DIFRACCIN DE RAYOS X

Por: LILIANA VEGA

QUE SON LOS RAYOS X

La denominacin rayos X designa a una radiacin electromagntica, invisible, capaz de atravesar cuerpos opacos y de imprimir las pelculas fotogrficas. Los actuales sistemas digitales permiten la obtencin y visualizacin de la imagen radiogrfica directamente en una computadora sin necesidad de imprimirla. Su longitud de onda es muy pequea y se encuentra en el orden de 0.1 Estos rayos se producen por la desaceleracin rpida de electrones de altas energas cuando chocan con un blanco metlico
Fig-1.Primera imagen de rayos X

LEY DE BRAGG
Dado que el espaciado atmico de un solido esta alrededor de 0,1 Max Von Laue sugiere que el arreglo molecular de los tomos en un cristal puede actuar como una rejilla tridimensional de difraccin. Los patrones de difraccin de los rayos X son bastantes complejos dada la naturaleza tridimensional del cristal, sin embargo, la difraccin de rayos X ha mostrado ser una invaluable tcnica para aclarar las estructuras de los cristales y entender la estructura de la materia

LEY DE BRAGG

Fig-2.Arreglo experimental para observar la difraccin de rayos X desde un cristal

LEY DE BRAGG
Supongamos que un haz de rayos X forma un ngulo con uno de los planos, el haz puede ser reflejado tanto por el plano que se encuentra mas arriba y el que esta por debajo de este, dado que el haz reflejado por este ultimo viaja mas lejos, la diferencia de camino que resultante es 2 los dos haces se refuerzan mutuamente cuando esta diferencia de caminos es un mltiplo entero de la longitud de onda , es decir 2 = con = 1,2,3, Esta condicin se conoce como la ley de Bragg, quien fue el primero en deducir esta relacin

Fig-3

Fig-4

MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X

La informacin que proporciona el patrn de difraccin de Rayos X, se puede ver como dos aspectos diferentes pero complementarios
La geometra de las direcciones de difraccin La intensidad de los rayos difractados En general, existen tres grandes mtodos de difraccin de rayos X utilizados, como lo son:

Mtodo de Laue Mtodo de movimiento o Rotacin total o parcial del cristal Mtodo de Polvo cristalino

MTODO DE LAUE

Fue el primer mtodo de difraccin, se utiliza un policromato de rayos X que incide sobre un cristal fijo y perpendicular a este se sita una placa fotogrfica plana encerrada en un sobre a prueba de luz el haz directo produce un ennegrecimiento en el centro de la pelcula y por lo tanto, se pone un pequeo disco de plomo delante de la pelcula para interceptarlo y absorberlo

Fig-5. Patrn de laue de un cristal del mineral berilio

Fig-6. Patrn de laue de la encima Rubisco, producido con un espectro de rayos X de banda ancha

MTODO DE LAUE

Mtodo de laue en modo transmisin. La pelcula se coloca detrs del cristal para registrar los rayos que son transmitidos por el cristal. Un lado del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo de transmisin. La pelcula cruza el cono, de manera que las manchas de difraccin generalmente se encuentren sobre una elipse.
Fig-7. Metodo de laue en modo transmision

MTODO DE LAUE

Mtodo de Laue en modo reflexin. La pelcula es colocada entre la fuente de rayo X y el cristal. Los rayos que son difractados en una direccin anterior son registrados. Una parte del cono de reflexiones de Laue es definido por el rayo transmitido. La pelcula cruza el cono, de manera que las manchas de difraccin se encuentran generalmente sobre una hiprbola.
Fig-8. Mtodo de laue en modo reflexin

MTODO DE LAUE

Aplicaciones. En la actualidad, este mtodo se utiliza para determinar la simetra: si un cristal se orienta de tal manera que el haz incidente sea paralelo a un elemento de simetra, la disposicin de las manchas en la fotografa revela su simetra. Una fotografa segn este mtodo de un mineral tomado con el haz incidente paralelo al eje binario de un cristal monoclnico, mostrar una disposicin binaria de manchas; si el haz es paralelo al plano de simetra, la fotografa presentar una lnea de simetra; si es un cristal rmbico mostrar una distribucin doble de las manchas, con dos ejes de simetra.

MTODO DE ROTACIN

Se hace incidir un haz de rayos X monocromticos sobre un cristal, que rota a una velocidad constante alrededor de un eje perpendicular a los rayos X. La rotacin del cristal causa que todos los puntos de la red recproca atraviesen consecutivamente la esfera de Ewald, logrando as medir las reflexiones necesarias.

Fig-9. Patrn de difraccin obtenido por la rotacin de un cristal

MTODO DE ROTACIN

Fig-10. Mtodo de rotacin del cristal

MTODO DE ROTACIN

Aplicacin. En Fig-11 se muestra una parte de una estructura con coordenadas de tomo individuales con el sitio activo hundido por una red de la densidad de electrones en un proceso iterativo, las coordenadas atmicas son ajustadas para caber en la densidad de electrones. Los mapas de densidad de electrones es del sitio Fig-11. aplicacin del mtodo de rotacin activo de una enzima que est implicada en la biodegradacin de dinitrotolueno industrial contaminante.

MTODO DE POLVO CRISTALINO

En el mtodo de polvo cristalino el cristal a analizar es pulverizado de tal manera que forme un conjunto de microcristales en todas las posibles orientaciones de la red recproca. Con esta geometra todas las reflexiones se pueden medir en un solo patrn de difraccin, consistente en crculos, uno para cada reflexin Aunque el mtodo de rotacin del cristal resulta en valores ms exactos de la intensidad de las reflexiones, el mtodo de polvo es a veces la nica opcin cuando el material a estudiar no forma monocristales de un tamao suficiente para producir difraccin detectable

Fig-11. Patrn de difraccin de polvo.

MTODO DE POLVO CRISTALINO

Fig-12. Esquema de montaje del mtodo del polvo cristalino

Fig-13. Conos de interseccin que produce la difraccin

Fig-14. Pelcula fotogrfica afectada por los patrones de difraccin

LIMITACIONES
resulta imposible estudiar gases, lquidos y slidos desordenados por difraccin de rayos X. Adems, la obtencin de cristales no es siempre suficiente para obtener la estructura de inters: las molculas de tamao grande, por ejemplo, suelen ser casos difciles. La limitacin fundamental de la cristalografa de rayos X consiste en que slo puede aplicarse a sustancias susceptibles de formar cristales.