tipo B):
 Normalmente assume-se que a distribuição
de probabilidades é perfeitamente
conhecida.
 O número de graus de liberdade associado a
uma distribuição de probabilidades
perfeitamente conhecida é sempre infinito

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 62/124)


P5 – Estime a incerteza padrão –
distribuição retangular
f(x)

a
u
3

-a +a

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 63/124)


Incerteza devido à resolução
indicação

mensurando

erro
R/2

- R/2

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 64/124)


P5 – Estime a incerteza padrão –
distribuição triangular
f(x)

a
u
6

-a +a

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 65/124)


P5 – Estime a incerteza padrão –
distribuição gaussiana
f(x)

a
u  
2
95,45%

2 2
-a +a
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 66/124)
P5 – Estime a incerteza padrão –
distribuição em “U”
f(x)

a
u
2

-a +a
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 67/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1 C1 a1 tipo 1 u1 ν1
S2 descrição 2 C2 a2 tipo 2 u2 ν2
S3 descrição 3 C3 a3 tipo 3 u3 ν3
S4 descrição 4 C4 a4 tipo 4 u4 ν4
S5 descrição 5 C5 a5 tipo 5 u5 ν5

Cc correção combinada Ccomb


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 68/124)
P6 – Incerteza padrão combinada e o
número de graus de liberdade efetivos
 O quadrado da incerteza padrão
combinada é normalmente calculado pela
soma dos quadrados das incertezas
padrão de cada fonte de incertezas:

u  u  u  u  ...  u
2
c
2
1
2
2
2
3
2
n

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 69/124)


P6 – Incerteza padrão combinada e o
número de graus de liberdade efetivos
 O número de graus de liberdade efetivo é
calculado pela equação de Welch-Satterthwaite:

4 4 4 4
u u u u
c
 1
 2
 ...  n
 ef 1 2 n
 Se um número não inteiro for obtido, adota-
se a parte inteira. Por exemplo: se  ef  17,6
adota-se 17.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 70/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1 C1 a1 tipo 1 u1 ν1
S2 descrição 2 C2 a2 tipo 2 u2 ν2
S3 descrição 3 C3 a3 tipo 3 u3 ν3
S4 descrição 4 C4 a4 tipo 4 u4 ν4
S5 descrição 5 C5 a5 tipo 5 u5 ν5

Cc correção combinada Ccomb


uc incerteza combinada normal ucomb νef
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 71/124)
P7 – Calcule a incerteza expandida
 Multiplique a incerteza combinada pelo
coeficiente de Student correspondente ao
número de graus de liberdade efetivo:

U  t(95, 45%, vef ) . uc

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 72/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição unidade:

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
S1 descrição 1 C1 a1 tipo 1 u1 ν1
S2 descrição 2 C2 a2 tipo 2 u2 ν2
S3 descrição 3 C3 a3 tipo 3 u3 ν3
S4 descrição 4 C4 a4 tipo 4 u4 ν4
S5 descrição 5 C5 a5 tipo 5 u5 ν5

Cc correção combinada Ccomb


uc incerteza combinada normal ucomb νef
U incerteza expandida normal Uexp
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 73/124)
P8 – Exprima o resultado da medição
 Calcule o compatibilize os valores.
 Use sempre o SI

RM  ( I  Cc  U ) unidade

 Não esqueça:
Conhecimento + Honestidade + Bom Senso

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 74/124)


6.8
Problemas Resolvidos

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6.8.a
Incerteza de calibração de uma
balança digital

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 77/124)
Dados da massa padrão:
Valor nominal: 20,000 g
massa-padrão Correção: -0,005 g
Incerteza da correção: 0,002 g

20 N° Indicação
1 20,16
2 20,10
5 medições
20,16 g 3 20,14
4 20,12
5 20,18
Média 20,140
Resolução da balança: 0,02 g
s 0,0316
Temperatura ambiente: (20,0 ± 1,0) °C
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 78/124)
P1 – Análise do processo de medição
1. Mensurando: massa padrão. Bem definida e
com certificado de calibração.
2. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30
min, regular zero, medir 5 vezes e média.
3. Ambiente: de laboratório. Temperatura de
(20,0 ± 1,0) °C e tensão elétrica estável.
4. Operador: exerce pouca influência.
5. O sistema de medição: é o próprio objeto
da calibração.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 79/124)


P2 – Fontes de incertezas
1. Repetitividade natural da balança. (Re)
2. Limitações da massa padrão. (MP)
3. Resolução limitada da balança. (R)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 80/124)


P3 + P4 – Estimativa da correção:
1. A repetitividade natural da balança e a
resolução limitada trazem apenas
componentes aleatórias.
2. A massa padrão possui uma correção
CMP = - 0,005 g, que foi transcrita para a
tabela.
3. A correção da massa padrão coincide com a
correção combinada: Cc = CMP

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 81/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição Calibração de uma balança digital – ponto 20 g unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural -
MP massa padrão -0,005
R resolução limitada -

Cc correção combinada -0,005


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 82/124)
P5 – Incertezas padrão
1. Repetitividade:
Estimada experimentalmente através das 5
medições repetidas.
A média das 5 medições será adotada
N° Indicação
1 20,16
2 20,10 u(I )
3 20,14 u( I )   0,0141
4 20,12
m
5 20,18
Média 20,140
u 0,0316
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 83/124)
P5 – Incertezas padrão
2. Massa padrão:
Incerteza expandida disponível no certificado
de calibração.

A incerteza padrão é calculada dividindo a


incerteza expandida pelo coeficiente de
Student, cujo menor valor possível é 2, o que
corresponde a infinitos graus de liberdade:

U  t(95, 45%, vef ) . uc u MP 


U MP 0,002
  0,001  MP  
2 2
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 84/124)
P5 – Incertezas padrão
3. Resolução limitada:
O valor da resolução é 0,02 g.
Sua incerteza tem distribuição retangular com
a = R/2 = 0,01 g. Logo:

a R / 2 0,01
uR     0,00577 R  
3 3 3

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 85/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição Calibração de uma balança digital – ponto 20 g unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - - normal 0,0141 4
MP massa padrão -0,005 0,002 normal 0,0010 ∞
R resolução limitada - 0,01 retang 0,00577 ∞

Cc correção combinada -0,005


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 86/124)
P6 – Incerteza combinada

uc  uRe
2
 uMP
2
 uR2

uc  (0,0141)  (0,0010)  (0,00577)


2 2 2

uc  (198,8  1  33,3).106  0,0153 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 87/124)


P6 – Graus de liberdade efetivos

4 4 4 4
u u u u
c
 Re
 MP
 R
 ef  Re  MP  R
4 4 4 4
(0,0153) (0,0141) (0,0010) (0,00577)
  
 ef 4  

 ef  5,49 usar  ef  5

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 88/124)


P7 – Incerteza expandida

U  t . uc  2,649 . 0,0153  0,0405 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 89/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição Calibração de uma balança digital – ponto 20 g unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - - normal 0,0141 4
MP massa padrão -0,005 0,002 normal 0,0010 ∞
R resolução limitada - 0,01 retang 0,00577 ∞

Cc correção combinada -0,005


uc incerteza combinada normal 0,0153 5
U incerteza expandida normal 0,0405
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 90/124)
P8 – Expressão do resultado Dados da calibração
Indic. C U
0 0,00 0,03
5 -0,04 0,03
CB  ( MP  CC )  I  U 10
15
-0,08
-0,12
0,04
0,04
20 -0,15 0,04
CB  20,000  (0,005)  20,140  0,0405 25 -0,17 0,04
30 -0,17 0,04
CB  (0,15  0,04) g 35
40
-0,15
-0,13
0,05
0,05
45 -0,10 0,05
50 -0,07 0,05
Para este ponto de calibração, a
Resolução: 0,02 g
correção a ser aplicada na balança
em condições de laboratório é de
-0,15 g, conhecida com uma
incerteza expandida de 0,04 g.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 91/124)
6.8.b
Incerteza da medição de uma jóia
por uma balança digital

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Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 93/124)
Dados da calibração
Indic. C U
0 0,00 0,03
5 -0,04 0,03
19,94 10 -0,08 0,04
19,92 15 -0,12 0,04
19,98 20 -0,15 0,04
19,96 25 -0,17 0,04
19,90 30 -0,17 0,04
19,94 19,94 g 35 -0,15 0,05
20,00 40 -0,13 0,05
19,94 45 -0,10 0,05
19,94 50 -0,07 0,05
19,96
Média 19,950 Resolução: 0,02 g
19,92
s 0,0313 Deriva térmica: 0,008 g/K
20,00
Deriva temporal:
Temperatura ambiente: (25 ± 1)°C ± 0,010 g/mês

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 94/124)


Determinação da incerteza de medição
em oito passos
P1 – Analise o processo de medição
P2 – Identifique as fontes de incertezas
P3 – Estime a correção de cada fonte de incerteza
P4 – Calcule a correção combinada
P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de
incertezas
P6 – Calcule a incerteza padrão combinada e o número
de graus de liberdade efetivos
P7 – Calcule a incerteza expandida
P8 – Exprima o resultado da medição
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 95/124)
P1 – Análise do processo de medição
1. Mensurando: massa de uma jóia. Invariável
e bem definida.
2. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30
min, regular zero, medir 12 vezes e média.
3. Ambiente: Temperatura de (25,0 ± 1,0) °C,
diferente da de calibração.
4. Operador: exerce pouca influência.
Indicação digital e sem força de medição.
5. O sistema de medição: correções
conhecidas porém de 5 meses atrás.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 96/124)
P2 – Fontes de incertezas
1. Repetitividade natural da balança (Re)
2. Resolução limitada da balança (R)
3. Correção da balança levantada na
calibração (CCal)
4. Deriva temporal (DTemp)
5. Deriva térmica (DTer)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 97/124)


P3 – Estimativa da correção:
1. A repetitividade natural da balança e a
resolução limitada trazem apenas
componentes aleatórias.
2. A correção da balança possui componente
sistemática de CCCal = -0,15 g
3. Não é possível prever a componente
sistemática da deriva temporal.
4. A deriva térmica possui componente
sistemática:

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 98/124)


probabilidade

temperatura (C)
20 22 24 26
probabilidade

erro (g)
0,000 0,016 0,032 0,048
0,040
CDTer = -0,040 g
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 99/124)
P4 – Correção combinada
1. Calculada pela soma algébrica das correções
estimadas para cada fonte de incertezas:

Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer

Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,15) + 0,00 + (-0,04)

Cc = -0,19 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 100/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural -
R resolução do mostrador -
CCal correção da calibração -0,15
DTemp deriva temporal -
DTer deriva térmica -0,04

Cc correção combinada -0,19


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 101/124)
P5 – Incertezas padrão
1. Repetitividade:
Estimada experimentalmente através das 12
medições repetidas.
A média das 12 medições será adotada

u 0,0313
uRe    0,0090 g  Re  11
12 12

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 102/124)


P5 – Incertezas padrão
2. Resolução limitada:
O valor da resolução é 0,02 g.
Sua incerteza tem distribuição retangular com
a = R/2 = 0,01 g. Logo:

a R / 2 0,01
uR     0,00577 R  
3 3 3

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 103/124)


P5 – Incertezas padrão
3. Correção da balança
Incerteza expandida disponível no certificado
de calibração.
A incerteza padrão é calculada dividindo a
incerteza expandida pelo coeficiente de
Student, cujo menor valor possível é 2, o que
corresponde a infinitos graus de liberdade:

uCCal 
U CCal 0,04
  0,02  MP  
2 2
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 104/124)
P5 – Incertezas padrão
4. Deriva temporal
A balança degrada cerca de ± 0,010 g/mês
Após 5 meses, a degradação é de ± 0,050 g
Assume-se distribuição retangular:

0,050
u DTemp   0,0033
3
 DTemp  
- 0,05 g + 0,05 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 105/124)


probabilidade

temperatura
20 22 24 26
probabilidade 0,008 g

erro
0,000 0,016 0,032 0,048
a 0,008
u DTer 
3

3
 0,0046  DTer  
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 106/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - normal 0,0090 11
R resolução do mostrador - 0,01 retang 0,00577 ∞
CCal correção da calibração -0,15 0,04 normal 0,0200 ∞
DTemp deriva temporal - 0,05 retang 0,0033 ∞
DTer deriva térmica -0,04 0,008 retang 0,00461 ∞

Cc correção combinada -0,19


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 107/124)
P6 – Incertezas padrão combinada
Combinando tudo:

uc  uRe
2
 u R2  uCCal
2
 uDTmp
2
 u DTer
2

uc  (0,0090) 2  (0,00577) 2  (0,020) 2  (0,0033) 2  (0,0046) 2

uc  (81  33,3  400  10,9  21,1).106  0,0234 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 108/124)


Participação percentual de cada
fonte de incertezas
80%
73,2%
70%
60%
50%
40%
30%
20% 14,8%
10% 6,1% 3,9% 2,0%
0%
Ccal Re R Dter Dtemp

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 109/124)


P6 – Graus de liberdade efetivos

4 4 4 4 4 4
u u u u uDTmp u DTer
c
  
Re R CCal
 
 ef  Re  R  CCal  DTmp  DTer
(0,0234) 4 (0,0090) 4 (0,00577) 4 (0,020) 4 (0,0033) 4 (0,0046) 4
    
 ef 11    

 ef  503

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 110/124)


P7 – Incerteza expandida

U  t . uc  2,00 . 0,0234  0,047 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 111/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - normal 0,0090 11
R resolução do mostrador - 0,01 retang 0,00577 ∞
CCal correção da calibração -0,15 0,04 normal 0,0200 ∞
DTemp deriva temporal - 0,05 retang 0,0033 ∞
DTer deriva térmica -0,04 0,008 retang 0,00461 ∞

Cc correção combinada -0,19


uc incerteza combinada normal 0,0234 503
U incerteza expandida normal 0,047
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 112/124)
P8 – Expressão do resultado

RM  I  CC  U
RM  19,95  (0,19)  0,047
RM  (19,76  0,047) g

Nestas condições é possível afirmar que o valor


da massa da pedra preciosa está dentro do
intervalo (19,76 ± 0,047) g.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 113/124)


P8 – Expressão do resultado
Se os erros sistemáticos não fossem corrigidos, o valor
absoluto da correção combinada |Cc| = 0,19 g deveria
ser algebricamente somado à incerteza de medição:

RM  I  (U  CC )
RM  19,95  (0,047   0,19 )
RM  (19,95  0,24) g
Assim, sem que nenhum erro sistemático seja
compensado, é possível afirmar que o valor da massa da
pedra preciosa está dentro do intervalo (19,95 ± 0,24) g.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 114/124)


6.8.c
Incerteza da medição de um
mensurando variável por uma
balança digital

www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 116/124)
Dados da calibração
Indic. C U
0 0,00 0,03
5 -0,04 0,03
10 -0,08 0,04
15 -0,12 0,04
20 -0,15 0,04
25 -0,17 0,04
30 -0,17 0,04
15,20 g 35 -0,15 0,05
40 -0,13 0,05
45 -0,10 0,05
50 -0,07 0,05
Média 15,202 Resolução: 0,02 g
s 0,242 Deriva térmica: 0,008 g/K
Deriva temporal:
Temperatura ambiente: (28 ± 1)°C ± 0,010 g/mês

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 117/124)


P1 – Análise do processo de medição
1. Mensurando: massa de um conjunto de
parafusos. Variável.
2. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30
min, regular zero, medir uma vez cada
parafuso, calcular média e desvio padrão.
3. Ambiente: Temperatura de (28,0 ± 1,0) °C,
diferente da de calibração.
4. Operador: exerce pouca influência.
Indicação digital e sem força de medição.
5. O sistema de medição: correções
conhecidas Fundamentos
porémda de 5 meses atrás.
Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 118/124)
P2 – Fontes de incertezas
1. Repetitividade natural da balança (Re)
combinada com a variabilidade do processo.
2. Resolução limitada da balança (R)
3. Correção da balança levantada na
calibração (CCal)
4. Deriva temporal (DTemp)
5. Deriva térmica (DTer)

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 119/124)


P3 – Estimativa da correção:
1. A repetitividade natural da balança e a
resolução limitada trazem apenas
componentes aleatórias.
2. A correção da balança possui componente
sistemática de CCCal = -0,12 g
3. Não é possível prever a componente
sistemática da deriva temporal.
4. A deriva térmica possui componente
sistemática:

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 120/124)


P4 – Correção combinada
1. Calculada pela soma algébrica das correções
estimadas para cada fonte de incertezas:

Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer

Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,12) + 0,00 + (-0,064)

Cc = -0,184 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 121/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural -
R resolução do mostrador -
CCal correção da calibração -0,12
DTemp deriva temporal -
DTer deriva térmica -0,064

Cc correção combinada -0,184


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 122/124)
P5 – Incertezas padrão
1. Repetitividade:
Estimada experimentalmente através da
medição dos 50 parafusos.
Será adotada a repetitividade das indicações
e não da média:

uRe  s  0,242 g  Re  49
2. As contribuições das demais fontes de
incerteza permanecem as mesmas do exemplo
anterior.
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 123/124)
BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - normal 0,242 49
R resolução do mostrador - 0,01 retang 0,00577 ∞
CCal correção da calibração -0,15 0,04 normal 0,0200 ∞
DTemp deriva temporal - 0,05 retang 0,0033 ∞
DTer deriva térmica -0,04 0,08 retang 0,0461 ∞

Cc correção combinada -0,19


uc incerteza combinada normal
U incerteza expandida normal
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 124/124)
P6 – Incertezas padrão combinada
Combinando tudo:

uc  uRe
2
 u R2  uCCal
2
 uDTmp
2
 u DTer
2

uc  (0,242) 2  (0,00577) 2  (0,020) 2  (0,0033) 2  (0,0046) 2

uc  (58564  33,3  400  10,9  21,1).106  0,243 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 125/124)


Participação percentual de cada
fonte de incertezas
100% 99,2%
90%
80%
70%
60%
50%
40%
30%
20%
10%
0,7% 0,1% 0,0% 0,0%
0%
Re Ccal R Dter Dtemp

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 126/124)


P6 – Graus de liberdade efetivos

4 4 4 4 4 4
u u u u u uDTmp
c
  
Re R
 
CCal DTer
 ef  Re  R  CCal  DTmp  DTer
(0,243) 4 (0,242) 4 (0,00577) 4 (0,020) 4 (0,0033) 4 (0,0046) 4
    
 ef 49    

 ef  50

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 127/124)


P7 – Incerteza expandida

U  t . uc  2,051. 0,243  0,498 g

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 128/124)


BALANÇO DE INCERTEZAS
processo de medição medição da massa de uma pedra preciosa unidade: g

fontes de incertezas efeitos sistemáticos efeitos aleatórios


símbolo descrição correção a distribuição u ν
Re repetitividade natural - normal 0,242 49
R resolução do mostrador - 0,01 retang 0,00577 ∞
CCal correção da calibração -0,15 0,04 normal 0,0200 ∞
DTemp deriva temporal - 0,05 retang 0,0033 ∞
DTer deriva térmica -0,04 0,08 retang 0,0461 ∞

Cc correção combinada -0,19


uc incerteza combinada normal 0,243 50
U incerteza expandida normal 0,498
Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 129/124)
P8 – Expressão do resultado

RM  I  CC  U
RM  15,20  (0,184)  0,498
RM  (15,016  0,498) g
RM  (15,02  0,50) g
Nestas condições é possível afirmar as massas
dos parafusos produzidos está dentro da faixa
(15,02 ± 0,50) g.

Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - (slide 130/124)

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