Cristhian Villavicencio Priscilla Vasquez 01-09-2011

La caracterizacin de materiales se refiere al establecimiento de las caractersticas de un material determinado a partir del estudio de sus propiedades fsicas, qumicas, estructurales. Existen para ello distintas tcnicas de caracterizacin. Una vez conocidas las caractersticas del material puede establecerse la naturaleza del mismo, as como sus posibles aplicaciones.

Estructura Caracterizacin estructural Difraccin de Rayos X Mtodo Rietveld Morfologa y estructura Microscopa Electrnica de Barrido Microscopa Electrnica de Transmisin

Difraccin de rayos X es una tcnica ampliamente aplicada para la caracterizacin de materiales cristalinos. El mtodo ha sido tradicionalmente usado para anlisis cualitativo, cuantitativo de fases y para la determinacin de la estructura cristalina. En aos recientes sus aplicaciones han sido extendidas a la determinacin de imperfecciones en la Estructura.

El mtodo de Rietveld consiste en ajustar tericamente los parmetros estructurales o parmetros de red, deslizamientos atmicos, anisotropa, tensiones de la red, etc., as como experimentales, que dependen de las condiciones de experimentacin.

Microscopa Electrnica de Barrido Este instrumento permite la observacin y caracterizacin superficial de materiales inorgnicos y orgnicos, entregando informacin morfolgica del material analizado. A partir de l se producen distintos tipos de seal que se generan desde la muestra y se utilizan para examinar muchas de sus caractersticas. Con l se pueden realizar estudios de los aspectos morfolgicos de zonas microscpicas de diversos materiales, adems del procesamiento y anlisis de las imgenes obtenida.

HEMATITA

Microscopa Electrnica de Transmision La relacin entre la estructura y las propiedades fsicas y qumicas de un material es un rea bsica en el desarrollo y estudio de los mismos. La caracterizacin de un material involucra el uso de una serie de tcnicas que se complementan entre s; siendo la Microscopa Electrnica y el microanlisis fundamentales en anlisis de materiales, excelente herramientas para el control de calidad a nivel de produccin e industrial.

Propiedades Trmicas Anlisis Trmico Diferencial Temogravimetra Mecnicas Mquina Universal Instron Elctricas Espectroscopa de Impedancias Magnticas Susceptmetro a.c. pticas

Bajo la denominacin de Anlisis Trmico se engloban un conjunto de tcnicas analticas que estudian el comportamiento trmico de los materiales. Cuando un material se calienta o se enfra, su estructura cristalina y su composicin qumica pueden sufrir cambios ms o menos importantes: Fusin Sublimacin Solidificacin Cristalizacin Amorfizacin Transicin Reacciones Expansin y compresiones en su volumen Cambios texturales.

Anlisis Trmico agrupa una serie de tcnicas en las cuales se sigue una propiedad de la muestra, en una determinada atmsfera, en funcin del tiempo o de la temperatura cuando dicha muestra se somete a un programa de temperatura controlado. Termogravimetra (TG) Anlisis Trmico Diferencial (ATD) Calorimetra Diferencial de Barrido (DSC) Anlisis Termomecnico (ATM) Anlisis Dinamomecnico (ADM) Termodifractometra (TDX)

La Termogravimetra (TG) est basada en la medida de la variacin de la masa de una muestra cuando se la somete a un cambio de temperatura en una atmsfera controlada. Esta variacin puede ser una prdida o una ganancia de masa. El registro de estos cambios nos dar informacin sobre si la muestra se descompone o reacciona con otros componentes. En un Anlisis Trmico Diferencial (ATD) se somete a una variacin de temperatura tanto a la muestra como a un material de referencia, que es inerte desde el punto de vista trmico, fsico y qumico. El ATD mide la diferencia de temperatura entre la muestra y el material de referencia, en funcin del tiempo (temperatura constante) o de la temperatura alcanzada en cada momento. Estas medidas se pueden realizar en condiciones ambientales o bajo una atmsfera controlada

En ingeniera se denomina mquina universal a una mquina semejante a una prensa con la que es posible someter materiales a ensayos de traccin y compresin para medir sus propiedades. La presin se logra mediante placas o mandbulas accionadas por tornillos o un sistema hidrulico. Esta mquina es ampliamente utilizada en la caracterizacin de nuevos materiales. As por ejemplo, se ha utilizado en la medicin de las propiedades de tensin de los polmeros.

Espectroscopia de impedancia mide las propiedades dielctricas de un medio como funcin de la frecuencia. Se denomina dielctricos a los materiales que no conducen la electricidad por lo que pueden ser utilizados como aislantes elctricos.

El susceptmetro ac es una herramienta que Provee una manera de examinar propiedades magnticas. Se utilizan bobinas sensoras para medir las variaciones de flujo magntico ocasionadas por una muestra magnetizada. La diferencia reside en cmo se produce la variacin de flujo. En el susceptmetro ac la muestra est centrada dentro de una bobina sensora mientras se le aplica un campo externo ac. Esto produce una magnetizacin dependiente del tiempo que es registrada por la bobina sensora.

Composicin Microscopa Electrnica de Barrido (EDS) Fluorescencia de Rayos X

La tcnica de la fluorescencia de rayosX permite el anlisis elemental de una amplia gama de materiales, con gran precisin y en general sin destruccin de la muestra a analizar. Sus caractersticas principales son una preparacin simple de la muestra a analizar, el anlisis de materias conductora y no conductora y una precisin excepcional especialmente con alto niveles de concentracin. La espectrometra de fluorescencia de rayos X es una tcnica ampliamente utilizada para la determinacin de una amplia gama de elementos de las aleaciones. La tcnica proporciona un anlisis rpido, exacto y preciso de mltiples elementos.

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