2.

Alcătuiţi planurile de control pentru un lot de componente electronice de volum N precizat mai jos
pentru cele 4 categorii de defecte, în ipotezele nivel de control general (Nc = II) şi severitate
normală. Alegeţi valorile AQL corespunzătoare celor 4 tipuri de defecte şi completaţi tabelul
următor:

3. Pentru un volum al lotului N=700 produse şi AQL=0,65%, care este mărimea eşantionului n extras
la sondajele de tip simplu, dublu şi multiplu? Completaţi tabelul următor:

3
4. Pentru probabilităţile de acceptare Pacc = p1 … p9 din tabelul de mai jos obţineţi proporţiile de
defecte corespunzătoare şi realizaţi caracteristicile operative P acc (p) pentru volumul lotului N ales
la punctul anterior şi AQL=0,15; 0,65; 2,5; 10.

1.20

1.00

0.80
Defecte Critice
Defecte majore 0.60
Defecte minore tip A
Defecte minore tip B 0.40

0.20

0.00
0 5 10 15 20 25 30
.

5. Se va accesa www.sqconline.com
Standardul MIL-STD 105E: Proceduri de
prelevare a probelor şi tabele pentru
inspecţie prin atribute. Se vor introduce
parametri doriţi în formularul din
pagina web şi se vor nota rezultatele şi
graficele realizate.

4
5