- Document[ToC] VLSI Test Principles and Architectures_ Design for Testability-Morgan Kaufmann (2006)încărcat de
shan
- DocumentCPSOC-DATE15-v6p0încărcat de
shan
- Documentamod.pdfîncărcat de
shan
- DocumentAdaptive Amplitude Modulationîncărcat de
shan
- DocumentCyber Physical Resilienceîncărcat de
shan
- DocumentSensor Placement and Allocationîncărcat de
shan