- Documentnsrec05_sc_buchner.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentThe Single EVent Effect Evaluation Technology for nano Integrated circuits.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Documentzheng2015.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Documentzheng2015.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Documentyue2015.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Documentyue2015.pdfîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentRadiation Handbook for Electronicsîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentBalaji Narasimham Dissertationîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentSoft Errors in Modern Electronic Systemsîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentSun Yangyang 200612 Phdîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentBasic Mechanisms and Modeling of Single-Event Upset in Digital Microelectronicsîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentSingle Event upsetîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Documentsingle Event Upsetîncărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentAnodic Protectionîncărcat de
Saqib Ali Khan
- Document05080739încărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentP3_27_12-2011încărcat de
Saqib Ali Khan
- DocumentMalaysia Mapîncărcat de
Saqib Ali Khan