Capacidad de Proceso

D.R. POCH-CDI 2003 1 REV. 01 06/2003

Capacidad del Proceso Contenido

Qu es la Capacidad del Proceso? Capacidad del Proceso a partir de Datos Variables. Clculo de los Porcentajes Ms All de los Lmites Especificados. ndices Cp, Cpk, Pp, Ppk Estudios a Corto Plazo vs. Largo Plazo. El Nivel Sigma del Proceso. Capacidad del Proceso a partir de Datos de Atributos.
D.R. POCH-CDI 2003 2 REV. 01 06/2003

Objetivos
Al terminar este mdulo, tendrs la capacidad de 1. Cuantificar la capacidad del proceso a parir de datos variables, utilizando las unidades medibles Cp, Cpk, Pp, Ppk, PPM y el Nivel Sigma del Proceso. 2. Cuantificar la capacidad del proceso a parir de datos de atributos, utilizando las unidades medibles DPO, DPMO, PPM y el Nivel Sigma del Proceso. 3. Distinguir entre los estudios a corto y largo plazo y calcular los Niveles Sigma para Procesos a Corto y Largo Plazo.

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Qu es la Capacidad del Proceso?

La capacidad de un proceso para cumplir con los requerimientos del cliente.

Proceso de oxidacin
% plomo libre en el xido de plomo
LSL USL

Proceso de Contratacin
Tiempo de Contratacin (en Das)
USL

El producto excede los lmites de especificacin!

D.R. POCH-CDI 2003 4

Contrataciones que toman demasiado tiempo!

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Para que es usado?

Cuantificar la variabilidad en el proceso de manufactura Probar requerimientos de desempeo para nuevos equipos Seleccin entre proveedores Prediccin del desempeo del proceso Determinar los intervalos de muestreo Ayuda a I&D al seleccionar o modificar un proceso Planear tolerancias para una secuencia de pasos en un proceso, de tal manera que el producto final cumpla las especificaciones finales
D.R. POCH-CDI 2003 5 REV. 01 06/2003

Anlisis de Capacidad del Proceso

Capacidad del proceso representa el desempeo de un proceso en estado de control estadstico. Est determinado por la variabilidad total existente debida a todas las causas comunes presentes en el sistema Lmites de especificacin son los lmites que definen las fronteras de conformanca para una unidad individual de operacin de una manufactura o servicio Lmites de control representan la variacin inherente en una caracterstica de los productos o servicios de un proceso en control LSC = m + 3s, LIC = m - 3s Cp, ndice de capacidad del proceso describe el potencial de un proceso para cumplir especificaciones. Est relacionado con anlisis de corto plazo Pp, ndice de desempeo del proceso igual que Cp, pero con anlisis de largo plazo Cpk, Ppk, ndices de habilidad del proceso describe la habilidad de un proceso de centrarse en la media u objetivo de especificacin; Cpk corto plazo, Ppk largo plazo Cpm, ndice de capacidad Taguchi describe la desviacin de la media del proceso del valor objetivo en unidades de desviacin estndar

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% de No Conformancia y PPM (Partes por Milln)

Dimensin Interna de la Va para Asiento (mm)
LSL USL

Tiempo de Contratacin (en Das)

USL

3%

3%

15%

6% de las vas para asiento estn fuera de la especificacin. Esto se traduce en... 60,000 PPM
D.R. POCH-CDI 2003 7

15% es demasiado tiempo para cubrir los puestos disponibles. Esto se traduce en... 150,000 PPM
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El Nivel Sigma del Proceso

Nivel Sigma 6 5 4 3 2

PPM 3.4 233 6,210 66,807 308,537

60,000 PPM (Vas para Asiento) corresponden al Nivel Sigma del Proceso = 3.05 150,000 PPM (Tiempo de contratacin corresponde a Nivel Sigma del Proceso = 2.54

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Un Proceso Capaz
LSL USL
RECUERDA! Un proceso estable ofrece los clculos ms fiables de la capacidad del proceso.

Mediciones Individuales

6W Se dice que un proceso es capaz cuando 3W puntos de la distribucin de las mediciones individuales quedan comprendidos dentro de los lmites de especificacin.
Nota: Primero nos enfocaremos en la evaluacin de la capacidad del proceso utilizando los datos variables distribuidos normalmente.
D.R. POCH-CDI 2003 9 REV. 01 06/2003

Cuatro Procesos Estables

A B
Qu se puede decir acerca de la capacidad de estos procesos?
LSL USL

LSL

USL

LSL

USL

LSL

USL

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Qu tan Capaz es?

6W

LSL

USL

Proceso Capaz
6W 6W

LSL

Un Proceso Muy Capaz

USL

LSL

Un Proceso USL Muy, Muy Capaz

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Historia de Dos Sigmas

Desviacin Estndar W = 0.08

USL

LSL

Nivel Sigma Proceso 3 W

3W

3W

USL

LSL

W = 0.06
4W 4W

Proceso 4 W

LSL

USL

W = 0.04
6W 6W

Proceso 6 W

Conforme la desviacin estndar, , W, se hace ms pequea, el Nivel Sigma se hace ms grande.

12 REV. 01 06/2003

D.R. POCH-CDI 2003

Un proceso capaz
6W

LSL

USL

Capable Process
6W 6W

LSL

USL A Very Capable Process

LSL

A Very, Very USL Capable Process

Proceso

Entonces, la cantidad de distribuciones estndar contenidas dentro de los lmites de especificacin es el grado de capacidad del proceso
Especificaciones bilaterales 1.33 1.50 1.50 1.67 Especificacin unilateral 1.25 1.45 1.45 1.60 REV. 01 06/2003

Valores mnimos recomendados para los ndices de capacidad de proceso

D.R. POCH-CDI 2003

Proceso existente Nuevo proceso Seguridad, fuerza o parmetro crtico-proceso existente Seguridad, fuerza o parmetro crtico-proceso nuevo 13

Pasos para Evaluar la Capacidad del Proceso

1. Asegrense que todos los datos estn distribuidos normalmente. 2. Calculen el promedio y la desviacin estndar del proceso (comnmente se utilizan la datos de una grfica de barra X o R). 3. Determinen la variacin del proceso (dispersin de 6 desviaciones estndar) y comprenla con los lmites de especificacin. 4. Determinen la capacidad potencial del proceso calculando el ndice Cp. 5. Calculen el porcentaje de producto (o PPM) que se encuentra fuera de los lmites de especificacin. 6. Cuantifiquen el desempeo real del proceso calculando el ndice Cpk. 7. Determinen el Nivel Sigma del Proceso.
D.R. POCH-CDI 2003 14 REV. 01 06/2003

1. Verificacin de Datos Distribuidos Normalmente

Los siguientes datos se recolectaron durante un estudio a corto plazo.
Normal Probability Plot
GrficaX X

= 178.6
Probability

.999 .99 .95 .80 .50 .20 .05 .01 .001 36

Av erage: 40.2161 StDev : 1.31341 N: 250

GrficaR R

= 8.4

Histograma de Mediciones Individuales

38

40

42

44

initial
Anderson-Darling Normality Test A-Squared: 0.333 P-Value: 0.509

La datos pueden tratarse como datos normales.

D.R. POCH-CDI 2003 15 REV. 01 06/2003

2. Clculo del Promedio y la Desviacin Estndar del Proceso

X Grfica X

= 178.6

x se utilizar para calcular el Promedio del Proceso. R se puede utilizar para calcular la Desviacin Estndar del Proceso.

R Grfica R=

8.4

Nota : x ! smbolo de la media poblacional W ! smbolo de la desviacin estndar poblacional

Q}X W
R } d2
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Clculo del Promedio y la Desviacin Estndar del Proceso

Promedio del Proceso : x } X R Desviacin Estndar del Proceso W } d2 Dnde: d2 es una constante que depende del tamao del subgrupo (ver la Tabla de Control de Constantes).
De la Grfica de Control

D.R. POCH-CDI 2003

17

REV. 01

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Promedio del Proceso y Desviacin Estndar

Para el ejemplo actual: El promedio de todos los datos = 178.6 y el rango promedio = 8.4 de una grfica de control estable que utiliz una muestra de tamao 5. R Por ello, W = d2
178.6 X

Poblacin

=8.4 = 3.6 2.326

Desviacin Estndar del Proceso

Promedio del Proceso

Meta = 171. El proceso est concentrado en la meta?

D.R. POCH-CDI 2003 18 REV. 01 06/2003

3. Determinacin de la Variacin del Proceso y Comparacin con los Lmites de Especificacin Variacin del Proceso: Esperamos que el 99.73% de las veces, se produzca un producto que est entre 167.8 y 189.4.
189.4

Meta
171

167.8

178.6

x  3W

USL = 182
x  3W

LSL = 160
D.R. POCH-CDI 2003

De acuerdo con las especificaciones, queremos que todo el producto est entre 160 y 182.
Si est concentrado, podr este proceso cumplir con las especificaciones de ingeniera?
19 REV. 01 06/2003

4. Determinacin de la Capacidad Potencial del Proceso (Cp)

LIE LSE

Cp = 1

El ndice Cp refleja el potencial del proceso si el promedio estuviera perfectamente concentrado entre los lmites de especificacin
Entre ms grande el ndice Cp, mejor!

Cp > 1

Cp !
Cp !

LSE  LIE 6W
LSE  LIE LSC  LIC

Cp < 1
D.R. POCH-CDI 2003 20

Para un Proceso Seis Sigma, Cp = 2

REV. 01 06/2003

Ejercicio de Indice Cp Calculen el ndice Cp: USL = 182 LSL = 160

USL  LSL ! ______ Cp ! 6W Re call : W ! 3.6

189.4

167.8

178.6

Si estuviera centrado, podra este proceso ser capaz de satisfacer las especificaciones?
Este es el mejor indicador para determinar cuanto tu proceso es capaz de reproducir. Tomando la diferencia entre Ppk y el Cp est el rea de mejora por estabilizar y centrar el proceso
D.R. POCH-CDI 2003 21 REV. 01 06/2003

5. Clculo del Porcentaje ms All de las Especificaciones

Para calcular el porcentaje del producto (o PPM) que rebasa los lmites de especificacin, debemos primeramente calcular Z superior y Z inferior.

LSL = 160

USL = 182
167.8 178.6 189.4 Z superior es el nmero de desviaciones estndar entre el Promedio del Proceso y el Lmite Superior de Especificacin
22 REV. 01 06/2003

Z inferior es el nmero de desviaciones estndar entre el Promedio del Proceso y el Lmite Inferior de Especificacin
D.R. POCH-CDI 2003

Clculo de Zsuperior y Z inferior USL  X ! zsuperior W 182.0  178 .6 ! ! 0.94 zsuperior 3.6
189.4

167.8

178.6

USL = 182

LSL = 160

La espec. inferior queda a 5.17 desviaciones estndar del promedio del proceso. La espec. mayor queda a 0.94 desviaciones estndar del promedio del proceso.
D.R. POCH-CDI 2003 23

X  LSL zinferior! W 178.6  160.0 ! 5.17 zinferior! 3. 6

REV. 01

06/2003

Clculo del % ms All de las Especificaciones

LSL = 160

USL = 182

De la tabla Z, vemos que Z = 0.94 corresponde a la proporcin = 0.1736 Esto se convierte a 17.36% de Defectos o 173,600 PPM
189.4

167.8

178.6

Z superior = 0.94

D.R. POCH-CDI 2003

24

REV. 01

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Tabla Z

0.00
0.8 0.211855334 0.9 0.184060092 1.0 0.158655260

0.01
0.208970026 0.181411225 0.156247655

0.02
0.206107994 0.178786354 0.153864244

0.03
0.203269335 0.176185520 0.151505020

0.04
0.200454139 0.173608762 0.149169971

Para Z = 0.94, proporcin = 0.1736

Excel

=1-NORMSDIST(z)

17.36% 173,600PPM
25 REV. 01 06/2003

D.R. POCH-CDI 2003

6. Cuantificacin del Desempeo Real del Proceso (Cpk)

A diferencia del ndice Cp, el ndice Cpk toma en cuenta el desplazamiento fuera del centro del proceso. Mientras mayor sea el ndice Cpk, mejor.
LSL USL LSL USL

6W

6W

CP = 1 CPK = 1

CP = 1 Cpk < 1

Para un Proceso Seis Sigma, Cpk = 1.5

D.R. POCH-CDI 2003 26 REV. 01 06/2003

Indice de habilidad del proceso

USL = 182 LSL = 160
x  LIE x  LIE Cpi ! ! 3W x  LIC
LSE  x LSE  x Cps ! ! 3W LSC  x

CPk ! CP (1  k ) k! mx ( LSE  LIE ) 2 ( LSE  LIE ) m! 2

W=3.6

Cpk ! min_ , Cpsa Cpi

167.8 Zi=5.1

178.6 Zs=0.9

189.4

Zi ! 3Cpi Zs ! 3Cps

El ndice Cpm pone atencin especial al ajuste a un valor objetivo, cuando es distinto a la media de especificaciones

Cpm ! H ! Q T W

Cp 1H
2

D.R. POCH-CDI 2003

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Clculo del Indice Cpk

zsuperior! 0.94 zmin ! ? Ms
pequeo

zinferior ! 5.17

que zsuperior zinferior y

zmin ! zsuperior! 0.94

167.8 178.6 189.4

zmin 0.94 ! ! 0.31 Cpk 3 3 Recuerden: Cp ! 1.02. !

D.R. POCH-CDI 2003 28

Cundo Cpk es igual a Cp?

REV. 01

USL = 182
06/2003

LSL = 160

7. Determinacin del Nivel Sigma del Proceso

El Nivel Sigma del Proceso a Corto Plazo se reporta como el Nivel Sigma del Proceso. Se basa en la proporcin total de defectos de la distribucin concentrada en un estudio a corto plazo.

D.R. POCH-CDI 2003

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Distribucin Concentrada
Para nuestro actual ejemplo: Los datos son de un estudio a corto plazo. Si el proceso estuviera perfectamente concentrado, es decir, si x = Meta = 171, el porcentaje de defectos sera:

ZLSL= -3.06 0.1107% defectos

ZUSL= 3.06 0.1107% defectos

171 Meta De los valores obtenido de PPM en Zs y Zi, se suman y se reporta el total
De

los PPM obtenidos se busca en la tabla Z, pero ahora para obtener la Ztotal o Zst

D.R. POCH-CDI 2003

30

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El Nivel Sigma del Proceso

ZLSL= -3.06 0.1107% defectos

ZUSL= 3.06 0.1107% defectos

171 Meta

Proporcin debajo de especificacin inferior = 0.001107 Proporcin arriba de especificacin superior = 0.001107 Total de Defectos = 0.002214 De la Tabla Z, 0.002214 corresponde a Z = 2.84 Excel =-NORMSINV(proporcin) =-DISTR.NORM.STAND.INV(proporcin), espaol Como ste es un estudio a corto plazo, el Nivel Sigma del Proceso = 2.84
D.R. POCH-CDI 2003 31 REV. 01 06/2003

Ejercicio en Grupo 32: Capacidad del Proceso

Consulta tu cuaderno de trabajo. Utilizando el ejemplo (estudio a corto plazo) y las hojas de clculo proporcionadas, determina la capacidad del proceso siguiendo estos 7 pasos:
1. Asegrate que los datos estn distribuidos normalmente. 2. Calcula el promedio y la desviacin estndar del proceso (comnmente se utilizan la datos de una barra X y grfica R). 3. Determina la variacin del proceso (extensin de 6 desviaciones estndar). 4. Determina la capacidad potencial del proceso por medio del clculo del ndice Cp. 5. Calcula el porcentaje del producto (o PPM) que se encuentra fuera de los lmites de especificacin. 6. Mide el desempeo real del proceso por medio del clculo del ndice Cpk. 7. Determina el Nivel Sigma del Proceso.
D.R. POCH-CDI 2003 32 REV. 01 06/2003

Ejercicio 33:Capacidad del Proceso Mediante Minitab 1. Consulta tu cuaderno de trabajo. 2. Abre el Minitab y la hoja de clculo, 4.4 Class Exercise.MTW 3. Trabaja con el instructor para realizar un estudio de capacidad utilizando los datos de posicin. 4. Por tu cuenta, usa Minitab para realizar un anlisis de capacidad de los datos de llamadas (Ejercicio 32). 5. Usa Minitab para realizar un estudio de capacidad con los datos de catapulta del taller anterior.
D.R. POCH-CDI 2003 33 REV. 01 06/2003

Capacidad del Proceso con Especificaciones Unilaterales

1. Asegrate que los datos estn distribuidos normalmente. 2. Calcula el promedio y la desviacin estndar del proceso. 3. Calcula el porcentaje del producto (o PPM) que est fuera del lmite de especificacin. 4. Cuantifica el desempeo del proceso por medio del clculo del ndice Cpk.

Slo USL Cpk ! Z

superior

Slo LSL . Cpk

D.R. POCH-CDI 2003

inferior

3
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Desplazamiento y su significado

lun

mar

mie

jue

vie

A la larga ... Ocurren Desplazamientos!

D.R. POCH-CDI 2003 35 REV. 01 06/2003

Estudios a Corto y Largo Plazo

Estudios a Corto Plazo

Estudio a largo Plazo

D.R. POCH-CDI 2003 36 REV. 01 06/2003

Estudios a Corto Plazo vs Largo Plazo

Cuando se evala la capacidad de un proceso, se realiza un estudio a corto plazo para determinar qu tan bueno puede ser dicho proceso.
Se recolectan datos por un perodo corto de tiempo durante el cual el proceso se ve influenciado nicamente por causas aleatorias de variacin.

Se realiza un estudio a largo plazo para determinar el desempeo real del proceso a largo plazo.
Se recolectan datos por un perodo lo suficientemente largo de tal manera que el proceso se ve afectado esencialmente por todas las causas, aleatorias y no-aleatorias, (ejemplos: datos recolectados de varios lotes, turnos, temporadas, etc.)
D.R. POCH-CDI 2003 37 REV. 01 06/2003

Desviacin Estndar de Procesos a Corto Plazo vs Largo Plazo

Estudios a Corto Plazo pWwithin se calcula considerando la variacin dentro del subgrupo. Opciones:
Reunir las desviaciones estndar (basadas en la raz cuadrada de la varianza promedio del subgrupo-- valor por defecto de Minitab). Convertir la barra R (promedio de rangos del subgrupo) en W Convertir la barra S (promedio de las desviaciones estndar del subgrupo) en W

Estudios a Largo Plazo pWoverall se calcula considerando la variacin del estudio completo (utiliza la ecuacin de la desviacin estndar muestra).

D.R. POCH-CDI 2003

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Z de Corto Plazo

Lun

Mar

Mier

Jue

Vier

Zcorto plazo = valor z correspondiente a una distribucin concentrada con una variacin a corto plazo. Recuerda, este es el Nivel Sigma del Proceso.
D.R. POCH-CDI 2003 39 REV. 01 06/2003

El Desplazamiento Sigma

1.5 W

Se calcula que, a largo plazo, los procesos se desplazan aproximadamente 1.5W. Por lo tanto, si nicamente se cuenta con datos a corto plazo, el zlargo-plazo puede calcularse con: ZLP = ZCP - 1.5
D.R. POCH-CDI 2003 40 REV. 01 06/2003

El Desplazamiento Sigma Zshift

Representa el corrimiento natural del proceso Zshift >1.5, demuestra falta control Zshift =1.5, cuando no se tienen datos para calcular el desplazamiento en largo plazo
Zlt Zst
Short Term Studies

Long Term Study

Z ST } 3Cp Z LT } 3Ppk Z shift ! Z ST  Z LT

Mon

Tues

Wed

Thurs

Fri

W
41

! Z LT  1.5
REV. 01 06/2003

D.R. POCH-CDI 2003

Nivel Sigma del Proceso a Largo Plazo

Aunque el Nivel Sigma a Corto Plazo se reporta como el Nivel Sigma del Proceso, nos gustara tener un clculo del Nivel Sigma a Largo Plazo. El comportamiento del proceso a largo plazo es lo que verdaderamente importa! Para el ejemplo actual (estudio a corto plazo):
Nivel Sigma del Proceso a Corto Plazo = Zcp = 2.84 Nivel Sigma del Proceso a Largo Plazo (estimado) = 2.84 1.5 = 1.34

Es mejor calcular el Nivel Sigma a Largo Plazo de un estudio real a largo plazo! El desplazamiento de 1.5 sigma ofrece un clculo aproximado hasta que se tengan disponibles datos a largo plazo.
D.R. POCH-CDI 2003 42 REV. 01 06/2003

Estudios de corto plazo

Cp, Cpk
Para el clculo de la desviacin estndar se toma la varianza de grupos usados en la prueba
Short Term Studies

n
Sst !
j !1

 1 j S

n g

donde: g, nmero de grupos; n, nmero de datos; nj, tamao del grupo

Cuando el tamao del grupo es 1, se utiliza n

x
i !2

 xi 1

Sst !

2n  1

W } Sst

X Chart

= 178.6

Grficas de CEP
Se puede estimar la desviacin estndar de los datos obtenido de la grfica de Q } X control estadstico del proceso W} R
D.R. POCH-CDI 2003 43
R

R Chart

= 8.4

d2
REV. 01 06/2003

Estudios de largo plazo

Pp, Ppk
Aqu se toman todos los datos y se clcula la desviacin estndar muestral, sin separar por grupos

x  x
2 i

Slt !

i !1

n 1

donde: n, nmero de datos

W } Slt

Long Term Study

D.R. POCH-CDI 2003

44

REV. 01

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El Nivel Sigma del Proceso

Distribucin Concentrada Distribucin Desplazada por 1.5W Sigma DPMO o Sigma Corto Plazo PPM Largo Plazo 6 3.4 4.5 5 233 3.5 4 6,210 2.5 3 66,807 1.5 2 308,537 0.5
Los DPMO o PPM del proceso se reportan basados en el desempeo del proceso a largo plazo.
45 REV. 01 06/2003

En Seis Sigma se acostumbra reportar el Sigma a Corto Plazo como Nivel Sigma del Proceso
D.R. POCH-CDI 2003

Para un Proceso Seis Sigma

DPMO o PPM 3.4

W
6

ZLT

ZST

CP

PPk

4.5

6.0

2.0

1.5

Indicadores Seis Sigma

Toman en cuenta los estudios de corto y largo plazo Ppk, indicador ms importante, Es lo que el cliente ve Cp, es la capacidad frontera del proceso PPM, toman en cuenta un corrimiento natural de 1.5W, Zshift=1.5
D.R. POCH-CDI 2003 46 REV. 01 06/2003

Establecer la Capacidad del Producto

Qu tipo de problema tengo?
Anlisis exploratorio de los datos
Grficas Box-plot, estadstica descriptiva, Time series, Pie, Runcharts, I-MR, X-R, p, u, c, etc.

Identificar causas especiales y causas comunes en los datos

Grfica Box-plot, estadstica descriptiva, Grficas de control, Normality plot, etc.

Identificar el tipo de distribucin que tenemos

Histogramas, Box-plot, Normality test, etc.

Evaluar la capacidad y habilidad del proceso

Cp, Cpk, Pp, Ppk, DPMO, PPM, Zst, Zlt, Zshift, W, etc.
D.R. POCH-CDI 2003 47 REV. 01 06/2003

Establecer la Capacidad del Producto

Qu tipo de problema tengo?
3.0

D.R. POCH-CDI 2003

Problema de Control estabilidad, disciplina del proceso

Zshift

1.5

D-MAIC
mejor 0.0

Benchmark

Zst
Problema de Diseo / Tecnologa (equipos, procedimientos, materiales)
48

mejor

REV. 01

06/2003

Definir los Objetivos de Desempeo de tu proyecto

A cunto puede llegar el CTQ? Tcnicas para establecer los objetivos de desempeo
Benchmark
Proceso estructurado, medible, objetivo y cuantificable para la comparacin de los procesos

Demanda
Aplica los requerimientos externos. Autoridad (leyes, reglamentos), solicitud de clientes

Reglas empricas
De acuerdo al desempeo del proceso actual

Capacidad Frontera
Anlisis estadstico de la capacidad potencial contra la habilidad real del proceso. Cp vs Ppk

D.R. POCH-CDI 2003

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REV. 01

06/2003

Definir los Objetivos de Desempeo

A cunto puede llegar el CTQ? En cualquier tcnica usada para establecer los objetivos de desempeo, se debe tener la evidencia estadstica que el proceso va a mejorar.
El objetivo establecido debe estar fuera del intervalo de confianza del desempeo actual Con las pruebas de hiptesis se cubrir este tema

Reglas empricas Desempeo inicial < 4 >lt >= 4 >lt

D.R. POCH-CDI 2003 50

Reduccin de DPMO >= 50% >= 80%

REV. 01 06/2003

Definir los Objetivos de Desempeo

A cunto puede llegar el CTQ? Capacidad Frontera

Cp Cp Cp
Mon Tues Wed

Cp Cp 4.4 Class Exercise.MTW

Thurs Fri

Ppk

El proceso tiene la capacidad potencial Cp, por lo que el desempeo actual Ppk puede tener un desempeo potencial igual a Cp

Objetivo: ZST = 3 Cp ZLT = ZST

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Capacidad del Proceso con Datos de Atributos

Tipo de Datos de Atributos (Distribucin Binomial ) Medibles de Capacidad del Proceso PPM

Nm. de Artculos Defectuosos % Defectos

} }

Nivel Sigma del Proceso Nivel Sigma del Proceso

Cantidad de Defectos (Distribucin Poisson)

DPO DPMO

Al igual que con los datos variables, la capacidad del proceso se puede evaluar utilizando datos de atributos. Los PPM y DPMO se pueden convertir al Nivel Sigma del Proceso.
D.R. POCH-CDI 2003 52 REV. 01 06/2003

Cantidad de Pagos Atrasados

turnos pagos atrasados Pagos realizados

Un departamento de cuentas por pagar tiene la meta de pagar facturas a los 45 das de su recibo. Durante 20 das se registraron la cantidad de facturas pagadas y la cantidad de facturas que se pagaron tarde (ms de 45 das). La Distribucin Binomial es la apropiada para estos datos. Cul es la Capacidad del Proceso?

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 Totales

17 14 15 15 9 12 20 16 19 12 9 21 18 14 18 9 21 8 13 22 302

511 504 442 432 458 509 507 487 430 456 462 443 449 495 472 451 445 513 502 485 9453
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Interpretacin de la Grfica P
0.06 0.05

Grfica P
UCL=0.05590

Proporcin

0.04 0.03 0.02 0.01 0.00 0 10 20 LCL=0.007991 P=0.03195

Nmero de Muestras

Podra haber causas especiales que afecten el proceso? Cul es el ndice de defectos en este proceso?

D.R. POCH-CDI 2003

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06/2003

Nivel Sigma del Proceso de la Proporcin de Defectos

p = 0.03195 es la proporcin de defectos (pagos atrasados).
Z=?

Proporcin = 0.03195

El Proceso del Nivel Sigma es el valor Z que corresponde a p = 0.03195

D.R. POCH-CDI 2003 55 REV. 01 06/2003

Uso de la Tabla Z para Determinar el Nivel Sigma

Proporcin de Defectos = 0.03195

0.00 1.7 1.8 1.9

0.01

0.02

0.03

0.04

0.05

0.044565432 0.043632903 0.042716185 0.041815099 0.040929468 0.040059114

0.035930266 0.035147838 0.034379445 0.033624911 0.032884058 0.032156713 0.028716493 0.028066539 0.027428881 0.026803350 0.026189776 0.025587990

Z = 1.85 Como este fue un estudio a largo plazo, el Nivel Sigma a largo Plazo es: ZLP = 1.85
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Defectos en Costura
Supongamos que se registran los defectos relacionados con la costura y el nmero de juegos de asientos inspeccionados de 20 turnos de produccin. Cada juego de asientos puede tener ms de un defecto, por lo que se puede aplicar la distribucin Poisson. Cmo podemos calcular la capacidad del proceso?
Totales
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Defectos Asientos 1 32 244 2 22 249 3 33 234 4 39 236 5 30 260 6 36 246 7 34 246 8 32 247 9 33 233 10 27 233 11 25 241 12 36 244 13 24 264 14 31 268 15 35 262 16 26 263 17 36 263 18 28 249
REV. 01 06/2003

Interpretacin de la Grfica U
La grfica U, en este contexto, indica si hay o no alguna causa especial de variacin operando en el proceso.
Grfica U
0.20 UCL=0.1909

Cuenta de Muestras

0.15 U=0.1237 0.10

0.05 0 10 20

LCL=0.05657

Nmero de Muestras

Durante el perodo de tiempo que se recolectaron estas muestras, parecen existir causas especiales de variacin que acten en el proceso? El proceso es estable? Cul es el promedio de DPU para este proceso?
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Nivel Sigma del Proceso y Datos de Defectos

Se puede determinar el nivel sigma de un proceso mediante datos DPO (defectos por oportunidad). Considera el ejemplo de Defectos en Costura (los datos estn basados en un estudio a largo plazo).
Juegos de Asientos

Defectos

Oportunidades

DPO

614

4963

0.02062

Nota: Puesto que cada juego de asientos tiene 6 componentes de costura, hay 6 oportunidades de defectos por juego de asientos.
D.R. POCH-CDI 2003 59 REV. 01 06/2003

DPO y el Valor Z
Defectos
Juegos de Asientos

Oportunidades

DPO

614

4963

0.02062

Cul es valor Z correspondiente para una tasa de defectos de 0.02062? Z=?

DPO = 0.02062

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06/2003

En Busca del Valor Z Basado en DPO

Z=?

DPO = 0.02062

1.9 2.0 2.1

0.00 0.028716493 0.022750062 0.017864357

0.01 0.028066539 0.022215525 0.017429116

0.02 0.027428881 0.021691624 0.017002962

0.03 0.026803350 0.021178201 0.016585747

0.04 0.026189776 0.020675095 0.016177325

Z = 2.04
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Nivel Sigma del Proceso Basado en DPO

Z=2.04

DPO = 0.02062

Ya que este fue un estudio a largo plazo, el Nivel Sigma del Proceso a Largo Plazo es:

ZLP = 2.04

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Ejercicio 34 - Nivel Sigma Basado en DPO

1. Consulta tu cuaderno de trabajo. 2. En el ejemplo anterior (el estudio a largo plazo), supongamos que se encontraron 520 defectos en 4,963 juegos de asientos. Recuerda: cada juego de asientos tiene 6 oportunidades de defectos. Cul es el Nivel Sigma del Proceso a Largo Plazo?

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Medibles de Capacidad del Proceso Utilizados en Seis Sigma

Atributos Salida del Proceso Y

Tipo Datos

PPM, DPU, DPO DPMO, RTY

Nivel Sigma Cp, Cpk, Pp, Ppk PPM

Variables

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Recuerda
Cuando se evala la capacidad de un proceso... Se realiza un estudio a corto plazo para ver que tan bueno puede ser un proceso. Los datos se recolectan durante un perodo corto, en el cual el proceso ser influenciado nicamente por causas aleatorias. Un estudio a largo plazo se realiza para ver el desempeo real de un proceso en el largo plazo. Los datos se recolectan durante un perodo de tiempo lo suficientemente largo para que tanto las causas aleatorias como las no aleatorias afecten el proceso. El Nivel Sigma del Proceso es el valor Z que corresponde a un estudio a corto plazo (distribucin concentrada, cuando se usan datos variables). El Nivel Sigma del Proceso a Corto Plazo puede calcularse con un estudio a largo plazo con el ajuste: ZCP = ZLP + 1.5. El ajuste Sigma de 1.5, a la larga, justifica el desplazamiento y la fluctuacin de la distribucin a corto plazo.

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Recuerda
Cuando se utilizan datos variables, se calculan los ndices de capacidad Cp y Cpk : Cp indica la capacidad potencial del proceso, si estuviera perfectamente concentrado dentro de los lmites de especificacin. Cpk toma en cuenta los desplazamientos fuera del centro. Para un Proceso de Seis Sigma, Cp = 2.0 y Cpk = 1.5 Cuando se utilizan datos de atributos en un estudio a largo plazo, el Nivel Sigma del Proceso a Largo Plazo es el valor Z que corresponde a la proporcin de defectos o DPO. El Nivel Sigma del Proceso a Corto Plazo (reportado) = ZCP = ZLP + 1.5.

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Pasos a Seguir
Elabora del mapa del proceso.

Recolecta los datos (Y) y establece las prioridades.

80 60 40 20 0 1 Trim. 2 Trim. 3 Trim. 4 Trim. 1 Trim. 2 Trim. 3 Trim. 4 Trim.

Capacidad del Proceso PPM/DMPO Cpk

Hoja de verificacin

Pareto

Identifica las causas potenciales (X) de variacin y defectos.

Diagrama de Causa y Efecto

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Matriz de Causa y Efecto

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